CN105445501B - 用于环境测试的电性检测装置 - Google Patents
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Abstract
一种用于环境测试的电性检测装置,包含有底座、压板以及气体通道,该底座具有顶面、底面以及测试区,该测试区具有自该顶面凹陷且用于设置待测物的测试槽、连通于该测试槽与该底面之间的探针通道、以及穿设于该探针通道且用于接触该待测物的探针,该压板以能够移开的方式设置于该底座的测试槽上方,该气体通道贯穿该底座或该压板并且与该测试槽连通;由此,该电性检测装置能够使待测物在特定的温度湿度环境条件下进行电性检测,而且检测过程简便,并能够避免检测结果受到不必要的影响。
Description
技术领域
本发明涉及利用探针对电子组件或封装模块进行电性检测的装置,特别涉及一种用于温度与湿度环境测试的电性检测装置。
背景技术
请参阅图1,常用的电性检测装置10主要包含有承载盘11、加压块12以及多个探针13,该承载盘11具有一个测试槽14(也可以根据需要设置多个测试槽14),上述各探针13穿设于该承载盘11且有一端位于测试槽14内。使用该电性检测装置10时,将待测物15设置于该测试槽14内,并将该加压块12压抵于该待测物15上,以使该待测物15的接点确实地与探针13接触,从而利用探针13对该待测物15进行电性检测。该待测物15可为电子组件或封装模块,特别是***级封装模块(System in Package Module;简称SiP Module)。
然而,前述的电性检测装置10对待测物15进行电性检测时,该待测物15是封闭在测试槽14内而难以受到外部环境因素(例如温度、湿度等等)影响,因此该电性检测装置10不适用于环境测试(亦即在特定的温度或湿度下进行电性检测)。
众所周知SiP Module执行通电的环境可靠度测试时,例如温度湿度偏压测试(Temperature Humidity Bias Te st,THB)、偏压高加速湿度应力抵抗测试(biased HighAccelerated Stress Te st,biased HAST)等等,需要采用SMT制程(surface mounttechnology,表面贴装技术)将SiP Module组装在特殊设计的电源供应接口板(ElectricVehicle Broad,EVB)上,才能够作为偏压测试用的可靠度测试板。这样的测试方式需要事先进行EVB设计及SMT制程,因此过程较为费时,而且EVB若有损坏则会影响SiP Module的测试结果。
发明内容
鉴于上述缺点,本发明的主要目的在于提供一种用于环境测试的电性检测装置,能够使待测物在外部环境条件下进行电性检测,而且检测过程简便,并能够避免检测结果受到不必要的影响。
为实现上述目的,本发明所提供的用于环境测试的电性检测装置包含有底座、压板以及至少一个气体通道,该底座具有顶面、底面以及至少一个测试区,该至少一个测试区具有自顶面凹陷且用于设置待测物的测试槽、连通于测试槽与底面之间的探针通道、以及穿设于探针通道且用于接触待测物的探针,压板以能够移开的方式设置于底座的测试槽上方,该至少一个气体通道贯穿底座或压板且与测试槽连通。
由此,该电性检测装置外部的空气会经由该气体通道进入该测试槽,使得该待测物在外部环境条件(例如特定的温度及湿度)下进行电性检测,而且,使用该电性检测装置的检测过程相当简便,不需要事先设计EVB以及将待测物组装在EVB上,只要直接将待测物设于该测试槽内即可进行检测,这样还能够避免检测结果受到不必要的影响(例如受EVB损坏的影响)。
有关本发明所提供的用于环境测试的电性检测装置的详细构造、特点、组装或使用方式,将在后续的实施方式的详细说明中予以描述。然而,在本发明领域中具有通常知识者应能了解,这些详细说明以及实施本发明所列举的特定实施例,仅用于说明本发明,并非用来限制本发明的权利要求。
附图说明
图1是常用的电性检测装置的剖视示意图;
图2是本发明较佳实施例的电性检测装置的立体组合图;
图3是本发明较佳实施例的电性检测装置的立体分解图;
图4是本发明较佳实施例的电性检测装置的局部俯视图;
图5是本发明较佳实施例的电性检测装置的仰视图;
图6是图5沿剖视线6-6的剖视图;
图7是图5沿剖视线7-7的剖视图;
图8是本发明较佳实施例的电性检测装置的底座的立体分解图;
图9是本发明较佳实施例的电性检测装置的底座的俯视图;
图10是本发明较佳实施例的电性检测装置的底座的承载盘的俯视图。
(符号说明)
(现有技术)
10电性检测装置 11承载盘
12加压块 13探针
14测试槽 15待测物
(实施例)
20电性检测装置
30底座 31承载盘
311顶面 312下表面
32底盘 321底面
322上表面 33底架
34测试区 35测试槽
351承载面 352凹陷面
352a第一区块 352b第二区块
36探针通道 361、362穿孔
37探针 38连接槽
39凸块
40压板 41顶面
42底面 44加压块
50压扣
60下气体通道 61下凹槽
62穿孔 63长槽孔
70上气体通道
具体实施方式
请先参阅图2至图7,本发明较佳实施例的用于环境测试的电性检测装置20包含有底座30、压板40、两个压扣50,以及多个气体通道60、70,本实施例的气体通道60、70包含有多个贯穿该底座30的下气体通道60,以及多个贯穿该压板40的上气体通道70。
请参阅图8及图9,该底座30包含有按照次序相叠的承载盘31、底盘32及底架33,且具有多个测试区34。该底架33呈方框状,该底盘32具有与该底架33连接的底面321,以及与该底面321朝向相反方向的上表面322,该承载盘31设于该上表面322,且具有朝向相反方向的顶面311及下表面312。各测试区34具有自该顶面311凹陷且用于设置待测物(图中未示)的测试槽35、贯穿该底座30且与该测试槽35连通的四个探针通道36、以及分别穿设于上述各探针通道36的四个探针37(如图7所示),上述各测试区34的探针通道36与探针37的数量不限,可根据需要设置。此外,上述各测试区34设有下气体通道60,如图5、6所示。
请参阅图10,上述各测试槽35具有用于承载该待测物的承载面351,以及低于该承载面351的凹陷面352(亦即该凹陷面352较该承载面351更接近该底面321,如图6所示),该凹陷面352包含有分别位于该承载面351两侧的第一区块352a及第二区块352b,相邻的第一区块352a与第二区块352b通过连接槽38连接。
如图6所示,该测试区34还具有自该底盘32的上表面322凸出的凸块39,该下气体通道60包含有自该承载盘31的下表面312凹陷的下凹槽61、贯穿该凸块39的三个穿孔62(本发明并不限制穿孔的数量),以及在该底面321呈开放状且位置对应于该凸块39的长槽孔63,该下凹槽61在该测试槽35的凹陷面352的第一区块352a呈开放状,该凸块39设于该下凹槽61内,上述各穿孔62与该下凹槽61连通且与该长槽孔63连通;由此,该下气体通道60连通于该底座30的测试槽35与底面321之间。
如图7所示,该探针通道36包含有设于该测试槽35内且贯穿该承载盘31的穿孔361,以及与该穿孔361同轴设置且贯穿该底盘32的穿孔362;由此,该探针通道36连通于该测试槽35与该底面321之间,以供该探针37穿设于该探针通道36并以其一端接触位于该测试槽35内的待测物。
如图2、3所示,该压板40具有朝向相反方向的顶面41及底面42,以及多个凸出于该底面42的加压块44,且上述各上气体通道70贯穿该顶面41与该底面42。该压板40通过上述两个压扣50而以能够移开的方式设置于该底座30的测试槽35上方,当该压板40位于上述各测试槽35上方时,上述各加压块44分别与上述各测试槽35相对,并分别压抵上述各测试槽35内的待测物,使得上述各待测物的接点确实地与其所在的测试槽35内的探针37接触,而且,上述各上气体通道70与该连接槽38及其所连接的第一、二区块352a、352b相对(如图4所示),使得上述各测试槽35都与上气体通道70连通。
由此,上述各探针37能够接收测试仪器(图中未示)所提供的电性信号,进而对上述各待测物进行电性检测,同时,该电性检测装置20外部的空气会通过上述各气体通道60、70进入上述各测试槽35,使得上述各待测物在外部环境条件(例如特定的温度及湿度)下进行电性检测。而且,使用该电性检测装置20的检测过程相当简便,不需要事先设计EVB(电源供应接口板)以及将待测物组装在EVB上,只要直接将待测物设于测试槽35内即可进行检测,这样也能够避免检测结果受到不必要的影响(例如受EVB损坏影响)。
值得一提的是,本实施例的电性检测装置20具有多个测试区34,因此能够同时检测多个待测物,以节省检测时间;然而,本发明的电性检测装置也可仅具有一个测试区34,并对应地仅设有一个下气体通道60、一个上气体通道70及一个加压块44。此外,本实施例的电性检测装置20中,上述各测试槽35同时与下气体信道60及上气体信道70连通,这样能够使较多空气进入测试槽35,使得测试槽35内的环境条件更接近外部环境条件;然而,本发明的电性检测装置也可不具有上气体通道70或下气体通道60,只要上述各测试槽35与至少一个贯穿该底座30或该压板40的气体通道连通即可。
此外,本实施例的测试槽35因具有凹陷面352而能够容纳较多气体,上述各凹陷面352具有第一、二区块352a、352b且相邻的第一、二区块352a、352b通过连接槽38连接的设计,更使得待测物较为均匀地接触外部进入的气体,而且上气体通道70的数量只要与连接槽38相等即可,但本发明的电性检测装置的测试槽并不限制为本实施例的情形。
最后,必须再次说明,本发明在前述实施例中所揭露的构成元件,仅为举例说明,并非用来限制本发明的范围,其他等效元件的替代或变化,也应被本发明的权利要求所涵盖。
Claims (6)
1.一种用于环境测试的电性检测装置,包含有:
底座,其具有顶面、底面以及至少一个测试区,所述测试区具有自所述顶面凹陷且用于设置待测物的测试槽、连通于所述测试槽与所述底面之间的探针通道、以及穿设于所述探针通道且用于接触所述待测物的探针;
压板,其以能够移开的方式设置于所述底座的测试槽的上方;以及
至少一个气体通道,其贯穿所述底座或所述压板且与所述测试槽连通,
所述至少一个气体通道为贯穿所述底座的下气体通道,
所述下气体通道连通于所述底座的测试槽与所述底面之间,
所述测试槽具有用于承载所述待测物的承载面、以及较之所述承载面更接近所述底座的所述底面的凹陷面,
所述下气体通道位于所述凹陷面,
所述底座包含有底盘及承载盘,所述底盘具有所述底面及上表面,所述承载盘设于所述上表面且具有所述顶面及下表面,
所述至少一个测试区还具有自所述底盘的上表面凸出的凸块,
所述下气体通道包含有自所述承载盘的下表面凹陷且在所述测试槽的凹陷面呈开放状的下凹槽、贯穿所述凸块的穿孔、以及在所述底座的底面呈开放状且与所述凸块的穿孔连通的长槽孔,
所述凸块设于所述下凹槽内,所述凸块的穿孔与所述下凹槽连通。
2.如权利要求1所述的用于环境测试的电性检测装置,其特征在于,所述至少一个气体通道还具有贯穿所述压板的上气体通道。
3.如权利要求1或2所述的用于环境测试的电性检测装置,其特征在于,
所述底座具有多个所述测试区,
各所述测试区的测试槽的凹陷面包含有分别位于所述承载面两侧的第一区块和第二区块,
各所述第一区块设有所述下气体通道,相邻的所述第一区块与所述第二区块通过连接槽连接。
4.如权利要求2所述的用于环境测试的电性检测装置,其特征在于,
所述上气体通道与所述凹陷面相对。
5.如权利要求2所述的用于环境测试的电性检测装置,其特征在于,
所述底座具有多个所述测试区,
各所述测试区的测试槽具有用于承载所述待测物的承载面、以及较之所述承载面更接近所述底座的所述底面的凹陷面,
所述凹陷面包含有分别位于所述承载面两侧的第一区块和第二区块,相邻的所述第一区块和第二区块通过连接槽连接,且所述连接槽与所述上气体通道相对。
6.如权利要求1所述的用于环境测试的电性检测装置,其特征在于,所述压板具有底面以及凸出于所述底面的加压块,所述加压块与所述测试槽相对,用于压抵所述待测物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410418361.8A CN105445501B (zh) | 2014-08-22 | 2014-08-22 | 用于环境测试的电性检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410418361.8A CN105445501B (zh) | 2014-08-22 | 2014-08-22 | 用于环境测试的电性检测装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN105445501A CN105445501A (zh) | 2016-03-30 |
CN105445501B true CN105445501B (zh) | 2018-11-27 |
Family
ID=55555934
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201410418361.8A Active CN105445501B (zh) | 2014-08-22 | 2014-08-22 | 用于环境测试的电性检测装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN105445501B (zh) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107317640A (zh) * | 2017-07-24 | 2017-11-03 | 国网湖南省电力公司 | 载波通信模块检测台 |
CN111983439A (zh) * | 2019-05-23 | 2020-11-24 | 河南许继仪表有限公司 | 一种继电器定位测试装置及使用该装置的继电器测试设备 |
CN114624417B (zh) * | 2022-03-11 | 2023-07-21 | 山东劳动职业技术学院(山东劳动技师学院) | 一种多功能环境参数测试仪 |
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---|---|---|---|---|
JP2890605B2 (ja) * | 1990-02-16 | 1999-05-17 | 日本電気株式会社 | 感光ドラム特性試験機 |
CN101082632B (zh) * | 2006-06-02 | 2012-11-14 | 金宝电子工业股份有限公司 | 电路板测试治具 |
CN201897631U (zh) * | 2010-10-19 | 2011-07-13 | 致茂电子(苏州)有限公司 | 具有散热装置的半导体晶片测试装置及检测*** |
CN103487740A (zh) * | 2013-09-27 | 2014-01-01 | 昆山迈致治具科技有限公司 | 一种具有定位散热功能的pcb板性能检测治具 |
-
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---|---|
CN105445501A (zh) | 2016-03-30 |
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