KR101121982B1 - 3차원 형상 측정장치 - Google Patents
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Abstract
Description
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- 격자 패턴광의 반사 이미지를 촬영하여 측정 대상물의 3차원 형상을 측정하는 3차원 형상 측정장치에 있어서,광을 발생시키는 제1 광원유닛 및 상기 제1 광원유닛으로부터 발생된 광을 제1 격자무늬를 갖는 제1 격자 패턴광으로 변경시키는 제1 격자유닛을 포함하며, 상기 제1 격자 패턴광을 제1 방향으로 상기 측정 대상물에 조사하는 제1 조명부; 및상기 제1 격자유닛을 상기 제1 격자무늬의 배치방향 및 상기 제1 격자무늬의 연장방향과 각각 소정의 경사각만큼 경사진 방향으로 이송시키는 격자이송유닛을 포함하는 3차원 형상 측정장치.
- 제1항에 있어서,상기 격자이송유닛은 상기 제1 격자유닛을 상기 제1 격자무늬의 배치방향 및 상기 제1 격자무늬의 연장방향 중 적어도 하나에 대하여 10도 내지 80도 경사진 방향으로 이송시키는 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정장치.
- 제1항에 있어서,상기 제1 격자유닛은 상기 제1 격자무늬의 배치방향 및 상기 제1 격자무늬의 연장방향을 조절하여 상기 경사각을 조절하는 경사각조절부를 포함하는 것을 특징 으로 하는 3차원 형상 측정장치.
- 제1항에 있어서,상기 제1 격자유닛은 상기 경사각을 조절할 수 있도록 교체 가능한 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정장치.
- 제1항에 있어서,광을 발생시키는 제2 광원유닛 및 상기 제2 광원유닛으로부터 발생된 광을 제2 격자무늬를 갖는 제2 격자 패턴광으로 변경시키는 제2 격자유닛을 포함하며, 상기 제2 격자 패턴광을 상기 제1 방향과 다른 제2 방향으로 상기 측정 대상물에 조사하는 제2 조명부를 더 포함하고,상기 격자이송유닛은 상기 제1 격자유닛 및 상기 제2 격자유닛을 동시에 이송시키되, 상기 제2 격자무늬의 배치방향 및 상기 제2 격자무늬의 연장방향과 각각 경사진 방향으로 이송시키는 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정장치.
- 제5항에 있어서,상기 제1 격자유닛 및 상기 제2 격자유닛은 상기 측정 대상물을 사이에 두고 양측에 각각 배치되는 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정장치.
- 제5항에 있어서,상기 제1 격자유닛의 제1 격자무늬 및 상기 제2 격자유닛의 제2 격자무늬는 평면적으로 관측할 때 서로 평행한 연장방향 및 서로 평행한 배치방향을 갖는 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정장치.
- 제5항에 있어서,상기 제1 격자유닛의 제1 격자무늬 및 상기 제2 격자유닛의 제2 격자무늬는 평면적으로 관측할 때 상기 측정 대상물에 대하여 서로 대칭인 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정장치.
- 제5항에 있어서,상기 제1 격자 패턴광 및 상기 제2 격자 패턴광은 광 경로 변경수단을 거치지 않고 상기 측정 대상물에 직접 조사되는 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정장치.
- 제5항에 있어서,상기 격자이송유닛은 다면체의 모서리를 따라 이동하며,상기 제1 격자유닛 및 상기 제2 격자유닛은 상기 모서리를 정의하는 인접한 두 경사면 상에 각각 배치되어서 상기 두 경사면 상에서 각각 이동하는 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정장치.
- 측정 대상물에 제1 방향 및 제2 방향으로 각각 제1 격자무늬의 제1 격자 패턴광 및 제2 격자무늬의 제2 격자 패턴광을 조사하는 제1 조명부 및 제2 조명부를 포함하고, 상기 제1 및 제2 격자 패턴광들의 반사 이미지를 촬영하여 상기 측정 대상물의 3차원 형상을 측정하는 3차원 형상 측정장치에 있어서,상기 제1 조명부는 광을 제공받아서 상기 제1 격자 패턴광으로 변경시키는 제1 격자유닛을 포함하고, 상기 제2 조명부는 광을 제공받아서 상기 제2 격자 패턴광으로 변경시키는 제2 격자유닛을 포함하며,상기 3차원 형상 측정장치는 상기 제1 격자유닛 및 상기 제2 격자유닛과 연결되어 상기 제1 및 제2 격자유닛들을 서로 동일한 방향으로 동시에 이송시키는 격자이송유닛을 포함하되,상기 제1 격자유닛의 이송방향은 상기 제1 격자무늬의 배치방향 및 상기 제1 격자무늬의 연장방향과 각각 경사지고, 상기 제2 격자유닛의 이송방향은 상기 제2 격자무늬의 배치방향 및 상기 제2 격자무늬의 연장방향과 각각 경사진 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정장치.
- 측정 대상물에 N개의 방향으로 격자 패턴광들을 조사하는 N개의 격자유닛들을 포함하고, 상기 격자 패턴광들의 반사 이미지를 촬영하여 상기 측정 대상물의 3차원 형상을 측정하는 3차원 형상 측정장치에 있어서(N은 3 이상의 자연수),제1 격자 패턴광을 발생시키고, 제1 격자무늬를 갖는 제1 격자유닛;제2 격자 패턴광을 발생시키고, 제2 격자무늬를 갖는 제2 격자유닛; 및상기 제1 및 제2 격자유닛들을 동시에 이송시키는 격자이송유닛을 포함하며,상기 N개의 격자유닛들은 N각뿔을 정의하는 N개의 경사면들 상에 각각 대응하여 위치하고, 상기 격자이송유닛은 상기 N각뿔의 어느 한 모서리를 따라서 이동하며, 상기 제1 및 제2 격자유닛들은 상기 N개의 격자유닛들 중 상기 모서리를 정의하는 서로 인접한 제1 경사면 및 제2 경사면 상에 각각 대응하여 배치되어서 상기 격자이송유닛의 이동에 따라 상기 제1 및 제2 경사면들 상에서 각각 이동하고,상기 제1 격자유닛의 이송방향은 상기 제1 격자무늬의 배치방향 및 상기 제1 격자무늬의 연장방향과 각각 경사지고, 상기 제2 격자유닛의 이송방향은 상기 제2 격자무늬의 배치방향 및 상기 제2 격자무늬의 연장방향과 각각 경사진 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정장치.
- 삭제
- 제12항에 있어서,상기 제1 및 제2 격자무늬들의 배치방향 및 연장방향은 조절 가능하거나, 상기 제1 및 제2 격자유닛들은 교체 가능한 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정장치.
- 제12항에 있어서,상기 제1 격자 패턴광 및 상기 제2 격자 패턴광은 광 경로 변경수단을 거치지 않고 상기 측정 대상물에 직접 조사되는 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정장치.
- 제12항에 있어서,상기 N은 N=2K로 표현되며(K는 2 이상의 자연수),상기 3차원 형상 측정장치는 각각 인접한 2개의 격자유닛들 사이에 배치되어서 상기 인접한 2개의 격자유닛들을 이송하는 K개의 격자이송유닛들을 포함하며,상기 K개의 격자이송유닛들은 상기 N각뿔의 N개의 모서리들에 순차적으로 하나씩 걸러서 배치된 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정장치.
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090060865A KR101121982B1 (ko) | 2009-07-03 | 2009-07-03 | 3차원 형상 측정장치 |
DE102010030833.1A DE102010030833B4 (de) | 2009-07-03 | 2010-07-01 | Vorrichtung zur Messung einer dreidimensionalen Form |
JP2010151199A JP5441840B2 (ja) | 2009-07-03 | 2010-07-01 | 3次元形状測定装置 |
US12/828,615 US8754936B2 (en) | 2009-07-03 | 2010-07-01 | Three dimensional shape measurement apparatus |
CN2012102263765A CN102840840A (zh) | 2009-07-03 | 2010-07-05 | 三维形状测量设备 |
CN201010224594.6A CN101943570B (zh) | 2009-07-03 | 2010-07-05 | 三维形状测量设备 |
JP2012164066A JP5887225B2 (ja) | 2009-07-03 | 2012-07-24 | 3次元形状測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090060865A KR101121982B1 (ko) | 2009-07-03 | 2009-07-03 | 3차원 형상 측정장치 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020110056863A Division KR20110085953A (ko) | 2011-06-13 | 2011-06-13 | 3차원 형상 측정장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20110003208A KR20110003208A (ko) | 2011-01-11 |
KR101121982B1 true KR101121982B1 (ko) | 2012-03-09 |
Family
ID=43611224
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020090060865A KR101121982B1 (ko) | 2009-07-03 | 2009-07-03 | 3차원 형상 측정장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101121982B1 (ko) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
PT3411695T (pt) * | 2016-02-01 | 2022-03-03 | Kla Tencor Corp | Método e sistema para medição topográfica tridimensional ótica |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100615576B1 (ko) | 2003-02-06 | 2006-08-25 | 주식회사 고영테크놀러지 | 3차원형상 측정장치 |
-
2009
- 2009-07-03 KR KR1020090060865A patent/KR101121982B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100615576B1 (ko) | 2003-02-06 | 2006-08-25 | 주식회사 고영테크놀러지 | 3차원형상 측정장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20110003208A (ko) | 2011-01-11 |
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