KR101323015B1

KR101323015B1 - Touch sensing deving and method for correcting output thereof

Info

Publication number: KR101323015B1
Application number: KR1020080122690A
Authority: KR
Inventors: 이환주; 장수혁
Original assignee: 엘지디스플레이 주식회사
Priority date: 2008-10-20
Filing date: 2008-12-04
Publication date: 2013-10-29
Also published as: CN101727231B; CN101727231A; JP4886806B2; KR20100044063A; JP2010097585A

Abstract

본 발명은 터치 감지장치에 관한 것으로, 다수의 터치센서들을 포함하는 터치센서 어레이; 상기 터치센서 어레이의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 로우 데이터들을 발생하는 다수의 집적회로들; 및 상기 집적회로들로터 입력되는 상기 로우 데이터들에서 이웃하는 로우 데이터들 간의 차값으로 보정값들을 발생하고, 상기 보정값들 중에서 기준값 미만으로 연속되는 임계치 이상의 보정값들을 제거하며, 상기 보정값들 각각에 옵셋값을 가산하는 데이터 보정부를 구비한다. 상기 데이터 보정부는 상기 집적회로들 각각에서 제1 로우 데이터와 차 연산될 미러 데이터들을 발생한다. 상기 미러 데이터들 각각은 상기 집적회로에서 출력되는 로우 데이터들 중에서 선택된다.The present invention relates to a touch sensing device, comprising: a touch sensor array including a plurality of touch sensors; A plurality of integrated circuits converting an output of the touch sensor array into digital data to generate row data; And generating correction values as difference values between neighboring row data in the row data input from the integrated circuits, and removing correction values above a threshold value successively below a reference value from among the correction values, respectively. And a data correction unit for adding the offset value. The data corrector generates mirror data to be differentially calculated from first row data in each of the integrated circuits. Each of the mirror data is selected from among raw data output from the integrated circuit.

Description

터치 감지장치와 그 출력 보정방법{TOUCH SENSING DEVING AND METHOD FOR CORRECTING OUTPUT THEREOF}TOUCH SENSING DEVING AND METHOD FOR CORRECTING OUTPUT THEREOF}

본 발명은 터치센서의 감도 및 정확도를 높이도록 한 터치 감지장치와 그 출력 보정방법에 관한 것이다.The present invention relates to a touch sensing device and an output correction method for increasing the sensitivity and accuracy of the touch sensor.

가전기기나 휴대용 정보기기의 경량화, 슬림화 추세에 따라 유저 입력 수단이 버튼형 스위치에서 터치센서로 대체되고 있다. With the trend toward lighter and slimmer home appliances and portable information devices, user input means are being replaced by touch sensors in button-type switches.

터치센서는 정전용량 방식, 저항 방식, 압력 방식, 광학 방식, 초음파 방식 등이 알려져 있다. 터치 스크린은 디스플레이 소자 상에 형성된 터치센서들로 구성된다. Touch sensors are known in capacitive, resistive, pressure, optical, and ultrasonic methods. The touch screen is composed of touch sensors formed on the display element.

디스플레이 소자에 형성되는 터치센서들은 전원배선과 연결되고 디스플레이 소자의 신호배선들과의 전기적으로 커플링되어 있다. 이로 인하여 터치센서들의 출력들에는 많은 노이즈가 혼입된다. 또한, 터치 입력이 없을 때에도 이웃한 터치센서들의 출력들 사이에 편차가 크게 존재한다. 이러한 편차를 터치 데이터의 스 윙 레벨이라 하며, 터치신호 처리회로는 터치 데이터의 스윙 레벨과 노이즈의 합에 소정의 문턱치 이상의 터치 데이터가 입력될 때 터치를 인식한다. 터치 데이터의 노이즈와 스윙 레벨이 클수록 터치센서의 감도는 낮아진다. 특히, 노이즈보다 스윙 레벨이 터치 데이터의 감도에 더 큰 영향을 끼친다. 따라서, 터치센서의 감도를 높이기 위해서는 터치 데이터의 스윙 레벨을 줄여야 한다. The touch sensors formed on the display element are connected to the power line and electrically coupled to the signal lines of the display element. As a result, a lot of noise is mixed in the outputs of the touch sensors. In addition, even when there is no touch input, there is a large deviation between the outputs of neighboring touch sensors. This deviation is called the swing level of the touch data, and the touch signal processing circuit recognizes a touch when touch data having a predetermined threshold or more is input to the sum of the swing level of the touch data and the noise. The greater the noise and swing level of the touch data, the lower the sensitivity of the touch sensor. In particular, the swing level has a greater influence on the sensitivity of the touch data than the noise. Therefore, in order to increase the sensitivity of the touch sensor, the swing level of the touch data should be reduced.

또한, 터치신호 처리회로는 다수의 집적회로들을 포함할 수 있는데, 이러한 집적회로들 간의 편차가 집적회로들 간의 출력에 악영향을 주게 된다. 그 결과, 터치 인식 오류가 발생된다. In addition, the touch signal processing circuit may include a plurality of integrated circuits, and the deviation between these integrated circuits adversely affects the output between the integrated circuits. As a result, a touch recognition error occurs.

터치신호 처리회로는 터치 데이터를 보정하기 위하여, 이전 프레임 데이터와 현재 프레임 데이터를 비교하여 그 비교 결과에 따라 터치 데이터를 보정할 수 있다. 그런데 이 경우에, 프레임 메모리들이 필요하므로 터치신호 처리회로의 코스트가 증가된다. The touch signal processing circuit may compare the previous frame data with the current frame data to correct the touch data, and correct the touch data according to the comparison result. In this case, however, the cost of the touch signal processing circuit is increased because frame memories are required.

본 발명은 상기 종래 기술의 문제점들을 해결하고자 안출된 발명으로써 터치센서의 감도와 정확도를 높이도록 한 터치 감지장치와 그 출력 보정방법을 제공한다.The present invention has been made to solve the problems of the prior art, and provides a touch sensing device and an output correction method for increasing the sensitivity and accuracy of the touch sensor.

본 발명의 터치 감지장치는 다수의 터치센서들을 포함하는 터치센서 어레이; 상기 터치센서 어레이의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 로우 데이터들을 발생하는 다수의 집적회로들; 및 상기 집적회로들로터 입력되는 상기 로우 데이터들에서 이웃하는 로우 데이터들 간의 차값으로 보정값들을 발생하고, 상기 보정값들 중에서 기준값 미만으로 연속되는 임계치 이상의 보정값들을 제거하며, 상기 보정값들 각각에 옵셋값을 가산하는 데이터 보정부를 구비한다.
상기 데이터 보정부는 상기 집적회로들 각각에서 제1 로우 데이터와 차 연산될 미러 데이터들을 발생한다. 상기 미러 데이터들 각각은 상기 집적회로에서 출력되는 로우 데이터들 중에서 선택된다.The touch sensing apparatus of the present invention includes a touch sensor array including a plurality of touch sensors; A plurality of integrated circuits converting an output of the touch sensor array into digital data to generate row data; And generating correction values as difference values between neighboring row data in the row data input from the integrated circuits, and removing correction values above a threshold value successively below a reference value from among the correction values, respectively. And a data correction unit for adding the offset value.
The data corrector generates mirror data to be differentially calculated from first row data in each of the integrated circuits. Each of the mirror data is selected from among raw data output from the integrated circuit.

상기 터치 감지장치의 출력 보정방법은 다수의 터치센서들과 접속된 집적회로들에서 상기 터치센서들의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 로우 데이터들을 발생하는 단계; 상기 집적회로들로터 입력되는 상기 로우 데이터들에서 이웃하는 로우 데이터들 간의 차값으로 보정값들을 발생하는 단계; 상기 보정값들 중에서 기준값 미만으로 연속되는 임계치 이상의 보정값들을 제거하는 단계; 및 상기 보정값들 각각에 옵셋값을 가산하는 단계를 포함한다. The output correction method of the touch sensing device may include generating raw data by converting the output of the touch sensors into digital data in integrated circuits connected to a plurality of touch sensors; Generating correction values as a difference value between neighboring row data in the row data input from the integrated circuits; Removing correction values of the correction values that are greater than or equal to a threshold that are successively lower than a reference value; And adding an offset value to each of the correction values.

본 발명의 터치 감지장치와 그 출력 보정방법은 이웃하는 터치 데이터와 미러 데이터를 이용하여 터치 데이터들의 보정값들을 발생하고 그 보정값에서 결함 터치센서의 출력을 제거하여 터치 데이터의 노이즈, 스윙 레벨, 및 터치센서 집적회로들 간의 편차를 보정함으로써 터치센서의 감도와 정확도를 높일 수 있다. The touch sensing device and its output correction method of the present invention generate correction values of touch data using neighboring touch data and mirror data, and remove the output of the defective touch sensor from the correction value, thereby removing noise, swing level, And by correcting the deviation between the touch sensor integrated circuits it is possible to increase the sensitivity and accuracy of the touch sensor.

상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 첨부한 도면들을 참조한 실시예의 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.Other objects and features of the present invention will become apparent from the following description of embodiments with reference to the accompanying drawings.

이하, 도 1 내지 도 31을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 31.

도 1 내지 도 7을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 터치센서 및 디스플레이 장치는 터치 감지장치와 디스플레이 장치를 구비한다. 1 to 7, a touch sensor and a display device according to an embodiment of the present invention include a touch sensing device and a display device.

터치 감지장치는 터치센서 어레이(14)와, 터치센서 어레이(14)의 출력신호를 처리하기 위한 터치신호 처리회로(15)를 포함한다. 터치센서 어레이(14)는 리드아웃라인(R1~Ri)에 접속된 다수의 터치센서를 포함한다. 터치센서 어레이(14)는 도 1 내지 도 4와 같이 디스플레이 장치의 표시패널(10) 상에 적층되거나, 표시패널(10)의 내부에 삽입되거나 혹은, 표시패널(10)의 화소 TFT 어레이 내에 형성되어 표시패널(10)과 일체화될 수 있다. 터치신호 처리회로(15)는 도 8과 같이 다수의 터치센서 집적회로들(Touch sensor integrated circuit, 이하 "TSIC"라 함)을 포함한다. 이 터치신호 처리회로(15)는 터치센서 어레이(14)의 터치센서들에 구동전압을 공급하고 리드아웃라인(R1~Ri)을 통해 터치센서들로부터 출력된 터치 데이터 전압과 기준전압의 차전압을 디지털 데이터로 변환한다. The touch sensing device includes a touch sensor array 14 and a touch signal processing circuit 15 for processing an output signal of the touch sensor array 14. The touch sensor array 14 includes a plurality of touch sensors connected to the lead out lines R1 to Ri. The touch sensor array 14 is stacked on the display panel 10 of the display device, inserted into the display panel 10, or formed in the pixel TFT array of the display panel 10 as shown in FIGS. 1 to 4. And may be integrated with the display panel 10. The touch signal processing circuit 15 includes a plurality of touch sensor integrated circuits (hereinafter referred to as TSICs) as shown in FIG. 8. The touch signal processing circuit 15 supplies a driving voltage to the touch sensors of the touch sensor array 14 and the difference voltage between the touch data voltage and the reference voltage output from the touch sensors through the readout lines R1 to Ri. Is converted to digital data.

본 발명의 실시예에 따른 터치 감지장치는 터치 데이터들의 스윙 레벨을 평준화하고 TSIC들 간의 편차를 보정하는 터치 데이터 보정회로를 더 구비한다. 터 치 데이터 보정회로에 대한 상세한 설명은 후술하기로 한다. The touch sensing apparatus according to the embodiment of the present invention further includes a touch data correction circuit for leveling a swing level of touch data and correcting a deviation between TSICs. A detailed description of the touch data correction circuit will be described later.

디스플레이 장치는 표시패널(10)과, 데이터 구동회로(12), 스캔 구동회로(13), 및 타이밍 콘트롤러(11)를 구비한다. 이 디스플레이 장치는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display, LCD), 전계 방출 표시장치(Field Emission Display : FED), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel, PDP) 및 전계발광소자(Electroluminescence Device, EL) 등의 평판표시장치로 구현될 수 있다. 이하의 실시예에서 액정표시장치를 중심으로 디스플레이 장치를 설명하기로 한다. The display apparatus includes a display panel 10, a data driving circuit 12, a scan driving circuit 13, and a timing controller 11. The display device includes a flat panel such as a liquid crystal display (LCD), a field emission display (FED), a plasma display panel (PDP), and an electroluminescence device (EL). It may be implemented as a display device. In the following embodiments, a display device will be described based on the liquid crystal display device.

액정표시장치는 도 5와 같이 표시패널(10)에 빛을 조사하기 위한 백라이트 유닛(BLU)을 더 구비할 수 있다. 백라이트 유닛(BLU)은 광원이 도광판의 측면과 대향하게 배치되는 에지형 백라이트 유닛으로 구현될 수 있고 또한, 광원들이 확산판 아래에 배치되는 직하형 백라이트 유닛으로 구현될 수도 있다. As shown in FIG. 5, the liquid crystal display may further include a backlight unit BLU for irradiating light to the display panel 10. The backlight unit BLU may be implemented as an edge type backlight unit in which a light source is disposed to face the side of the light guide plate, and may also be implemented as a direct backlight unit in which the light sources are disposed under the diffuser plate.

표시패널(10)은 두 장의 유리기판(GLS1, GLS2) 사이에 액정층이 형성된다. 표시패널(10)의 하부 유리기판(GLS2)에는 도 1 내지 도 6과 같이 다수의 데이터라인들(D1~Dm), 데이터라인들(D1~Dm)과 교차되는 다수의 게이트라인들(G1~Gn), 데이터라인들(D1~Dm)과 게이트라인들(G1~Gn)의 교차부들에 형성되는 다수의 TFT들(Thin Film Transistor), 액정셀들(Clc)에 데이터전압을 충전시키기 위한 다수의 화소전극, 및 화소전극에 접속되어 액정셀(Clc)의 전압을 유지시키기 위한 스토리지 커패시터(Storage Capacitor, Cst) 등이 형성된다. 데이터라인들(D1~Dm)과 게이트라인들(G1~Gn)의 교차 구조에 의해 액정셀들이 매트릭스 형태로 배치된다. 표시패널(10)의 상부 유리기판(GLS1)에는 블랙매트릭스(BM), 컬러필터(CF), 공통전극 등 이 형성된다. 공통전극은 TN(Twisted Nematic) 모드와 VA(Vertical Alignment) 모드와 같은 수직전계 구동방식에서 상부 유리기판(GLS1)에 형성되며, IPS(In Plane Switching) 모드와 FFS(Fringe Field Switching) 모드와 같은 수평전계 구동방식에서 화소전극과 함께 하부 유리기판(GLS2) 상에 형성된다. 표시패널(10)의 상부 유리기판(GLS1)과 하부 유리기판(GLS2) 각각에는 편광판(POL1, POL2)이 부착되고 액정과 접하는 내면에 액정의 프리틸트각을 설정하기 위한 배향막이 형성된다. 표시패널(10)의 상부 유리기판(GLS1)과 하부 유리기판(GLS2) 사이에는 액정셀의 셀갭(Cell gap)을 유지하기 위한 컬럼 스페이서(CS)가 형성될 수 있다. In the display panel 10, a liquid crystal layer is formed between two glass substrates GLS1 and GLS2. In the lower glass substrate GLS2 of the display panel 10, as shown in FIGS. 1 to 6, a plurality of gate lines G1 to cross the data lines D1 to Dm and the data lines D1 to Dm. Gn), a plurality of TFTs (Thin Film Transistor) formed at the intersections of the data lines (D1 ~ Dm) and the gate lines (G1 ~ Gn), a plurality for charging the data voltage to the liquid crystal cells (Clc) A storage capacitor Cst and the like are connected to the pixel electrode and the pixel electrode to maintain the voltage of the liquid crystal cell Clc. The liquid crystal cells are arranged in a matrix by the intersection structure of the data lines D1 to Dm and the gate lines G1 to Gn. The black matrix BM, the color filter CF, the common electrode, and the like are formed on the upper glass substrate GLS1 of the display panel 10. The common electrode is formed on the upper glass substrate GLS1 in a vertical electric field driving method such as twisted nematic (TN) mode and vertical alignment (VA) mode. The common electrode is formed in IPS (In Plane Switching) mode and FFS (Fringe Field Switching) mode. In the horizontal electric field driving method, a pixel electrode is formed on the lower glass substrate GLS2. Polarizing plates POL1 and POL2 are attached to each of the upper glass substrate GLS1 and the lower glass substrate GLS2 of the display panel 10, and an alignment layer for setting the pretilt angle of the liquid crystal is formed on an inner surface of the display panel 10. A column spacer CS may be formed between the upper glass substrate GLS1 and the lower glass substrate GLS2 of the display panel 10 to maintain a cell gap of the liquid crystal cell.

타이밍 콘트롤러(11)는 데이터 인에이블 신호(Data Enable, DE), 도트 클럭(CLK) 등의 타이밍신호를 입력받아 데이터 구동회로(12)와 스캔 구동회로(13)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 제어신호들을 발생한다. 스캔 구동회로(13)를 제어하기 위한 제어신호는 게이트 스타트 펄스(Gate Start Pulse, GSP), 게이트 쉬프트 클럭(Gate Shift Clock, GSC), 게이트 출력 인에이블신호(Gate Output Enable, GOE), 쉬프트 방향 제어신호(DIR) 등을 포함한다. 데이터 구동회로(12)를 제어하기 위한 제어신호는 소스 샘플링 클럭(Source Sampling Clock, SSC), 극성제어신호(Polarity, POL), 및 소스 출력 인에이블신호(Source Output Enable, SOE) 등을 포함한다. 이 타이밍 콘트롤러(11)는 데이터 구동회로(12)와 스캔 구동회로(13)를 제어함과 아울러, 터치신호 처리회로(15)의 입/출력 동작 타이밍을 제어하기 위한 제어신호를 발생하여 터치신호 처리회로(15)를 제어할 수도 있다. 예컨대, 타이밍 콘트롤러(11)는 도 7과 같이 TSIC들의 동작 타이밍을 제어하기 위한 리셋신 호(RST), 기준전압 샘플링신호(SH0), 터치전압 샘플링신호(SH1) 등을 발생할 수 있다. The timing controller 11 receives timing signals such as a data enable signal (DE) and a dot clock (CLK) to control operation timing of the data driver circuit 12 and the scan driver circuit 13. Generate signals. Control signals for controlling the scan driving circuit 13 include a gate start pulse (GSP), a gate shift clock (GSC), a gate output enable signal (Gate output enable, GOE), and a shift direction. Control signal DIR and the like. Control signals for controlling the data driving circuit 12 include a source sampling clock (SSC), a polarity control signal (Polarity, POL), a source output enable signal (Source Output Enable, SOE), and the like. . The timing controller 11 controls the data driving circuit 12 and the scan driving circuit 13 and generates a control signal for controlling the input / output operation timing of the touch signal processing circuit 15 to generate a touch signal. The processing circuit 15 can also be controlled. For example, as illustrated in FIG. 7, the timing controller 11 may generate a reset signal RST, a reference voltage sampling signal SH0, a touch voltage sampling signal SH1, and the like for controlling the operation timing of the TSICs.

데이터 구동회로(12)는 다수의 소스 드라이브 IC(Source Integrated Circuit)을 포함하여 타이밍 콘트롤러(11)의 제어 하에 디지털 비디오 데이터(RGB)를 래치한다. 그리고 데이터 구동회로(12)는 디지털 비디오 데이터(RGB)를 아날로그 정극성/부극성 감마보상전압으로 변환함으로써 아날로그 정극성/부극성 화소전압을 발생하여 데이터라인들(D1 내지 Dm)에 공급한다. The data driving circuit 12 includes a plurality of source drive ICs to latch the digital video data RGB under the control of the timing controller 11. The data driving circuit 12 converts the digital video data RGB into an analog positive / negative gamma compensation voltage to generate an analog positive / negative pixel voltage and supplies the same to the data lines D1 to Dm.

스캔 구동회로(13)는 하나 이상의 스캔 드라이브 IC를 포함하여 스캔펄스(또는 게이트펄스)를 게이트라인들(G1 내지 Gn)에 순차적으로 공급한다. The scan driving circuit 13 includes one or more scan drive ICs to sequentially supply scan pulses (or gate pulses) to the gate lines G1 to Gn.

도 2 내지 도 4는 터치센서 어레이(14)와 표시패널(10)의 다양한 실시예들을 나타낸다. 2 to 4 illustrate various embodiments of the touch sensor array 14 and the display panel 10.

터치센서 어레이(14)는 도 2와 같이 표시패널(10)의 상부 편광판(POL1) 상에 적층되는 터치센서(TS)를 포함할 수 있다. 또한, 터치센서 어레이(14)는 도 3과 같이 표시패널(10) 내에 내장될 수 있다. 터치센서 어레이(14)는 상부 편광판(POL1)과 상부 유리기판(GLS1) 사이에 협지되는 터치센서(TS)를 포함할 수 있다. 도 2 및 도 3과 같은 터치센서 어레이(14)는 저항막 방식의 터치센서, 정전용량 방식의 터치센서, 표면 탄성파 방식의 터치센서, 적외선 방식의 터치센서 중 어느 하나로 구현될 수 있다.The touch sensor array 14 may include a touch sensor TS stacked on the upper polarizer POL1 of the display panel 10 as shown in FIG. 2. In addition, the touch sensor array 14 may be embedded in the display panel 10 as shown in FIG. 3. The touch sensor array 14 may include a touch sensor TS interposed between the upper polarizer POL1 and the upper glass substrate GLS1. The touch sensor array 14 as shown in FIGS. 2 and 3 may be implemented as any one of a resistive touch sensor, a capacitive touch sensor, a surface acoustic wave touch sensor, and an infrared touch sensor.

터치센서 어레이(14)는 도 4와 같이 표시패널(10)의 화소 TFT 어레이 내에 형성되는 터치센서들(TS)을 포함할 수 있다. 표시패널(10)의 화소 TFT 어레이는 하부 유리기판(GLS2) 상에 형성되며 데이터라인들(D1~Dm), 게이트라인들(G1~Gn), 화소 스위칭용 TFT들, 화소전압 유지용 스토리키 커패시터(Cst), 및 액정셀들(Clc)의 화소전극들(1) 등을 포함한다. 도 4의 터치센서들(TS)은 화소 TFT 어레이의 화소 스위칭용 TFT와 동시에 형성되는 TFT , 화소전압 유지용 스토리지 커패시터와 동시에 형성되는 센서전압 검출용 커패시터 등을 포함할 수 있다. The touch sensor array 14 may include touch sensors TS formed in the pixel TFT array of the display panel 10 as shown in FIG. 4. The pixel TFT array of the display panel 10 is formed on the lower glass substrate GLS2, and the data lines D1 to Dm, the gate lines G1 to Gn, pixel switching TFTs, and a pixel voltage retention story key A capacitor Cst, and pixel electrodes 1 of the liquid crystal cells Clc. The touch sensors TS of FIG. 4 may include a TFT formed simultaneously with the pixel switching TFT of the pixel TFT array, a sensor voltage detection capacitor formed simultaneously with the pixel voltage storage capacitor, and the like.

도 5 내지 도 7은 도 4와 같이 터치센서들이 표시패널(10)의 화소 어레이 내에 내장되는 예를 나타낸다. 화소 어레이 내장 터치센서들은 도 5 내지 도 7에 한정되지 않고 다양한 형태로 변형될 수 있다. 5 to 7 illustrate examples in which touch sensors are embedded in the pixel array of the display panel 10 as shown in FIG. 4. The pixel array-embedded touch sensors are not limited to FIGS. 5 to 7 and may be modified in various forms.

도 5 내지 도 7을 참조하면, 터치센서(TS) 각각은 센서 TFT(Tss), 스토리지 커패시터(CSTO), 및 스위치 TFT(Tsw) 등을 구비할 수 있다. 5 to 7, each of the touch sensors TS may include a sensor TFT Tss, a storage capacitor CSTO, a switch TFT Tsw, and the like.

센서 TFT(Tss)는 상부 유리기판(GLS1)의 투명 윈도우(W)와 대향한다. 센서 TFT(Tss)의 게이트전극은 스토리지 기준전압라인(STOL)과 스토리지 커패시터(CSTO)의 일측단자에 접속된다. 그리고 센서 TFT(Tss)의 드레인전극은 바이어스전압(Vbias)이 공급되는 바이어스전압 공급라인(BL)과 접속되고, 센서 TFT(Tss)의 소스전극은 제1 노드(n1)를 경유하여 스토리지 커패시터(CSTO)의 타측단자와 스위치 TFT(Tsw)의 드레인전극에 접속된다. 센서 TFT(Tss)와 대향하는 상부 유리기판(GLS1) 상에 손가락이나 스타일러스 펜 등의 터치 물체가 놓이면, 백라이트 유닛(BLU)으로부터의 빛은 하부 유리기판(GLS2), 액정층 및 상부 유리기판(GLS1)을 투과한 후에 터치 물체에 반사되어 센서 TFT(Tss)의 반도체층에 입사된다. 센서 TFT(Tss)는 자신의 반도체층에 입사되는 입사 광량에 따라 전류를 발생한다. The sensor TFT Tss faces the transparent window W of the upper glass substrate GLS1. The gate electrode of the sensor TFT Tss is connected to one terminal of the storage reference voltage line STOL and the storage capacitor CSTO. The drain electrode of the sensor TFT Tss is connected to the bias voltage supply line BL to which the bias voltage Vbias is supplied, and the source electrode of the sensor TFT Tss is connected to the storage capacitor via the first node n1. It is connected to the other terminal of CSTO and the drain electrode of switch TFT (Tsw). When a touch object such as a finger or a stylus pen is placed on the upper glass substrate GLS1 facing the sensor TFT Tss, the light from the backlight unit BLU is transferred to the lower glass substrate GLS2, the liquid crystal layer, and the upper glass substrate. After passing through the GLS1, it is reflected by the touch object and is incident on the semiconductor layer of the sensor TFT (Tss). The sensor TFT (Tss) generates a current in accordance with the amount of incident light incident on its semiconductor layer.

스토리지 커패시터(CSTO)는 스위치 TFT(Tsw)가 오프 상태를 유지하는 동안 센서 TFT(Tss)로부터의 전류를 충전한 후에, 스위치 TFT(Tsw)가 턴-온될 때 방전한다. The storage capacitor CSTO charges the current from the sensor TFT Tss while the switch TFT Tsw maintains the off state, and then discharges when the switch TFT Tsw is turned on.

스위치 TFT(Tsw)는 자신에게 빛이 조사되지 않도록 상부 유리기판(GLSU)의 블랙 매트릭스(BM)와 대향한다. 스위치 TFT(Tsw)는 게이트라인(G1~Gn)으로부터의 스캔펄스에 응답하여 턴-온된다. 이 스위치 TFT(Tsw)는 스토리지 커패시터(CSTO)로부터 방전되는 전압을 리드아웃라인(R1~Ri)으로 공급한다. 스위치 TFT(Tsw)의 게이트전극은 게이트라인(G1~Gn)에 접속된다. 스위치 TFT(Tsw)의 드레인전극은 제1 노드(n1)를 경유하여 센서 TFT(Tss)의 소스전극과 스토리지 커패시터(CSTO)의 타측단자에 접속되고, 스위치 TFT(Tsw)의 소스전극은 리드아웃라인(R1~Ri)에 접속된다. The switch TFT Tsw faces the black matrix BM of the upper glass substrate GLSU so that light is not irradiated to itself. The switch TFT Tsw is turned on in response to the scan pulse from the gate lines G1 to Gn. The switch TFT Tsw supplies a voltage discharged from the storage capacitor CSTO to the lead out lines R1 to Ri. The gate electrode of the switch TFT Tsw is connected to the gate lines G1 to Gn. The drain electrode of the switch TFT Tsw is connected to the source electrode of the sensor TFT Tss and the other terminal of the storage capacitor CSTO via the first node n1, and the source electrode of the switch TFT Tsw is read out. It is connected to the lines R1 to Ri.

도 7에 도시된 TSIC는 도 6과 같은 터치센서에 접속된 터치신호 처리회로의 일예로써 이에 한정되는 것이 아니라, TFT와 스토리지 커패시터를 포함하는 다양한 형태로 구현될 수 있다. 도 7과 같은 TSIC는 리드아웃라인들(R1~Ri)에 접속된다. TSIC는 연산 증폭기(OPamp), 제1 및 제2 출력 스위치소자(SH0, SH1), 출력 버퍼, 아날로그-디지털 변환기(Analog to Digital Convertor, ADC) 등을 구비한다. 연산 증폭기(OPamp)의 비반전 입력단자와 출력 단자에는 리셋 스위치소자(RST)와 피드백 커패시터(Cfb)가 접속된다. 연산 증폭기(OPamp)의 반전단자에는 2V의 기준전압(VO)이 공급된다. 연산 증폭기(OPamp)는 리드아웃라인(R1 내지 Ri)으로부터의 출력과 기준전압을 차동 증폭하여 제1 및 제2 출력 스위치소자들(SH0, SH1)에 공급 한다. 제1 출력 스위치소자(SH0)는 스위치 TFT(Tsw)가 턴-온되기 전에 턴-온되어 기준전압(V0)을 출력한다. 제2 출력 스위치소자(SH1)는 스위치 TFT(Tsw)가 턴-온된 후에 턴-온되어 리드아웃라인(R1~Ri)을 경유하여 입력되는 터치센서 출력전압(V1)을 출력한다. TSIC는 기준전압(V0)과 터치센서 출력전압(V1)의 차를 아날로그-디지털 변환기(ADC)를 통해 디지털 데이터로 변환하여 콘트롤 보드(50)에 전송한다. The TSIC illustrated in FIG. 7 is an example of a touch signal processing circuit connected to the touch sensor shown in FIG. 6, but is not limited thereto. The TSIC illustrated in FIG. 7 may be implemented in various forms including a TFT and a storage capacitor. The TSIC shown in FIG. 7 is connected to the lead out lines R1 to Ri. The TSIC includes an operational amplifier OPamp, first and second output switch elements SH0 and SH1, an output buffer, an analog-to-digital converter (ADC), and the like. The reset switch element RST and the feedback capacitor Cfb are connected to the non-inverting input terminal and the output terminal of the operational amplifier OPamp. The 2V reference voltage VO is supplied to the inverting terminal of the operational amplifier OPamp. The operational amplifier OPamp differentially amplifies the output from the readout lines R1 to Ri and the reference voltage and supplies them to the first and second output switch elements SH0 and SH1. The first output switch element SH0 is turned on before the switch TFT Tsw is turned on to output the reference voltage V0. The second output switch element SH1 is turned on after the switch TFT Tsw is turned on and outputs the touch sensor output voltage V1 input via the readout lines R1 to Ri. The TSIC converts the difference between the reference voltage V0 and the touch sensor output voltage V1 into digital data through an analog-to-digital converter (ADC) and transmits the digital data to the control board 50.

도 8 및 도 9는 터치 데이터 보정회로를 포함한 터치 감지장치와 터치 감지장치에 연결된 터치 데이터의 실험장치를 보여 준다. 8 and 9 illustrate a touch sensing device including a touch data calibrating circuit and an experimental device for touch data connected to the touch sensing device.

도 8 및 도 9를 참조하면, 콘트롤 보드(50)는 타이밍 콘트롤러(11)와 터치 데이터 보정회로를 구비한다. 타이밍 콘트롤러(11)는 데이터 구동회로(12)에 디지털 비디오 데이터를 공급하고, 데이터 구동회로(12)와 스캔 구동회로(13)의 동작 타이밍을 제어한다. 또한, 타이밍 콘트롤러(11)는 터치신호 처리회로(15)의 동작 타이밍을 제어한다. 8 and 9, the control board 50 includes a timing controller 11 and a touch data correction circuit. The timing controller 11 supplies digital video data to the data driving circuit 12 and controls the operation timing of the data driving circuit 12 and the scan driving circuit 13. In addition, the timing controller 11 controls the operation timing of the touch signal processing circuit 15.

터치 데이터 보정회로는 데이터 보정부(61), 노이즈 제거부(62) 및 좌표 검출부(63)를 구비한다. 터치 데이터 보정회로는 콘트롤 보드(50)와 분리되어 TSIC 각각에 내장될 수 있다. The touch data correction circuit includes a data correction unit 61, a noise removing unit 62, and a coordinate detection unit 63. The touch data correction circuit may be separated from the control board 50 and embedded in each TSIC.

데이터 보정부(61)는 TSIC들 각각으로부터 출력되는 디지털 데이터들 중에서 TSIC 각각의 미러 데이터(mirror data)를 발생한다. 데이터 보정부(61)는 미러 데이터와 이웃하는 디지털 데이터들을 이용하여 TSIC들 각각의 보정값들을 산출하여 스윙 레벨과 TSIC들 간의 출력 편차를 보정한다. 또한, 데이터 보정부(61)는 도 22과 같이 소정의 임계치 이상으로 큰 값을 가지는 보정값들의 연속된 개수를 산출하여 그 개수가 소정의 기준값 미만이면, 그 보정값들을 비정상적인 터치센서 즉, 결함 있는 터치센서(defective touch sensor)의 출력으로 판단하여 그 보정값을 제거한다. TSIC간 편차와 터치센서들의 출력에서 스윙 레벨이 보정된 보정값들에는 소정의 옵셋값(Offset)이 가산될 수 있다. 옵셋값은 보정된 디지털 데이터들이 양의 정수로 표현될 수 있도록 보정값에 가산된다. 옵셋값은 양의 정수로써 실험적으로 결정될 수 있고 터치 감도설정에 따라 조정될 수 있다. The data corrector 61 generates mirror data of each of the TSICs among the digital data output from each of the TSICs. The data correction unit 61 calculates correction values of each of the TSICs by using mirror data and neighboring digital data to correct an output deviation between the swing level and the TSICs. In addition, the data correction unit 61 calculates a continuous number of correction values having a large value above a predetermined threshold value as shown in FIG. 22, and if the number is less than a predetermined reference value, the data correction values are corrected by abnormal touch sensors, that is, defects. It is determined by the output of the defective touch sensor that removes the correction value. A predetermined offset value may be added to correction values for which the swing level is corrected at the TSIC deviation and the output of the touch sensors. The offset value is added to the correction value so that the corrected digital data can be represented by a positive integer. The offset value can be determined experimentally as a positive integer and can be adjusted according to the touch sensitivity setting.

노이즈 제거부(62)는 공지의 노이즈 제거 알고리즘을 이용하여 터치센서들의 출력에 혼입된 노이즈를 제거한다. 좌표값 산출부(63)는 TSIC들 간의 편차, 스윙 레벨 보정 및 노이즈 제거를 거친 디지털 데이터들 중에서 소정의 문턱치 이상의 디지털 데이터들을 유효 터치위치로써 검출하여 그 터치위치의 xy 좌표값을 산출한다. The noise removing unit 62 removes noise mixed in the output of the touch sensors using a known noise removing algorithm. The coordinate value calculator 63 detects digital data of a predetermined threshold or more among digital data that have undergone deviation between TSICs, swing level correction, and noise removal as an effective touch position, and calculates an xy coordinate value of the touch position.

터치 데이터의 실험장치는 콘트롤 보드(50)에 접속된 인터페이스보드(51), 컴퓨터(52) 및 모니터(53)를 구비한다. 이 터치 데이터의 실험장치는 터치센서들의 동작 및 감도를 육안으로 확인할 수 있도록 TSIC들을 통해 출력된 터치센서들의 출력신호를 이미지 신호로 변환하여 모니터(53)에 표시한다. 따라서, 터치 데이터의 실험장치는 터치센서 및 디스플레이 장치가 완성된 후에 콘트롤 보드(50)와 분리될 수 있다. 인터페이스 보드(51)는 SPI(serial peripheral interface), RS232, I²C 등과 같은 인터페이스를 이용하여 터치 데이터 보정회로로부터의 터치 데이터들 과 좌표값들을 컴퓨터(52)에 전송한다. 인터페이스 보드(51)는 컴퓨터(52)의 PCI(peripheral component interconnect) 슬롯에 삽입된다. 컴퓨터(52)는 PCI 슬롯을 통해 입력되는 터치 데이터들을 모니터(53)에 공급한다. 모니터(53)는 컴퓨터(52)로부터의 터치 데이터들을 표시한다. The experimental apparatus for touch data includes an interface board 51, a computer 52, and a monitor 53 connected to the control board 50. The experimental apparatus of the touch data converts the output signals of the touch sensors output through the TSIC into image signals and displays them on the monitor 53 so as to visually check the operation and sensitivity of the touch sensors. Therefore, the experimental apparatus for touch data may be separated from the control board 50 after the touch sensor and the display apparatus are completed. The interface board 51 transmits touch data and coordinate values from the touch data correction circuit to the computer 52 using an interface such as a serial peripheral interface (SPI), RS232, I ² C, or the like. The interface board 51 is inserted into a peripheral component interconnect (PCI) slot of the computer 52. The computer 52 supplies touch data input through the PCI slot to the monitor 53. The monitor 53 displays touch data from the computer 52.

도 10a는 표시패널(10)에 표시되는 테스트 데이터의 일예이다. 도 10b는 도 10a와 같은 테스트 데이터가 표시패널(10)에 표시될 때 TSIC들의 출력을 모니터(53)에 표시하여 그 표시 이미지를 보여 주는 사진이다. 이 테스트 데이터에서 각각 일정한 크기를 갖는 화이트 패턴과 블랙 패턴이 상하좌우로 교번된다. 이러한 테스트 패턴이 표시패널(10)에 표시될 때 TSIC들의 출력에는 도 10b와 표시패널(10)과의 전기적인 커플링에 의해 테스트 데이터의 패턴들의 잔상처럼 보이는 노이즈를 포함한다. 또한, 이웃한 TSIC들의 출력 사이에는 도 10b와 같이 TSIC들 간의 편차로 인하여 그 출력 레벨의 차이가 나타난다. 도 10b에서 "Defected line"은 TSIC의 출력 중에서 출력이 비정상적인 결함 열의 터치센서 출력이다. 도 11은 도 10b와 같은 터치센서들의 출력 레벨을 3차원 그래프로 보여 주는 컬러 이미지이다. 도 10b 및 도 11과 같이 터치센서들의 출력에는 원치 않는 많은 노이즈가 혼입되어 있고 TSIC들 간에 터치센서들의 출력에 편차가 비교적 크다. 다시 말하여, 도 12와 같이 터치센서들의 출력(Data output)에는 노이즈 성분, 표시패널(10)에 표시되는 영상으로 인한 커플링 성분, TSIC들 간의 편차, 스윙 레벨이 포함되어 있다. 이러한 성분들로 인하여, 터치센서들의 감도와 정확도가 떨어진다. 10A illustrates an example of test data displayed on the display panel 10. FIG. 10B is a photograph showing the display image by displaying the output of TSICs on the monitor 53 when the test data as shown in FIG. 10A is displayed on the display panel 10. In this test data, a white pattern and a black pattern each having a constant size are alternately up, down, left, and right. When such a test pattern is displayed on the display panel 10, the outputs of the TSICs include noise that looks like an afterimage of patterns of test data by electrical coupling with FIG. 10B and the display panel 10. In addition, the output level difference between the output of neighboring TSICs due to the deviation between the TSICs as shown in FIG. 10B. In FIG. 10B, the "Defected line" is a touch sensor output of a defect string in which an output is abnormal among the outputs of the TSIC. FIG. 11 is a color image showing the output level of the touch sensors as shown in FIG. 10B in a 3D graph. As shown in FIGS. 10B and 11, the unwanted noise is mixed in the output of the touch sensors, and the variation in the output of the touch sensors between the TSICs is relatively large. In other words, as illustrated in FIG. 12, the data output of the touch sensors includes a noise component, a coupling component due to an image displayed on the display panel 10, a deviation between TSICs, and a swing level. These components reduce the sensitivity and accuracy of touch sensors.

도 13 및 도 14는 터치센서 어레이(14) 상에서 터치 입력이 없는 비터치기 간(NTP)과 터치 입력이 발생하는 터치기간(TP)에서의 터치 데이터 변화를 보여 주는 도면들이다. 13 and 14 illustrate changes in touch data in the non-touch period NTP without a touch input on the touch sensor array 14 and in the touch period TP in which the touch input occurs.

도 13 및 도 14를 참조하면, 터치신호 처리회로(15)는 소정의 기준전압(VO)과 터치센서 출력전압(V1)의 차전압(V0-V1)을 디지털 데이터로 변환하여(Analog to Digital conversion) 터치 데이터를 발생한다. 비터치기간(NTP) 동안, 기준전압(V0)이 2.0V로 발생되고 터치 센서 출력전압(V1)이 2. 5V로 발생된다면, 터치신호 처리회로(15)는 -0.5V의 차전압(V0-V1)을 디지털 값 '256'으로 변환하여 터치센서 출력을 발생한다. 비터치기간(NTP) 동안, 터치신호 처리회로(15)는 터치 센서 출력전압(V1)이 터치 압력에 따라 변하므로 -0.5V~0.0V 사이의 차전압(V0-V1)을 디지털 값 '256~512' 사이의 값으로 발생한다. Referring to FIGS. 13 and 14, the touch signal processing circuit 15 converts the difference voltage V0-V1 between the predetermined reference voltage VO and the touch sensor output voltage V1 into digital data (Analog to Digital). conversion) Generates touch data. During the non-touch period NTP, if the reference voltage V0 is generated at 2.0V and the touch sensor output voltage V1 is generated at 2.5V, the touch signal processing circuit 15 generates a difference voltage V0 of -0.5V. -V1) is converted into digital value '256' to generate touch sensor output. During the non-touch period NTP, the touch signal processing circuit 15 changes the difference voltage (V0-V1) between -0.5V and 0.0V because the touch sensor output voltage V1 changes according to the touch pressure. Occurs with a value between ~ 512 '.

도 15 내지 도 18은 본 발명의 제1 실시예에 따른 데이터 보정부(61)의 미러 데이터 발생방법을 도식적으로 보여 주는 도면들이다. 미러 데이터는 터치센서 어레이(14)에서 동시에 출력되는 1 라인의 터치 데이터들 중에서 선택된다. 여기서, 1 라인의 터치 데이터들은 보정 전의 로우 데이터들(Raw data)로써 TSIC에 의해 변환된 디지털 데이터들이다. 미러 데이터는 터치센서 어레이(14)의 일측 끝단 또는 타측 끝단에 위치한 끝단 터치 센서로부터 출력되는 터치 데이터와 차 연산될 의사 데이터(Pseudo data)이다. 터치센서 어레이(14)에서 동시에 출력되는 1 라인의 터치 데이터들은 일측 끝단에 위치하는 터치센서의 출력으로부터 타측 끝단에 위치하는 터치센서의 출력까지 일정한 방향성을 따라 보정된다. 터치 데이터들의 보정이 시작되는 일측 끝단 또는 타측 끝단에 위치하는 터치센서의 출력은 미러 데이터와 의 차 연산 결과(Δ1)로 보정된다. 15 to 18 are diagrams schematically showing a mirror data generation method of the data correction unit 61 according to the first embodiment of the present invention. The mirror data is selected from one line of touch data simultaneously output from the touch sensor array 14. Here, the touch data of one line is digital data converted by TSIC as raw data before correction. The mirror data is pseudo data to be differentially calculated from touch data output from an end touch sensor positioned at one end or the other end of the touch sensor array 14. The touch data of one line simultaneously output from the touch sensor array 14 is corrected along a certain direction from the output of the touch sensor located at one end to the output of the touch sensor located at the other end. The output of the touch sensor located at one end or the other end at which the touch data starts to be corrected is corrected by the difference calculation result Δ1 from the mirror data.

터치신호 처리회로(15)의 TSIC들 각각은 터치센서들로부터 입력된 터치 데이터들의 전압(V1)과 소정의 기준전압(V0)의 차전압을 발생하고 그 차전압을 아날로그 디지털 변환기(ADC)를 통해 디지털 데이터로 변환한다. 데이터 보정부(61)의 제1 실시예는 도 15 내지 도 18과 같이 디지털 데이터로 변환된 로우 데이터들(1st RD, 2nd RD... Nth RD) 중에서 아래의 4 가지 경우를 고려하여 미러 데이터를 선택한다. Each of the TSICs of the touch signal processing circuit 15 generates a difference voltage between the voltage V1 of the touch data input from the touch sensors and the predetermined reference voltage V0 and converts the difference voltage into an analog-to-digital converter ADC. Convert to digital data via The first embodiment of the data corrector 61 considers the following four cases among the row data 1st RD, 2nd RD ... Nth RD converted into digital data as shown in FIGS. 15 to 18. Select.

CASE 1(도 15) CASE 1 (Figure 15)

2nd RD - 1st RD = Δ2, 3rd RD - 2nd RD = Δ3 ... N(N은 양의 정수)th RD - (N-1)th RD = ΔN 일 때, Δ2, Δ3... ΔN 모두가 소정의 임계치를 넘지 않는 경우에, 데이터 보정부(61)는 미러 데이터를 제1 로우 데이터(1st RD)와 가장 외부조건이 유사한 제2 로우 데이터(2nd RD)로 선택한다. 소정의 임계치는 실험적으로 구해지는 양의 정수값이다. 제1 로우 데이터(1st RD)는 터치센서 어레이(14)에서 임의의 라인으로부터 동시에 출력되는 로우 데이터들 중에서 최좌측에 존재하는 제1 터치센서 출력이다. 제2 터치 데이터(2nd RD)는 상기 임의의 라인으로부터 동시에 출력되는 로우 데이터들 중에서 제1 터치센서의 우측에 이웃하는 제2 터치센서의 출력이다. 제N 로우 데이터(Nth RD)는 임의의 라인으로부터 동시에 출력되는 로우 데이터들 중에서 제N 터치센서로부터 출력된다. 2nd RD-1st RD = Δ2, 3rd RD-2nd RD = Δ3 ... N (N is a positive integer) when th RD-(N-1) th RD = ΔN, both Δ2, Δ3 ... ΔN When the predetermined threshold value is not exceeded, the data corrector 61 selects the mirror data as the second row data 2nd RD having the most external condition similar to the first row data 1st RD. The predetermined threshold is a positive integer value obtained experimentally. The first row data 1st RD is a first touch sensor output existing on the leftmost side among row data simultaneously output from any line in the touch sensor array 14. The second touch data 2nd RD is an output of a second touch sensor adjacent to the right side of the first touch sensor among row data simultaneously output from the arbitrary line. The Nth row data Nth RD is output from the Nth touch sensor among row data simultaneously output from an arbitrary line.

CASE 2(도 16)CASE 2 (Figure 16)

2nd RD - 1st RD = Δ2, 3rd RD - 2nd RD = Δ3, ...M(M은 N보다 작은 양의 정수)th RD - (M-1)th RD = ΔM ... Nth RD - (N-1)th RD = ΔN 일 때, ΔM과 같이 소정의 임계치를 넘는 차값이 존재하면 데이터 보정부(61)는 임계치를 넘는 차값의 개수를 허용 기준개수와 비교한다. 그 비교 결과, 임계치를 넘는 차값의 개수가 허용 기준개수 보다 작으면 데이터 보정부(61)는 임계치를 넘는 차값을 무시하고 임계치 미만의 터치 데이터들 중에서 제1 로우 데이터(1st RD)와 가장 외부조건이 유사한 제2 로우 데이터(2nd RD)를 미러 데이터로 선택한다. 임계치와 허용 기준개수는 각각 실험적으로 결정되며 로우 데이터 추출라인에 존재하는 터치센서들이나 터치센서 감도 설정에 따라 가변될 수 있는 양의 정수이다. 2nd RD-1st RD = Δ2, 3rd RD-2nd RD = Δ3, ... M (M is a positive integer less than N) th RD-(M-1) th RD = ΔM ... Nth RD-(N When -1) th RD = ΔN, if there is a difference value exceeding a predetermined threshold such as ΔM, the data correction unit 61 compares the number of difference values exceeding the threshold with the allowable reference number. As a result of the comparison, if the number of difference values exceeding the threshold value is smaller than the allowable reference number, the data correction unit 61 ignores the difference value exceeding the threshold value and among the touch data below the threshold value, the first row data 1st RD and the most external condition This similar second row data 2nd RD is selected as mirror data. The threshold and the number of allowable reference numbers are determined experimentally, respectively, and are positive integers that can vary depending on the touch sensors or touch sensor sensitivity settings present in the row data extraction line.

CASE 3(도 17)CASE 3 (Figure 17)

2nd RD - 1st RD = Δ2, 3rd RD - 2nd RD = Δ3, ...Mth RD - (M-1)th RD = ΔM, (M+1)th RD - (M-1)th RD = ΔM+1, (M+2)th RD - (M-1)th RD = ΔM+2,... Nth RD - (N-1)th RD = ΔN 일 때, ΔM, ΔM+1, ΔM+2 등과 같이 소정의 임계치를 넘는 차값들이 다수 연속적으로 존재하면 데이터 보정부(61)는 임계치를 넘는 차값의 개수를 허용 기준개수와 비교한다. 그 비교 결과, 임계치를 넘는 차값들의 개수가 허용 기준개수보다 작으면 데이터 보정부(61)는 임계치를 넘는 차값을 무시하고 임계치 미만의 터치 데이터들 중에서 제1 로우 데이터(1st RD)와 가장 외부조건이 유사한 제2 로우 데이터(2nd RD)를 미러 데이터로 선택한다. 이 경우는 임계치 이상인 연속된 터치 데이터들의 개수가 작기 때문에 터치 영역으로 보지 않는 경우이다. 2nd RD-1st RD = Δ2, 3rd RD-2nd RD = Δ3, ... Mth RD-(M-1) th RD = ΔM, (M + 1) th RD-(M-1) th RD = ΔM + 1, (M + 2) th RD-(M-1) th RD = ΔM + 2, ... when Nth RD-(N-1) th RD = ΔN, ΔM, ΔM + 1, ΔM + 2, etc. Likewise, if there are a plurality of difference values exceeding a predetermined threshold in succession, the data correction unit 61 compares the number of difference values exceeding the threshold with the allowable reference number. As a result of the comparison, if the number of difference values exceeding the threshold value is smaller than the allowable reference number, the data correction unit 61 ignores the difference value exceeding the threshold value and among the touch data below the threshold value, the first row data 1st RD and the most external condition This similar second row data 2nd RD is selected as mirror data. This is a case where the touch area is not viewed because the number of consecutive touch data that is greater than or equal to the threshold is small.

CASE 4(도 18)CASE 4 (Figure 18)

2nd RD - 1st RD = Δ2, 3rd RD - 2nd RD = Δ3, ...Mth RD - (M-1)th RD = ΔM, (M+1)th RD - Mth RD = ΔM+1, (M+2)th RD - Mth RD = ΔM+2,... Nth RD - (N-1)th RD = ΔN 일 때, ΔM, ΔM+1, ΔM+2 등과 같이 소정의 임계치를 넘는 음의 편차를 갖는 차값들이 연속적으로 존재하면 데이터 보정부(61)는 임계치를 넘는 차값의 개수를 허용 기준개수와 비교한다. 그 비교 결과, 임계치를 넘는 차값들의 개수가 허용 기준개수 이상이면 데이터 보정부(61)는 도 18에서 제1 터치센서 근방을 실제 터치 입력이 발생한 터치 영역으로 판단하고 임계치를 넘지만 음의 편차를 가지는 연속된 차값들 중에서 제1 로우 데이터(1st RD)와 가장 외부조건이 유사한 제M 로우 데이터(Mth RD)를 미러 데이터로 선택한다.2nd RD-1st RD = Δ2, 3rd RD-2nd RD = Δ3, ... Mth RD-(M-1) th RD = ΔM, (M + 1) th RD-Mth RD = ΔM + 1, (M + 2) th RD-Mth RD = ΔM + 2, ... When Nth RD-(N-1) th RD = ΔN, negative deviations above a certain threshold such as ΔM, ΔM + 1, ΔM + 2, etc. If the difference values are continuously present, the data correction unit 61 compares the number of difference values exceeding the threshold with the allowable reference number. As a result of the comparison, if the number of difference values exceeding the threshold is greater than or equal to the allowable reference number, the data compensator 61 determines the vicinity of the first touch sensor as the touch area where the actual touch input has occurred in FIG. The Mth row data Mth RD having the most external condition similar to the first row data 1st RD among the consecutive difference values is selected as the mirror data.

도 19는 터치센서 어레이(14)의 출력단자들에 접속된 제1 내지 제3 TSIC들을 나타내는 도면이다. FIG. 19 is a diagram illustrating first through third TSICs connected to output terminals of the touch sensor array 14.

도 19를 참조하면, 제1 TSIC(TSIC#1)의 사용 채널수는 N₁개이고 1 라인의 터치센서들로부터 출력되는 로우 데이터들 중에서 1st RD~N₁th RD를 입력받아 디지털 데이터로 변환한다. 제2 TSIC(TSIC#2)의 사용 채널수는 N₂개이고 1 라인의 터치센서들로부터 출력되는 로우 데이터들 중에서 (N₁+1)th RD~(N₁+N₂)th RD를 입력받아 디지털 데이터로 변환한다. 제3 TSIC(TSIC#3)의 사용 채널수는 N₃개이고 1 라인의 터치센서들로부터 출력되는 로우 데이터들 중에서 (N₁+N₂+1)th RD~(N₁+N₂+N₃)th RD를 입력받아 디지털 데이터로 변환한다. TSIC들(TSIC#1, TSIC#2, TSIC#3)의 사용 채 널수는 터치센서들의 개수 및 해상도에 따라 달라질 수 있다. Referring to FIG. 19, the number of channels used for the first TSIC (TSIC # 1) is N _1, and 1st RD to N ₁ th RD are received from the raw data output from touch sensors of one line and converted into digital data. . The number of channels used for the second TSIC (TSIC # 2) is N ₂ and receives (N ₁ +1) th RD-(N ₁ + N ₂ ) th RD among the raw data output from the touch sensors of one line. Convert to digital data. The number of channels used for the third TSIC (TSIC # 3) is N ₃ and (N ₁ + N ₂ +1) th RD ~ (N ₁ + N ₂ + N ₃ among row data output from touch sensors of one line. ) th RD is input and converted into digital data. The number of channels used for the TSICs (TSIC # 1, TSIC # 2, TSIC # 3) may vary depending on the number and resolution of the touch sensors.

도 20은 도 10b 및 도 11과 같은 터치 데이터들을 도 15 내지 도 18과 같은 차 연산을 통해 보정된 보정값들이다. 도 20에서, "TSIC#1 mirror data"는 도 15와 같은 방법으로 선택된 제1 TSIC의 미러 데이터이고 "TSIC#2 mirror data"는 도 15와 같은 방법으로 선택된 제2 TSIC의 미러 데이터이다. 데이터 보정부(61)는 제1 TSIC로부터 입력되는 제1 터치 데이터의 보정값(Δ1)을 Δ1 = 1st RD - TSIC#1 mirror data로 산출하고, 제1 TSIC로부터 입력되는 제2 내지 제N₁ 터치 데이터들 각각의 보정값(ΔN₁)을 ΔN₁ = N₁th RD - (N₁-1)th RD로 산출한다. 그리고 데이터 보정부(61)는 제2 TSIC로부터 입력되는 제1 터치 데이터의 보정값(Δ1)을 Δ1 = 1st RD - TSIC#2 mirror data로 산출하고, 제2 TSIC로부터 입력되는 제2 내지 제N₂ 터치 데이터들 각각의 보정값(ΔN₂)을 ΔN₂ = N₂th RD - (N₂-1)th RD로 산출한다. 그 결과, 도 21과 같이 제1 및 제2 TSIC로부터 발생된 터치 데이터들은 기준 레벨(점선)에 근접한 보정값으로 보정된다. 도 21의 보정값에서 알 수 있는 바 터치 데이터들의 스윙 레벨 성분과 TSIC들 간의 편차 성분이 제거된다. 20 are correction values corrected through the difference operation of FIGS. 15 to 18 with respect to touch data such as FIGS. 10B and 11. In FIG. 20, "TSIC # 1 mirror data" is mirror data of the first TSIC selected in the same manner as in FIG. 15 and "TSIC # 2 mirror data" is mirror data of the second TSIC selected in the same manner as in FIG. 15. Data correction unit 61 is the correction value (Δ1) of the first touch data input from the first TSIC Δ1 = 1st RD - TSIC # 1 second to N ₁ is calculated to mirror data, and inputted from the first TSIC The correction value ΔN ₁ of each of the touch data is calculated as ΔN ₁ = N ₁ th RD − (N ₁ −1) th RD. The data correction unit 61 calculates the correction value Δ1 of the first touch data input from the second TSIC as Δ1 = 1st RD-TSIC # 2 mirror data, and receives the second to Nth inputs from the second TSIC. The correction value ΔN ₂ of each of the _two touch data is calculated as ΔN ₂ = N ₂ th RD − (N ₂ −1) th RD. As a result, as illustrated in FIG. 21, the touch data generated from the first and second TSICs are corrected to a correction value close to the reference level (dotted line). As can be seen from the correction value of FIG. 21, the swing level component of the touch data and the deviation component between the TSICs are removed.

데이터 보정부(61)는 도 22와 같이 소정의 임계치 이상으로 큰 값을 가지는 터치 데이터들의 보정값들의 연속된 개수를 판단한다. 데이터 보정부(61)는 임계치 이상의 보정값들의 연속된 개수가 소정의 기준값 미만이면, 그 보정값들을 결함 있는 터치센서(defective touch sensor)의 출력으로 판단하고, 터치 데이터들에서 결함 있는 터치센서의 출력을 제거하기 위하여 상기 임계치 이상의 보정값들에 가 중치 "0"을 곱한다. 그 결과, 터치 데이터들의 보정값에서 결함 터치센서로부터 발생된 이상 출력이 도 23의 원과 같이 제거된다. 반면에, 데이터 보정부(61)는 임계치 미만의 보정값들에 가중치 "1"을 곱하고, 연속된 개수가 기준값 이상인 임계치 이상의 보정값들에 가중치 "1"을 곱한다. 연속된 개수가 기준값 이상인 임계치 이상의 보정값들은 터치 영역의 데이터이다. As illustrated in FIG. 22, the data corrector 61 determines a continuous number of correction values of touch data having a large value above a predetermined threshold value. If the continuous number of correction values above the threshold is less than a predetermined reference value, the data correction unit 61 determines the correction values as outputs of a defective touch sensor, and determines that the defective touch sensor is in touch data. To remove the output, multiply the correction values above the threshold by a weight of "0". As a result, the abnormal output generated from the defective touch sensor in the correction value of the touch data is removed as shown in the circle of FIG. On the other hand, the data correction unit 61 multiplies the correction values below the threshold by the weight "1", and multiplies the correction values above the threshold whose successive number is equal to or greater than the reference value by the weight "1". Correction values above the threshold value where the consecutive number is greater than or equal to the reference value are data of the touch area.

도 24는 도 15 내지 도 23와 같은 보정방법으로 보정된 보정값 도 11의 터치 데이터들의 보정값 각각에 옵셋값 '512'를 가산한 결과를 3차원 그래프로 보여 주는 컬러 이미지이다. 도 24의 보정 후 터치 데이터에서 임계치 이상의 터치 데이터는 실제 터치 영역의 터치센서 출력이다. 도 24에서 확인할 수 있는 바와 같이 도 11의 터치 데이터에 포함되었던 노이즈, 스윙 레벨 및 TSIC들 간의 편차가 제거된다.FIG. 24 is a color image showing a result of adding an offset value '512' to each of the correction values of the touch data of FIG. 11, corrected by the same correction method as in FIGS. 15 to 23. In the touch data after correction of FIG. 24, the touch data above the threshold is the touch sensor output of the actual touch area. As can be seen in FIG. 24, noise, swing levels, and deviations between TSICs included in the touch data of FIG. 11 are removed.

본 발명의 제2 실시예에 따른 데이터 보정부(61)의 미러 데이터 발생방법은 TSIC들로부터 출력된 임의의 1 라인 로우 데이터의 평균값으로 미러 데이터를 산출하고 그 미러 데이터를 이용하여 이웃한 로우 데이터들의 차값으로 로우 데이터들을 보정한다. 미러 데이터는 TSIC 각각에서 산출된다. 즉, 미러 데이터의 개수는 TSIC의 개수와 같다. In the mirror data generation method of the data correcting unit 61 according to the second embodiment of the present invention, mirror data is calculated using an average value of arbitrary one-line row data output from TSICs and neighboring row data using the mirror data. Correct the raw data with the difference value Mirror data is calculated in each of the TSICs. That is, the number of mirror data is equal to the number of TSICs.

도 19에서 제1 TSIC(TSIC#1)의 미러 데이터를 "MD1", 제2 TSIC(TSIC#2)의 미러 데이터를 "MD2", 제3 TSIC(TSIC#3)의 미러 데이터를 "MD3"라 하면, 미러 데이터들(MD1, MD2, MD3) 각각은 MD1=[SUM(1st RD ~ N₁th RD)]/N₁, MD2={SUM[(N₁+1)th RD ~ (N₁+N₂)th RD)]}/N₂, MD3={SUM[(N₁+N₂+1)th RD ~ (N₁+N₂+N₃)th RD)]}/N₃ 등과 같이 평균값으로 산출된다. In FIG. 19, the mirror data of the first TSIC (TSIC # 1) is "MD1", the mirror data of the second TSIC (TSIC # 2) is "MD2", and the mirror data of the third TSIC (TSIC # 3) is "MD3". For example, each of the mirror data MD1, MD2, and MD3 includes MD1 = [SUM (1st RD ~ N ₁ th RD)] / N ₁ , MD2 = {SUM [(N ₁ +1) th RD ~ (N ₁ + N ₂ ) th RD)]} / N ₂ , MD3 = {SUM [(N ₁ + N ₂ +1) th RD ~ (N ₁ + N ₂ + N ₃ ) th RD)]} / N _3, etc. The average value is calculated.

제1 TSIC의 미러 데이터를 "MD1"라 하고, 제2 TSIC의 미러 데이터를 "MD2"라 하면, MD1과 MD2 각각은 아래와 같이 평균값으로 산출된다. 제1 TSIC의 제1 로우 데이터(1st RD)는 제1 미러 데이터(MD1)와의 차값 + 옵셋값으로 보정되고, 제2 TSIC의 제1 로우 데이터(1st RD)는 제2 미러 데이터(MD1)와의 차값 + 옵셋값으로 보정된다. 1 라인에서 추출된 로우 데이터의 보정방법은 도 25 및 도 26와 같은 조건을 고려하여 보정된다. If the mirror data of the first TSIC is referred to as "MD1" and the mirror data of the second TSIC is referred to as "MD2", each of MD1 and MD2 is calculated as an average value as follows. The first row data 1st RD of the first TSIC is corrected to a difference value + an offset value from the first mirror data MD1, and the first row data 1st RD of the second TSIC is compared with the second mirror data MD1. It is corrected by the difference value + offset value. The correction method of the row data extracted from one line is corrected in consideration of the conditions as shown in FIGS. 25 and 26.

도 25를 참조하면, 미러 데이터와 제1 로우 데이터의 차값을 포함하여 이웃한 로우 데이터들의 차값들이 소정의 임계치를 넘지 않는 경우에 보정값(Δ1, Δ2, ... ΔN)은 Δ1=MD1(또는 MD2)-1st RD, Δ2=2nd RD -1st RD, ... ΔN=Nth RD-(N-1)th RD 등과 같이 이웃한 로우 데이터들의 차값으로 산출된다. Referring to FIG. 25, when the difference values of neighboring row data, including the difference value between mirror data and the first row data, do not exceed a predetermined threshold, the correction values Δ1, Δ2, ... ΔN are Δ1 = MD1 ( Or MD2) -1st RD, Δ2 = 2nd RD-1st RD, ... ΔN = Nth RD- (N-1) th RD, and the like.

도 26를 참조하면, 이웃한 로우 데이터들 사이의 차값들 중에서 하나 이상의 차값들이 소정의 임계치를 초과하는 경우에 이들 중에서 임계값 이하의 차값들은 전술한 바와 같이 Δ1=MD1(또는 MD2)-1st RD, Δ2=2nd RD -1st RD, ... Δ6=6th RD-5th RD 등과 같이 이웃한 로우 데이터들의 차값으로 산출되는 반면, 임계값을 초과하는 차값이 존재하는 구간에서는 다음과 같이 계산된다. Referring to FIG. 26, when one or more difference values among the difference values between neighboring row data exceed a predetermined threshold, difference values below the threshold value among them are Δ1 = MD1 (or MD2) -1st RD as described above. The difference value is calculated as a difference value of neighboring row data such as Δ2 = 2nd RD-1st RD, Δ6 = 6th RD-5th RD, and is calculated as follows in a section in which a difference value exceeding a threshold exists.

Δ7=7th RD -6th RD(임계치 초과), Δ8=8th RD-6th RD(업데이트를 하지 않음), Δ9=9th RD-6th RD(없데이터를 하지 않음), ... Δ12=12th RD-6th RD(임계치 이하), Δ13=13th RD-12th RD.Δ7 = 7th RD -6th RD (over threshold), Δ8 = 8th RD-6th RD (no update), Δ9 = 9th RD-6th RD (no data), ... Δ12 = 12th RD-6th RD (below threshold), Δ13 = 13th RD-12th RD.

위와 같이 이웃한 로우 데이터들 간의 차값이 소정의 임계치를 초과하는 것이 나타나면 차값이 임계치 이하가 될 때까지 평준화 기준 데이터를 업데이트하지 않는다. 여기서 평준화 기준 데이터란 소정의 임계치를 초과하기 직전의 로우 데이터로써 위 예에서 6th RD를 의미한다. If the difference between neighboring row data exceeds the predetermined threshold as described above, the leveling reference data is not updated until the difference is less than or equal to the threshold. Here, the leveling reference data refers to 6th RD in the above example as raw data immediately before exceeding a predetermined threshold.

도 27과 같은 로우 데이터들(1st RD ~ 8th RD)의 평균값으로 미러 데이터(MD)를 산출한 예이다. 도 28은 도 27과 같은 미러 데이터(MD)와의 차값으로 산출된 제1 로우 데이터의 보정값(Δ1)과, 도 26와 같이 이웃한 로우 데이터들의 차값으로 보정된 보정값들(Δ2~Δ8)이다. 도 29은 도 27과 같은 보정값(Δ1~Δ8) 각각에 옵셋값 '512'를 가산하여 얻은 최종 보정값들이다. 도 29에서 해치된 부분은 실제 터치 입력이 발생한부분의 데이터들이고, 그 이외의 부분은 터치 입력이 없는 데이터들이다. As shown in FIG. 27, mirror data MD is calculated using an average value of row data 1st RD to 8th RD. FIG. 28 is a correction value Δ1 of first row data calculated as a difference with mirror data MD as shown in FIG. 27, and correction values Δ2 to Δ8 corrected with a difference value between adjacent row data as shown in FIG. 26. to be. FIG. 29 is final correction values obtained by adding an offset value '512' to each of the correction values Δ1 to Δ8 shown in FIG. 27. In FIG. 29, hatched portions represent data of actual touch input, and other portions represent data without touch input.

도 30는 보정전 TSIC로부터 출력되는 제1 내지 제5 라인들(Y1~Y6)이며, 도 31은 도 30와 같은 로우 데이터들을 도 26 내지 도 29과 같은 보정방법으로 보정한 실험 결과이다. FIG. 30 illustrates first to fifth lines Y1 to Y6 output from the TSIC before correction, and FIG. 31 illustrates an experimental result of correcting the raw data of FIG. 30 using the same correction method of FIGS. 26 to 29.

도 30에서 알 수 있는 바, 도 29의 로우 데이터에 포함되었던 노이즈, 스윙 레벨이 평준화되고 TSIC들 간의 편차도 제거된다. 도 25 내지 도 29과 같은 보정 과정에 더하여 전술한 바와 같이 임계치 이상의 보정값들의 연속된 개수가 소정의 기준값 미만이면, 터치 데이터들에서 결함 있는 터치센서의 출력을 제거하기 위하여 상기 임계치 이상의 보정값들에 가중치 "0"을 곱한다. 반면에, 임계치 미만의 보정값들에 가중치 "1"을 곱하고, 연속된 개수가 기준값 이상인 임계치 이상의 보정값들에 가중치 "1"을 곱한다. As can be seen in FIG. 30, the noise and swing level included in the row data of FIG. 29 are equalized, and the deviation between TSICs is also removed. As described above in addition to the correction process as shown in FIGS. 25 to 29, when the continuous number of correction values above the threshold is less than a predetermined reference value, the correction values above the threshold are removed to remove the output of the defective touch sensor from the touch data. Multiply by the weight "0". On the other hand, the correction values below the threshold are multiplied by the weight "1", and the correction values above the threshold whose successive number is above the reference value are multiplied by the weight "1".

상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 터치 감지장치와 그 출력 보정방법은 이웃하는 터치 데이터와 미러 데이터를 이용하여 터치 데이터들의 보정값들을 발생하고 그 보정값에서 결함 터치센서의 출력을 제거하여 터치 데이터의 노이즈, 쉬프트 레벨, 및 터치센서 집적회로들 간의 편차를 보정한다. As described above, the touch sensing apparatus and its output correction method according to the embodiment of the present invention generate correction values of the touch data using neighboring touch data and mirror data and remove the output of the defective touch sensor from the correction value. By correcting the noise of the touch data, the shift level, and the deviation between the touch sensor integrated circuits.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위 내에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명은 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention. Therefore, the present invention should not be limited to the details described in the detailed description, but should be defined by the claims.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 터치센서 및 디스플레이 장치를 나타내는 블록도이다. 1 is a block diagram illustrating a touch sensor and a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 2 내지 도 4는 터치센서와 표시패널의 다양한 실시예들을 보여 주는 도면들이다. 2 to 4 are diagrams illustrating various embodiments of a touch sensor and a display panel.

도 5는 도 4와 같이 표시패널의 화소 어레이에 내장된 터치센서들의 일예를 보여 주는 단면도이다. 5 is a cross-sectional view illustrating an example of touch sensors embedded in a pixel array of a display panel as shown in FIG. 4.

도 6은 도 4와 같이 표시패널의 화소 어레이에 내장된 터치센서들의 일예를 보여 주는 등가 회로도이다. 6 is an equivalent circuit diagram illustrating an example of touch sensors embedded in a pixel array of a display panel as shown in FIG. 4.

도 7은 도 4와 같이 표시패널의 화소 어레이에 내장된 터치센서들과 TSIC의 일예를 보여 주는 등가 회로도이다. FIG. 7 is an equivalent circuit diagram illustrating an example of a TSIC and touch sensors embedded in a pixel array of a display panel as shown in FIG. 4.

도 8은 도 1에 도시된 터치센서 및 터치센서들의 출력을 이미지로 보여 주는 실험장치를 보여 주는 도면이다. FIG. 8 is a diagram illustrating an experimental apparatus showing an output of the touch sensor and the touch sensors illustrated in FIG. 1.

도 9는 터치 데이터 보정회로의 회로 구성을 보여 주는 블록도이다. 9 is a block diagram showing a circuit configuration of a touch data correction circuit.

도 10a는 도 1에 도시된 표시패널에 표시되는 테스트 데이터의 일예를 보여 주는 도면이다. FIG. 10A illustrates an example of test data displayed on the display panel illustrated in FIG. 1.

도 10b는 도 8과 같은 터치 데이터의 실험장치를 통해 모니터53)에 표시된 터치센서 출력 이미지를 캡쳐한 사진이다. FIG. 10B is a photograph of capturing the touch sensor output image displayed on the monitor 53 through the experiment of touch data as shown in FIG. 8.

도 11은 도 10b와 같은 터치센서들의 출력 레벨을 3차원 그래프로 보여 주는 컬러 이미지이다.FIG. 11 is a color image showing the output level of the touch sensors as shown in FIG. 10B in a 3D graph.

도 12는 터치센서들의 출력에 포함되는 노이즈 및 TSIC들 간의 편차를 보여 주는 파형도이다. FIG. 12 is a waveform diagram illustrating deviation between noise and TSICs included in an output of touch sensors.

도 13은 터치 데이터의 전압과 디지털 값을 나타내는 도면이다.13 is a diagram illustrating a voltage and a digital value of touch data.

도 14는 터치영역의 터치 데이터 전압 및 디지털 값과, 비터치영역의 터치 데이터 전압 및 디지털 값을 보여 주는 도면이다. 14 illustrates a touch data voltage and a digital value of a touch area and a touch data voltage and a digital value of a non-touch area.

도 15 내지 도 18은 본 발명의 제1 실시예에 따른 미러 데이터를 보여 주는 도면들이다. 15 to 18 are diagrams showing mirror data according to the first embodiment of the present invention.

도 19는 터치센서 집적회로들(TSICs)의 사용 채널 수를 예시하는 도면이다. FIG. 19 is a diagram illustrating the number of channels used by touch sensor integrated circuits (TSICs).

도 20 및 도 21은 터치 데이터들의 보정값들과 미러 데이터를 보여 주는 도면들이다. 20 and 21 illustrate correction values and mirror data of touch data.

도 22 및 도 23는 결함 있는 터치센서의 출력 보정방법을 설명하기 위한 도면들이다. 22 and 23 are diagrams for describing an output correction method of a defective touch sensor.

도 24은 도 15 내지 도 23와 같은 보정방법으로 보정된 도 11의 터치 데이터들 각각에 옵셋값 '512'를 가산한 결과를 3차원 그래프로 보여 주는 컬러 이미지이다. FIG. 24 is a color image showing a result of adding an offset value '512' to each of the touch data of FIG. 11 corrected by the same correction method as in FIGS. 15 to 23.

도 25 및 도 26는 본 발명의 제2 실시예에 따른 미러 데이터를 보여 주는 도면들이다. 25 and 26 show mirror data according to a second embodiment of the present invention.

도 27 내지 도 29은 로우 데이터들의 평균값으로 산출된 미러 데이터와 이를 이용한 보정값, 및 보정값에 옵셋값을 더한 최종 보정값의 일예를 보여 주는 도면들이다. 27 to 29 are diagrams illustrating one example of mirror data calculated as an average value of row data, a correction value using the same, and a final correction value obtained by adding an offset value to the correction value.

도 30 및 도 31은 도 25 내지 도 29과 같은 보정 방법 전의 로우 데이터들과 보정 데이터들을 보여 주는 실험 결과 그래프들이다. 30 and 31 are graphs of experimental results showing row data and correction data before the correction method such as FIGS. 25 to 29.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >Description of the Related Art

10 : 표시패널 11 : 타이밍 콘트롤러10: display panel 11: timing controller

12 : 데이터 구동회로 13 : 게이트 구동회로12: data driving circuit 13: gate driving circuit

14 : 터치센서 어레이 15 : 터치신호 처리회로14: touch sensor array 15: touch signal processing circuit

Claims

다수의 터치센서들을 포함하는 터치센서 어레이; A touch sensor array including a plurality of touch sensors;

상기 터치센서 어레이의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 로우 데이터들을 발생하는 다수의 집적회로들; 및 A plurality of integrated circuits converting an output of the touch sensor array into digital data to generate row data; And

상기 집적회로들로터 입력되는 상기 로우 데이터들에서 이웃하는 로우 데이터들 간의 차값으로 보정값들을 발생하고, 상기 보정값들 중에서 기준값 미만으로 연속되는 임계치 이상의 보정값들을 제거하며, 상기 보정값들 각각에 옵셋값을 가산하는 데이터 보정부를 구비하고,Generating correction values as a difference value between neighboring row data in the row data input from the integrated circuits, removing correction values above a threshold that are successively below a reference value among the correction values, and removing each of the correction values. A data correction unit for adding an offset value,

상기 데이터 보정부는 상기 집적회로들 각각에서 제1 로우 데이터와 차 연산될 미러 데이터들을 발생하고, The data corrector generates mirror data to be differentially calculated from first row data in each of the integrated circuits.

상기 미러 데이터들 각각은 상기 집적회로에서 출력되는 로우 데이터들 중에서 선택되는 것을 특징으로 하는 터치 감지장치. Each of the mirror data is selected from among raw data output from the integrated circuit.

삭제delete

제 1 항에 있어서,The method of claim 1,

상기 데이터 보정부는, The data correction unit,

상기 집적회로들 각각에서 제1 로우 데이터와 차 연산될 미러 데이터들을 발 생하고, Generating mirror data to be differentially calculated with first row data in each of the integrated circuits,

상기 미러 데이터들 각각은 상기 집적회로에서 출력되는 로우 데이터들의 평균값으로 산출되는 것을 특징으로 하는 터치 감지장치. And each of the mirror data is calculated as an average value of row data output from the integrated circuit.

제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,The method according to claim 1 or 3,

상기 데이터 보정부는, The data correction unit,

상기 터치센서로부터 출력되는 상기 제1 로우 데이터에 상기 미러 데이터를 빼 상기 제1 로우 데이터의 보정값을 산출하고 이웃한 로우 데이터들의 차값으로 상기 제1 로우 데이터를 제외한 나머지 로우 데이터들의 보정값을 산출하고, The correction value of the first row data is calculated by subtracting the mirror data from the first row data output from the touch sensor, and the correction value of the remaining row data except the first row data is calculated as a difference between neighboring row data. and,

상기 보정값 각각에 미리 설정된 옵센값을 가산하는 것을 특징으로 하는 터치 감지장치. And a preset threshold value is added to each of the correction values.

제 1 항에 있어서,The method of claim 1,

상기 데이터 보정부는, The data correction unit,

상기 기준값 미만으로 연속되는 상기 임계치 이상의 보정값들 각각에 '0'을 곱하고, Multiply each of the correction values above the threshold that is less than the reference value by '0',

상기 임계치 미만의 보정값들과 상기 기준값 이상으로 연속되는 상기 임계치 이상의 보정값들 각각에 '1'을 곱하는 것을 특징으로 하는 터치 감지장치. And multiplying '1' by each of the correction values below the threshold and the correction values above the threshold successive to the reference value.

다수의 터치센서들과 접속된 집적회로들에서 상기 터치센서들의 출력을 디지털 데이터로 변환하여 로우 데이터들을 발생하는 단계;Generating raw data by converting the output of the touch sensors into digital data in integrated circuits connected to a plurality of touch sensors;

상기 집적회로들로터 입력되는 상기 로우 데이터들에서 이웃하는 로우 데이터들 간의 차값으로 보정값들을 발생하는 단계; Generating correction values as a difference value between neighboring row data in the row data input from the integrated circuits;

상기 보정값들 중에서 기준값 미만으로 연속되는 임계치 이상의 보정값들을 제거하는 단계; 및 Removing correction values of the correction values that are greater than or equal to a threshold that are successively lower than a reference value; And

상기 보정값들 각각에 옵셋값을 가산하는 단계를 포함하고,Adding an offset value to each of the correction values;

상기 보정값들을 발생하는 단계는, The generating of the correction values may include:

상기 집적회로들 각각에서 제1 로우 데이터와 차 연산될 미러 데이터들을 발생하고, Generating mirror data to be calculated with first row data in each of the integrated circuits,

상기 미러 데이터들 각각은 상기 집적회로에서 출력되는 로우 데이터들 중에서 선택되는 것을 특징으로 하는 터치 감지장치의 출력 보정방법. And each of the mirror data is selected from among raw data output from the integrated circuit.

삭제delete

제 6 항에 있어서,The method of claim 6,

상기 집적회로들 각각에서 제1 로우 데이터를 보정하기 위한 미러 데이터들을 발생하고, Generating mirror data for correcting first row data in each of the integrated circuits,

상기 미러 데이터들 각각은 상기 집적회로에서 출력되는 로우 데이터들의 평 균값으로 산출되는 것을 특징으로 하는 터치 감지장치의 출력 보정방법. Each of the mirror data is calculated as an average value of row data output from the integrated circuit.

제 6 항 또는 제 8 항에 있어서,9. The method according to claim 6 or 8,

상기 터치센서로부터 출력되는 미러 데이터들 중에서 상기 제1 로우 데이터에 상기 미러 데이터를 빼 상기 제1 로우 데이터의 보정값을 산출하고 이웃한 로우 데이터들의 차값으로 상기 제1 로우 데이터를 제외한 나머지 로우 데이터들의 보정값을 산출하는 것을 특징으로 하는 터치 감지장치의 출력 보정방법. From the mirror data output from the touch sensor, the correction value of the first row data is calculated by subtracting the mirror data from the first row data, and the remaining row data except the first row data is calculated as a difference between neighboring row data. And outputting a correction value.

제 6 항에 있어서,The method of claim 6,

상기 임계치 이상의 보정값들을 제거하는 단계는, Removing the correction values above the threshold,

상기 기준값 미만으로 연속되는 상기 임계치 이상의 보정값들 각각에 '0'을 곱하는 단계; 및 Multiplying '0' by each of the above-threshold correction values below the reference value; And

상기 임계치 미만의 보정값들과 상기 기준값 이상으로 연속되는 상기 임계치 이상의 보정값들 각각에 '1'을 곱하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 감지장치의 출력 보정방법. And multiplying '1' by each of the correction values below the threshold and the correction values above the threshold which are successively above the reference value.