KR101661986B1 - 진단 장치 - Google Patents

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김희준
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Abstract

본 발명은 진단 장치를 개시한다. 그의 장치는, 시료를 광학적으로 계측하는 실측 계측 부와, 상기 실측 계측 부에 의해 계측되는 상기 시료의 밝기에 따라 상기 시료의 종류를 판별하는 제어 부와, 상기 제어 부의 설정 시에 상기 시료의 종류에 대응되는 레퍼런스 밝기를 갖는 레퍼런스 광을 제공하는 레퍼런스 광 모듈을 갖고, 상기 시료의 밝기를 상기 레퍼런스 밝기로 교정시키는 교정 부를 포함한다.

Description

진단 장치{diagnostic apparatus}
본 발명은 진단 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 인체의 면역을 진단하는 진단 장치에 관한 것이다.
일반적으로, DNA 증폭 기술은 진단 목적으로 광범위하게 사용되고 있으며, 중합효소 연쇄 반응에 의한 DNA 증폭 기술이 널리 활용되고 있다. 면역분석법은 대부분 광학적 측정 방법에 의해 수행될 수 있다. 광학적 측정 방법은 효소 면역 측정 방법, 단백질 흡입 방법, 또는 광 추출 방법을 포함할 수 있다. 효소 면역 측정 방방은 효소의 촉매 반응의 진행 과정에 따른 변색 정도를 검출하는 방법이다. 단백질 흡입 방법은 전기영동으로 분리한 단백질을 소수성 막에 고정하고 특이성 항체를 사용하는 목적으로 단백질의 농도에 따른 명암의 변화를 검출하는 방법이다. 광 추출 방법은 항원이나 항체에 방사선 물질, 발광 물질 또는 형광 물질을 도포한 후, 이들에 의해 얻어지는 신호를 측정하는 방법이다. 이와 같은 광학적 측정 방법은 과거에 실험실에서 고가의 대형 진단 장치에 의해 수행되었다. 최근 기술 발달에 힘입어 소형화된 진단 장치의 연구 개발이 활발히 이루어지고 있다.
본 발명이 이루고자 하는 과제는 자가 교정할 수 있는 진단 장치를 제공하는 데 있다.
본 발명은 진단 장치를 개시한다. 그의 장치는, 시료를 광학적으로 계측하는 실측 계측 부; 상기 실측 계측 부에 의해 계측되는 상기 시료의 밝기에 따라 상기 시료의 종류를 판별하는 제어 부; 및 상기 제어 부의 설정 시에 상기 시료의 종류에 대응되는 레퍼런스 밝기를 갖는 레퍼런스 광을 상기 실측 계측 부에 제공하는 레퍼런스 광 모듈을 갖고, 상기 시료의 밝기를 상기 레퍼런스 밝기로 교정시키는 교정 부를 포함한다. 여기서, 상기 레퍼런스 광 모듈은 상기 시료와 동일한 높이로 상기 실측 계측 부 아래에 제공되는 평면 광원을 포함할 수 있다. 상기 실측 계측 부는 상기 평면 광원 상에 배치되고, 상기 레퍼런스 광을 검출하는 실측 검출 모듈을 포함할 수 있다. 상기 교정 부는 상기 평면 광원 상에 상기 실측 검출 모듈과 동일한 높이로 배치되고, 상기 레퍼런스 광을 검출하는 레퍼런스 검출 모듈을 더 포함할 수 있다. 상기 평면 광원은: 상기 실측 검출 모듈 아래에 배치된 제 1 발광 영역; 및 상기 레퍼런스 검출 모듈 아래에 배치되고 상기 제 1 발광 영역과 동일한 밝기를 갖는 제 2 발광 영역을 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 실시 예에 따른 진단 장치는, 하우징; 상기 하우징 내에 시료를 수납하는 시료 제공 부; 상기 하우징 내에 배치되어 상기 시료를 계측하는 실측 계측 부; 상기 하우징 내에 배치되어 상기 실측 계측 부에 의해 계측되는 상기 시료의 밝기에 따라 상기 시료의 종류를 판별하는 제어 부; 상기 하우징의 외부에 배치되어 상기 시료의 밝기 또는 상기 질병에 대한 정보를 표시하는 표시 부; 및 상기 제어 부의 설정 시 상기 시료 제공 부에 의해 상기 시료와 동일한 높이로 상기 실측 계측 부 아래에 제공되어 상기 시료의 종류에 대응되는 레퍼런스 밝기를 갖는 레퍼런스 광을 상기 실측 계측 부에 제공하는 레퍼런스 광 모듈을 구비하고, 상기 시료의 밝기를 상기 레퍼런스 밝기로 교정시키는 교정 부를 포함한다. 상기 실측 계측 부는 상기 레퍼런스 광을 검출하는 실측 검출 모듈을 포함할 수 있다. 상기 교정 부는 상기 레퍼런스 광을 검출하는 레퍼런스 검출 모듈을 더 포함할 수 있다. 상기 레퍼런스 광 모듈은 상기 실측 검출 모듈 아래에 배치되어 상기 레퍼런스 광을 상기 실측 거물 모듈에 제공하는 제 1 발광 영역과, 상기 레퍼런스 검출 모듈 아래에 배치되고 상기 제 1 발광 영역과 동일한 레퍼런스 밝기로 상기 레퍼런스 광을 상기 레퍼런스 검출 모듈에 제공하는 제 2 발광 영역을 갖는 평면 광원을 포함할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 실시 예에 따른 진단 장치는 시료의 종류에 대응되는 레퍼런스 밝기를 갖는 레퍼런스 광을 실측 계측 부에 제공하는 교정 부를 포함할 수 있다. 실측 계측 부는 레퍼런스 광의 계측 밝기를 검출할 수 있다. 제어 부는 초기 설정 시에 실측 계측 부의 계측 밝기를 레퍼런스 밝기로 교정할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 진단 장치를 나타내는 도면이다.
도 2는 도 1의 표시 부, 입력 부, 및 시료 제공 부를 나타내는 사시도이다.
도 3은 도 1의 실측 계측 부를 나타내는 도면이다.
도 4는 도 1의 실측 계측 부 및 교정 부를 나타내는 도면이다.
도 5는 도 4의 평면 광원에 제공되는 전류에 따른 실측 검출 모듈의 계측 밝기와 레퍼런스 검출 모듈의 레퍼런스 밝기를 나타내는 그래프이다.
도 6은 도 4의 실측 검출 모듈과 레퍼런스 검출 모듈의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 7은 도 4의 제어 부, 실측 검출 모듈, 교정 부의 다른 예를 나타내는 도면이다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 상세히 설명하기로 한다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면들과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시 예를 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 여기서 설명되는 실시 예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시 예는 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당 업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전문에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시 예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 포함한다(comprises) 및/또는 포함하는(comprising)은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다. 또한, 명세서에서 트랜지스터, 다이오드, 저항, 제어 단, 출력 단, 입력 단, 모듈, 및 회로 등에 관계되는 일반적인 전기적 용어들로 이해될 수 있을 것이다. 바람직한 실시 예에 따른 것이기 때문에, 설명의 순서에 따라 제시되는 참조 부호는 그 순서에 반드시 한정되지는 않는다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 진단 장치를 보여준다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 진단 장치(10)는 면역 진단 장치(immunodiagnostic system)일 수 있다. 일 예에 따르면, 진단 장치(10)는 표시 부(20), 입력 부(30), 제어 부(40), 실측 계측 부(50), 시료 제공 부(60), 및 교정 부(70)를 포함할 수 있다. 표시 부(20)는 입력 부(30), 실측 계측 부(50), 및 교정 부(70)의 입출력 데이터를 표시할 수 있다. 입력 부(30)는 외부 제어 신호를 제어 부(40)에 입력할 수 있다. 제어 부(40)는 외부 제어 신호에 따라 표시 부(20), 실측 계측 부(50), 및 교정 부(70)를 제어할 수 있다. 실측 계측 부(50)는 시료(도 2의 62)를 계측할 수 있다. 교정 부(70)는 실측 계측 부(50)의 계측 값을 교정하기 위한 레퍼런스 값을 제공할 수 있다. 계측 값 및 레퍼런스 값은 계측 밝기 및 레퍼런스 밝기를 각각 포함할 수 있다.
도 2는 도 1의 표시 부(20), 입력 부(30), 및 시료 제공 부(60)를 보여준다.
도 2를 참조하면, 진단 장치(10)는 하우징(12)을 가질 수 있다. 하우징(12)은 다양한 모양을 가질 수 있다. 표시 부(20) 및 입력 부(30)는 하우징(12) 바깥으로 노출될 수 있다. 표시 부(20)는 액정표시장치(LCD), 또는 유기발광소자(OLED)를 포함할 수 있다. 입력 부(30)는 전원 스위치, 문자 버턴, 또는 터치 패드를 포함할 수 있다. 시료 제공 부(60)는 하우징(12) 내에 시료(62) 및 키트(64)를 유 출입시킬 수 있다. 시료 제공 부(60)는 키트(64)를 수납할 수 있다. 키트(64)는 시료(62)를 고정할 수 있다. 시료(62)는 질병의 명칭 또는 진행도에 따라 변색 정도가 달라질 수 있다. 도시되지는 않았지만, 제어 부(40), 실측 계측 부(50), 및 교정 부(70)는 하우징(12) 내에 배치될 수 있다. 하우징(12)은 실측 계측 부(50) 및 교정 부(70)를 외부로부터 보호할 수 있다. 이와 달리, 교정 부(70)는 하우징(12) 내에 유 출입될 수 있다.
도 3은 도 1의 실측 계측 부(50)를 보여준다.
도 1 및 도 3을 참조하면, 실측 계측 부(50)는 실측 광원(52)과, 실측 검출 모듈(54)를 포함할 수 있다. 실측 광원(52)은 시료(62)에 입사 광(61a)을 제공할 수 있다. 실측 검출 모듈(54)는 시료(62)에서의 반사 광(61b)을 검출할 수 있다. 입사 광(61a) 및 반사 광(61b)은 하우징(12)에 의해 외부의 간섭이 최소화될 수 있다. 실측 검출 모듈(54)는 시료(62)로부터 제 1 높이(h1)에 배치될 수 있다. 이와 달리, 실측 검출 모듈(54)는 시료(62)에서의 형광(미도시)을 검출할 수 있다. 실측 광원(52)은 제거되거나 턴 오프될 수 있다. 예를 들어, 제어 부(40)는 시료(62)의 계측 밝기 즉, 명암에 따라 시료(62)의 제공자의 질병 명 또는 질병 진행도를 판단할 수 있다. 제어 부(40)는 스토리지를 가질 수 있다. 스토리지는 계측 밝기와 질병 명 또는 계측 밝기와 질병 진행도의 대응 관계에 대한 데이터를 저장할 수 있다. 계측 밝기와 질병 명 또는 계측 밝기와 질병 진행도는 진단 장치(10)의 초기 설정 시 또는 업데이터 시에 달라질 수 있다. 그 때마다. 제어 부(40)는 계측 밝기와 질병 명 또는 계측 발기와 질병 진행도의 대응 관계를 교정하고, 교정된 결과를 스토리지에 저장할 수 있다.
도 4는 도 1의 실측 계측 부(50) 및 교정 부(70)를 보여준다.
도 4를 참조하면, 교정 부(70)는 레퍼런스 광 모듈(72)과 레퍼런스 검출 모듈(74)을 포함할 수 있다. 레퍼런스 광 모듈(72)은 시료(62) 및 키트(64)를 대신하여 시료 제공 부(60)에 탑재될 수 있다. 실측 검출 모듈(54) 및 레퍼런스 검출 모듈(74)은 레퍼런스 광 모듈(72) 상에 배치될 수 있다. 레퍼런스 광 모듈(72)은 실측 검출 모듈(54) 및 레퍼런스 검출 모듈(74)에 레퍼런스 광(72a)을 제공할 수 있다. 하우징(12)은 레퍼런스 광(72a)에 대해 외부로부터의 간섭을 최소화할 수 있다. 실측 광원(52)은 턴 오프될 수 있다. 레퍼런스 광(72a)은 레퍼런스 밝기를 가질 수 있다. 레퍼런스 밝기는 이후에 보다 자세히 설명될 것이다. 레퍼런스 광(72a)은 실측 검출 모듈(54) 및 레퍼런스 검출 모듈(74)에 동일한 세기로 제공될 수 있다. 일 예에 따르면, 레퍼런스 광 모듈(72)은 평면 광원(71), 필터(73a), 및 마스크(73b)를 포함할 수 있다.
평면 광원(71)은 실측 검출 모듈(54) 및 레퍼런스 검출 모듈(74)에 레퍼런스 광(72a)을 제공할 수 있다. 평면 광원(71)은 백라이트 유닛을 포함할 수 있다. 실측 검출 모듈(54) 및 레퍼런스 검출 모듈(74)은 평면 광원(71)에서 제 1 높이(h1)에 배치될 수 있다. 평면 광원(71)은 제 1 및 제 2 발광 영역들(71a, 71b)을 포함할 수 있다. 제 1 발광 영역(71a)은 실측 검출 모듈(54) 아래에 배치될 수 있다. 제 2 발광 영역(71b)은 레퍼런스 검출 모듈(74) 아래에 배치될 수 있다.
필터(73a)는 평면 광원(71) 상에 배치될 수 있다. 필터(73a)는 레퍼런스 광(72a)을 투과할 수 있다. 필터(73a)는 분산 시트를 포함할 수 있다. 필터(73a)는 레퍼런스 광(72a)을 균일하게 분산할 수 있다. 이와 달리, 필터(73a)는 레퍼런스 광(72a)의 컬러를 필터링할 수도 있다. 예를 들어, 필터(73a)는 레퍼런스 광(72a)의 특정 파장을 투과하고 나머지 파장을 제거할 수 있다. 그리고, 필터(73a)는 레퍼런스 광(72a)을 백색광으로 색혼합(color mixing)시킬 수 있다.
마스크(73b)는 필터(73a) 상에 배치될 수 있다. 마스크(73b)는 복수개의 개구부들(73c)을 가질 수 있다. 개구부들(73c)은 제 1 및 제 2 발광 영역들(71a, 71b)을 정의할 수 있다. 레퍼런스 광(72a)은 개구부들(73c)을 통과하여 실측 검출 모듈(54) 및 레퍼런스 검출 모듈(74)에 각각 제공될 수 있다.
실측 검출 모듈(54)과 레퍼런스 검출 모듈(74)은 레퍼런스 광(72a)을 검출할 수 있다. 레퍼런스 광 모듈(72)의 발광 밝기는 제어 부(40)에 의해 제어될 수 있다. 일 예에 따르면, 제어 부(40)는 전류 제어 모듈(42)를 가질 수 있다. 전류 제어 모듈(42)은 평면 광원(71)에 제공되는 전류를 조절하여 레퍼런스 광(72a)의 밝기를 제어할 수 있다. 실측 검출 모듈(54)의 계측 밝기와 발광 밝기는 비례할 수 있다. 제어 부(40)는 실측 검출 모듈(54)의 계측 밝기를 발광 밝기에 따라 교정할 수 있다. 그럼에도 불구하고, 레퍼런스 광(72a)은 전류에 비례하지 않을 수 있다. 평면 광원(71)은 누적 사용시간이 증가함에 따라 발광 효율이 떨어질 수 있다. 이와 달리, 필터(73a) 상에 파티클(미도시)이 발생될 경우, 레퍼런스 광(72a)은 실측 검출 모듈(54)에 줄어든 밝기로 제공될 수 있다. 레퍼런스 검출 모듈(74)은 레퍼런스 광 모듈(72)의 신뢰성을 보장할 수 있다. 제어 부(40)는 레퍼런스 밝기와 전류의 크기를 비교하여 레퍼런스 광 모듈(72)의 수명 또는 오염을 판정할 수 있다.
레퍼런스 검출 모듈(74)은 레퍼런스 밝기(도 5의 70a)를 검출할 수 있다. 레퍼런스 검출 모듈(74)은 실측 검출 모듈(54)의 신뢰성을 보장할 수 있다. 레퍼런스 검출 모듈(74)은 실측 검출 모듈(54)보다 긴 수명을 가질 수 있다. 레퍼런스 검출 모듈(74)은 교정 시에 사용되기 때문에 실측 검출 모듈(54)보다 사용빈도가 매우 낮을 수 있다. 제어 부(40)는 레퍼런스 검출 모듈(74)을 이용하여 실측 검출 모듈(54)의 불량 발생을 판정할 수 있다.
도 5는 도 4의 평면 광원(71)에 제공되는 전류에 따른 실측 검출 모듈(54)의 계측 밝기(50a)와 레퍼런스 검출 모듈(74)의 레퍼런스 밝기(70a)를 나타내는 그래프이다.
도 3 내지 도 5를 참조하면, 레퍼런스 밝기(70a)는 전류에 비례하여 증가할 수 있다. 예를 들어, 전류가 1 암페어로 제공될 경우, 레퍼런스 밝기(70a)는 1의 세기를 가질 수 있다. 전류가 1 암페어씩 증가될 때마다 레퍼런스 밝기(70a)는 1 레벨씩 증가할 수 있다. 전류는 연속적으로 증가될 수 있다. 마찬가지로, 계측 밝기(50a)와 레퍼런스 밝기(70a)는 연속적으로 증가할 수 있다. 계측 밝기(50a)와 레퍼런스 밝기(70a)는 제어 부(40)에 의해 레벨들 마다 내삽(interpolation)으로 계산될 수 있다.
한편, 레퍼런스 밝기(70a)는 시료(62)의 종류에 대응될 수 있다. 레퍼런스 밝기(70a)는 밝기가 다른 시료(62)의 종류에 따라 변화될 수 있다. 일 예에 따르면, 제어 부(40)는 레퍼런스 밝기(70a)와 시료(62)의 종류는 일대일로 대응시킬 수 있다. 여기서, 레퍼런스 밝기(70a)는 실측 검출 모듈(54)의 계측 밝기(50a)와 일치하지 않을 수 있다. 제어 부(40)는 계측 밝기(50a)를 레퍼런스 밝기(70a)로 교정할 수 있다. 제어 부(40)는 교정된 후 계측 밝기(50a)를 레퍼런스 밝기(70a)로 판단할 수 있다.
도 6은 도 4의 실측 검출 모듈(54)과 레퍼런스 검출 모듈(74)의 일 예를 보여준다.
도 4 내지 도 6을 참조하면, 실측 검출 모듈(54)과 레퍼런스 검출 모듈(74)은 유사할 수 있다. 일 예에 따르면, 실측 검출 모듈(54)는 제 1 오브젝트 렌즈(55), 제 1 미러(56), 제 1 오큘러 렌즈(57), 및 제 1 센서(58)를 포함할 수 있다. 제 1 오브젝트 렌즈(55)는 평면 광원(71)으로부터 제 1 높이(h1)에 배치될 수 있다. 제 1 오브젝트 렌즈(55)은 평면 광원(71)의 제 1 발광 영역(71a)을 확대할 수 있다. 레퍼런스 광(72a)은 제 1 오브젝트 렌즈(55)에 제공될 수 있다. 제 1 미러(56)는 제 1 오브젝트 렌즈(55) 상에 배치될 수 있다. 제 1 미러(56)는 레퍼런스 광(72a)을 반사할 수 있다. 제 1 오큘러 렌즈(57)는 제 1 미러(56)와 제 1 센서(58) 사이에 배치될 수 있다. 제 1 오큘러 렌즈(57)는 레퍼런스 광(72a)을 투과할 수 있다. 제 1 센서(58)는 광 센서를 포함할 수 있다. 제 1 센서(58)는 CCD 센서 또는 CMOS 센서를 포함할 수 있다. 제어 부(40)는 초기 설정 시에 제 1 센서(58)를 통해 계측 밝기(50a)를 획득할 수 있다.
레퍼런스 검출 모듈(74)은 제 2 오브젝트 렌즈(75), 제 2 미러(76), 제 2 오큘러 렌즈(77), 및 제 2 센서(78)를 포함할 수 있다. 제 2 오브젝트 렌즈(75)는 평면 광원(71)으로부터 제 1 높이(h1)에 배치될 수 있다. 제 2 오브젝트 렌즈(75)는 제 2 발광 영역(72b)을 확대할 수 있다. 평면 광원(71)은 제 1 오브젝티브 렌즈(55) 아래에서 제 2 오브젝티브 렌즈(75) 아래까지 제 1 거리(d1)로 연장할 수 있다. 제 2 미러(76)는 제 2 오브젝트 렌즈(75) 상에 배치될 수 있다. 제 2 오큘러 렌즈(77)는 제 2 미러(76)와 제 2 센서(78) 사이에 배치될 수 있다. 제 2 센서(78)는 CCD 센서 또는 CMOS 센서와 같은 광 센서를 포함할 수 있다. 제어 부(40)는 제 2 센서(78)를 통해 레퍼런스 밝기(70a)를 획득할 수 있다. 제어 부(40)는 계측 밝기(50a)와 레퍼런스 밝기(70a)를 비교하고, 계측 밝기(50a)를 레퍼런스 밝기(70a)로 교정할 수 있다. 이와 달리, 평면 광원(71)에 제공되는 전류와 레퍼런스 밝기(70a)의 정보가 미리 정해질 수 있다. 계측 밝기(50a)가 획득되면, 제어 부(40)는 계측 밝기(50a)와 레퍼런스 밝기(70a)의 비교 없이 계측 밝기(50a)를 레퍼런스 밝기(70a)로 교정할 수 있다.
도 7은 도 4의 제어 부(40), 실측 검출 모듈(54), 교정 부(70)의 다른 예를 보여준다.
도 7을 참조하면, 교정 부(70)의 레퍼런스 광 모듈(180)은 평면 광원(182), 증폭기(184), 및 제 1 D/A 컨버터(186)를 포함할 수 있다. 증폭기(184)와 제 1 D/A 컨버터(186)는 평면 광원(182)과 제어 부(40) 사이에 연결될 수 있다. 제 1 D/A컨버터(186)는 제어 부(40)의 디지털 제어 신호를 아날로그 제어 신호로 변환할 수 있다. 증폭기(184)는 아날로그 제어 신호를 전류로 증폭할 수 있다. 평면 광원(182)은 전류에 의해 레퍼런스 광(180a)을 생성할 수 있다.
실측 검출 모듈(54)는 제 1 센서(154)와 제 1 A/D 컨버터(156)를 포함할 수 있다. 제 1 센서(154)는 평면 광원(182)의 제 1 발광 영역(182a) 상에 배치될 수 있다. 제 1 센서(154)는 제 2 높이(h2)에 배치될 수 있다. 제 1 센서(154)는 레퍼런스 광(180a)을 검출할 수 있다. 제 1 A/D 컨버터(156)는 제 1 센서(154)와 제어 부(40) 사이에 연결될 수 있다. 제 1 A/D 컨버터(156)는 제 1 센서(154)로부터 제 1 아날로그 감지 신호를 수신할 수 있다. 제 1 A/D 컨버터(156)는 제 1 아날로그 감지 신호를 제 1 디지털 감지 신호로 변환할 수 있다. 제어 부(40)는 제 1 디지털 감지 신호를 수신할 수 있다.
교정 부(70)의 레퍼런스 검출 모듈(178)은 제 2 센서(174)와 제 2 A/D 컨버터(176)를 포함할 수 있다. 제 2 센서(174)는 평면 광원(182)의 제 2 발광 영역(182b) 상에 배치될 수 있다. 평면 광원(182)은 제 1 센서(154)의 아래에서 제 2 센서(174)의 아래까지 제 2 거리(d2)로 연장할 수 있다. 제 2 센서(174)는 제 1 센서(154)와 동일한 제 2 높이(h2)에 배치될 수 있다. 제 2 A/D 컨버터(176)는 제 2 센서(174)와 제어 부(40) 사이에 연결될 수 있다. 제 2 A/D 컨버터(176)는 제 2 센서(174)로부터 제 2 아날로그 감지 신호를 수신할 수 있다. 제 2 A/D 컨버터(176)는 제 2 아날로그 감지 신호를 제 2 디지털 감지 신호로 변환할 수 있다. 제어 부(40)는 제 2 디지털 감지 신호를 수신할 수 있다. 제어 부(40)는 제 1 및 제 2 디지털 감지 신호로부터 계측 밝기(50a)와 레퍼런스 밝기(70a)를 각각 파악할 수 있다. 제어 부(40)는 계측 밝기(50a)를 레퍼런스 밝기(70a)로 교정할 수 있다.
이상, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시 예들을 예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들 및 응용 예에는 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.

Claims (18)

  1. 시료를 광학적으로 계측하는 실측 계측 부;
    상기 실측 계측 부에 의해 계측되는 상기 시료의 계측 밝기에 따라 상기 시료의 종류를 판별하는 제어 부; 및
    상기 제어 부의 설정 시에 상기 시료의 종류에 대응되는 레퍼런스 밝기를 갖는 레퍼런스 광을 상기 실측 계측 부에 제공하는 레퍼런스 광 모듈을 갖고, 상기 시료의 계측 밝기를 상기 레퍼런스 밝기로 교정시키는 교정 부를 포함하되,
    상기 레퍼런스 광 모듈은 상기 시료와 동일한 높이로 상기 실측 계측 부 아래에 제공되는 평면 광원을 포함하되,
    상기 실측 계측 부는 상기 평면 광원 상에 배치되고, 상기 레퍼런스 광을 검출하는 실측 검출 모듈을 포함하되,
    상기 교정 부는 상기 평면 광원 상에 상기 실측 검출 모듈과 동일한 높이로 배치되고, 상기 레퍼런스 광을 검출하는 레퍼런스 검출 모듈을 더 포함하되,
    상기 평면 광원은:
    상기 실측 검출 모듈 아래에 배치된 제 1 발광 영역; 및
    상기 레퍼런스 검출 모듈 아래에 배치되고 상기 제 1 발광 영역과 동일한 밝기를 갖는 제 2 발광 영역을 포함하는 진단 장치.
  2. 삭제
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 평면 광원은 백라이트 유닛을 포함하되,
    상기 제어 부는 상기 백라이트 유닛에 상기 레퍼런스 광의 상기 레퍼런스 밝기를 조절하도록 전류를 제어하는 전류 제어 모듈을 포함하는 진단 장치.
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 레퍼런스 광 모듈은 상기 평면 광원 상에 배치되고, 상기 제 1 및 제 2 발광 영역들을 정의하는 복수개의 개구부들을 갖는 마스크를 더 포함하는 진단 장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 레퍼런스 광 모듈은 상기 평면 광원과 상기 마스크 사이에 배치되고, 상기 레퍼런스 광을 투과하는 필터를 더 포함하는 진단 장치.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 실측 검출 모듈은:
    상기 평면 광원 상에 배치되고 상기 레퍼런스 광을 투과하는 제 1 오브젝티브 렌즈;
    상기 레퍼런스 광을 검출하는 제 1 센서;
    상기 제 1 오브젝티브 렌즈와 상기 제 1 센서 사이에 배치되고, 상기 레퍼런스 광을 반사하는 제 1 미러; 및
    상기 제 1 미러와 상기 제 1 센서 사이에 배치되어 상기 레퍼런스 광을 투영하는 제 1 오큘러 렌즈를 포함하는 진단 장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 레퍼런스 검출 모듈은:
    상기 평면 광원 상에 상기 제 1 오브젝티브 렌즈와 동일한 높이로 배치된 상기 레퍼런스 광을 투과하는 제 2 오브젝티브 렌즈;
    상기 레퍼런스 광을 검출하는 제 2 센서;
    상기 제 2 오브젝티브 렌즈와 상기 제 2 센서 사이에 배치되고 상기 레퍼런스 광을 반사하는 제 2 미러;
    상기 제 2 미러와 상기 제 2 센서 사이에 배치되어 상기 레퍼런스 광을 투과하는 제 2 오큘러 렌즈를 포함하는 진단 장치.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 실측 검출 모듈은:
    상기 레퍼런스 광을 검출하여 제 1 아날로그 감지 신호를 생성하는 제 1 센서; 및
    상기 제 1 아날로그 감지 신호를 제 1 디지털 감지 신호로 변환하여 상기 제어 부에 제공하는 제 1 에이디 컨버터를 포함하되,
    상기 레퍼런스 검출 모듈은:
    상기 레퍼런스 광을 검출하여 제 2 아날로그 감지 신호를 생성하는 제 2 센서;
    상기 제 2 아날로그 감지 신호를 제 2 디지털 감지 신호로 변환하는 제 2 에이디 컨버터를 포함하되,
    상기 평면 광원은 상기 제 1 센서의 아래에서 상기 제 2 센서의 아래까지 연장하는 진단 장치.
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 레퍼런스 광 모듈은:
    상기 제어부의 디지털 제어 신호를 아날로그 제어 신호로 변환하는 디에이 컨버터;
    상기 아날로그 제어 신호를 전류 신호로 증폭하는 증폭기를 더 포함하되,
    상기 평면 광원은 상기 전류 신호에 따라 상기 레퍼런스 광의 밝기를 조절하는 진단 장치.
  12. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어 부에 의해 제어되고 상기 계측 밝기 또는 질병을 표시하는 표시 부;
    상기 제어 부에 외부 제어 신호를 입력하는 입력 부;
    상기 실측 계측 부, 상기 제어 부, 상기 레퍼런스 검출 모듈를 둘러싸고, 상기 표시 부 및 상기 입력 부를 외부로 노출하는 하우징; 및
    상기 하우징 내부 및 외부로 유 출입되고, 상기 실측 계측 부에 상기 시료를 제공하는 시료 제공 부를 더 포함하는 진단 장치.
  13. 하우징;
    상기 하우징 내에 시료를 수납하는 시료 제공 부;
    상기 하우징 내에 배치되어 상기 시료를 계측하는 실측 계측 부;
    상기 하우징 내에 배치되어 상기 실측 계측 부에 의해 계측되는 상기 시료의 밝기에 따라 상기 시료의 종류를 판별하는 제어 부;
    상기 하우징의 외부에 배치되어 상기 시료의 밝기 또는 질병에 대한 정보를 표시하는 표시 부; 및
    상기 제어 부의 설정 시 상기 시료 제공 부에 의해 상기 시료와 동일한 높이로 상기 실측 계측 부 아래에 제공되어 상기 시료의 종류에 대응되는 레퍼런스 밝기를 갖는 레퍼런스 광을 상기 실측 계측 부에 제공하는 레퍼런스 광 모듈을 구비하고, 상기 시료의 밝기를 상기 레퍼런스 밝기로 교정시키는 교정 부를 포함하되,
    상기 실측 계측 부는 상기 레퍼런스 광을 검출하는 실측 검출 모듈을 포함하되,
    상기 교정 부는 상기 레퍼런스 광을 검출하는 레퍼런스 검출 모듈을 더 포함하되,
    상기 레퍼런스 광 모듈은 상기 실측 검출 모듈 아래에 배치되어 상기 레퍼런스 광을 상기 실측 검출 모듈에 제공하는 제 1 발광 영역과, 상기 레퍼런스 검출 모듈 아래에 배치되고 상기 제 1 발광 영역과 동일한 레퍼런스 밝기로 상기 레퍼런스 광을 상기 레퍼런스 검출 모듈에 제공하는 제 2 발광 영역을 갖는 평면 광원을 포함하는 진단 장치.
  14. 삭제
  15. 제 13 항에 있어서,
    상기 레퍼런스 광 모듈은:
    상기 평면 광원 상에 배치되어 상기 제 1 검출 영역과 제 2 검출 영역을 정의하는 복수개의 개구 부들을 갖는 마스크; 및
    상기 마스크와 상기 평면 광원 사이에 배치되어 상기 레퍼런스 광을 투과하는 필터를 더 포함하는 진단 장치.
  16. 제 13 항에 있어서,
    상기 평면 광원은 백라이트 유닛을 포함하되,
    상기 제어 부는 상기 백라이트 유닛에 상기 레퍼런스 광의 상기 레퍼런스 밝기를 조절하도록 전류를 제어하는 전류 제어 모듈을 포함하는 진단 장치.
  17. 제 13 항에 있어서,
    상기 실측 검출 모듈은 상기 레퍼런스 광 모듈 상에 배치되어 상기 레퍼런스 광을 투과하는 제 1 렌즈를 포함하되,
    상기 레퍼런스 검출 모듈은 상기 레퍼런스 광 모듈 상에 상기 제 1 렌즈와 동일한 높이로 배치되어 상기 레퍼런스 광을 투과하는 제 2 렌즈를 포함하는 진단 장치.
  18. 제 13 항에 있어서,
    상기 실측 검출 모듈은 상기 레퍼런스 광 모듈 상에 배치되어 상기 레퍼런스 광을 검출하는 제 1 센서를 포함하되,
    상기 레퍼런스 검출 모듈은 상기 레퍼런스 광 모듈 상에 상기 제 1 센서와 동일한 높이로 배치되어 상기 레퍼런스 광을 검출하는 제 2 센서를 포함하는 진단 장치.

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