KR101095902B1 - 켈빈 테스트용 소켓 - Google Patents
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Abstract
본 발명에 따른 켈빈 테스트용 소켓은, 리드선 각각에 대응하는 위치에 한 쌍의 핀 형상으로 수직 배열되는 복수의 프로브와, 프로브의 하방에 형성되며 켈빈 테스트 회로가 인쇄되는 인쇄 회로 기판과, 일단이 프로브와 접촉되고 타단이 인쇄 회로 기판과 연결되며 일단과 타단 사이에 수평으로 절곡되는 수평부를 갖는 복수의 클립과, 프로브를 수용하는 프로브 하우징부와 클립을 수용하고 인쇄 회로 기판과 체결되는 클립 하우징부를 포함하며 프로브 하우징부와 클립 하우징부가 서로 탈착되는 소켓 하우징을 포함한다.
본 발명의 켈빈 테스트용 소켓은 대전류 등에 의해 소켓의 일부가 손상되었을 때, 이를 손쉽게 교체할 수 있는 효과가 있다.
Description
도 2a는 종래의 켈빈 테스트용 소켓의 결합 사시도이다.
도 2b는 종래의 켈빈 테스트용 소켓의 분해 사시도이다.
도 3a는 본 발명의 일실시예에 따른 켈빈 테스트용 소켓의 결합 사시도이다.
도 3b는 본 발명의 일실시예에 따른 켈빈 테스트용 소켓의 분해 사시도이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 프로브와 클립을 설명하기 위한 도면이다.
도 5a는 본 발명의 일실시예에 따른 복수의 프로브 및 클립이 접촉된 상태를 도시한 사시도이다.
도 5b는 도 5a의 화살표 A 방향에서 본 측면도이다.
도 6a 및 도 6b는 본 발명의 일실시예에 따른 켈빈 테스트용 소켓의 부품 교체를 설명하기 위한 도면이다.
220, 320 : 인쇄 회로 기판
221, 321 : 리셉터클
230, 340 : 소켓 하우징
310, 310a, 310b : 프로브
311 : 플런저
312 : 배럴
313 : 스프링
314 : 접촉핀
330, 330a, 330b : 클립, 제1 클립(군), 제2 클립(군)
331 : 접촉부
332 : 연결부
333 : 수평부
334 : 돌출부
341 : 프로브 하우징부
341a : 프로브 하우징 본체
341b : 프로브 베이스 커버
341c : 프로브 수용홀
341d, 341e : 볼트
342 : 클립 하우징부
342a : 클립 하우징 본체
342b : 제1 클립 베이스 커버
342c : 제2 클립 베이스 커버
342d : 가이드바
342e : 가이드 블록
Claims (5)
- 복수의 집적 회로 리드선 각각을 켈빈 테스트 장치와 전기적으로 연결시켜주는 켈빈 테스트용 소켓에 있어서,
상기 리드선 각각에 대응하는 위치에 한 쌍의 핀 형상으로 수직 배열되는 복수의 프로브;
상기 프로브의 하방에 형성되며, 켈빈 테스트 회로가 인쇄되는 인쇄 회로 기판;
일단이 상기 프로브와 접촉되고 타단이 상기 인쇄 회로 기판과 연결되며, 일단과 타단 사이에 수평으로 절곡되는 수평부를 갖는 복수의 클립; 및
상기 프로브를 수용하는 프로브 하우징부와, 상기 클립을 수용하고 상기 인쇄 회로 기판과 체결되는 클립 하우징부를 포함하며, 상기 프로브 하우징부와 상기 클립 하우징부가 서로 탈착되는 소켓 하우징;을 포함하며,
상기 클립은 상기 한 쌍의 프로브 중 어느 일방과 각각 접촉되는 제1 클립군과, 타방과 각각 접촉되는 제2 클립군으로 이루어지며,
상기 클립 하우징부는, 상부에 제1 클립군을 수용하고 하부에 제2 클립군을 수용하는 판상의 클립 하우징 본체와, 상기 클립 하우징 본체의 상측에 체결되어 상기 제1 클립군의 이탈을 방지하는 제1 클립 베이스 커버와, 상기 클립 하우징 본체의 하측에 체결되어 상기 제2 클립군의 이탈을 방지하는 제2 클립 베이스 커버를 포함하며,
상기 제1 클립군 또는 상기 제2 클립군은 수평부에서 상기 클립 하우징 본체 방향으로 돌출되는 돌출부가 형성되며, 상기 클립 하우징 본체에는 상기 돌출부가 삽입되는 클립 고정홀이 형성되는 것을 특징으로 하는 켈빈 테스트용 소켓. - 제1항에 있어서,
상기 프로브 하우징부는, 일단에 프로브 수용홀이 형성된 판상의 프로브 하우징 본체와, 상기 프로브 수용 홀의 하측에 체결되어 상기 프로브의 이탈을 방지하는 프로브 베이스 커버를 포함하는 것을 특징으로 하는 켈빈 테스트용 소켓. - 삭제
- 삭제
- 복수의 집적 회로 리드선 각각을 켈빈 테스트 장치와 전기적으로 연결시켜주는 켈빈 테스트용 소켓에 있어서,
상기 리드선 각각에 대응하는 위치에 한 쌍의 핀 형상으로 수직 배열되는 복수의 프로브;
상기 프로브의 하방에 형성되며, 켈빈 테스트 회로가 인쇄되는 인쇄 회로 기판;
일단이 상기 프로브와 접촉되고 타단이 상기 인쇄 회로 기판과 연결되며, 일단과 타단 사이에 수평으로 절곡되는 수평부를 갖는 복수의 클립; 및
상기 프로브를 수용하는 프로브 하우징부와, 상기 클립을 수용하고 상기 인쇄 회로 기판과 체결되는 클립 하우징부를 포함하며, 상기 프로브 하우징부와 상기 클립 하우징부가 서로 탈착되는 소켓 하우징;을 포함하며,
상기 클립은 상기 한 쌍의 프로브 중 어느 일방과 각각 접촉되는 제1 클립군과, 타방과 각각 접촉되는 제2 클립군으로 이루어지며,
상기 클립 하우징부는, 상부에 제1 클립군을 수용하고 하부에 제2 클립군을 수용하는 판상의 클립 하우징 본체와, 상기 클립 하우징 본체의 상측에 체결되어 상기 제1 클립군의 이탈을 방지하는 제1 클립 베이스 커버와, 상기 클립 하우징 본체의 하측에 체결되어 상기 제2 클립군의 이탈을 방지하는 제2 클립 베이스 커버를 포함하며,
상기 클립 하우징부는, 상기 인쇄 회로 기판과 간격을 가지고 체결시키는 가이드바와 가이드 블록을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 켈빈 테스트용 소켓.
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