KR102355352B1 - 백라이트 모듈 검사 장치 - Google Patents

백라이트 모듈 검사 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR102355352B1
KR102355352B1 KR1020210101722A KR20210101722A KR102355352B1 KR 102355352 B1 KR102355352 B1 KR 102355352B1 KR 1020210101722 A KR1020210101722 A KR 1020210101722A KR 20210101722 A KR20210101722 A KR 20210101722A KR 102355352 B1 KR102355352 B1 KR 102355352B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
backlight module
unit
main body
disposed
module
Prior art date
Application number
KR1020210101722A
Other languages
English (en)
Inventor
정식원
Original Assignee
주식회사 비전에셀
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 비전에셀 filed Critical 주식회사 비전에셀
Priority to KR1020210101722A priority Critical patent/KR102355352B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102355352B1 publication Critical patent/KR102355352B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2825—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836—Fault-finding or characterising
    • G01R31/2844—Fault-finding or characterising using test interfaces, e.g. adapters, test boxes, switches, PIN drivers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/2872—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
    • G01R31/2874—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to temperature
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Arrangement Of Elements, Cooling, Sealing, Or The Like Of Lighting Devices (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

본 발명은, 전면에 형성되는 LED와 후면에 설치되는 전원입력단자를 포함하는 백라이트 모듈을 검사하는 백라이트 모듈 검사장치에 있어서, 케이블 배치홀이 형성되는 본체; 일측은 상기 본체에 회전 가능하게 연결되고, 일면으로는 검사 대상인 상기 백라이트 모듈이 배치되는 모듈 안착부; 및 상기 케이블 배치홀을 통해 상기 백라이트 모듈의 상기 전원입력단자에 전원을 인가하는 전원 인가부; 를 포함하는 백라이트 모듈 검사 장치를 제공한다.
본 발명은, 검사 대상인 백라이트 모듈의 배면을 통해 전원이 인가되도록 하여, 백라이트 모듈의 점등 검사 시, 전면이 가리워져 백라이트 모듈이 포함하는 LED의 점등을 판단하지 못하는 현상이 방지된다.

Description

백라이트 모듈 검사 장치{Testing apparatus for backlight module}
본 발명은 백라이트 모듈 검사 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 백라이트 모듈에 대하여 전원을 인가하며 동작 상태를 검사하는 백라이트 모듈 검사 장치에 관한 것이다.
일반적으로 액정표시장치는 박막트랜지스터(TFT: Thin Film Transistor)를 구비하는 회로패턴이 형성된 어레이 (array)기판과, 어레이기판과 대향하는 컬러필터(color folter)기판과, 어레이기판과 컬러필터기판의 사이에 충진된 액정층을 포함하며, 어레이기판과 컬러필터기판 사이의 전기장에 따라 변화하는 액정의 전기적, 광학적 성질을 이용하여 색상을 표현한다.
액정은 자체발광소자가 아니기 때문에 액정표시장치에는 어레이기판의 배면에 빛을 제공하는 백라이트(Back light)가 설치된다.
도 1은 백라이트유닛에 사용되는 LED 광원의 일 예를 나타내는 사시도이다.
도 1을 참조하면, LED 광원(10)은 얇고 긴 띠 형태의 스트립기판(12)의 상면에 다수의 LED칩(14)이 탑재되고, 스트립기판(12)의 일 단부에는 전원연결을 위한 커넥터(16)가 장착된다. 이러한 LED 광원(10)은 액정표시장치의 케이스의 내부에 다수 개가 평행하게 설치된다.
여기서, 백라이트는 복수의 LED 광원(10)을 포함하므로, 백라이트 모듈(Back light module)이라고 불리운다.
백라이트 모듈은 LED 광원에 대하여 전원을 인가하여 각각의 LED칩을 점등시켜 점등 여하에 따라 정상여부를 판단한다.
백라이트 모듈에 대한 점등을 위해 각각의 LED칩에 전원을 인가하는 프로브는 백라이트 모듈의 전방에서 백라이트 모듈을 향하여 진행하여 연결되도록 구성된다.
이때, 프로브에 의해 백라이트 모듈의 전면이 가리워져 백라이트 모듈의 점등을 판단하지 못하는 문제점이 있다.
본 발명에 대한 선행기술로는 등록특허 10-1489948호를 예시할 수 있다.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 전면이 가리워져 백라이트 모듈이 포함하는 LED의 점등을 판단하지 못하는 현상이 방지하기 위하여, 백라이트 모듈의 점등 검사 시, 검사 대상인 백라이트 모듈의 배면을 통해 전원이 인가되도록 하는 백라이트 모듈 검사 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
또한, 본 발명은 백라이트 모듈에 대한 검사 중, 백라이트 모듈의 가장자리에서 백라이트 모듈을 지지하도록 하여 검사 대상인 백라이트 모듈의 두께가 변화되어도 백라이트 모듈 표면에 대한 손상없이 안정적인 지지가 이루어질 수 있는 백라이트 모듈 검사 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명은, 전면에 형성되는 LED와 후면에 설치되는 전원입력단자를 포함하는 백라이트 모듈을 검사하는 백라이트 모듈 검사장치에 있어서, 케이블 배치홀이 형성되는 본체; 일측은 상기 본체에 회전 가능하게 연결되고, 일면으로는 검사 대상인 상기 백라이트 모듈이 배치되는 모듈 안착부; 및 상기 케이블 배치홀을 통해 상기 백라이트 모듈의 상기 전원입력단자에 전원을 인가하는 전원 인가부; 를 포함하는 백라이트 모듈 검사 장치를 제공한다.
일측이 상기 본체의 일측에 회전 가능하게 연결되고, 상기 본체를 지지하는 지지부와, 일단은 상기 본체에 연결되고, 타단은 상기 지지부에 연결되며, 길이가 가변되며 상기 본체의 경사도를 조절하는 경사 조절부를 더 포함할 수 있다.
상기 경사 조절부는, 일단은 지지체의 일측에 회전 가능하게 연결되고, 일정 길이와 폭을 갖는 길이 조절홈이 형성되고, 상기 길이 조절홈의 일측으로는 복수의 삽입홈이 형성되는 제1 단위 로드와, 일단은 상기 본체의 일측에 회전 가능하게 연결되는 제2 단위 로드와, 상기 제2 단위 로드의 일측으로 배치되어 상기 복수의 삽입홈 중 선택된 어느 하나의 상기 삽입홈에 삽입되는 고정 로드를 포함할 수 있다.
상기 모듈 안착부는, 서로 평행하게 배치되고, 상기 백라이트 모듈의 양측 가장자리를 지지하는 제1 및 제2 Y 단위 프레임과, 서로 평행하며, 양단이 상기 제1 및 제2 Y 단위 프레임의 단부에 직교하며 연결되어, 상기 백라이트 모듈의 상측과 하측 가장자리를 지지하는 제1 및 제2 X 단위 프레임을 포함할 수 있다.
상기 백라이트 모듈에 대하여 열을 인가한 후, 상기 백라이트 모듈의 상태를 측정하는 열 측정부를 더 포함할 수 있다.
상기 열 측정부는, 상기 본체 상에 배치되어, 외부의 제어에 의해 상기 백라이트 모듈에 대하여 열을 인가하는 발열 유닛과, 상기 백라이트 모듈의 온도를 측정하여 해당하는 신호를 출력하는 온도 센서와, 상기 온도 측정부가 배치되고, 양단은 상기 모듈 안착부 상에서 이동 가능하게 연결되는 고정 로드와, 상기 온도 측정부에서 출력되는 신호에 따라 상기 백라이트 모듈의 온도 상태를 판단하는 판단부를 더 포함할 수 있다.
상기 온도 측정부는, 상기 고정 로드에 착탈가능하게 배치될 수 있다.
상기와 같은 본 발명은, 검사 대상인 백라이트 모듈의 배면을 통해 전원이 인가되도록 하여, 백라이트 모듈의 점등 검사 시, 전면이 가리워져 백라이트 모듈이 포함하는 LED의 점등을 판단하지 못하는 현상이 방지되는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 백라이트 모듈에 대한 검사 중, 백라이트 모듈의 가장자리에서 백라이트 모듈을 지지하도록 하여 검사 대상인 백라이트 모듈의 두께가 변화되어도 백라이트 모듈 표면에 손상을 주지 않고 안정적인 지지가 이루어지는 효과가 있다.
도 1은 백라이트유닛에 사용되는 LED 광원의 일 예를 나타내는 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 백라이트 모듈 검사 장치의 구성을 나타내는 사시도이다.
도 3은 도 2에 도시된 백라이트 모듈 검사 장치에서 모듈 안착부가 펼쳐진 상태를 나타내는 사시도이다.
도 4는 본 발명에 의한 백라이트 모듈 검사 장치의 검사 대상인 백라이트 모듈의 배면의 구성을 나타내는 사시도이다.
도 5는 2의 A 부분의 상세도면으로서, 본 발명에서 사용하는 경사 조절부의 구성의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 6은 본 발명에서 사용하는 열 측정부와 전원 인가부의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 7 내지 도 11은 도 2에 도시된 백라이트 모듈 검사 장치를 이용한 백라이트 모듈 검사를 나타내는 도면이다.
이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 백라이트 모듈 검사 장치의 구성을 나타내는 사시도이고, 도 3은 도 2에 도시된 백라이트 모듈 검사 장치에서 모듈 안착부가 펼쳐진 상태를 나타내는 사시도이다.
도 2와 도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 백라이트 모듈 검사 장치(100)는 본체(110), 지지체(120), 모듈 안착부(130) 및 전원 인가부(160)를 포함한다.
우선, 본 발명에 의한 백라이트 모듈 검사 장치(100)에 의해 검사가 이루어지는 백라이트 모듈에 대해 살펴보기로 한다.
도 4는 본 발명에 의한 백라이트 모듈 검사 장치의 검사 대상인 백라이트 모듈의 배면의 구성을 나타내는 사시도이다.
도 4를 참조하면, 백라이트 모듈(1)은 소정의 가로 세로 길이를 갖는 직사각형의 플레이트 형태로 이루어진다. 여기서, 백라이트 모듈(1)의 전면으로는 외부에서 인가되는 전원에 의해 점등되는 LED(미도시)가 배치된다. 그리고, 백라이트 모듈(1)의 배면으로는 외부에서 인가되는 전원이 입력되는 소정의 전원입력단자(20)가 배치된다. 여기서, 백라이트 모듈(1)의 형상과 크기는 사용자의 필요에 따라 다양하게 변경될 수 있다.
다시, 도 2와 도 3을 참조하기로 한다.
본체(110)는 소정의 면적을 갖는 직사각형의 플레이트 형태로 이루어진다. 본체(110)의 크기와 면적은 후술하는 지지체(120) 상부면의 형태와 면적에 대응한다.
본체(110)의 일측은 후술하는 지지체(120)의 일측 모서리에 힌지 연결되어, 본체(110)는 지지체(120)에 대하여 소정 각도를 이루며 배치될 수 있다.
본체(110) 상의 소정 위치에는 소정의 크기를 갖는 케이블 배치홀(112)이 관통 형성된다.
케이블 배치홀(112)을 통해서는 후술하는 전원 인가부(160)가 포함하고, 검사 대상인 백라이트 모듈(1)의 전원입력단자에 연결되는 케이블이 배치될 수 있다.
지지체(120)는 소정의 크기를 갖는 직육면체 형태로 이루어진다.
지지체(120)는 백라이트 모듈 검사가 이루어지는 장소의 지면상에 배치되어, 검사가 이루어지는 동안 백라이트 모듈 검사 장치(100)가 유지되도록 한다. 백라이트 모듈 검사 장치(100)가 유지되도록 하기 위해, 지지체(120)는 소정의 하중을 갖는 중량물을 포함할 수 있다.
또한, 지지체(120)의 전면으로는 본 발명에 따른 백라이트 모듈 검사 장치(10)의 동작을 위한 동작 스위치, 계기판 등이 배치되는 제어반(122)이 배치된다.
지지체(120)의 일측은 본체(110)의 일측과 회전 가능하게 연결된다. 여기서, 지지체(120)와 본체(110)는 사용자의 필요에 따라 소정 각도를 이룰 수 있다.
모듈 안착부(130) 상에는 검사 대상인 백라이트 모듈(1)이 배치된다.
모듈 안착부(130)에 배치된 백라이트 모듈(1)은 이후 본체(110)의 전면으로 배치된 후, 소정의 검사가 이루어진다.
모듈 안착부(130)는 소정의 금속 프레임(frame)을 이용하여 직사각형 형태로 제작될 수 있다. 모듈 안착부(130)의 크기와 형태는 본체(110)의 크기와 형태에 대응한다.
모듈 안착부(130)는 제1 및 제2 Y 단위 프레임(1322, 1324)과 제1 및 제2 X 단위 프레임(1342, 1344)을 포함한다.
제1 및 제2 Y 단위 프레임(1322, 1324)은 소정의 길이와 폭으로 이루어지는 직사각형 형태로 이루어진다.
제1 및 제2 Y 단위 프레임(1322, 1324)은 서로 일정 거리 이격되어, 서로 평행하게 배치된다. 여기서, 제1 및 제2 Y 단위 프레임(1322, 1324)의 이격거리는 본체(110)의 폭에 대응한다.
제1 및 제2 Y 단위 프레임(1322, 1324)은 백라이트 모듈(1)의 양측 가장자리에 접하며, 백라이트 모듈(1)을 지지한다.
제1 및 제2 X 단위 프레임(1342, 1344)은 소정의 길이와 폭으로 이루어지는 직사각형 형태로 이루어진다.
제1 및 제2 X 단위 프레임(1342, 1344)은 서로 일정 거리 이격되어, 서로 평행하게 배치된다. 여기서, 제1 및 제2 X 단위 프레임(1342, 1344)의 이격거리는 본체(110)의 세로 길이에 대응한다.
또한, 제1 및 제2 X 단위 프레임(1342, 1344)의 양단은 제1 및 제2 Y 단위 프레임(1322, 1324)의 단부에 직교하며 연결된다.
즉, 제1 X 단위 프레임(1342)의 양단은 서로 이격되어 배치되어 있는 제1 및 제2 Y 단위 프레임(1322, 1324)의 일단에 직교하며 연결되어, 백라이트 모듈(1)의 상측 가장자리를 지지한다. 그리고, 제2 X 단위 프레임(1344)의 양단은 서로 이격되어 배치되어 있는 제1 및 제2 Y 단위 프레임(1322, 1324)의 타단에 직교하며 연결되어, 백라이트 모듈(1)의 하측 가장자리를 지지한다.
경사 조절부(140)는 본체(110)와 지지체(120)가 소정의 경사를 이루도록 하고, 백라이트 모듈(1)에 대한 검사를 수행할 때 본체(110)와 지지체(120) 간의 경사가 유지되도록 한다.
경사 조절부(140)는 길이 조절이 가능하게 구성되는 소정의 로드를 포함한다. 경사 조절부(140)의 양단은 본체(110)의 일측과 지지체(120)의 일측으로 연결된다.
경사 조절부(140)는 사용자의 필요에 따라 길이가 가변되고, 이에 따라 본체(110)와 지지체(120) 간의 각도가 설정된다.
도 5는 2의 A 부분의 상세도면으로서, 본 발명에서 사용하는 경사 조절부의 구성의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 5를 참조하면, 경사 조절부(140)는 제1 및 제2 단위 로드(142, 144)를 포함한다.
제1 단위 로드(142)는 소정의 길이와 폭으로 이루어지는 로드 형상으로 이루어진다. 제1 단위 로드(142)의 일단은 지지체(120) 일측에 회전 가능하게 연결된다.
제1 단위 로드(142) 상에는 소정의 길이와 폭으로 이루어지는 길이 조절홈(1422)이 형성된다. 길이 조절홈(1422)의 일측으로는 일정 간격으로 복수의 삽입홈(1424)이 형성된다.
여기서, 삽입홈(1424)은 제1 단위 로드(142)의 일단을 향하여 경사지게 형성될 수 있다.
제2 단위 로드(144)는 소정의 길이와 폭으로 이루어지는 플레이트 형상으로 이루어진다. 제2 단위 로드(144)의 일단은 본체(110) 일측에 회전 가능하게 연결된다.
제2 단위 로드(144)의 일측으로는 소정의 고정 로드(1442)가 배치된다. 고정 로드(1442)는 복수의 삽입홈(1424) 중 사용자에 의해 선택된 삽입홈(1424)에 삽입되며, 경사 조절부(140)의 전체 길이를 조절한다.
경사 조절부(140)는 길이 조절이 가능하다면 상기한 구성으로 한정되지 않고, 다양한 구성을 포함할 수 있다.
한편, 본 발명에 따른 백라이트 모듈 검사 장치(100)는 열 측정부(150)를 더 포함할 수 있다.
열 측정부(150)는 외부에서 인가되는 전원을 이용하여 소정의 열을 발생시키고, 발생된 열은 백라이트 모듈(1)로 인가한다. 그리고, 백라이트 모듈(1)의 온도가 백라이트 모듈(1)의 실제 사용시의 온도에 도달하도록 하여, 백라이트 모듈(1)에 대한 검사가 백라이트 모듈(1)의 실제 동작 상황과 유사한 상태에서 이루어지도록 한 상태에서, 백라이트 모듈(1)의 동작 상태를 측정할 수 있다.
또한, 열 측정부(150)는 백라이트 모듈(1)에 일정 이상의 열을 인가하여 백라이트 모듈(1)의 과열 조건을 생성하여 백라이트 모듈(1)의 열 내구성을 측정할 수 있다.
도 6은 본 발명에서 사용하는 열 측정부와 전원 인가부의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 6을 참조하면, 열 측정부(150)는 발열 유닛(152), 온도 센서(154), 판단부(158)를 포함한다. 여기서, 온도 센서(154)는 고정 로드(156) 상에 배치된다.
발열 유닛(152)은 본체(110) 상에 배치되어, 후술하는 전원 인가부(160)를 통해 공급되는 전원에 의해 소정의 열을 발생시켜, 백라이트 모듈(1)로 인가한다.
발열 유닛(152)은 소정의 면적을 갖는 플레이트 형태 또는 소정의 직경과 길이를 갖는 와이어 형태 등, 사용자의 필요에 따라 다양하게 이루어질 수 있다.
여기서, 발열 유닛(152)에서 백라이트 모듈(1)로 인가되는 열은 사용자의 선택에 의해 변경될 수 있다.
예를 들어, 발열 유닛(152)이 일반 동작 상태로 설정되면, 발열 유닛(152)은 백라이트 모듈(1)에 대해서, 백라이트 모듈(1)의 정상 동작 상태에서 발생되는 열에 해당하는 열을 인가할 수 있다.
또한, 발열 유닛(152)이 과열 동작 상태로 설정되면, 발열 유닛(152)은 백라이트 모듈(1)에 대해서 백라이트 모듈(1)의 정상 동작 상태에서 발생되는 열보다 소정 배수로 증가된 열을 인가하여 과열 조건이 형성되도록 한다.
온도 센서(154)는 백라이트 모듈(1)의 온도를 측정하여 해당하는 신호를 출력한다.
고정 로드(156)는 온도 센서(154)가 온도를 측정하는 동안, 배치 상태가 유지되도록 한다. 여기서, 고정 로드(156) 상의 온도 센서(154)는 사용자의 필요에 따라 탈착 가능하게 배치되는 것이 바람직하다.
고정 로드(156)는 소정의 길이를 갖는 로드 형태로 이루어진다. 고정 로드(156)의 양단은 제1 및 제2 X 단위 프레임(1342, 1344)에 연결된다. 이때, 고정 로드(156)는 제1 및 제2 X 단위 프레임(1342, 1344)을 따라 이동가능하게 연결되는 것이 바람직하다.
고정 로드(156)의 이동은 이동 레일 등 사용자의 필요에 따라 다양한 구성이 적용될 수 있다.
본 실시예에서는 고정 로드(156)가 제1 및 제2 X 단위 프레임(1342, 1344)에 연결되지만, 사용자의 필요에 따라 제1 및 제2 Y 단위 프레임(1322, 1324)에 연결될 수도 있다.
판단부(158)는 온도 센서(154)에서 출력되는 신호를 입력받아, 백라이트 모듈(1)의 동작 상태를 판단한다.
즉, 온도 센서(154)를 이용하여 백라이트 모듈(1)의 여러 위치의 온도를 측정하고, 측정된 온도값은 판단부(158)로 입력된다.
판단부(158)는 입력된 온도값을 이용하여 백라이트 모듈(1)에 대하여 다음과 같이 판단할 수 있다.
즉, 판단부(158)는 백라이트 모듈(1)의 여러 위치에서 측정된 온도가 균일한 것으로 판단되면, 백라이트 모듈(1)이 정상인 것으로 판단할 수 있다.
또한, 판단부(158)는 백라이트 모듈(1)의 여러 위치에서 측정된 온도가 일정 범위 이상의 오차를 나타낸다면 백라이트 모듈(1)에 대하여 비정상으로 판단할 수 있다.
전원 인가부(160)는 외부에서 공급되는 소정의 전원을 백라이트 모듈(1)로 인가하여 백라이트 모듈(1)의 점등이 이루어지도록 한다.
전원 인가부(160)는 백라이트 모듈(1)에 대한 전원 인가를 위해, 소정의 FFC(Flat Flexible Cable) 케이블(미도시)를 포함한다.
FFC(Flat Flexible Cable) 케이블은 2개의 배터리 모듈을 서로 직렬 연결하거나 배터리 모듈의 터미널과 릴레이 또는 배터리 팩 내에 장치들 간을 전기적으로 연결하는데 사용되는 케이블이다.
FFC 케이블의 단부에는 소정의 케이블이 연결되어 있어 본체(110) 상에 형성되는 케이블 배치홀(112)을 통해 백라이트 모듈(1)의 배면의 전원연결단자(20)에 연결될 수 있다.
여기서, 검사 대상인 백라이트 모듈(1)에 대해서 전원을 인가할 수 있다면, FFC 케이블에 한정되지 않고, 다양한 종류의 케이블이 사용될 수 있다.
이외에도 전원 인가부(160)는 발열 유닛(152), 온도 센서(154), 판단부(158)의 동작에 필요한 전원을 공급할 수 있다.
도 7 내지 도 11은 도 2에 도시된 백라이트 모듈 검사 장치를 이용한 백라이트 모듈 검사를 나타내는 도면이다.
도면을 참조하여, 본 발명에 따른 백라이트 모듈 검사 장치를 이용한 백라이트 모듈 검사에 대해 설명하기로 한다.
우선, 백라이트 모듈의 검사를 위해 본 발명에 따른 백라이트 모듈 검사 장치(100)가 소정의 위치에 배치된다.
이때, 지지체(120)는 바닥면상으로 배치되고, 경사 조절부(140)의 설정에 의해 본체(110)는 지지체(120)와 소정의 각도를 이루며 배치된다.
그리고, 본체(110)의 전면으로는 모듈 안착부(130)가 배치되어 있다.
도 7을 참조하면, 백라이트 모듈(1)의 검사를 위해 모듈 안착부(130)가 본체(110)와 이격된다.
이를 보다 상세히 설명하기로 한다.
사용자는 모듈 안착부(130)의 전면 양측으로 배치되어 있는 손잡이(131)를 당김 조작하면 모듈 안착부(130)는 전면으로 이동한다.
여기서, 모듈 안착부(130)의 하부 일측이 본체(110)의 하부 일측과 회전 가능하게 연결되어 있으므로, 모듈 안착부(130)는 하부의 연결 부위를 중심으로 회전하며 지면과 평행하게 배치될 수 있다.
도 8를 참조하면, 사용자는 모듈 안착부(130) 상에 검사 대상인 백라이트 모듈(1)을 배치한다.
여기서, 백라이트 모듈(1)의 배치 시, 백라이트 모듈(1)의 배면이 상부를 향하는 상태로 모듈 안착부(130) 상에 배치된다. 그리고, 백라이트 모듈(1)의 가장자리가 모듈 안착부(130)가 포함하는 제1 및 제2 Y 단위 프레임(1322, 1324)과 제1 및 제2 Y 단위 프레임(1322, 1324)의 내측 가장자리에 걸리면서 백라이트 모듈(1)의 배치 상태가 유지될 수 있다.
그리고, 사용자는 모듈 안착부(130) 상에 배치된 백라이트 모듈(1)에 대하여 케이블을 연결한다. 즉, 사용자는 미도시된 소정의 케이블을 본체(110)의 케이블 배치홀(112)을 통해 본체(110)의 후면에서 전면으로 배치되도록 한다. 그리고, 케이블 단부의 커넥터를 백라이트 모듈(1)의 전원 연결 단자(20)에 연결한다.
도 9를 참조하면, 사용자는 백라이트 모듈(1)이 배치된 모듈 안착부(130)를 원래의 위치인 본체(110)의 전면에 위치되도록 한다.
즉, 사용자가 모듈 안착부(130)를 들어올리면 모듈 안착부(130)는 본체(110)와의 연결 부위를 기준으로 회전하며 본체(110)의 전면에 위치된다.
이후, 사용자는 전원 인가부(160)를 조작하여, 백라이트 모듈(1)에 대하여 전원을 공급하여 백라이트 모듈(1)이 점등되도록 하고, 사용자는 백라이트 모듈(1)의 점등 상태를 육안으로 판별하여 백라이트 모듈(1)의 양부를 검사한다. 즉, 사용자는 백라이트 모듈(1)이 포함하는 LED 각각의 점등 유무를 확인할 수 있다. 또한, 사용자는 LED칩 각각의 조도 상태를 확인할 수 있다.
도 10과 도 11을 참조하면, 모듈 안착부(130)가 본체(110) 전면에 위치된 후, 사용자는 경사 조절부(140)를 조작하여 본체(110)의 각도를 설정함을 알 수 있다.
즉, 백라이트 모듈(1)를 점등시키고, 점등 상태에 따른 양부 검사는 사용자의 육안에 의해 이루어진다. 따라서, 사용자는 경사 조절부(140)를 조작하여 본체(110)의 전면이 사용자의 시선 방향과 직각을 이루도록 한다.
도 10은 본체(110)가 지지체(120)에 대하여 60도의 각도를 이룸을 나타내고, 도 11은 본체(110)가 지지체(120)에 대하여 45도의 각도를 이룸을 나타낸다. 상기와 같이, 본체(110)의 각도는 사용자의 필요에 따라 다양하게 설정될 수 있다.
한편, 백라이트 모듈(1)에 전원이 인가됨과 동시에, 본체(110) 상의 발열 유닛(152)에도 전원이 인가된다.
발열 유닛(152)은 소정의 열을 발생시켜, 백라이트 모듈(1)에 인가하여, 백라이트 모듈(1)에 대하여 소정의 과열 조건을 형성한다.
온도 센서(154)는 백라이트 모듈(1)에 인가된 열을 측정하여 해당하는 신호를 판단부(158)로 출력한다.
판단부(158)는 온도 센서(154)에서 출력되는 신호를 이용하여 백라이트 모듈(1)에 인가된 과열 조건을 측정하고, 과열 조건에서 백라이트 모듈(1)의 동작 상태를 판단하여 백라이트 모듈(1)에 대한 측정을 수행한다.
상기와 같이 구성된 본 발명은, 검사 대상인 백라이트 모듈의 배면을 통해 전원이 인가되도록 하여, 백라이트 모듈의 점등 검사 시, 전면이 가리워져 백라이트 모듈이 포함하는 LED의 점등을 판단하지 못하는 현상이 방지된다.
본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 다른 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.
100: 백라이트 모듈 검사 장치 110: 본체
120: 지지체 130: 모듈 안착부
140: 각도 조절부 150: 열 측정부
160: 전원 인가부

Claims (7)

  1. 전면에 형성되는 LED와 후면에 설치되는 전원입력단자를 포함하는 백라이트 모듈을 검사하는 백라이트 모듈 검사장치에 있어서,
    케이블 배치홀이 형성되는 본체;
    일측은 상기 본체에 회전 가능하게 연결되고, 일면으로는 검사 대상인 상기 백라이트 모듈이 배치되며, 상기 본체의 전면으로 배치되는 모듈 안착부;
    상기 케이블 배치홀을 통해 상기 백라이트 모듈의 상기 전원입력단자에 전원을 인가하는 전원 인가부; 및
    일측이 상기 본체의 일측에 회전 가능하게 연결되고, 상기 본체를 지지하는 지지부를 포함하고,
    상기 모듈 안착부는,
    서로 평행하게 배치되고, 상기 백라이트 모듈의 양측 가장자리를 지지하는 제1 및 제2 Y 단위 프레임과,
    서로 평행하며, 양단이 상기 제1 및 제2 Y 단위 프레임의 단부에 직교하며 연결되어, 상기 백라이트 모듈의 상측과 하측 가장자리를 지지하는 제1 및 제2 X 단위 프레임을 포함하는 백라이트 모듈 검사 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    일단은 상기 본체에 연결되고, 타단은 상기 지지부에 연결되며, 길이가 가변되며 상기 본체의 경사도를 조절하는 경사 조절부를 더 포함하는 백라이트 모듈 검사 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 경사 조절부는,
    일단은 지지체의 일측에 회전 가능하게 연결되고, 일정 길이와 폭을 갖는 길이 조절홈이 형성되고, 상기 길이 조절홈의 일측으로는 복수의 삽입홈이 형성되는 제1 단위 로드와,
    일단은 상기 본체의 일측에 회전 가능하게 연결되는 제2 단위 로드와,
    상기 제2 단위 로드의 일측으로 배치되어 상기 복수의 삽입홈 중 선택된 어느 하나의 상기 삽입홈에 삽입되는 고정 로드를 포함하는 백라이트 모듈 검사 장치.
  4. 삭제
  5. 제1항에 있어서,
    상기 백라이트 모듈에 대하여 열을 인가한 후, 상기 백라이트 모듈의 상태를 측정하는 열 측정부를 더 포함하는 백라이트 모듈 검사 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 열 측정부는,
    상기 본체 상에 배치되어, 외부의 제어에 의해 상기 백라이트 모듈에 대하여 열을 인가하는 발열 유닛과,
    상기 백라이트 모듈의 온도를 측정하여 해당하는 신호를 출력하는 온도 센서 와,
    상기 온도 센서가 배치되고, 양단은 상기 모듈 안착부 상에서 이동 가능하게 연결되는 고정 로드와,
    상기 온도 센서에서 출력되는 신호에 따라 상기 백라이트 모듈의 온도 상태를 판단하는 판단부를 더 포함하는 백라이트 모듈 검사 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 온도 센서는,
    상기 고정 로드에 착탈가능하게 배치되는 백라이트 모듈 검사 장치.
KR1020210101722A 2021-08-03 2021-08-03 백라이트 모듈 검사 장치 KR102355352B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210101722A KR102355352B1 (ko) 2021-08-03 2021-08-03 백라이트 모듈 검사 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210101722A KR102355352B1 (ko) 2021-08-03 2021-08-03 백라이트 모듈 검사 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR102355352B1 true KR102355352B1 (ko) 2022-02-08

Family

ID=80252942

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020210101722A KR102355352B1 (ko) 2021-08-03 2021-08-03 백라이트 모듈 검사 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102355352B1 (ko)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050021138A (ko) * 2003-08-26 2005-03-07 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 백라이트 조립용 지그
KR100768912B1 (ko) * 2006-09-29 2007-10-23 양 전자시스템 주식회사 프로브 검사장치
KR100870831B1 (ko) * 2007-06-26 2008-11-27 주식회사 디에스엘시디 백라이트 유닛 조립용 지그

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050021138A (ko) * 2003-08-26 2005-03-07 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 백라이트 조립용 지그
KR100768912B1 (ko) * 2006-09-29 2007-10-23 양 전자시스템 주식회사 프로브 검사장치
KR100870831B1 (ko) * 2007-06-26 2008-11-27 주식회사 디에스엘시디 백라이트 유닛 조립용 지그

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101279656B1 (ko) 프로브 검사장치
US20050035311A1 (en) Inspection apparatus
US7176705B2 (en) Thermal optical chuck
KR101301517B1 (ko) 액정표시장치용 기판 검사장치 이를 사용하는 기판검사방법
EP3799111B1 (en) Inspection device and temperature control method
KR20170077970A (ko) 태양전지 셀의 출력 특성 검사장치
KR20140110344A (ko) 압착 품질 검사용 저항 측정 장치 및 이를 이용한 측정 방법
TW201341774A (zh) 成像感測器陣列測試設備
TW201843462A (zh) 檢查治具以及基板檢查裝置
KR20170143458A (ko) 프로브카드, 이를 이용한 검사장치 및 검사방법
US6748746B2 (en) Device and method for controlling temperature of semiconductor module
JP2011002372A (ja) 導通劣化試験装置及び導通劣化試験方法
KR102355352B1 (ko) 백라이트 모듈 검사 장치
KR100768912B1 (ko) 프로브 검사장치
US9372302B2 (en) Backlight simulating device
KR101283246B1 (ko) 멀티센서가 구비된 백라이트 유닛
TW200419166A (en) Active matrix display circuit substrate, display panel including the same, inspection method thereof, and inspection device thereof
KR101007107B1 (ko) Ｌｅｄ 모듈의 검사 장치
JP3226495B2 (ja) 光学部品の吸収度測定装置
US20190208191A1 (en) Continuous slanted edge focus measurements system
KR100768122B1 (ko) 패널 상태 검사 장치 및 그 방법
KR102289861B1 (ko) 메탈 마이그레이션에 의한 화재 시각화 장치 및 방법
KR101460550B1 (ko) 온도 제어가 가능한 엘이디 소켓
KR20220043328A (ko) 디스플레이 검사용 온도제어 지그
KR102351240B1 (ko) 백라이트 모듈 검사 장치

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant