KR101949841B1

KR101949841B1 - 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀

Info

Publication number: KR101949841B1
Application number: KR1020170113243A
Authority: KR
Inventors: 이병성; 조정현
Original assignee: 주식회사 파인디앤씨
Priority date: 2017-09-05
Filing date: 2017-09-05
Publication date: 2019-02-19

Abstract

본 발명은 전자기기에 사용되는 커넥터의 전기적인 특성을 테스트하기 위한 프로브핀에 대한 것으로, USB단자 또는 전원 및 통신단자 등에 사용되는 커넥터에 접촉하여 전기적인 특성을 테스트하는 것이다.
이를 위해, 탐지를 위한 단자에 접촉하여 전기적인 특성을 탐지하는 바텀플런저(10)와 상기 바텀플런저(10)가 결합되고, 탑플런저의 역할을 하는 바디(20) 및 상기 바디(20)에 내삽되며, 바텀플런저(10)에 탄성을 제공하는 탄성체(30)로 구성되는 커넥터 테스트용 프로브핀를 제공하게 된다.

Description

커넥터 테스트용 멀티 프로브핀{A MULTI PROBE-PIN FOR TESTING ELECTRICAL CONNECTOR}

본 발명은 전자기기에 사용되는 커넥터의 전기적인 특성을 테스트하기 위한 프로브핀에 대한 것으로, USB단자 또는 전원 및 통신단자 등에 사용되는 커넥터에 접촉하여 전기적인 특성을 테스트하는 것이다.

일반적으로 프로브핀의 경우 반도체 또는 전자기기의 부품을 접촉하여 전기적인 특성을 측정하는데 사용되고 있다.

이와 같은 프로브핀은 또한 반도체의 리드에 직접 접촉하여 탐침하는 경우도 있으나, 휴대폰 및 카메라 터미널 등의 전자기기의 단자인 USB커넥터 및 휴대폰과 같은 Micor USB 단자와 같은 미세한 부분에도 적용되고 있다.

이때, 대부분의 USB 커넥터 또는 Micro USB 단자의 경우 내부에 적용되는 부품은 금속띠를 절곡한 클립단자가 적용되고, 이를 검침하기 위해, 클립단자의 일측에 검침을 위한 프로브핀의 일부분을 접촉하여 전기적인 특성을 측정하게 된다.

그러나, 종래의 프로브핀의 경우 바텀플런저 또는 탑플런저의 끝부분인 팁(TIP)부분이 뾰족한 침형태로 형성되거나, 크라운 형태로 형성되어 클립단자에 미세한 점으로 접촉되거나, 크라운 형태의 경우 단자 내부로 삽입되기도 어려워 검침이 어려운 경우가 대부분이었다.

이에 따라, 대한민국 등록특허 제10-1500609호(검사장치, 이하 '선행기술'이라 함, 2015년 03월 03일 등록) 검사 시 피검사접점에 접촉하는 제1 플런저, 검사회로의 검사접점에 접촉하는 제2플런저 및 상기 제1, 제2 플런저를 검사방향에 따라 신축시키는 탄성체를 포함하며, 상기 제1플런저는 피검사접점을 향해 연장하는 몸체, 상기 몸체에 결합되는 연결부 및 상기 연결부로부터 반경방향 외측으로 연장하다가 팁(tip)을 향해 수렴하는 확장접촉부를 포함하며, 상기 피검사체의 피검사접점은 소정 간격을 두고 떨어진 2개의 면접점을 포함하며, 상기 확장접촉부는 상기 2개의 면접점에 대응하는 2개의 면접촉부를 포함하는 기술을 개시하고 있다.

그러나, 상기와 같은 선행기술의 경우 한쌍의 접점을 형성하기 위해, 팁(tip)부분을 식각가공하게 되는데, 팁부분에 방향성이 존재하게 되어 작업자가 검사를 위한 지그 등에 프로브핀을 장착할 때, 팁부분의 방향을 정밀하게 위치하도록 해야 하는 불편함이 존재하게 된다.

이는 선행기술에서 제안하는 팁부분의 형상이 삼각형의 두께를 유지하는 평판형태로 이루어지고, 그 중 양측면을 내측으로 원호형상으로 식각하여, 두개의 접점을 만드는 형상을 취하게 되기 때문이고, 검사를 위한 클립단자의 접촉면에 정확하게 접촉시키기 위해 최적의 방향에 맞게 지그 장착해야만 하는 문제가 발생하게 된다.

하지만, 프로브핀의 경우 그 크기가 매우 작아 작업자가 정밀하게 적업하는데 어려움이 있을 뿐만 아니라, 제안되고 있는 선행기술을 이용하기 위해서는 더 많은 작업시간이 요구되는 불편함이 있다.

또한, 선행기술의 경우 한쌍의 접점을 탐침해야 하는 클립단자에만 적용할 수 있어 다양한 단자 및 솔더링 부분에 호환하여 적용하기 난해한 문제도 있다.

대한민국 등록특허 제10-1500609호(검사장치, 2015년 03월 03일 등록)

본 발명은 상기와 같은 문제점을 극복하기 위해, 다양한 형태의 단자 및 접점 등에 적용할 수 있는 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀을 제공하는 것을 목적으로 한다.

본 발명의 또다른 목적은 미세한 크기의 프로브핀을 작업자가 보다 용이하게 검사용 지그나 장치에 장착할 수 있도록 하며, 작업시간 또한 많이 소요되지 않도록 하는 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀을 제공하는 것이다.

본 발명의 목적을 달상하기 위한, 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀에 있어서,

탐지를 위한 단자에 접촉하여 전기적인 특성을 탐지하기 위해, 구형상으로 형성되고 접지단자에 접촉하는 헤드(11)와 상기 헤드(11)의 일측에 결합되어 지지하는 하부빔(12)과 상기 하부빔(12)에 연장되어 형성되는 상부빔(13) 및 상기 상부빔(13)의 일측에 형성되는 링(14)으로 구성되는 바텀플런저(10) 와 상기 바텀플런저(10)가 결합되고, 탑플런저의 역할을 하기 위해 관체 형상으로 형성되고, 일측에는 상부빔(13)이 인입되는 상부빔인입구(21)가 형성되며, 타측면에는 바디(20)의 직경보다 작은 바디팁(22)이 형성되는 바디(20) 및 상기 바디(20)에 내삽되며, 바텀플런저(10)에 탄성을 제공하는 탄성체(30)로 구성되는 것을 특지으로 하는 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀을 제공하게 된다.

또한, 상기 하부빔(12)의 외주면에는 헤드(11)와 이격되고 하부빔(12)의 외주면으로 돌출되는 형태로 형성되어, 클립단자와 같이 내부에 검침을 위해 내삽될 때, 클립단자에 접촉되도록 하는 단자링(15)이 더 구비되며, 상기 헤드(11)의 상측면에는 검사대상이 되는 단자의 크기에 따른 위치를 설정할 수 있도록 하는 가이드라인(11a)이 더 형성된다.

또한, 상기 상부빔(13)은 하부빔(12) 보다 직경이 작게 형성되도록 하여, 내측으로 함몰되도록 형성되고, 상기 바텀플런저(10)가 바디(20)에 결합될 때, 상부빔(13) 부분이 바디(20)의 일부분에 내삽되도록 하고, 바텀플런저(10)가 바디(20)로 부터 이탈되어 분리되거나 일정깊이 이상 내삽되지 못하도록 상부빔(13) 부분에 인입되도록 하는 돌기(23) 바디(20)의 일측에 더 형성되는 것을 특징으로 하는 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀을 제공함으로써 본 발명의 목적을 보다 잘 달성할 수 있는 것이다.

본 발명의 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀을 제공함으로써, 다양한 형태의 단자 및 점점 등에 적용할 수 있도록 호환성을 높이는 효과가 있으며, 작업자의 작업능률을 향상시켜 작업공정 시간을 단축할 수 있는 효과가 있다.

도 1은 본 발명에 따른 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀의 사시도이다.
도 2는 본 발명에 따른 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀의 전개사시도이다.
도 3은 본 발명에 따른 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀의 단면도이다.
도 4와 도 5는 본 발명에 따른 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀의 실시를 도시한 사시도와 단면도이다.
도 6은 본 발명에 따른 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀의 또다른 실시형태를 도시한 단면도이다.

이하에서 당업자가 본 발명의 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀을 용이하게 실시할 수 있도록 도면을 참조하여 상세하게 설명하도록 한다.

도 1은 본 발명에 따른 컨게터 테스트용 멀티 프로브핀의 사시도이고, 도 2는 본 발명에 따른 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀의 전개사시도이며, 도 3은 본 발명에 따른 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀의 단면도이다.

도 1 내지 도 3을 참조하여 상세하게 설명하면, 탐지를 위한 단자에 접촉하여 전기적인 특성을 탐지하는 바텀플런저(10)와 상기 바텀플런저(10)가 결합되고, 탑플런저의 역할을 하는 바디(20) 및 상기 바디(20)에 내삽되며, 바텀플런저(10)에 탄성을 제공하는 탄성체(30)로 구성된다.

상기 바텀플런저(10)는 구형상으로 형성되고 접지단자에 접촉하는 헤드(11)와 상기 헤드(11)의 일측에 결합되어 지지하는 하부빔(12)과 상기 하부빔(12)에 연장되어 형성되는 상부빔(13) 및 상기 상부빔(13)의 일측에 형성되는 링(14)으로 구성된다.

또한, 상기 하부빔(12)의 외주면에는 헤드(11)와 이격되어 형성되는 단자링(15)이 더 구비된다.

상기 단자링(15)은 하부빔(12)의 외주면으로 돌출되는 형태로 형성되어, 클립단자와 같이 내부에 검침을 위한 프로브핀 등이 내삽될 때, 클립단자에 접촉되도록 한다.

이때, 상기 헤드(11)와 단자링(15)의 사이에 이격된 공간에 내측으로 함몰된 형태로 형성되어, 곡선형태로 절곡되어 있는 클립단자의 절곡면에 보다 잘 접촉될 수 있도록 한다.

이는 종래의 점침을 위한 프로브핀이 통상 날카로운 팁부분이 접촉되고, 이로 인해, 하나의 점형태로 검침이 이루어져 그 정확성이 낮아지는 문제가 있었기 때문이다.

또한, 검침도중 기계 작동과 같은 진동요인에 의해, 검침 부분이 이탈되는 문제점도 극복하기 위한 것이다.

이와 같은 단자링(15)은 일개 또는 그 이상이 배치되어 형성되되, 1개 내지 3개가 형성되는 것이 바람직하다.

이는 클립단자의 경우 절곡되어 접촉되는 부분이 다수 존재하게 되고, 일개 이상의 단자링(15)이 배치됨으로써, 상측 또는 하측에 배치되는 단자링(15)의 사이에 형성되는 공간에 접점 또는 복수개의 단자링에 접점 되어 검침을 보다 용이하게 하기 위한 것이다.

또한, 상기와 같은 상부빔(13)은 하부빔(12) 보다 직경이 작게 형성되도록 하여, 내측으로 함몰되도록 형성된다.

이는 바텀플런저(10)가 바디(20)에 결합될 때, 상부빔(13) 부분이 바디(20)의 일부분에 내삽되도록 하고, 바디(20)의 일측에 형성되는 돌기(23)가 상부빔(13) 부분에 인입되도록 하여, 바텀플런저(10)가 바디(20)부터 이탈되어 분리되거나, 일정깊이 이상 내삽되지 못하도록 하는 것이다.

보다 상세하게 설명하면, 하부빔(12)의 직경이 상부빔(13)의 직경보다 크게 형성되어, 바텀플런저(10)가 바디(20)에 내삽될 때, 하부빔(12)에 걸리도록 하여 일정깊이 이상 내삽되는 것을 방지하게 되고, 상부빔(13)의 일측에 상부빔(13)의 직경보다 크게 형성되는 링(14)에 의해 바텀플런저(10)가 바디(20)로부터 이탈되는 것을 방지할 수 있도록 하는 것이다.

상기와 같은 바텀플런저(10)의 헤드(11)는 구형상으로 형성되어, 검침을 위한 솔더링 부분의 파손을 최소화 할 수 있도록 한다.

또한, 상기 헤드(11)의 상측면에는 가이드라인(11a)이 더 형성되는데, 상기 가이드라인(11a)은 검사대상이 되는 단자의 크기에 따른 위치를 설정할 수 있도록 하는 것이다.

보다 상세하게 설명하면, 상기 가이드라인(11a)은 헤드(11)의 상부면에 복수개의 동심원 형태로 적용될 수 있으며, 검사대상이 되는 단자의 크기 및 간격에 따라 접촉위치를 미리 예측하고 검사장치의 위치를 조정할 수 있도록 하기 위한 것이다.

상기 바텀플런저(10)가 결합되는 바디(20)의 경우 관체 형상으로 형성되고, 일측에는 상부빔(13)이 인입되는 상부빔인입구(21)가 형성되고, 타측면에는 바디(20)의 직경보다 작은 바디팁(TIP : 22)이 형성된다.

여기서, 상기 바디팁(22)은 상부빔인입구(21) 보다 그 직경이 작게 형성되어, 내부에 인입되는 탄성체(30)가 바디(20)로부터 이탈되지 않도록 지지해주는 역할을 하게 된다.

또한, 바디팁(22)은 전기적인 특성을 측정하기 위한 측정장치 등의 지그와 같은 결합부재에 삽입되어 체결될 수 있도록 하는 것이다.

이와 같은 바디(20)의 일측 외주면에는 바텀플런저(10)가 바디(20)로부터 이탈되는 것을 방지하는 돌기(23)가 더 형성되는데, 상기 돌기는 상부빔인입구(21)로부터 이격되어 형성되게 된다.

이때, 상기 돌기(23)는 바디(20)의 내주면 방향으로 돌출되어 형성되는데, 보다 구체적으로 설명하면, 외주면에서 내주면 방향으로 오목하게 함몰되는 형상으로 형성되도록 하여, 내주면 방향으로 돌출되는 형태로 형성되도록 한다.

이와 같은 돌기(23)는 2개 이상이 내주면에 등간격으로 형성되는데, 구체적으로 2개 ~ 6개로 형성되는 것이 바람직하다.

이는 바텀플런저(10)와 바디(20)의 크기에 따라 달라지게 적용되도록 하기 위한 것이다.

또한, 상기 바디(20)의 내부에 위치하고, 바텀플런저(10)의 일부분을 지지하며 탄성력을 부여하는 탄성체(30)는 통상의 코일스프링의 형태가 적용될 수 있으며, 탄성력을 유지하는 라바재질 또는 합성수지로 형성되는 링형상의 코일 등이 적용될 수 있다.

10 : 바텀플런저 11 : 헤드
11a : 가이드라인 12 : 하부빔
13 : 상부빔 14 : 링
15 : 단자링 20 : 바디
21 : 상부빔인입부 22 : 바디팁
23 : 돌기 30 : 탄성체

Claims

커넥터 테스트용 멀티 프로브핀에 있어서,
탐지를 위한 단자에 접촉하여 전기적인 특성을 탐지하기 위해, 구형상으로 형성되고 접지단자에 접촉하는 헤드(11)와 상기 헤드(11)의 일측에 결합되어 지지하는 하부빔(12)과 상기 하부빔(12)에 연장되어 형성되는 상부빔(13) 및 상기 상부빔(13)의 일측에 링(14)이 형성되고, 상기 하부빔(12)의 외주면에는 헤드(11)와 이격되고 하부빔(12)의 외주면으로 돌출되는 형태로 형성되어, 클립단자와 같이 내부에 검침을 위해 내삽될 때, 클립단자에 접촉되도록 하는 단자링(15)이 구비되는 바텀플런저(10); 와
상기 바텀플런저(10)가 결합되고, 탑플런저의 역할을 하기 위해 관체 형상으로 형성되고, 일측에는 상부빔(13)이 인입되는 상부빔인입구(21)가 형성되며, 타측면에는 바디(20)의 직경보다 작은 바디팁(22)이 형성되는 바디(20); 및
상기 바디(20)에 내삽되며, 바텀플런저(10)에 탄성을 제공하는 탄성체(30)로 구성되는 것을 특지으로 하는 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀.
삭제
제 1항에 있어서,
상기 헤드(11)의 상측면에는 검사대상이 되는 단자의 크기에 따른 위치를 설정할 수 있도록 하는 가이드라인(11a)이 더 형성되는 것을 특징으로 하는 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀.
제 1항에 있어서,
상기 상부빔(13)은 하부빔(12) 보다 직경이 작게 형성되도록 하여, 내측으로 함몰되도록 형성되는 것을 특징으로 하는 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀.
제 1항에 있어서,
상기 바텀플런저(10)가 바디(20)에 결합될 때, 상부빔(13) 부분이 바디(20)의 일부분에 내삽되도록 하고, 바텀플런저(10)가 바디(20)로 부터 이탈되어 분리되거나 일정깊이 이상 내삽되지 못하도록 상부빔(13) 부분에 인입되도록 하는 돌기(23) 바디(20)의 일측에 더 형성되는 것을 특징으로 하는 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀.