KR102173030B1 - Align checking device and align checking method for electrode assembly - Google Patents

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Abstract

본 발명은 전극 조립체의 얼라인 체크 장치 및 얼라인 체크 방법에 관한 것으로, 본 발명에 전극 조립체의 얼라인 체크 장치는 전극 및 분리막이 교대로 적층된 전극 조립체의 일측 방향에 위치되어, 상기 전극 조립체 방향으로 빛을 조명하는 백라이트부와, 상기 전극 조립체의 타측 방향에 위치되고, 상기 전극 조립체의 비젼 얼라인을 위하여 상기 전극 조립체를 촬영하는 촬영부 및 상기 전극 조립체와 상기 촬영부 사이에 위치되고, 상기 전극 조립체의 가장자리가 빛의 산란으로 비젼 왜곡이 일어나지 않도록 상기 백라이트부에서 조명되는 빛을 반사하는 반사부를 포함한다.The present invention relates to an alignment check device and an alignment check method of an electrode assembly, wherein the alignment check device of the electrode assembly is located in one direction of an electrode assembly in which electrodes and separators are alternately stacked, and the electrode assembly A backlight unit that illuminates light in a direction, a photographing unit positioned in the other direction of the electrode assembly and photographing the electrode assembly for vision alignment of the electrode assembly, and positioned between the electrode assembly and the photographing unit, The electrode assembly includes a reflective unit that reflects light illuminated from the backlight unit so that the edge of the electrode assembly does not cause vision distortion due to light scattering.

Description

전극 조립체의 얼라인 체크 장치 및 얼라인 체크 방법{ALIGN CHECKING DEVICE AND ALIGN CHECKING METHOD FOR ELECTRODE ASSEMBLY} Alignment check device and alignment check method of electrode assembly {ALIGN CHECKING DEVICE AND ALIGN CHECKING METHOD FOR ELECTRODE ASSEMBLY}

본 발명은 전극 조립체의 얼라인 체크 장치 및 얼라인 체크 방법에 관한 것이다. The present invention relates to an alignment check apparatus and an alignment check method of an electrode assembly.

이차 전지는 일차 전지와는 달리 재충전이 가능하고, 또 소형 및 대용량화 가능성으로 인해 근래에 많이 연구 개발되고 있다. 모바일 기기에 대한 기술 개발과 수요가 증가함에 따라 에너지원으로서의 이차 전지의 수요가 급격하게 증가하고 있다. Unlike primary batteries, secondary batteries can be recharged, and due to their small size and large capacity, many research and developments have been made in recent years. As technology development and demand for mobile devices increase, the demand for secondary batteries as an energy source is rapidly increasing.

이차 전지는 전지 케이스의 형상에 따라, 코인형 전지, 원통형 전지, 각형 전지, 및 파우치형 전지로 분류된다. 이차 전지에서 전지 케이스 내부에 장착되는 전극 조립체는 전극 및 분리막의 적층 구조로 이루어진 충방전이 가능한 발전소자이다. Secondary batteries are classified into coin-type batteries, cylindrical batteries, prismatic batteries, and pouch-type batteries according to the shape of the battery case. In a secondary battery, an electrode assembly mounted inside a battery case is a power plant capable of charging and discharging having a stacked structure of electrodes and separators.

또한, 전극 조립체는 활물질이 도포된 시트형의 양극과 음극 사이에 분리막을 개재(介在)하여 권취한 젤리 롤(Jelly-roll)형, 다수의 양극과 음극을 분리막이 개재된 상태에서 순차적으로 적층한 스택형, 및 스택형의 단위 셀들을 긴 길이의 분리 필름으로 권취한 스택/폴딩형으로 대략 분류할 수 있다. In addition, the electrode assembly is a jelly-roll type in which a separator is interposed between a sheet-shaped positive electrode and a negative electrode coated with an active material. The stacked and stacked unit cells may be roughly classified into a stack/folding type wound with a long-length separation film.

여기서, 전극 조립체는 다수의 전극 및 분리막을 정확한 위치에 적층하여 제조하는 것이 중요한 문제이다. 특히, 전극 및 분리막이 정확한 위치에 정렬되지 않으면 전극 간 쇼트가 발생되어, 이차전지의 발화나 심각한 손상이 발생되는 문제가 있다.Here, it is an important problem to manufacture the electrode assembly by stacking a plurality of electrodes and separators at correct locations. In particular, if the electrode and the separator are not aligned in the correct position, a short circuit occurs between the electrodes, and there is a problem that ignition or serious damage of the secondary battery occurs.

한국 공개특허 제 10-2014-0015647호Korean Patent Application Publication No. 10-2014-0015647

본 발명의 하나의 관점은 빛에 의한 전극 조립체의 비젼(Vision) 왜곡을 방지할 수 있는 전극 조립체의 얼라인 체크 장치 및 얼라인 체크 방법을 제공하기 위한 것이다. One aspect of the present invention is to provide an alignment check device and alignment check method of an electrode assembly capable of preventing vision distortion of the electrode assembly due to light.

본 발명의 실시예에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 장치는, 전극 및 분리막이 교대로 적층된 전극 조립체의 일측 방향에 위치되어, 상기 전극 조립체 방향으로 빛을 조명하는 백라이트부와, 상기 전극 조립체의 타측 방향에 위치되고, 상기 전극 조립체의 비젼 얼라인을 위하여 상기 전극 조립체를 촬영하는 촬영부 및 상기 전극 조립체와 상기 촬영부 사이에 위치되고, 상기 전극 조립체의 가장자리가 빛의 산란으로 비젼 왜곡이 일어나지 않도록 상기 백라이트부에서 조명되는 빛을 반사하는 반사부를 포함할 수 있다.An alignment check device for an electrode assembly according to an embodiment of the present invention includes a backlight unit that is positioned in one direction of an electrode assembly in which electrodes and separators are alternately stacked to illuminate light in the direction of the electrode assembly, and It is located in the other direction and is located between the photographing unit for photographing the electrode assembly for vision alignment of the electrode assembly, and between the electrode assembly and the photographing unit, and the edge of the electrode assembly does not cause vision distortion due to light scattering. It may include a reflecting unit that reflects the light illuminated from the backlight unit so as to avoid.

한편, 본 발명의 실시예에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 방법은, 전극 및 분리막이 교대로 적층된 전극 조립체의 일측 방향에 백라이트부를 위치시켜 상기 전극 조립체 방향으로 빛을 조명하는 조명과정과, 상기 전극 조립체의 타측 방향에 반사부를 위치시키어, 상기 전극 조립체의 가장자리가 빛의 산란으로 비젼 왜곡되지 않도록 상기 백라이트부에서 조명되는 빛을 반사하는 반사과정 및 상기 전극 조립체의 비젼 얼라인을 위하여 촬영부를 통해 상기 전극 조립체를 촬영하는 촬영과정을 포함할 수 있다.On the other hand, the alignment check method of an electrode assembly according to an embodiment of the present invention includes a lighting process of illuminating light in the direction of the electrode assembly by placing a backlight unit in one direction of an electrode assembly in which electrodes and separators are alternately stacked, and the By placing a reflector in the other direction of the electrode assembly, a reflection process of reflecting light illuminated from the backlight unit so that the edge of the electrode assembly does not distort vision due to light scattering, and through a photographing unit for vision alignment of the electrode assembly. It may include a photographing process of photographing the electrode assembly.

본 발명에 따르면, 백라이트부에서 조명되는 빛을 반사하는 반사부를 구비하여 빛의 산란으로 인한 전극 조립체의 비젼 왜곡이 발생되는 것을 방지할 수 있다. According to the present invention, it is possible to prevent the generation of vision distortion of the electrode assembly due to scattering of light by providing a reflecting unit that reflects light illuminated from the backlight unit.

즉, 전극 조립체의 일측 방향에서 전극 조립체 방향으로 백라이트부에서 빛을 조명 시, 전극 조립체의 타측 방향에 상기 백라이트부에서 조명되는 빛을 반사하는 반사부를 구비하여 전극 조립체의 가장자리에 빛의 산란으로 인한 비젼 왜곡이 발생되는 것을 방지될 수 있다. 특히, 음극의 가장자리를 통해 비젼 얼라인(Vision align)할 때, 음극 가장자리의 형태가 빛의 산란으로 비젼 왜곡되는 것이 방지되어 음극 라인을 명확히 찾을 수 있어 정확한 비젼 얼라인가 가능하다. 이로 인해, 전극 조립체 제조 시 전극 및 분리막을 정확한 위치에 적층시킬 수 있고, 전극 조립체 검사 시 전극 및 분리막의 적층이 정확한 위치됐는지 명확히 확인할 수 있다. 또한, 다수의 전극 적층체를 적층하여 이차전지 제조 시, 각 전극 적층체 간의 편차를 정확히 파악할 수 있어, 이차전지의 불량 발생을 방지하고 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 또한, 빛의 산란으로 인한 비젼 왜곡 현상을 방지하기 위하여 별도의 동축 조명이 필요하지 않게 된다.That is, when light is illuminated from the backlight unit in the direction of the electrode assembly in one direction of the electrode assembly, a reflecting unit for reflecting the light illuminated from the backlight unit is provided in the other direction of the electrode assembly, resulting in scattering of light at the edge of the electrode assembly. Vision distortion can be prevented from occurring. In particular, when vision alignment is performed through the edge of the cathode, the shape of the cathode edge is prevented from being distorted by the scattering of light, so that the cathode line can be clearly found, thereby enabling accurate vision alignment. Accordingly, when manufacturing an electrode assembly, the electrode and the separator can be stacked at the correct position, and when the electrode assembly is inspected, it is possible to clearly check whether the stacking of the electrode and the separator is at the correct position. In addition, when manufacturing a secondary battery by stacking a plurality of electrode stacks, it is possible to accurately grasp the deviation between the electrode stacks, thereby preventing the occurrence of defects in the secondary battery and improving reliability. In addition, separate coaxial lighting is not required to prevent vision distortion caused by light scattering.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 장치의 개념을 나타낸 정면도이다.
도 2는 종래 기술 및 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 장치를 통해 음극의 동일 영역을 각각 측정한 그래프이다.
도 3은 본 발명의 제2 실시예에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 장치의 개념을 나타낸 정면도이다.
도 4는 도 3에 도시된 반사부의 일례를 나타낸 저면도이다.
도 5는 도 3에 도시된 반사부의 다른 예를 나타낸 저면도이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 방법에서, 다수의 전극 적층체를 적층 시 비젼 얼라인 하는 개념을 나타낸 정면도이다.1 is a front view showing the concept of an alignment check device of an electrode assembly according to a first embodiment of the present invention.
2 is a graph in which the same area of the cathode is measured by the alignment check device of the electrode assembly according to the prior art and the first embodiment of the present invention.
3 is a front view showing the concept of an alignment check device of an electrode assembly according to a second embodiment of the present invention.
4 is a bottom view showing an example of the reflector shown in FIG. 3.
5 is a bottom view showing another example of the reflective unit shown in FIG. 3.
6 is a front view illustrating a concept of vision alignment when a plurality of electrode stacks are stacked in a method for checking alignment of an electrode assembly according to an exemplary embodiment of the present invention.

본 발명의 목적, 특정한 장점들 및 신규한 특징들은 첨부된 도면들과 연관되어지는 이하의 상세한 설명과 바람직한 실시예들로부터 더욱 명백해질 것이다. 본 명세서에서 각 도면의 구성요소들에 참조번호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 한해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 번호를 가지도록 하고 있음에 유의하여야 한다. 또한, 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고, 본 발명을 설명함에 있어서, 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 관련된 공지 기술에 대한 상세한 설명은 생략하도록 한다. Objects, specific advantages and novel features of the present invention will become more apparent from the following detailed description and preferred embodiments associated with the accompanying drawings. In adding reference numerals to elements of each drawing in the present specification, it should be noted that, even though they are indicated on different drawings, only the same elements are to have the same number as possible. In addition, the present invention may be implemented in various forms and is not limited to the embodiments described herein. In addition, in describing the present invention, detailed descriptions of related known technologies that may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention will be omitted.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 장치의 개념을 나타낸 정면도이다.1 is a front view showing the concept of an alignment check device of an electrode assembly according to a first embodiment of the present invention.

도 1을 참고하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 장치(100)는 전극 조립체(10)로 빛을 조명하는 백라이트부(120)와, 빛을 반사하는 반사부(130) 및 전극 조립체(10)를 촬영하는 촬영부(110)를 포함한다. 또한, 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 장치(100)는 전극 조립체(10)를 고정시키는 흡착 고정부(140)를 더 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1, the alignment check device 100 of the electrode assembly according to the first embodiment of the present invention includes a backlight unit 120 that illuminates light by the electrode assembly 10 and a reflective unit that reflects light ( 130) and a photographing unit 110 for photographing the electrode assembly 10. In addition, the alignment check device 100 of the electrode assembly according to the first embodiment of the present invention may further include an adsorption fixing part 140 for fixing the electrode assembly 10.

이하에서, 도 1 및 도 2를 참조하여, 본 발명의 제1 실시예인 전극 조립체의 얼라인 체크 장치에 대해 보다 상세히 설명하기로 한다. Hereinafter, an alignment check apparatus for an electrode assembly according to a first embodiment of the present invention will be described in more detail with reference to FIGS. 1 and 2.

보다 상세히, 도 1을 참고하면, 전극 조립체(10)는 충방전이 가능한 발전소자로서, 전극(13)과 분리막(14)이 결집되어 교대로 적층된 구조를 형성한다. In more detail, referring to FIG. 1, the electrode assembly 10 is a power generating device capable of charging and discharging, and the electrode 13 and the separator 14 are assembled to form a structure in which they are alternately stacked.

전극(13)은 양극(11) 및 음극(12)으로 구성될 수 있다. 이때, 전극 조립체(10)는 양극(11)/분리막(14)/음극(12)이 교대로 적층된 구조로 이루어질 수 있다. 여기서, 분리막(14)은 양극(11)과 음극(12) 사이와, 양극(11)의 외측 및 음극(12)의 외측에 위치될 수 있다. The electrode 13 may be composed of an anode 11 and a cathode 12. In this case, the electrode assembly 10 may have a structure in which an anode 11 / a separator 14 / a cathode 12 are alternately stacked. Here, the separator 14 may be located between the anode 11 and the cathode 12, outside the anode 11 and outside the cathode 12.

양극(11)은 양극 집전체(11b) 및 양극 집전체(11b)에 도포된 양극 활물질(11a)을 포함할 수 있다. The positive electrode 11 may include a positive electrode current collector 11b and a positive electrode active material 11a applied to the positive electrode current collector 11b.

음극(12)은 음극 집전체(12b)와, 음극 집전체(12b)에 도포된 음극 활물질(12a)을 포함할 수 있다. The negative electrode 12 may include a negative current collector 12b and a negative active material 12a coated on the negative current collector 12b.

분리막(14)은 절연 재질로 이루어져 양극(11)과 음극(12) 사이를 전기적으로 절연한다. 여기서, 분리막(14)은 예를 들어 미다공성을 가지는 폴리에칠렌, 폴리프로필렌 등 폴리올레핀계 수지막으로 형성될 수 있다.The separator 14 is made of an insulating material and electrically insulates the anode 11 and the cathode 12. Here, the separator 14 may be formed of, for example, a polyolefin-based resin film such as polyethylene or polypropylene having microporous properties.

백라이트(Back light)부(120)는 전극 조립체(10)의 일측 방향에서 전극 조립체(10) 방향으로 빛을 조명한다. 여기서, 백라이트부(120)는 예를 들어 도 1에 도시된 방향을 기준으로 전극 조립체(10)의 상측 방향에 일정거리 이격되어 위치될 수 있다.The backlight unit 120 illuminates light from one side of the electrode assembly 10 toward the electrode assembly 10. Here, the backlight unit 120 may be positioned at a predetermined distance apart from the upper direction of the electrode assembly 10 based on, for example, the direction illustrated in FIG. 1.

또한, 백라이트부(120)는 예를 들어 CCFL(냉음극 형광램프), EEFL(외부전극 형광램프), LED(발광 다이오드; light emitting diode), ELP(전기장 발광; injection electroluminescence), FFL(평판형 형광램프) 또는 HCFL(온음극형광램프) 중에서 어느 하나로 이루어질 수 있다.In addition, the backlight unit 120 is, for example, CCFL (cold cathode fluorescent lamp), EEFL (external electrode fluorescent lamp), LED (light emitting diode; light emitting diode), ELP (injection electroluminescence), FFL (flat plate type) Fluorescent lamp) or HCFL (warm-cathode fluorescent lamp).

반사부(130)는 전극 조립체(10)의 타측 방향에 위치되어 백라이트부(120)에서 조명되는 빛을 전극 조립체(10)로 반사한다. The reflector 130 is positioned in the direction of the other side of the electrode assembly 10 to reflect light illuminated from the backlight unit 120 to the electrode assembly 10.

또한, 반사부(130)는 반투명 반사부재(131)로 이루어져 전극 조립체(10)와 촬영부(110)의 사이에 위치될 수 있다. 여기서, 반투명 반사부재(131)는 백라이트 부(120)에서 조명되는 빛은 반사하고, 촬영부(110)에서 전극 조립체(10)는 촬영할 수 있도록 반투명 재질로 이루어질 수 있다. 이때, 촬영부(110)는 반투명 반사부재(131)를 통해 전극 조립체(10)를 촬영할 수 있다. In addition, the reflective unit 130 may be formed of a translucent reflective member 131 and may be positioned between the electrode assembly 10 and the photographing unit 110. Here, the translucent reflective member 131 may be made of a translucent material so that light illuminated by the backlight unit 120 may be reflected, and the electrode assembly 10 may be photographed by the photographing unit 110. In this case, the photographing unit 110 may photograph the electrode assembly 10 through the translucent reflective member 131.

아울러, 반투명 반사부재(131)는 반사면은 정반사가 일어나는 정반사면으로 형성될 수 있다.In addition, the translucent reflective member 131 may be formed as a specular reflective surface where specular reflection occurs.

그리고, 반투명 반사부재(131)는 예를 들어 반투명 반사부재(131)에서 반사되는 반사광의 축과 촬영부(110)의 촬영축이 동축이 되도록 위치될 수 있다. 이때, 예를 들어 반투명 반사부재(131)에서 반사되는 반사광의 축과 백라이트부(120)의 조명 축은 동축으로 이루어질 수 있다. In addition, the translucent reflective member 131 may be positioned such that the axis of the reflected light reflected from the translucent reflective member 131 and the photographing axis of the photographing unit 110 are coaxial. In this case, for example, the axis of the reflected light reflected from the translucent reflective member 131 and the illumination axis of the backlight unit 120 may be coaxial.

또한, 반투명 반사부재(131)는 백라이트부(120)의 빛을 반사하여 전극 조립체(10)의 가장자리에서 발생되는 빛의 산란으로 인한 비젼 왜곡을 방지할 수 있다. 특히, 전극 조립체(10)의 음극(12) 가장자리 위치로 비젼 얼라인(Vision align)할 때 전극 조립체(10)의 분리막(14) 가장자리에서 백라이트부(120)에서 조명되는 빛이 산란되어 음극(12) 가장자리 위치가 왜곡되는 현상을 방지할 수 있다. 보다 상세히, 백라이트부(120)의 빛이 전극 보다 측면으로 돌출된 반투명 재질의 분리막을 통과하면서, 산란광에 의해 음극(12) 가장자리가 왜곡되는 현상을 반투명 반사부재(131)가 반사하는 반사광으로 인하여 음극(12) 가장자리가 선명하게 보일수 있다. 이때, 반투명 반사부재(131)가 반사하는 반사광으로 인해 촬영부(110)와 동축인 조명을 사용하지 않고도 동축 효과를 얻을 수 있다.In addition, the translucent reflective member 131 may reflect light from the backlight unit 120 to prevent vision distortion due to scattering of light generated at the edge of the electrode assembly 10. In particular, when vision alignment is performed at the edge of the cathode 12 of the electrode assembly 10, the light illuminated from the backlight 120 is scattered from the edge of the separator 14 of the electrode assembly 10 to the cathode ( 12) It can prevent distortion of edge position. In more detail, the phenomenon that the edge of the cathode 12 is distorted by the scattered light while the light of the backlight unit 120 passes through the separator made of a translucent material protruding from the side of the electrode is distorted due to the reflected light reflected by the translucent reflective member 131 The edge of the cathode 12 can be clearly seen. In this case, due to the reflected light reflected by the translucent reflective member 131, a coaxial effect can be obtained without using illumination that is coaxial with the photographing unit 110.

그리고, 반투명 반사부재(131)는 전극 조립체(10)와 마주보도록 위치되고, 전극 조립체(10) 보다 크게 형성될 수 있다. 이에 따라, 백라이트부(120)에서 조명되는 빛을 전극 조립체(10) 가장자리까지 반사하여 전극 조립체(10) 가장자리의 빛의 산란으로 인한 비젼 왜곡 현상을 방지할 수 있다. In addition, the translucent reflective member 131 is positioned to face the electrode assembly 10 and may be formed larger than the electrode assembly 10. Accordingly, by reflecting the light illuminated from the backlight unit 120 to the edge of the electrode assembly 10, a vision distortion phenomenon due to scattering of light at the edge of the electrode assembly 10 can be prevented.

또한, 반투명 반사부재(131)는 광 투과율이 너무 높은 재질로 형성되면 촬영부(110)에서 전극 조립체(10)를 촬영 시 선명한 영상을 얻기가 용이하지만, 백라이트부(120)에서 조명되는 빛을 반사하는 반사량이 적게되어 전극 조립체(10)의 가장자리에서 빛의 산란으로 인한 비젼 왜곡이 발생될 수 있다. 한편, 반투명 반사부재(131)는 광 투과율이 너무 낮은 재질로 형성되면 백라이트부(120)에서 조명되는 빛을 반사하는 반사량이 많게되어 전극 조립체(10)의 가장자리에서 발생되는 빛의 산란으로 인한 비젼 왜곡을 방지하기가 용이해지지만, 촬영부(110)에서 전극 조립체(10)를 촬영 시 선명한 영상을 얻기가 어려워질 수 있다. In addition, when the translucent reflective member 131 is formed of a material having too high light transmittance, it is easy to obtain a clear image when the electrode assembly 10 is photographed by the photographing unit 110, but the light illuminated from the backlight unit 120 is Since the amount of reflected reflection is reduced, vision distortion may occur due to scattering of light at the edge of the electrode assembly 10. On the other hand, when the translucent reflective member 131 is formed of a material having too low light transmittance, the amount of reflection that reflects the light illuminated from the backlight unit 120 increases, and the vision due to scattering of light generated at the edge of the electrode assembly 10 Although it becomes easy to prevent distortion, it may be difficult to obtain a clear image when the electrode assembly 10 is photographed by the photographing unit 110.

여기서, 반투명 반사부재(131)는 예를 들어 광 투과율이 30~70% 가 되도록 형성될 수 있다. Here, the translucent reflective member 131 may be formed to have a light transmittance of 30 to 70%, for example.

그리고, 반투명 반사부재(131)는 보다 구체적으로 예를 들어 광 투과율이 40~60% 가 되도록 형성되어, 백라이트부(120)에서 조명되는 빛을 전극 조립체(10)의 비젼 왜곡이 발생되지 않도록 효과적으로 반사하고, 촬영부(110)에서 선명한 전극 조립체(10) 영상을 얻도록 촬영하기가 가능할 수 있다. 이때, 반투명 반사부재(131)는 예를 들어 광 반사율 40~60% 가 되도록 형성될 수 있다. In addition, the translucent reflective member 131 is more specifically formed to have a light transmittance of 40 to 60%, so that the light illuminated from the backlight unit 120 is effectively prevented from causing distortion of the vision of the electrode assembly 10. It may be possible to reflect and take a picture so that the image of the electrode assembly 10 is clearly obtained by the photographing unit 110. In this case, the translucent reflective member 131 may be formed to have a light reflectance of 40 to 60%, for example.

또한, 반투명 반사부재(131)는 보다 더 구체적으로 예를 들어 광 투과율이 50% 가 되도록 형성될 수 있다.In addition, the translucent reflective member 131 may be formed to have a light transmittance of 50% more specifically, for example.

아울러, 반투명 반사부재(131)는 반투명 렌즈(lens)로 이루어질 수 있다. 이때, 반투명 렌즈는 평면 렌즈로 이루어질 수 있다. 여기서, 반투명 렌즈는 정반사 렌즈로 이루어질 수 있다.In addition, the translucent reflective member 131 may be formed of a translucent lens. In this case, the translucent lens may be formed of a flat lens. Here, the translucent lens may be formed of a specular lens.

촬영부(110)는 전극 조립체(10)의 타측 방향에서 전극 조립체(10)를 촬영한다. 여기서, 촬영부(110)는 예를 들어 도 1에 도시된 방향을 기준으로 전극 조립체(10)의 하측 방향에 일정거리 이격되어 위치될 수 있다.The photographing unit 110 photographs the electrode assembly 10 from the direction of the other side of the electrode assembly 10. Here, the photographing unit 110 may be positioned at a predetermined distance apart from the lower direction of the electrode assembly 10 based on the direction shown in FIG. 1, for example.

또한, 촬영부(110)는 카메라(Camera)로 이루어질 수 있다. 이때, 카메라는 예를 들어 CCD(Charge Coupled Device) 카메라 또는 CMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor) 카메라로 이루어질 수 있다.In addition, the photographing unit 110 may be formed of a camera. In this case, the camera may be formed of, for example, a Charge Coupled Device (CCD) camera or a Complementary Metal-Oxide-Semiconductor (CMOS) camera.

흡착 고정부(140)는 전극 조립체(10)의 일측면을 흡착하여 고정할 수 있다. 이때, 흡착 고정부(140)는 예를 들어 전극 조립체(10)의 상측면을 진공 흡착하여 고정할 수 있다.The adsorption fixing part 140 may adsorb and fix one side of the electrode assembly 10. In this case, the adsorption fixing unit 140 may be fixed by vacuum adsorbing the upper side of the electrode assembly 10, for example.

아울러, 흡착 고정부(140)는 다수의 흡착홀(141a)이 형성된 흡착 플레이트(141)를 포함할 수 있다. 이때, 흡착 플레이트(141)는 진공 펌프와 연결되어, 흡착 플레이트(141)의 다수의 흡착홀(141a)을 통해 전극 조립체(10)를 진공 흡착하여 고정할 수 있다. 여기서, 흡착 플레이트(141)는 투명 재질로 이루어져 백라이트부(120)에서 조명되는 빛을 투과시킬 수 있다.In addition, the adsorption fixing unit 140 may include an adsorption plate 141 in which a plurality of adsorption holes 141a are formed. At this time, the adsorption plate 141 may be connected to a vacuum pump to secure the electrode assembly 10 by vacuum adsorption through the plurality of adsorption holes 141a of the adsorption plate 141. Here, the adsorption plate 141 may be made of a transparent material and transmit light illuminated from the backlight unit 120.

한편, 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 장치(100)는 촬영부(110)에서 촬영한 영상을 디스플레이하는 디스플레이(Display)부(150)를 더 포함할 수 있다. 여기서, 디스플레이부(150)는 예를 들어 LCD(Liquid Crystal Display) 모니터(Monitor) 또는 LED(Light Emitting Diode) 모니터로 이루어질 수 있다.Meanwhile, the apparatus 100 for checking alignment of an electrode assembly according to the first embodiment of the present invention may further include a display unit 150 that displays an image captured by the photographing unit 110. Here, the display unit 150 may be formed of, for example, a Liquid Crystal Display (LCD) monitor or a Light Emitting Diode (LED) monitor.

도 2는 종래 기술 및 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 장치를 통해 음극의 동일 영역을 각각 측정한 그래프이다. 이때, 도 2에서 수직축은 그레이 스케일(Gray scale)을 나타내고, 수평축은 음극의 임의의 동일 기준점으로부터 가장자리 끝단까지의 거리를 나타낸다. 여기서, 그레이 스케일(Gray scale)은 밝기를 나타내는 지표로써, 지표가 0에서는 최소 밝기로 모두 검은색으로 나타나 음극이 보이지 않고, 지표가 250에서는 음극이 가장 잘 보이는 밝기를 나타내는 것을 알 수 있다.2 is a graph in which the same area of the cathode is measured by the alignment check device of the electrode assembly according to the prior art and the first embodiment of the present invention. In this case, in FIG. 2, the vertical axis represents a gray scale, and the horizontal axis represents the distance from the same reference point to the edge of the cathode. Here, the gray scale is an indicator of brightness, and when the indicator is 0, all of them are black with minimum brightness, so that the cathode is not visible, and when the indicator is 250, the cathode shows the most visible brightness.

도 2에 나타난 바와 같이, 수직축의 그레이 스케일(Gray scale)이 250 경우, 종래 기술에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 장치에서 측정한 음극(A) 거리는 1088um으로 나타나고, 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 장치를 통해 측정한 음극(B) 거리는 1472um으로 나타난다. 여기서, 실제 음극 거리는 1472um이다. As shown in FIG. 2, when the gray scale of the vertical axis is 250, the distance of the cathode A measured by the alignment check device of the electrode assembly according to the prior art is 1088 μm, and according to the first embodiment of the present invention The distance of the cathode (B) measured through the alignment check device of the electrode assembly is 1472 μm. Here, the actual cathode distance is 1472um.

즉, 종래의 전극 조립체의 얼라인 체크 장치로 음극 측정시, 분리막의 가장자리에 산란되는 빛에 의해 음극 가장자리의 크기가 왜곡되어 작게 나타난 것을 알 수 있다.That is, when measuring the cathode by the alignment check device of the conventional electrode assembly, it can be seen that the size of the edge of the cathode is distorted by the light scattered on the edge of the separator and appears small.

도 3은 본 발명의 제2 실시예에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 장치의 개념을 나타낸 정면도이다. 3 is a front view showing the concept of an alignment check device of an electrode assembly according to a second embodiment of the present invention.

도 3을 참고하면, 본 발명의 제2 실시예에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 장치(200)는 백라이트부(120)와 반사부(230) 및 촬영부(110)를 포함한다.Referring to FIG. 3, an alignment check device 200 of an electrode assembly according to a second exemplary embodiment of the present invention includes a backlight unit 120, a reflective unit 230, and a photographing unit 110.

본 발명의 제2 실시예에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 장치(200)는 전술한 제1 실시예에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 장치(100)와 비교할 때, 반사부(230)에 촬영부(110)가 촬영가능한 시야각을 확보하기 위한 공간부가 형성된 차이가 있다. The alignment check device 200 of the electrode assembly according to the second embodiment of the present invention is compared with the alignment check device 100 of the electrode assembly according to the first embodiment described above. There is a difference in which a space portion is formed to secure a viewing angle in which (110) can photograph.

따라서, 본 실시예는 제1 실시예와 중복되는 내용은 간략히 기술하고, 차이점을 중심으로 기술하도록 한다. Accordingly, in the present embodiment, the overlapping content with the first embodiment will be briefly described, and the differences will be mainly described.

도 4는 도 3에 도시된 반사부의 일례를 나타낸 저면도이다.4 is a bottom view showing an example of the reflector shown in FIG. 3.

도 3 및 도 4를 참고하면, 본 발명의 제2 실시예에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 장치(200)에서, 반사부(230')는 일례로 복수개로 구비되어 전극 조립체(10)의 가장자리와 마주보도록 각각 위치될 수 있다. 이때, 복수개의 반사부(230')는 각각 백라이트부(120)에서 조명되는 빛을 반사하여, 전극 조립체(10)의 가장자리에 빛의 산란으로 인한 왜곡 발생을 방지할 수 있다. 이때, 복수개의 반사부는 촬영부(110)를 통해 전극 조립체(10)의 타측 방향에서 전극 조립체(10)를 촬영가능하도록 상호 이격된 거리(W)에 위치될 수 있다.3 and 4, in the alignment check apparatus 200 of the electrode assembly according to the second exemplary embodiment of the present invention, a plurality of reflective units 230 ′ are provided as an example to form an edge of the electrode assembly 10. Each can be positioned to face and. In this case, each of the plurality of reflecting units 230 ′ may reflect light illuminated from the backlight unit 120 to prevent distortion due to scattering of light at the edge of the electrode assembly 10. In this case, the plurality of reflectors may be positioned at a distance W spaced apart from each other so that the electrode assembly 10 can be photographed from the other side of the electrode assembly 10 through the photographing unit 110.

도 5는 도 3에 도시된 반사부의 다른 예를 나타낸 저면도이다.5 is a bottom view showing another example of the reflective unit shown in FIG. 3.

도 3 및 도 5 를 참고하면, 본 발명의 제2 실시예에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 장치(200)에서, 반사부(230")는 다른 예로 촬영부(110)를 통해 전극 조립체(10)의 타측 방향에서 전극 조립체(10)를 촬영할 수 있도록 중앙부에 촬영홀(231)이 형성될 수 있다. 이때, 반사부(230")의 테두리(232)는 전극 조립체(10)의 가장자리와 마주보도록 위치되어 백라이트부(120)에서 조명되는 빛을 반사할 수 있다. 이에 따라, 전극 조립체(10)의 가장자리에 백라이트부(120)에서 조명되는 빛의 산란으로 인한 왜곡이 발생되는 것을 방지할 수 있다.3 and 5, in the alignment check apparatus 200 of the electrode assembly according to the second exemplary embodiment of the present invention, the reflective unit 230 ″ is another example of the electrode assembly 10 through the photographing unit 110. A photographing hole 231 may be formed in the center so as to photograph the electrode assembly 10 in the other direction of ). In this case, the edge 232 of the reflector 230" faces the edge of the electrode assembly 10 It is positioned so as to be viewed and may reflect light illuminated from the backlight unit 120. Accordingly, it is possible to prevent distortion due to scattering of light illuminated from the backlight unit 120 at the edge of the electrode assembly 10.

이하에서는, 도 1 및 도 6을 참조하여, 본 발명의 실시예에 의한 전극 조립체의 얼라인 체크 방법에 대해 보다 상세히 설명하기로 한다. Hereinafter, a method for checking alignment of an electrode assembly according to an exemplary embodiment of the present invention will be described in more detail with reference to FIGS. 1 and 6.

도 1을 참고하면, 본 발명의 실시예에 의한 전극 조립체(10)의 얼라인 체크 방법은 전극 조립체(10)를 조명하는 조명과정과, 빛을 반사하는 반사과정 및 전극 조립체(10)를 촬영하는 촬영과정을 포함한다.Referring to FIG. 1, the alignment check method of the electrode assembly 10 according to the embodiment of the present invention is a photographing of an illumination process for illuminating the electrode assembly 10, a reflection process for reflecting light, and an electrode assembly 10. It includes a filming process.

보다 상세히, 조명과정은 전극 조립체(10)의 일측 방향에 백라이트부(120)를 위치시켜 전극 조립체(10) 방향으로 빛을 조명한다. 여기서, 전극 조립체(10)는 전극(13) 및 분리막(14)이 교대로 적층되어 형성될 수 있다. 이때, 전극(13)은 양극(11) 및 음극(12)을 포함할 수 있다.In more detail, in the illumination process, light is illuminated in the direction of the electrode assembly 10 by placing the backlight unit 120 in one direction of the electrode assembly 10. Here, the electrode assembly 10 may be formed by alternately stacking the electrodes 13 and the separator 14. In this case, the electrode 13 may include an anode 11 and a cathode 12.

반사과정은 전극 조립체(10)의 타측 방향에 반사부(130)를 위치시키어, 전극 조립체(10)의 가장자리가 빛의 산란으로 비젼 왜곡되지 않도록 백라이트부(120)에서 조명되는 빛을 반사한다. 여기서, 반사부(130)는 반투명 반사부재(131)로 이루어질 수 있다. 이때, 반투명 반사부재(131)는 예를 들어 반투명 렌즈로 이루어질 수 있다.In the reflection process, the reflector 130 is positioned in the other direction of the electrode assembly 10 so that the edge of the electrode assembly 10 does not distort the vision due to light scattering, so that the light illuminated from the backlight unit 120 is reflected. Here, the reflective part 130 may be formed of a translucent reflective member 131. In this case, the translucent reflective member 131 may be formed of a translucent lens, for example.

촬영과정은 전극 조립체(10)의 비젼 얼라인을 위하여 촬영부를 통해 전극 조립체(10)를 촬영한다.In the photographing process, the electrode assembly 10 is photographed through the photographing unit in order to align the vision of the electrode assembly 10.

또한, 촬영과정은 전극 조립체(10)의 타측 방향에서 반투명 반사부재(131)를 통해 전극 조립체(10)를 촬영할 수 있다. 이때, 촬영과정은 반투명 렌즈를 사용하여 전극 조립체(10)를 촬영할 수 있다.In addition, in the photographing process, the electrode assembly 10 may be photographed through the translucent reflective member 131 in the direction of the other side of the electrode assembly 10. In this case, in the photographing process, the electrode assembly 10 may be photographed using a translucent lens.

한편, 본 발명의 실시예에 따른 전극 조립체(10)의 얼라인 체크 방법은 음극(12)의 가장자리를 비젼 얼라인하여 전극 조립체(10)의 얼라인을 체크할 수 있다.Meanwhile, the alignment check method of the electrode assembly 10 according to an exemplary embodiment of the present invention may check the alignment of the electrode assembly 10 by aligning the edges of the cathode 12 with vision.

한편, 도 6을 참고하면, 본 발명의 실시예에 따른 전극 조립체(10)의 얼라인 체크 방법은 전극 조립체(10,20)가 다수개로 구비될 때, 다수개의 전극 조립체(10,20)의 각각에 포함된 음극(12)의 가장자리를 비젼 얼라인 하여, 다수개의 전극 조립체(10,20) 간의 얼라인을 체크할 수 있다.On the other hand, referring to Figure 6, the alignment check method of the electrode assembly 10 according to the embodiment of the present invention, when a plurality of electrode assemblies 10, 20 are provided, the plurality of electrode assemblies 10, 20 By aligning the edges of the cathodes 12 included therein, alignment between the plurality of electrode assemblies 10 and 20 may be checked.

도 1을 참고하면, 상기와 같이 구성된 본 발명의 실시예에 따른 전극 조립체(10)의 얼라인 체크 방법은 백라이트부(120)를 통해 전극 조립체(10)로 조명되는 빛을 전극 조립체(10)의 가장자리가 빛의 산란으로 비젼 왜곡되지 않도록 반투명 반사부재(131)가 반사하여, 전극 조립체(10)의 정확한 비젼 얼라인을 할 수 있다.Referring to FIG. 1, in the alignment check method of the electrode assembly 10 according to the embodiment of the present invention configured as described above, the light illuminated by the electrode assembly 10 through the backlight unit 120 is transmitted to the electrode assembly 10. The translucent reflective member 131 reflects so that the edge of the image is not distorted due to the scattering of light, so that the electrode assembly 10 can be accurately aligned with the vision.

이에 따라, 전극 조립체(10)의 적층 시 또는 적층 검사 시, 전극 조립체(10)의 얼라인을 정확히 체크할 수 있다. 아울러, 도 6을 참고하면, 다수개의 전극 조립체(10,20)의 적층 시 또는 적층 검사 시에도, 다수개의 전극 조립체(10,20) 간의 얼라인을 정확히 체크할 수 있다.Accordingly, when the electrode assembly 10 is stacked or during a stacking inspection, the alignment of the electrode assembly 10 can be accurately checked. In addition, referring to FIG. 6, even when a plurality of electrode assemblies 10 and 20 are stacked or when a stacking inspection is performed, alignment between the plurality of electrode assemblies 10 and 20 may be accurately checked.

이상 본 발명을 구체적인 실시예를 통하여 상세히 설명하였으나, 이는 본 발명을 구체적으로 설명하기 위한 것으로, 본 발명에 따른 전극 조립체의 얼라인 체크 장치 및 얼라인 체크 방법은 이에 한정되지 않는다. 본 발명의 기술적 사상 내에서 당해 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 실시가 가능하다고 할 것이다. Although the present invention has been described in detail through specific embodiments, this is for describing the present invention in detail, and an alignment check apparatus and an alignment check method of an electrode assembly according to the present invention are not limited thereto. It will be said that various implementations are possible by those of ordinary skill in the art within the technical idea of the present invention.

또한, 발명의 구체적인 보호 범위는 첨부된 특허청구범위에 의하여 명확해질 것이다. In addition, the specific scope of protection of the invention will be made clear by the appended claims.

100,200: 얼라인 검사 장치
10: 전극 조립체
11: 양극
12: 음극
13: 전극
14: 분리막
110: 촬영부
120: 백라이트부
130,230, 230', 230": 반사부
131: 반투명 반사부재
140: 흡착 고정부
141: 흡착 플레이트
141a: 흡착홀
150: 디스플레이부
231: 촬영홀
232: 테두리 100,200: alignment inspection device
10: electrode assembly
11: anode
12: cathode
13: electrode
14: separator
110: filming department
120: backlight unit
130,230, 230', 230": reflector
131: translucent reflective member
140: adsorption fixing part
141: suction plate
141a: suction hole
150: display unit
231: shooting hall
232: border

Claims (16)

전극 및 분리막이 교대로 적층된 전극 조립체의 일측 방향에 위치되어, 상기 전극 조립체 방향으로 빛을 조명하는 백라이트(Back light)부;
상기 전극 조립체의 타측 방향에 위치되고, 상기 전극 조립체의 비젼 얼라인(Align)을 위하여 상기 전극 조립체를 촬영하는 촬영부; 및
상기 전극 조립체와 상기 촬영부 사이에 위치되고, 상기 전극 조립체의 가장자리가 빛의 산란으로 비젼(Vision) 왜곡이 일어나지 않도록 상기 백라이트부에서 조명되는 빛을 반사하는 반사부를 포함하고,
상기 반사부는 복수개로 구비되어, 상기 전극 조립체의 가장자리와 마주보도록 각각 위치되며,
복수개의 상기 반사부는 상기 촬영부를 통해 상기 전극 조립체의 타측 방향에서 촬영가능하도록 상호 이격된 거리에 위치되는 전극 조립체의 얼라인 체크 장치.A backlight unit positioned in a direction of one side of the electrode assembly in which electrodes and separators are alternately stacked, and illuminating light in the direction of the electrode assembly;
A photographing unit positioned in a direction of the other side of the electrode assembly and photographing the electrode assembly for vision alignment of the electrode assembly; And
It is located between the electrode assembly and the photographing unit, and includes a reflecting unit for reflecting the light illuminated from the backlight unit so that the edge of the electrode assembly does not cause vision distortion due to light scattering,
A plurality of reflective units are provided, each positioned to face an edge of the electrode assembly,
Alignment checking device of an electrode assembly, wherein the plurality of reflectors are positioned at a distance apart from each other so as to be able to photograph from the other side of the electrode assembly through the photographing part. 청구항 1에 있어서,
상기 반사부는 반투명 반사부재로 이루어지고,
상기 촬영부는 상기 전극 조립체의 타측 방향에서 상기 반투명 반사부재를 통해 상기 전극 조립체를 촬영하는 전극 조립체의 얼라인 체크 장치.The method according to claim 1,
The reflection part is made of a semi-transparent reflection member,
The photographing unit is an alignment check device of an electrode assembly for photographing the electrode assembly through the translucent reflective member in a direction of the other side of the electrode assembly. 청구항 2에 있어서,
상기 반투명 반사부재는 상기 전극 조립체와 마주보도록 위치되고, 상기 전극 조립체 보다 크게 형성되는 전극 조립체의 얼라인 체크 장치.The method according to claim 2,
The translucent reflective member is positioned to face the electrode assembly and is formed to be larger than the electrode assembly. 청구항 2에 있어서,
상기 반투명 반사부재는 광 투과율이 40~60% 가 되도록 형성된 전극 조립체의 얼라인 체크 장치.The method according to claim 2,
The translucent reflective member is an alignment check device of an electrode assembly formed to have a light transmittance of 40 to 60%. 청구항 2 내지 청구항 4 중 어느 한 항에 있어서,
상기 반투명 반사부재는 반투명 렌즈(lens)로 이루어지는 전극 조립체의 얼라인 체크 장치.The method according to any one of claims 2 to 4,
The translucent reflective member is an alignment check device of an electrode assembly made of a translucent lens. 삭제delete 삭제delete 청구항 1에 있어서,
상기 전극 조립체를 흡착하여 고정시키는 흡착 고정부를 더 포함하는 전극 조립체의 얼라인 체크 장치.The method according to claim 1,
Alignment check device of the electrode assembly further comprising a suction fixing unit for adsorbing and fixing the electrode assembly. 청구항 8에 있어서,
상기 흡착 고정부는 다수의 흡착홀이 형성된 투명 재질의 흡착 플레이트를 포함하여, 상기 흡착 플레이트의 상기 다수의 흡착홀을 통해 상기 전극 조립체의 일측면을 진공 흡착시키는 전극 조립체의 얼라인 체크 장치.The method of claim 8,
The adsorption fixing unit includes an adsorption plate made of a transparent material with a plurality of adsorption holes formed thereon, and vacuum adsorption of one side of the electrode assembly through the plurality of adsorption holes of the adsorption plate. 청구항 1에 있어서,
상기 촬영부에서 촬영한 영상을 디스플레이하는 디스플레이부를 더 포함하는 전극 조립체의 얼라인 체크 장치.The method according to claim 1,
Alignment check device of the electrode assembly further comprising a display unit for displaying the image captured by the photographing unit. 청구항 1에 있어서,
상기 촬영부는 카메라로 이루어지는 전극 조립체의 얼라인 체크 장치.The method according to claim 1,
The photographing unit is an alignment check device of an electrode assembly comprising a camera. 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete
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