CN104155083A - 发光二极管模块的光轴测量方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了发光二极管（LED）模块的发光体的光轴测量方法，所述发光体的光轴是利用图像采集单元、通过采集作为检查对象的所述LED模块中所包含的具有LED和透镜的所述发光体的图像、且基于所采集到的图像而被测量的。该方法包括：将LED模块布置在检查位置处；向LED供电且同时将外部光线照射到发光体；采集发光体的图像且输出所采集到的图像；计算所采集到的图像上LED的位置和透镜的中心；以及通过比较LED的位置与透镜的中心来确定发光体的光轴。本发明能够向作为检查对象的LED模块的具有透镜的发光体供电且同时能够将外部光线照射到该发光体，并且能够采集该透镜的中心的图像以比较该透镜的内直径的中心与该LED的中心，从而测量出检查对象的光轴状态。

Description

发光二极管模块的光轴测量方法

相关申请的交叉参考

本申请要求2013年5月14日向韩国知识产权局提交的韩国专利申请第10-2013-0054423号的优先权权益，因此将该韩国专利申请的全部内容以引用的方式并入本文。

技术领域

本发明涉及发光二极管模块的光轴测量方法，且更具体地，涉及这样一种发光二极管模块的光轴测量方法：在该方法中，通过使用针对所述发光二极管模块的发光体而采集到的图像，可以测量出所述发光二极管模块的光轴的状态。

背景技术

随着对显示装置的需求以各种方式日益增加，人们已经研究和投入使用了多种多样的显示装置，例如液晶显示器(LCD)装置、等离子显示面板(PDP)、电致发光显示器(ELD)和真空荧光显示器(VFD)。

在这些显示装置之中，LCD的液晶面板包括液晶层、以及中间夹着该液晶层且彼此面对的薄膜晶体管(TFT)基板和彩色滤光片基板。该液晶面板包括用于产生光的发光二极管(LED)模块，该模块作为为了显示图像而供应光的背光单元(backlight unit)。

LED模块具有在其中连续排列有多个发光器件的结构，且因为采用了大量的发光器件，所以制造成本由于发光器件的数量而增加，并且电能消耗也增加。因此，这些问题必须得到处理。

为了处理这些问题，曾经提出了一种包括发光体和覆盖该发光体的透镜的LED模块。

图1图示了LED模块10的结构的示例。

参照图1，LED模块10包括以预定间隔排列在具有预定长度和宽度的杆11上的多个发光体12。

图2是图示了图1所示的发光体12的形状的平面图，且图3是图示了图2所示的发光体12的结构的横断面图。

参照图2和图3，发光体12每一者均包括LED14和透镜16，透镜16覆盖着LED14且使得从LED14发出的光能够在预定的方向上均匀地照射。

透镜16可以是凸透镜以便会聚从LED14发出的光。此外，透镜16可以是球面透镜或非球面透镜。

虽然所设置的是包括单个LED14的集光器(collector)，但是也可以设有包括多个LED14的集光器。

在每个发光体12中，LED14的中心与透镜16的中心轴(以下称作光轴)必须对准。

如果LED14与透镜16的光轴没有对准，那么从发光体12中发出的光根据照射方向的不同就会是不均匀的，且这会降低其中采用了LED14和透镜16的背光单元的品质。

因此，必须检查用作背光单元的LED模块中所包括的发光体的光轴的对准状态。

为了提供上述必要性，韩国专利文献KR2011-55992公开了“anoptical positional displacement measuring apparatus in camera device andmeasuring method thereof(相机设备中的光学位置偏移测量装置及其测量方法)”。

根据上述技术，通过利用图像采集单元来采集多个测量标记的图像，且通过利用这些测量标记的图像来测量出偏移。

根据上述技术，因为必须有用于显示多个测量标记的操作，所以处理的总数增多了。

发明内容

本发明提供了一种发光二极管(LED)模块的光轴测量方法，在该方法中，将预定的电能供应给作为检查对象的所述LED模块中所包含的发光体(所述发光体具有发光二极管(LED)和透镜)因而所述发光体处在发光状态，并且同时将外部光线照射到所述发光体，由此对所述透镜的边缘轮廓和所述LED的中心进行比较，从而测量出检查对象的光轴的状态。

本发明还提供了一种LED模块的光轴测量方法，在该方法中，将预定的电能供应给作为检查对象的所述LED模块的发光体因而所述发光体处在发光状态，且同时将外部光线照射到所述发光体，然后采集透镜的中心部的图像并且对该图像进行图像处理，由此对所述透镜的内圆周和所述LED的中心进行比较，从而测量出所述LED模块的光轴的状态。

根据本发明的一个方面，提供了一种发光二极管(LED)模块的发光体的光轴测量方法，所述发光体的光轴是基于所述LED模块的具有发光二极管(LED)和透镜的所述发光体的图像而被测量的，这里通过利用图像采集单元来采集和输出所述图像。所述方法包括：将所述LED模块布置在检查位置处；将电能供应给所述LED且同时将外部光线照射到所述发光体；采集所述发光体的图像且输出所采集到的图像；计算所采集到的图像上所述LED的位置和所述透镜的中心；以及通过比较所述LED的位置与所述透镜的中心，来确定所述发光体的光轴。

所述方法还可以包括：去除所采集到的图像上的噪声。

供应给所述LED的电能可以使所述LED处在能够识别出所述LED的位置的发光水平。

供应给所述LED的电能可以是200～800微安(μA)。

所述外部光线的照度可以处在能够辨识出所述透镜的边缘轮廓的水平。

所采集到的图像的所述输出步骤还可以包括：设定所述图像采集单元与所述发光体之间的参考距离；测量出所述图像采集单元与所述发光体之间的距离且输出与该距离相应的数值；计算所测量出的数值与所述参考距离的差值；以及在输出所采集到的图像时，根据所述差值来移动所述图像采集单元。

所述方法还可以包括：根据相对于所述发光体的照明角度和所采集到的图像的采集角度，将所述透镜的边缘轮廓校正为圆形；以及根据相对于所述发光体的照明角度和所采集到的图像的采集角度，校正所采集到的图像的中央位置。

所述发光体的光轴的所述确定步骤可以包括：计算所述透镜的中心与所述LED的位置之间的差值；将所述差值设定为偏心值；以及当所述偏心值不大于预定值时，将所述偏心值判定为正常。

根据本发明的另一个方面，提供了发光二极管(LED)模块的发光体的光轴测量方法，所述发光体的光轴是基于具有LED和平凸透镜的发光体的图像而被测量的，这里在所述透镜的表面的中心部处形成有LED布置用沟槽，且这里通过利用图像采集单元来采集和输出所述图像。所述方法包括：提供所述LED模块；将所述LED模块布置在检查位置处；将电能供应给所述LED且同时将外部光线照射到所述发光体；采集所述发光体的中心部的经过放大的图像，且输出所采集到的图像；以及通过比较所采集到的图像上所述LED布置用沟槽的中心位置与所述透镜的中心位置，来确定所述发光体的光轴。

所述方法还可以包括：去除所采集到的图像上的噪声。

所述发光体的光轴的所述确定步骤可以包括：计算所采集到的图像上所述LED布置用沟槽的中心和所述LED的中心的值；计算所述LED布置用沟槽的中心与所述LED的中心之间的差值；将所述差值设定为偏心值；以及当所述偏心值不大于预定值时，将所述光轴的状态判定为正常。

附图说明

通过参照附图详细地说明本发明的示范性实施例，本发明的上述和其他特征及优势将变得更加明显。在附图中：

图1图示了发光二极管(LED)模块的示例；

图2是图示了图1所示的发光体的形状的平面图；

图3是图示了图2所示的发光体的结构的横断面图；

图4是图示了本发明实施例的当测量LED模块的光轴时所采用的光轴测量单元的结构的方框图；

图5是图示了本发明实施例的当测量LED模块的光轴时所采用的光轴测量单元的结构的侧视图；

图6是图示了图5所示的图像采集单元的结构的前视图；

图7是图示了本发明一个方面的LED模块的光轴测量方法的流程图；

图8图示了LED模块的排列示例；

图9是图示了本发明实施例的LED模块中所包含的发光体的结构的横断面图；

图10图示了本发明实施例中所采用的辅助照明灯的布置示例；

图11图示了从图像采集单元输出的所采集到的图像的示例；

图12是图示了本发明另一个方面的LED模块的光轴测量方法的流程图；

图13图示了本发明实施例的发光体；以及

图14图示了图13的发光体的所采集到的图像的示例。

具体实施方式

在下文中，将参照附图详细地说明本发明的示范性实施例。

发光二极管(LED)模块的光轴测量方法可以通过采用如下所述的检查装置100来执行。

图4是图示了本发明实施例的当测量LED模块的光轴时所采用的光轴测量单元的结构的方框图。图5是图示了本发明实施例的当测量LED模块的光轴时所采用的光轴测量单元的结构的侧视图。图6是图示了图5所示的图像采集单元的结构的前视图。

参照图4至图6，LED模块光轴检查装置100可以包括主体110、电源单元120、图像采集单元130、传送单元140、控制单元150和显示单元160。

此外，图7是图示了本发明实施例的LED模块的光轴测量方法的流程图。

参照图7，该方法包括：布置LED模块(S110)；向LED模块供电(S120)；输出所采集到的图像(S130)；计算LED的位置和透镜的中心(S150)；和确定光轴(S160)。此外，根据本发明的当前实施例的方法还可以包括去除噪声(S140)。

将参照附图来说明本发明实施例的LED模块的光轴的测量。

首先，提供作为检查对象的LED模块10。所提供的LED模块10可以是如图1所示。

在操作S110中，布置作为检查对象的LED模块10。将作为检查对象的LED模块10布置在主体110上。

主体110提供了针对于LED模块10的检查位置，且在主体110中安装有稍后会予以说明的用于检查LED模块10的部件。

根据本发明的当前实施例，主体110呈现为具有预定高度的桌子的形式；然而，根据用户的需要，主体110也可以具有其他各种各样的形式。此外，主体110可以配备有轮子以便可移动到必要场所，或可以被固定到必要场所。此外，参照图5，虽然LED模块10被布置在与主体110隔开的、形成于主体110下面的安装部112上，但是用于稳定地保持LED模块10的安装部112可以被认为是主体110的部件。

图8图示了多个作为检查对象的LED模块10的排列示例。

参照图8，LED模块10(该模块中，多个发光体170以预定的间隔排列着)以多行的方式排列在安装部112上，且稍后会予以说明的电源单元120为LED模块10供电。

当完成了LED模块10的布置时，在操作S120中向LED模块10供电。

电源单元120向作为检查对象的LED模块10供电，以便发光体170可以在它的检查期间发光。为了容易地供电，电源单元120包括连接器122，通过连接器122能够将电能供应给LED模块10。根据发光体170的尺寸和标准，连接器122可以以各种方式变型。或者，可以依据LED模块10中所包含的多个发光体来安装多个连接器122，并且可以按照检查的顺序来供应电能。

在这里，将进一步详细地说明发光体170。

图9是图示了本发明实施例采用的LED模块10中所包含的发光体170的示例的横断面图。

参照图9，LED模块10包括发光体170，且每个发光体170均包括LED172和透镜174。

透镜174具有平凸透镜形状，且在透镜174的沿着中心轴的下表面处凹陷地形成有LED布置用沟槽176，以便LED172可以容易地布置于该沟槽内。

此外，透镜174的两个上侧部可以相对于透镜174的中心突出以便有利于光的会聚。因此，透镜174可以形成得相对于它的中心轴沿着圆周凸出。

电源单元120连续地将发光操作所需的电能供应给LED模块10(模块10以多行的方式排列在安装部112中)。从电源单元120供应的电能是低电流，该低电流是LED模块10发光所需的且是为了确定LED的位置而需要的。如果向LED模块10施加高电流，那么可能出现模糊以至于不能确定LED的位置。向LED模块10施加200～800微安(μA)的低电流，使得LED模块10可以按照能够识别出LED的位置的水平来发光。

当向LED模块10施加上述低电流时，LED模块10的发光体170接收到电能从而按照可以识别出LED的位置的这样低的水平来发光。

与此同时，优选地，在发光体170的检查位置处可以安装光屏蔽层，以便防止外部入射光线对所采集到的图像的影响。

在进行上述供电的同时，可以启动向辅助照明灯132的供电以便操作该辅助照明灯132。

辅助照明灯132将预定的光照射到发光体170以便有利地采集发光体170的图像。在这里，可以依靠利用电源单元120而供应的电能来操作辅助照明灯132。优选地，辅助照明灯132的照度可以处在能够辨识出透镜174的边缘轮廓的水平。

辅助照明灯132可以包括LED，且只要能够将光线照射到发光体170，辅助照明灯132也可以包括除了LED之外的其他各种照明单元。

图10图示了本发明实施例中所采用的辅助照明灯132的布置示例。如图10所示，在图像采集单元130的一侧且相对于发光体170以预定的角度布置辅助照明灯132。即，当把图像采集单元130布置在发光体170的正上方时，辅助照明灯132可以附着于图像采集单元130的侧面。因此，辅助照明灯132是相对于发光体170以预定的角度布置着的。

此外，可以将辅助照明灯132布置在发光体170的正上方，且可以将图像采集单元130相对于发光体170以预定的角度布置着。

在辅助照明灯132工作的同时，图像采集单元130采集发光体170的图像且在操作S130中输出所采集到的图像P1。将所采集到的图像P1输入到将在后面说明的控制单元150。在这里，向辅助照明灯132供应的电能可以处于能够使所采集到的图像P1上透镜174的边缘轮廓被辨识出的水平。

因为诸如图像采集单元130的图像采集元件中所包含的噪点(hotpixel)等噪声可能存在于所采集到的图像P1上，所以可以在操作S140中进行去除噪声的操作以去除所采集到的图像P1的噪声。可以通过采用根据用户的需要而选定的方法，例如，通过采用在韩国专利文献2008-74385中公开的方法，去除所采集到的图像P1的噪声。因此，关于它的详细说明将不再赘述。

所采集到的图像P1中所包含的图像处在能够识别出透镜174的边缘轮廓和LED172的位置的水平。LED172的位置可以用作发光体170的中心。

为了采集发光体170的图像，使用了图像采集单元130。

当向LED模块10供电以使LED模块10发光时，图像采集单元130就采集LED模块10中所包含的发光体170的图像从而输出所采集到的图像。为此，优选地，图像采集单元130可以连接到电源单元120以便它们之间可以进行信号传输。此外，图像采集单元130可以通过电源单元120接收所需的电能。

输出的所采集到的图像可以是其上的亮度状态能够被识别的黑白图像。此外，当所采集到的图像是黑白图像时，可以对其着色以增强可识别性。

优选地，图像采集单元130可以是数码相机或是在图像被采集后立即以图片文件的形式输出所采集到的图像的相机模块。因此，从图像采集单元130输出的所采集到的图像可以是具有预定像素大小(例如，1024×768)的图片文件(例如，jpg或tif)。

根据本发明的当前实施例，图像采集单元130可以按照用户的需要来调整曝光时间，且采用了诸如电荷耦合器件(CCD)或互补金属氧化物半导体(CMOS)等固态图像传感器的相机可以用作图像采集单元130。

再次参照图6，根据本发明的当前实施例，图像采集单元130可以包括彼此关联的一对相机来提高采集效率。根据用户的需要，图像采集单元130中所包含的相机的数量可以不同地设置。

图像采集单元130可以在发光体170的检查位置处布置于发光体170的正上方。

此外，用于固定或传送图像采集单元130的传送单元140可以在发光体170的检查位置处安装于主体110上。

传送单元140可以将用于对LED模块10进行图像采集的图像采集单元130传送到位于作为检查对象的LED模块10的发光体170上方的部位。

根据需要，传送单元140可以在X轴、Y轴和Z轴方向上传送图像采集单元130。可以沿着X轴、Y轴和Z轴排列多个轨道来传送图像采集单元130。

因此，当操作员布置了LED模块10然后操作图像采集单元130和传送单元140时，传送单元140就将图像采集单元130从沿着X轴排列的多个LED模块10的一侧传送到另一侧以便进行图像采集，且当完成了一个LED模块10的检查时，传送单元140将图像采集单元130沿着Y轴传送到下一行的LED模块10以进行图像采集。

在这里，由于稍后说明的操作S170中的光轴确定结果会根据图像采集单元130与发光体170之间的距离而改变，因此优选的是，操作员可以使图像采集单元130与发光体170之间保持一致的距离。因此，优选地，操作员可以设定图像采集单元130与发光体170之间的参考距离。

接着，通过采用距离测量传感器(未示出)，可以测量出布置在采集位置处的图像采集单元130与发光体170之间的距离，且将与该距离相应的信号输出到控制单元150。控制单元150可以计算所测量出的距离与所设定的参考距离之间的差值，且根据所述差值，通过操作传送单元140将图像采集单元130与作为采集对象的发光体170之间的距离调整到与参考距离相同。

在这里，当测量出图像采集单元130与发光体170之间的距离时，可以根据图像采集单元130与发光体170之间的距离来放大或缩小所采集到的图像P1。

图11图示了从图像采集单元130输出的所采集到的图像P1的示例。从图11中可以看出，所采集到的图像P1处在能够识别出发光体170中所包含的透镜174的边缘轮廓和LED172的位置的水平。

将通过拍摄而获得的所采集到的图像输出到稍后会说明的控制单元150，且控制单元150可以在操作S160中基于所采集到的图像来确定LED模块10的光轴的状态。为了确定发光体170的光轴，基于所采集到的图像P1，进行确定光轴的操作(S160)。

在确定发光体170的光轴之前，优选地，可以校正当辅助照明灯132以预定的角度出射光时获得的所采集到的图像P1的中央位置。

即，再次参照图10，当从辅助照明灯132以预定的角度照射光线时，在所采集到的图像P1上透镜174的边缘轮廓可能不是圆形，并且因此根据辅助照明灯132的角度将所采集到的图像P1上透镜174的边缘轮廓校正为圆形。

虽然根据本发明的当前实施例是将所采集到的图像P1上透镜174的边缘轮廓校正为圆形，但是当将辅助照明灯132布置在发光体170正上方且将图像采集单元130相对于发光体170以预定的角度布置时，可以将初始所采集到的图像P1的边缘轮廓和初始所采集到的图像P1上透镜174的边缘轮廓校正为圆形。

按照如下方式(步骤S160)来进行确定光轴的操作(S170)。

首先，计算出所采集到的图像P1上LED172的位置。然后，基于所采集到的图像P1上透镜174的边缘轮廓，计算出透镜174的边缘轮廓的中心C。每个位置都可以被标记在所采集到的图像P1上。

接着，控制单元150确定LED172的位置与透镜174的边缘轮廓的中心C是否彼此重叠，如图11所示。

当LED172的位置与透镜174的中心C处在同一位置时，LED172的位置与透镜174的中心C就是彼此对应的，但是如果LED172的中心与透镜174的中心不一样时，那么LED172的位置与透镜174的中心C就处于不同地方。也就是说，虽然LED172的位置是所采集到的图像P1上的实像，但所采集到的图像P1的中心是基于透镜174的边缘轮廓而获得的虚像。因此，由于在发光体170的制造期间造成的误差，LED172的位置与透镜174的中心C可能彼此不对应。

在LED172的位置与透镜174的中心C重叠时，计算二者中心之间的差值。当两个位置的差值是“0”时，就可以判定二者中心是彼此对应的。

此外，当两个位置存在差值时，可以将该差值设定为偏心值且记录该差值。

接着，当偏心值不大于与透镜174的直径相比的预定值(例如，相对于透镜直径为1.0％)时，可以将发光体170的光轴的状态判定为正常。

图12是图示了本发明另一个实施例的发光二极管模块的光轴测量方法的流程图。

参照图12，本发明当前实施例的LED模块的光轴测量方法可以包括：布置LED模块(S210)；向LED模块供电并且施加外部光线(S220)；采集LED模块的图像(S230)；以及确定光轴(S250)。此外，本发明当前实施例的LED模块的光轴测量方法还可以包括去除所采集到的图像的噪声(S240)。

将会省略与先前实施例中相同的构造的详细说明，且将会集中于与先前实施例的不同之处进行说明。

在供电和施加外部光线的操作S220中，向发光体170供应预定的电能，且与此同时通过采用辅助照明灯132来施加外部光线。在这里，优选地，所述供应的电能可以处在能够使发光体170的LED172的内圆周和透镜174的LED布置用沟槽176(即，透镜174的内圆周)被识别出的水平。

图13图示了本发明实施例的发光体170，且图14图示了图13的发光体170的所采集到的图像的示例。

参照图13和图14，图像采集单元130在操作S230中采集发光体170的图像且输出所采集到的图像。在这里，在发光体170的图像采集过程中，可以采集且放大发光体170的中心的图像以便能够在所采集到的图像上容易地辨识出LED172和透镜174的LED布置用沟槽176。

在这里，如果能够容易地辨识出LED布置用沟槽176和LED172，那么发光体170的放大水平可以根据用户的需要以各种方式设定。

此外，优选地，可以进行用于去除可能包含于所采集到的图像中的噪声的操作(S240)。

将所采集到的图像记录在预定的存储器中，且采集发光体170的中心(即发光体170的LED布置用沟槽176和***部C)的经过放大的图像以记录下来。

参照图14，较佳的是，所采集到的图像的放大程度可以是能够清晰地显示出LED布置用沟槽176的内圆周和LED172的外圆周。此外，参照图14，将LED布置用沟槽176的内圆周标记为圆形。

控制单元150计算出所采集到的图像上LED172的中心位置和LED布置用沟槽176的中心位置。然后，控制单元150确定LED172的中心位置和LED布置用沟槽176的中心位置。

当LED172的中心与LED布置用沟槽176的中心彼此对应时，就将发光体170的光轴判定为正常，且控制单元150通过采用附加的显示单元160来通知该光轴状态。此外，当LED172的中心与LED布置用沟槽176的中心彼此不对应时，计算出LED172的中心与LED布置用沟槽176的中心之间的差值，而且当该差值不大于与透镜174的直径相比的预定值时，将发光体170的光轴判定为正常且控制单元150通过采用附加的显示单元160来通知该光轴状态。

根据本发明的实施例，作为检查对象的LED模块中所包含的具有透镜和LED的发光体可以发光，同时可以将外部光线照射到该发光体，且可以采集该发光体的图像从而测量检查对象的光轴状态。此外，向作为检查对象的LED模块的发光体供应预定的电能，以便该发光体发光，然后，通过以预定的放大倍率进行放大，可以采集到该发光体的图像，而且可以将所采集到的图像上LED的中心与LED布置用沟槽的中心部相互比较从而测量出该发光体的光轴的状态。

根据本发明的实施例，可以向作为检查对象的LED模块中所包含的LED以及向具有透镜和LED的发光体供应预定的电能，以使该发光体发光，且同时将外部光线照射到该发光体从而采集透镜和LED的图像。接着，比较该透镜的边缘轮廓的中心和该LED的中心从而测量出检查对象的光轴状态。

此外，根据本发明的实施例，可以向作为检查对象的LED模块的发光体供应预定的电能，且同时可以将外部光线照射到该发光体，从而采集透镜的中心的经过放大的图像，由此比较该透镜的内圆周的中心(LED布置用沟槽的中心)和该LED的中心以测量检查对象的光轴状态。

虽然参照本发明的示范性实施例已经对本发明进行了具体的图示和说明，但是本领域技术人员应理解，可以在随附的权利要求所限定的本发明的范围和精神内进行各种形式和细节上的改变。

Claims (11)

1.一种发光二极管模块亦即LED模块的发光体的光轴测量方法，所述发光体的光轴是基于所述LED模块的具有LED和透镜的所述发光体的图像而被测量的，其中通过利用图像采集单元来采集和输出所述发光体的图像，所述方法包括：

将所述LED模块布置在检查位置处；

向所述LED供应电能且同时将外部光线照射到所述发光体；

采集所述发光体的图像且输出所采集到的图像；

计算所采集到的图像上所述LED的位置和所述透镜的中心；以及

通过比较所述LED的位置与所述透镜的中心，来确定所述发光体的光轴。

2.如权利要求1所述的方法，其还包括：去除所采集到的图像上的噪声。

3.如权利要求1所述的方法，其中，向所述LED供应的电能处于能够使所述LED的位置被识别出的发光水平。

4.如权利要求1所述的方法，其中，向所述LED供应的电能是200～800微安亦即μA。

5.如权利要求1所述的方法，其中，所述外部光线的照度处在能够辨识出所述透镜的边缘轮廓的水平。

6.如权利要求1所述的方法，其中，所采集到的图像的所述输出还包括：

设定所述图像采集单元与所述发光体之间的参考距离；

测量出所述图像采集单元与所述发光体之间的距离且输出与该距离相应的数值；

计算所测量出的数值与所述参考距离的差值；以及

在输出所采集到的图像时，根据所述差值来移动所述图像采集单元。

7.如权利要求1所述的方法，其还包括：

根据相对于所述发光体的照明角度和所采集到的图像的采集角度，将所述透镜的边缘轮廓校正为圆形；以及

根据相对于所述发光体的照明角度和所采集到的图像的采集角度，校正所采集到的图像的中央位置。

8.如权利要求1所述的方法，其中，所述发光体的光轴的所述确定包括：

计算所述透镜的中心与所述LED的位置之间的差值；

将所述差值设定为偏心值；以及

当所述偏心值不大于预定值时，将所述偏心值判定为正常。

9.一种发光二极管模块亦即LED模块的发光体的光轴测量方法，所述发光体的光轴是基于具有LED和平凸透镜的所述发光体的图像而被测量的，其中在所述透镜的表面的中心部处形成有LED布置用沟槽，且其中通过利用图像采集单元来采集和输出所述发光体的图像，所述方法包括：

提供所述LED模块；

将所述LED模块布置在检查位置处；

向所述LED供应电能且同时将外部光线照射到所述发光体；

采集所述发光体的中心部的经过放大的图像，且输出所采集到的图像；以及

通过比较所采集到的图像上所述LED布置用沟槽的中心位置与所述透镜的中心位置，来确定所述发光体的光轴。

10.如权利要求9所述的方法，其还包括：去除所采集到的图像上的噪声。

11.如权利要求9所述的方法，其中，所述发光体的光轴的所述确定包括：

计算所采集到的图像上所述LED布置用沟槽的中心和所述LED的中心的值；

计算所述LED布置用沟槽的中心与所述LED的中心之间的差值；

将所述差值设定为偏心值；以及

当所述偏心值不大于预定值时，将所述光轴的状态判定为正常。