KR101031634B1 - The Probe Pin and The Mathode - Google Patents

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KR101031634B1 KR1020080054433A KR20080054433A KR101031634B1 KR 101031634 B1 KR101031634 B1 KR 101031634B1 KR 1020080054433 A KR1020080054433 A KR 1020080054433A KR 20080054433 A KR20080054433 A KR 20080054433A KR 101031634 B1 KR101031634 B1 KR 101031634B1
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Abstract

본 발명은 전기신호의 전달경로를 동일 임피던스를 유지하면서 전달할 수 있도록 하여 안정된 전기적 신호를 전달할 수 있도록 되어 있고, 외부연결단자와의 접촉시 탄성적으로 가압력을 흡수제거하여 손상을 받지 않고, 특히 생산이 간편하여 단시간 내에 다량으로 생산할 수 있도록 하여 생산성을 향상시킬 수 있도록 부연결단자가 접촉하도록 상부에 마련되는 상부접촉부(2)와 하부에 마련되는 하부접촉부(3)가 탄성적으로 결합되는 통상의 프로브핀에 있어서; 상기한 상부접촉부(2)와 하부접촉부(3)의 사이에는 코일형상의 탄성부(4)가 구비되며 상기 상부접촉부(2)와 하부접촉부(3)가 일체로 형성되며, 판상의 가공판(50)을 상부접촉부(2) 및 하부접촉부(3)를 구성하는 한 쌍의 판상의 접촉편(51)과 상기 한 쌍의 접촉편(51)의 사이를 지그재그 형태로 연결하는 탄성편(52)으로 재단하는 재단단계와; 상기 접촉편(51)을 원통형으로 성형하고, 상기한 탄성편(52) 중에 상측부위와 그 하측부위를 서로 대향하는 방향으로 당기어 펴지도록 하여 원형의 코일 형태로 성형하는 성형단계로 이루어진 제조방법을 통해 제조되는 프로브핀을 제공한다.According to the present invention, the transmission path of the electrical signal can be transmitted while maintaining the same impedance, so that a stable electrical signal can be transmitted, and elastically absorbs and removes the pressing force upon contact with the external connection terminal. Conventional probe in which the upper contact portion 2 provided on the upper portion and the lower contact portion 3 provided on the lower portion are elastically coupled so that the secondary connection terminals can be contacted so that productivity can be increased in a short time by increasing the productivity. For pins; A coil-shaped elastic portion 4 is provided between the upper contact portion 2 and the lower contact portion 3, and the upper contact portion 2 and the lower contact portion 3 are integrally formed, and a plate-shaped processing plate ( The elastic piece 52 which connects 50 to the pair of plate-shaped contact pieces 51 which comprise the upper contact part 2 and the lower contact part 3 and the pair of contact pieces 51 in a zigzag form. Foundation stage for cutting with; The manufacturing method comprising a molding step of molding the contact piece 51 into a cylindrical shape, the upper part and the lower part of the elastic piece 52 to be pulled out in a direction facing each other to form a circular coil shape. It provides a probe pin prepared through.

프로브핀, 반도체, 반도체칩, 반도체칩테스트, 반도체칩패키지. Probe pin, semiconductor, semiconductor chip, semiconductor chip test, semiconductor chip package.

Description

프로브핀 및 그 제조방법{The Probe Pin and The Mathode}Probe Pin and The Manufacturing Method

본 발명은 프로브핀 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 소정거리로 분리된 외부연결단자들 사이의 전기신호를 연결하기 위한 프로브핀으로 전기신호의 전달경로를 동일 임피던스를 유지하면서 전달할 수 있도록 하여 안정된 전기적 신호를 전달할 수 있도록 되어 있고, 외부연결단자와의 접촉시 탄성적으로 가압력을 흡수제거하여 손상을 받지 않고, 특히 생산이 간편하여 단시간 내에 다량으로 생산할 수 있도록 하여 생산성을 향상시킬 수 있도록 된 프로브핀 및 그 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a probe pin and a method of manufacturing the same, and more particularly, to a probe pin for connecting an electrical signal between external connection terminals separated by a predetermined distance, the transmission path of the electrical signal can be transmitted while maintaining the same impedance. It is designed to transmit stable electric signal, and it does not damage by elastically absorbing and removing the pressing force when it is in contact with the external connection terminal.In particular, it is easy to produce so that a large amount can be produced within a short time to improve productivity. It relates to a probe pin and a method of manufacturing the same.

일반적으로 프로브핀은 단독 또는 다른 종류의 핀과 함께 웨이퍼에 형성된 소자와 반도체칩패키지를 테스트하기 위한 테스트소켓 등에 널리 사용되고 있다.In general, probe pins are widely used in test sockets for testing devices and semiconductor chip packages formed on a wafer alone or in combination with other types of pins.

프로브핀이 테스트소켓에 사용되는 예는 1999년 특허출원 제68258호(고안의 명칭: 패키지용 소켓), 2001년 실용신안등록출원 제31810호(고안의 명칭: 칩 검사용 소켓장치)등에 개시되어 있다.Examples of the use of probe pins in test sockets are disclosed in 1999 Patent Application No. 68258 (designation name: package socket) and 2001 Utility Model Registration Application No. 3318 (designation name: chip inspection socket device). have.

상기와 같은 프로브핀은 도전재질로 제작되며, 도 9에서 도시된 바와 같이, 양단에 상부걸림턱(111)과 하부걸림턱(112)이 내측을 향해 형성되는 슬리브(110) 와, 영역의 일부위가 상기 슬리브(110)의 내부에 각각 장착되는 상부접촉부(120) 및 하부접촉부(130)와, 상부접촉부(120)와 하부접촉부(130)의 사이에 개재하도록 슬리브(110)에 장착되는 코일스프링(140)을 갖고 있다.As described above, the probe pin is made of a conductive material, and as shown in FIG. 9, the upper catching jaw 111 and the lower catching jaw 112 are formed at both ends of the sleeve 110, and part of the region. Coils mounted on the sleeve 110 to be interposed between the upper contact portion 120 and the lower contact portion 130 and the upper contact portion 120 and the lower contact portion 130 respectively installed inside the sleeve 110. It has a spring 140.

상기한 상부접촉부(120)는 슬리브(110)의 내부에 배치되는 상부바디부(121)와, 상부바디부(121)의 상면으로부터 수직으로 연장 형성되는 상부접촉핀(122)을 갖고 있다.The upper contact portion 120 has an upper body 121 disposed inside the sleeve 110 and an upper contact pin 122 extending vertically from an upper surface of the upper body 121.

상기 상부접촉부(130)는 상부바디부(121)가 상부걸림턱(111)에 의해 탈출이 저지되도록 슬리브(110)에 장착된다.The upper contact portion 130 is mounted on the sleeve 110 such that the upper body portion 121 is prevented from escaping by the upper locking jaw 111.

상기한 하부접촉부(130)는 슬리브(110)의 내부에 배치되는 하부바디부(131)와 하부바디부(131)의 저면으로부터 수직으로 연장형성되는 하부접촉핀(132)을 갖고 있다.The lower contact portion 130 has a lower body portion 131 disposed inside the sleeve 110 and a lower contact pin 132 extending vertically from the bottom of the lower body portion 131.

상기 하부접촉부(130)는 하부바디부(131)가 하부걸림턱(112)에 의해 탈출이 저지되도록 슬리부(110)에 장착된다.The lower contact portion 130 is mounted on the sleeve 110 so that the lower body portion 131 is prevented from escaping by the lower locking jaw 112.

상기한 상부접촉핀(122)과 하부접촉핀(132)의 종단은 외부연결단자의 형태에 항상 맞춤된다.The ends of the upper contact pin 122 and the lower contact pin 132 are always fitted to the shape of the external connection terminal.

예를들면, 테스트소켓에 장착하여 프로브핀을 사용하는 경우반도체칩패키지의 외부연결단자가 볼(Ball)타입이면 상부접촉핀(122)의 상단은 하향곡선을 갖도록 형성된다.For example, when the probe pin is used by mounting on a test socket, if the external connection terminal of the semiconductor chip package is a ball type, the upper end of the upper contact pin 122 is formed to have a downward curve.

상기와 같은 종래의 프로브핀은 상부접촉부(120) 및 하부접촉부(130)에 압력이 인가될 때 상부접촉부(120)와 하부접촉부(130)는 슬리브(110)의 내부에서 상대 방을 향해 슬라이딩 이동된다.In the conventional probe pin as described above, when pressure is applied to the upper contact portion 120 and the lower contact portion 130, the upper contact portion 120 and the lower contact portion 130 slide toward the counterpart in the sleeve 110. do.

상기와 같이 상부접촉부(120)와 하부접촉부(130)가 슬라이딩이동됨에 따라 코일스프링(140)은 수축하고, 이에 따라 상부접촉핀(122)과 하부접촉핀(132)은 각각 대향하는 한 쌍의 외부연결단자에 탄성 접촉된다.As described above, as the upper contact part 120 and the lower contact part 130 slide, the coil spring 140 contracts, and thus the upper contact pin 122 and the lower contact pin 132 are respectively opposed to each other. Elastic contact with external connection terminal.

상기와 같이 상부접촉핀(122) 및 하부접촉핀(132)이 각각 외부연결단자에 각각 탄성 접촉된 상태에서 전기신호는 하부접촉부(130), 슬리브(110) 및 상부접촉부(120)로 구성되는 도전경로를 따라 전달된다.In the state in which the upper contact pin 122 and the lower contact pin 132 are in elastic contact with the external connection terminals, respectively, as described above, the electrical signal includes a lower contact portion 130, a sleeve 110, and an upper contact portion 120. Pass along the path of challenge.

상기와 같은 종래의 프로브핀은 다음과 같은 공정을 통하여 제작이 된다.The conventional probe pin as described above is manufactured through the following process.

먼저 상부접촉부(120)와, 하부접촉부(130), 코일스프링(140) 및 슬리브(111)(양단이 절곡되지 않은 상태)를 각각 제작한다.First, the upper contact portion 120, the lower contact portion 130, the coil spring 140, and the sleeve 111 (the two ends are not bent) are manufactured, respectively.

상기에서 슬리브(111)는 관상의 관으로 일정한 폭을 갖는 봉상의 봉재를 드릴링하여 제작을 하도록 되어 있다.In the sleeve 111 is a tubular tube is made by drilling a rod-like rod having a constant width.

상기와 같이 각각의 상부접촉부(120)와, 하부접촉부(130), 코일스프링(140) 및 슬리브(111)가 제작되면, 상기 코일스프링(140)을 슬리브(111)의 내부에 삽입한 후, 상기 코일스프링(140)을 사이에 두고 서로 대향되도록 상기 상부바디부(121)와 하부바디부(131)를 슬리부(111)의 양단 내측으로 삽입한 후 슬리브(111)의 양단부를 내측으로 절곡시켜 상기 상부접촉부(120)와 하부접촉부(130)가 슬리브(111)의 내부에서 외부로 이탈되지 않도록 되어 있다.When the upper contact portion 120, the lower contact portion 130, the coil spring 140 and the sleeve 111 is manufactured as described above, after inserting the coil spring 140 into the sleeve 111, The upper body 121 and the lower body 131 are inserted into both ends of the sleeve 111 so as to face each other with the coil spring 140 therebetween, and then both ends of the sleeve 111 are bent inward. The upper contact portion 120 and the lower contact portion 130 are not separated from the inside of the sleeve 111 to the outside.

그러나, 상기와 같은 종래의 프로브핀은 구성되는 일부품인 슬리브의 제조가 봉재를 일일이 통상의 드릴머신으로 드릴링하여 제작하는 관계로 인하여 불량의 발 생이 높아 비경제적이며, 그 내경의 폭(대략 0.4㎜)이 대단히 작아 작업이 불편하며 자동화하기 어려워 생산성이 떨어져 생산단가가 상승하는 비효율적인 문제점이 있었으며, 상부접촉부와 하부접촉부와 슬리브 및 코일스프링 등으로 구성되어져 있어 각각의 구성품들의 임피던스값에 따른 편차에 의해 안정된 전기신호를 전달하지못하고 불안정하게 전달하므로서 검사의 신뢰성을 떨어뜨리는 문제점이 있었다.However, the conventional probe pin as described above is uneconomical due to the high occurrence of defects due to the manufacture of the sleeve, which is a part of the sleeve, by drilling the rod with a conventional drill machine, and the width of the inner diameter (approximately 0.4 ㎜) is very small, inconvenient to work and difficult to automate, resulting in inefficient productivity due to low productivity, and the upper contact part, lower contact part, sleeve, coil spring, etc. There was a problem in that the reliability of the test by dropping the unstable delivery of a stable electrical signal by the unstable.

본 원인은 상기와 같은 종래의 프로브핀의 문제점들을 해결하기 위하여 프로브핀을 구성하는 부품의 갯수를 줄임과 동시에 자동화 제작이 어려운 슬리브 제작의 자동화를 통해 단시간 내에 다량의 프로브핀을 제작할 수 있도록 하여 불량의 발생률을 줄이고 효율적으로 생산성를 향상시켜 생산단가를 줄여 경제적인 프로브핀 및 그 제조방법을 제안하였다.The main reason is to reduce the number of parts constituting the probe pin in order to solve the problems of the conventional probe pin as described above, and to produce a large number of probe pins in a short time through the automation of sleeve production difficult to automate We have proposed an economical probe pin and its manufacturing method by reducing the production cost by reducing the incidence rate of the product and efficiently improving the productivity.

상기와 같은 본 원인에 의해 제안된 프로브핀은 한국특허출원번호제2008-155호(명칭: 프로브핀 및 그 제조방법)으로서, 상기의 본 원인에 의해 선제안된 한국특허출원번호제2008-155호의 프로브핀은 출원된 명세서에서 개시된 바와 같이 외부연결단자가 접촉하도록 상부에 마련되는 상부접촉부와 하부에 마련되는 하부접촉부가 마련되며 상기 상부접촉부와 하부접촉부는 탄성적으로 결합되어 있는 슬리브를 포함하는 통상의 프로브핀에 있어서; 상기한 슬리브는 원통상의 관체로 이루어지며 상단은 상부접촉부를 형성하고 하단 일정 위치에서 내부로 구브러지면서 내재되어 탄성부를 형성하며 종단은 관체의 하부로 돌출되어 하부접촉부를 구성하도록 연장형성된 연장편을 가지도록 되어 있으며, 상기한 슬리브의 하부 일정 부위는 절개되어 있으며 절개된 내측 상단부위는 양측부가 상측으로 일정 길이만큼 절개되면서 절개된 부위가 외측으로 일정한 경사도록 절곡되어 형성된 가이드편이 구비되어 있는 것으로 이루어져 있다.The probe pin proposed by the present cause as described above is Korean Patent Application No. 2008-155 (name: probe pin and its manufacturing method), and Korean Patent Application No. 2008-155 proposed by the present cause above. The probe pin of the arc is provided with an upper contact portion provided on the upper portion and a lower contact portion provided on the lower side so as to contact the external connection terminal as disclosed in the application specification and the upper contact portion and the lower contact portion includes a sleeve that is elastically coupled In conventional probe pins; The sleeve is formed of a cylindrical tubular body and the upper end forms an upper contact part and is bent inwardly at a lower position to be internally formed to form an elastic part, and the end portion extends to protrude to the lower part of the tubular body to form a lower contact part. The lower predetermined portion of the sleeve is incised and the inner upper portion is incised to have a guide piece formed by bending both sides to be inclined outwardly at a predetermined inclination while the upper portion is cut by a predetermined length upward. consist of.

또한 상기한 본 원인에 의해 선제안된 한국특허출원번호제2008-155호의 프로브핀은 도전재질로 일정한 크기를 가지며 하단 일정 위치에서 하방으로 일정한 길이만큼 연장 형성된 연장편이 마련도록 판상의 가공판을 재단하는 재단단계와; 상기 가공판의 양측부를 서로 연결하여 원통상의 관으로 형성하되 상기 연장편을 내측으로 구브리면서 내입시켜 일정한 탄성력을 가지도록 하면서 종단이 하측으로 일정한 길이만큼 돌출되도록 하는 가공단계로 이루어져 있는 공정을 통해 제조가 된도록 되어 있다.In addition, the probe pin of the Korean Patent Application No. 2008-155 proposed by the above-mentioned cause is cut to the plate-like processed plate to have an extension piece formed by extending a certain length downward from a predetermined position as a conductive material and has a certain size Foundation stage to do; Forming a cylindrical tube by connecting both side portions of the processed plate to each other, and forming the cylindrical tube while inwardly bending the extension piece so as to have a constant elastic force while the end is protruded downward by a certain length. It is intended to be manufactured through.

그러나 상기와 같이 이루어지는 본 원인의 선 제안된 특허출원번호 제2008-155호의 프로브핀은 외부연결단자와 상부접촉부 및 하부접촉부의 접촉시에 인가되는 가압력이 하부접촉부에 형성된 판형 스프링으로 이루어진 탄성부에 의해 흡수제거되도록 되어 있어, 가압력을 제대로 흡수제거하지 못하여 외부연결단자의 접촉부위가 파손되는 문제점을 유발하였다.However, the probe pin of the previously proposed patent application No. 2008-155 of the present cause made of the above-mentioned is an elastic portion made of a plate-shaped spring formed on the lower contact portion with a pressing force applied when the external connection terminal contacts the upper contact portion and the lower contact portion. It is intended to be absorbed and removed, causing the problem that the contact portion of the external connection terminal is broken due to failure to absorb and remove the pressing force.

즉 탄성력이 코일 스프링에 비하여 비교적 약한 판스프링으로 탄성부가 이루어져 접촉충격을 원활하게 흡수제거하지 못하는 문제점이 있었다.In other words, there is a problem that the elastic force is made of a relatively weak plate spring compared to the coil spring and the elastic part is not absorbed and removed smoothly.

본 발명은 상기와 같은 종래의 본 원인의 선 제안된 특허출원번호 제2008-155호의 프로브핀의 문제점들을 해결하기 위하여 제안된 것으로서, 본 발명의 목적은 소정거리로 분리된 외부연결단자들 사이의 전기신호를 연결하기 위한 프로브핀으로서, 전기신호의 전달경로를 동일 임피던스를 유지하면서 전달할 수 있도록 하여 안정된 전기적 신호를 전달할 수 있도록 되어 있고, 외부연결단자와의 접촉시 탄성적으로 가압력을 흡수제거하여 손상을 받지 않고, 특히 생산이 간편하여 단시간 내에 다량으로 생산할 수 있도록 하여 생산성을 향상시킬 수 있도록 된 프로브핀 및 그 제조방법을 제공하는 것에 있다.The present invention has been proposed in order to solve the problems of the probe pin of the prior proposed patent application No. 2008-155 of the prior art as described above, the object of the present invention is the separation between the external connection terminals separated by a predetermined distance Probe pin for connecting electrical signals, which enables the transmission of electrical signals while maintaining the same impedance to deliver stable electrical signals, and damages by elastically absorbing and removing pressure when contacting external connectors The present invention provides a probe pin and a method for manufacturing the same, which are particularly easy to produce so that a large amount can be produced within a short time, thereby improving productivity.

상기한 바와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 프로브핀은 외부연결단자가 접촉하도록 상부에 마련되는 상부접촉부와 하부에 마련되는 하부접촉 부가 탄성적으로 결합되는 통상의 프로브핀에 있어서; 상기한 상부접촉부와 하부접촉부의 사이에는 코일형상의 탄성부가 구비되며 상기 상부접촉부와 하부접촉부가 일체로 형성되어 있는 것을 특징으로 하고 있다.Probe pin of the present invention for achieving the object of the present invention as described above in the conventional probe pin is elastically coupled to the upper contact portion provided on the upper portion and the lower contact portion provided on the bottom so that the external connection terminal; A coil-shaped elastic portion is provided between the upper contact portion and the lower contact portion, and the upper contact portion and the lower contact portion are integrally formed.

상기한 하부접촉부는 상하로 관통된 원통형의 관으로 이루어지며 상기 탄성부는 상기한 하부접촉부의 내부로 절곡되어 위치하며 상기 상부접촉부는 상기 하부접촉부의 상측으로 돌출되도록 되어 있는 것을 특징으로 하고 있다.The lower contact portion is formed of a cylindrical tube penetrating up and down, the elastic portion is bent into the lower contact portion is located and the upper contact portion is characterized in that it protrudes above the lower contact portion.

상기한 상부접촉부의 하부에 연결되어 형성되는 탄성부의 종단은 상기한 하부접촉부의 측면에 연결되도록 형성되며 상기 하부접촉부의 내측으로 절곡되어 위치하며 상기 상부접촉부는 상기 하부접촉부의 상측으로 돌출되도록 되어 있는 것을 특징으로 하고 있다.An end of the elastic portion formed to be connected to the lower portion of the upper contact portion is formed to be connected to the side of the lower contact portion is bent into the lower contact portion is located and the upper contact portion is protruded to the upper side of the lower contact portion It is characterized by.

또한 상기한 바와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 프로브핀의 제조방법은 판상의 가공판을 상부접촉부 및 하부접촉부를 구성하는 한 쌍의 판상의 접촉편과 상기 한 쌍의 접촉편의 사이를 지그재그 형태로 연결하는 탄성편으로 재단하는 재단단계와; 상기 접촉편을 원통형으로 성형하고, 상기한 탄성편 중에 상측부위와 그 하측부위를 서로 대향하는 방향으로 당기어 펴지도록 하여 원형의 코일 형태로 성형하는 성형단계를 포함하는 것을 특징으로 하고 있다.In addition, the method of manufacturing a probe pin of the present invention for achieving the object of the present invention as described above between the pair of plate-shaped contact pieces and the pair of contact pieces constituting the plate-like processing plate of the upper contact portion and the lower contact portion. Cutting step of cutting with an elastic piece connecting in a zigzag form; And forming the contact piece into a cylindrical shape, and forming the contact piece in the shape of a circular coil by pulling the upper part and the lower part of the elastic piece in a direction opposite to each other.

상기한 성형단계에서 상기한 탄성편을 상기 일 접촉편의 내측으로 절곡시킨 후 상기 접촉편을 원통형으로 성형하도록 되어 있는 것을 특징으로 하고 있다.In the forming step, the elastic piece is bent into the inner side of the one contact piece, and the contact piece is characterized in that the cylindrical shape.

상기한 바와 같이 이루어지는 본 발명의 프로브핀 및 그 제조방법은 소정거 리로 분리된 외부연결단자들 사이의 전기신호를 연결하기 위한 프로브핀으로서, 전기신호의 전달경로인 상부접촉부와 탄성부 및 하부접촉부가 일체로 이루어져 있어 동일 임피던스를 가짐으로써 안정된 전기적 신호를 전달할 수 있도록 되어 있으며, 외부연결단자와의 접촉시 탄성적으로 가압력을 흡수제거하여 손상을 받지 않고, 특히 재단단게와 성형단계로 이루어지는 생산공정이 간편하여 단순하여 생산성이 향상됨으로써 단시간 내에 다량으로 생산할 수 있는 효과가 있다.The probe pin and the manufacturing method of the present invention made as described above is a probe pin for connecting the electrical signal between the external connection terminals separated by a predetermined distance, the upper contact portion and the elastic portion and the lower contact portion that is the transmission path of the electrical signal It is composed of the same impedance so that it can transmit the stable electric signal by having the same impedance, and it does not damage by absorbing and removing the pressing force elastically when contacting with the external connection terminal, especially the production process consisting of cutting step and molding step Simple and simple, the productivity is improved, there is an effect that can be produced in large quantities in a short time.

이하, 첨부된 도면을 참조하여본 발명의 바람직한 실시예에 의한 프로브핀 및 그 제조방법을 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a probe pin and a method of manufacturing the same according to a preferred embodiment of the present invention with reference to the accompanying drawings in detail as follows.

도 1 내지 도 도 4는 본 발명에 따른 일 실시예에 의한 프로브핀을 보인 도면으로써, 본 실시예의 프로브핀(1)은 외부연결단자가 접촉하도록 상부에 마련되는 상부접촉부(2)와 하부에 마련되는 하부접촉부(3)가 탄성적으로 결합되는 통상의 프로브핀에 있어서; 상기한 상부접촉부(2)와 하부접촉부(3)의 사이에는 코일형상의 탄성부(4)가 구비되며 상기 상부접촉부(2)와 하부접촉부(3)가 일체로 형성되어 있다.1 to 4 is a view showing a probe pin according to an embodiment according to the present invention, the probe pin (1) of the present embodiment is in the upper contact portion (2) and the lower portion provided in the upper portion to contact the external connection terminal In the conventional probe pin is elastically coupled to the lower contact portion 3 is provided; A coil-shaped elastic portion 4 is provided between the upper contact portion 2 and the lower contact portion 3, and the upper contact portion 2 and the lower contact portion 3 are integrally formed.

상기와 같은 본 실시예의 프로브핀(1)은 다음과 같은 공정을 통해 제조되는바, 본 실시예의 프로브핀의 제조방법은 판상의 가공판(50)을 상부접촉부(2) 및 하부접촉부(3)를 구성하는 한 쌍의 판상의 접촉편(51)과 상기 한 쌍의 접촉편(51)의 사이를 지그재그 형태로 연결하는 탄성편(52)으로 재단하는 재단단계와; 상기 접촉편(51)을 원통형으로 성형하고, 상기한 탄성편(52) 중에 상측부위와 그 하측부위를 서로 대향하는 방향으로 당기어 펴지도록 하여 원형의 코일 형태로 성형하는 성형단계를 가진다.The probe pin 1 of the present embodiment as described above is manufactured through the following process, the manufacturing method of the probe pin of the present embodiment, the plate-like processing plate 50, the upper contact portion 2 and the lower contact portion (3) A cutting step of cutting with a pair of plate-shaped contact pieces 51 constituting a pair of elastic pieces 52 connecting the pair of contact pieces 51 in a zigzag form; The contact piece 51 is formed into a cylindrical shape, and the upper part and the lower part of the elastic piece 52 are pulled out in opposite directions to each other to form a circular coil shape.

즉 상기한 접촉편(51)들을 원통형으로 성형하고 도 3에서 도시된 바와 같이 상기 탄성편(52)을 잡아당겨 코일형태로 성형하면 제조가 완료되는 단순한 공정으로 이루어져 있어 대량생산에 적합하도록 되어 있다.In other words, the contact pieces 51 are formed in a cylindrical shape, and as shown in FIG. 3, the elastic pieces 52 are pulled to form a coil, and thus, a simple process of manufacturing is completed. .

또한 도 5 및 도 6은 본 발명에 따른 다른 실시예의 프로브핀을 도시한 것으로 본 실시예의 프로브핀(1)은 상기한 하부접촉부(3)는 상하로 관통된 원통형의 관으로 이루어지며 상기 탄성부(4)는 상기한 하부접촉부(3)의 내부로 절곡되어 위치하며 상기 상부접촉부(2)는 상기 하부접촉부(3)의 상측으로 돌출되도록 되어 있어, 최종적으로 상기 하부접촉부(3)의 내주면에 탄성부(4)가 내재되도록 됨으로써, 탄성부(4)가 측부로 휘는 휨이 발생하지 않고 상하로 탄성압축 및 탄발되도록 되어 있어, 보다 유연하게 충격을 흡수 제거할 수 있도록 되어 있다.In addition, Figure 5 and Figure 6 shows a probe pin of another embodiment according to the present invention, the probe pin 1 of the present embodiment is the lower contact portion 3 is made of a cylindrical tube penetrated up and down and the elastic portion (4) is bent to the inside of the lower contact portion 3 and the upper contact portion 2 is projected to the upper side of the lower contact portion 3, finally to the inner peripheral surface of the lower contact portion (3) Since the elastic portion 4 is inherent, the elastic portion 4 is elastically compressed and elasticized up and down without causing side warping, so that the shock can be more flexibly absorbed and removed.

그리고 상기한 바와 같은 본 실시예의 프로브핀(1)을 제조하기 위하여 상기한 성형단계에서 상기한 탄성편(52)을 상기 일 접촉편(51)의 내측으로 절곡시킨 후 상기 접촉편(51)을 원통형으로 성형하도록 되어 있어, 최종적으로 탄성부(4)가 상기 하부접촉부(3)이 내부에 위치되도록 하여 제조가 완료된다.In order to manufacture the probe pin 1 of the present embodiment as described above, the contact piece 51 is bent after the elastic piece 52 is bent into the contact piece 51 in the forming step. It is made to be molded in a cylindrical shape, and finally, the elastic part 4 causes the lower contact part 3 to be positioned inside, thereby completing the manufacturing.

그리고 도 7 및 도 8은 본 발명에 따른 또 다른 실시예의 프로브핀을 도시한 것으로 본 실시예의 프로브핀(1)은 상기한 상부접촉부(2)의 하부에 연결되어 형성되는 탄성부(4)의 종단은 상기한 하부접촉부(3)의 측면에 연결되도록 형성되며 상기 하부접촉부(3)의 내측으로 절곡되어 위치하며, 상기 상부접촉부(2)는 상기 하부 접촉부(3)의 상측으로 돌출되도록 되어 있다.7 and 8 illustrate another embodiment of the probe pin according to the present invention, in which the probe pin 1 of the present embodiment is connected to the lower portion of the upper contact portion 2 of the elastic portion 4. The end is formed to be connected to the side of the lower contact portion 3 and is bent and positioned inward of the lower contact portion 3, and the upper contact portion 2 protrudes above the lower contact portion 3. .

즉 상기한 탄성편(52)이 일 접촉편(하부접촉부를 구성하는 접촉편)(51)의 하부 또는 측부에 선택적으로 연결되도록 되어 있어 필요에 따라 선택적으로 제조할 수 있도록 된 것으로, 이는 단순한 설계변경에 의한 가능하다.That is, the elastic piece 52 is to be selectively connected to the lower or side portion of the one contact piece (contact piece constituting the lower contact portion) 51 to be selectively manufactured as needed, which is a simple design Possible by change.

상기한 바와 같이 이루어지는 본 발명의 프로브핀(1)은 다수의 핀공(11)이 형성된 상부핀홀더(12) 및 하부핀홀더(13)를 가지는 통상의 테스트소켓(10)에 설치되어 사용된다.Probe pin (1) of the present invention made as described above is used to be installed in a conventional test socket (10) having an upper pin holder 12 and a lower pin holder 13 in which a plurality of pin holes (11) are formed.

즉 상기한 하부접촉부(3)가 하부핀홀더(13)에 접촉 지지되며, 상기 상부접촉부(2)는 상부핀홀더(12)에 지지되도록 각각의 핀공(11)에 각각 설치된다.That is, the lower contact portion 3 is supported in contact with the lower pin holder 13, the upper contact portion 2 is installed in each pin hole 11 so as to be supported by the upper pin holder 12.

상기와 같이 프로브핀(1)이 설치된 테스트소켓(10)은 하부핀홀더(13)의 저면이 테스트보드(14)의 상면에 접촉하도록 장착된다.The test socket 10 in which the probe pin 1 is installed as described above is mounted such that the bottom surface of the lower pin holder 13 contacts the upper surface of the test board 14.

상기와 같이 테스트소켓(10)이 테스트보드(14)에 설치될 때, 프로브핀(1)은 상기 테스트보드(14)의 상면과 하부접촉부(3)와의 밀착에 따라 상기 하부핀홀더(13)를 가이드하여 상승하고 이로 인해 상부접촉부(2)가 외부로 돌출된다.When the test socket 10 is installed on the test board 14 as described above, the probe pin 1 is attached to the lower pin holder 13 in close contact with the upper surface of the test board 14 and the lower contact portion 3. It rises by guiding and this causes the upper contact part 2 to protrude outside.

상기와 같이 테스트보드(14)에 테스트소켓(10)이 설치되면 상기 테스트소켓(10)의 상부로 반도체칩치패키지(15)가 탑재되며, 이때 반도체칩패키지(15)의 외부연결단자(16)의 저면은 상기 상부접촉부(2)를 가압하면서 접촉하게 되고, 이에 따라 상부접촉부(2)는 탄성부(4)의 탄성에 따라 하강을 하게 되고, 탄성부(4)는 하방으로 가압되어 오므라지면서 탄성력이 증대되면서 가압력을 제거하면서 외부연결단자(16)와 접촉되도록 되어 있다.When the test socket 10 is installed on the test board 14 as described above, the semiconductor chip package 15 is mounted on the test socket 10, and the external connection terminal 16 of the semiconductor chip package 15 is mounted. The bottom surface of the contact is pressed while pressing the upper contact portion 2, accordingly the upper contact portion 2 is lowered according to the elasticity of the elastic portion 4, the elastic portion 4 is pressed downwards As the elastic force is increased, it is in contact with the external connection terminal 16 while removing the pressing force.

즉 상부접촉부(2)가 외부연결단자(16)와 접촉되어 하방으로 가압될 때 상기 가압력은 코일형상으로 이루어져 탄성력이 종래보다 증대된 탄성부(4)에 의해 흡수 제거되도록 되어 있다.That is, when the upper contact portion 2 is in contact with the external connection terminal 16 and pressed downward, the pressing force is in the shape of a coil so that the elastic force is absorbed and removed by the elastic portion 4 with an increased elastic force than before.

상기와 같이 반도체칩패키지(15)의 외부연결단자(16)와 테스트보드(14)의 외부연결단자가 프로브핀(1)에 의해 연결되면 테스트보드(14)로부터의 테스트신호 및 반도체칩패키지(15)로부터의 응답신호는 상부접촉부(2)와 탄성부(4) 및 하부접촉부(3)를 통해 이루어지는 도전경로를 따라 전달되도록 되어 있다.As described above, when the external connection terminal 16 of the semiconductor chip package 15 and the external connection terminal of the test board 14 are connected by the probe pin 1, the test signal from the test board 14 and the semiconductor chip package ( The response signal from 15 is transmitted along the conductive path made through the upper contact portion 2, the elastic portion 4, and the lower contact portion 3.

상기와 같은 본 발명의 프로브핀은 반도체 패키지 테스트 소켓용 프로브핀, 마이크로 프로세스 테스트 소켓용 프로브핀, 전자기기 테스트 소켓용 프로브핀으로 사용이 되도록 되어 있다.The probe pin of the present invention as described above is to be used as a probe pin for a semiconductor package test socket, a probe pin for a micro process test socket, a probe pin for an electronic device test socket.

도 1은 본 발명에 따른 일 실시예에 의한 프로브핀이 제조되기 전 단계의 가공판을 보인 예시도,1 is an exemplary view showing a processed plate before the probe pin is manufactured according to an embodiment according to the present invention,

도 2는 본 발명에 따른 일 실시예에 의한 프로브핀을 보인 사시 예시도,Figure 2 is a perspective view showing a probe pin according to an embodiment according to the present invention,

도 3은 동 사용상태 예시도,3 is an exemplary state of use,

도 4은 프로브핀을 성형하는 성형단계의 일부를 도시한 일부 발췌 사시 예시도,Figure 4 is an exemplary view showing a part of the excerpt showing a part of the molding step of forming the probe pin,

도 5 및 도 6은 본 발명에 따른 다른 실시예에 의한 프로브핀 및 제조 전의 가공판을 보인 개략예시도,5 and 6 is a schematic view showing a probe pin and a processed plate before manufacture according to another embodiment according to the present invention,

도 7 및 도 8은 본 발명에 따른 또 다른 실시예에 의한 프로브핀 및 제조 전의 가공판을 보인 개략예시도,7 and 8 is a schematic view showing a probe pin and a processed plate before manufacture according to another embodiment according to the present invention,

[도면 중 중요한 부분에 대한 부호의 설명][Description of Signs for Important Parts of Drawing]

1 : 프로브핀, 2 : 상부접촉부,1: probe pin, 2: upper contact,

3 : 하부접촉부, 4 : 탄성부,3: lower contact portion, 4: elastic portion,

50 : 가공판, 51 : 접촉편,50: processing plate, 51: contact piece,

52 : 탄성편.52: elastic piece.

Claims (5)

삭제delete 외부연결단자가 접촉하도록 상부에 마련되는 상부접촉부와 하부에 마련되는 하부접촉부가 탄성적으로 결합되고;An upper contact portion provided at an upper portion and a lower contact portion provided at a lower portion thereof are elastically coupled so that the external connection terminal contacts; 상기한 상부접촉부와 하부접촉부의 사이에는 코일형상의 탄성부가 구비되며 상기 상부접촉부와 하부접촉부가 일체로 형성되는 프로브핀에 있어서;In the probe pin between the upper contact portion and the lower contact portion is provided with a coil-shaped elastic portion and the upper contact portion and the lower contact portion integrally formed; 상기한 하부접촉부는 상하로 관통된 원통형의 관으로 이루어지며 상기 탄성부는 상기한 하부접촉부의 내부로 절곡되어 위치하며 상기 상부접촉부는 상기 하부접촉부의 상측으로 돌출되도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 프로브핀 The lower contact portion is formed of a cylindrical tube penetrating up and down, the elastic portion is bent into the lower contact portion is located and the upper contact portion is characterized in that the protruding to the upper side of the lower contact portion 제 2항에 있어서;The method of claim 2; 상기한 상부접촉부의 하부에 연결되어 형성되는 탄성부의 종단은 상기한 하부접촉부의 측면에 연결되도록 형성되며 상기 하부접촉부의 내측으로 절곡되어 위치하며 상기 상부접촉부는 상기 하부접촉부의 상측으로 돌출되도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 프로브핀An end of the elastic portion formed to be connected to the lower portion of the upper contact portion is formed to be connected to the side of the lower contact portion is bent into the lower contact portion is located and the upper contact portion is protruded to the upper side of the lower contact portion Probe pin, characterized in that 판상의 가공판을 상부접촉부 및 하부접촉부를 구성하는 한 쌍의 판상의 접촉 편과 상기 한 쌍의 접촉편의 사이를 지그재그 형태로 연결하는 탄성편으로 재단하는 재단단계와;A cutting step of cutting the plate-shaped processed plate into an elastic piece connecting the pair of plate-shaped contact pieces constituting the upper contact portion and the lower contact portion with the pair of contact pieces in a zigzag form; 상기 접촉편을 원통형으로 성형하고, 상기한 탄성편 중에 상측부위와 그 하측부위를 서로 대향하는 방향으로 당기어 펴지도록 하여 원형의 코일 형태로 성형하는 성형단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브핀의 제조방법And forming the contact piece into a cylindrical shape, and forming the contact piece in a shape of a circular coil by pulling the upper part and the lower part of the elastic piece in opposite directions to each other. Manufacturing method 제 4항에 있어서;The method of claim 4; 상기한 성형단계에서 상기한 탄성편을 상기 일 접촉편의 내측으로 절곡시킨 후 상기 접촉편을 원통형으로 성형하도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 프로브핀의 제조방법The method of manufacturing a probe pin, characterized in that for forming the contact piece in a cylindrical shape after bending the elastic piece in the inner side of the one contact piece in the forming step.
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