KR101445430B1 - 모드에 기초한 금속 스트립 안정화장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 스틸 밀의 강 압연 라인 또는 면처리 라인에서, 처리 장치에서의 연속 운송동안 매달린 금속 스트립 (3) 의 진동 감쇠 및 형태 제어 방법으로서,
다수의 미접촉 센서 (2) 를 통해 스트립에 대한 거리를 측정하는 단계, 거리 측정값으로부터 스트립 프로파일을 생성하는 단계, 스트립 프로파일을 모드 형태의 조합으로 분해하는 단계, 각각의 모드 형태로부터 총 스트립 프로파일로의 기여에 대한 계수를 결정하는 단계, 및 모드 형태의 조합에 기초하여 다수의 비접촉 액추에이터 (1) 에 의해 스트립 프로파일을 제어하는 단계를 포함하는 방법이다.

Description

모드에 기초한 금속 스트립 안정화장치 {MODE BASED METAL STRIP STABILIZER}
본 발명은 스틸 밀 (steel mill) 의 강 압연 라인 또는 면처리 라인에서 금속 스트립 또는 기다란 강 시트 또는 처리 장비의 주행면을 따라 운행되는 스트립의 진동이나 형태를 안정화시키고 제어하기 위한 방법 및 시스템에 관한 것이다.
철강산업에서는, 운동하는 금속 스트립이나 시트의 원하지 않는 움직임과 진동을 안정화시킬, 즉 감소시킬 필요성이 있다. 안정화는 특히 용융 아연도금 (hot dip galvanize) 라인에서 중요하다.
용융 아연도금 라인에서, 아연 도금되는 금속 스트립이 용융된 아연 바스 ( bath) 로 이동된다. 금속 스트립이 아연 바스에서 나올 때, 에어 나이프 (air-knife) 는 원하는 값으로 코팅의 두께를 줄이기 위해 초과 아연을 불어 제거한다. 금속 스트립의 진동을 줄임으로써, 에어 나이프의 작용 (와이핑) 이 더 잘 제어될 수 있고, 코팅 두께가 더 일정하게 될 수 있다. 이를 통해 코팅을 더 얇게 할 수 있으므로, 아연을 아끼고, 제품의 무게를 줄이고 비용을 절약할 수 있게 된다.
아연 도금 라인에서의 진동은 라인의 기계 요소의 불완전성에서 기인한다. 라인 속도가 더 빠른 경우 및 지지되지 않거나 자유로운 스트립 통로가 더 긴 경우 이러한 진동이 두드러질 수 있다. 스트립의 추가적인 운동과 진동은 에어 나이프와 냉각공기로부터의 스트립 상의 공기의 흐름에 기인한다.
"강 시트를 안정화시키는 장치 및 방법 (A device and a method for stabilizing a steel sheet)" 라는 명칭의 뢰프그렌 (Loefgren) 등의 WO 2006101446 A1 에서는 미리 정해진 운송 통로를 따라 운송 방향으로 연속적으로 운송되는 긴 강 시트를 안정화시키는 장치를 제공한다. 이 장치는 적어도, 제 1 쌍, 제 2 쌍 및 제 3 쌍의 전자석을 포함하고, 적어도 하나의 전자석은 강 시트의 각 측면에 위치하고, 이들은 강 시트를 안정화시키는 역할을 한다.
"강 처리 라인의 진동 제어 장치 (Vibration control apparatus for steel processing line)" 라는 명칭의 테쓰유키 등의 US 6471153 B1 는 처리 라인에서 처리되는 강 시트의 진동을 제어하는 장치에 관한 것이다. 이 장치는 강 시트와 직각으로 작용하는 자기력을 생성하기 위한 전자석 장치; 강 시트와 전자석 장치 사이의 떨어진 거리를 검출하기 위한 센서 장치를 포함한다. US 6471153 B1 에서 각각의 전자석 장치는 하나의 센서 장치에 의한 하나의 측정에 의해 제어된다. 장치로부터 발생된 자기력을 수정하거나 적용하는데 다른 센서 장치로부터의 정보는 이용되지 않는다.
본 발명은 강 처리 라인에서 처리되는 강 시트 또는 스트립의 운동을 제어하는 방법 및 시스템을 제공하여, 스트립 진동, 스트립 운동이나 스트립 형태 결손 (예를 들어, 굽힘) 과 같은 작동상의 문제 없이 처리 라인이 안정된 방식으로 작동될 수 있도록 하는 것을 목적으로 한다. 이 시스템은 스트립 진동의 댐퍼로서 작용하여 스트립 운동을 감소시키고, 스트립의 형태 제어기로서 작용한다.
본 발명의 실시 형태는 스틸 밀의 강 압연 라인 또는 면처리 라인에서, 처리 장치에서의 연속 운송동안 매달린 금속 스트립의 진동 감쇠 및 형태 제어 방법으로서,
- 다수의 미접촉 센서를 통해 스트립에 대한 거리를 측정하는 단계,
- 거리 측정값으로부터 스트립 프로파일을 생성하는 단계,
- 스트립 프로파일을 모드 형태의 조합으로 분해하는 단계,
- 각각의 모드 형태로부터 총 스트립 프로파일로의 기여에 대한 계수를 결정하는 단계, 및
- 모드 형태의 조합에 기초하여 다수의 비접촉 액추에이터에 의해 스트립 프로파일을 제어하는 단계를 포함하는 진동 감쇠 및 형태 제어 방법에 관한 것이다.
스트립에 대한 거리는 다수의 거리 (시간에 따라 변하는 데이터 지점) 를 부여하는 각각의 비접촉 센서로부터 스트립 프로파일을 따라 측정된다. 일 실시 형태에서 센서들은 스트립의 양 측면에 위치하고, 다른 실시 형태에서는 센서들은 스트립의 한 측면에 위치한다. 이 거리들은 스트립 프로파일을 생성하는 데 (예를 들어, 데이터 지점에 대해 스플라인 함수 또는 매끄러운 스플라인 함수를 적용하여) 이용될 수 있다. 시간에 따라 변하는 거리에 따라, 시간에 따라 변하는 스트립 프로파일이 결정될 수 있다.
본 발명의 실시 형태에 따르면, 액추에이터를 제어하기 위한 제어 수단이 미리 프로그램된 제어 함수를 갖고 있고, 각각의 모드 형태에 대해 하나의 최선의 제어 함수를 포함하며, 상기 방법은 미리 프로그램된 제어 함수를 고유 모드 형태 분해로부터 얻은 계수와 비교검토 (weigh) 하여 다수의 액추에이터를 제어하는 단계를 더 포함한다. 미리 프로그램된 제어 함수의 비교검토는 예를 들어 모드 형태 분리로부터의 계수에서 수치를 필터링하는 것에 의해 이루어질 수 있다.
본 발명의 실시 형태에 따르면, 스트립 프로파일이 분해되는 모드 형태는 고유 모드 형태이다. 본 발명의 실시 형태에 따르면, 스트립 프로파일은 모드 형태의 선형 조합으로 분해된다.
본 발명의 실시 형태에 따르면, 상기 방법은 스트립 폭 및/또는 스트립 두께와 같은 프로세스 파라미터로부터의 입력 내용에 기초하여 미리 프로그램된 제어 함수를 비교검토하는 단계를 더 포함한다.
본 발명의 실시 형태에 따르면, 상기 방법은 비접촉 액추에이터의 수와 동일한 수의 비접촉 센서를 사용하는 것을 기초로 하고, 본 발명의 다른 실시 형태에서는 비접촉 센서의 수가 비접촉 액추에이터의 수보다 많다.
본 발명의 실시 형태에 따르면, 상기 방법은 비접촉 센서의 배치를 스트립 폭에 맞추는 단계를 포함한다.
본 발명의 실시 형태에 따르면, 상기 방법은 고유 모드 형태 분해로부터 계수를 감시하는 단계를 더 포함한다.
본 발명의 실시 형태에 따르면, 상기 방법은 모드 형태 분해로부터 계수의 주파수 분석을 연속적으로 수행하여 스트립 운동의 주파수와 크기를 결정하는 단계를 더 포함한다.
본 발명의 실시 형태에 따르면, 상기 방법은 계수의 변화량을 최소화하기 위해 액추에이터를 사용하는 단계를 더 포함한다. 계수의 변화량을 최소화하는 것은 스트립의 감쇠 진동의 효과를 갖는다.
본 발명의 실시 형태에 따르면, 상기 방법은 액추에이터를 사용하여 평균 프로파일의 형태에 영향을 주는 단계를 더 포함한다. 평균 프로파일의 형태에 영향을 주는 것은 당업계에서 스트립의 형태 제어라고 알려져 있다.
본 발명의 다른 실시 형태는 스틸 밀의 강 압연 라인 또는 면처리 라인에서, 처리 장치에서의 연속 운송동안 매달린 금속 스트립의 진동 감쇠 및/또는 형태 제어 시스템으로서, 스트립 표면에 수직인 금속 스트립에 대한 거리를 측정하는 다수의 비접촉 센서 및 상기 금속 스트립을 안정화시키는 다수의 비접촉 액추에이터를 포함하고, 상기 시스템은 스트립 프로파일을 결정하는 수단, 결정된 스트립 프로파일을 고유 모드 형태의 조합으로 분해하고 각각의 고유 모드 형태로부터 총 스트립 프로파일로의 기여에 대한 계수를 결정하는 수단, 및 고유 모드 형태의 조합에 기초하여 다수의 액추에이터를 제어하는 수단을 더 포함한다.
본 발명의 실시 형태에 따르면, 상기 시스템은 각각의 고유 모드 형태에 대하여 미리 프로그램된 제어 함수에 기초하여 액추에이터를 제어하는 수단을 포함하고, 액추에이터의 제어는 결정된 계수에 의해 비교검토된 제어 함수의 조합을 이용한다.
본 발명의 실시 형태에 따르면, 스트립에 대한 거리를 측정하는 비접촉 센서는 스트립의 운동을 안정화시키는 비접촉 액추에이터와 가까이 위치한다.
본 발명의 실시 형태에 따르면, 거리를 측정하는 다수의 비접촉 센서는 유도 센서이다.
본 발명의 실시 형태에 따르면, 운동을 안정화시키는 다수의 비접촉 액추에이터는 전자석이다.
본 발명을 통해 강 처리 라인에서 처리되는 강 시트 또는 스트립의 운동을 제어하는 방법 및 시스템을 제공하여, 스트립 진동, 스트립 운동이나 스트립 형태 결손과 같은 작동상의 문제 없이 처리 라인이 안정된 방식으로 작동될 수 있다.
도 1 은 스트립 면과 수직인 센서와 액추에이터의 일 배열을 나타낸 도면이다.
도 2 는 도 1 과 동일한 센서와 액추에이터의 배치를 나타내나, 스트립을 측면에서 바라본 도면이다.
도 3 은 금속 스트립 프로파일의 제 1 고유 모드 (natural mode) 형태를 나타낸 도면이다.
도 4 는 스트립이 0 모드 운동을 할 때 액추에이터로부터의 힘을 나타낸 도면이다.
도 5 는 스트립이 1 모드 운동을 할 때 액추에이터로부터의 힘을 나타낸 도면이다.
도 6 은 스트립이 2 모드 운동을 할 때 액추에이터로부터의 힘을 나타낸 도면이다.
도 7 은 스트립이 3 모드 운동을 할 때 액추에이터로부터의 힘을 나타낸 도면이다.
도 8 은 스트립이 4 모드 운동을 할 때 액추에이터로부터의 힘을 나타낸 도면이다.
도 9 는 본 발명의 분해 방법을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 10 은 상이한 스트립 폭에 대하여 센서 위치를 정하는 것을 개략적으로 나타낸 도면이다.
바람직한 실시 형태의 자세한 설명을 여기서 하도록 한다. 그러나 본 발명은 다양한 형태로 실시될 수 있다. 따라서, 여기 개시된 특정한 개시 내용은 한정적으로 해석되지 않으며, 청구범위에 대한 기초로서 해석되어야 하고, 시각적으로 적절하게 설명된 시스템, 구조 또는 방법으로 본 발명을 채택하기 위하여 당업자에게 알리기 위한 대표적인 기초내용으로서 해석되어야 한다.
도 1 은 본 발명의 실시 형태에 따른, 스트립 (3) 에 수직인 센서와 액추에이터의 일 배치를 나타낸다. 금속 스트립 (3) 프로파일은 짧은 측 (4) 이 매달려 있거나 고정되어 있다. 위치 센서 (2) (유도 위치 센서가 될 수 있다) 와 액추에이터 (1) (전자석이 될 수 있다) 는 스트립을 가로지르도록 배치된다. 전자석은 금속 스트립에 직각으로 작용하는 자기력을 발생시키고, 전자석으로 흐르는 전류를 조절하여 금속 스트립에 대한 힘을 제어할 수 있다. 적어도 액추에이터 (1) 의 수만큼 센서 (2) 가 존재해야 한다. 액추에이터 (1) 는 스트립이 제 위치를 유지하도록 스트립에 힘을 가한다. 센서는 힘을 발생시키는 액추에이터 (1) 와 동일한 단면상에 (또는 동일한 프로파일을 측정하는 것으로 인정될 수 있을 정도로 충분히 가까이) 위치한다. c-c 라인은 스트립 프로파일이 결정되는 라인이다.
도 2 는 도 1 과 동일한 센서 및 액추에이터의 배치를 나타내나, 스트립 (3) 의 측면에서 바라본 도면이다. 스트립의 짧은 측 (4) 은 예를 들어 스트립이 롤러 상에 놓여 고정된다. 고정된 측 (4) 사이에서 금속 스트립은 매달려 자유롭게 운동한다. 위치 센서 (2) 와 액추에이터 (1) 는 금속 스트립 (3) 의 양측면에 위치한다. c-c 라인은 스트립 프로파일이 결정되는 라인이다.
도 3 은 금속 스트립 (3) 프로파일의 제 1 고유 모드 형태 (natural mode shape) 를 나타낸다. 10 은 0 모드 운동을 나타낸다. 점선은 중앙선을 나타내고 금속 스트립 프로파일 (검은선) 은 중앙선의 앞뒤로 운동한다. 11 은 1 모드 운동을 나타내고, 여기서 금속 스트립은 (점선의) 중앙선에 대하여 앞뒤로 꼬인다 (twist). 12 는 2 모드 운동을 나타내고, 여기서 금속 스트립은 (점선의) 중앙선에 대하여 앞뒤로 휘어진다. 13 은 3 모드 운동을 나타내고, 여기서 금속 스트립은 (점선의) 중앙선에 대하여 앞뒤로 2 번 휘어진다. 고유 모드는 계속 이어질 수 있다.
매달린 스트립 (3) 의 동역학을 지배하는 물리법칙은, 스트립 프로파일의 운동이 다수의 (이론 무한대의) 고유 모드 또는 고유 진동 또는 진동의 고유 모드 형태의 선형 조합으로 표현될 수 있다는 것이다. "고유 (ntaural)" 라는 용어는 단일 모드로 완전히 한정된 운동이 가능하다는 것이다. 처음 4 개의 고유 모드는 도 3 에 도시되어 있다.
도 4 는 스트립이 0 모드 운동을 할 때 액추에이터로부터의 힘을 나타낸다. 스트립 (3) 의 운동을 제어하는 액추에이터는 스트립의 상하에 위치한 작은 직사각형들이다. 왼쪽 그림에서, 금속 스트립 (3) 은 "중앙" 위치 또는 원하는 위치 (점선) 에 위치한다. 가운데 그림에서, 금속 스트립 (3) 은 중앙 위치의 "아래쪽" 에 (수직으로 변위되어) 위치하고, 화살표는 액추에이터로부터 스트립 (3) 에 대한 힘 (개략적으로 "위쪽" 액추에이터로부터의 힘과 "아래쪽" 액추에이터로부터의 힘으로 간단히 요약했다) 을 나타낸다. 오른쪽 그림에서, 금속 스트립 (3) 은 중앙 위치의 "위쪽" 에 위치하고, 화살표는 액추에이터로부터 스트립 (3) 에 대한 힘을 나타낸다. 화살표는 또한 이 특정 형태에 대한 최선의 액추에이터 반응을 나타낸다.
도 5 는 스트립이 1 모드 운동을 할 때 액추에이터로부터의 힘을 나타낸다. 스트립 (3) 운동을 제어하는 액추에이터는 스트립의 상하에 위치한 작은 직사각형들이다. 왼쪽 그림에서, 금속 스트립 (3) 은 "중앙" 위치 또는 원하는 위치 (점선) 에 위치한다. 가운데 그림에서, 금속 스트립 (3) 은 중앙 위치 주위에 "꼬인" 상태이고, 화살표는 액추에이터로부터 스트립 (3) 에 대한 힘을 나타낸다. 오른쪽 그림에서, 금속 스트립 (3) 은 다른 방향으로 "꼬인" 상태이다.
도 6 은 스트립이 2 모드 운동을 할 때 액추에이터로부터의 힘을 나타낸다. 왼쪽 그림에서, 금속 스트립 (3) 은 "중앙" 위치에 위치한다. 가운데 그림에서, 금속 스트립 (3) 은 일 방향으로 휘어진 상태이고, 화살표는 액추에이터로부터 스트립 (3) 에 대한 힘을 나타낸다. 오른쪽 그림에서, 금속 스트립 (3) 은 다른 방향으로 휘어진 상태이다.
도 7 은 스트립이 3 모드 운동을 할 때 액추에이터로부터의 힘을 나타낸다. 왼쪽 그림에서, 금속 스트립 (3) 은 "중앙" 위치에 위치한다. 가운데 그림에서, 금속 스트립 (3) 은 3 모드 운동 상태에 있고, 화살표는 액추에이터로부터 스트립 (3) 에 대한 힘을 나타낸다. 오른쪽 그림에서, 금속 스트립 (3) 은 다른 방향으로 3 모드 운동 상태에 있다.
도 8 은 스트립이 4 모드 운동을 할 때 액추에이터로부터의 힘을 나타낸다. 왼쪽 그림에서, 금속 스트립 (3) 은 "중앙" 위치에 위치한다. 가운데 그림에서, 금속 스트립 (3) 은 4 모드 운동 상태에 있다. 오른쪽 그림에서, 금속 스트립 (3) 은 반대로 4 모드 운동 상태에 있다. 도 4 내지 도 8 은 상이한 고유 모드 형태를 나타내지만, 본 발명은 이러한 고유 모드 형태를 사용하는 것에 제한되지 않는다.
도 9 는 본 발명에서 분해 방법을 개략적으로 나타낸다. 왼쪽 도면 (20) 은 운동하는 스트립 (3) 및 위치 센서 (2) 를 개략적으로 나타내고 있다. 측정된 운동은 고유 모드 형태 (21) 로 분해된다. 각각의 고유 모드 형태의 기여에 대한 계수 (a0, a1, a2, a3) 들은 또한 이 분해 과정에서 결정된다. 계수 (a0, a1, a2, a3) 들은 시간에 대한 변수이다.
각각의 고유 모드 형태 및 스트립에 대해, 최선의 액추에이터 (22) 반응이 존재한다 (단지 한 줄의 액추에이터만 도시되어 있다). 한 모드 형태에 대한 최선의 액추에이터 반응은 사전에 결정되고 프로그램될 수 있다. 한 모드에 대한 최선의 액추에이터 반응은 스트립 크기 (자유 길이, 폭 및 두께), 스트립 장력 및 스트립 속도에 의한다. 각 모드 형태에 대한 최선의 액추에이터 응답을 조합 (선형 조합 또는 다른 조합) 한 것을 이용하고 결정된 계수 (a0, a1, a2, a3) 들의 필터링된 값을 이용하여, 최선의 액추에이터 응답 조합 계수 (b0, b1, b2, b3) 에 도달하고, 실제 액추에이터 반응 (23) 을 얻게 된다.
본 발명에 숨겨진 아이디어는 액추에이터와 동일한 수의 베이스들을 이용하여, 스트립 프로파일과 총 힘 프로파일을 베이스 형태의 조합 (선형 조합 또는 다른 조합) 으로 표현한다는 것이다.
각각의 베이스 형태에서, 전류 프로파일 (이 프로파일은 구입 가능한 센서를 이용하여 근사치를 낼 수 있다) 의 급수 전개 (series expansion) 에서의 그 형태의 계수를 실제 값으로 사용하고, 힘 프로파일의 급수 전개에서의 동일한 형태에 대한 계수를 조작된 값으로 사용하는 제어기가 설계된다. 사용 가능한 액추에이터들은 원하는 프로파일을 합성하기 위해 이용된다.
형태들은 스트립의 고유 모드이기 때문에, 형태들 중 하나와 정확하게 맞는 힘 프로파일은 동일한 형태로 제한된 운동을 만들어내야 하고, 이는 각각의 형태에 대한 제어기들은 서로 분리되고, 조절기들의 파라미터를 조정하는 일을 상당히 단순화시켜주게 된다는 것을 의미한다. 본 발명은 고유 모드 형태를 사용하는 데에 한정되지 않으며, 어떠한 모드 형태 (비고유 모드) 도 측정된 스트립 형태를 분해하는 데 사용될 수 있다. 이러한 비고유 모드 형태는 고유 모드 형태와 동일한 방식으로 최선의 액추에이터 (22) 반응 (힘 프로파일) 과 연관될 수 있다. 어떠한 모드 (고유 또는 비고유) 에 대한 힘 프로파일의 조합 (선형 조합 또는 다른 조합) 은 실제 액추에이터 반응 (23) 에 결합된다.
본 발명의 목적은 스트립 제어를 (각 모드 형태에 대하여 하나의) 독립적인 1 루프 제어로 분리하는 것이다. 1 루프 제어는 서로 분리되어 실제 액추에이터 반응 (23) 에 결합된다.
도 10 은 상이한 스트립 폭에 대하여 센서 (2) 위치를 맞추는 것을 개략적으로 나타낸다. 넓은 스트립 (30, 32) 에서, 센서는 스트립의 전체 폭을 따라서 위치한다. 덜 넓은 스트립 (31, 33) 에서, 만약 센서 (2) 의 배치가 스트립 폭에 맞춰지지 않으면, 몇몇 센서들은 스트립의 거리 (31) 를 측정할 수 없고 결국 스트립 프로파일 및 스트립의 감쇠 운동을 덜 정확하게 결정하게 될 것이다. 만약 센서 (2) 의 배치가 스트립의 폭에 맞춰지면, 모든 센서 (2) 가 스트립의 거리를 측정할 수 있을 것이다. 다른 실시 형태는 비접촉 액추에이터의 배치나 위치가 또한 스트립의 폭에 맞추도록 해 준다. 센서의 위치는 또한 상이한 모든 고유 모드가 변형이 없는 위치에서 거리를 측정하지 않도록, 예를 들어 1 모드 스트립의 폭의 중앙에 센서가 위치하지 않도록 위치할 수 있다.
1: 액추에이터 2: 위치 센서
3: 스트립 4: 짧은 측

Claims (26)

  1. 스틸 밀의 강 압연 라인 또는 면처리 라인에서, 처리 장치에서의 연속 운송동안 떠 있는(suspended) 금속 스트립의 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 방법으로서,
    - 다수의 미접촉 센서를 통해 스트립에 대한 거리를 측정하는 단계,
    - 거리 측정값으로부터 스트립 프로파일을 생성하는 단계,
    - 스트립 프로파일을 모드 형태의 조합으로 분해하는 단계,
    - 각각의 모드 형태로부터 총 스트립 프로파일로의 기여에 대한 계수를 결정하는 단계, 및
    - 모드 형태의 조합에 기초하여 다수의 비접촉 액추에이터에 의해 스트립 프로파일을 제어하는 단계를 포함하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    액추에이터를 제어하기 위한 제어 수단이 미리 프로그램된 제어 함수를 갖고 있고, 각각의 모드 형태에 대해 하나의 최선의 제어 함수를 포함하며,
    상기 방법은
    - 미리 프로그램된 제어 함수를 고유 모드 형태 분해로부터 얻은 계수와 비교검토하여 다수의 액추에이터를 제어하는 단계를 더 포함하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 방법.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 모드 형태는 고유 모드 형태인 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 방법.
  4. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 스트립 프로파일은 모드 형태의 선형 조합으로 분해되는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 방법.
  5. 제 2 항에 있어서,
    상기 방법은 스트립 폭, 스트립 두께, 스트립 장력 및 스트립 속도와 같은 적어도 하나의 프로세스 파라미터로부터의 입력 내용에 기초하여 미리 프로그램된 제어 함수와 비교검토하는 단계를 더 포함하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 방법.
  6. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 방법은 비접촉 액추에이터의 수와 동일한 수의 비접촉 센서를 사용하는 것을 기초로 하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 방법.
  7. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 방법은 비접촉 액추에이터보다 많은 비접촉 센서를 사용하는 것을 기초로 하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 방법.
  8. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    비접촉 센서의 배치는 전체 스트립 폭과 동일한 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 방법.
  9. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 방법은 비접촉 센서의 배치를 스트립 폭에 맞추는 단계를 포함하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 방법.
  10. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 방법은 고유 모드 형태 분해로부터 계수를 분석하는 단계를 더 포함하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 방법.
  11. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 방법은 고유 모드 형태 분해로부터 계수의 주파수 분석을 연속적으로 수행하여 스트립 운동의 주파수와 크기를 결정하는 단계를 더 포함하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 방법.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 방법은 고유 모드 형태 분해로부터 계수를 분석하여 상이한 모드 운동에서의 상대 에너지를 결정하는 단계를 더 포함하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 방법.
  13. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 방법은 각 모드 형태로부터 총 스트립 프로파일로의 기여에 대한 계수의 변화량을 최소화하기 위해 액추에이터를 사용하는 단계를 더 포함하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 방법.
  14. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 방법은 액추에이터를 사용하여 평균 스트립 프로파일의 형태에 영향을 주는 단계를 더 포함하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 방법.
  15. 스틸 밀의 강 압연 라인 또는 면처리 라인에서, 처리 장치에서의 연속 운송동안 떠 있는 금속 스트립의 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 시스템으로서,
    - 스트립 표면에 수직인 금속 스트립에 대한 거리를 측정하는 다수의 비접촉 센서; 및
    - 상기 금속 스트립을 안정화시키는 다수의 비접촉 액추에이터를 포함하고,
    상기 시스템은 스트립 프로파일을 결정하는 수단, 결정된 스트립 프로파일을 모드 형태의 조합으로 분해하고 각각의 모드 형태로부터 총 스트립 프로파일로의 기여에 대한 계수를 결정하는 수단, 및 모드 형태의 조합에 기초하여 다수의 액추에이터를 제어하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 시스템.
  16. 제 15 항에 있어서,
    상기 시스템은 각각의 고유 모드 형태에 대하여 미리 프로그램된 제어 함수에 기초하여 액추에이터를 제어하는 수단을 포함하고, 액추에이터의 제어는 결정된 계수에 의해 비교검토된 제어 함수 조합을 이용하는 것을 특징으로 하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 시스템.
  17. 제 15 항 또는 제 16 항에 있어서,
    거리를 측정하는 비접촉 센서의 수는 비접촉 액추에이터의 수와 동일한 것을 특징으로 하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 시스템.
  18. 제 15 항 또는 제 16 항에 있어서,
    거리를 측정하는 비접촉 센서의 수는 비접촉 액추에이터의 수보다 많은 것을 특징으로 하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 시스템.
  19. 제 15 항 또는 제 16 항에 있어서,
    스트립에 대한 거리를 측정하는 비접촉 센서는 스트립의 운동을 안정화시키는 비접촉 액추에이터와 가까이 위치하는 것을 특징으로 하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 시스템.
  20. 제 16 항에 있어서,
    상기 시스템은 스트립 폭 및 스트립 두께 중 하나 이상과 같은 프로세스 파라미터로부터의 입력 내용에 기초하여 미리 프로그램된 제어 함수를 비교검토하는 것을 특징으로 하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 시스템.
  21. 제 15 항 또는 제 16 항에 있어서,
    비접촉 센서의 배치는 스트립 폭이 변한 만큼 변하지 않는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 시스템.
  22. 제 15 항 또는 제 16 항에 있어서,
    비접촉 센서의 배치는 스트립 폭에 맞춰진 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 시스템.
  23. 제 15 항 또는 제 16 항에 있어서,
    거리를 측정하는 다수의 비접촉 센서는 유도 센서인 것을 특징으로 하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 시스템.
  24. 제 15 항 또는 제 16 항에 있어서,
    운동을 안정화시키는 다수의 비접촉 액추에이터는 전자석인 것을 특징으로 하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 시스템.
  25. 제 15 항 또는 제 16 항에 있어서,
    액추에이터는 각 모드 형태로부터 총 스트립 프로파일로의 기여에 대한 계수의 변화량을 최소화하는데 이용되는 것을 특징으로 하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 시스템.
  26. 제 15 항 또는 제 16 항에 있어서,
    액추에이터는 평균 스트립 프로파일의 형태에 영향을 주기 위해 사용되는 것을 특징으로 하는 진동 감쇠 및 형태 제어를 위한 시스템.
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