KR101232158B1 - 액정표시장치의 검사공정 - Google Patents

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Abstract

본 발명의 목적은 LCD 패널의 불량 여부를 정확하고 신속하게 확인할 수 있는 액정표시장치의 검사공정을 제공하는 것이다.
이를 위해 본 발명은 대형 유리기판을 절단하여 낱장의 LCD 패널을 제작하는 단계; 상기 LCD 패널을 카메라와 같은 영상장비를 구비하는 LCD 검사장비로 로딩하여 LCD 패널의 불량 여부를 검사하는 단계; 상기 LCD 패널에 형성된 쇼팅 바를 연마기를 이용해 제거하는 단계; 상기 쇼팅 바가 제거된 LCD 패널을 세정하는 단계; 그리고, 상기 세정된 LCD 패널을 작업자가 눈으로 직접 검사하여 최종 불량 여부를 판정하는 단계를 포함하여 이루어지는 액정표시장치의 검사공정을 제공한다.
이와 같은 본 발명에 의하면 CCD 카메라와 같은 영상 장비를 이용해 LCD 패널에 디스플레이되는 각 패턴별 영상을 촬영하고, 상기 촬영된 영상을 제어부에서 분석하여 LCD 패널의 불량 여부를 판단하기 때문에 작업자의 육안에 의한 검사의 한계점을 보완하여 작업의 능률향상 및 정확성을 크게 향상시킬 수 있다.
LCD 검사 장비, 영상 장비, 레이저 트리머, 연마기, 검사공정

Description

액정표시장치의 검사공정{The test process for Liquid Crystal Display Device}
도 1은 본 발명의 제 1실시예에 따른 액정표시장치의 검사공정을 나타내는 플로우 차트이다.
도 2는 본 발명에 따른 LCD 검사장비의 개략적인 구조를 나타내는 측단면도이다.
도 3은 본 발명에 따른 LCD 패널의 게이트 패드부의 평면도이다.
도 4는 본 발명에 따른 LCD 패널의 데이터 패드부의 평면도이다.
도 5는 본 발명의 제 2실시예에 따른 액정표시장치의 검사공정을 나타내는 플로우 차트이다.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*
110: 워크 테이블 120: 프로브 유닛
130: 백라이트 유닛 140: 편광판
150: 이동 스테이지 160: 영상 장비
200: 게이트 쇼팅 바 300: 데이터 쇼팅 바
본 발명은 액정표시장치(LCD: Liquid Crystal Display Device)의 제조공정에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 LCD 패널의 불량 여부를 검사하는 액정표시장치의 검사공정에 관한 것이다.
정보화 사회가 발전함에 따라 표시장치에 대한 요구도 다양한 형태로 점증하고 있으며, 이에 부응하여 근래에는 LCD(Liquid Crystal Display Device), PDP(Plasma Display Panel), ELD(Electro Luminescent Display), VFD(Vacuum Fluorescent Display)등 여러 가지 평판 표시 장치가 연구되어 왔고 일부는 이미 여러 장비에서 표시장치로 활용되고 있다.
그 중에, 현재 화질이 우수하고 경량, 박형, 저소비 전력의 특징에 따른 장점으로 인하여 이동형 화상 표시장치의 용도로 CRT(Cathode Ray Tube)을 대체하면서 액정표시장치가 가장 많이 사용되고 있으며, 노트북 컴퓨터의 모니터와 같은 이동형의 용도 이외에도 방송신호를 수신하여 디스플레이하는 텔레비전 및 컴퓨터의 모니터 등으로 다양하게 개발되고 있다.
이와 같은 액정표시장치는 일반적으로 게이트 배선 및 데이터 배선에 의해 정의된 각 화소 영역에 박막 트랜지스터와 화소 전극이 형성된 박막 트랜지스터 어레이 기판과, 컬러 필터층과 공통전극이 형성된 컬러필터 어레이 기판과, 상기 두 기판 사이에 개재된 액정층으로 구성되어, 전극에 전압을 인가하여 액정층의 액정 분자들을 재배열시킴으로써 투과되는 빛의 양을 조절하여 화상을 표시한다.
이때, 상기 컬러필터 어레이 기판과 박막 트랜지스터 어레이 기판은 에폭시 수지와 같은 씨일제에 의해 합착되며, PCB(Printed Circuit Board) 상의 구동회로는 박막 트랜지스터 어레이 기판에 연결된다.
한편, 상기와 같은 컬러필터 어레이 기판과 박막 트랜지스터 어레이 기판이 합착되어 제작되는 LCD 패널은 불량 유무를 확인하기 위한 검사공정을 거치게 된다.
이하, 종래 기술에 따른 액정표시장치의 검사 공정에 대해 간략히 설명하면 다음과 같다.
먼저, 상기 어레이 기판과 컬러필터 기판이 합착되어 제작되는 LCD 패널은 대면적의 유리기판으로 이루어져 있기 때문에 낱장의 LCD 패널로 절단되는 단계를 거친다.
즉, 대면적의 유리기판에 복수의 패널영역이 형성되고 상기 패널영역 각각에 박막 트랜지스터와 컬러 필터가 형성되기 때문에 실제 제품에 사용될 LCD 패널을 개별적으로 검사하기 위해서는 대형 유리기판을 절단하여 낱장의 LCD 기판으로 만드는 절단공정을 거쳐야 한다.
그리고, 대형 유리 기판이 절단되어 낱장의 LCD 패널이 제조되면 각 LCD 패널은 LCD 검사장비로 보내져 각종 불량 여부를 검사받게 된다. 일반적으로, 상기 LCD 검사장비는 LCD 패널에 대한 컬러필터 돌기, 사선얼룩, 러빙 줄무늬, 핀 홀, 게이트 라인 및 데이터 라인의 단선 또는 합선등을 검사한다.
하지만, 이러한 종래기술에 따른 액정표시장치의 검사공정은 다음과 같은 문제점을 가지고 있었다.
먼저, LCD 검사장비를 통한 LCD 패널의 불량 여부 검사는 작업자의 눈을 통해 이루어지기 때문에 많은 양의 LCD 패널을 검사하는데 장시간이 소요되는 문제점이 있었다.
특히, 최근에는 LCD 패널이 점차적으로 대형화되고 있어 작업자가 육안만으로 LCD 패널의 검사를 모두 수행하기에는 한계가 있었다.
또한, 작업자의 육안에 의한 검사로 불량을 검출하기 때문에 점 결함(point defect; PD), 라인 결함(line defect; LD) 및 미세한 얼룩 등의 불량들이 발견되지 않는 경우가 발생하여 검사 결과의 신뢰성이 떨어지는 문제점이 있었다.
본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 LCD 패널의 불량 여부를 정확하고 신속하게 확인할 수 있는 액정표시장치의 검사 공정을 제공하는 것이다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위해 본 발명은 대형 유리기판을 절단하여 낱장의 LCD 패널을 제작하는 단계; 상기 LCD 패널을 카메라와 같은 영상장비를 구비하는 LCD 검사장비로 로딩하여 LCD 패널의 불량 여부를 검사하는 단계; 상기 LCD 패널에 형성된 쇼팅 바를 연마기를 이용해 제거하는 단계; 상기 쇼팅 바가 제거된 LCD 패널을 세정하는 단계; 그리고, 상기 세정된 LCD 패널을 작업자가 눈으로 직접 검사하여 최종 불량 여부를 판정하는 단계를 포함하여 이루어지는 액정표시장치의 검사공정을 제공한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 액정표시장치의 검사공정을 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 제 1실시예에 따른 액정표시장치의 검사공정을 나타내는 플로우 차트이다.
먼저, 어레이 기판과 컬러필터 기판이 합착되어 형성되는 대형 유리기판을 절단하여 낱장의 LCD 패널을 제작한다.(S101)
이후, 상기 LCD 패널을 LCD 검사장비로 로딩하여 LCD 패널의 불량 여부를 검사한다.(S102)
여기서, 상기 LCD 검사장비는 종래기술에 따른 LCD 검사장비와 달리 카메라와 같은 영상장비를 포함하여 이루어진다.
도 2는 본 발명에 따른 LCD 검사장비의 개략적인 구조를 나타내는 측단면도이다.
도 2에 도시된 바와 같이, 상기 LCD 검사 장비는 크게 워크 테이블(110)과, 프로브 유닛(120)과, 백라이트 유닛(130)과, 편광판(140)과, 이동 스테이지(150)와, 영상 장비(160)를 포함하여 이루어진다.
상기 워크 테이블(110)은 대략 그 내측이 개구된 사각 박스 형상을 가지며, 전면에는 LCD 패널(10)이 안착된다.
그리고, 상기 프로브 유닛(120)은 상기 워크 테이블(110)의 전방 개구측 둘레에 설치되어 상기 워크 테이블(110)에 안착된 LCD 패널(10)의 쇼팅 바와 전기적으로 접속된다.
상기 쇼팅 바는 LCD 패널(10)의 검사를 위해 형성되는 것으로, 다수의 게이트 라인으로 전기적 신호를 인가하기 위한 게이트 쇼팅 바(200)(도 3참조)와, 다수의 데이터 라인으로 전기적 신호를 인가하기 위한 데이터 쇼팅 바(300)(도 4참조)로 이루어진다.
따라서, 상기 프로브 유닛(120)에 제공되는 LCD 패널(10)의 검사를 위한 각종 패턴별 영상 신호는 상기 쇼팅 바를 통해 LCD 패널(10)로 제공되어 된다.
상기 백라이트 유닛(130)은 상기 워크 테이블(110)의 내부 후방측에 구비되어 상기 워크 테이블(110)의 전면에 안착된 LCD 패널(10)로 광원을 제공하도록 구성된다.
그리고, 상기 편광판(140)은 워크 테이블(110)의 내부 전방측에 설치되어 상기 백라이트 유닛(130)으로부터 방사되는 광원이 편광된 상태로 LCD 패널(10)에 조사되도록 한다.
또한, 상기 이동 스테이지(150)는 상기 워크 테이블(110)의 후방측에 구비되며, 상기 워크 테이블(110)을 상기 프로브 유닛(120)에 정렬하고 접속시키는 역할을 수행한다.
상기 영상 장비(160)는 상기 워크 테이블(110)의 전면에 안착된 LCD 패널(10)에 디스플레이되는 각 패턴별 영상을 촬영한다. 이때, 상기 영상 장비(160)에 의해 촬영된 각 패턴별 영상은 마이콤등으로 이루어진 제어부(미도시)로 전송되고, 상기 제어부에서는 전송된 영상에서 불량 정보를 추출한다.
여기서, 상기 불량 정보는 LCD 패널(10)의 실질적인 불량에 대한 정보로써 픽셀에 대한 결함인 포인트 디펙터(Point Defect)와, 라인에 대한 결함인 라인 디펙트(Line Defect)를 포함한다.
이러한 상기 영상 장비(160)는 CCD 카메라로 구성됨이 바람직하며, 해상도는 대략 LCD 패널(10)의 해상도와 동일하거나 혹은 더욱 높은 해상도를 가지도록 구성된다.
이와 같이, 상기 LCD 검사장비는 CCD 카메라와 같은 영상 장비(160)를 이용해 LCD 패널(10)에 디스플레이되는 각 패턴별 영상을 촬영하고, 상기 촬영된 영상을 제어부에서 분석하여 LCD 패널(10)의 불량 여부를 판단하기 때문에 작업자의 육안에 의한 검사의 한계점을 보완하여 작업의 능률향상 및 정확성을 크게 향상시킬 수 있다.
한편, 상술한 상기 LCD 검사장비를 이용한 LCD 패널(10) 검사단계가 완료되면 LCD 패널(10)에 형성된 쇼팅 바를 레이저 트리머(Laser Trimmer)를 이용해 제거하는 레이저 트리밍(Trimming) 단계를 거친다.(S103)
상기 쇼팅 바는 상술한 바와 같이 LCD 패널(10)의 검사를 위해 형성되는 것으로 LCD 패널(10)에 대한 검사가 완료된 후 레이저 트리머에 의해 제거되어 진다.
그리고, 상기 레이저 트리밍 단계가 완료되면 다시 연마기를 이용해 레이저 트리머로 제거되지 않고 남아있는 나머지 쇼팅 바를 정밀하게 제거하는 그라인딩 (grinding)단계를 거치게 된다.(S104)
이때, 상기 그라인딩 단계에서는 연마기를 이용한 쇼팅 바 제거 뿐만 아니라 레이저 트리머에 의해 절단되어 날카로워진 LCD 패널(10)의 절단면을 정밀하게 다 듬는 작업도 동시에 수행된다.
이와 같이, LCD 패널(10)의 쇼팅 바는 레이저 트리머 및 연마기를 거치며 완전히 제거되어 진다. 특히, 상기 연마기는 레이저 트리머에 의한 절단면을 정밀하게 다듬는 역할도 수행한다.
하지만, 상기 레이저 트리밍 단계는 별도의 레이저 트리머라는 고가의 장비를 필요로 하기 때문에 추가비용이 많이 소모되고, 추가적 공정이기 때문에 생산성을 저하시키는 문제점이 있었다.
따라서, 본 발명은 상기 레이저 트리밍 단계를 생략할 수 있는 LCD 패널 구조를 제안한다.
도 3은 본 발명에 따른 LCD 패널의 게이트 패드부의 평면도이고, 도 4는 본 발명에 따른 LCD 패널의 데이터 패드부의 평면도이다.
먼저, 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 LCD 패널은 게이트 배선(미도시)의 끝단에 형성된 게이트 패드(171)와, 상기 게이트 패드(171)의 외곽에 형성되는 게이트 단자 라인(181)을 구비한다.
이때, 상기 게이트 단자 라인(181)과 게이트 패드는 연결패턴(190)을 통해 전기적으로 연결된다.
구체적으로, 상기 연결패턴(190)은 제 2 콘택홀(192)을 통해 게이트 패드(171)와 연결됨과 동시에 제 1 콘택홀(191)을 통해 게이트 단자 라인(181)에 연결되어 상기 게이트 단자 라인(181)과 게이트 패드(171)를 전기적으로 연결한다.
한편, 상기 게이트 단자 라인(181) 외곽부에는 제 3 콘택홀(193)을 통해 연 결패턴(190)과 연결되어 상기 게이트 패드(171)와 전기적으로 연결되는 게이트 쇼팅 바(200)가 형성된다.
상기 게이트 쇼팅바(200)는 일반적으로 홀수 번째의 게이트 패드(171)에 연결되는 제 1 게이트 쇼팅 바(201)와, 짝수 번째의 게이트 패드(171)에 연결되는 제 2 게이트 쇼팅 바(202)로 이루어지며 제 1, 제 2 게이트 쇼팅 바(201, 202)를 통해 게이트 배선에 흐르는 전압차에 의해 배선의 단락 유무를 검출한다.
이때, 상기 게이트 단자 라인(181) 및 게이트 쇼팅 바(200)는 게이트 패드(171)와 동일층에 형성될 수 있는데, 이 경우, 상기 제 1, 제 2, 제 3 콘택홀(191, 192, 193)은 게이트 배선층과 연결패턴(190) 사이에 개재된 절연막을 제거하여 형성된다.
여기서, 상기 게이트 배선층을 비저항이 낮은 AlNd로 형성할 경우 게이트 단자 라인(181)이 차지하는 면적은 최소화될 수 있다.
또한, 도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 LCD 패널은 데이터 배선(미도시)의 끝단에 형성된 데이터 패드(172)와, 상기 데이터 패드(172)의 외곽에 형성되는 데이터 단자 라인(182)을 구비한다.
이때, 상기 데이터 단자 라인(182)과 데이터 패드(172)는 연결패턴(190)을 통해 전기적으로 연결된다.
구체적으로, 상기 연결패턴(190)은 제 2 콘택홀(192)을 통해 데이터 패드(172)와 연결됨과 동시에 제 1 콘택홀(191)을 통해 데이터 단자 라인(182)에 연결되어 상기 데이터 단자 라인(182)과 데이터 패드(172)를 전기적으로 연결한다.
한편, 상기 데이터 단자 라인(182) 외곽부에는 제 3 콘택홀(193)을 통해 연결패턴(190)과 연결되어 상기 데이터 패드(172)와 전기적으로 연결되는 데이터 쇼팅 바(300)가 형성된다.
상기 데이터 쇼팅 바(300)는 일반적으로 홀수 번째의 데이터 패드(172)에 연결되는 제 1 데이터 쇼팅 바(301)와, 짝수 번째의 데이터 패드(172)에 연결되는 제 2 데이터 쇼팅 바(302)로 이루어지며 제 1, 제 2 데이터 쇼팅 바(301, 302)를 통해 데이터 배선에 흐르는 전압차에 의해 배선의 단락 유무를 검출한다.
여기서, 상기 데이터 단자 라인(182) 및 데이터 쇼팅 바(300)는 데이터 패드(172)와 동일층에 형성될 수 있는데, 일반적으로 데이터 배선층은 0.15Ω/㎛의 몰리브덴(Mo)을 사용하므로 그 폭이 커질 수 밖에 없다.
하지만, 상기 데이터 단자 라인(182) 및 데이터 쇼팅 바(300)를 게이트 배선층과 동시에 형성하면 데이터 단자 라인(182)이 차지하는 면적이 최소화될 수 있다. 이때, 게이트 배선층은 0.05Ω/㎛의 AlNd로 형성된다.
이와 같이, 데이터 단자 라인(182) 및 데이터 쇼팅 바(300)를 게이트 배선층과 동시에 형성하면 데이터 쇼팅 바(300)는 50~60㎛의 폭으로 형성될 수 있고, 6개의 데이터 단자 라인(182)은 170㎛의 폭으로 형성될 수 있다.
결국, 상술한 바와 같이 게이트 단자 라인(181) 및 데이터 단자 라인(182)의 폭을 최소화하면 상기 게이트 단자 라인(181) 및 데이터 단자 라인(182)과 연결패턴(190)을 통해 전기적으로 연결되는 게이트 쇼팅 바(200) 및 데이터 쇼팅 바(300)의 폭도 최소화되어 진다.
이와 같이, 상기 쇼팅 바의 폭이 최소화되면 레이져 트리밍 단계를 거칠 필요없이 그라인딩 단계만으로도 쇼팅 바를 완전하게 제거할 수 있다.
즉, 종래에는 쇼팅 바가 형성되는 폭이 커 연마기만으로 쇼팅 바를 완전히 제거하는 것은 작업시간이 너무 많이 소요되고 정전기 등의 문제로 거의 불가능하였지만 상술한 바와 같이 쇼팅 바가 형성되는 폭을 대폭 줄이게 되면 레이저 트리머를 이용한 절삭공정을 거치지 않고 연마기만을 이용해서도 쇼팅 바를 완전히 제거할 수 있게 된다.
한편, 상기 그라인딩 단계가 완료되면 LCD 패널(10)은 세정 단계로 보내어지는데(S105), 상기 세정 단계에서는 그라인딩 단계를 통해 LCD 패널(10)에 부착된 각종 이물질을 제거하는 작업이 수행된다.
또한, 세정이 완료된 LCD 패널(10)은 작업자가 직접 눈으로 LCD 패널(10)의 불량 여부를 검사하는 목시 검사 단계로 보내어진다.(S106)
상기 목시 검사는 상술한 LCD 검사장비를 이용한 검사에서 불량 판정이 난 LCD 패널(10)만을 대상으로 하며, 작업자는 직접 눈으로 불량 판정이 난 LCD 패널을 재차 검사하여 최종 불량 여부를 판정하게 된다.
도 5는 본 발명의 제 2실시예에 따른 액정표시장치의 검사공정을 나타내는 플로우 차트이다.
한편, 도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제 2실시예에 따른 액정표시장치의 검사공정은 낱장으로 절단된 LCD 패널(10)을 LCD 검사장비로 로딩하기 전 표면 이물질을 제거하는 세정 단계(S202)를 더 포함하여 이루어질 수 있다.
상기 대형 유리기판이 절단되어 형성되는 낱장의 LCD 패널에는 각종 이물질이 묻어있을 가능성이 매우 높다. 따라서, 세정 공정을 통해 미리 LCD 패널에 묻어있는 이물질을 제거하게 되면 LCD 패널에 대한 검사가 보다 정확히 이루어질 수 있다.
또한, 본 발명의 제 2실시예에 따른 액정표시장치의 검사공정은 세정 단계(S202) 또는 LCD 패널 검사 단계(S102) 전에 LCD 패널을 스토커에 입고하는 단계를 더 포함하여 이루어질 수 있다.(S201)
상기 스토커는 각 공정을 거치기 위해 반송 또는 이송되는 LCD 패널이 임시로 보관되는 장소로서 매우 청정한 상태로 유지되어 진다. 따라서, 절단후 낱장이 된 LCD 패널이 즉시 LCD 검사장비로 로딩되지 않거나 또는 이물질을 제거하는 세정 단계로 보내지지 않을 경우에는 LCD 패널을 스토커에 입고시켜 LCD 패널을 최대한 청결한 상태로 유지시키는 것이 바람직하다.
물론, 상술한 LCD 패널을 스토커에 입고시켜 저장하는 단계는 상술한 목시 검사 단계 전에 이루어질 수도 있다.(S203)
즉, 쇼팅 바가 제거된 LCD 패널을 세정하는 단계 후 즉시 최종 불량 여부를 검사하는 목시 검사 단계가 진행되지 않을 경우에도 LCD 패널을 스토커에 입고시켜 LCD 패널을 최대한 청결한 상태로 유지시키는 것이 바람직하다.
이와 같이, LCD 패널을 스토커에 저장하여 최대한 청결한 상태로 유지시키면 LCD 검사장비를 이용한 검사 단계 및 목시 검사 단계에서 정확한 검사 결과를 얻을 수 있다.
이상에서와 같이 본 발명에 따른 액정표시장치의 검사공정은 다음과 같은 효과를 가진다.
첫째, CCD 카메라와 같은 영상 장비를 이용해 LCD 패널에 디스플레이되는 각 패턴별 영상을 촬영하고, 상기 촬영된 영상을 제어부에서 분석하여 LCD 패널의 불량 여부를 판단하기 때문에 작업자의 육안에 의한 검사의 한계점을 보완하여 작업의 능률향상 및 정확성을 크게 향상시킬 수 있다.
둘째, 쇼팅 바 제거를 위한 레이져 트리머를 필요로 하지 않아 고가의 장비를 구입하기 위한 추가적인 지출을 막고 공정 단축에 의한 생산성 향상을 이룰 수 있다.
셋째, LCD 패널이 LCD 검사장비로 로딩되기 전에 미리 세정하는 단계를 추가하거나 LCD 패널을 스토커에 입고시켜 이물질에 오염되지 않도록 함으로써 LCD 패널의 불량 여부를 정확히 판단할 수 있다.

Claims (6)

  1. 대형 유리기판을 절단하여 낱장의 LCD 패널을 제작하는 단계;
    상기 LCD 패널을 카메라와 같은 영상장비를 구비하는 LCD 검사장비로 로딩하고, 상기 LCD 패널로 각종 패턴별 영상 신호를 제공하고, 상기 LCD 패널에 디스플레이되는 각 패턴별 영상을 촬영하고, 이 촬영된 각 패턴별 영상을 분석하여 상기 LCD 패널의 불량 여부를 검사하는 단계;
    상기 LCD 패널에 형성된 쇼팅 바를 연마기를 이용해 제거하는 단계;
    상기 쇼팅 바가 제거된 LCD 패널을 세정하는 단계; 그리고,
    상기 세정된 LCD 패널을 작업자가 눈으로 직접 검사하여 최종 불량 여부를 판정하는 단계를 포함하며;
    상기 쇼팅 바는 게이트 쇼팅 바 및 데이터 쇼팅 바를 포함하며, 상기 게이트 쇼팅 바 및 데이터 쇼 팅바가 게이트 배선층과 동시에 형성된 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사공정.
  2. 삭제
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 LCD 패널의 최종 불량 여부를 검사하는 단계는 LCD 검사장비를 이용한 검사에서 불량 판정이 난 LCD 패널만을 대상으로 하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사공정.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 LCD 패널의 최종 불량 여부를 검사하기 전에 LCD 패널을 스토커에 입고시켜 저장하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사공정.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 낱장이 된 LCD 패널을 세정하여 표면 이물질을 제거하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사공정.
  6. 제 1항에 있어서,
    상기 LCD 패널을 LCD 검사장비로 로딩하기 전에 스토커에 입고하여 저장하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사공정.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20050114132A (ko) * 2004-05-31 2005-12-05 엘지.필립스 엘시디 주식회사 오토 프로브 검사장비 및 이를 이용한 검사방법
KR20060022463A (ko) * 2004-09-07 2006-03-10 삼성전자주식회사 표시기판 및 이의 제조 방법
KR20060047026A (ko) * 2004-11-12 2006-05-18 삼성전자주식회사 어레이 테스트 시스템

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050114132A (ko) * 2004-05-31 2005-12-05 엘지.필립스 엘시디 주식회사 오토 프로브 검사장비 및 이를 이용한 검사방법
KR20060022463A (ko) * 2004-09-07 2006-03-10 삼성전자주식회사 표시기판 및 이의 제조 방법
KR20060047026A (ko) * 2004-11-12 2006-05-18 삼성전자주식회사 어레이 테스트 시스템

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