KR101756586B1 - A Test Device Contacting Each Connecter Of The Multi-connecter Display Module Simultaneously - Google Patents
A Test Device Contacting Each Connecter Of The Multi-connecter Display Module Simultaneously Download PDFInfo
- Publication number
- KR101756586B1 KR101756586B1 KR1020160047616A KR20160047616A KR101756586B1 KR 101756586 B1 KR101756586 B1 KR 101756586B1 KR 1020160047616 A KR1020160047616 A KR 1020160047616A KR 20160047616 A KR20160047616 A KR 20160047616A KR 101756586 B1 KR101756586 B1 KR 101756586B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- connector
- contactor
- display module
- moving
- test
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
- G01R31/2813—Checking the presence, location, orientation or value, e.g. resistance, of components or conductors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
본 발명은 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치에 대한 것이다. 본 발명에 의한 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치는, 듀얼 커넥터의 이미지를 촬영하는 카메라와; 상기 카메라에서 촬영한 영상으로부터 제1커넥터와 제2 커넥터를 식별하는 커넥터 식별수단과; 상기 제 1 커넥터 기준위치에 대응하는 보정치 및 상기 제 2 커넥터 기준위치에 대응하는 보정치를 산출하는 듀얼 보정수단과; 상기 제 1 커넥터에 대한 컨택을 수행하는 제 1 컨택터와; 상기 제 2 커넥터에 대한 컨택을 수행하는 제 2 컨택터와; 상기 제 1 컨택터를 상기 듀얼 보정수단에서 생성된 보정치에 따라 상기 제 1 커넥터의 위치로 이동시키는 제 1 컨택터 이동수단과; 상기 제 2 컨택터를 상기 듀얼 보정수단에서 생성된 보정치에 따라 상기 제 2 커넥터의 위치로 이동시키는 제 2 컨택터 이동수단과; 상기 디스플레이 모듈에 대한 테스트를 수행하며, 테스트 결과를 출력하는 테스트수단과; 상기 각 부의 동작 제어를 수행하는 제어수단을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to a multi-connector simultaneous contact test apparatus for a display module. A multi-connector simultaneous contact test apparatus of a display module according to the present invention comprises: a camera for photographing an image of a dual connector; Connector identification means for identifying the first connector and the second connector from the image photographed by the camera; A dual correction means for calculating a correction value corresponding to the first connector reference position and a correction value corresponding to the second connector reference position; A first contactor for performing contact with the first connector; A second contactor for performing contact with the second connector; First contactor moving means for moving the first contactor to a position of the first connector in accordance with the correction value generated by the dual correction means; Second contactor moving means for moving the second contactor to the position of the second connector in accordance with the correction value generated by the dual correction means; Test means for performing a test on the display module and outputting a test result; And control means for controlling the operation of each of the units.
Description
본 발명은 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치에 대한 것으로, 더욱 상세하게는, 듀얼 커넥터를 가지는 터치스크린 디스플레이 모듈에 대하여 자동으로 각 컨택터를 동시에 컨택하여 테스트를 수행하는 것이 가능한 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치를 구현하는 것이다.The present invention relates to a multi-connector simultaneous contact tester for a display module, and more particularly, to a multi-connector simultaneous contact tester for a display module, Connector simultaneous contact test device.
도 1의 기존 듀얼 커넥터를 가지는 터치스크린의 디스플레이 모듈에서, 영상 디스플레이 관련 커넥터와 터치관련 커넥터에 컨택하여 테스트를 수행하는 경우에 기존 장치는 영상디스플레이 커넥터와 터치 커넥터를 별도로 컨택하여 별개의 독립한 과정으로 테스트를 수행할 수 있었다.1, when a test is performed by making contact with a video display related connector and a touch related connector in a display module of a touch screen having an existing dual connector, the existing device separately contacts the video display connector and the touch connector, To perform the test.
하지만, 듀얼 커넥터를 가지는 터치스크린의 디스플레이장치들이 일부 특수한 기능 또는 성능을 제공하기 위해 터치 커넥터와 디스플레이 커넥터가 동시에 컨택하여야만 디스플레이 모듈에 대한 테스트가 가능하도록 구성된 장치들이 등장하게 되었다. However, in order to provide some special functions or performance, a display device of a touch screen having a dual connector has to be connected to a touch connector and a display connector at the same time so that devices configured to be tested for a display module have emerged.
기존 듀얼 커넥터를 가지는 터치스크린의 디스플레이 모듈(300)에서, 영상 디스플레이 관련 커넥터와 터치관련 커넥터를 동시에 컨택하여 테스트를 수행하는 경우에는 디스플레이 모듈마다 패널 사이즈, 커넥터의 크기 및 위치 두 커넥터 간의 상호 위치가 제각각이며, 도 2에 도시된 바와 같이 하나의 이미지를 보정하는 알고리즘은 일반화 되어 있으나 2개 이상의 커넥터에 대한 이미지 보정알고리즘은 부재인 상태이다. In a
따라서, 종래 듀얼 커넥터를 동시 컨택해서 테스트를 해야하는 경우는, 상기 각 커넥터에 컨택을 위한 컨택터와 카메라 등의 장비 설치공간의 부족 및 이미지의 보정 알고리즘의 부재로 자동화가 곤란하며 수동 작업에 의해 동시 컨택을 하여 테스트를 진행하여 왔으나 시간과 비용을 상승시키며 작업 정확도도 떨어지는 문제가 있어왔다.Therefore, when the conventional dual connector needs to be tested by simultaneous contact, automation is difficult due to the lack of space for installing contactors, cameras, There has been a problem of increasing the time and cost and lowering the accuracy of the work.
본 발명의 목적은, 듀얼 커넥터를 가지는 터치스크린 디스플레이 모듈에 대하여 자동으로 각 컨택터를 동시에 컨택하여 테스트를 수행하는 것이 가능한 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치를 구현하는 것이다.It is an object of the present invention to provide a multi-connector simultaneous contact test apparatus for a display module capable of automatically testing each contactor simultaneously with a touch screen display module having a dual connector to perform a test.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치는, 듀얼 커넥터의 이미지를 촬영하는 카메라와; 상기 카메라에서 촬영한 영상으로부터 제1커넥터와 제2 커넥터를 식별하는 커넥터 식별수단과; 상기 제 1 커넥터 기준위치에 대응하는 보정치 및 상기 제 2 커넥터 기준위치에 대응하는 보정치를 산출하는 듀얼 보정수단과; 상기 제 1 커넥터에 대한 컨택을 수행하는 제 1 컨택터와; 상기 제 2 커넥터에 대한 컨택을 수행하는 제 2 컨택터와; 상기 제 1 컨택터를 상기 듀얼 보정수단에서 생성된 보정치에 따라 상기 제 1 커넥터의 위치로 이동시키는 제 1 컨택터 이동수단과; 상기 제 2 컨택터를 상기 듀얼 보정수단에서 생성된 보정치에 따라 상기 제 2 커넥터의 위치로 이동시키는 제 2 컨택터 이동수단과; 상기 제 1 컨택터 및 상기 제 2 컨택터가 각각 상기 제 1 커넥터 및 상기 제 2 커넥터에 접속된 상태에서 디스플레이 모듈에 대한 테스트를 수행하며 테스트 결과를 출력하는 테스트수단과; 상기 각 부의 동작 제어를 수행하는 제어수단을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a multi-connector simultaneous contact testing apparatus for a display module, including: a camera for capturing an image of a dual connector; Connector identification means for identifying the first connector and the second connector from the image photographed by the camera; A dual correction means for calculating a correction value corresponding to the first connector reference position and a correction value corresponding to the second connector reference position; A first contactor for performing contact with the first connector; A second contactor for performing contact with the second connector; First contactor moving means for moving the first contactor to a position of the first connector in accordance with the correction value generated by the dual correction means; Second contactor moving means for moving the second contactor to the position of the second connector in accordance with the correction value generated by the dual correction means; Test means for performing a test on the display module while the first contactor and the second contactor are respectively connected to the first connector and the second connector and outputting a test result; And control means for controlling the operation of each of the units.
상기 제 1 컨택터 이동수단 및 제 2 컨택터 이동수단은 수평이동 전후 이동 및 회전이동을 위한 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.The first contactor moving means and the second contactor moving means are provided with means for moving forward and backward and moving rotationally.
상기 제 1 컨택터 및 상기 제 2 컨택터는 각각 테스트 대상 디스플레이 모듈의 듀얼 커넥터의 종류·규격에 따라 대응하는 컨택터를 채용하기 위하여 탈착가능하게 설치되는 것을 특징으로 한다.And the first contactor and the second contactor are detachably installed in order to adopt a corresponding contactor according to the type and standard of the dual connector of the test target display module.
상기 제 1 커넥터 또는 상기 제 2 커넥터에 대한 식별이 되지 않거나 각각의 위치가 소정범위를 벗어난 경우에는 상기 디스플레이 모듈 자체를 불량으로 처리하는 품질관리 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.And quality management means for processing the display module itself to be defective when the first connector or the second connector is not identified or each position is out of a predetermined range.
상기 제 1 컨택터 이동수단 및 상기 제 2 컨택터 이동수단의 동작시 상호 충돌방지를 위한 충돌방지 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.And an anti-collision means for preventing mutual collision during operation of the first contactor moving means and the second contactor moving means.
상기 충돌방지 수단은 상기 제1 컨택터 및 상기 제 2 컨택터의 X·Y 방향 및 회전 이동 가능범위 안에서 각각의 X·Y 방향 및 회전 이동순서를 조정하는 것에 충돌을 방지할 수 있는 경로를 연산하여 제공하는 것을 특징으로 한다.Wherein the collision avoiding means calculates a path capable of preventing a collision from being adjusted in the respective X, Y directions and rotational movement order within the XY direction and the rotatably movable range of the first contactor and the second contactor And the like.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치는, 듀얼 커넥터의 이미지를 촬영하는 카메라와; 상기 카메라에서 촬영한 영상으로부터 제1커넥터와 제2 커넥터를 식별하는 커넥터 식별수단과; 상기 제 1 커넥터 기준위치에 대응하는 보정치 및 상기 제 2 커넥터 기준위치에 대응하는 보정치를 산출하는 듀얼 보정수단과; 상기 듀얼보정수단에서 산출한 보정치에 따라 이동하여 상기 제 1 커넥터 및 상기 제 2 커넥터에 컨택하고 상기 디스플레이 모듈에 대한 테스트를 수행하는 컨택수단과; 상기 각 부의 동작 제어를 수행하는 제어수단을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a multi-connector simultaneous contact testing apparatus for a display module, including: a camera for capturing an image of a dual connector; Connector identification means for identifying the first connector and the second connector from the image photographed by the camera; A dual correction means for calculating a correction value corresponding to the first connector reference position and a correction value corresponding to the second connector reference position; Contact means moving in accordance with the correction value calculated by the dual correction means and making contact with the first connector and the second connector and performing a test on the display module; And control means for controlling the operation of each of the units.
상기 컨택수단은, 상기 제 1 커넥터에 컨택하는 제 1 컨택터와; 상기 제 1 컨택터를 상기 듀얼보정수단에서 산출한 보정치에 따라 제 1 커넥터에 컨택가능한 위치로 위치이동시키는 제 1 컨택터 이동수단과; 상기 제 2 커넥터에 컨택하는 제 2 컨택터와; 상기 듀얼보정수단에서 산출한 보정치에 따라 제 2 커넥터에 컨택가능한 위치로 위치이동시키는 제 2 컨택터 이동수단과; 상기 제 1 컨택터가 상기 제 1 커넥터에 접속되고 상기 제 2 컨택터가 상기 제 2 커넥터에 컨택된 상태에서 상기 디스플레이 모듈에 대한 테스트를 수행하는 테스트 수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.The contact means includes a first contactor for making contact with the first connector; First contactor moving means for moving the first contactor to a position capable of contacting the first connector in accordance with the correction value calculated by the dual correction means; A second contactor for contacting the second connector; Second contactor moving means for moving the contactor to a position capable of contacting the second connector in accordance with the correction value calculated by the dual correction means; And test means for performing a test on the display module with the first contactor connected to the first connector and the second contactor connected to the second connector.
상기 제 1 컨택터 이동수단 및 상기 제 2 컨택터 이동수단의 동작시 상호 충돌방지를 위한 충돌방지 수단을 더 구비하는 것을 특징으로 한다.The first contactor moving means and the second contactor moving means may be provided with an anti-collision means for preventing mutual collision during operation of the first contactor moving means and the second contactor moving means.
상기 충돌방지 수단은 상기 제1 컨택터 및 상기 제 2 컨택터의 X·Y 방향 및 회전 이동 가능범위 안에서 각각의 X·Y 방향 및 회전 이동순서를 조정하는 것에 충돌을 방지할 수 있는 경로를 연산하여 제공하는 것을 특징으로 한다.Wherein the collision avoiding means calculates a path capable of preventing a collision from being adjusted in the respective X, Y directions and rotational movement order within the XY direction and the rotatably movable range of the first contactor and the second contactor And the like.
본 발명은 상기와 같은 구성에 의해 터치스크린의 경우처럼 듀얼 커넥터를 가지는 디스플레이 모듈에 대하여 자동으로 각 커넥터를 동시에 컨택하여 테스트를 수행하는 것이 가능하므로 기존 수동작업에 의하던 공정을 자동화할 수 있어 생산시간 및 비용을 절감하고 테스트의 정확도를 높이는 것이 가능하다.According to the present invention, since it is possible to perform testing by automatically contacting each connector to a display module having a dual connector as in the case of a touch screen, the present invention can automate a process of a conventional manual operation It is possible to save time and money and increase the accuracy of the test.
또한, 자동화된 시스템에 의해 듀얼 커넥터의 구조 및 성능불량을 검출하여 라인에서 배제할 수 있으므로 생산 제품의 품질을 향상시킬 수 있게 된다. In addition, since the structure and performance defect of the dual connector can be detected and excluded from the line by the automated system, the quality of the produced product can be improved.
도 1은 일반적인 듀얼 커넥터를 구비한 디스플레이 모듈을 예시한 평면도.
도 2는 1개의 커넥터 이미지를 보정하는 원리 화면을 예시한 개요도.
도 3은 본 발명에 의한 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치의 바람직한 실시예의 구성을 예시한 제어구성도.
도 4는 본 발명 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치의 테스트 대상이 되는 디스플레이 모듈의 듀얼 커넥터를 예시한 도면.
도 5는 본 발명에 의한 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치에 의해 듀얼 커넥터의 위치보정이 수행되는 과정을 예시한 개념도.
도 6은 본 발명에 의한 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치에 의해 제 1 컨택터의 위치 이동과정을 예시한 개념도.
도 7은 본 발명에 의한 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 자이에 의해 제 2 컨택터의 위치 이동과정을 예시한 개념도.
도 8은 본 발명에 의한 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치의 다른 실시예의 구성을 예시한 제어구성도.
도 9는 본 발명에 의한 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치에 의해 수행되는 디스플레이 모듈 테스트 과정을 예시한 흐름도.1 is a plan view illustrating a display module having a general dual connector.
2 is a schematic diagram illustrating a principle screen for correcting one connector image;
3 is a control configuration diagram illustrating a configuration of a preferred embodiment of a multi-connector simultaneous contact test apparatus of a display module according to the present invention.
4 is a view illustrating a dual connector of a display module to be tested in the multi-connector simultaneous contact test apparatus of the display module of the present invention.
5 is a conceptual diagram illustrating a process of performing position correction of a dual connector by a multi-connector simultaneous contact tester of a display module according to the present invention.
6 is a conceptual diagram illustrating a process of moving a first contactor by a multi-connector simultaneous contact tester of a display module according to the present invention.
7 is a conceptual diagram illustrating a process of moving a second contactor by a multi-connector simultaneous contact test jig of a display module according to the present invention;
8 is a control configuration diagram illustrating a configuration of another embodiment of a multi-connector simultaneous contact test apparatus of a display module according to the present invention.
FIG. 9 is a flowchart illustrating a display module testing process performed by the multi-connector simultaneous contact test apparatus of the display module according to the present invention. FIG.
이하 상기와 같은 구성을 갖는 본 발명에 의한 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치의 바람직한 실시예의 구성을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, the configuration of a preferred embodiment of the multi-connector simultaneous contact test apparatus of the display module according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 3에 도시된, 본 발명의 실시예에 의한 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치는, 듀얼 커넥터를 영상을 획득하는 이미징수단과, 듀얼 커넥터를 식별하고 위치 보정데이터를 생성하는 위치 보정수단(120)과, 듀얼 커넥터에 컨택하는 컨택수단(200)과, 디스플레이 모듈을 테스트하는 테스트수단(130)과, 각 부의 동작 제어를 수행하는 제어수단(150)을 포함한다. 3, the multi-connector simultaneous contact test apparatus of the display module according to the embodiment of the present invention includes imaging means for acquiring an image of a dual connector, position correcting means for identifying the dual connector and generating position correction data A
본 실시예의 이미징수단은, 도 4와 같이 듀얼 커넥터를 촬영하여 듀얼 커넥터 이미지를 생성하는 카메라(110)와 테스트 스테이지의 조명(115)을 조절하는 조명조절수단(115) 및 카메라(110)의 촬영위치 설정을 위한 카메라 이동수단(113)을 포함하며, 듀얼 커넥터의 구조에 따라 적절한 이미지를 생성할 수 있도록 카메라 렌즈와 해상도 및 밝기 등을 변경·조절할 수 있도록 구성된다. The imaging means of the present embodiment includes a
본 실시예의 위치 보정수단(120)은, 이미징수단에서 얻은 이미지로부터 제1커넥터(310)와 제2 커넥터(320)를 식별하는 커넥터 식별수단(121)과, 상기 제 1 커넥터(310) 기준위치에 대응하는 보정치 및 상기 제 2 커넥터(320) 기준위치에 대응하는 보정치를 산출하는 듀얼 보정수단(125)을 포함한다.The position correcting means 120 of the present embodiment includes a
본 실시예의 제 1 커넥터(310)는 디스플레이 관련 커넥터로서 RGBHV 커넥터 등이 사용될 수 있으며, 제 2 커넥터(320)는 터치관련 커넥터로서 LVDS 커넥터 등이 사용될 수 있고, 스마트폰의 경우는 MIPI 커넥터를 적용할 수 있다. 하지만, 테스트 대상에 따라 제 1 또는 제 2 커넥터(310,320)의 종류·용도·규격·상대위치 등은 다양하게 변경될 수 있는 것이며 상기 예시에 한정되지 않는다.The
본 실시예의 카메라(110)는 테스트 스테이지(Test Stage)에 놓인 듀얼 커넥터를 촬영하여 위치 보정수단(120)으로 입력하며, 본 실시예의 커넥터 식별수단(121)은 기 입력된 제 1 및 제 2 커넥터(310,320)의 종류, 규격 및 상대 위치 등에 대한 정보를 이용하여 제 1 및 제 2 커넥터(310,320)를 식별한다. 본 실시예의 듀얼 보정수단은 제 1 커넥터(310) 및 제 2 커넥터(320) 각각에 대응하는 기준위치로부터 각각의 보정치를 산출한다.The
예컨대, 도 5에 도시된 바와 같이 제 1 커넥터(310)의 기준위치가 (X1, Y1, θ1)이고, 제 1 컨택터(210)를 이동시켜야 하는 이송량이 (ΔX1, ΔY1, Δθ1)이므로 제 1 커넥터(310)의 위치 보정치는 (X1+ΔX1, Y1+ΔY1, θ1+Δθ1)로 산출할 수 있다. 또한, 제 2 커넥터(320)의 기준위치는 (X2,Y2,θ2)이고, 제 2 컨택터(220)를 이동시켜야 하는 이송량이 (ΔX2, ΔY2, Δθ2)이므로 제 2 커넥터(320)의 위치 보정치는 (X2+ΔX2, Y2+ΔY2, θ2+Δθ2)로 산출할 수 있다.5, when the reference position of the
본 실시예에서는, 제 1 및 제 2 커넥터(310,320)는 각각 X·Y 방향의 보정치 ΔX,ΔY 외에도 기준위치에 대하여 일정각도 회전된 상태일 수도 있으므로 이 경우에는 회전각도에 대한 보정치 Δθ가 추가된다. In this embodiment, the first and
본 실시예의 위치 보정수단(120)은 컴퓨터프로그램으로 제작되어 메모리에 저장되며, 제어수단(150)의 호출에 의해 호출되어 제 1 및 제 2 커넥터(310,320)의 이미지 식별 및 보정치 산출을 수행하도록 구현되지만, 다른 실시예에서 위치 보정수단은 별개의 모듈 또는 IC칩으로 제작될 수도 있다.The position correction means 120 of the present embodiment is constructed by a computer program and stored in a memory and is called by a call of the control means 150 to perform image identification and correction value calculation of the first and
한편, 본 발명의 실시예에 의한 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치는 위치 보정수단(120)에서 제 1 또는 제 2 커넥터(310,320)가 식별되지 않거나 식별이 된다 하여도 기준치에 대한 위치 보정가능 범위를 벗어나는 경우에는 제 1 및 제 2커넥터(310,320)에 대한 컨택 및 테스트를 하지 않고 바로 생산라인에서 배제하는 품질관리수단을 더 구비하는 것이 가능하다.Meanwhile, in the multi-connector simultaneous contact test apparatus of the display module according to the embodiment of the present invention, even if the first or
본 실시예의 컨택수단(200)은, 상기 제 1 커넥터(310)에 대한 컨택을 수행하는 제 1 컨택터(210)와, 상기 제 2 커넥터(320)에 대한 컨택을 수행하는 제 2 컨택터(220)와, 상기 제 1 컨택터(210)를 상기 듀얼 보정수단(125)에서 생성된 보정치에 따라 상기 제 1 커넥터(310)에 컨택가능 위치로 이동시키는 제 1 컨택터 이동수단(201)과, 상기 제 2 컨택터(220)를 상기 듀얼 보정수단(125)에서 생성된 보정치에 따라 상기 제 2 커넥터(320)에 컨택가능한 위치로 이동시키는 제 2 컨택터 이동수단(202)을 포함한다.The contact means 200 of the present embodiment includes a
본 실시예의 제 1 컨택터(210)는 제 1 커넥터(310)에 컨택하여 디스플레이 모듈(300)의 디스플레이 부분에 대한 테스트 수행 및 불량여부 판정을 가능케 하기 위한 것으로 제 1 컨택터(310)는 제 1 커넥터(210)에 대응하는 핀블록(PIN BLOCK)과 다수 핀을 포함하여 구성될 수 있다. The
본 실시예의 제 2 컨택터(220)는 제 2 커넥터(320)에 컨택하여 디스플레이 모듈(300)의 터치 부분에 대한 테스트 수행 및 불량여부 판정을 수행하기 위한 것으로, 제2 컨택터(220)는 제 2 커넥터(320)에 대응하는 핀블록(PIN BLOCK)과 다수 핀을 포함하여 구성될 수 있다.The
본 실시예의 제 1 컨택터(210) 및 제 2 컨택터(220)는 각각 탈착 가능하게 설치되는 것으로 다른 종류/구조/규격/기능/성능의 커넥터에 대한 테스트를 수행할 때에는 그 커넥터에 대응하는 컨택터로 교체하는 것에 의해 다양한 종류의 디스플레이 모듈(300)에 대한 테스트를 수행하는 것이 가능해진다.The
본 실시예의 제 1 컨택터 이동수단(201)은 위치 보정수단(120)에서 생성된 제 1 커넥터(310)에 대한 보정치에 따라 제 1 컨택터(210)를 제 1 커넥터(310)에 컨택할 수 있는 위치로 이동시키기 위한 것이며, 전후 좌우 및 회전방향의 이동이 가능한 구조이다.The first
본 실시예의 제 2 컨택터 이동수단(202)은 위치보정수단(120)에서 생성된 제 2 커넥터(320)에 대한 보정치에 따라 제 2 컨택터(220)를 제 2 커넥터(320)에 컨택할 수 있는 위치로 이동시키기 위한 것이며, 전후 좌우 및 회전방향의 이동이 가능한 구조이다.The second contactor moving means 202 of the present embodiment contacts the
본 발명의 실시예의 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치는 상기 제 1 컨택터(210) 및 제 2 컨택터(220)가 이동하는 과정에 상호 충돌이 발생할 가능성이 있으므로 이를 방지하기 위한 충돌방지수단(160)을 구비한다.Since the multi-connector simultaneous contact tester of the display module of the embodiment of the present invention may cause mutual collision during the movement of the
본 실시예의 충돌방지수단(160)은 제 1 컨택터 이동수단(201) 및 제 2 컨택터 이동수단(202)의 이동순서에 따른 충돌발생 여부를 연산하여, 다양한 이동경로 및 순서를 반복연산하여 충돌을 방지할 수 있는 최선의 경로와 순서를 선택하여 제 1 컨택터(210)와 제2컨택터(220)를 이동시킨다. The collision avoiding means 160 of the present embodiment calculates whether or not a collision occurs in accordance with the movement sequence of the first
예컨대, 제 1 컨택터(210)와 제 2 컨택터(220)를 동시적으로 이동시켜도 충돌이 발생하지 않는 경우도 있지만, 경우에 따라 각각을 동시에 이동시에는 동작공간을 확보하기 곤란하여 충돌이 발생하지만, 연산에 따른 소정순서로 X·Y 방향 및 회전방향(θ)이동을 하는 경우에는 충돌이 발생하지 않는 경우도 있으므로, 본 실시예의 충돌방지수단(160)은 각 경로에 대한 연산을 하여, 충돌을 발생시키기 않고 제 1 컨택터(210) 및 제 2 컨택터(220)를 각각 제 1 커넥터(310) 및 제 2 커넥터(320)의 위치로 안전하게 이동시킬 수 있는 경로를 산출한다.For example, even if the
한편, 본 실시예의 충돌방지수단(160)은 충돌방지 가능한 경로를 얻기 위해서 제 1 및 제 2컨택터(210,220)의 이동가능범위 안에서 전·후진(Y 방향) 좌·우 이동(X 방향), 회전이동(θ) 중 어느 하나 이상을 1회 이상 수행할 수도 있다.In order to obtain a collision-avoidable path, the collision avoiding means 160 of the present embodiment is configured to move forward and backward (Y direction) left and right movement (X direction) within the movable range of the first and
예컨대, 본 실시예에서는 듀얼 보정수단(125)에 의해 제 1 커넥터(310) 및 제 2 커넥터(320)에 대한 보정치가 산출되면, 충돌방지수단(160)은 제어수단(150)의 제어에 따라 충돌방지 프로그램을 호출하며 상기 듀얼 보정수단(125)의 보정치를 이용하여 충돌방지가 가능한 경로를 산출하며, 제어수단(150)의 제어에 따라 제 1 컨택터 이동수단(201) 및 제 2 컨택터 이동수단(202)은 그 경로에 의해 상기 제 1 컨택터(210) 및 제 2 컨택터(220)를 이동시켜 각각 제 1 커넥터(310) 및 제 2 커넥터(320)에 접속되게 한다. For example, in this embodiment, when the correction values for the
본 실시예의 충돌방지수단(160)은 컴퓨터 프로그램으로 제작되어 메모리에 저장될 수 있고, 별개의 모듈이나 IC 칩으로 형성되어 장착되는 것도 가능하고, 상기 컨택수단(200)에 일체로 구비되어 자체 연산을 수행하고 그 결과를 이용하여 제 1 컨택터(210) 및 제 2 컨택터(220)를 이동시키도록 구성될 수도 있다.The collision avoiding unit 160 of the present embodiment may be manufactured as a computer program and stored in a memory, or may be formed as a separate module or an IC chip, and may be mounted integrally with the
본 실시예의 테스트 수단(130)은 제어수단(150)의 제어에 따라 메모리에 저장된 테스트 프로그램을 호출하며, 제 1 컨택터(210) 및 제 2 컨택터(220)를 통해 테스트 대상 디스플레이 모듈(300)과 신호를 교환하며, 수신된 신호를 분석하여 디스플레이 모듈(300)의 정상동작 여부를 검출하고, 그 디스플레이 모듈(300)에 대한 테스트 결과가 일정기준에 미달하는 경우에는 그 디스플레이 모듈(300) 기준미달이나 불량임을 알리는 정보를 출력하여 해당 디스플레이 모듈(300)이 라인에서 제외할 수 있도록 한다.The test means 130 of the present embodiment calls the test program stored in the memory under the control of the control means 150 and transmits the test program to the test
본 발명의 다른 실시예에서 테스트 수단(130)은 별개의 모듈이나 IC 칩으로 제작될 수 있으며, 도 8에 도시된 바와 같이 실시예에 따라 테스트 수단은(130) 상기 컨택수단(200)에 일체로 구비되어 자체 테스트를 수행하고 그 결과를 상기 제어수단(150)으로 입력하도록 구성될 수도 있다.In another embodiment of the present invention, the test means 130 may be fabricated as a separate module or IC chip, and as shown in FIG. 8, the test means 130 may be integrally formed with the contact means 200 And may be configured to perform a self-test and to input the result to the control means 150.
본 발명의 실시예에서 제어수단(150)은 디스플레이 모듈(300)이 테스트 스테이지에 놓여지면 디스플레이 모듈(300)에 대해 원활하게 테스트가 진행될 수 있도록 상기 각 부를 제어한다. 즉, 제어수단(150)은 카메라(110)의 촬영과, 제 1 커넥터(310) 및 제 2 커넥터(320)의 식별과 위치보정, 제 1 컨택터(210) 및 제 2 컨택터(220)의 위치이동 및 테스트 수단(130)에 의한 테스트에 대한 순차 제어를 수행하며, 테스트가 완료된 경우에는 테스트 결과를 출력하여 불량품이 라인에서 배제될 수 있도록 한다.In the embodiment of the present invention, the control means 150 controls each of the units so that the test module can be smoothly tested with respect to the
다음은 본 발명에 의한 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치에 의해 디스플레이 모듈에 대한 테스트가 진행되는 과정을 살펴보면 다음과 같다.Next, the process of testing the display module by the multi-connector simultaneous contact test apparatus of the display module according to the present invention will be described.
테스트 대상 디스플레이 모듈(300)을 구성하는 제 1 커넥터(310) 및 제 2 커넥터(320)의 종류· 규격·상대위치·각각에 대한 기본위치 정보를 포함한 데이터를 입력하고, 적절한 이미징이 가능하도록 카메라(110) 및 조명을 조절하여 카메라(110)의 위치·해상도·테스트 스테이지의 밝기 등을 조정하며, 제 1 커넥터(310) 및 제 2커넥터(320)에 각 대응하는 제 1 컨택터(210) 및 제 2 컨택터(220)를 컨택수단(200)에 설치하고 위치보정 프로그램, 충돌방지프로그램 및 테스트 프로그램 등을 인스톨하여 시스템 세팅을 수행한다(제700단계).Data including the types, specifications, relative positions, and basic position information of the
테스트 스테이지에 테스트 대상 디스플레이 모듈(300)이 놓여지면, 제어수단(150)의 제어에 따라 카메라(110)가 듀얼 커넥터를 촬영하여 듀얼 커넥터 이미지를 위치 보정수단(120)으로 입력한다(제701단계,제703단계).When the test
커넥터 식별수단(121)은 제어수단(150)의 제어에 따라 시스템에 기입력된 제 1 커넥터(310) 및 제 2 커넥터(320)에 대한 상세정보에 근거하여 듀얼 커넥터 이미지로부터 제 1 커넥터(310) 및 제 2 커넥터(320)를 식별한다(제705단계).The connector identification means 121 identifies the
커넥터 식별수단(121)에 의해 제 1 커넥터(310) 및 제 2 커넥터(320)가 정상적으로 식별되는 경우에는 해당 정보를 듀얼 보정수단(125)으로 입력하며, 커넥터 식별수단(121)에 의해 제 1 커넥터(310) 및 제 2 커넥터(320) 중 어느 하나라도 식별되지 않는 경우에는 해당 디스플레이 모듈을 불량으로 처리하고 차회 디스플레이 모듈(300)에 대한 절차가 개시된다(제707단계,제709단계). When the
듀얼 보정수단(125)은 제어수단(150)의 제어에 따라 시스템에 기입력된 제 1 커넥터(310) 및 제 2 커넥터(320)에 대한 상세정보 및 제 1 커넥터(310) 및 제 2 커넥터(320)의 기준위치 정보에 근거하여 각각에 대한 위치 보정치를 산출한다(제711단계).The dual correcting
상기 위치 보정치가 기준범위(예컨대, 도 6과 7에서 점선 박스)를 벗어난 경우에는 불량처리 하고 차회의 디스플레이 모듈(300)에 대한 테스트 절차를 진행하며, 위치 보정치가 기준범위 이내인 경우에는 제 1 커넥터(310) 및 제 2 커넥터(320)에 대한 보정치를 컨택수단(200)으로 입력한다(제713단계,제709단계).If the position correction value is out of the reference range (for example, a dotted box in Figs. 6 and 7), the process is defective and the test procedure for the
제어수단(150)의 제어에 따라 컨택수단(200)은 상기 위치 보정수단(120)으로부터 제 1 커넥터(310) 및 제 2 커넥터(320)에 대한 보정치를 입력받으며, 충돌방지수단(160)은 입력된 제 1 커넥터(310) 및 제 2 커넥터(320)에 대한 보정치로부터 제 1 및 제 2컨택터(210,220)를 이동시키기 위한 경로를 결정하는 연산을 수행한다(제715단계).The contact means 200 receives the correction values for the
예컨대, 제 1 컨택터(210)를 X 방향 반대쪽으로 우선 움직이고, 제 2 컨택터(220)를 Y 방향으로 이동시키고 소정각도 회전시키며, 제 1 컨택터(210)를 Y방향으로 이동시키고 제2 컨택터(220)를 X 방향으로 이동시키고 나서 제 1 컨택터(210)를 X 방향으로 이동하는 것과 같은 이동순서에 대한 연산을 수행하게 된다. For example, the
따라서, 기준위치에서 제 1 컨택터(210) 및 제 2 컨택터(220)가 바로 동시에 이동하는 경우에는 충돌이 발생하게 되지만, 제 1 컨택터(210) 및 제 2 컨택터(220)의 이동가능범위 내에서 전후좌우(X-Y) 방향 또는 회전(θ)방향 이동하며 타 컨택터의 이동공간을 확보해주고 나서 자신의 위치이동을 하므로 컨택수단(200)의 컨택가능 범위가 현저하게 넓어지므로 동시 컨택을 해야 하는 듀얼 커넥터 디스플레이 모듈(300)에 대한 원활한 자동화 테스트가 가능해진다.Therefore, when the
제어수단(150)의 제어에 따라 제 1 컨택터 이동수단(201) 및 제 2 컨택터 이동수단(202)이 동작하여 제 1 컨택터(210)가 제 1 커넥터(310)에 접속되게 하고, 제 2 컨택터(220)가 제 2 커넥터(320)에 접속되게 한다(제717단계).The first contactor moving means 201 and the second contactor moving means 202 operate under the control of the control means 150 so that the
제어수단(150)의 제어에 따라 테스트 수단(130)은 디스플레이 모듈(300)에 대한 테스트 절차를 수행하며, 테스트 결과를 토대로 불량품이 라인에서 제어되도록 테스트 결과를 출력한다(제719단계,제721단계)The test means 130 performs the test procedure for the
테스트 수단(130)에 의한 테스트 결과 해당 디스플레이 모듈이 정상으로 판정되는 경우에는 다음 생산공정으로 이송되며, 테스트 수단(130)에 의한 테스트 결과가 불량품이면 생산라인에서 제거된다(제723단계,제725단계,제727단계).If the test result by the test means 130 is determined to be normal, it is transferred to the next production process. If the test result by the test means 130 is a defective product, it is removed from the production line (
차회의 디스플레이 모듈(300)이 테스트 스테이지에 놓여지며, 차회의 디스플레이 모듈(300)에 대한 자동화 테스트 절차가 진행된다(제701단계 내지 제727단계).The
본 발명의 권리범위는 상기 실시예에 한정되는 것이 아니라 청구범위에 기재된 사항에 의해 정해지며, 청구범위 기재사항과 균등범위에서 당업자가 행한 다양한 변형과 개작을 포함함은 자명하다.It is obvious that the scope of the present invention is not limited to the above embodiments but is defined by the matters set forth in the claims and includes various modifications and alterations made by those skilled in the art to the equivalents of the claims.
110,510......카메라 113,513......카메라 제어수단
115,515......조명 116,516......조명제어수단
120,520......위치 보정수단 121,521......커넥터 식별수단
125,525......듀얼 보정수단 130,630......테스트 수단
150,550......제어수단 160,560......충돌방지수단
200,600......컨택수단 201,601......제 1 컨택터 이동수단
202,602......제 2 컨택터 이동수단 210,610......제 1 컨택터
220,620......제 2 컨택터 300..........디스플레이 모듈
310..........제 1 커넥터 320..........제 2 커넥터110,510 ...... Camera 113,513 ...... Camera control means
115,515 ...... Illumination 116,516 ...... Illumination control means
120, 520: Position correction means 121, 521:
125,525 ...... Dual correction means 130,630 ...... Test means
150, 550 ...... Control means 160, 560 ...... Collision preventing means
200,600 ...... Contact means 201,601 ...... First contactor moving means
Second contactor moving means 210, 610, ...... first contactor
220,620 ......
310 ..........
Claims (10)
상기 카메라에서 촬영한 영상으로부터 제1커넥터와 제2 커넥터를 식별하는 커넥터 식별수단과;
상기 제 1 커넥터 기준위치에 대응하는 보정치 및 상기 제 2 커넥터 기준위치에 대응하는 보정치를 산출하는 듀얼 보정수단과;
상기 제 1 커넥터에 대한 컨택을 수행하는 제 1 컨택터와;
상기 제 2 커넥터에 대한 컨택을 수행하는 제 2 컨택터와;
상기 제 1 컨택터를 상기 듀얼 보정수단에서 생성된 보정치에 따라 상기 제 1 커넥터의 위치로 이동시키는 제 1 컨택터 이동수단과;
상기 제 2 컨택터를 상기 듀얼 보정수단에서 생성된 보정치에 따라 상기 제 2 커넥터의 위치로 이동시키는 제 2 컨택터 이동수단과;
상기 제 1 컨택터 및 상기 제 2 컨택터가 각각 상기 제 1 커넥터 및 상기 제 2 커넥터에 접속된 상태에서 디스플레이 모듈에 대한 테스트를 수행하며 테스트 결과를 출력하는 테스트수단과;
상기 각 수단의 동작 제어를 수행하는 제어수단을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치.
A camera for capturing an image of the dual connector;
Connector identification means for identifying the first connector and the second connector from the image photographed by the camera;
A dual correction means for calculating a correction value corresponding to the first connector reference position and a correction value corresponding to the second connector reference position;
A first contactor for performing contact with the first connector;
A second contactor for performing contact with the second connector;
First contactor moving means for moving the first contactor to a position of the first connector in accordance with the correction value generated by the dual correction means;
Second contactor moving means for moving the second contactor to the position of the second connector in accordance with the correction value generated by the dual correction means;
Test means for performing a test on the display module while the first contactor and the second contactor are respectively connected to the first connector and the second connector and outputting a test result;
And a controller for controlling the operation of each of the above-mentioned means.
The apparatus of claim 1, wherein the first contactor moving unit and the second contactor moving unit comprise means for moving forward and backward and moving forward and backward.
The display module according to claim 1, wherein the first contactor and the second contactor are detachably installed to employ a corresponding contactor according to a type and standard of a dual connector of a test target display module, respectively Multi-connector simultaneous contact test device.
The system according to claim 1, further comprising quality control means for processing the display module itself to be defective when the first connector or the second connector is not identified or each position deviates from a predetermined range Multi-connector simultaneous contact test device of display module.
The multi-connector simultaneous contact test apparatus of claim 1, further comprising an anti-collision means for preventing mutual collision during operation of the first contactor moving means and the second contactor moving means.
[6] The apparatus according to claim 5, wherein the collision avoiding means includes means for preventing collision in adjusting the respective X, Y directions and rotational movement order within the XY direction and the rotatably movable range of the first contactor and the second contactor Wherein the controller is operable to calculate and provide a path for the multi-connector simultaneous contact test of the display module.
상기 카메라에서 촬영한 영상으로부터 제1커넥터와 제2 커넥터를 식별하는 커넥터 식별수단과;
상기 제 1 커넥터 기준위치에 대응하는 보정치 및 상기 제 2 커넥터 기준위치에 대응하는 보정치를 산출하는 듀얼 보정수단과;
상기 듀얼보정수단에서 산출한 보정치에 따라 이동하여 상기 제 1 커넥터 및 상기 제 2 커넥터에 컨택하고 디스플레이 모듈에 대한 테스트를 수행하는 컨택수단과;
상기 각 수단의 동작 제어를 수행하는 제어수단을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치.
A camera for capturing an image of the dual connector;
Connector identification means for identifying the first connector and the second connector from the image photographed by the camera;
A dual correction means for calculating a correction value corresponding to the first connector reference position and a correction value corresponding to the second connector reference position;
Contact means moving in accordance with the correction value calculated by the dual correction means and making contact with the first connector and the second connector and performing a test on the display module;
And a controller for controlling the operation of each of the above-mentioned means.
상기 제 1 커넥터에 컨택하는 제 1 컨택터와;
상기 제 1 컨택터를 상기 듀얼보정수단에서 산출한 보정치에 따라 제 1 커넥터에 컨택가능한 위치로 위치이동시키는 제 1 컨택터 이동수단과;
상기 제 2 커넥터에 컨택하는 제 2 컨택터와;
상기 듀얼보정수단에서 산출한 보정치에 따라 제 2 커넥터에 컨택가능한 위치로 위치이동시키는 제 2 컨택터 이동수단과;
상기 제 1 컨택터가 상기 제 1 커넥터에 접속되고 상기 제 2 컨택터가 상기 제 2 커넥터에 컨택된 상태에서 상기 디스플레이 모듈에 대한 테스트를 수행하는 테스트 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈의 멀티 커넥터 동시 컨택 테스트 장치.
8. The apparatus of claim 7,
A first contactor for contacting the first connector;
First contactor moving means for moving the first contactor to a position capable of contacting the first connector in accordance with the correction value calculated by the dual correction means;
A second contactor for contacting the second connector;
Second contactor moving means for moving the contactor to a position capable of contacting the second connector in accordance with the correction value calculated by the dual correction means;
And a test means for performing a test on the display module with the first contactor connected to the first connector and the second contactor connected to the second connector. Connector Simultaneous contact test device.
The multi-connector simultaneous contact tester according to claim 7 or 8, further comprising an anti-collision means for preventing mutual collision during operation of the first contactor moving means and the second contactor moving means.
[10] The method according to claim 9, wherein the collision avoiding means is configured to prevent collision with adjusting the respective X, Y directions and rotational movement order within the XY direction and the rotatably movable range of the first contactor and the second contactor Wherein the controller is operable to calculate and provide a path for the multi-connector simultaneous contact test of the display module.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020160047616A KR101756586B1 (en) | 2016-04-19 | 2016-04-19 | A Test Device Contacting Each Connecter Of The Multi-connecter Display Module Simultaneously |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020160047616A KR101756586B1 (en) | 2016-04-19 | 2016-04-19 | A Test Device Contacting Each Connecter Of The Multi-connecter Display Module Simultaneously |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR101756586B1 true KR101756586B1 (en) | 2017-07-26 |
Family
ID=59427005
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020160047616A KR101756586B1 (en) | 2016-04-19 | 2016-04-19 | A Test Device Contacting Each Connecter Of The Multi-connecter Display Module Simultaneously |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101756586B1 (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102152019B1 (en) | 2020-03-13 | 2020-09-04 | 주식회사 아라(Ara) | An apparatus for connecting and un connecting connector for test |
KR102187649B1 (en) | 2020-03-13 | 2020-12-07 | 주식회사 아라(Ara) | System for connecting and un connecting connector for test |
KR102211357B1 (en) * | 2020-07-31 | 2021-02-03 | 주식회사 루티스테크 | Apparatus for correcting distortion and testing fault of fpcb connector |
CN112382224A (en) * | 2021-01-15 | 2021-02-19 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | Aging test method and system for module |
US11232725B2 (en) | 2017-12-27 | 2022-01-25 | Samsung Display Co., Ltd. | Display device and method of inspecting display device |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003270296A (en) | 2002-03-19 | 2003-09-25 | Juki Corp | Automatic inspection device for semiconductor device |
KR101056146B1 (en) | 2009-02-23 | 2011-08-10 | 한국기계연구원 | Probe card fixing device for measuring electrical transmission characteristics of probe card |
-
2016
- 2016-04-19 KR KR1020160047616A patent/KR101756586B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003270296A (en) | 2002-03-19 | 2003-09-25 | Juki Corp | Automatic inspection device for semiconductor device |
KR101056146B1 (en) | 2009-02-23 | 2011-08-10 | 한국기계연구원 | Probe card fixing device for measuring electrical transmission characteristics of probe card |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11232725B2 (en) | 2017-12-27 | 2022-01-25 | Samsung Display Co., Ltd. | Display device and method of inspecting display device |
KR102152019B1 (en) | 2020-03-13 | 2020-09-04 | 주식회사 아라(Ara) | An apparatus for connecting and un connecting connector for test |
KR102187649B1 (en) | 2020-03-13 | 2020-12-07 | 주식회사 아라(Ara) | System for connecting and un connecting connector for test |
KR102211357B1 (en) * | 2020-07-31 | 2021-02-03 | 주식회사 루티스테크 | Apparatus for correcting distortion and testing fault of fpcb connector |
CN112382224A (en) * | 2021-01-15 | 2021-02-19 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | Aging test method and system for module |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101756586B1 (en) | A Test Device Contacting Each Connecter Of The Multi-connecter Display Module Simultaneously | |
KR102562020B1 (en) | Substrate inspection method, substrate processing system, and computer storage medium | |
US8098412B2 (en) | Method for detecting the center of wafer and storage medium storing a program for executing the method | |
TWI474363B (en) | Pattern evaluation device and pattern evaluation method | |
CN112394071B (en) | Substrate defect inspection apparatus and method | |
CN107666546B (en) | Image shooting alignment method and system | |
JP2012032344A (en) | Picture measuring device, picture measuring method and program for picture measuring device | |
JP7157580B2 (en) | Board inspection method and board inspection apparatus | |
KR101802843B1 (en) | Automated Vision Inspection System | |
KR101924413B1 (en) | Apparatus and Method for inspecting Flexible Printed Circuit Board | |
TW201907153A (en) | Image inspection device, production system, image inspection method, program and memory medium | |
CN113888510A (en) | Detection method, detection device, detection equipment and computer readable storage medium | |
CN114022436B (en) | Detection method, device and detection equipment for printed circuit board | |
CN109712115B (en) | Automatic PCB detection method and system | |
JP2008014700A (en) | Workpiece inspection method and workpiece inspection device | |
CN109425327B (en) | Inspection system and method for correcting inspection image | |
CN109804730B (en) | Substrate inspection apparatus and substrate distortion compensation method using the same | |
TWI827863B (en) | Wafer appearance inspection device and method | |
KR101379324B1 (en) | Defect position display apparatus of printed circuit board | |
JP6277347B2 (en) | Inspection apparatus and inspection method for flexible circuit board | |
JP3311628B2 (en) | Defect location device for thin display devices | |
KR20190135246A (en) | Test method and apparatus | |
KR101495323B1 (en) | Flip chip alignment check apparatus using vent hole and method thereof | |
JP2014055914A (en) | Appearance inspection device, appearance inspection method, and program | |
CN112838018B (en) | Optical measuring method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |