KR101310290B1 - 포고핀 및 이를 이용하는 회로 검사장치 - Google Patents

포고핀 및 이를 이용하는 회로 검사장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 포고핀 및 이를 이용하는 회로 검사장치에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 포고핀 및 이를 이용하는 회로 검사장치는 내부에 수용공간을 갖는 케이싱; 상기 케이싱의 수용공간에 수용되며, 걸림부를 구비하는 핀부; 상기 핀부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 탄성체;를 포함하되, 상기 핀부는, 일측이 상기 탄성체에 지지되고, 타측은 검사체와 접촉하는 탐침부; 상기 탐침부가 수용되며, 상기 걸림부가 형성되는 몸체부;를 포함하며, 상기 탄성체는, 상기 케이싱 내부에 배치되어 상기 탐침부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 제1탄성부재; 상기 케이싱의 단부와 상기 걸림부 사이에 배치되어 상기 몸체부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 제2탄성부재;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이에 의하여, 포고핀에 걸림부를 형성하여 기판과 포고핀이 결합될 경우 기판과 포고핀 사이의 결합관계에 대한 신뢰성을 높일 수 있는 포고핀 및 이를 이용하는 회로 검사장치가 제공된다.

Description

포고핀 및 이를 이용하는 회로 검사장치{POGO PIN AND APPARATUS FOR INSPECTING CIRCUIT USING THE SAME}
본 발명은 포고핀 및 이를 이용하는 회로 검사장치에 관한 것으로써, 보다 상세하게는 포고핀에 걸림부를 형성하여 기판과 포고핀이 결합될 경우 기판과 포고핀 사이의 결합관계에 대한 신뢰성을 높일 수 있는 포고핀 및 이를 이용하는 회로 검사장치에 관한 것이다.
포고핀(POGO PIN)은 일반적으로 반도체 측정장비의 탐침용으로 사용되며, 구조적인 특성상 접촉 정확도가 높으므로 안정적인 전류 공급이 가능한 바, 충방전용의 전류 공급장치와 휴대용 단말기에 부설된 카메라 모듈이나 슬라이드 힌지 등에도 폭넓게 적용된다.
이러한 포고핀은 각 반도체 소자에 대한 전기적 특성을 검사하기 위한 측정장치에서 피검사체와 전기적 신호를 전달하는 장치 사이의 복수 개의 홀이 형성된 기판에 연결되어 전기적 연결을 매개하는 역할을 한다.
한편, 종래에 일반적으로 사용되는 포고핀의 경우, 홀에 연결된 포고핀은 피검사장치와의 접촉으로 이동이 잦아 포고핀과 기판과의 사이에 접촉불량이 빈번하게 발생하는 문제가 있었다.
또한, 검사환경이 고주파로 갈수록 높아지는 저항으로 인해 신호전달 과정에서 신호 손실이 발생하는 문제가 있었다.
본 발명의 과제는 상술한 바와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로써, 포고핀에 걸림부를 형성하여 기판과 포고핀이 결합될 경우 기판과 포고핀 사이의 결합관계에 대한 신뢰성을 높일 수 있는 포고핀 및 이를 이용하는 회로 검사장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기 과제는, 본 발명에 따라, 내부에 수용공간을 갖는 케이싱; 상기 케이싱의 수용공간에 수용되며, 걸림부를 구비하는 핀부; 상기 핀부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 탄성체;를 포함하되, 상기 핀부는, 일측이 상기 탄성체에 지지되고, 타측은 검사체와 접촉하는 탐침부; 상기 탐침부가 수용되며, 상기 걸림부가 형성되는 몸체부;를 포함하며, 상기 탄성체는, 상기 케이싱 내부에 배치되어 상기 탐침부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 제1탄성부재; 상기 케이싱의 단부와 상기 걸림부 사이에 배치되어 상기 몸체부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 제2탄성부재;를 포함하는 것을 특징으로 하는 포고핀에 의해 달성된다.
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또한, 상기 과제는, 본 발명에 따라, 피검사체 상의 회로를 검사하는 검사장치에 있어서, 삽입홀을 구비하는 기판; 신호를 공급하는 전극부; 상기 삽입홀 내에 삽입되며 단부는 상기 피검사체에 접촉하되, 상기 전극부로부터 신호를 전달받아 상기 피검사체 상의 회로의 정상동작 여부를 검사하는 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항의 포고핀;를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 검사장치에 의해 달성된다.
또한, 상기 삽입홀은 복수 개가 형성되며, 상기 포고핀과 상기 기판 사이의 저항이 최소화 되도록 상기 포고핀은 상기 삽입홀에 각각 삽입되어 병렬로 연결되는 것을 특징으로 하는 회로 검사장치에 의해 달성된다.
본 발명에 따른 포고핀 및 이를 이용하는 회로 검사장치에 의하면, 핀부에 걸림부를 형성하고 탄성체에 의해 핀부를 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압함으로써, 기판과 걸림부가 긴밀하게 상호 접촉되어 핀부와 기판간의 결합관계에 대한 높은 신뢰성이 제공된다.
또한, 기판의 삽입홀의 직경이 포고핀에 비해 넓더라도 돌출부와 삽입홀의 외주면이 접촉됨으로써, 기판과 포고핀 간의 접촉이 이루어질 수 있다.
또한, 포고핀이 기판에 병렬로 연결됨으로써 고주파의 환경에서 발생하는 높은 저항으로 인한 신호 전달 손실을 줄일 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 포고핀을 나타내는 사시도이고,
도 2은 본 도1의 포고핀을 분해한 것을 나타내는 분해사시도이고,
도 3는 도 1의 포고핀을 나타내는 단면도이고,
도 4은 도 1의 포고핀을 이용하는 회로 검사장치를 나타내는 단면도이고,
도 5는 도 3의 회로 검사장치에서 포고핀의 제1탄성부재 및 제2탄성부재의 작동상태를 나타내는 단면도이고,
도 6은 도 3의 회로 검사장치에서 도 1의 포고핀에 비해 넓은 직경을 갖는 삽입홀에 걸림부가 접촉하는 상태를 나타내는 단면도이다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 일실시예에 따른 포고핀에 대하여 상세하게 설명한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 포고핀을 나타내는 사시도이고, 도 2은 본 도1의 포고핀을 분해한 것을 나타내는 분해사시도이고, 도 3는 도 1의 포고핀을 나타내는 단면도이다.
도 1 내지 도 3에서 도시하는 바와 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 포고핀(110)은 케이싱(111)과 핀부(112)와 탄성체(113)를 포함한다.
상기 케이싱(111)은 내부공간을 갖으며, 그 내부공간에는 후술할 핀부(112)와 제1탄성부재(113a)가 배치된다.
상기 핀부(112)는 케이싱(111)내부에 삽입되며, 핀부(112)로부터 돌출 형성되는 걸림부(112c)가 형성된다.
또한, 후술할 탄성체(113)로부터 탄성력을 받아 케이싱(111)으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압되며, 탐침부(112a)와 몸체부(112b)를 포함한다.
상기 탐침부(112a)는 그 일측이 케이싱(111) 내부에 삽입되고, 타측은 후술할 검사체와 접촉하여 후술할 전극부(130)로부터 공급되는 전기적 신호를 전달한다.
또한, 케이싱(111)내부에 삽입되는 측은 탄성체(113)에 삽입되어 고정될 수 있도록 형성되고, 검사체와 접촉하는 측은 하나 이상의 복수 개가 검사체 측으로 돌출 형성될 수 있다.
상기 몸체부(112b)는 걸림부(112c)가 형성되며, 탐침부(112a)가 관통되어 내부에 수용될 수 있도록 관통홀이 형성될 수 있다.
상기 탄성체(113)는 핀부(112)를 케이싱(111)으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하며, 제1탄성부재(113a)와 제2탄성부재(113b)를 포함한다.
상기 제1탄성부재(113a)는 케이싱(111) 내부에 배치되어 탐침부(112a)의 일단이 검사체와 접촉되도록 탐침부(112a)를 케이싱(111)으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압한다.
상기 제2탄성부재(113b)는 케이싱(111)의 단부와 걸림부(112c) 사이에 배치되어 일정 간격으로 홀이 형성된 기판과 돌출부(112c)가 긴밀하게 접촉할 수 있도록 몸체부(112b)를 케이싱(111)으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압한다.
여기서, 도면에서는 스프링 형태로 도시되었으나, 이에 한정되지 않고 탄성을 지녀 핀부(112)를 케이싱(111)으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압할 수 있는 수단이면 무엇이나 가능하다.
또한, 상술한 바와 같은 케이싱(111)과 핀부(112)와 탄성체(113)는 전기적 신호 전달이 용이하도록 전도체로 이루어지거나 전도체 물질이 도포되는 것이 바람직하다.
이하, 상기와 같이 구성된 포고핀을 이용한 회로 검사장치를 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 4는 도 1의 포고핀을 이용하는 회로 검사장치를 나타내는 단면도이다.
도 4에서 도시하는 바와 같이, 회로 검사장치는 포고핀(110)과 기판(120)과 전극부(130)를 포함한다.
상기 포고핀(110)은 피검사체(A)와 전극부(130) 사이에 배치되는 기판(120)의 삽입홀(121)에 삽입되어 전극부(130)로부터 공급되는 전기적 신호를 전달한다.
여기서, 포고핀(110)은 상술한 바와 같은 도 1 내지 도 3에서 설명한 내용의 포고핀(110)이 동일하게 적용된다.
상기 기판(120)에는 신호 전달을 위한 회로(미도시)가 형성되며, 포고핀(110)이 삽입되는 삽입홀(121)이 형성된다. 삽입홀(121)은 기판(120)을 관통하여 형성되며 회로에 연결되어 삽입홀(121)에 장착된 포고핀(110)의 전기적인 신호가 다른 삽입홀(121)에 장착된 포고핀(110)으로 전달된다.
상기 전극부(130)는 피검사체(A)와 기판(120)간의 전기적 신호 전달 성능을 시험하도록 포고핀(110)에 전기적 신호를 공급한다.
본 실시예에 따른 포고핀 및 이를 이용한 회로 검사장치에 의하면, 핀부(112)에 걸림부(112c)를 형성하고 탄성체(130)에 의해 핀부(112)를 케이싱(111)으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압함으로써, 기판(120)과 걸림부(112c)가 밀접하게 상호 접촉되어 핀부(112)와 기판(120)간의 결합관계에 대한 높은 신뢰성이 제공된다.
또한, 포고핀(110)이 기판(120)에 병렬로 연결됨으로써 고주파의 환경에서 발생하는 높은 저항으로 인한 신호 전달 손실을 줄일 수 있다.
이하, 상술한 바와 같은 포고핀을 이용한 회로 검사장치의 동작을 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 5는 도 3의 회로 검사장치에서 포고핀의 제1탄성부재 및 제2탄성부재의 작동상태를 나타내는 단면도이다.
도 5에서 도시하는 바와 같이, 기판(120)의 삽입홀(121)에 삽입된 포고핀(110)의 일측에는 피검사체(A)가 배치되고, 타측에는 포고핀(110)과 전기적으로 연결되는 전극부(130)가 배치된다.
전극부(130) 또는 피검사체(A)로부터 포고핀(110)측으로 가해지는 압력에 의해 서로 이격되어 있던 피검사체(A)와 포고핀(110)은 서로 간의 간격이 점점 가까워지면서 피검사체(A)와 포고핀(110)의 표면이 서로 접촉하게 되어 전기적으로 연결된 상태를 이룬다,
이때, 전극부(130)로부터 소정의 신호가 나오게 되면, 그 신호는 전극부(130)를 거처 포고핀(110), 기판(120)을 통과하여 피검사체(A)의 단자로 전달됨으로써, 검사를 수행하게 된다.
여기서, 제1탄성부재(113a)는 케이싱(111) 내부에 배치되어 탐침부(112a)가 피검사체(A)와 균일하게 접촉되도록 탐침부(112a)를 케이싱(111)으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압한다.
즉, 포고핀(110)이 하나가 배치될 경우에는 포고핀(110)의 탐침부(112a)가 피검사체(A)와 접촉되는 면적이 균일하도록 탄성력을 제공하고, 하나 이상의 복수 개로 포고핀(110)이 배치될 경우에는 각각의 포고핀(110)의 탐칩부(112a)가 피검사체(A)와 균일하게 접촉하도록 탄성력을 제공하는 것이다.
제2탄성부재(113b)는 케이싱(111)의 단부와 걸림부(112c) 사이에 배치되어 몸체부(112b)를 케이싱(111)으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압한다.
다시 설명하면, 몸체부(112b)를 케이싱(111)으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압함으로써, 몸체부(112b)에 형성되는 돌출부(112c)가 기판(120)의 삽입홀(121)에 긴밀하게 접촉될 수 있다.
도 6은 도 3의 회로 검사장치에서 도 1의 포고핀에 비해 넓은 직경을 갖는 삽입홀에 걸림부가 접촉하는 상태를 나타내는 단면도이다.
도 6에서 도시하는 바와 같이, 기판(220)에 형성되는 삽입홀(221)의 직경이 포고핀(110)의 직경보다 넓을 경우 제2탄성부재(113b)가 케이싱(111)과 멀어지는 방향으로 몸체부(112b)를 탄성 가압함으로써, 몸체부(112b)의 외측방향으로 돌출형성되는 돌출부(112c)가 삽입홀(221)의 외주면과 접촉하여 삽입홀(221)의 직경이 포고핀(110)에 비해 넓더라도 기판(220)과 포고핀(110)이 접촉될 수 있다.
본 실시예에 의하면, 기판(220)의 삽입홀(121)의 직경이 포고핀(110)에 비해 넓더라도 돌출부(122c)와 삽입홀(221)의 외주면이 접촉됨으로써, 기판(220)과 포고핀(110) 간의 접촉이 이루어질 수 있다.
본 발명의 권리범위는 상술한 실시예에 한정되는 것이 아니라 첨부된 특허청구범위 내에서 다양한 형태의 실시예로 구현될 수 있다. 특허청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 변형 가능한 다양한 범위까지 본 발명의 청구범위 기재의 범위 내에 있는 것으로 본다.
A : 피검사체 110 : 포고핀
111 : 케이싱 112 : 핀부
112a : 탐침부 112b : 몸체부
112c : 돌출부 130 : 탄성체
131 : 제1탄성부재 132 : 제2탄성부재
120, 220 : 기판 121, 221 : 삽입홀
130 : 전극부

Claims (5)

  1. 내부에 수용공간을 갖는 케이싱;
    상기 케이싱의 수용공간에 수용되며, 걸림부를 구비하는 핀부;
    상기 핀부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 탄성체;를 포함하되,
    상기 핀부는, 일측이 상기 탄성체에 지지되고, 타측은 검사체와 접촉하는 탐침부; 상기 탐침부가 수용되며, 상기 걸림부가 형성되는 몸체부;를 포함하며,
    상기 탄성체는, 상기 케이싱 내부에 배치되어 상기 탐침부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 제1탄성부재; 상기 케이싱의 단부와 상기 걸림부 사이에 배치되어 상기 몸체부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 제2탄성부재;를 포함하는 것을 특징으로 하는 포고핀.
  2. 피검사체 상의 회로를 검사하는 검사장치에 있어서,
    삽입홀을 구비하는 기판;
    신호를 공급하는 전극부;
    상기 삽입홀 내에 삽입되며 단부는 상기 피검사체에 접촉하되, 상기 전극부로부터 신호를 전달받아 상기 피검사체 상의 회로의 정상동작 여부를 검사하는 포고핀;을 포함하며,
    상기 포고핀은, 내부에 수용공간을 갖는 케이싱; 상기 케이싱의 수용공간에 수용되며, 걸림부를 구비하는 핀부; 상기 핀부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 탄성체;를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 검사장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 핀부는 일측이 상기 탄성체에 지지되고, 타측은 검사체와 접촉하는 탐침부; 상기 탐침부가 수용되며, 상기 걸림부가 형성되는 몸체부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 검사장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 탄성체는 상기 케이싱 내부에 배치되어 상기 탐침부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 제1탄성부재; 상기 케이싱의 단부와 상기 걸림부 사이에 배치되어 상기 몸체부를 상기 케이싱으로부터 멀어지는 방향으로 탄성 가압하는 제2탄성부재;를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 검사장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 삽입홀은 복수 개가 형성되며,
    상기 포고핀과 상기 기판 사이의 저항이 최소화 되도록 상기 포고핀은 상기 삽입홀에 각각 삽입되어 병렬로 연결되는 것을 특징으로 하는 회로 검사장치.
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