KR102002149B1 - 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법 - Google Patents

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Abstract

헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법가 개시된다. 본 발명에 따른 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법은, 사출성형재료에 대한 사출성형조건을 정립하는 사출성형조건 정립단계와, 사출성형조건에 따라 사출성형재료를 사출금형을 통해 사출 성형하는 사출 성형단계와, 사출 성형단계에서 성형된 사출 성형물이 경화되기 전에 사출 성형물에서 사출스크랩을 제거하는 사출스크랩 제거단계와, 사출 성형물에서 사출스크랩이 제거된 사출제품을 검사하며 검사결과를 사출성형조건 정립단계로 피드백하는 형상 검사단계를 포함한다.

Description

헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법{METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL MIRROR FOR HEAD-UP DISPLAY}
본 발명은, 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 차량의 윈드실드에 헤드업 디스플레이(Head Up Display) 정보를 표시하는 헤드업 디스플레이(HUD)에 사용되는 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법에 관한 것이다.
최근 헤드업 디스플레이(Head Up Display; HUD)를 장착한 차량이 출시되면서 이에 대한 사용자들의 관심이 증가하고 있다. 이러한 헤드업 디스플레이(HUD)는 차량이나 항공기 주행 중 운전자의 정면, 즉 운전자의 주시야 선을 벗어나지 않는 범위 내에서 차량의 주행 정보나 내비게이션 정보 등과 같은 차량의 운행 정보를 제공하는 장치이다.
초기의 헤드업 디스플레이는 항공기, 특히 전투기에 부착되어 비행 주행 시 비행사에게 비행 정보를 제공하고자 개발되었으며, 이 원리를 차량에 부합시켜 개발하게 된 것이 차량용 헤드업 디스플레이 장치이다.
예컨대 시속 약 100km/h로 차량을 운전하는 경우, 운전자가 시야를 계기판에 두었다가 도로에 시야를 고정시키는 시간이 약 2초가 걸리는 것으로 가정하면, 그 사이에 차량은 약 55m를 이동하기 때문에 사고가 유발될 가능성이 항상 존재한다.
이러한 위험을 줄이는 방법의 하나로 차량용 헤드업 디스플레이가 개발되고 있으며, 이는 앞 유리창(즉, 윈드실드)의 운전자의 주시야 선에 계기판 정보(속력, 주행거리, RPM 등)나 내비게이션 정보를 나타나게 함으로써, 운전자로 하여금 운전 중에 도로로부터 눈을 떼지 않고도 차량의 중요한 운행 정보나 경로정보를 인지하도록 하여 안전 운행을 가능하게 한다.
그런데, 유리창(즉, 윈드실드)은 비구면 형상으로 형성되기 때문에 만약 정상적인 비율을 갖는 형상의 헤드업 디스플레이(HUD) 정보가 윈드실드에 표시될 경우 찌그러져 표시되는 문제점이 발생한다.
따라서, 실제 차량용 헤드업 디스플레이 장치는, 차종별 윈드실드의 비구면 형상(즉, 곡면)에 대응하는 형상의 광학 미러를 통해 헤드업 디스플레이(HUD) 정보를 윈드실드에 반사시켜 표시하고 있다.
이러한 광학 미러를 통해 반사되는 헤드업 디스플레이(HUD) 정보가 비구면 형상의 윈드실드에 표시됨으로써 결국에는 찌그러지지 않은 정상적인 비율을 갖는 헤드업 디스플레이(HUD) 정보가 윈드실드에 표시되는 것이다.
여기서 비구면이란, 구면에서 약간 벗어난 곡면을 말하는 것으로, 구면은 제작하거나 검사하기가 쉽기 때문에 공축 광학계에는 통상적으로 쓰이고 있으나, 소수의 면에서 수차가 작은 광학계를 구성할 경우에는 비구면이 더 많이 쓰인다.
이렇게 차량용 헤드업 디스플레이 장치에 사용되는 광학 미러는 보통 사출성형에 의해 비구면 형상으로 제작된다.
사출성형(Injection Molding)이라 함은, 실린더 속에서 가열하여 용융시킨 성형재료를 고압으로 닫혀진 금형의 캐비티(Cavity)로 사출하고, 성형재료를 냉각고화(열가소성 수지) 또는 경화(열경화성 수지)시킴으로써 캐비티가 이루는 형상에 상당하는 사출제품을 만드는 방법이다.
사출성형에 적용되는 사출금형은 통상 고정측 형판과 가동측 형판으로 된 2매 금형이나, 3매 금형으로 형성되어 고정측 형판, 런너스트립퍼플레이트, 가동측 형판으로 된 3매 금형으로 이루어질 수 있다.
이러한 사출금형에는 노즐로부터 성형재료를 받아 금형에 주입하는 스프루부와, 스프루부와 연통되어 성형재료가 이동하는 런너부와, 성형품의 형상이 각인되어 실질적으로 사출제품의 성형공간을 이루는 캐비티와, 캐비티와 런너부의 사이에 위치되어 성형재료의 주입 길목 역할을 하는 게이트부가 마련된다.
용융된 성형재료는 사출금형의 스프루부, 런너부 및 게이트부를 통하여 캐비티로 사출된 후, 냉각고화 또는 경화되어서 원하는 사출 성형물로 제작된다.
이렇게 성형된 사출 성형물에는 스프루에서 경화된 스프루와, 런너부에서 경화된 런너 및 게이트부에서 경화된 게이트가 연결되어 있으며, 이렇게 캐비티에서 경화된 사출제품에 연결된 스프루, 런너 및 게이트 등을 사출스크랩이라 하는데, 이러한 사출스크랩은 제거되어야 한다.
그런데, 이러한 사출스크랩을 제거하는데 소요되는 시간은 제품 생산성을 낮추는 원인이 된다.
대한민국 공개특허공보 제10-2016-0064367호, (2016.06.08.)
따라서 본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 사출 성형물에서 사출스크랩을 빠르게 제거하여 생산성을 높일 수 있는 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 일 측면에 따르면, 사출성형재료에 대한 사출성형조건을 정립하는 사출성형조건 정립단계; 상기 사출성형조건에 따라 상기 사출성형재료를 사출금형을 통해 사출 성형하는 사출 성형단계; 상기 사출 성형단계에서 성형된 사출 성형물이 경화되기 전에 상기 사출 성형물에서 사출스크랩을 제거하는 사출스크랩 제거단계; 및 상기 사출 성형물에서 상기 사출스크랩이 제거된 사출제품을 검사하며, 검사결과를 상기 사출성형조건 정립단계로 피드백하는 형상 검사단계를 포함하는 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법이 제공될 수 있다.
상기 사출스크랩 제거단계는, 사출 성형물 취출로봇이 상기 사출금형에서 상기 사출 성형물을 취출하는 사출 성형물 취출단계; 상기 사출 성형물 취출로봇이 상기 사출 성형물을 상기 사출스크랩을 커팅하는 스크랩 커팅머신으로 이송하는 스크랩 제거용 이송단계; 및 상기 스크랩 커팅머신이 상기 사출스크랩을 커팅하는 스크랩 커팅단계를 포함할 수 있다.
상기 사출스크랩 제거단계는, 상기 사출스크랩을 절단할 수 있는 스크랩 커팅부가 마련된 스크랩 커팅 겸용 취출로봇이 상기 사출성형단계가 수행된 사출금형에서 상기 사출 성형물을 취출하며 상기 사출 성형물에서 사출스크랩을 커팅하는 사출 성형물 취출 겸용 스크랩 커팅단계를 포함할 수 있다.
상기 사출스크랩 제거단계는, 상기 사출 성형단계가 수행되는 사출금형에 마련된 스크랩 커팅부가 상기 사출금형 내부에 배치된 상기 사출 성형물에서 상기 사출스크랩을 커팅하는 사출금형 내 스크랩 커팅단계; 및 사출제품 취출로봇이 상기 사출금형에서 상기 사출스크랩이 제거된 상기 사출제품을 취출하는 사출제품 취출단계를 포함할 수 있다.
상기 형상 검사단계에서는, 상기 사출제품의 형상을 기준 형상과 비교하여 상기 사출제품의 형상과 상기 기준 형상 사이의 형상오차를 인식할 수 있다.
상기 사출성형조건 정립단계에서는, 상기 형상오차를 전달받아 상기 형상오차에 따라 상기 사출성형조건을 변경할 수 있다.
상가 형상 검사단계 후, 상기 사출제품에 반사막을 증착하여 광학 미러를 제조하는 반사막 증착단계를 더 포함할 수 있다.
상기 반사막 증착단계 후, 상기 광학 미러의 반사율을 검사하는 반사율 검사단계를 더 포함할 수 있다.
상기 반사막 증착단계 후, 상기 광학 미러에 의해 생성되는 영상을 검사하는 영상 검사단계를 더 포함할 수 있다.
상기 사출성형재료는 플라스틱 재질로 마련되며, 상기 사출스크랩은, 상기 사출제품에 연결되며, 상기 사출금형에 마련되는 게이트부에 의해 형성되는 게이트; 및 상기 게이트에 연결되며, 상기 사출금형에 마련되는 스프루부에 의해 형성되는 스프루(sprue)를 포함할 수 있다.
상기 사출스크랩 제거단계는, 상기 스프루를 절단할 수 있는 스프루 커팅부가 마련된 스프루 커팅 겸용 취출로봇이 상기 사출성형단계가 수행된 사출금형에서 상기 사출 성형물을 취출하며 상기 사출 성형물에서 스프루를 커팅하는 사출 성형물 취출 겸용 스프루 커팅단계; 사출 성형물 취출 겸용 스프루 커팅단계에서 상기 스프루가 커팅된 사출 성형물이 사출 성형물용 이송유닛에 의해 상기 게이트를 커팅하는 게이트 커팅머신으로 이송되는 게이트 제거용 이송단계; 상기 사출 성형물용 이송유닛에 의해 이송되는 상기 스프루가 커팅된 사출 성형물이 얼라인 지그에 의해 상기 게이트 커팅머신에 얼라인되는 얼라인 단계; 및 상기 게이트 커팅머신에 얼라인된 상기 사출 성형물의 상기 게이트가 상기 게이트 커팅머신에 의해 커팅되는 게이트 커팅단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예들은, 사출 성형단계에서 성형된 사출 성형물이 경화되기 전에 사출 성형물에서 사출스크랩을 제거하는 사출스크랩 제거단계를 구비함으로써, 사출스크랩의 제거를 위해 사출 성형물의 경화를 대기하는 시간을 없애 생산성을 높일 수 있다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법이 도시된 도면이다.
도 2는 도 1의 사출 성형단계에서 사용되는 사출금형이 도시된 도면이다.
도 3은 본 발명의 제2 실시예에 따른 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법이 도시된 도면이다.
도 4는 본 발명의 제3 실시예에 따른 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법이 도시된 도면이다.
도 5는 도 4의 사출 성형단계에서 사용되는 사출금형이 도시된 도면이다.
도 6은 본 발명의 제4 실시예에 따른 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법이 도시된 도면이다.
도 7는 도 6의 얼라인 단계에서 사용되는 얼라인 지그가 도시된 도면이다.
본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 다만, 본 발명을 설명함에 있어서 이미 공지된 기능 혹은 구성에 대한 설명은, 본 발명의 요지를 명료하게 하기 위하여 생략하기로 한다.
도 2 및 도 5에서 사출제품(T)이 직선형으로 도시되었는데, 이는 도시의 편리를 위한 것으로 실제로 사출제품(T)은 소정의 곡률을 가지는 비구면 형상으로 마련된다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법이 도시된 도면이고, 도 2는 도 1의 사출 성형단계에서 사용되는 사출금형이 도시된 도면이다.
도 1 내지 도 2에 도시된 바와 같이, 본 실시예의 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법은, 사출성형재료에 대한 사출성형조건을 정립하는 사출성형조건 정립단계(S10)와, 사출성형조건에 따라 사출성형재료를 사출금형(100)을 통해 사출 성형하는 사출 성형단계(S20)와, 사출 성형단계(S20)에서 성형된 사출 성형물(K)이 경화되기 전에 사출 성형물(K)에서 사출스크랩(ES)을 제거하는 사출스크랩 제거단계(S30)와, 사출 성형물(K)에서 사출스크랩(ES)이 제거된 사출제품(T)을 검사하고 검사결과를 사출성형조건 정립단계(S10)로 피드백하는 형상 검사단계(S40)와, 사출제품(T)에 반사막을 증착하여 광학 미러를 제조하는 반사막 증착단계(S50)와, 광학 미러의 반사율을 검사하는 반사율 검사단계(S60)와, 광학 미러에 의해 생성되는 영상을 검사하는 영상 검사단계(S70)를 포함한다.
사출성형조건 정립단계(S10)에서는 사출성형재료에 대한 사출성형조건을 정립한다. 본 실시예에서 사출성형재료는 플라스틱 재질로 마련되며, 사출성형조건은 용융된 사출성형재료의 온도, 점도, 사출속도 및 사출압력 등이다.
이러한 사출성형조건 정립단계(S10)에서는 형상 검사단계(S40)에서 피드백 받은 검사결과에 따라 사출성형재료의 온도, 점도, 사출속도 및 사출압력 등을 가변시킨다.
한편 사출 성형단계(S20)에서는, 정립된 사출성형조건에 따라 사출성형재료를 사출금형(100)을 통해 사출 성형한다.
본 실시예의 사출금형(100)은, 도 2(a)에 도시된 바와 같이, 사출제품(T)을 형성하는 캐비티(110)와, 캐비티(110)에 연통되는 게이트부(120)와, 게이트부(120)에 연통되는 스프루부(130)가 마련된다.
사출 성형단계(S20)에서 용융된 사출성형재료는, 도 2(b)에 도시된 바와 같이, 사출금형(100)의 스프루부(130) 및 게이트부(120)를 통하여 캐비티(110)로 유동된다.
한편 사출스크랩 제거단계(S30)에서는, 사출 성형단계(S20)에서 성형된 사출 성형물(K)이 경화되기 전에 사출 성형물(K)에서 사출스크랩(ES)이 제거된다.
여기서, 사출스크랩(ES)은, 도 2의 (b)에 도시된 바와 같이, 사출제품(T)에 연결되며 사출금형(100)에 마련되는 게이트부(120)에 의해 형성되는 게이트(GT)와, 게이트(GT)에 연결되며 사출금형(100)에 마련되는 스프루부(130)에 의해 형성되는 스프루(sprue, SP)를 포함한다.
본 실시예에 따른 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법은, 사출 성형단계(S20)에서 성형된 사출 성형물(K)이 경화되기 전에 사출 성형물(K)에서 사출스크랩(ES)을 제거하는 사출스크랩 제거단계(S30)를 구비함으로써, 사출 성형물(K)의 경화를 대기하는 시간을 없애 생산성을 높일 수 있다.
본 실시예의 사출스크랩 제거단계(S30)는, 사출 성형물 취출로봇(미도시)이 사출금형(100)에서 사출 성형물(K)을 취출하는 사출 성형물 취출단계와, 사출 성형물 취출로봇(미도시)이 사출 성형물(K)을 사출스크랩(ES)을 커팅하는 스크랩 커팅머신(미도시)으로 이송하는 스크랩 제거용 이송단계와, 스크랩 커팅머신(미도시)이 사출스크랩(ES)을 커팅하는 스크랩 커팅단계를 포함한다.
사출 성형물 취출단계에서는 사출 성형물 취출로봇(미도시)이 사출금형(100)에서 사출 성형물(K)을 취출한다. 사출 성형물 취출로봇(미도시)은 사출금형(100)이 형개된 뒤(오픈된 뒤) 사출 성형물(K)을 파지하여 사출 성형물(K)을 사출금형(100)에서 꺼낸다.
스크랩 제거용 이송단계에서는, 사출 성형물 취출로봇(미도시)이 사출 성형물(K)을 사출스크랩(ES)을 커팅하는 스크랩 커팅머신(미도시)이 배치된 위치로 이동시킨다.
스크랩 커팅단계에서는 스크랩 커팅머신(미도시)이 사출스크랩(ES)을 커팅하여 사출 성형물(K)에서 사출스크랩(ES)을 제거한다.
이후, 사출 성형물 취출로봇(미도시)은 사출 성형물(K)에서 사출스크랩(ES)이 제거된 사출제품(T)을 형상 검사단계(S40)가 수행되는 검사장소로 이송한다.
한편 형상 검사단계(S40)에서는, 사출제품(T)을 검사하고 검사결과를 사출성형조건 정립단계(S10)로 피드백한다. 이러한 형상 검사단계(S40)에서는 사출제품(T)을 촬상하는 비전카메라(미도시)와, 비전카메라(미도시)에 전기적으로 연결되는 컴퓨터(미도시)가 사용된다.
이러한 형상 검사단계(S40)에서는, 사출제품(T)의 형상을 기준 형상과 비교하여 사출제품(T)의 형상과 기준 형상 사이의 형상오차를 인식한다. 여기서, 기준 형상이란 미리 결정된 사출제품(T)의 설계 형상을 말한다. 또한, 형상오차는 사출제품(T)의 형상과 기준 형상과의 형상의 차이를 말하는 것으로, 형상의 차이는 길이 오차와, 곡률 오차 등을 포함한다.
형상오차가 미리 결정된 기준오차 이하일 경우 반사막 증착단계(S50)가 수행되고, 형상오차가 미리 결정된 기준오차보다 클 경우 형상오차가 사출성형조건 정립단계(S10)로 피드백된다.
형상오차가 사출성형조건 정립단계(S10)로 전달되면, 사출성형조건 정립단계(S10)에서는 형상오차가 제거될 수 있도록 사출성형재료의 온도, 점도, 사출속도 및 사출압력 등을 가변시킨다.
한편 반사막 증착단계(S50)에서는, 형상오차가 기준오차 이하여서 형상 검사단계(S40)를 통과한 사출제품(T)에 반사막((미도시)을 증착하여 광학 미러를 제조한다. 이러한 반사막 증착단계(S50)에서는 스퍼터링 공정 등을 통해 사출제품(T)에 반사막을 증착한다. 이렇게 사출제품(T)에 반사막을 증착된 제품을 광학 미러라 한다.
반사율 검사단계(S60)에서는 광학 미러의 반사율을 검사한다. 이러한 반사율 검사단계(S60)에서는 반사율 검출기(미도시) 등을 통해 광학 미러의 반사율을 검사한다.
영상 검사단계(S70)에서는 광학 미러에 의해 생성되는 영상을 검사한다. 이러한 영상 검사단계(S70)에서는 자동차의 윈드실드와 같이 비구면 형상을 갖는 투영면에 광학 미러를 통해 영상을 생성하여 광학 미러의 불량을 검사한다.
이러한 본 실시예에 따른 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법은, 사출 성형단계(S20)에서 성형된 사출 성형물(K)이 경화되기 전에 사출 성형물(K)에서 사출스크랩(ES)을 제거하는 사출스크랩 제거단계(S30)를 구비함으로써, 사출스크랩의 제거를 위해 사출 성형물(K)의 경화를 대기하는 시간을 없애 생산성을 높일 수 있다.
도 3은 본 발명의 제2 실시예에 따른 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법이 도시된 도면이다.
본 실시예는 제1 실시예와 비교할 때에 사출스크랩 제거단계(S30')에 차이가 있을 뿐, 다른 구성에 있어서는 도 1 내지 도 2의 제1 실시예의 구성과 동일하므로, 이하에서는 동일한 구성에 대해서는 그 설명을 생략한다.
본 실시예에서 사출스크랩 제거단계(S30')는, 사출스크랩(ES)을 절단할 수 있는 스크랩 커팅부(미도시)가 마련된 스크랩 커팅 겸용 취출로봇(미도시)이 사출 성형단계(S20)가 수행된 사출금형(100)에서 사출 성형물(K)을 취출하며 사출 성형물(K)에서 사출스크랩(ES)을 커팅하는 사출 성형물 취출 겸용 스크랩 커팅단계(S31')를 포함한다.
이러한 사출 성형물 취출 겸용 스크랩 커팅단계(S31')에서는, 사출스크랩(ES)을 절단할 수 있는 스크랩 커팅부(미도시)가 마련된 스크랩 커팅 겸용 취출로봇(미도시)이 사출금형(100)이 형개된 뒤(오픈된 뒤) 사출 성형물(K)을 파지한 후, 스크랩 커팅부(미도시)를 통해 사출 성형물(K)에서 사출스크랩(ES)을 제거한다.
이후, 스크랩 커팅 겸용 취출로봇(미도시)이 사출 성형물(K)에서 사출스크랩(ES)이 제거된 사출제품(T)을 형상 검사단계(S40)가 수행되는 검사장소로 이송한다.
이러한 본 실시예에 따른 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법에서, 스크랩 커팅 겸용 취출로봇(미도시)은 사출 성형단계(S20)가 수행된 사출금형(100)에서 사출 성형물(K)을 취출하는 기능과 사출 성형물(K)에서 사출스크랩(ES)을 커팅하는 기능을 함께 수행할 수 있다.
따라서 본 실시예에 따른 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법은, 스크랩 커팅 겸용 취출로봇(미도시)이 사출 성형단계(S20)가 수행된 사출금형(100)에서 사출 성형물(K)을 취출하면서 사출 성형물(K)에서 사출스크랩(ES)을 커팅하는 사출 성형물 취출 겸용 스크랩 커팅단계(S31')를 구비함으로써, 제1 실시예의 경우로 달리 사출 성형물(K)에서 사출스크랩(ES)을 제거하기 위해 사출 성형물(K)을 별도의 장소로 이송할 필요가 없어 생산성을 높일 수 있는 이점이 있다.
도 4는 본 발명의 제3 실시예에 따른 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법이 도시된 도면이고, 도 5는 도 4의 사출 성형단계에서 사용되는 사출금형이 도시된 도면이다.
본 실시예는 제1 실시예와 비교할 때에 사출스크랩 제거단계(S30")에 차이가 있을 뿐, 다른 구성에 있어서는 도 1 내지 도 2의 제1 실시예의 구성과 동일하므로, 이하에서는 동일한 구성에 대해서는 그 설명을 생략한다.
본 실시예에서 사출스크랩 제거단계(S30")는, 사출스크랩 제거단계(S30")는, 사출 성형단계(S20)가 수행되는 사출금형(100")에 마련된 스크랩 커팅부(150)가 사출금형(100") 내부에 배치된 사출 성형물(K)에서 사출스크랩(ES)을 커팅하는 사출금형 내 스크랩 커팅단계(S31")와, 사출제품 취출로봇(미도시)이 사출금형(100")에서 사출스크랩(ES)이 제거된 사출제품(T)을 취출하는 사출제품 취출단계(S32")를 포함한다.
사출금형 내 스크랩 커팅단계(S31")에서는, 사출 성형단계(S20)가 수행되는 사출금형(100")에 마련된 스크랩 커팅부(150)가 사출금형(100") 내부에 배치된 사출 성형물(K)에서 사출스크랩(ES)을 커팅한다.
본 실시예에 사용되는 사출금형(100")에는, 도 5에 도시된 바와 같이, 사출금형(100")의 내부에서 사출제품(T)에서 게이트(GT)를 절단할 수 있는 스크랩 커팅부(150)가 마련된다.
사출제품 취출단계(S32")에서는 사출제품 취출로봇(미도시)이 사출금형(100")에서 사출스크랩(ES)이 제거된 사출제품(T)을 취출한다. 이러한 사출제품 취출단계(S32")에서, 사출제품 취출로봇(미도시)은 사출금형(100")이 형개된 뒤(오픈된 뒤) 사출제품(T)을 파지하여 사출제품(T)을 사출금형(100")에서 꺼낸다.
이후, 사출제품 취출로봇(미도시)이 사출제품(T)을 형상 검사단계(S40)가 수행되는 검사장소로 이송한다. 이러한 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법에서, 게이트(GT)는 스크랩 커팅부(150)에 의해 사출금형(100")의 내부에서 제거된다.
따라서 본 실시예에 따른 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법은, 사출 성형단계(S20)가 수행되는 사출금형(100")에 마련된 스크랩 커팅부(150)가 사출금형(100") 내부에 배치된 사출 성형물(K)에서 사출스크랩(ES)을 커팅하는 사출금형 내 스크랩 커팅단계(S31")를 구비함으로써, 제1 실시예와 달리 사출금형(100")의 외부에서 게이트(GT)를 별도로 커팅할 필요가 없어 생산성을 높일 수 있는 이점이 있다.
도 6은 본 발명의 제4 실시예에 따른 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법이 도시된 도면이고, 도 7는 도 6의 얼라인 단계에서 사용되는 얼라인 지그가 도시된 도면이다.
본 실시예는 제1 실시예와 비교할 때에 사출스크랩 제거단계(S30c)에 차이가 있을 뿐, 다른 구성에 있어서는 도 1 내지 도 2의 제1 실시예의 구성과 동일하므로, 이하에서는 동일한 구성에 대해서는 그 설명을 생략한다.
본 실시예에 따른 사출스크랩 제거단계(S30c)는, 스프루(SP)를 절단할 수 있는 스프루 커팅부(미도시)가 마련된 스프루 커팅 겸용 취출로봇(미도시)이 사출성형단계(S20)가 수행된 사출금형(미도시)에서 사출 성형물(K)을 취출하며 사출 성형물(K)에서 스프루(SP)를 커팅하는 사출 성형물 취출 겸용 스프루 커팅단계(S31c)와, 사출 성형물 취출 겸용 스프루 커팅단계(S31c)에서 스프루(SP)가 커팅된 사출 성형물(K)이 사출 성형물용 이송유닛(160)에 의해 게이트(GT)를 커팅하는 게이트 커팅머신(미도시)으로 이송되는 게이트 제거용 이송단계(S32c)와, 사출 성형물용 이송유닛(160)에 의해 이송되는 스프루(SP)가 커팅된 사출 성형물(K)이 얼라인 지그(170)에 의해 게이트 커팅머신(미도시)에 얼라인되는 얼라인 단계(S33c)와, 게이트 커팅머신(미도시)에 얼라인된 스프루(SP)가 커팅된 사출 성형물(K)의 게이트(GT)가 게이트 커팅머신(미도시)에 의해 커팅되는 게이트 커팅단계(S34c)를 포함한다.
사출 성형물 취출 겸용 스프루 커팅단계(S31c)에서는, 스프루(SP)를 절단할 수 있는 스프루 커팅부(미도시)가 마련된 스프루 커팅 겸용 취출로봇(미도시)이 사출성형단계가 수행된 사출금형에서 사출 성형물(K)을 취출하며 사출 성형물(K)에서 스프루(SP)를 커팅한다.
이러한 사출 성형물 취출 겸용 스프루 커팅단계(S31c)에서는, 스프루(SP)를 절단할 수 있는 스프루 커팅부(미도시)가 마련된 스프루 커팅 겸용 취출로봇(미도시)이 사출금형(100)이 형개된 뒤(오픈된 뒤) 사출 성형물(K)을 파지한 후, 스프루 커팅부(미도시)를 통해 사출 성형물(K)에서 스프루(SP)를 제거한다.
스프루(SP)가 커팅되지 않은 사출 성형물(K)은 도 2(b)에 도시된 바와 같이 'ㄱ'자에 가까운 형상이나, 스프루(SP)가 커팅된 사출 성형물(K)은, 도 7에 도시된 바와 같이 직선형에 가까운 형상이다. 이렇게 스프루(SP)가 커팅되어 직선형에 가까운 형상을 가지는 사출 성형물(K)은 얼라인 단계(S33c)에서 얼라인에 용이한 이점이 있다.
게이트 제거용 이송단계(S32c)에서는, 사출 성형물 취출 겸용 스프루 커팅단계(S31c)에서 스프루(SP)가 커팅된 사출 성형물(K)이 사출 성형물용 이송유닛(160)에 의해 게이트(GT)를 커팅하는 게이트 커팅머신(미도시)으로 이송된다. 본 실시예에서 사출 성형물용 이송유닛(160)은 컨베이어 벨트로 이루어질 수 있다.
얼라인 단계(S33c)에서는, 사출 성형물용 이송유닛(160)에 의해 이송되는 스프루(SP)가 커팅된 사출 성형물(K)이 얼라인 지그(170)에 의해 게이트 커팅머신(미도시)에 얼라인된다. 이러한 얼라인 지그(170)는 사출 성형물용 이송유닛(160)에 인접하게 배치되어 사출 성형물용 이송유닛(160)에 의해 이송되는 사출 성형물(K)이 일정한 자세(즉, 게이트 커팅머신에 얼라인되는 자세)를 유지하도록 한다.
본 실시예에서 얼라인 지그(170)는, 사출 성형물용 이송유닛(160)의 상부에 배치되며 사출 성형물용 이송유닛(160)에 의해 이송되는 사출 성형물(K)을 통과시키되 통과된 사출 성형물(K)이 게이트 커팅머신(미도시)에 얼라인되도록 한다.
이러한 얼라인 지그(170)에는, 도 7에 도시된 바와 같이, 사출 성형물(K)이 통과시키며 통과되는 사출 성형물(K)을 일정한 자세를 가지도록 유도하는 얼라인용 가이드공(171)이 마련된다.
이러한 얼라인용 가이드공(171)을 통과한 사출 성형물(K)은 일정한 자세, 즉 게이트 커팅머신(미도시)에 얼라인되는 자세를 가진다.
또한, 본 실시예의 얼라인 지그(170)에는, 사출 성형물용 이송유닛(160)에 의해 이송되는 사출 성형물(K)이 얼라인용 가이드공(171)에 삽입되도록 유도하는 삽입 유도부(172)가 마련된다.
게이트 커팅단계(S34c)에서는. 게이트 커팅머신(미도시)에 얼라인된 사출 성형물(K)의 게이트(GT)가 게이트 커팅머신(미도시)에 의해 커팅된다. 본 실시예에서 게이트 커팅머신(미도시)은 열선, 레이저 또는 가공용 바이트 방식 등으로 게이트(GT)를 절단할 수 있다.
본 실시예에 따른 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법은, 사출 성형물(K)에서 스프루(SP)를 먼저 제거하는 사출 성형물 취출 겸용 스프루 커팅단계(S31c)와, 스프루(SP)가 제거된 사출 성형물(K)을 게이트 커팅머신(미도시)으로 이송되는 과정에서 사출 성형물(K)을 게이트 커팅머신(미도시)에 얼라인하는 얼라인 단계(S33c)를 구비함으로써, 게이트(GT)를 정밀하게 절단할 수 있는 이점이 있다.
이상 도면을 참조하여 본 실시예에 대해 상세히 설명하였지만 본 실시예의 권리범위가 전술한 도면 및 설명에 국한되지는 않는다.
이와 같이 본 발명은 기재된 실시예에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음은 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명하다. 따라서 그러한 수정예 또는 변형예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 하여야 할 것이다.
100, 100": 사출금형 110: 캐비티
120: 게이트부 130: 스프루부
150: 스크랩 커팅부 160: 사출 성형물용 이송유닛
170: 얼라인 지그 171: 얼라인용 가이드공
172: 삽입 유도부 GT: 게이트
SP: 스프루 ES: 사출스크랩
K: 사출 성형물 T: 사출제품
S10: 사출성형조건 정립단계 S20: 사출 성형단계
S30, S30', S30": 사출스크랩 제거단계
S31': 사출 성형물 취출 겸용 스크랩 커팅단계
S31": 사출금형 내 스크랩 커팅단계
S32": 사출제품 취출단계
S40: 형상 검사단계 S50: 반사막 증착단계
S60: 반사율 검사단계 S70: 영상 검사단계

Claims (11)

  1. 삭제
  2. 삭제
  3. 사출성형재료에 대한 사출성형조건을 정립하는 사출성형조건 정립단계;
    상기 사출성형조건에 따라 상기 사출성형재료를 사출금형을 통해 사출 성형하는 사출 성형단계;
    상기 사출 성형단계에서 성형된 사출 성형물이 경화되기 전에 상기 사출 성형물에서 사출스크랩을 제거하는 사출스크랩 제거단계; 및
    상기 사출 성형물에서 상기 사출스크랩이 제거된 사출제품을 검사하며, 검사결과를 상기 사출성형조건 정립단계로 피드백하는 형상 검사단계를 포함하며,
    상기 사출스크랩 제거단계는,
    상기 사출스크랩을 절단할 수 있는 스크랩 커팅부가 마련된 스크랩 커팅 겸용 취출로봇이 상기 사출성형단계가 수행된 사출금형에서 상기 사출 성형물을 취출하며 상기 사출 성형물에서 사출스크랩을 커팅하는 사출 성형물 취출 겸용 스크랩 커팅단계를 포함하는 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법.
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 삭제
  8. 삭제
  9. 삭제
  10. 삭제
  11. 사출성형재료에 대한 사출성형조건을 정립하는 사출성형조건 정립단계;
    상기 사출성형조건에 따라 상기 사출성형재료를 사출금형을 통해 사출 성형하는 사출 성형단계;
    상기 사출 성형단계에서 성형된 사출 성형물이 경화되기 전에 상기 사출 성형물에서 사출스크랩을 제거하는 사출스크랩 제거단계; 및
    상기 사출 성형물에서 상기 사출스크랩이 제거된 사출제품을 검사하며, 검사결과를 상기 사출성형조건 정립단계로 피드백하는 형상 검사단계를 포함하되,
    상기 사출성형재료는 플라스틱 재질로 마련되며,
    상기 사출스크랩은, 상기 사출제품에 연결되며, 상기 사출금형에 마련되는 게이트부에 의해 형성되는 게이트; 및 상기 게이트에 연결되며, 상기 사출금형에 마련되는 스프루부에 의해 형성되는 스프루(sprue)를 포함하고,
    상기 사출스크랩 제거단계는, 상기 스프루를 절단할 수 있는 스프루 커팅부가 마련된 스프루 커팅 겸용 취출로봇이 상기 사출성형단계가 수행된 사출금형에서 상기 사출 성형물을 취출하며 상기 사출 성형물에서 스프루를 커팅하는 사출 성형물 취출 겸용 스프루 커팅단계; 사출 성형물 취출 겸용 스프루 커팅단계에서 상기 스프루가 커팅된 사출 성형물이 사출 성형물용 이송유닛에 의해 상기 게이트를 커팅하는 게이트 커팅머신으로 이송되는 게이트 제거용 이송단계; 상기 사출 성형물용 이송유닛에 의해 이송되는 상기 스프루가 커팅된 사출 성형물이 얼라인 지그에 의해 상기 게이트 커팅머신에 얼라인되는 얼라인 단계; 및 상기 게이트 커팅머신에 얼라인된 상기 사출 성형물의 상기 게이트가 상기 게이트 커팅머신에 의해 커팅되는 게이트 커팅단계를 포함하는 헤드업 디스플레이용 광학 미러 제작방법.
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