KR102057587B1 - Apparatus and Method Compensating Output Current of HALL IC - Google Patents
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Abstract
본 발명은 HALL IC의 전원 오차 보상 장치 및 방법에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 HALL IC의 전원 오차 보상 장치는 HALL IC의 입력전원에 따른 오차를 최소화하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 따르면, HALL IC의 출력 값을 매우 정밀하게 보정 할 수 있는 효과가 있다.The present invention relates to a power error compensation device and method of a HALL IC, the power error compensation device of a HALL IC according to the invention is characterized in that to minimize the error according to the input power of the HALL IC. According to the present invention, the output value of the HALL IC can be calibrated very accurately.
Description
본 발명은 HALL IC의 전원 오차 보상 장치 및 방법에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 HALL IC의 전원 오차를 보상하는 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus and method for compensating power error of a HALL IC, and more particularly, to an apparatus and method for compensating a power error of a HALL IC.
종래의 HALL IC는 플레밍의 왼손법칙에 의거하여 자속의 크기에 비례하는 전압(VH)을 출력한다.Conventional HALL ICs output a voltage V H proportional to the magnitude of the magnetic flux based on Fleming's left-hand law.
예컨대, 전압(VH)은 수학식 1과 같이 나타낼 수 있고, 여기서 d, RH, IC 는 모두 상수라고 가정할 경우, 이를 통해 HALL IC의 출력 전압(VH)이 자속밀도(B)에 비례함을 알 수 있다.For example, the voltage V H can be represented as in Equation 1, where d, R H , I C Assuming all are constants, this shows that the output voltage (V H ) of the HALL IC is proportional to the magnetic flux density (B).
또한, 흐르는 전류(IC )도 HALL IC의 출력 전압(VH)에 비례함을 알 수 있다.Also, the flowing current I C ) Is also proportional to the output voltage (V H ) of the HALL IC.
(B: Magnetic flux density[Wb], IC: Current across the plate[A], RH: Hall coefficient [m3/A.s], d:depth of plate[m], V:Hall voltage[V])(B: Magnetic flux density [Wb], I C : Current across the plate [A], R H : Hall coefficient [m 3 / As], d: depth of plate [m], V: Hall voltage [V])
한편, 상수라고 가정한 전류(IC)는 실제 상수가 아니라, 도 1에 도시된 바와 같이 HALL IC에 흐르는 전류(IC )이며, HALL IC에 입력되는 전원에 의해 결정되므로 그 값이 흔들릴 수 있고, 즉 일정한 값으로 유지될 수 없으며, 이럴 경우 출력 값, 즉 HALL IC의 출력 전압(VH)은 전류(IC)의 오차만큼 영향을 받을 수밖에 없다.On the other hand, the current I C assumed to be a constant is not an actual constant, but the current I C flowing through the HALL IC as shown in FIG. 1. And the value may be shaken, i.e., it cannot be kept constant, in which case the output value, i.e., the output voltage (V H ) of the HALL IC, is the current (I C ) It can only be affected by the error of.
따라서, 종래의 HALL IC를 이용하여 계측을 할 경우, 전류(IC)의 오차로 인해 계측 값을 신뢰할 수 없다.Therefore, when measuring by using a conventional HALL IC, the measurement value is not reliable due to the error of the current (I C ).
즉, 종래의 HALL IC는 입력되는 전원의 오차로 인해 출력 값의 오차가 증폭될 수밖에 없다 라는 문제점이 있다. That is, the conventional HALL IC has a problem that the error of the output value must be amplified due to the error of the input power.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 감안하여 창출한 것으로서, HALL IC의 입력전원에 따른 오차를 최소화하는 HALL IC의 전원 오차 보상 장치 및 방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide an apparatus and method for compensating a power error of a HALL IC for minimizing an error caused by an input power supply of the HALL IC.
전술한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일면에 따른 HALL IC의 전원 오차 보상 장치는 HALL IC의 입력 전압 및 입력 전류를 측정하여 전달하는 모니터링부; 및 상기 HALL IC의 출력전압 및 출력 전류를 측정하고, 측정된 출력전압과 전달된 입력전압을 비교하여 상기 HALL IC의 출력단에 오차가 발생하였는지 여부를 판단하고, 상기 HALL IC의 출력단에 오차가 발생한 것으로 판단되면, 상기 입력전압에 대응되는 기저장된 특정 입력전류, 상기 특정 입력전류에 대응되는 오차 전류를 토대로 오차 전류를 산출하며, 산출된 상기 오차 전류를 측정된 상기 출력 전류에 반영하여 상기 HALL IC의 출력단에 발생한 오차를 보정하는 제어부를 포함한다.In order to achieve the above object, a power error compensation device of a HALL IC according to an aspect of the present invention includes a monitoring unit for measuring and transmitting the input voltage and input current of the HALL IC; And measuring an output voltage and an output current of the HALL IC, comparing the measured output voltage with the transmitted input voltage to determine whether an error has occurred in the output terminal of the HALL IC, and generating an error in the output terminal of the HALL IC. If it is determined that the error current is calculated based on the pre-stored specific input current corresponding to the input voltage and the error current corresponding to the specific input current, the calculated error current is reflected in the measured output current to the HALL IC. And a controller for correcting an error occurring at an output terminal of the controller.
본 발명의 다른 면에 따른 HALL IC의 전원 오차 보상 방법은 HALL IC의 입력 전압 및 입력 전류를 측정하는 단계; 상기 HALL IC의 출력전압 및 출력 전류를 측정하는 단계; 측정된 출력전압과 전달된 입력전압을 비교하여 상기 HALL IC의 출력단에 오차가 발생하였는지 여부를 판단하는 단계; 상기 HALL IC의 출력단에 오차가 발생한 것으로 판단되면, 상기 입력전압에 대응되는 기저장된 특정 입력전류, 상기 특정 입력전류에 대응되는 오차 전류를 토대로 오차 전류를 산출하는 단계; 및 산출된 상기 오차 전류를 측정된 상기 출력 전류에 반영하여 상기 HALL IC의 출력단에 발생한 오차를 보정하는 단계를 포함한다.According to another aspect of the present invention, a method for compensating a power error of a HALL IC includes measuring an input voltage and an input current of the HALL IC; Measuring an output voltage and an output current of the HALL IC; Comparing the measured output voltage with the transmitted input voltage and determining whether an error has occurred in an output terminal of the HALL IC; Calculating an error current based on a pre-stored specific input current corresponding to the input voltage and an error current corresponding to the specific input current when it is determined that an error occurs in an output terminal of the HALL IC; And correcting the error generated at the output terminal of the HALL IC by reflecting the calculated error current to the measured output current.
본 발명에 따르면, HALL IC의 출력 값을 매우 정밀하게 보정 할 수 있는 효과가 있다.According to the present invention, the output value of the HALL IC can be calibrated very accurately.
도 1은 종래의 기술을 설명하기 위한 도면.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 HALL IC의 전원 오차 보상 장치를 설명하기 위한 블럭도
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 HALL IC의 전원 오차 보상 원리를 설명하기 위한 도면.
도 4는 HALL IC의 오차 예측을 나타낸 도면.
도 5는 오차곡선의 선형화를 나타낸 도면.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 HALL IC의 전원 오차 보상 방법을 설명하기 위한 흐름도.1 is a view for explaining a conventional technology.
2 is a block diagram illustrating a power error compensation device of a HALL IC according to an embodiment of the present invention.
3 is a view for explaining a power error compensation principle of a HALL IC according to an embodiment of the present invention.
4 shows error prediction of a HALL IC.
5 illustrates linearization of an error curve.
6 is a flowchart illustrating a power error compensation method of a HALL IC according to an embodiment of the present invention.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 용이하게 이해할 수 있도록 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 기재에 의해 정의된다. 한편, 본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자 이외의 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.Advantages and features of the present invention and methods for achieving them will be apparent with reference to the embodiments described below in detail with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but will be implemented in various forms, and only the present embodiments are intended to complete the disclosure of the present invention, and the general knowledge in the art to which the present invention pertains. It is provided to those skilled in the art to easily understand the scope of the invention, which is defined by the description of the claims. Meanwhile, the terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. In this specification, the singular also includes the plural unless specifically stated otherwise in the phrase. As used herein, “comprises” or “comprising” means the presence of one or more other components, steps, operations and / or elements other than the components, steps, operations and / or elements mentioned or Does not exclude additional
이하, 도 2 내지 도 5를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 HALL IC의 전원 오차 보상 장치를 설명한다. 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 HALL IC의 전원 오차 보상 장치를 설명하기 위한 블럭도이고, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 HALL IC의 전원 오차 보상 원리를 설명하기 위한 도면이며, 도 4는 HALL IC의 오차 예측을 나타낸 도면이고, 도 5는 오차곡선의 선형화를 나타낸 도면이다.Hereinafter, a power error compensating apparatus of a HALL IC according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 2 to 5. 2 is a block diagram illustrating a power error compensation device of a HALL IC according to an embodiment of the present invention, Figure 3 is a view for explaining the power error compensation principle of a HALL IC according to an embodiment of the present invention; 4 is a diagram illustrating error prediction of a HALL IC, and FIG. 5 is a diagram illustrating linearization of an error curve.
도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 HALL IC의 전원 오차 보상 장치는 모니터링부(100) 및 제어부(200)를 포함한다.As shown in FIG. 2, the power error compensating apparatus of the HALL IC of the present invention includes a
모니터링부(100)는 레귤레이터(400)로부터 전압이 출력되어 HALL IC(300)로 입력되는지 여부를 모니터링하고, 모니터링 결과, 레귤레이터(400)에서 출력된 전압이 HALL IC(300)로 입력되면, HALL IC(300)의 입력 전압(VDD) 및 입력 전류를 측정하고, 측정된 입력 전압(VDD) 및 입력 전류를 제어부(200)에 전달한다.The
예컨대, 모니터링부(100)는 HALL IC(300)의 입력단을 ADC로 모니터링 하고, 모니터링된 ADC를 토대로 HALL IC(300)의 입력 전압 및 입력 전류를 측정하여 제어부(200)에 전달한다.For example, the
제어부(200)는 HALL IC(300)의 각 입력전압(4.95V, 5.00V, 5.05V 등) 및 각 입력전류(-100A부터 100A까지, 20A 간격)에 대응하여 기측정된 HALL IC(300)의 출력전압, 기측정된 HALL IC(300)의 출력전류 그리고 각 입력전류(-100A부터 100A까지, 20A 간격) 및 기측정된 각 출력전류를 토대로 기산출된 오차 전류를 표 1과 같이 저장하고,The
표 1에 표시된 값들을 토대로 오차 전류 산출을 위한 방정식을 수학식 2와 같이 수식화한다.Based on the values shown in Table 1, the equation for calculating the error current is formulated as shown in Equation 2.
(x : 입력전류, y : 오차)(x: input current, y: error)
또한, 제어부(200)는 오차계산부(210)를 포함하며, HALL IC(300)로부터 전압이 출력되면, HALL IC(300)의 출력전압 및 출력 전류를 측정하고, 측정된 출력전압과 모니터링부(100)로부터 전달된 입력전압을 비교하여 HALL IC(300)의 출력단에 오차가 발생하였는지 여부를 판단한다.In addition, the
제어부(200)는 HALL IC(300)의 출력 전압에 오차가 발생한 것으로 판단되면, 모니터링부(100)로부터 전달된 입력전압에 대응되는 특정 입력전류, 특정 입력전류에 대응되는 오차 전류, 이렇게 두 정보 하나의 점으로 하는 두 쌍의 점을 선정하고, 선정된 두 쌍의 점을 수학식 2에 대입하여 오차 전류 산출 수학식을 도출한다.If it is determined that an error occurs in the output voltage of the HALL
예컨대, 도 4에 도시된 바와 같이, HALL IC(300)의 입력전압이 4.95V인 경우, 제어부(200)의 오차 전류 산출을 위한 방정식 도출은 하기와 같다. For example, as shown in FIG. 4, when the input voltage of the HALL IC 300 is 4.95V, derivation of an equation for calculating an error current of the
제어부(200)는 HALL IC(300)에 4.95V의 전압이 인가될 경우, 표 1로부터 입력전류 100A와 이에 대응되는 오차 전류로 이루어진 P1(100, ―2.145)을 획득하고, 입력전류 -80A와 이에 대응되는 오차 전류로 이루어진 P2(―80, ―0.55)를 획득하며, 획득된 이 두 쌍의 점을 수학식 2에 대입한다.When the voltage of 4.95 V is applied to the HALL
즉, 제어부(200)는 도 5에 도시된 바와 같이 y―(―0.55) = [{―2.145―(―0.55)}/{100―(―80)}]×{x―(―80)}으로부터 오차 전류(y)를 산출할 수 있는 방정식 y = ―0.008861x―1.259를 도출할 수 있다.That is, as shown in FIG. 5, the
따라서, 오차계산부(210)는 HALL IC(300)의 입력전압으로 4.95V의 전압이 인가되고, 20A의 전류가 흐를 경우, 오차 전류(y)를 -0.00886×20 -1.259 = -1.43622로 산출할 수 있다.Therefore, the
즉, 제어부(200)는 HALL IC(300)의 출력단에서 -1.43622만큼의 오차가 발생한 것을 인식할 수 있다. That is, the
제어부(200)는 입력전압으로 4.95V의 전압이 인가되고 20A의 전류가 흐를 경우, 표 1에 표시된 바와 같이 HALL IC(300)의 출력 전류로 18.575[A]를 측정할 수 있고, 산출된 오차 전류 -1.43622를 측정된 출력 전류에 반영하여{18.575 - (-1.43622) = 20.01[A]} HALL IC(300)의 실제 입력 전류와 근사한 값으로 출력 전류를 보정을 할 수 있다. If a voltage of 4.95V is applied as an input voltage and a current of 20A flows, the
이상, 도 2 내지 도 5를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 HALL IC의 전원 오차 보상 장치를 설명하였고, 이하에서는 도 6을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 HALL IC의 전원 오차 보상 방법을 설명한다. 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 HALL IC의 전원 오차 보상 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.The power error compensation device of the HALL IC according to the embodiment of the present invention has been described above with reference to FIGS. 2 to 5, and the power error compensation of the HALL IC according to the embodiment of the present invention is described below with reference to FIG. 6. Explain how. 6 is a flowchart illustrating a power error compensation method of a HALL IC according to an embodiment of the present invention.
도 6에 도시된 바와 같이, 레귤레이터(400)에서 출력된 전압이 HALL IC(300)로 입력되면, HALL IC(300)의 입력 전압(VDD) 및 입력 전류를 측정한다(S600).As shown in FIG. 6, when the voltage output from the
예컨대, HALL IC(300)의 입력단을 ADC로 모니터링 하고, 모니터링된 ADC를 토대로 HALL IC(300)의 입력 전압 및 입력 전류를 측정한다.For example, the input terminal of the HALL IC 300 is monitored by the ADC, and the input voltage and the input current of the HALL IC 300 are measured based on the monitored ADC.
HALL IC(300)의 각 입력전압(4.95V, 5.00V, 5.05V 등) 및 각 입력전류(-100A부터 100A까지, 20A 간격)에 대응하여 기측정된 HALL IC(300)의 출력전압, 기측정된 HALL IC(300)의 출력전류 그리고 각 입력전류(-100A부터 100A까지, 20A 간격) 및 기측정된 각 출력전류를 토대로 기산출된 오차 전류는 표 1과 같이 기저장된다.The output voltage of the HALL
표 1에 표시된 값들을 토대로 오차 전류 산출을 위한 방정식은 수학식 2와 같이 수식화된다.Based on the values shown in Table 1, the equation for calculating the error current is formulated as in Equation 2.
HALL IC(300)로부터 전압이 출력되면, HALL IC(300)의 출력전압 및 출력 전류를 측정하고(S601), 측정된 출력전압과 측정된 입력전압을 비교하여 HALL IC(300)의 출력단에 오차가 발생하였는지 여부를 판단한다.When the voltage is output from the HALL
HALL IC(300)의 출력 전압에 오차가 발생한 것으로 판단되면, 전달된 입력전압에 대응되는 특정 입력전류, 특정 입력전류에 대응되는 오차 전류, 이렇게 두 정보 하나의 점으로 하는 두 쌍의 점을 선정하고, 선정된 두 쌍의 점을 수학식 2에 대입하여 오차 전류 산출 수학식을 도출한다.When it is determined that an error has occurred in the output voltage of the HALL
예컨대, HALL IC(300)의 입력전압이 4.95V인 경우, 오차 전류 산출을 위한 방정식을 하기와 같이 도출한다. For example, when the input voltage of the HALL IC 300 is 4.95V, the equation for calculating the error current is derived as follows.
HALL IC(300)에 4.95V의 전압이 인가될 경우, 표 1로부터 입력전류 100A와 이에 대응되는 오차 전류로 이루어진 P1(100, ―2.145)을 획득하고, 입력전류 -80A와 이에 대응되는 오차 전류로 이루어진 P2(―80, ―0.55)를 획득하며, 획득된 이 두 쌍의 점을 수학식 2에 대입한다.When a voltage of 4.95 V is applied to the HALL
즉, y―(―0.55) = [{―2.145―(―0.55)}/{100―(―80)}]×{x―(―80)}으로부터 오차 전류(y)를 산출할 수 있는 방정식 y = ―0.008861x―1.259를 도출할 수 있다.That is, an equation capable of calculating the error current y from y-(-0.55) = [{-2.145-(-0.55)} / {100-(-80)}] x {x-(-80)} We can derive y = -0.008861x-1.259.
따라서, HALL IC(300)의 입력전압으로 4.95V의 전압이 인가되고, 20A의 전류가 흐를 경우, 오차 전류(y)를 -0.00886×20 -1.259 = -1.43622로 산출할 수 있다(S602).Therefore, when a voltage of 4.95 V is applied as the input voltage of the HALL
즉, HALL IC(300)의 출력단에서 -1.43622만큼의 오차가 발생한 것을 인식할 수 있으며, 입력전압으로 4.95V의 전압이 인가되고 20A의 전류가 흐를 경우, 표 1에 표시된 바와 같이 HALL IC(300)의 출력 전류로 18.575[A]를 측정할 수 있고, 산출된 오차 전류 -1.43622를 측정된 출력 전류에 반영하여{18.575 - (-1.43622) = 20.01[A]} HALL IC(300)의 실제 입력 전류와 근사한 값으로 출력 전류를 보정을 할 수 있다(S603). That is, it can be recognized that an error of -1.43622 has occurred at the output terminal of the
전술한 바와 같이, 본 발명에 따르면, HALL IC의 입/출력 전압 및 전류를 측정하고, 측정된 값을 토대로 오차를 산출하며, 측정된 값 및 산출된 값을 토대로 수학식을 도출하여 입력 전류에 따른 오차 전류를 산출하고, 산출된 오차 전류를 측정된 출력 전류에 반영하여 HALL IC의 오차 발생을 최소화할 수 있다. As described above, according to the present invention, the input / output voltage and current of the HALL IC are measured, an error is calculated based on the measured values, and the equations are derived based on the measured and calculated values to determine the input current. The error current is calculated and the error current of the HALL IC can be minimized by reflecting the calculated error current in the measured output current.
이상 바람직한 실시예와 첨부도면을 참조하여 본 발명의 구성에 관해 구체적으로 설명하였으나, 이는 예시에 불과한 것으로 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범주내에서 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안되며 후술하는 특허청구의 범위뿐만 아니라 이 특허청구의 범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
Although the configuration of the present invention has been described in detail with reference to the preferred embodiments and the accompanying drawings, this is only an example, and various modifications are possible within the scope without departing from the spirit of the present invention. Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the described embodiments, but should be defined not only by the scope of the following claims, but also by the equivalents of the claims.
100 :모니터링부 200 : 제어부
210 : 오차계산부 300 : HALL IC
400 : 레귤레이터100: monitoring unit 200: control unit
210: error calculation unit 300: HALL IC
400: Regulator
Claims (6)
상기 HALL IC의 출력전압 및 출력 전류를 측정하고, 측정된 출력전압과 전달된 입력전압을 비교하여 상기 HALL IC의 출력단에 오차가 발생하였는지 여부를 판단하고, 상기 HALL IC의 출력단에 오차가 발생한 것으로 판단되면, 상기 입력전압에 대응되는 기저장된 특정 입력전류, 상기 특정 입력전류에 대응되는 오차 전류를 토대로 오차 전류를 산출하며, 산출된 상기 오차 전류를 측정된 상기 출력 전류에 반영하여 상기 HALL IC의 출력단에 발생한 오차를 보정하는 제어부
를 포함하는 HALL IC의 전원 오차 보상 장치.A monitoring unit measuring and transmitting an input voltage and an input current of the HALL IC; And
Measure the output voltage and output current of the HALL IC, compare the measured output voltage and the transmitted input voltage to determine whether an error has occurred in the output terminal of the HALL IC, and the error has occurred in the output terminal of the HALL IC When it is determined, an error current is calculated based on a pre-stored specific input current corresponding to the input voltage and an error current corresponding to the specific input current, and the calculated error current is reflected to the measured output current of the HALL IC. Control unit for compensating for error in output stage
Power error compensation device of the HALL IC comprising a.
상기 제어부는 특정 입력전류(x1, x2) 및 상기 입력전압에 대응되고 상기 특정 입력전류에 대응되어 기저장된 오차 전류(y1, y2)로 이루어진 두 쌍의 점{(x1,y1),(x2,y2)}을 선정하고, 선정된 두 쌍의 점을 하기의 수학식에 대입하여 오차 전류 산출 수학식을 도출하는 것
(x : 입력전류, y : 오차 전류)
인 HALL IC의 전원 오차 보상 장치.The method of claim 1,
The controller includes two pairs of points {(x 1 , y) consisting of a specific input current (x 1 , x 2 ) and an error current (y 1 , y 2 ) previously stored corresponding to the input voltage and corresponding to the specific input current. 1 ), (x 2 , y 2 )} and substituting the selected two pairs of points into the following equation to derive the error current calculation formula
(x: input current, y: error current)
Power error compensation device of HALL IC.
상기 제어부는 오차계산부를 포함하고,
상기 오차계산부는 도출된 상기 오차 전류 산출 수학식에 상기 입력전류를 대입하여 상기 입력전류에 대응되는 오차 전류를 산출하고,
상기 제어부는 산출된 상기 오차 전류를 측정된 상기 출력 전류에 반영하여 상기 HALL IC의 출력단에 발생한 오차를 보정하는 것
인 HALL IC의 전원 오차 보상 장치.The method of claim 2,
The control unit includes an error calculator,
The error calculator calculates an error current corresponding to the input current by substituting the input current into the derived error current calculation equation.
The control unit corrects an error occurring at an output terminal of the HALL IC by reflecting the calculated error current to the measured output current.
Power error compensation device of HALL IC.
상기 HALL IC의 출력전압 및 출력 전류를 측정하는 단계;
측정된 출력전압과 전달된 입력전압을 비교하여 상기 HALL IC의 출력단에 오차가 발생하였는지 여부를 판단하는 단계;
상기 HALL IC의 출력단에 오차가 발생한 것으로 판단되면, 상기 입력전압에 대응되는 기저장된 특정 입력전류, 상기 특정 입력전류에 대응되는 오차 전류를 토대로 오차 전류를 산출하는 단계; 및
산출된 상기 오차 전류를 측정된 상기 출력 전류에 반영하여 상기 HALL IC의 출력단에 발생한 오차를 보정하는 단계
를 포함하는 HALL IC의 전원 오차 보상 방법.Measuring an input voltage and an input current of the HALL IC;
Measuring an output voltage and an output current of the HALL IC;
Comparing the measured output voltage with the transmitted input voltage and determining whether an error has occurred in an output terminal of the HALL IC;
Calculating an error current based on a pre-stored specific input current corresponding to the input voltage and an error current corresponding to the specific input current when it is determined that an error occurs in an output terminal of the HALL IC; And
Correcting the error generated at the output terminal of the HALL IC by reflecting the calculated error current to the measured output current.
Power error compensation method of the HALL IC comprising a.
특정 입력전류(x1, x2) 및 상기 입력전압에 대응되고 상기 특정 입력전류에 대응되어 기저장된 오차 전류(y1, y2)로 이루어진 두 쌍의 점{(x1,y1),(x2,y2)}을 선정하는 단계; 및
선정된 두 쌍의 점을 하기의 수학식에 대입하여 오차 전류 산출 수학식을 도출하는 단계를 포함하는 것
(x : 입력전류, y : 오차 전류)
인 HALL IC의 전원 오차 보상 방법.The method of claim 4, wherein the calculating comprises:
Two pairs of points {(x 1 , y 1 ) consisting of a specific input current (x 1 , x 2 ) and an error current (y 1 , y 2 ) previously stored corresponding to the input voltage and corresponding to the specific input current, (x 2 , y 2 )}; And
Deriving an error current calculation equation by substituting the two selected pairs of points into the following equation.
(x: input current, y: error current)
Power error compensation method of HALL IC.
도출된 상기 오차 전류 산출 수학식에 상기 입력전류를 대입하여 상기 입력전류에 대응되는 오차 전류를 산출하는 단계; 및
산출된 상기 오차 전류를 측정된 상기 출력 전류에 반영하여 상기 HALL IC의 출력단에 발생한 오차를 보정하는 단계를 포함하는 것
인 HALL IC의 전원 오차 보상 방법.
The method of claim 5, wherein the correcting step,
Calculating an error current corresponding to the input current by substituting the input current into the derived error current calculation equation; And
Correcting the error occurring at the output of the HALL IC by reflecting the calculated error current to the measured output current.
Power error compensation method of HALL IC.
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JP2006292517A (en) | 2005-04-08 | 2006-10-26 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | Magnetometric sensor drive unit |
JP2010019805A (en) | 2008-07-14 | 2010-01-28 | Panasonic Corp | Detection current correction circuit and battery pack using it |
KR101308710B1 (en) | 2012-08-21 | 2013-09-13 | 한국단자공업 주식회사 | Method for detecting current in current sensor |
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