KR101366204B1 - 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치 - Google Patents

조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101366204B1
KR101366204B1 KR1020130103495A KR20130103495A KR101366204B1 KR 101366204 B1 KR101366204 B1 KR 101366204B1 KR 1020130103495 A KR1020130103495 A KR 1020130103495A KR 20130103495 A KR20130103495 A KR 20130103495A KR 101366204 B1 KR101366204 B1 KR 101366204B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
light
illumination
nut
pan nut
unit
Prior art date
Application number
KR1020130103495A
Other languages
English (en)
Inventor
이진석
Original Assignee
주식회사 서울금속
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 서울금속 filed Critical 주식회사 서울금속
Priority to KR1020130103495A priority Critical patent/KR101366204B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101366204B1 publication Critical patent/KR101366204B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N21/95684Patterns showing highly reflecting parts, e.g. metallic elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/954Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

본 발명은, 팬너트와 마주하는 하측면과, 광을 반사하는 경사면을 구비하는 광학 유닛; 제1 조명광을 출력하는 발광 모듈과, 상기 하측면과 일체로 형성되는 상측면과 상기 제1 조명광을 반사시켜 상기 팬너트의 중공부를 향해 진행시키는 반사면을 갖는 반사 모듈을 구비하는 조명 유닛; 및 상기 반사면에서 반사된 제1 조명광에 의해 상기 중공부의 내주면에서 1차 반사된 제1 반사광을 상기 하측면 및 상기 상측면을 투과하여 상기 경사면을 통해 2차 반사하여 수광함으로써 상기 팬너트의 내주면에 대한 이미지를 획득하도록 형성되는 카메라 유닛을 포함하는, 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치를 제공한다.

Description

조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치{VISION APPARATUS FOR INSPECTING PAN NUT USING LIGHTING}
본 발명은, 조명을 이용하여 팬너트의 내주면을 검사하기 위한 팬너트 비전 검사 장치에 관한 것이다.
전자 산업의 발전 및 수요 증대에 힘입어 체결요소 부품도 전자제품의 고품질화 트렌드를 뒷받침하기 위해 소형화·정밀화되고 있다. 이러한 전자제품의 고품질화에는 체결요소 부품의 품질 신뢰도 향상도 수반하게 된다. 그에 따라, 체결요소 부품의 검사는 품질관리의 중요한 부분으로 정착되고 있다.
체결요소 부품의 자동화 검사 장비의 하나인 비전 검사 장치는, 체결 요소를 촬영한 이미지를 처리하여 제품의 외관을 검사할 수 있게 구성된 것이다.
이러한 검사 과정에서, 통상적으로 외면의 이미지를 얻으면 되는 나사류와 달리, 너트류는 중공부의 내주면의 나사산에 대한 이미지를 얻어야 하는 점에서 이미지 획득시에 어려움이 있다. 특히, 나사류 중에서도 일 단부가 막힌 팬너트의 경우에는 중공부를 향해 조명을 제공하기가 곤란하여 그 어려움이 더 크다고 할 수 있다.
본 발명의 목적은, 팬너트의 내주면에 형성된 나사산에 대한 보다 분명하면서도 전체적인 이미지를 한번의 촬영으로도 획득할 수 있게 하는, 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치를 제공하는 것이다.
상기 과제를 실현하기 위한 본 발명의 일 실시예와 관련된 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치는, 팬너트와 마주하는 하측면과, 광을 반사하는 경사면을 구비하는 광학 유닛; 제1 조명광을 출력하는 발광 모듈과, 상기 하측면과 일체로 형성되는 상측면과 상기 제1 조명광을 반사시켜 상기 팬너트의 중공부를 향해 진행시키는 반사면을 갖는 반사 모듈을 구비하는 조명 유닛; 및 상기 반사면에서 반사된 제1 조명광에 의해 상기 중공부의 내주면에서 1차 반사된 제1 반사광을 상기 하측면 및 상기 상측면을 투과하여 상기 경사면을 통해 2차 반사하여 수광함으로써 상기 팬너트의 내주면에 대한 이미지를 획득하도록 형성되는 카메라 유닛을 포함할 수 있다.
여기서, 상기 광학 유닛은, 상기 카메라 유닛 측으로 갈수록 단면적이 넓어지게 형성되고, 상기 카메라 유닛의 촬영축과 경사지게 배치되는 상기 경사면과, 상기 하측면을 구비하는 콘렌즈를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 반사 모듈은, 상기 카메라 유닛 측으로 갈수록 단면적이 넓어지게 형성되고, 그 외주면에 상기 반사면을 구비하는 미러 부재를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 반사면은 곡면의 형상을 가질 수 있다.
여기서, 상기 반사면은, 상기 제1 반사광을 투과시킬 수 있게 하프 미러로 형성될 수 있다.
여기서, 상기 미러 부재는, 상기 콘렌즈와 일체로 형성되고, 상기 콘렌즈의 하측면 중 일부의 영역과 대응하는 사이즈를 갖는 상기 상측면을 더 포함할 수 있다.
여기서, 상기 발광 모듈은, 상기 제1 조명광을 출력하는 광원; 및 상기 광원과 상기 반사 모듈의 사이에 배치되는 집광 렌즈를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 광원은, 상기 반사 모듈의 외부에 그 둘레 방향을 따라 배치되고, 상기 집광 렌즈는, 상기 둘레 방향을 따라 환형으로 형성될 수 있다.
상기와 같이 구성되는 본 발명에 관련된 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치에 의하면, 조명이 반사 모듈에 의해 팬너트 내주면의 나사산을 향해 비스듬히 입사되므로, 나사산 사이의 영역에 대한 보다 분명한 이미지를 획득할 수 있다.
또한, 광학 유닛을 통해 팬너트 내주면의 전체적인 이미지를 한 번의 촬영으로 획득할 수 있어 검사 시간을 단축시킬 수 있다. 나아가, 팬너트를 회전시키거나 또는 카메라 유닛을 회전시키는 등을 위한 구성을 사용하지 않을 수 있게 되어, 팬너트에 대한 검사를 간단화할 수 있다.
또한, 팬너트의 길이가 길더라도, 광량의 부족으로 인한 문제를 해소하여 내부 나사산에 대한 분명한 이미지를 획득할 수 있게 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(100)의 평면도이다.
도 2는 도 1의 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(100)의 주요부를 전체적으로 도시한 단면도이다.
도 3은 도 1의 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(100)의 단면도이다.
도 4는 도 1의 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(100)의 확대 단면도이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(200)의 확대 단면도이다.
도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(300)의 단면도이다.
도 7은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(400)의 단면도이다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치에 대하여 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 본 명세서에서는 서로 다른 실시예라도 동일·유사한 구성에 대해서는 동일·유사한 참조번호를 부여하고, 그 설명은 처음 설명으로 갈음한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(100)의 평면도이다.
본 도면을 참조하면, 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(100)는, 공급 유닛(110), 이송 유닛(120), 대상물 감지 유닛(130), 광학 유닛(140), 조명 유닛(150), 카메라 유닛(160), 형상 측정 유닛(170), 및 배출 유닛(180)을 포함할 수 있다.
공급 유닛(110)은 공급부(111) 및 정렬부(113)를 포함할 수 있다. 공급부(111)는 호퍼(hopper) 형태로 형성되며, 측정할 대상물(N)을 시간당 일정 양만큼 정렬부(113)에 공급한다. 여기서, 대상물(N)은 너트, 볼트, 또는 팬너트와 같은 나사류를 포함할 수 있다.
정렬부(113)는 서로 모여져 있는 대상물(N)을 겹치지 않게 낱개 단위로 분리하고 일정한 자세로 정렬시킨다. 구성적인 측면에 있어서, 정렬부(113)는 볼(bowl) 피더(115), 직선 피더(117), 및 스페이서(119)를 포함할 수 있다.
볼 피더(115)는 대상물(N)이 모여져 있는 상태에서 진동에 의하여 상호 분리되면서 특정 방향을 따라 안내되도록 구성된다. 볼 피더(115)는 대상물(N)을 이송하는 중에 가이드의 형상에 의하여 대상물(N)이 특정 자세를 갖도록 유도하거나 특정된 자세를 갖지 않는 대상물(N)을 탈락시킨다. 종류에 있어서 볼 피더(115)는 계단형, 원추형, 원통형, 접시형, 단종형 등 알려져 있는 다양한 타입으로 형성될 수 있다.
볼 피더(115)에 의해 일정 자세로 공급된 대상물(N)은 직선 피더(117)에 의해 일렬로 이송 유닛(120)에 정렬될 수 있도록 준비된다. 직선 피더(117)는 대상물(N)을 자중에 의해 자연적으로 이송되도록 하여 먼저 진행된 대상물(N)에 밀착시킨다. 공급 속도를 증대시키고 상호 간의 간격을 일정하게 유지하기 위해, 직선 피더(117)에는 공압 노즐과 같은 푸셔(pusher)가 구비될 수 있다. 직선 피더(117)의 끝단에는 한꺼번에 대상물(N)이 복수 개가 공급되는 것(잼)을 방지하기 위한 기계적 또는 전자적 장치가 구비될 수 있다. 그러한 잼 방지 장치로는 스프링에 의해 젖혀질 수 있는 암(arm) 또는 게이트(gate)나 롤러(roller) 등을 채택할 수 있다.
스페이서(119)는 직선 피더(117)에 의해 이송 유닛(120)에 놓여진 대상물(N)이 이송 유닛(120) 상에서 일정한 위치에 놓여 지도록 안내한다. 이송 유닛(120)에 놓여진 대상물(N)은 관성 또는 흔들림에 의해 설정된 위치에서 벗어나 있을 수 있다. 이를 맞추기 위해, 스페이서(119)는 대상물(N)과 접촉하여 대상물(N)을 이송 유닛(120)의 반경방향으로 이동할 수 있게 구성된다.
도 1에는 이송 유닛(120)의 상면에 대상물(N)이 '놓여 지는' 방식으로서 정렬부(113)도 그에 적용될 수 있는 일 예를 보인 것이나, 정렬을 위한 메커니즘은 대상물(N)에 따라 다양한 형태가 될 수 있다. 그러한 예로서, 정렬부(113)는 대상물(N)이 끼워지는 홈이 일정한 간격으로 외주 측면에 형성된 원형판을 포함할 수 있다.
이송 유닛(120)은 일정한 회전 속도를 갖는 원형의 회전판(121)을 구비할 수 있다. 대상물(N)은 회전판(121)에 놓여지게 되며, 이송 유닛(120)은 대상물(N)을 이송하는 동안 단계적으로 측정(검사)을 받도록 하고 측정이 마쳐진 후 배출되도록 한다. 회전판(121)의 구동을 위하여 회동부 및 속도 제어를 위한 감속 장치 등이 포함될 수 있다. 회전판(121)은 대상물(N)을 상면에 배치하고 회전판(121)의 저면에서도 측정이 가능하도록 투명 글라스 형태로 형성될 수 있다. 이외에도 회전판(121)은 외주의 측면에 대상물(N)이 끼워질 수 있는 홈이 일정 간격으로 형성된 타입으로 형성될 수도 있다.
대상물 감지 유닛(130)은 이송 유닛(120)에 옮겨진 대상물(N)을 감지한다. 대상물 감지 유닛(130)은 대상물(N)이 대상물 감지 유닛(130)을 지나쳐서 검사 영역으로 향하는지 감지하여 위치 및 대상물(N) 간의 간격에 관한 정보를 데이터 처리부에 전송한다. 대상물(N)의 감지를 위하여 광센서, 근접센서 등이 사용될 수 있다. 이외에도 대상물 감지 유닛(130)은 엔코더 형태로 구현될 수 있다.
광학 유닛(140), 조명 유닛(150), 및 카메라 유닛(160)은 대상물(N)이 검사 영역 내에 왔을 때 대상물(N)의 표면에 대한 정보를 얻을 수 있게 구성된다. 얻어진 정보는 본 도면에 도시되지 않은 처리 유닛에 의해 나사산의 결손 또는 크랙과 같은 결함의 유무를 평가하는데 활용된다. 광학 유닛(140), 조명 유닛(150), 및 카메라 유닛(160)의 상세한 구성 및 작동 방식에 대하여는 도 2 내지 도 7을 참조하여 후술한다.
다시 도 1을 참조하면, 형상 측정 유닛(170)은 대상물(N)의 헤드 규격, 몸체의 직경, 몸체의 길이 등 다양한 크기적 요소를 측정할 수 있게 구성된다. 형상 측정 유닛(170)은 대상물(N)의 일측에 배치되는 백라이트와, 백라이트의 반대쪽에 배치되는 촬영기를 갖춤으로써 대상물(N)의 실루엣을 검사할 수 있게 구성될 수 있다.
배출 유닛(180)은 검사가 완료되었거나 재검사가 필요한(측정되지 않은) 대상물(N)을 분류하여 배출시킨다. 배출 유닛(180)은 적어도 하나의 양품 배출부(181, 182), 불량품 배출부(183), 및 재검사품 배출부(184)를 포함할 수 있다. 정확한 배출을 위하여 배출 유닛(180)은 공압으로 대상물(N)을 이동시키는 공압 노즐을 포함할 수 있다.
이외에도 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(100)는 각 전자 부품들을 제어하거나 감지 또는 측정된 결과를 받는 데이터 처리부와, 검사 상태를 시각적으로 표시하기 위한 디스플레이를 포함할 수 있다. 데이터 처리부는 양품과 불량품, 및 재검사품을 구별하기 위한 알고리즘이 포함된 소프트웨어를 내장하고, 또한 사용자의 조작 또는 알림을 용이하게 하기 위한 시각적 사용자 인터페이스(graphic user interface: GUI)를 갖출 수 있다. 이하에서는, 상술한 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(100)의 광학 유닛(140), 조명 유닛(150), 및 카메라 유닛(160)의 전체적인 구성에 대해 도 2를 참조하여 설명한다.
도 2는 도 1의 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(100)의 주요부를 전체적으로 도시한 단면도이다. 구체적으로, 도 2(a)는 도 1의 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(100)의 주요 구성을 전체적으로 도시한 단면도이고, 도 2(b)는 도 2(a)의 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(100)의 확대 단면도이다.
본 실시예에서, 대상물은 팬너트(N)일 수 있다. 팬너트(N)는 헤드부(NH) 및 몸체부(NB)를 가질 수 있다. 여기서, 몸체부(NB)는 중공부(NC)를 가질 수 있으며, 중공부(NC)의 내주면(NI)에는 나사산이 형성될 수 있다.
도 2(a)를 참조하면, 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(100)는 이송 유닛(120), 광학 유닛(140), 조명 유닛(150), 및 카메라 유닛(160)을 포함할 수 있다.
이송 유닛(120)은 팬너트(N)를 이송하는 요소이다. 이송 유닛(120)은 회전판(121)을 포함할 수 있다. 여기서, 팬너트(N)는 그 헤드부(NH)가 회전판(121)에 놓여진 상태로 이송될 수 있다.
광학 유닛(140)은 팬너트(N)의 내주면(NI)에서 반사되는 제1 반사광(Lo1)을 카메라 유닛(160)으로 집광시키는 요소이다. 광학 유닛(140)은 콘렌즈(141)를 포함할 수 있다.
콘렌즈(141)는 팬너트(N)의 내주면(NI)에서 1차 반사되어 진행하는 제1 반사광(Lo1)을 2차 반사시키는 요소이다. 콘렌즈(141)는 카메라 유닛(160) 측으로 갈수록 단면적이 넓어지게 형성될 수 있다. 또한, 제1 반사광(Lo1)을 2차 반사시켜 제2 반사광(Lo2)을 생성할 수 있도록, 카메라 유닛(160)의 촬영축(X)과 경사지게 배치되는 경사면(141a)을 포함할 수 있다.
조명 유닛(150)은 팬너트(N)의 중공부(NC)를 조명하기 위한 요소이다. 이를 위해, 조명 유닛(150)은 발광 모듈(151), 반사 모듈(155), 및 주광원 모듈(157)을 포함할 수 있다. 여기서, 발광 모듈(151) 및 반사 모듈(155)에 대해서는 도 3 내지 도 7을 참조하여 후술한다.
다시 도 2(a)를 참조하면, 주광원 모듈(157)은 주광원(158) 및 반사체(159)를 포함할 수 있다. 주광원(158)은 팬너트(N)의 중공부(NC)를 밝게 조명할 수 있도록 충분한 광량을 출력할 수 있게 구성될 수 있다. 반사체(159)는 주광원(158)으로부터 출력된 광을 팬너트(N)의 중공부(NC)를 향해 반사시키기 위한 요소이다. 이를 위해, 반사체(159)는 그 내부에 하프 미러부(159a)를 포함할 수 있다.
카메라 유닛(160)은 팬너트(N)를 촬영하는 요소이다. 카메라 유닛(160)은 콘렌즈(141)의 경사면(141a)에서 2차 반사되는 제2 반사광(Lo2)을 수광하여 팬너트(N)의 내주면(NI)에 대한 이미지를 획득할 수 있다.
이하에서는, 도 2(b)를 참조하여 상술한 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(100)의 작동 방식에 대해 설명한다.
본 도면 및 도 2(a)를 참조하면, 주광원(158)으로부터 출력된 광은 하프 미러부(159a)에서 반사되어 수직 조명광(Lv)의 형태로 팬너트(N)의 중공부(NC)를 향해 입사될 수 있다. 이와 같이 수직 조명광(Lv)이 팬너트(N)의 중공부(NC)에 조사되면, 팬너트(N)의 내주면(NI)에서 1차 반사되는 제1 반사광(Lo1)은 콘렌즈(141)의 경사면(141a)에서 2차 반사될 수 있다. 2차 반사된 제2 반사광(Lo2)은 카메라 유닛(160)으로 입사될 수 있고, 이에 의해 카메라 유닛(160)은 팬너트(N)의 내주면(NI)에 대한 이미지를 획득할 수 있다. 이러한 구성에 의하면, 팬너트(N)의 내주면(NI)에 대한 전체적인 이미지를 하나의 카메라 유닛(160)을 통해 획득할 수 있어 구성이 간소화되고 검사 시간을 단축시킬 수 있다.
여기서, 수직 조명광(Lv)은 팬너트(N)의 중공부(NC)를 향해 촬영축(X)과 거의 평행한 방향으로, 구체적으로 나사산의 돌출 방향과 거의 수직 방향으로 입사될 수 있다. 이에 따라, 내주면(NI)의 나사산 사이의 영역에는 수직 조명광(Lv)에 의한 그림자가 형성될 수 있다. 이러한 그림자는 획득된 이미지에서 어둡게 출력되어 검사 정밀도를 떨어트릴 수 있다. 이하에서는, 이러한 그림자 영역에 대한 검사 정밀도를 향상시키기 위한 구성에 대해 도 3을 참조하여 설명한다.
도 3은 도 1의 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(100)의 단면도이다. 본 도면을 참조하면, 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(100)는 상술한 이송 유닛(120), 광학 유닛(140), 및 카메라 유닛(160)과 함께, 조명 유닛(150)을 포함할 수 있다. 설명의 편의상, 조명 유닛(150)의 주광원 모듈(157, 도 2 참조)에 대하여는 위의 설명으로 갈음한다.
조명 유닛(150)은 제1 조명광(Li1)을 출력하여 팬너트(N)의 중공부(NC)를 향해 반사시키기 위한 요소이다. 이를 위해, 조명 유닛(150)은 발광 모듈(151), 및 반사 모듈(155)을 포함할 수 있다.
발광 모듈(151)은 광원(152), 및 가이드 부재(153)를 포함할 수 있다. 광원(152)은 제1 조명광(Li1)을 출력하는 요소이다. 광원(152)은 후술하는 반사 모듈(155)의 측방에 그 둘레 방향을 따라 환형으로 배치될 수 있다.
가이드 부재(153)는 광원(152)의 제1 조명광(Li1)의 조사 방향을 가이드하는 요소이다. 가이드 부재(153)는 광원(152)을 둘러싸도록 구성될 수 있고, 제1 조명광(Li1)을 반사시킬 수 있게 그 내면에 반사 영역부를 구비할 수 있다.
반사 모듈(155)은 제1 조명광(Li1)을 반사시켜 팬너트(N)의 중공부(NC)를 향해 조사시키기 위한 요소이다. 반사 모듈(155)은 광학 유닛(140)과 팬너트(N)의 사이에 배치될 수 있다. 반사 모듈(155)에 대해서는 도 4를 참조하여 구체적으로 후술한다.
이하에서는, 상술한 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(100)의 작동 방식에 대해 설명한다.
본 실시예에서, 콘렌즈(141)는 팬너트(N)의 내주면(NI)에 대한 분명하고 정확한 이미지를 획득하기 위하여, 그 하측면(141b)이 팬너트(N)와 상당히 좁은 간격을 두고 이격되도록 배치될 수 있으며, 또한 그 하측면(141b)의 지름(d1)이 중공부(NC)의 지름(d2)보다 크게 형성될 수 있다. 이에 따라, 콘렌즈(141)의 하측면(141b)과 팬너트(N)의 사이에 별도의 조명 및 이에 필요한 배선 등을 설치하기 어려워, 팬너트(N)의 내주면(NI)에 대한 명확한 이미지를 획득하기가 쉽지 않을 수 있다.
본 실시예에 따르면, 팬너트(N)가 이송 유닛(120)에 의해 검사 영역에 도달하면, 광원(152)으로부터 출력된 제1 조명광(Li1)이 반사 모듈(155)에 의해 반사되어 팬너트(N)의 중공부(NC)로 조사될 수 있다. 이러한 구성에 의하면, 제2 조명광(Li2)이 팬너트(N)의 중공부(NC)로 깊숙이 조사될 수 있다. 또한, 제2 조명광(Li2)이 반사 모듈(155)에 의해 팬너트(N)의 내주면(NI)에 비스듬히 입사되므로, 나사산에 의해 생성되는 그림자를 최소화시킬 수 있어 나사골에 대한 명확한 이미지를 획득하도록 할 수 있다.
본 실시예에서, 광원(152)은 상술한 가이드 부재(153)에 의해 둘러싸이도록 구성될 수 있다. 이러한 구성에 의하면, 발광 모듈(151)은 반사 모듈(155)을 향해서만 조사되는 지향성의 제1 조명광(Li1)을 출력할 수 있으므로, 콘렌즈(141)를 통해 카메라 유닛(160)으로 입사되는 제2 반사광(Lo2)과 비간섭되어 팬너트(N)의 내주면(NI)에 대한 명확한 이미지를 획득하도록 할 수 있다. 또한, 반사 모듈(155) 이외의 영역으로 누설되는 제1 조명광(Li1)의 광량을 최소화할 수 있어 전력 대비 효율성을 향상시킬 수 있다.
이와 같이 제1 조명광(Li1)이 반사 모듈(155)에 의해 팬너트(N)의 중공부(NC)에 조사되면, 팬너트(N)의 내주면(NI)에서 1차 반사되는 제1 반사광(Lo1)은 전술한 것과 같이 콘렌즈(141)의 경사면(141a)에서 2차 반사되고, 2차 반사된 제2 반사광(Lo2)은 카메라 유닛(160)으로 입사되어 팬너트(N)의 내주면(NI)에 대한 이미지를 획득할 수 있다.
도 4는 도 1의 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(100)의 확대 단면도이다. 이하에서는, 상술한 반사 모듈(155)에 대하여 구체적으로 설명한다.
본 도면을 참조하면, 반사 모듈(155)은 미러 부재(156)를 포함할 수 있다. 미러 부재(156)는 팬너트(N) 측으로 갈수록 그 단면적이 작아지게 형성될 수 있다. 구체적으로, 미러 부재(156)는 그 외주면이 원추형 또는 다각뿔의 형태를 갖도록 형성될 수 있다. 미러 부재(156)는 반사면(156a), 및 상측면(156b)을 포함할 수 있다.
반사면(156a)은 미러 부재(156)의 외주면에 형성될 수 있다. 반사면(156a)은 제1 조명광(Li1)을 반사시키고, 제1 반사광(Lo1)을 투과시킬 수 있게 하프 미러로 형성될 수 있다. 콘렌즈(141)의 하측면(141b)과 마주하는 미러 부재(156)의 상측면(156b)은 콘렌즈(141)와 일체로 형성될 수 있으며, 콘렌즈(141)의 하측면(141b) 중 일부의 영역과 대응하는 사이즈를 가질 수 있다.
이하에서는, 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(100)의 작동 방식에 대하여 설명한다.
본 실시예에서, 원추형의 미러 부재(156)는 그 꼭지점의 내각(α)이 팬너트(N)의 종류에 따라 변경될 수 있다. 구체적으로, 내각(α)이 대략 90˚인 경우 제2 조명광(Li2)은 팬너트(N)의 헤드부(NH, 도 3 참조)를 향해 깊숙이 조사될 수 있고, 내각(α)이 90˚보다 작은 경우 제2 조명광(Li2)은 중공부(NC)의 입구 영역의 내주면(NI) 측으로 조사될 수 있다. 또한, 내각(α)이 90˚보다 큰 경우, 제2 조명광(Li2)은 제1 조명광(Li1)의 반대편에 위치한 내주면(NI) 측으로 조사될 수도 있다. 이러한 구성에 의하면, 팬너트(N)의 종류, 구체적으로 중공부(NC)의 깊이 또는 너비에 따라 제2 조명광(Li2)의 조사 각도를 적절히 조절할 수 있어, 팬너트(N)의 내주면(NI)에 대한 명확한 이미지를 획득할 수 있다.
더불어, 미러 부재(156)의 반사면(156a)은 상술한 하프 미러로 구성될 수 있다. 하프 미러는 입사되는 광의 각도에 따라 광을 반사시키거나 투과시킬 수 있다. 본 실시예에서, 미러 부재(156)의 반사면(156a)은 이 반사면(156a)에 비스듬히 입사되는 제1 조명광(Li1)은 반사시키고, 이 반사면(156a)에 대략 수직으로 입사되는 제1 반사광(Lo1)은 투과시킬 수 있도록 구성될 수 있다. 이러한 구성에 의하면, 제1 조명광(Li1)은 반사면(156a)에 의해 반사되어 팬너트(N)의 내주면(NI)을 조명할 수 있고, 더불어 내주면(NI)으로부터 반사되는 제1 반사광(Lo1)은 반사면(156a)을 투과하여 카메라 유닛(160, 이하 도 3 참조)으로 입사될 수 있다. 이에 의해, 카메라 유닛(160)은 미러 부재(156)에 대응하는 내주면(NI) 영역에 대한 이미지도 획득할 수 있다.
또한, 상술한 것과 같이 미러 부재(156)의 상측면(156b)은 콘렌즈(141)의 하측면(141b)과 일체로 형성될 수 있으므로, 반사면(156a)을 통해 입사되는 제1 반사광(Lo1)은 상측면(156b)에서 굴절되지 않고 경사면(141a)으로 입사될 수 있다. 이에 의해, 카메라 유닛(160)은 미러 부재(156)에 대응하는 내주면(NI) 영역에 대해 왜곡되지 않은 정확한 이미지를 획득할 수 있다.
이와 함께, 미러 부재(156)의 상측면(156b)은 콘렌즈(141)의 하측면(141b) 중 일부의 영역과 대응하는 사이즈를 가질 수 있다. 이와 같이, 미러 부재(156)는 콘렌즈(141)와 비교하여 상당히 작은 사이즈로 구성됨으로써, 제1 반사광(Lo1)과 간섭되는 영역을 최소화시킬 수 있다.
이러한 발광 모듈(151) 및 반사 모듈(155)의 구성은, 도 2와 관련하여 전술한 주광원 모듈(157)에 의한 이미지 획득 구성과 함께 조합되어 사용될 수 있다. 구체적으로, 광량이 충분한 주광원 모듈(157)을 이용하여 팬너트(N)의 내주면(NI)에 대한 선명한 이미지를 획득하고, 발광 모듈(151) 및 반사 모듈(155)을 이용하여 내주면(NI)의 나사산 사이의 그림자 영역에 대한 검사 정밀도를 향상시킬 수 있다. 또는, 발광 모듈(151)은 주광원 모듈(157)의 보조 광원으로써 이용될 수도 있다. 구체적으로, 주광원 모듈(157)의 주광원(158)을 메인으로 이용하고, 팬너트(N)의 종류에 따라 나사산 사이의 영역에 대한 선명한 이미지 획득이 요구되는 경우에만 발광 모듈(151)의 광원(152)을 조명함으로써 검사의 효율성을 향상시킬 수 있다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(200)의 확대 단면도이다.
본 도면을 참조하면, 미러 부재(256)의 반사면(256a)은 곡면의 형상을 가질 수 있다. 구체적으로, 반사면(256a)은 그 끝단부가 일정 정도 솟아오른 돔의 형상을 갖도록 형성될 수 있다. 이러한 구성에 의하면, 제1 조명광(Li1)은 반사면(256a)에 입사되는 위치에 따라 서로 다른 방향으로 반사될 수 있고, 이에 의해 제2 조명광(Li2)은 부채꼴의 형태로 확산되어 나사산 사이에 생성되는 그림자 영역을 감소시킬 수 있다. 또한, 제2 조명광(Li2)은 반사면(256a)에 입사되는 제1 조명광(Li1)의 위치에 따라 제1 조명광(Li1)의 반대편에 위치한 내주면(NI) 측으로 조사될 수도 있다. 이에 따라, 제2 조명광(Li2)은 나사산에 대한 입사각이 보다 커질 수 있고, 이에 의해 나사산에 의한 그림자 영역이 최소화될 수 있어, 인접한 나사산 사이의 영역에 대한 검사 정확도를 향상시킬 수 있다.
도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(300)의 단면도이다.
본 도면을 참조하면, 발광 모듈(351)은 상술한 광원(352) 및 가이드 부재(353) 이외에, 집광 렌즈(354)를 더 포함할 수 있다.
집광 렌즈(354)는 제1 조명광(Li1)을 반사 모듈(355)을 향해 집광시키는 요소이다. 이를 위해, 집광 렌즈(354)는 볼록 렌즈 등으로 구성될 수 있다. 또한, 집광 렌즈(354)는 반사 모듈(355)의 둘레 방향을 따라 환형으로 형성될 수 있다. 집광 렌즈(354)는 광원(352)과 반사 모듈(355)의 사이에 배치될 수 있고, 구체적으로 반사 모듈(355)과 초점 거리(f)에 대응하는 거리 만큼 이격되어 배치될 수 있다.
이러한 구성에 의하면, 광원(352)에서 수평 방향으로 출력되는 복수의 제1 조명광(Li1)은 집광 렌즈(354)에 의해 대부분 반사 모듈(355) 측으로 집광될 수 있다. 이에 의해, 반사 모듈(355) 이외의 영역으로 누설되는 제1 조명광(Li1)의 광량을 최소화할 수 있어 전력 대비 효율성을 향상시킬 수 있다.
도 7은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(400)의 단면도이다.
본 도면을 참조하면, 콘렌즈(441)는 상술한 실시예에서보다 큰 지름(d1)을 가질 수 있다. 또한, 콘렌즈(441)는 상술한 실시예에서보다 팬너트(N)와 멀리 이격되어 배치될 수 있다.
이러한 구성에 의하면, 팬너트(N)의 내주면(NI)에서 반사되는 제1 반사광(Lo1)은 반사 모듈(455)을 거치지 않고 콘렌즈(441)로 입사될 수 있다. 이에 따라, 카메라 유닛(460)은 반사 모듈(455)에 의해 간섭되는 영역이 비존재하는 정확한 이미지를 획득할 수 있다. 본 실시예에 따른 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치(400)는 팬너트(N)의 중공부(NC)의 너비가 그 깊이에 비해 상대적으로 넓은 경우에 주로 이용될 수 있다.
상기와 같은 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치는 위에서 설명된 실시예들의 구성과 작동 방식에 한정되는 것이 아니다. 상기 실시예들은 각 실시예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 구성될 수도 있다.
100,200,300,400: 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치
110: 공급 유닛 120: 이송 유닛
130: 대상물 감지 유닛 140: 광학 유닛
150: 조명 유닛 160: 카메라 유닛
170: 형상 측정 유닛 180: 배출 유닛

Claims (8)

  1. 팬너트와 마주하는 하측면과, 광을 반사하는 경사면을 구비하는 광학 유닛;
    제1 조명광을 출력하는 발광 모듈과, 상기 하측면과 일체로 형성되는 상측면과 상기 제1 조명광을 반사시켜 상기 팬너트의 중공부를 향해 진행시키는 반사면을 갖는 반사 모듈을 구비하는 조명 유닛; 및
    상기 반사면에서 반사된 제1 조명광에 의해 상기 중공부의 내주면에서 1차 반사된 제1 반사광을 상기 하측면 및 상기 상측면을 투과하여 상기 경사면을 통해 2차 반사하여 수광함으로써 상기 팬너트의 내주면에 대한 이미지를 획득하도록 형성되는 카메라 유닛을 포함하는, 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 광학 유닛은,
    상기 카메라 유닛 측으로 갈수록 단면적이 넓어지게 형성되고, 상기 카메라 유닛의 촬영축과 경사지게 배치되는 상기 경사면과, 상기 하측면을 구비하는 콘렌즈를 포함하는, 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 반사 모듈은,
    상기 카메라 유닛 측으로 갈수록 단면적이 넓어지게 형성되고, 그 외주면에 상기 반사면을 구비하는 미러 부재를 포함하는, 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 반사면은,
    곡면의 형상을 가지는, 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 반사면은,
    상기 제1 반사광을 투과시킬 수 있게 하프 미러로 형성되는, 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치.
  6. 제3항에 있어서,
    상기 미러 부재는,
    상기 콘렌즈와 일체로 형성되고, 상기 콘렌즈의 하측면 중 일부의 영역과 대응하는 사이즈를 갖는 상기 상측면을 더 포함하는, 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 발광 모듈은,
    상기 제1 조명광을 출력하는 광원; 및
    상기 광원과 상기 반사 모듈의 사이에 배치되는 집광 렌즈를 포함하는, 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 광원은,
    상기 반사 모듈의 외부에 그 둘레 방향을 따라 배치되고,
    상기 집광 렌즈는,
    상기 둘레 방향을 따라 환형으로 형성되는, 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치.
KR1020130103495A 2013-08-29 2013-08-29 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치 KR101366204B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130103495A KR101366204B1 (ko) 2013-08-29 2013-08-29 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130103495A KR101366204B1 (ko) 2013-08-29 2013-08-29 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101366204B1 true KR101366204B1 (ko) 2014-02-25

Family

ID=50271723

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130103495A KR101366204B1 (ko) 2013-08-29 2013-08-29 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101366204B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101545312B1 (ko) 2015-01-16 2015-08-20 주식회사 서울금속 대상물 검사 장치 및 방법
JP2017096844A (ja) * 2015-11-26 2017-06-01 澁谷工業株式会社 物品検査装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09105725A (ja) * 1995-10-11 1997-04-22 Kirin Techno Syst:Kk 壜の検査用照明装置
JP2000503401A (ja) * 1996-10-30 2000-03-21 クロネス・アクチェンゲゼルシャフト びん等の検査装置
JP2001108633A (ja) * 1999-08-25 2001-04-20 Krones Ag 蓋のない飲料容器を光学的に検査するための装置および方法
JP2004163425A (ja) * 2002-10-22 2004-06-10 Sealive Inc 外観検査装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09105725A (ja) * 1995-10-11 1997-04-22 Kirin Techno Syst:Kk 壜の検査用照明装置
JP2000503401A (ja) * 1996-10-30 2000-03-21 クロネス・アクチェンゲゼルシャフト びん等の検査装置
JP2001108633A (ja) * 1999-08-25 2001-04-20 Krones Ag 蓋のない飲料容器を光学的に検査するための装置および方法
JP2004163425A (ja) * 2002-10-22 2004-06-10 Sealive Inc 外観検査装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101545312B1 (ko) 2015-01-16 2015-08-20 주식회사 서울금속 대상물 검사 장치 및 방법
JP2017096844A (ja) * 2015-11-26 2017-06-01 澁谷工業株式会社 物品検査装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9329135B2 (en) Means for inspecting glass containers for defects
US7414716B2 (en) Machine for inspecting glass containers
US8941825B2 (en) Container inspection
US8058607B2 (en) Machine for inspecting glass containers at an inspection station using an addition of a plurality of illuminations of reflected light
JP4374051B2 (ja) 物品の外観検査装置および表面検査装置
US20110069878A1 (en) High speed optical inspection system with camera array and compact, integrated illuminator
WO2011037903A1 (en) High speed optical inspection system with camera array and compact, integrated illuminator
KR101376274B1 (ko) 비전 검사 장치
US7541572B2 (en) Machine for inspecting rotating glass containers with light source triggered multiple times during camera exposure time
KR101366204B1 (ko) 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치
JP2017207380A (ja) 表面欠陥検査装置
KR101376273B1 (ko) 경면 영역을 가진 대상물을 검사하기 위한 비전 검사 장치 및 방법
US7876951B2 (en) Machine for inspecting glass containers
KR101358112B1 (ko) 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치
KR101366196B1 (ko) 대상물 3차원 비전 검사 장치 및 방법
KR101299127B1 (ko) 대상물 비전 검사를 위한 조명 어셈블리
KR101415008B1 (ko) 조명을 이용한 대상물 비전 검사 장치
KR101366195B1 (ko) 팬너트 비전 검사 장치
KR101545312B1 (ko) 대상물 검사 장치 및 방법
JP5159237B2 (ja) ガラス容器を検査する装置
JP5425387B2 (ja) ガラス容器を検査するための機械
KR101358111B1 (ko) 대상물의 복수 부분에 대한 검사가 가능한 비전 검사 장치
KR101327277B1 (ko) 조명을 이용한 팬 너트 내주면 비전 검사 장치 및 그의 검사 방법
KR20140015934A (ko) 대상물 표면 비전 검사 장치
KR101415005B1 (ko) 대상물 3차원 검사 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
A302 Request for accelerated examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170201

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180201

Year of fee payment: 5

LAPS Lapse due to unpaid annual fee