KR101167010B1 - Ｌｅｄ 모듈 검사 장치 및 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 LED 모듈에 전원을 인가하여 발광되도록 한 후 LED 모듈을 구성하는 발광체를 촬영하여 LED 모듈을 구성하는 발광체의 광축 정렬 상태를 검사하는 LED 모듈 검사 장치 및 방법에 관한 것으로서, 본 발명의 일측면에 따르면, LED 집속체와 렌즈로 구성되는 발광체가 일정 간격으로 배치되는 LED 모듈을 검사하는 장치에 있어서, 상기 LED 모듈이 상부에 배치되는 본체; 상기 LED 모듈에 전원을 인가하여 발광이 이루어지도록 하는 전원 공급부; 상기 전원 공급부의 전원 인가 시 상기 발광체를 촬영하여 출력하는 촬영부; 상기 촬영부를 검사 대상인 상기 발광체의 상부로 이송하는 이송부; 상기 촬영부에서 촬영된 촬영물을 비교하여 상기 LED 집속체와 상기 렌즈의 광축을 판단하는 비교부; 및 상기 비교부의 판단 결과를 알려주는 표시부를 포함하는 LED 모듈 검사 장치를 제공한다.

Description

ＬＥＤ 모듈 검사 장치 및 방법{Apparatus and Method for LED module inspecting}
본 발명은 엘이디 모듈 검사 장치 및 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 LED 모듈에 전원을 인가하여 발광되도록 한 후 LED 모듈을 구성하는 발광체를 촬영하여 LED 모듈을 구성하는 발광체의 광축 정렬 상태를 검사하는 LED 모듈 검사 장치 및 방법에 관한 것이다.
디스플레이 장치에 대한 요구도 다양한 형태로 증가하고 있으며, 이에 부응하여 LCD(Liquid Crystal Display Device), PDP(Plasma Display Panel), ELD(Electro Luminescent Display), VFD(Vacuum Fluorescent Display)등 여러 디스플레이 장치가 연구되어 사용되고 있다.
그 중 LCD의 액정 패널은 액정 패널은 액정층 및 상기 액정층을 사이에 두고 서로 대향하는 TFT 기판 및 컬러 필터 기판을 포함한다. 그리고, 액정 패널은 화상 표시를 위한 광을 제공하는 백라이트 유닛은 광을 발생하는 LED 모듈을 포함한다.
LED 모듈은 복수개의 발광소자가 연속적으로 배열되는 형태로서, 다량의 발광소자가 사용되므로 발광소자의 수량에 의한 원가 상승의 문제점이 있고, 전기 소모량이 증가하는 문제점이 있어, 이를 개선할 필요가 있었다.
이를 개선하기 위하여 발광체와 발광체를 커버하는 렌즈를 이용하는 LED 모듈이 개시되었다.
도 1은 LED 모듈의 일 예의 구성을 나타내는 도면이다.
도 1을 참조하면, LED 모듈(10)은 소정의 길이와 폭으로 형성되는 로드(11) 상에 발광체(12)가 일정 간격으로 배치되는 구성임을 알 수 있다.
도 2는 도 1에 도시된 발광체(12)의 구성을 나타내는 도면이다.
도 2를 참조하면, 발광체(12)는 2~3 개의 LED(15)가 집속되는 LED 집속체(14)와 LED 집속체(14)를 커버하고 LED 집속체(14)에서 발광된 광을 일정 방향으로 균일하게 조사하는 렌즈(16)를 포함한다. 또한, 발광체(12)는 LED 집속체(14)의 중심과 렌즈(16)에는 서로 동일한 중심(C) 즉, 동일한 광축상에 정렬된다.
LED 집속체(14)와 렌즈(16)의 광축이 서로 어긋하면 발광체에서의 광 공급 효율이 저하되므로, 발광체(12)의 제조 시, LED 집속체(14)와 렌즈(16)의 중심 정렬 상태 즉, 광축 정렬 상태를 검사할 필요가 있다.
이를 위해 종래에는 소정의 조명 장치가 설치된 암실과 같은 특정 장소에 LED 모듈을 배치하고 외부의 조명에서 LED 모듈(10)에 대하여 광을 조사한 후, 광의 조사 상태를 카메라로 촬영한 후, 그 촬영물을 이용하여 광축 정렬 상태를 판별하는 방식이 사용되었다.
그러나, 이러한 방식은 고가의 전용 카메라가 필요하였다. 또한, 검사에 사용되는 조명 장치는 균일한 광의 조사를 위해 설치에 많은 노력을 필요로 하였다.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, LED 모듈에 서로 다른 2개의 전원을 순차적으로 공급하여 발광되도록 하고 발광체를 각각 촬영한 후 촬영물의 비교에 의해 LED 집속체와 렌즈의 광축 정렬 상태를 판단할 수 있는 LED 모듈 검사 장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
또한 본 발명은, LED 모듈에 소정의 전원을 공급하여 발광되도록 한 후 발광체를 촬영한 촬영물을 영상 처리한 후, 영상 처리 이전과 이후의 촬영물을 서로 비교하여 LED 집속체와 렌즈의 광축 정렬 상태를 판단할 수 있는 LED 모듈 검사 장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 일측면에 따르면, LED 모듈 검사 장치는, LED 집속체와 렌즈로 구성되는 발광체가 일정 간격으로 배치되는 LED 모듈을 검사하는 장치에 있어서, 상기 LED 모듈이 상부에 배치되는 본체; 상기 LED 모듈에 전원을 인가하여 발광이 이루어지도록 하는 전원 공급부; 상기 전원 공급부의 전원 인가 시 상기 발광체를 촬영하여 출력하는 촬영부; 상기 촬영부를 검사 대상인 상기 발광체의 상부로 이송하는 이송부; 상기 촬영부에서 촬영된 촬영물을 비교하여 상기 LED 집속체와 상기 렌즈의 광축을 판단하는 비교부; 및 상기 비교부의 판단 결과를 알려주는 표시부를 포함하는 LED 모듈 검사 장치를 제공한다.
상기 전원 공급부는 서로 다른 전류의 전원을 순차적으로 인가하여 상기 발광체에서 다른 휘도의 발광이 각각 이루어지도록 할 수 있다.
상기 전원 공급부에서 공급되는 전원은 상기 발광체의 동작에 필요한 표준 전류의 전원과 상기 발광체의 LED 집속체만이 식별되는 정도로 발광되는 상기 표준 전류 이하의 전원일 수 있다.
상기 전원 공급부는 상기 발광체에 전원을 인가하되 상기 발광체의 동작에 필요한 표준 전류 이하의 전원을 공급하되 상기 발광체의 LED 집속체와 렌즈가 동시에 식별될 수 있을 정도로 발광되도록 하는 전류의 전원을 인가할 수 있다.
상기 촬영부는 상기 발광체에 대한 전류 공급 시 촬영을 수행할 수 있다.
상기 촬영부는 그래픽 파일 형태의 촬영물을 출력할 수 있다.
본 발명의 제1 측면에 따른 LED 모듈 검사 방법은, LED 집속체와 렌즈로 구성되는 발광체가 일정 간격으로 배치되는 LED 모듈을 검사하는 방법에 있어서, 상기 LED 모듈을 검사 위치에 배치하는 단계; 상기 LED 모듈에 대하여 서로 다른 전원을 차례대로 인가하는 단계; 상기 LED 모듈에 대하여 전원이 인가될 때 촬영하여 제1 및 제2 촬영물을 각각 출력하는 단계; 제1 및 제2 촬영물을 비교하여 상기 LED 집속체와 상기 렌즈의 광축 정렬 상태를 판단하는 단계; 및 판단 결과를 표시하는 단계를 포함하는 LED 모듈 검사 방법을 제공한다.
상기 발광체에 대하여 공급되는 전원은 상기 발광체의 동작에 필요한 표준 전류의 전원과 상기 발광체의 LED 집속체만이 식별되는 정도로 발광되는 상기 표준 전류 이하의 전류를 갖는 전원일 수 있다.
상기 광축 정렬 상태를 판단하는 단계는 상기 제1 촬영물에서 상기 LED 집속체의 중심 위치를 판단하는 단계, 상기 제2 촬영물에서 상기 렌즈의 중심 위치를 판단하는 단계, 상기 LED 집속체의 중심 위치와 상기 렌즈의 중심 위치가 일치하는 지 비교하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 제2 측면에 따른 LED 모듈 검사 방법은, LED 집속체와 렌즈로 구성되는 발광체가 일정 간격으로 배치되는 LED 모듈을 검사하는 방법에 있어서, LED 모듈을 검사 위치에 배치하는 단계; 상기 LED 모듈에 대하여 전원을 인가하는 단계; 상기 LED 모듈에 대하여 전원이 인가될 때 촬영하는 단계; 촬영물을 비교하여 LED 집속체와 렌즈의 광축 정렬 상태를 판단하는 단계; 및 판단 결과를 표시하는 단계를 포함하는 LED 모듈 검사 방법을 제공한다.
상기 발광체에 대하여 공급되는 전원은 상기 발광체의 동작에 필요한 표준 전류 이하의 전원을 공급하되 상기 발광체의 LED 집속체와 렌즈가 동시에 식별될 수 있을 정도로 발광되는 전류의 전원일 수 있다.
상기 광축 정렬 상태를 판단하는 단계는 상기 LED 집속체의 중심 위치를 판단하는 단계, 상기 촬영물의 휘도를 증가시켜 상기 렌즈의 외곽이 표현되도록 하는 단계, 상기 렌즈의 중심 위치를 판단하는 단계, 상기 LED 집속체의 중심 위치와 상기 렌즈의 중심 위치가 일치하는 지 비교하는 단계를 포함할 수 있다.
상기와 같은 본 발명은, 백라이트의 발광체에 서로 다른 2개의 전원을 순차적으로 공급한 후 이를 각각 촬영하고 촬영물의 비교에 의해 발광체의 LED 집속체와 렌즈의 정렬 상태를 판정할 수 있다.
또한, 백라이트의 발광체에 소정의 전원을 공급한 후 이를 촬영한 후 촬영물을 영상 처리한 후 서로 비교하여 발광체의 LED 집속체와 렌즈의 정렬 상태를 판정할 수 있다.
도 1은 종래의 기술에 의한 LED 모듈의 일 예의 구성을 나타내는 도면이다.
도 2는 도 1에 도시된 발광체의 구성을 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 LED 모듈 검사 장치의 구성을 나타내는 사시도이다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 LED 모듈 검사 장치의 구성을 나타내는 사시도이다.
도 5는 본 발명의 제1 실시예에 따른 LED 모듈 검사 방법의 구성을 나타내는 흐름도이다.
도 6은 LED 모듈의 배치 상태의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 제1 실시예에 따른 LED 모듈 검사 방법의 광축 정렬 상태 판단 단계의 구성을 나타내는 흐름도이다.
도 8은 촬영부의 1차 및 2차 촬영물을 나타내는 도면이다.
도 9는 본 발명의 제2 실시예에 의한 LED 모듈 검사 방법의 구성을 나타내는 흐름도이다.
도 10은 본 발명의 제2 실시예에 따른 LED 모듈 검사 방법의 광축 정렬 상태 판단 단계의 구성을 나타내는 흐름도이다.
도 11은 촬영부의 촬영물을 나타내는 도면이다.
이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
도 3과 도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 LED 모듈 검사 장치의 구성을 나타내는 사시도 및 블록도이다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 LED 모듈 검사 장치(100)는 본체(110), 전원 공급부(120), 촬영부(130), 이송부(140), 비교부(150) 및 표시부(160)를 포함한다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 LED 모듈 검사 방법의 구성을 나타내는 흐름도이다.
도 4를 참조하면, 본 발명에 따른 LED 모듈 검사 방법은 LED 모듈 배치 단계(S110), 전원을 인가하는 단계(S120), 촬영하는 단계(S130), 정렬 상태를 판단하는 단계(S140); 및 판단 결과를 표시하는 단계(S150)를 포함한다.
도면을 참조하여, 본 발명에 의해 LED 모듈 검사 장치와 검사 방법에 대해 설명하기로 한다.
본체(110)는 상부에 LED 모듈(10)에 대한 검사 위치를 제공하고, LED 모듈(10)에 대한 검사를 위한 후술하는 구성 요소들이 설치된다.
도면에 의하면, 본체(110)는 직육면체 형태로 형성되지만, 사용자의 필요에 따라 다양한 형태로 형성될 수 있다. 또한, 필요한 장소로 이동할 수 있도록 바퀴가 설치될 수 있고, 필요 장소에 고정될 수도 있다.
본체(110)의 상부에는 검사 대상인 LED 모듈(10)이 배치된다(S110).
도 6은 LED 모듈(10)의 배치 상태의 일 예를 나타내는 도면으로서, 복수의 발광체(12)이 소정 간격으로 배치된 LED 모듈(10)이 복열로 배치되어 전원 공급부(120)에 연결되어 있음을 나타낸다.
전원 공급부(120)는 LED 모듈(10)이 배치되는 검사 위치인 본체(110)의 상부에 설치된다. 전원 공급부(120)는 LED 모듈(10)에 전원을 공급하는 커넥터(122)를 포함한다. 여기서, 커넥터(122)는 발광체(12)의 크기와 규격에 대응하여 다양하게 변경될 수 있다. 또한, 커넥터(122)는 LED 모듈(10)에 포함되는 복수의 발광체에 대응하여 복수개로 설치되어 동시에 전원이 공급되도록 구성되는 것이 바람직하다.
전원 공급부(120)는 복열로 배치된 LED 모듈(10)에 발광 동작에 필요한 전원을 각각 순차적으로 인가한다(S120). 이때, 전원 공급부(120)에서 공급하는 전원은 LED 모듈(10)의 발광에 필요한 정격 전류로서 발광체(12)의 렌즈(16) 외곽이 나타날 수 있는 정도의 표준 전류와 LED(15)의 존재만이 식별할 수 있는 정도로 발광하도록 하는 표준 전류 이하의 전류이다.
본 실시예에서, 전원 공급부(120)는 10mA ~ 200 mA 및 150V 의 전원을 공급할 수 있다.
LED 모듈(10)은 각각의 전원을 공급받아 서로 다른 휘도로 발광된다. 예를 들어, LED 모듈(10)의 동작에 필요한 표준 전류(예를 들어 150mA)가 인가되면, 발광체(12)는 LED로 구성되는 LED 집속체(14)에서 발광되는 광이 렌즈(16)를 투과하여 발광하며 렌즈(16)의 외곽이 인식되지만, 표준 전류 이하의 전원이 공급되면, 발광체(12)는 LED 집속체(14)의 LED 존재만을 식별할 수 있을 정도로 발광한다.
촬영부(130)는 LED 모듈(10)에 전원이 공급되어 발광이 이루어질 때 LED 모듈(10)에 포함되는 발광체(12) 각각을 촬영하여 촬영물을 출력한다(S130). 이를 위해, 촬영부(130)는 전원 공급부(120)와 신호 전달이 가능하게 연결되는 것이 바람직하다.
촬영부(130)는 촬영 직후 그래픽 파일 형태의 촬영물을 출력하는 디지털 카메라 또는 카메라 모듈인 것이 바람직하다. 본 실시예에서는 사용자의 필요에 따라 노출 시간 조절이 가능한 CCD 카메라가 촬영부(130)로서 사용된다.
촬영부(130)는 발광체(12)의 검사 위치에서 발광체(12)의 직상방에 설치되는 것이 바람직하다. 촬영부(130)의 안정적인 고정을 위해 발광체(12)의 검사 위치에는 촬영부(130)의 고정 및 이송을 위한 이송부(140)가 설치될 수 있다. 이송부(140)의 구성에 대해서는 후술하기로 한다.
여기서, 촬영부(130)는 전원 공급부(120)에서 발광체(12)으로의 전원 공급에 따라 동작하는 것이 바람직하다. 즉, 촬영부(130)는 전원 공급부(120)에 전원이 공급되어 발광하는 순간에 동작한다. 전원 공급부(120)는 발광체(12)에 대하여 2종류의 전류를 각각 공급하므로, 촬영부(130)는 하나의 발광체(12)에 대하여 2회의 촬영을 수행한다. 또한, 하나의 발광체(12)에 대하여 2회의 촬영이 이루어지는 동안, 촬영부(130)의 위치는 변동되지 않는다.
촬영부(130)에서 출력되는 촬영물은 LED 집속체(14)의 위치만이 촬영된 1차 촬영물과 렌즈(16) 외곽이 부각되어 촬영된 2차 촬영물을 포함한다.
한편, 발광체(12)의 검사 위치에는 외부에서 유입되는 광에 의해 촬영물에 영향을 주는 것을 방지하기 위해 차광막이 설치되는 것이 바람직하다.
이송부(140)는 LED 모듈(10)에 대하여 촬영을 수행하는 촬영부(130)를 검사 대상인 LED 모듈(10)의 발광체(12) 상부로 이송한다.
이송부(140)는 촬영부(130)를 X축 방향으로 이송하는 X축 레일(141)과 촬영부(130)를 Y축 방향으로 이송하는 Y축 레일(142)을 포함한다. 본 실시예에서, X축 레일(141)은 소정의 간격으로 평행하게 배치되는 한 쌍의 레일로 이루어지고, Y축 레일(142)은 X축 레일(141) 상에서 이동가능하게 설치되는 레일로 이루어진다.
또한, 이송부(140)의 Y축 레일(142)과 촬영부(130)를 연결하는 캐리어(144)가 포함된다. 캐리어(144)는 Y축 레일(142) 상에서 이동가능하게 설치되며, LED 모듈(10)의 크기 및 배치 개수에 맞추어 촬영 화각을 조정할 수 있도록 촬영부(130)의 높낮이를 조절할 수 있게 구성된다.
또한, 이송부(140)는 소정의 높이를 갖는 프레임(150) 상에 설치될 수 있다.
따라서, 작업자가 LED 모듈(10)를 배치한 후 촬영부(130)와 이송부(140)를 동작시키면, 이송부(140)는 복수로 배치되어 있는 LED 모듈(10)의 일측에서 타측으로 X축 레일(141)을 따라 촬영부(130)를 이송시키며 촬영이 수행되도록 하고, 하나의 LED 모듈(10)에 대하여 검사가 완료되면 다음 열의 LED 모듈(10)로 Y축 레일(142)을 따라 촬영부(130)를 이송시켜 촬영이 수행되도록 한다.
비교부(150)는 촬영부(130)에서 출력되는 촬영물을 입력받아, 이를 서로 비교하여 발광체(12)를 구성하는 LED 집속체(14)와 렌즈(16)의 광축 정렬 상태를 판단한다(S140).
광축 정렬 상태의 판단은 다음과 같이 이루어진다.
도 7은 본 발명의 제1 실시예에 따른 LED 모듈 검사 방법의 광축 정렬 상태 판단 단계의 구성을 나타내는 흐름도이다.
또한, 도 8은 촬영부의 제1 및 제2 촬영물을 나타내는 도면이다.
도 8을 참조하면, 제1 촬영물(a)은 3개의 LED(15)를 포함하는 LED 집속체(14) 만을 나타낸다. 그리고, 제2 촬영물(b)은 렌즈(16)의 외곽을 나타낸다.
비교부(150)는 제1 촬영물을 이용하여 LED 집속체(14)의 중심 위치(C)를 구하고(S142), 제2 촬영물을 이용하여 렌즈(16)의 중심 위치(C)를 구한다(S144).
단일의 발광체에 대한 제1 촬영물과 제2 촬영물은 촬영부(130)가 동일한 위치에 고정된 상태에서 얻어졌으므로, 비교부(150)는 제1 촬영물과 제2 촬영물에서 중심 위치(C)가 서로 동일하다면, LED 집속체(14)와 렌즈(16)를 포함하는 발광체(12)의 중심 위치가 서로 일치하는 것으로 판단한다(S146).
다시 도 5를 참조한다.
비교부(150)에서의 비교 판단 결과는 사용자에게 표시된다. 즉, LED 집속체(14)의 중심 위치와 렌즈(16)의 중심 위치가 서로 일치하는 경우와 일치하지 않는 경우, 각각 표시부(160)를 통해 사용자에 이를 표시하여 알려준다(S150). 이때, 중심 위치가 서로 일치하는 경우에는 녹색등 1회 점등과 같은 방법으로 간략하게 표시하지만, 중심 위치가 일치하지 않는다면 붉은등 1회 점등 및 경고음 발생 등과 같은 복수의 표시를 수행하여 문제점을 명확히 알려주는 것이 바람직하다.
도 9는 본 발명의 제2 실시예에 의한 LED 모듈 검사 방법의 구성을 나타내는 흐름도이다.
본 실시예의 구성 중 이전의 실시예의 구성과 동일한 부분에 대해서는 상세한 설명을 생략하고 차이가 있는 부분에 대해서만 설명하기로 한다.
전원 공급부(120)는 발광체에 대해 전원을 공급하되 전원을 공급하는 단계(S220)는 발광체(12)에 대하여 전류를 1회 공급한다(S220). 이때 공급되는 전원은 300μA의 전류값을 갖는 것이 바람직하다. 또한, 촬영부(130)는 1/100s 의 촬영 속도로 설정되는 것이 바람직하지만, 사용되는 LED에 따라서는 변화될 수 있다. 다만, 공급되는 전원은 발광체(12)의 동작을 위한 표준 전류 이하의 전원을 공급하되 LED 집속체(14)와 렌즈(16)의 외주부가 동시에 식별할 수 있는 정도의 발광이 이루지는 수준의 전원인 것이 바람직하다.
이후, 비교부(150)는 촬영물을 이용하여 발광체(12)의 LED 집속체(14)와 렌즈(16)의 광축 정렬 상태를 다음과 같이 판단한다(S240).
도 10은 본 발명의 제2 실시예에 따른 LED 모듈 검사 방법의 광축 정렬 상태 판단 단계의 구성을 나타내는 흐름도이다. 또한, 도 11은 촬영부의 촬영물을 나타내는 도면이다.
우선, 도 11의 (a)에 도시되어 있는 바와 같이, 촬영물 상에서 LED 집속체(14)의 중심 위치(C)를 구한다(S242). 이후, 비교부(150)는 촬영물에 대하여 이미지 평활화, 콘트라스트 개선, 휘도 강화 등의 영상 처리를 수행하여(S244), 도 11의 (b)에 도시되어 있는 바와 같이, 렌즈(16)의 외곽이 나타나도록 하여, 렌즈(16)의 중심 위치를 구한다(S246).
그리고, 도 11의 (c)에 도시되어 있는 바와 같이 비교부(150)는 LED 집속체(14)의 중심 위치와 렌즈(16)의 중심 위치를 서로 비교하여 광축이 일치하는 지 판단하고(S248), 판단 결과를 표시한다.
본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 다른 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.
100: LED 모듈 검사 장치
110: 본체
120: 전원 공급부
130: 촬영부
140: 이송부
150: 비교부
160: 표시부

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  10. LED 집속체와 렌즈로 구성되는 발광체가 일정 간격으로 배치되는 LED 모듈을 검사하는 방법에 있어서,
    LED 모듈을 검사 위치에 배치하는 단계;
    상기 LED 모듈에 대하여 전원을 인가하는 단계;
    상기 LED 모듈에 대하여 전원이 인가될 때 촬영하는 단계;
    상기 촬영 단계에서 얻어진 촬영물에 의해 상기 LED 집속체의 중심 위치를 판단하는 단계, 상기 촬영물의 휘도를 증가시켜 상기 렌즈의 외곽이 표현되도록 하는 단계, 상기 휘도가 증가된 촬영물 상에서 상기 렌즈의 중심 위치를 판단하는 단계, 상기 촬영 단계에서 얻어진 촬영물에서 상기 LED 집속체의 중심 위치와 상기 휘도가 증가된 촬영물 상에서 상기 렌즈의 중심 위치가 일치하는 지 비교하는 단계를 포함하는 LED 집속체와 렌즈의 광축 정렬 상태를 판단하는 단계; 및
    판단 결과를 표시하는 단계를 포함하는 LED 모듈 검사 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 발광체에 대하여 공급되는 전원은 상기 발광체의 동작에 필요한 표준 전류 이하의 전원인 LED 모듈 검사 방법.
  12. 삭제
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101291914B1 (ko) 2012-11-08 2013-07-31 서승환 발광 다이오드 모듈의 광축 측정 방법
KR101375213B1 (ko) 2013-11-08 2014-03-18 박지암 동심원방식을 이용한 led모듈의 렌즈편심 검사방법
KR101410037B1 (ko) 2013-01-23 2014-06-20 (주) 인텍플러스 Ｌｅｄ어레이의 검사방법
KR101411417B1 (ko) 2013-07-05 2014-06-25 태백하이텍 주식회사 발광 다이오드 모듈의 편심 측정 방법
CN104155083A (zh) * 2013-05-14 2014-11-19 太白Hitech公司 发光二极管模块的光轴测量方法
KR102602881B1 (ko) * 2023-09-04 2023-11-15 박정선 7세그먼트 표시소자의 검사방법

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100963128B1 (ko) * 2009-10-06 2010-06-16 (주)오엠티 엘이디 광원 모듈의 고온 점등 검사장비

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100963128B1 (ko) * 2009-10-06 2010-06-16 (주)오엠티 엘이디 광원 모듈의 고온 점등 검사장비

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101291914B1 (ko) 2012-11-08 2013-07-31 서승환 발광 다이오드 모듈의 광축 측정 방법
KR101410037B1 (ko) 2013-01-23 2014-06-20 (주) 인텍플러스 Ｌｅｄ어레이의 검사방법
CN104155083A (zh) * 2013-05-14 2014-11-19 太白Hitech公司 发光二极管模块的光轴测量方法
KR101472933B1 (ko) * 2013-05-14 2014-12-17 태백하이텍 주식회사 발광 다이오드 모듈의 광축 측정 방법
KR101411417B1 (ko) 2013-07-05 2014-06-25 태백하이텍 주식회사 발광 다이오드 모듈의 편심 측정 방법
KR101375213B1 (ko) 2013-11-08 2014-03-18 박지암 동심원방식을 이용한 led모듈의 렌즈편심 검사방법
KR102602881B1 (ko) * 2023-09-04 2023-11-15 박정선 7세그먼트 표시소자의 검사방법

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