KR101137867B1 - 액정 표시장치의 검사장치 및 검사방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 프로브 검사 유닛의 채널 수를 감소시킬 수 있도록 한 액정 표시장치의 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 검사장치는 액정패널이 안착되는 스테이지와, 상기 액정패널을 복수의 수직 블록으로 나누어 2개의 수직 블록 단위로 패턴 검사신호를 공급하기 위한 복수의 데이터 커넥터 블록을 가지는 데이터 프로브 유닛과, 상기 액정패널을 복수의 수평 블록으로 나누어 각 수평 블록에 스캐닝 신호를 공급하기 위한 게이트 프로브 유닛과, 상기 데이터 프로브 유닛에 패턴 검사신호를 공급함과 아울러 상기 게이트 프로브 유닛에 스캐닝 신호를 공급하는 제어부를 구비하며, 상기 각 데이터 커넥터 블록은 상기 2개의 수직 블록 중 제 1 수직 블록에 상기 패턴 검사신호를 공급하기 위한 복수의 제 1 데이터 커넥터 패드를 가지는 제 1 데이터 커넥터 패드부와, 상기 2개의 수직 블록 중 제 2 수직 블록에 상기 패턴 검사신호와 동일한 패턴 검사신호를 공급하기 위한 복수의 제 2 데이터 커넥터 패드를 가지는 제 2 데이터 커넥터 패드부를 구비하며, 상기 제 1 및 제 2 데이터 커넥터 패드 각각은 하나의 검사신호 전송라인에 공통적으로 접속되는 것을 특징으로 한다. 이러한 구성에 의하여 본 발명은 액정패널을 복수의 수직 블록으로 나누어 적어도 2개의 수직 블록 단위로 패턴 검사신호를 공급함으로써 데이터 프로브 유닛의 데이터 커넥터 패드 수, 즉 채널 수를 반감시켜 오토 프로브 검사장치의 비용이 절감할 수 있다.
오토 프로브 유닛, 커넥터 패드, 검사용 패드, 채널 수, 블록 단위

Description

액정 표시장치의 검사장치 및 검사방법{APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTIONN LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE}
도 1은 관련기술에 따른 액정 표시장치를 개략적으로 나타낸 도면.
도 2는 관련기술에 따른 액정 표시장치의 검사장치를 개략적으로 나타낸 도면.
도 3은 도 2에 도시된 데이터 커넥터 블록 및 게이트 커넥터 블록을 나타낸 도면.
도 4a 및 도 4b는 관련기술에 따른 액정 표시장치의 검사방법을 개략적으로 나타낸 도면.
도 5는 도 4a 및 도 4b에 도시된 액정패널에 공급되는 패턴 검사신호 및 스캐닝 신호를 나타낸 파형도.
도 6은 도 5에 도시된 패턴 검사신호에 의해 액정패널에 표시되는 화상을 나타낸 도면.
도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 검사장치를 개략적으로 나타낸 도면.
도 8은 도 7에 도시된 데이터 커넥터 블록을 나타낸 도면.
도 9는 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치를 개략적으로 나타낸 도면.
도 10a 및 도 10b는 도 9에 도시된 각 수직 블록의 데이터 패드부를 나타낸 도면.
도 11a 및 도 11b는 도 9에 도시된 각 수평 블록의 게이트 패드부를 나타낸 도면.
도 12는 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 검사방법을 나타낸 도면.
도 13은 도 12에 도시된 액정패널에 공급되는 패턴 검사신호 및 스캐닝 신호를 나타낸 파형도.
도 14는 도 12에 도시된 액정패널에 공급되는 제 1 실시 예의 패턴 검사신호에 대응되는 화상을 나타낸 도면.
도 15는 도 12에 도시된 액정패널에 공급되는 제 2 실시 예의 패턴 검사신호에 대응되는 화상을 나타낸 도면.
도 16은 도 12에 도시된 액정패널에 공급되는 제 3 실시 예의 패턴 검사신호에 대응되는 화상을 나타낸 도면.
도 17은 도 12에 도시된 액정패널에 공급되는 제 4 실시 예의 패턴 검사신호에 대응되는 화상을 나타낸 도면.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호설명 >
12, 112 : 액정패널 50, 150 : 스테이지
60, 160 : 데이터 프로브 유닛 62, 162 : 데이터 커넥터 블록
64, 164, 165 : 데이터 커넥터 패드 70, 170 : 게이트 프로브 유닛
72, 172 : 게이트 커넥터 블록 80, 180 : 제어부
102 : 검사용 데이터 패드부 103 : 검사용 데이터 패드
104 : 데이터 패드부 106 : 게이트 패드부
107 : 검사용 게이트 패드부 109 : 검사용 게이트 패드
본 발명은 액정 표시장치의 검사장치 및 검사방법에 관한 것으로, 특히 프로브 검사 유닛의 채널 수를 감소시킬 수 있도록 한 액정 표시장치의 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다.
통상적으로, 액정 표시장치(Liquid Crystal Display)는 비디오 신호에 따라 액정셀들의 광투과율을 조절하여 화상을 표시하게 된다. 액정셀마다 스위칭 소자가 형성된 액티브 매트릭스(Active Matrix) 타입의 액정 표시장치는 동영상을 표시하기에 적합하다. 액티브 매트릭스 타입의 액정 표시장치에 사용되는 스위칭 소자로는 주로 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor; 이하 "TFT"라 함)가 이용되고 있다.
도 1은 관련기술에 따른 액정 표시장치를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 1을 참조하면, 관련기술에 따른 액정 표시장치는 n개의 게이트 라인(GL1 내지 GLn)과 m개의 데이터 라인(DL1 내지 DLm)에 의해 정의되는 영역에 형성된 액정셀을 포함하는 액정패널(12)과, 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)에 아날로그 비디오 신호를 공급하기 위한 데이터 드라이버(20)와, 게이트 라인들(GL1 내지 GLn)에 스캐닝 신호를 공급하기 위한 게이트 드라이버(30)와, 외부로부터 입력되는 소스 데이터(RGB)를 정렬하여 데이터 드라이버(20)에 공급하며 데이터 제어신호(DCS)를 생성하여 데이터 드라이버(20)를 제어함과 동시에 게이트 제어신호(GCS)를 생성하여 게이트 드라이버(30)를 제어하는 타이밍 컨트롤러(40)를 구비한다.
액정패널(12)은 서로 대향하여 합착된 트랜지스터 어레이 기판 및 컬러필터 어레이 기판과, 두 어레이 기판 사이에서 셀갭을 일정하게 유지시키기 위한 스페이서와, 스페이서에 의해 마련된 액정공간에 채워진 액정을 구비한다.
이러한, 액정패널(12)은 n개의 게이트 라인(GL1 내지 GLn)과 m개의 데이터 라인(DL1 내지 DLm)에 의해 정의되는 영역에 형성된 TFT와, 각 TFT에 접속되는 액정셀을 구비한다. TFT는 게이트 라인(GL1 내지 GLn)으로부터의 스캐닝 신호에 응답하여 데이터 라인(DL1 내지 DLm)으로부터의 데이터 신호를 액정셀로 공급한다. 액정셀은 액정을 사이에 두고 대면하는 공통전극과 TFT에 접속된 화소전극으로 구성되므로 등가적으로 액정 커패시터(Clc)로 표시될 수 있다. 이러한 액정셀은 액정 커패시터(Clc)에 충전된 데이터 신호를 다음 데이터 신호가 충전될 때까지 유지시키기 위하여 이전단 게이트 라인에 접속된 스토리지 커패시터(Cst)를 포함한다.
타이밍 컨트롤러(40)는 외부로부터 입력되는 소스 데이터(RGB)를 액정패널(12)의 구동에 알맞도록 정렬하여 데이터 드라이버(20)에 공급한다. 또한, 타이밍 컨트롤러(40)는 외부로부터 입력되는 메인클럭(MCLK), 데이터 인에이블 신호(DE), 수평 및 수직 동기신호(Hsync, Vsync)를 이용하여 데이터 제어신호(DCS)와 게이트 제어신호(GCS)를 생성하여 데이터 드라이버(20)와 게이트 드라이버(30) 각각의 구동 타이밍을 제어한다.
게이트 드라이버(30)는 타이밍 컨트롤러(40)로부터의 게이트 제어신호(GCS) 중 게이트 스타트 펄스(GSP)와 게이트 쉬프트 클럭(GSC)에 응답하여 스캐닝 신호 즉, 게이트 하이펄스를 순차적으로 발생하는 쉬프트 레지스터를 포함한다. 이러한, 게이트 드라이버(30)는 게이트 하이펄스를 액정패널(12)의 게이트 라인들(GL)을 순차적으로 공급하여 게이트 라인(GL)에 접속된 TFT를 턴-온시키게 된다.
데이터 드라이버(20)는 타이밍 컨트롤러(40)로부터 공급되는 데이터 제어신호(DCS)에 따라 타이밍 컨트롤러(40)로부터 정렬된 데이터 신호(Data)를 아날로그 비디오 신호로 변환하고, 게이트 라인(GL)에 스캐닝 신호가 공급되는 1수평 주기마다 1수평 라인분의 아날로그 비디오 신호를 데이터 라인들(DL)에 공급한다. 이때, 데이터 드라이버(20)는 극성 제어신호(POL)에 응답하여 데이터 라인들(DL)에 공급되는 아날로그 비디오 신호의 극성을 라인 단위로 반전시키게 된다.
이와 같은, 관련기술에 따른 액정 표시장치는 액정을 사이에 두고 트랜지스터 어레이 기판 및 컬러필터 어레이 기판이 합착된 후, 트랜지스터 어레이 기판 상에 상기 데이터 드라이버(20) 및 게이트 드라이버(30)가 전기적으로 접속시키는 모듈 공정 전에 검사공정을 거치게 된다.
검사공정에서는 오토 프로브(Auto Probe) 검사장치를 이용하여 액정패널(12)의 단선 검사와 점 결함 및 라인 결함 등의 존재 여부를 검사하게 된다.
도 2는 관련기술에 따른 액정 표시장치의 오토 프로브 검사장치를 개략적으 로 나타낸 도면이다.
도 2를 참조하면, 관련기술에 따른 액정 표시장치의 오토 프로브 검사장치는 액정패널이 안착되는 스테이지(50)와, 스테이지(50)에 안착된 액정패널을 복수의 수직 블록으로 나누어 각 수직 블록에 패턴 검사신호를 공급하기 위한 데이터 프로브 유닛(60)과, 스테이지(50)에 안착된 액정패널을 복수의 수평 블록으로 나누어 각 수평 블록에 스캐닝 신호를 공급하기 위한 게이트 프로브 유닛(70)과, 데이터 프로브 유닛(60)에 패턴 검사신호를 공급함과 아울러 게이트 프로브 유닛(70)에 스캐닝 신호를 공급하는 제어부(80)를 구비한다.
스테이지(50)는 외부로부터 공급되는 액정패널을 지지함과 아울러 도시하지 않은 점등장치를 통해 액정패널의 배면에 광을 조사한다.
데이터 프로브 유닛(60)은 액정패널의 각 수직 블록에 대응되는 복수의 데이터 커넥터 블록(62)을 포함한다. 여기서, 데이터 프로브 유닛(60)은 12개의 데이터 커넥터 블록(62)을 포함하는 것으로 가정하여 설명하기로 한다.
각 데이터 커넥터 블록(62)은 도 3에 도시된 바와 같이 스테이지(50)에 안착될 액정패널의 각 수직 블록의 데이터 패드부에 구비된 복수의 데이터 패드와 동일한 형상을 가지는 복수의 데이터 커넥터 패드(64)를 포함한다. 복수의 데이터 커넥터 패드(64)는 하나의 패턴 검사신호 전송라인(82)에 공통적으로 접속되어 제어부(80)로부터의 패턴 검사신호를 공급받는다.
이러한, 데이터 프로브 유닛(60)은 도시하지 않은 구동장치에 의해 수직운동함으로써 각 데이터 커넥터 블록(62)의 각 데이터 커넥터 패드(64)를 통해 제어부 (80)로부터의 패턴 검사신호를 스테이지(50)에 안착될 액정패널의 각 수직 블록의 각 데이터 패드에 공급한다.
게이트 프로브 유닛(70)은 액정패널의 복수의 각 수평 블록에 대응되는 복수의 게이트 커넥터 블록(72)을 포함한다. 여기서, 게이트 프로브 유닛(70)은 4개의 게이트 커넥터 블록(72)을 포함하는 것으로 가정하여 설명하기로 한다.
각 게이트 커넥터 블록(72)은 도 3에 도시된 바와 같이 스테이지(50)에 안착될 액정패널의 각 수평 블록의 게이트 패드부에 구비된 복수의 게이트 패드와 동일한 형상을 가지는 복수의 게이트 커넥터 패드(74)를 포함한다. 복수의 게이트 커넥터 패드(74)는 하나의 스캐닝 신호 전송라인(84)에 공통적으로 접속되어 제어부(80)로부터의 스캐닝 신호를 공급받는다.
이러한, 게이트 프로브 유닛(70)은 도시하지 않은 구동장치에 의해 수직운동함으로써 각 게이트 커넥터 블록(72)의 각 게이트 커넥터 패드(74)를 통해 제어부(80)로부터 공급되는 스캐닝 신호를 스테이지(50)에 안착될 액정패널의 각 수평 블록의 각 게이트 패드부에 순차적으로 공급한다.
제어부(80)는 제 1 내지 제 12 패턴 검사신호를 생성하여 제 1 내지 제 12 패턴 검사신호 전송라인(82)을 통해 데이터 프로브 유닛(60)의 각 데이터 커넥터 블록(62)에 공급한다. 또한, 제어부(80)는 제 1 내지 제 4 스캐닝 신호를 순차적으로 생성하여 게이트 프로브 유닛(70)의 각 게이트 커넥터 블록(72)에 공급한다.
도 4a 및 도 4b는 관련기술에 따른 오토 프로브 검사장치를 이용한 액정 표시장치의 검사방법을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 4a 및 도 4b를 참조하여 관련기술에 따른 오토 프로브 검사장치를 이용한 액정 표시장치의 검사방법을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 도 4a와 같이 각 데이터 라인(DL)에 접속된 복수의 데이터 패드를 가지도록 12개의 블록으로 나누어진 데이터 패드부(4)와, 각 게이트 라인(GL)에 접속된 복수의 게이트 패드를 가지도록 4개의 블록으로 나누어진 게이트 패드부(6)를 포함하는 액정패널(12)을 스테이지(50)에 로딩시켜 안착시킨다.
그런 다음, 도 4b와 같이 데이터 프로브 유닛(60)을 스테이지(50) 쪽으로 하강시켜 스테이지(50)에 안착된 액정패널(12)의 각 수직 블록의 각 데이터 패드에 각 데이터 커넥터 블록(62)의 각 데이터 커넥터 패드(64)를 전기적으로 접속시킨다. 이와 동시에 게이트 프로브 유닛(70)을 스테이지(50) 쪽으로 하강시켜 스테이지(50)에 안착된 액정패널(12)의 각 수평 블록의 각 게이트 패드부(6)에 각 게이트 커넥터 블록(72)의 각 게이트 커넥터 패드(74)를 전기적으로 접속시킨다.
이어서, 제어부(80)는 스캐닝 신호 전송라인(84)을 통해 게이트 커넥터 블록(72)에 스캐닝 신호를 공급함과 아울러 패턴 검사신호 전송라인(82)을 통해 각 데이터 커넥터 블록(62)에 패턴 검사신호를 공급한다. 이때, 제어부(80)는 도 5에 도시된 바와 같은 제 1 내지 제 4 스캐닝 신호(GB1 내지 GB4) 각각을 게이트 커넥터 블록(72)에 공급하고, 제 1 내지 제 2 패턴 검사신호(DB1 내지 DB12)를 각 데이터 커넥터 블록(62)에 공급한다.
이에 따라, 액정패널(12) 상에는 도 6에 도시된 바와 같이 패턴 검사신호에 대응되는 패턴 검사용 화상이 표시된다.
구체적으로, 1 프레임의 제 1 기간에서는 제 1 게이트 커넥터 블록(72)으로부터 제 1 스캐닝 신호(GB1)가 제 1 수평 블록의 게이트 패드부(6)에 공급됨과 동기되도록 제 1 내지 제 12 데이터 커넥터 블록(62)에 화이트 신호(W)에 대응되는 제 1 내지 제 12 패턴 검사신호(DB1 내지 DB12)가 각 수직 블록의 데이터 패드부(4)에 공급된다. 이에 따라, 제 1 프레임의 제 1 기간에서는 제 1 스캐닝 신호(GB1)가 공급되는 제 1 수평 블록에 제 1 내지 제 12 패턴 검사신호(DB1 내지 DB12)에 대응되는 패턴 검사용 화이트 화상(W)이 표시된다.
그리고, 1 프레임의 제 2 기간에서는 제 2 게이트 커넥터 블록(72)으로부터 제 2 스캐닝 신호(GB2)가 제 2 수평 블록의 게이트 패드부(6)에 공급된다. 이와 동기되도록 제 1, 제 2, 제 11 및 제 12 데이터 커넥터 블록(62)에 화이트 신호(W)에 대응되는 제 1, 제 2, 제 11 및 제 12 패턴 검사신호(DB1, DB2, DB11, DB12)가 해당 수직 블록의 데이터 패드부(4)에 공급됨과 동시에 제 3 내지 제 10 데이터 커넥터 블록(62)에 블랙 신호(B)에 대응되는 제 3 내지 제 10 패턴 검사신호(DB3 내지 DB10)가 해당 수직 블록의 데이터 패드부(4)에 공급된다. 이에 따라, 제 1 프레임의 제 2 기간에서는 제 2 스캐닝 신호(GB2)가 공급되는 액정패널(12)의 제 2 수평 블록 중 제 1, 제 2, 제 11 및 제 12 수직 블록에 제 1, 제 2, 제 11 및 제 12 패턴 검사신호(DB1, DB2, DB11, DB12)에 대응되는 패턴 검사용 화이트 화상(W)이 표시되고, 그 외의 수직 블록에 제 3 내지 제 10 패턴 검사신호(DB3 내지 DB10)에 대응되는 패턴 검사용 블랙 화상(B)이 표시된다.
또한, 1 프레임의 제 3 기간에서는 제 3 게이트 커넥터 블록(72)으로부터 제 3 스캐닝 신호(GB3)가 제 3 수평 블록의 게이트 패드부(6)에 공급된다. 이와 동기되도록 제 1, 제 2, 제 11 및 제 12 데이터 커넥터 블록(62)에 화이트 신호(W)에 대응되는 제 1, 제 2, 제 11 및 제 12 패턴 검사신호(DB1, DB2, DB11, DB12)가 해당 수직 블록의 데이터 패드부(4)에 공급됨과 동시에 제 3 내지 제 10 데이터 커넥터 블록(62)에 블랙 신호(B)에 대응되는 제 3 내지 제 10 패턴 검사신호(DB3 내지 DB10)가 해당 수직 블록의 데이터 패드부(4)에 공급된다. 이에 따라, 제 1 프레임의 제 3 기간에서는 제 3 스캐닝 신호(GB3)가 공급되는 액정패널(12)의 제 3 수평 블록 중 제 1, 제 2, 제 11 및 제 12 수직 블록에 제 1, 제 2, 제 11 및 제 12 패턴 검사신호(DB1, DB2, DB11, DB12)에 대응되는 패턴 검사용 화이트 화상(W)이 표시되고, 그 외의 수직 블록에 제 3 내지 제 10 패턴 검사신호(DB3 내지 DB10)에 대응되는 패턴 검사용 블랙 화상(B)이 표시된다.
마지막으로, 1 프레임의 제 4 기간에서는 제 4 게이트 커넥터 블록(72)으로부터 제 4 스캐닝 신호(GB4)가 제 4 수평 블록의 게이트 패드부(6)에 공급됨과 동기되도록 제 1 내지 제 12 데이터 커넥터 블록(62)에 화이트 신호(W)에 대응되는 제 1 내지 제 12 패턴 검사신호(DB1 내지 DB12)가 각 수직 블록의 데이터 패드부(4)에 공급된다. 이에 따라, 제 1 프레임의 제 4 기간에서는 제 4 스캐닝 신호(GB4)가 공급되는 액정패널(12)의 제 4 수평 블록에 제 1 내지 제 12 패턴 검사신호(DB1 내지 DB12)에 대응되는 패턴 검사용 화이트 화상(W)이 표시된다.
따라서, 관련기술에 따른 오토 프로브 검사장치를 이용한 액정 표시장치의 검사방법은 오토 프로브 검사장치로부터의 스캐닝 신호에 따라 제 1 내지 제 12 패 턴 검사신호(DB1 내지 DB12)에 대응되는 화상을 액정패널(12)에 표시함으로써 액정패널(12)의 단선 검사와 점 결함 및 라인 결함 등의 존재 여부를 검사하게 된다.
이와 같은, 관련기술에 따른 액정 표시장치의 오토 프로브 검사장치 및 검사방법은 액정패널(12)의 각 데이터 패드부의 데이터 패드 수와 동일한 복수의 데이터 커넥터 패드가 구비되어야 하므로 프로브 유닛의 커넥터 패드 수, 즉 채널 수의 증가로 인하여 오토 프로브 검사장치의 비용이 증가하는 문제점이 있다.
또한, 관련기술에 따른 액정 표시장치의 오토 프로브 검사장치 및 검사방법은 액정패널(12)의 해상도 증가로 인하여 데이터 패드간의 피치가 미세화되므로 데이터 패드와 데이터 커넥터 패드간의 얼라인에 어려움이 있다.
따라서 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명은 프로브 검사 유닛의 채널 수를 감소시킬 수 있도록 한 액정 표시장치의 검사장치 및 검사방법을 제공하는데 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 검사장치는 액정패널이 안착되는 스테이지와, 상기 액정패널을 복수의 수직 블록으로 나누어 2개의 수직 블록 단위로 패턴 검사신호를 공급하기 위한 복수의 데이터 커넥터 블록을 가지는 데이터 프로브 유닛과, 상기 액정패널을 복수의 수평 블록으로 나누어 각 수평 블록에 스캐닝 신호를 공급하기 위한 게이트 프로브 유닛과, 상기 데이터 프로브 유닛에 패턴 검사신호를 공급함과 아울러 상기 게이트 프로브 유닛에 스캐닝 신호를 공급하는 제어부를 구비하며, 상기 각 데이터 커넥터 블록은 상기 2개의 수직 블록 중 제 1 수직 블록에 상기 패턴 검사신호를 공급하기 위한 복수의 제 1 데이터 커넥터 패드를 가지는 제 1 데이터 커넥터 패드부와, 상기 2개의 수직 블록 중 제 2 수직 블록에 상기 패턴 검사신호와 동일한 패턴 검사신호를 공급하기 위한 복수의 제 2 데이터 커넥터 패드를 가지는 제 2 데이터 커넥터 패드부를 구비하며, 상기 제 1 및 제 2 데이터 커넥터 패드 각각은 하나의 검사신호 전송라인에 공통적으로 접속되는 것을 특징으로 한다.
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상기 제어부는 상기 액정패널의 수직 및 수평 블록 중 일부의 수직 및 수평 블록에 패턴 검사용 화이트 화상으로 표시하고, 나머지 수직 및 수평 블록에 패턴 검사용 블랙 화상을 표시하기 위한 복수의 패턴 검사신호를 생성하여 복수의 검사신호 전송라인을 통해 상기 각 데이터 커넥터 블록에 공급하는 것을 특징으로 한다.
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상기 액정패널은 상기 각 수직 블록에 형성된 복수의 데이터 패드와, 상기 각 수직 블록의 적어도 일측에 형성된 복수의 검사용 데이터 패드와, N개(단, N은 양의 정수) 단위의 데이터 패드를 상기 각 검사용 데이터 패드에 공통적으로 접속시키는 더미 데이터 공통라인과, 상기 각 수평 블록에 형성된 복수의 게이트 패드 와, 상기 각 수평 블록의 적어도 일측에 형성된 복수의 검사용 게이트 패드와, N개 단위의 게이트 패드를 상기 각 검사용 게이트 패드에 공통적으로 접속시키는 더미 게이트 공통라인을 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 제 1 및 제 2 데이터 커넥터 패드는 상기 복수의 검사용 데이터 패드와 동일한 형상 및 개수를 가지는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 검사방법은 스테이지에 액정패널이 안착시키는 단계와, 복수의 패턴 검사신호 및 스캐닝 신호를 발생하는 단계와, 상기 액정패널을 복수의 수평 블록으로 나누어 각 수평 블록에 상기 스캐닝 신호를 순차적으로 공급하는 단계와, 상기 스캐닝 신호에 동기되도록 상기 액정패널을 복수의 수직 블록으로 나누어 2개의 수직 블록 단위로 상기 패턴 검사신호를 공급하는 단계를 포함하며, 상기 패턴 검사 신호를 공급하는 단계는 상기 2개의 수직 블록 중 제 1 수직 블록에 복수의 제 1 데이터 커넥터 패드를 가지는 제 1 데이터 커넥터 패드부를 이용하여 상기 패턴 검사신호를 공급하고, 상기 2개의 수직 블록 중 제 2 수직 블록에 복수의 제 2 데이터 커넥터 패드를 가지는 제 2 데이터 커넥터 패드부를 이용하여 상기 패턴 검사신호와 동일한 패턴 검사신호를 공급하는 단계를 포함하며, 상기 제 1 및 제 2 데이터 커넥터 패드 각각은 하나의 검사신호 전송라인에 공통적으로 접속되는 것을 특징으로 한다.
상기 패턴 검사신호는 2개의 상기 수직 블록 단위로 공급되며, 상기 2개의 수직 블록 단위로 동일한 것을 특징으로 한다.
상기 복수의 패턴 검사신호를 발생하는 단계는 상기 액정패널의 수직 및 수평 블록 중 일부의 수직 및 수평 블록에 패턴 검사용 화이트 화상을 표기하기 위한 패턴 검사신호와, 상기 액정패널의 수직 및 수평 블록 중 나머지 수직 및 수평 블록에 패턴 검사용 블랙 화상을 표시하기 위한 패턴 검사신호를 생성하는 것을 특징으로 한다.
이하에서, 첨부된 도면 및 실시 예를 통해 본 발명의 실시 예를 구체적으로 살펴보면 다음과 같다.
도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 검사장치를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 7을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 검사장치는 액정패널이 안착되는 스테이지(150)와, 스테이지(150)에 안착된 액정패널을 복수의 수직 블록으로 나누어 2개의 수직 블록 단위로 패턴 검사신호를 공급하기 위한 데이터 프로브 유닛(160)과, 스테이지(150)에 안착된 액정패널을 복수의 수평 블록으로 나누어 각 수평 블록에 스캐닝 신호를 공급하기 위한 게이트 프로브 유닛(170)과, 데이터 프로브 유닛(160)에 패턴 검사신호를 공급함과 아울러 게이트 프로브 유닛(170)에 스캐닝 신호를 공급하는 제어부(180)를 구비한다.
스테이지(150)는 외부로부터 공급되는 액정패널을 지지함과 아울러 도시하지 않은 점등장치를 통해 액정패널의 배면에 광을 조사한다.
데이터 프로브 유닛(160)은 액정패널의 2개 단위의 수직 블록에 대응되는 복수의 데이터 커넥터 블록(162)을 포함한다. 여기서, 데이터 프로브 유닛(160)은 액정패널을 12개의 수직 블록으로 나누고, 각 데이터 커넥터 블록(62)은 2개의 수직 블록에 대응되는 것으로 가정하여 설명하기로 한다.
각 데이터 커넥터 블록(162)은 도 8에 도시된 바와 같이 제어부(180)로부터 하나의 패턴 검사신호 전송라인(182)을 통해 공급되는 패턴 검사신호를 2개의 단위의 수직 블록 중 제 1 수직 블록에 공급하기 위한 제 1 데이터 커넥터 패드부(166)와, 제 2 수직 블록에 공급하기 위한 제 2 데이터 커넥터 패드부(168)로 구성된다.
제 1 데이터 커넥터 패드부(166)는 스테이지(150)에 안착될 액정패널의 데이 터 패드부 각각에 구비된 복수의 데이터 패드와 동일한 형상을 가지는 6개의 제 1 데이터 커넥터 패드들(164)을 포함한다. 이때, 6개의 제 1 데이터 커넥터 패드들(164)은 패턴 검사신호 전송라인(182)에 공통적으로 접속된다.
또한, 제 2 데이터 커넥터 패드부(168)는 스테이지(150)에 안착될 액정패널의 데이터 패드부 각각에 구비된 복수의 데이터 패드와 동일한 형상을 가지는 6개의 제 2 데이터 커넥터 패드(165)를 포함한다. 이때, 6개의 제 2 데이터 커넥터 패드들(165)은 패턴 검사신호 전송라인(182)에 공통적으로 접속된다.
이에 따라, 각 데이터 커넥터 블록(162)은 하나의 패턴 검사신호 전송라인(182)에 공통적으로 접속되어 복수의 수직 블록 중 2개의 수직 블록의 데이터 패드부에 패턴 검사신호를 공급한다.
이러한, 데이터 프로브 유닛(160)은 도시하지 않은 구동장치에 의해 수직운동함으로써 각 데이터 커넥터 블록(162)의 제 1 및 제 2 데이터 커넥터 패드부(166, 168)를 통해 제어부(180)로부터 공급되는 패턴 검사신호를 2개 단위의 수직 블록의 각 데이터 패드부에 공급한다.
게이트 프로브 유닛(170)은 액정패널의 각 수평 블록에 대응되는 복수의 게이트 커넥터 블록(172)을 포함한다. 여기서, 게이트 프로브 유닛(170)은 액정패널을 4개의 수평 블록으로 나누고, 각 게이트 커넥터 블록(172)은 각 수평 블록에 대응되는 것으로 가정하여 설명하기로 한다.
각 게이트 커넥터 블록(172)은 스테이지(150)에 안착될 액정패널의 각 수평 블록의 게이트 패드부에 구비된 복수의 게이트 패드와 동일한 형상을 가지는 복수 의 게이트 커넥터 패드를 포함한다. 복수의 게이트 커넥터 패드는 하나의 스캐닝 신호 전송라인(184)에 공통적으로 접속되어 제어부(180)로부터의 스캐닝 신호를 공급받는다.
이러한, 게이트 프로브 유닛(170)은 도시하지 않은 구동장치에 의해 수직운동함으로써 각 게이트 커넥터 블록(172)의 각 게이트 커넥터 패드(174)를 통해 제어부(180)로부터 공급되는 스캐닝 신호를 순차적으로 스테이지(150)에 안착될 액정패널의 각 수평 블록의 각 게이트 패드부에 공급한다.
제어부(180)는 제 1 내지 제 6 패턴 검사신호를 생성하여 제 1 내지 제 6 패턴 검사신호 전송라인(182)을 통해 데이터 프로브 유닛(160)의 각 데이터 커넥터 블록(162)에 공급한다. 또한, 제어부(180)는 제 1 내지 제 4 스캐닝 신호를 순차적으로 생성하여 게이트 프로브 유닛(170)의 각 게이트 커넥터 블록(172)에 공급한다.
한편, 도 9는 도 7에 도시된 스테이지에 안착될 액정패널을 개략적으로 나타낸 평면도이다.
도 9를 참조하면, 액정패널(112)은 서로 대향하여 합착된 트랜지스터 어레이 기판 및 컬러필터 어레이 기판과, 두 어레이 기판 사이에서 셀갭을 일정하게 유지시키기 위한 스페이서와, 스페이서에 의해 마련된 액정공간에 채워진 액정을 구비한다.
트랜지스터 어레이 기판은 복수의 데이터 라인(DL)과 복수의 게이트 라인(GL)에 의해 정의되는 영역에 형성된 도시하지 않은 박막 트랜지스터와, 각 박막 트랜지스터에 접속된 액정셀을 구비한다. 박막 트랜지스터는 게이트 라인(GL)으로부터의 스캐닝 신호에 응답하여 데이터 라인(DL)으로부터의 데이터 신호를 액정셀로 공급한다. 액정셀은 액정을 사이에 두고 대면하는 공통전극과 박막 트랜지스터에 접속된 화소전극으로 구성되므로 등가적으로 액정 커패시터로 표시될 수 있다. 이러한 액정셀은 액정 커패시터에 충전된 데이터 신호를 다음 데이터 신호가 충전될 때까지 유지시키기 위하여 이전단 게이트 라인에 접속된 스토리지 커패시터를 포함한다.
이러한, 액정패널(112)은 해상도에 따라 복수의 수직 블록과 복수의 수평 블록으로 나누어진다.
각 수직 블록의 일측에는 모듈 공정을 통해 도시하지 않은 데이터 드라이버 집적회로와 전기적으로 접속되는 복수의 데이터 패드를 포함하는 데이터 패드부(104)가 형성된다. 또한, 각 수평 블록의 일측에는 모듈 공정을 통해 도시하지 않은 게이트 드라이버 집적회로와 전기적으로 접속되는 복수의 게이트 패드를 포함하는 게이트 패드부(106)가 형성된다. 여기서, 액정패널(112)은 12개의 수직 블록으로 나누어짐과 아울러 4개의 수평 블록으로 나누어진 것으로 가정하기로 한다.
각 수직 블록의 데이터 패드부(104)에는 도 10a에 도시된 바와 같이 6개의 더미 데이터 공통라인(105)을 통해 복수의 데이터 패드(101)에 전기적으로 접속되는 6개의 검사용 데이터 패드(103)를 가지는 검사용 데이터 패드부(102)가 형성된다.
각 검사용 데이터 패드(103)는 하나의 더미 데이터 공통라인(105)에 전기적 으로 접속되어 각 데이터 패드부(104)의 측면에 형성된다. 이때, 각 검사용 데이터 패드(103)는 복수의 데이터 패드(101)보다 넓은 폭으로 형성되며 데이터 프로브 유닛의 데이터 커넥터 패드와 동일한 형상으로 형성된다.
복수의 데이터 패드(101)는 6개 단위로 각 더미 데이터 공통라인(105)에 공통적으로 접속된다. 이때, 6개 단위의 데이터 패드(101)는 각 더미 데이터 공통라인(105)에 수직 교차하도록 연장되어 도시하지 않은 비아 홀을 통해 각 더미 데이터 공통라인(105)에 순차적으로 접속된다.
한편, 복수의 검사용 데이터 패드부(102)는 도 10b에 도시된 바와 같이 데이터 패드부(104)의 양측면에 동일한 형태로 형성될 수 있다. 이때, 데이터 커넥터 블록 역시 데이터 패드부(104)의 양측면에 동일한 형태로 형성된 검사용 데이터 패드부(102a, 102b)와 동일한 형태로 형성되어야 한다.
각 수평 블록의 게이트 패드부(106)에는 도 11a에 도시된 바와 같이 6개의 더미 게이트 공통라인(108)을 통해 복수의 게이트 패드(110)에 전기적으로 접속되는 6개의 검사용 게이트 패드(107)를 가지는 검사용 게이트 패드부(109)가 형성된다.
각 검사용 게이트 패드부(109)는 하나의 더미 게이트 공통라인(108)에 전기적으로 접속되어 각 게이트 패드부(106)의 일측면에 형성된다. 이때, 각 검사용 게이트 패드(107)는 복수의 게이트 패드(110)보다 넓은 폭으로 형성되며 게이트 프로브 유닛의 게이트 커넥터 패드에 동일한 형상으로 형성된다.
복수의 게이트 패드(110)는 6개 단위로 각 더미 게이트 공통라인(108)에 공 통적으로 접속된다. 이때, 6개 단위의 게이트 패드(110)는 각 더미 게이트 공통라인(108)에 수직 교차하도록 연장되어 도시하지 않은 비아 홀을 통해 각 더미 게이트 공통라인(108)에 순차적으로 접속된다.
한편, 복수의 검사용 게이트 패드부(109)는 도 11b에 도시된 바와 같이 게이트 패드부(106)의 양측면에 동일한 형태로 형성될 수 있다. 이때, 게이트 커넥터 블록 역시 게이트 패드부(106)의 양측면에 동일한 형태로 형성된 검사용 게이트 패드부(109a, 109b)와 동일한 형태로 형성되어야 한다.
도 12는 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 검사장치 및 검사방법을 나타낸 도면이다.
도 12를 도 8 내지 도 11와 결부하여 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 검사장치 및 검사방법을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 도 9에 도시된 바와 같이 12개의 수직 블록 및 4개의 수평 블록으로 나누어진 액정패널(112)을 오토 프로브 검사장치의 스테이지(150)에 로딩시켜 안착시킨다.
그런 다음, 데이터 프로브 유닛(160)을 스테이지(150) 쪽으로 하강시켜 스테이지(150)에 안착된 액정패널(112)의 각 데이터 검사용 패드(103)와 각 데이터 커넥터 블록(162)의 각 데이터 커넥터 패드(164, 165)를 정렬한 후 각 데이터 검사용 패드(103)와 각 데이터 커넥터 패드(164, 165)를 전기적으로 접속시킨다. 이에 따라, 각 데이터 커넥터 블록(162)은 액정패널(112)의 2개 단위로 수직 블록에 형성된 데이터 검사용 패드(103)에 전기적으로 접속된다. 즉, 각 데이터 커넥터 블록 (162)의 제 1 데이터 커넥터 패드부(166)는 2개 단위의 수직 블록 중 제 1 수직 블록의 데이터 검사용 패드(103)에 전기적으로 접속되고, 제 2 데이터 커넥터 패드부(168)는 2개 단위의 수직 블록 중 제 2 수직 블록의 데이터 검사용 패드(103)에 전기적으로 접속된다.
이와 동시에 게이트 프로브 유닛(170)을 스테이지(150) 쪽으로 하강시켜 스테이지(150)에 안착된 액정패널(112)의 각 검사용 게이트 패드(107)와 각 게이트 커넥터 블록(172)의 각 게이트 커넥터 패드를 정렬한 후 각 게이트 검사용 패드(107)와 각 게이트 커넥터 패드를 전기적으로 접속시킨다. 이에 따라, 각 게이트 커넥터 블록(172)의 각 게이트 커넥터 패드는 액정패널(112)의 각 수평 블록에 형성된 게이트 검사용 패드(107)에 전기적으로 접속된다.
이어서, 제어부(180)는 복수의 스캐닝 신호 전송라인(184)을 통해 각 게이트 커넥터 블록(172)에 스캐닝 신호를 공급함과 아울러 복수의 패턴 검사신호 전송라인(182)을 통해 각 데이터 커넥터 블록(162)에 패턴 검사신호를 공급한다. 이때, 제어부(180)는 도 13에 도시된 바와 같은 제 1 내지 제 4 스캐닝 신호(GB1 내지 GB4) 각각을 게이트 커넥터 블록(172)에 공급하고, 제 1 내지 제 6 패턴 검사신호(DB1 내지 DB6)를 각 데이터 커넥터 블록(162)에 공급한다.
이에 따라, 액정패널(112) 상에는 도 14에 도시된 바와 같이 제 1 내지 제 4 스캐닝 신호(GB1 내지 GB4)에 따라 제 1 내지 제 6 패턴 검사신호(DB1 내지 DB6)에 대응되는 패턴 검사용 화상이 표시된다.
구체적으로, 1 프레임의 제 1 기간에서는 제 1 게이트 커넥터 블록(172)으로 부터 제 1 스캐닝 신호(GB1)가 제 1 수평 블록의 검사용 게이트 패드(107)에 공급됨과 동기되도록 제 1 내지 제 6 데이터 커넥터 블록(162)에 화이트 신호(W)에 대응되는 제 1 내지 제 6 패턴 검사신호(DB1 내지 DB6)가 2개 단위의 수직 블록의 각 검사용 데이터 패드(103)에 공급된다. 이때, 2개 단위의 수직 블록의 데이터 라인들에는 동일한 패턴 검사신호가 공급된다. 이에 따라, 제 1 프레임의 제 1 기간에서는 제 1 스캐닝 신호(GB1)가 공급되는 액정패널(112)의 제 1 수평 블록에 제 1 내지 제 6 패턴 검사신호(DB1 내지 DB6)에 대응되는 패턴 검사용 화이트 화상(W)이 표시된다.
그리고, 1 프레임의 제 2 기간에서는 제 2 게이트 커넥터 블록(172)으로부터 제 2 스캐닝 신호(GB2)가 제 2 수평 블록의 검사용 게이트 패드(107)에 공급된다. 이와 동기되도록 제 1 및 제 6 데이터 커넥터 블록(162)에 화이트 신호(W)에 대응되는 제 1 및 제 6 패턴 검사신호(DB1, DB6)가 해당 수직 블록의 검사용 데이터 패드(103)에 공급됨과 동시에 제 2 내지 제 5 데이터 커넥터 블록(162)에 블랙 신호(B)에 대응되는 제 2 내지 제 5 패턴 검사신호(DB2 내지 DB5)가 해당 수직 블록의 검사용 데이터 패드(103)에 공급된다. 이에 따라, 제 1 프레임의 제 2 기간에서는 제 2 스캐닝 신호(GB2)가 공급되는 액정패널(112)의 제 2 수평 블록 중 제 1, 제 2, 제 11 및 제 12 수직 블록에 제 1 및 제 6 패턴 검사신호(DB1, DB6)에 대응되는 패턴 검사용 화이트 화상(W)이 표시되고, 그 외의 수직 블록에 제 2 내지 제 5 패턴 검사신호(DB2 내지 DB5)에 대응되는 패턴 검사용 블랙 화상(B)이 표시된다.
또한, 1 프레임의 제 3 기간에서는 제 3 게이트 커넥터 블록(172)으로부터 제 3 스캐닝 신호(GB3)가 제 3 수평 블록의 검사용 게이트 패드(107)에 공급된다. 이와 동기되도록 제 1 및 제 6 데이터 커넥터 블록(162)에 화이트 신호(W)에 대응되는 제 1 및 제 6 패턴 검사신호(DB1, DB6)가 해당 수직 블록의 검사용 데이터 패드(103)에 공급됨과 동시에 제 2 내지 제 5 데이터 커넥터 블록(162)에 블랙 신호(B)에 대응되는 제 2 내지 제 5 패턴 검사신호(DB2 내지 DB5)가 해당 수직 블록의 검사용 데이터 패드(103)에 공급된다. 이에 따라, 제 1 프레임의 제 2 기간에서는 제 2 스캐닝 신호(GB2)가 공급되는 액정패널(112)의 제 2 수평 블록 중 제 1, 제 2, 제 11 및 제 12 수직 블록에 제 1 및 제 6 패턴 검사신호(DB1, DB6)에 대응되는 패턴 검사용 화이트 화상(W)이 표시되고, 그 외의 수직 블록에 제 2 내지 제 5 패턴 검사신호(DB2 내지 DB5)에 대응되는 패턴 검사용 블랙 화상(B)이 표시된다.
마지막으로, 1 프레임의 제 4 기간에서는 제 4 게이트 커넥터 블록(172)으로부터 제 4 스캐닝 신호(GB4)가 제 4 수평 블록의 검사용 게이트 패드(107)에 공급됨과 동기되도록 제 1 내지 제 6 데이터 커넥터 블록(162)에 화이트 신호(W)에 대응되는 제 1 내지 제 6 패턴 검사신호(DB1 내지 DB6)가 2개 단위의 수직 블록의 각 검사용 데이터 패드(103)에 공급된다. 이때, 2개 단위의 수직 블록의 데이터 라인들에는 동일한 패턴 검사신호가 공급된다. 이에 따라, 제 1 프레임의 제 4 기간에서는 제 4 스캐닝 신호(GB4)가 공급되는 액정패널(112)의 제 4 수평 블록에 제 1 내지 제 6 패턴 검사신호(DB1 내지 DB6)에 대응되는 패턴 검사용 화이트 화상(W)이 표시된다.
따라서, 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 검사장치 및 검사방법은 오토 프로브 검사장치로부터의 패턴 검사신호에 대응되는 화상을 액정패널(112)에 표시함으로써 액정패널(112)의 단선 검사와 점 결함 및 라인 결함 등의 존재 여부를 검사하게 된다.
한편, 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 검사장치 및 검사방법은 도 15에 도시된 바와 같이 액정패널의 제 2 및 3 수평 블록 중 제 3 내지 제 10 수직 블록에 패턴 검사용 화이트 화상(W)을 표시하고, 나머지 수평 및 수직 블록에 패턴 검사용 블랙 화상(B)을 표시할 수 있도록 제 1 내지 제 6 패턴 검사신호(DB1 내지 DB6)를 생성할 수 있다.
다른 한편, 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 검사장치 및 검사방법은 도 16에 도시된 바와 같이 액정패널의 제 1 내지 제 2 수직 블록에 패턴 검사용 블랙 화상(B)을 표시하고, 나머지 수평 및 수직 블록에 패턴 검사용 화이트 화상(W)을 표시할 수 있도록 제 1 내지 제 6 패턴 검사신호(DB1 내지 DB6)를 생성할 수 있다.
다른 한편, 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 검사장치 및 검사방법은 도 17에 도시된 바와 같이 액정패널의 제 1 내지 제 2 수직 블록에 패턴 검사용 화이트 화상(W)을 표시하고, 나머지 수평 및 수직 블록에 패턴 검사용 블랙 화상(B)을 표시할 수 있도록 제 1 내지 제 6 패턴 검사신호(DB1 내지 DB6)를 생성할 수 있다.
또 다른 한편, 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 검사장치 및 검사방법은 액정패널을 복수의 수직 블록으로 나누고 적어도 2개 단위의 수직 블록에 공통적인 패턴 검사신호를 인가할 수 있다.
이와 같은, 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 검사장치 및 검사방법은 액정패널을 복수의 수직 블록으로 나누고 적어도 2개 단위의 수직 블록에 공통적인 패턴 검사신호를 인가함으로써 데이터 프로브 유닛의 데이터 커넥터 패드 수, 즉 채널 수를 반감시켜 오토 프로브 검사장치의 비용이 절감할 수 있다.
또한, 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 검사장치 및 검사방법은 액정패널의 각 패드부 측면에 별도의 검사용 패드부를 형성함으로써 액정패널의 해상도 증가로 인하여 데이터 패드간의 피치가 미세화되더라도 데이터 패드와 데이터 커넥터 패드 간의 얼라인 미스를 방지할 수 있다.
한편, 이상에서 설명한 본 발명은 상술한 실시 예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 종래의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
상기와 같은 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 검사장치 및 검사방법은 액정패널을 복수의 수직 블록으로 나누어 적어도 2개의 수직 블록 단위로 패턴 검사신호를 공급함으로써 데이터 프로브 유닛의 데이터 커넥터 패드 수, 즉 채널 수를 반감시켜 오토 프로브 검사장치의 비용이 절감할 수 있다.

Claims (10)

  1. 액정패널이 안착되는 스테이지와,
    상기 액정패널을 복수의 수직 블록으로 나누어 2개의 수직 블록 단위로 패턴 검사신호를 공급하기 위한 복수의 데이터 커넥터 블록을 가지는 데이터 프로브 유닛과,
    상기 액정패널을 복수의 수평 블록으로 나누어 각 수평 블록에 스캐닝 신호를 공급하기 위한 게이트 프로브 유닛과,
    상기 데이터 프로브 유닛에 패턴 검사신호를 공급함과 아울러 상기 게이트 프로브 유닛에 스캐닝 신호를 공급하는 제어부를 구비하며,
    상기 각 데이터 커넥터 블록은
    상기 2개의 수직 블록 중 제 1 수직 블록에 상기 패턴 검사신호를 공급하기 위한 복수의 제 1 데이터 커넥터 패드를 가지는 제 1 데이터 커넥터 패드부와,
    상기 2개의 수직 블록 중 제 2 수직 블록에 상기 패턴 검사신호와 동일한 패턴 검사신호를 공급하기 위한 복수의 제 2 데이터 커넥터 패드를 가지는 제 2 데이터 커넥터 패드부를 구비하며,
    상기 제 1 및 제 2 데이터 커넥터 패드 각각은 하나의 검사신호 전송라인에 공통적으로 접속되는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 검사장치.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어부는 상기 액정패널의 수직 및 수평 블록 중 일부의 수직 및 수평 블록에 패턴 검사용 화이트 화상으로 표시하고, 나머지 수직 및 수평 블록에 패턴 검사용 블랙 화상을 표시하기 위한 복수의 패턴 검사신호를 생성하여 복수의 검사신호 전송라인을 통해 상기 각 데이터 커넥터 블록에 공급하는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 검사장치.
  5. 삭제
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 액정패널은,
    상기 각 수직 블록에 형성된 복수의 데이터 패드와,
    상기 각 수직 블록의 적어도 일측에 형성된 복수의 검사용 데이터 패드와,
    N개(단, N은 양의 정수) 단위의 데이터 패드를 상기 각 검사용 데이터 패드에 공통적으로 접속시키는 더미 데이터 공통라인과,
    상기 각 수평 블록에 형성된 복수의 게이트 패드와,
    상기 각 수평 블록의 적어도 일측에 형성된 복수의 검사용 게이트 패드와,
    N개 단위의 게이트 패드를 상기 각 검사용 게이트 패드에 공통적으로 접속시키는 더미 게이트 공통라인을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 검사장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 데이터 커넥터 패드는 상기 복수의 검사용 데이터 패드와 동일한 형상 및 개수를 가지는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 검사장치.
  8. 스테이지에 액정패널이 안착시키는 단계와,
    복수의 패턴 검사신호 및 스캐닝 신호를 발생하는 단계와,
    상기 액정패널을 복수의 수평 블록으로 나누어 각 수평 블록에 상기 스캐닝 신호를 순차적으로 공급하는 단계와,
    상기 스캐닝 신호에 동기되도록 상기 액정패널을 복수의 수직 블록으로 나누어 2개의 수직 블록 단위로 상기 패턴 검사신호를 공급하는 단계를 포함하며,
    상기 패턴 검사 신호를 공급하는 단계는
    상기 2개의 수직 블록 중 제 1 수직 블록에 복수의 제 1 데이터 커넥터 패드를 가지는 제 1 데이터 커넥터 패드부를 이용하여 상기 패턴 검사신호를 공급하고,
    상기 2개의 수직 블록 중 제 2 수직 블록에 복수의 제 2 데이터 커넥터 패드를 가지는 제 2 데이터 커넥터 패드부를 이용하여 상기 패턴 검사신호와 동일한 패턴 검사신호를 공급하는 단계를 포함하며,
    상기 제 1 및 제 2 데이터 커넥터 패드 각각은 하나의 검사신호 전송라인에 공통적으로 접속되는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 검사방법.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 패턴 검사신호는 2개의 상기 수직 블록 단위로 공급되며, 상기 2개의 수직 블록 단위로 동일한 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 검사방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 복수의 패턴 검사신호를 발생하는 단계는,
    상기 액정패널의 수직 및 수평 블록 중 일부의 수직 및 수평 블록에 패턴 검사용 화이트 화상을 표기하기 위한 패턴 검사신호와,
    상기 액정패널의 수직 및 수평 블록 중 나머지 수직 및 수평 블록에 패턴 검사용 블랙 화상을 표시하기 위한 패턴 검사신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 검사방법.
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