KR102018189B1 - 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법에 관한 것이다. 상기 방법은 클록신호관리부가 게이트 IC에 클록 신호를 인가하는 단계, 입력신호관리부가 게이트 IC에 입력신호를 인가하는 단계, 및 출력신호관리부가 게이트 IC에 출력제어신호를 인가하는 단계를 포함하고, 상기 입력신호가 하이를 유지하는 기간동안 상기 두 개 이상의 클록신호의 라이징 또는 폴링 에지가 상기 기간에 포함하도록 제어되는 것을 특징으로 한다.
Description
본 발명은 엑스레이 디텍터의 비닝 제어장치 및 방법에 관한 것으로 보다 상세하게는 TFT 패널을 이용한 엑스레이 디텍터에서 모든 게이트 IC에서 비닝 모드를 지원할 수 있는 비닝 제어장치 및 방법에 관한 것이다.
엑스레이 디텍터에서 사용되는 TFT 패널의 경우 포토 다이오드 및 스위칭 트랜지스터로 구성된 수동 픽셀 구조의 픽셀 어레이로 구성되어 있으며 게이트 IC(Gate Integrated Circuit)와 ROIC(Read Out Integrated Circuit)가 반드시 요 구된다.
도 1은 종래의 엑스레이 디텍터에 사용되는 TFT 패널의 구조를 도시한 도면이다.
상기 도 1에서, 게이트 IC의 역할은 게이트 IC의 출력과 연결된 열이 속해 있는 모든 TFT의 턴온 또는 턴오프를 제어하고, ROIC는 턴온된 열 속에 속해 있는 포토 다이오드의 전하를 리드아웃(readout)하는 역할을 담당한다.
비닝(binning)은 리드아웃 동안 CCD 내의 인접한 픽셀의 전하를 합하는 과정으로, 비닝 구동을 위해서는 반드시 게이트 IC에서 비닝 기능이 지원되어야 한다.
또한 게이트 IC가 비닝 기능을 지원한다고 하더라도 라인 2 또는 라인 4와 같이 주어진 모드에서의 비닝 기능만이 가능하였다.
따라서 기존의 게이트 IC의 비닝 모드는 지원되지 않거나 지원되더라도 특정 모드로 제한되어 제약사항이 많았다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 게이트 IC가 비닝 모드를 지원하는지 여부에 관계없이 모든 게이트 IC에서 비닝 모드를 지원할 수 있는 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 양상에 따른 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법은 클록신호관리부가 게이트 IC에 클록 신호를 인가하는 단계, 입력신호관리부가 게이트 IC에 입력신호를 인가하는 단계, 및 출력신호관리부가 게이트 IC에 출력제어신호를 인가하는 단계를 포함하고, 상기 입력신호가 하이를 유지하는 기간동안 상기 두 개 이상의 클록신호의 라이징 또는 폴링 에지가 상기 기간에 포함하도록 제어되는 것을 특징으로 한다.
상기 출력제어신호는 복수의 라인을 동시에 리드아웃하기 위한 게이트 IC 인에이블 신호일 수 있다.
상기 두 개 이상의 클록신호는 TFT 패널의 한 컬럼을 리드아웃하기 위한 한 시퀀스 내에서 생성될 수 있다.
상기 입력 신호는 STV(Strat Vertical) 신호일 수 있다.
상기 클록 신호는 CPV(Clock Pulse Vertical) 신호일 수 있다.
상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 다른 양상에 따른 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어장치는 게이트 IC에 클록 신호를 인가하는 클록신호관리부, 상기 게이트 IC에 입력신호를 인가하는 입력신호관리부, 및 상기 게이트 IC에 출력제어신호를 인가하는 출력신호관리부를 포함하고, 상기 입력신호가 하이를 유지하는 기간동안 상기 두 개 이상의 클록신호의 라이징 또는 폴링 에지가 상기 기간에 포함하도록 제어되는 것을 특징으로 한다.
상기 출력제어신호는 복수의 라인을 동시에 리드아웃하기 위한 게이트 IC 인에이블 신호일 수 있다.
상기 두 개 이상의 클록신호는 TFT 패널의 한 컬럼을 리드아웃하기 위한 한 시퀀스 내에서 생성될 수 있다.
상기 입력 신호는 STV(Strat Vertical) 신호일 수 있다.
상기 클록 신호는 CPV(Clock Pulse Vertical) 신호일 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법에 따르면 게이트 IC의 비닝 모드 지원여부에 관계없이 모든 게이트 IC에 대해 자유롭게 비닝 모드를 구현할 수 있다.
도 1은 종래의 엑스레이 디텍터에 사용되는 TFT 패널의 구조를 도시한 도면이다.
도 2는 비닝모드를 지원하지 않는 종래의 게이트 IC의 구성 및 구동원리를 도시한 도면이다.
도 3은 비닝모드를 지원하는 종래의 게이트 IC의 구성 및 구동원리를 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법을 수행하기 위한 장치의 구성도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법의 순서도이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법에 있어서, 게이트 IC의 입출력을 도시한 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법에 있어서, 포토 다이오드의 전하의 리드아웃 시점을 도시한 도면이다.
도 2는 비닝모드를 지원하지 않는 종래의 게이트 IC의 구성 및 구동원리를 도시한 도면이다.
도 3은 비닝모드를 지원하는 종래의 게이트 IC의 구성 및 구동원리를 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법을 수행하기 위한 장치의 구성도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법의 순서도이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법에 있어서, 게이트 IC의 입출력을 도시한 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법에 있어서, 포토 다이오드의 전하의 리드아웃 시점을 도시한 도면이다.
본 발명의 목적 및 효과, 그리고 그것들을 달성하기 위한 기술적 구성들은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 뒤에 설명이 되는 실시 예들을 참조하면 명확해질 것이다. 본 발명을 설명함에 있어서 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 그리고 뒤에 설명되는 용어들은 본 발명에서의 구조, 역할 및 기능 등을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다.
그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시 예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있다. 단지 본 실시 예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 오로지 특허청구범위에 기재된 청구항의 범주에 의하여 정의될 뿐이다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
한편, 본 발명의 실시 예에 있어서, 각 구성요소들, 기능 블록들 또는 수단들은 하나 또는 그 이상의 하부 구성요소로 구성될 수 있으며, 각 구성요소들이 수행하는 전기, 전자, 기계적 기능들은 전자회로, 집적회로, ASIC(Application Specific Integrated Circuit) 등 공지된 다양한 소자들 또는 기계적 요소들로 구현될 수 있으며, 각각 별개로 구현되거나 2 이상이 하나로 통합되어 구현될 수도 있다.
또한 첨부된 블록도의 각 블록과 흐름도의 각 단계의 조합들은 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들에 의해 수행될 수도 있다. 이들 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들은 범용 컴퓨터, 특수용 컴퓨터, 휴대용 노트북 컴퓨터, 네트워크 컴퓨터 등 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비의 프로세서에 탑재될 수 있으므로, 컴퓨터 장치 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비의 프로세서를 통해 수행되는 그 인스트럭션들이 아래에서 설명할 블록도의 각 블록 또는 흐름도의 각 단계에서 설명된 기능들을 수행하는 수단을 생성하게 된다. 이들 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들은 특정 방식으로 기능을 구현하기 위해 컴퓨터 장치 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비를 지향할 수 있는 컴퓨터 장치에 이용 가능한 메모리 또는 컴퓨터 판독 가능 메모리에 저장되는 것도 가능하므로, 블록도의 각 블록 또는 흐름도 각 단계에서 설명된 기능을 수행하는 인스트럭션 수단을 내포하는 제조물을 생산하는 것도 가능하다. 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들은 컴퓨터 장치 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비 상에 탑재되는 것도 가능하므로, 컴퓨터 장치 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비 상에서 일련의 동작 단계들이 수행되기 위한 프로세스를 생성하여 블록도의 각 블록 및 흐름도의 각 단계에서 설명된 기능들을 실행하기 위한 단계들을 제공하는 것도 가능하다.
또한, 각 블록 또는 각 단계는 특정된 논리적 기능(들)을 실행하기 위한 하나 이상의 실행 가능한 인스트럭션들을 포함하는 모듈, 세그먼트 또는 코드의 일부를 나타낼 수 있다. 또, 몇 가지 대체 실시예들에서는 블록들 또는 단계들에서 언급된 기능들이 순서를 벗어나서 발생하는 것도 가능함을 주목해야 한다. 예컨대, 잇달아 도시되어 있는 두 개의 블록들 또는 단계들은 사실 실질적으로 동시에 수행되는 것도 가능하고 또는 그 블록들 또는 단계들이 때때로 해당하는 기능에 따라 역순으로 수행되는 것도 가능하다.
이하에서는 첨부한 도면을 참조하며, 본 발명의 실시예에 따른 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법을 보다 상세하게 설명하기로 한다.
도 2는 비닝모드를 지원하지 않는 종래의 게이트 IC의 구성 및 구동원리를 도시한 도면이다.
상기 도 2에 도시된 바와 같이, 종래의 게이트 IC(100)는 복수의 D플립플롭 으로 구성되어 있으며 입력신호인 STV(Start Vertical) 신호는 첫 번째 D플립플롭의 입력으로, CPV(Clock Pulse Vertical)는 모든 D플립플롭의 클록으로 연결된다.
N번째 D플립플롭의 Q 출력은 (N+1)번째 D플립플롭의 D입력으로 연결되어 N개의 D플립플롭은 체인 형태로 서로 연결된다. D플립플롭의 동작 원리에 따라 N번째 D플립플롭은 N번째 CPV의 상승엣지에서 (N-1)번째 D플립플롭의 Q 출력을 래치하여 (N+1)번째 CPV의 상승 엣지까지 Q 출력을 유지한다.
복수의 열이 평행하게 배열된 TFT 패널의 각 라인은 순차적으로 턴온 및 턴오프되어 포토 다이오드들의 전하는 리드 아웃 된다.
한편, 도 3은 비닝모드를 지원하는 종래의 게이트 IC의 구성 및 구동원리를 도시한 도면이다.
케이트 IC 제조사에 따라 2 라인 또는 4 라인 비닝모드가 지원되며 제한된 비닝모드 내에서 비닝구동이 가능하다. 이러한 제한된 비닝 내에서의 비닝 구동은 아래 도 3에 도시된 바와 같이, 게이트 IC(100)에 의해 2 라인 비닝 구동에 대한 예로서 홀수 또는 짝수 라인이 스킵되는 형태로 비닝 구동이 이루어진다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법을 수행하기 위한 장치의 구성도이고, 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법의 순서도이다.
상기 도 4에 도시된 바와 같이 본 발명의 실시예에 따른 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법을 수행하기 위한 장치(200)는 게이트 IC의 클록신호를 제어하는 클록신호관리부(210), 게이트 IC의 입력신호를 제어하는 입력신호 관리부(220) 및 게이트 IC의 출력신호를 제어하는 출력신호 관리부(230)를 포함한다.
우선, 클록신호관리부(210)는 게이트 IC에 클록 신호인 CPV(Clock Pulse Vertical) 신호를 인가한다(S100).
입력신호관리부(220)는 게이트 IC에 입력신호인 입력 신호는 STV(Strat Vertical) 신호를 인가한다(S200).
출력신호관리부(230)는 게이트 IC에 출력제어신호를 인가한다(S300).
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법에 있어서, 게이트 IC의 입출력을 도시한 도면이고, 도 7은 본 발명의 실시예에 따른 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법에 있어서, 포토 다이오드의 전하의 리드아웃 시점을 도시한 도면이다.
상기 도 6 및 7을 참조하여 설명하면, 클록신호관리부(210)는 게이트 IC에 인가되는 복수의 CPV 신호의 상승 엣지 또는 하강 엣지가 입력신호관리부(220)에서 게이트 IC에 인가되는 입력 신호인 STV가 하이 레벨을 유지하는 기간 안에 포함되도록 제어하고, 출력신호관리부(230)의 출력 인에이블/디스에이블(enable/disable)신호를 제어하여 원하는 라인 수만큼 비닝 모드를 구현할 수 있다.
이때, STV가 하이 레벨을 유지하는 기간 안에 원하는 비닝 라인 수만큼의 CPV 신호의 상승 엣지 또는 하강 엣지가 존재하여야 하며, 두 개 이상의 CPV 신호는 패널의 한 열을 리드아웃하기 위한 일련의 한 시퀀스 내에서 생성되어야 한다.
이와 같이 제어함으로써, 복수의 라인의 포토 다이오드의 전하를 한 번에 리드아웃할 수 있는 비닝 모드가 구현될 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법은 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로서 구현하는 것이 가능하다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 컴퓨터 시스템에 의하여 읽혀질 수 있는 데이터가 저장되는 모든 종류의 기록장치를 포함한다. 기록매체의 예로는 ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 플로피 디스크, 광데이터 저장장치 등이 있으며, 또한 캐리어 웨이브(예를 들어 인터넷을 통한 전송)의 형태로 구현되는 것도 포함한다. 또한 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템에 분산되어 분산방식으로 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드가 저장되고 실행될 수 있다.
본 명세서와 도면에는 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 개시하였으며, 비록 특정 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명의 기술 내용을 쉽게 설명하고 발명의 이해를 돕기 위한 일반적인 의미에서 사용된 것이지, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시예 외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형예들이 실시 가능하다는 것은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것이다.
100: 게이트 IC 200: 장치
210: 클록신호관리부 220: 입력신호관리부
230: 출력신호관리부
210: 클록신호관리부 220: 입력신호관리부
230: 출력신호관리부
Claims (11)
- 클록신호관리부가 게이트 IC에 클록 신호를 인가하는 단계;
입력신호관리부가 게이트 IC에 입력신호를 인가하는 단계; 및
출력신호관리부가 게이트 IC에 출력제어신호를 인가하는 단계를 포함하고,
상기 입력신호가 하이를 유지하는 기간동안 상기 두 개 이상의 클록신호의 라이징 또는 폴링 에지가 상기 기간에 포함하도록 제어되는 것을 특징으로 하는
엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법.
- 제1항에 있어서,
상기 출력제어신호는 복수의 라인을 동시에 리드아웃하기 위한 게이트 IC 인에이블 신호인 것을 특징으로 하는,
엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법.
- 제1항에 있어서,
상기 두 개 이상의 클록신호는 TFT 패널의 한 컬럼을 리드아웃하기 위한 한 시퀀스 내에서 생성되는 것을 특징으로 하는,
엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법. - 제1항에 있어서,
상기 입력 신호는 STV(Strat Vertical) 신호인 것을 특징으로 하는,
엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법.
- 제1항에 있어서,
상기 클록 신호는 CPV(Clock Pulse Vertical) 신호인 것을 특징으로 하는,
엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법.
- 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항의 방법을 컴퓨터로 하여금 수행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 기록매체에 저장된 컴퓨터 프로그램.
- 게이트 IC에 클록 신호를 인가하는 클록신호관리부;
상기 게이트 IC에 입력신호를 인가하는 입력신호관리부; 및
상기 게이트 IC에 출력제어신호를 인가하는 출력신호관리부를 포함하고,
상기 입력신호가 하이를 유지하는 기간동안 상기 두 개 이상의 클록신호의 라이징 또는 폴링 에지가 상기 기간에 포함하도록 제어되는 것을 특징으로 하는
엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어장치.
- 제7항에 있어서,
상기 출력제어신호는 복수의 라인을 동시에 리드아웃하기 위한 게이트 IC 인에이블 신호인 것을 특징으로 하는,
엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어장치.
- 제7항에 있어서,
상기 두 개 이상의 클록신호는 TFT 패널의 한 컬럼을 리드아웃하기 위한 한 시퀀스 내에서 생성되는 것을 특징으로 하는,
엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어장치.
- 제7항에 있어서,
상기 입력 신호는 STV(Strat Vertical) 신호인 것을 특징으로 하는,
엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어방법.
- 제7항에 있어서,
상기 클록 신호는 CPV(Clock Pulse Vertical) 신호인 것을 특징으로 하는,
엑스레이 디텍터의 비닝 모드 제어장치.
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