KR100999864B1

KR100999864B1 - 이종 액정디스플레이패널 검사용 프로브블록

Info

Publication number: KR100999864B1
Application number: KR1020100064600A
Authority: KR
Inventors: 강성웅
Original assignee: 주식회사 케이티엘
Priority date: 2010-07-06
Filing date: 2010-07-06
Publication date: 2010-12-09

Abstract

본 발명은 수직으로 합착된 두 종류의 LCD패널 또는 수직으로 합착된 일반 LCD패널과 터치패널의 이상유무를 동시에 검사할 수 있도록 하기 위하여 두 종류의 프로브들과 이들 프로브를 지지하는 가이드플레이트를 하나의 조립체로 구성함으로써, 하나의 검사장비로 서로 다른 패널을 동시에 검사할 수 있으므로 설비를 효율적으로 사용할 수 있으며 또한 생산성이 향상되는 이종 액정디스플레이패널 검사용 프로브블록에 관한 것이다.
이를 위하여 본 발명은 검사장비에 각각 연결된 제1,2플랙시블기판들과 검사대상 제1,2패널들을 회로적으로 일대일 연결하는 다수의 제1프로브 및 제2프로브들이 구비되고, 상기 제1프로브들을 탄성적으로 지지하는 제1가이드플레이트가 구비되고, 상기 제1가이드플레이트의 상,하측에는 상기 제2프로브들을 탄성적으로 지지하는 제2상부가이드플에이트 및 제2하부가이드플레이트가 각각 구비되며, 상기 제1가이드플레이트의 상단에는 상기 제1프로브의 수평돌기가 상기 제1플랙시블기판과 접촉되도록 안내하는 슬릿 및 걸림턱이 각각 형성되고, 하단에는 상기 제1프로브의 제1탐침이 상기 제1패널의 단자들과 접촉되도록 안내하는 탐침용 슬릿이 형성되며, 상기 제2상부가이드플레이트에는 상기 제2프로브의 좌우구속돌기가 제2플랙시블기판과 접촉되도록 안내하는 슬릿 및 걸림턱이 각각 형성되며, 상기 제2하부가이드플레이트에는 상기 제2프로브의 제2탐침이 상기 제2패널의 단자들과 접촉되도록 안내하는 탐침용 슬릿이 형성된 특징이 있다.

Description

이종 액정디스플레이패널 검사용 프로브블록{Probe block for the LCD}

본 발명은 이종 액정디스플레이패널 검사용 프로브블록에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 수직으로 합착된 두 종류의 LCD패널 또는 수직으로 합착된 일반 LCD패널과 터치패널의 이상유무를 동시에 검사할 수 있도록 하기 위하여 두 종류의 프로브들과 이들 프로브를 지지하는 가이드플레이트를 하나의 블록 조립체로 구성함으로써, 하나의 검사장비로 서로 다른 패널을 동시에 검사할 수 있으므로 생산성이 향상되고, 또한 프로브들은 회로기판과 납땜되지 않은 형태(nonsoldering type)로써 프로브가 조립식으로 가이드플레이트에 결합되므로 불량 프로브의 교체가 편리한 이종 액정디스플레이패널 검사용 프로브블록에 관한 것이다.

일반적으로 액정디스플레이(LCD : Liquid Crystal Display)는 TFT(Thin Film Transistor), TN(Twisted Nematic), STN(Super Twisted Nematic), CSTN(Color Super Twisted Nematic), DSTN(Double Super Twisted Nematic)Type 및 유기EL(Electro Luminescence)Type이 있으며, 이러한 패널이 픽셀에러(Pixel error)없이 정상작동 하는지를 검사하는데 프로브 블록이 사용된다.

현재까지 개발된 프로브는 텅스텐 또는 레늄 텅스텐 와이어를 모재로 제작된 니들형(Needle Type), 니켈 또는 베릴륨동을 모재로 제작된 블레이드형(Blade Type), 폴리마이드 필름(Ploymide Film)에 동판 또는 기타 도전체를 올려 애칭가공하여 제작한 필름형(Film Type), 필름형에 반도체 공정기술을 이용하여 도전성 매체를 주입한 하이브리드형(Hybride Type), 스프링 장력을 이용한 포고핀(Pogo Pin)을 소재로 제작한 포고형(Pogo Type), 반도체 Mems공정기술을 이용한 Mems형(Mems Type)등이 있다.

상기 유기EL Type중 AMOLED(Active Matrix Organic Light-Emitting Diode)는 백라이트에 의해 빛을 발하는 LCD와는 달리 자체에서 빛을 발하는 디스플레이를 말한다. TFT LCD에 견줘 동영상 응답 속도가 1000배 이상 빠르고, 색 재현율과 명암비도 월등하여 동영상에 최적화된 디스플레이로 인정되나 기술적인 한계 및 가격적인 측면에서 볼때 현재로선 핸드폰용 디스플레이 패널에 사용중이다.

이러한 다양한 종류의 패널을 검사하는데 있어서, 종래에는 한 종류의 패널에 하나의 검사장비를 이용하였기 때문에 다품종 소량생산되는 핸드폰용 패널의 경우 비효율적인 측면이 있었다.

특히 두종류의 소량 생산되는 패널이라던가 소량생산되는 일반 LCD패널과 터치패널 같은 서로 다른 종류의 패널을 검사하기 위해 두대의 검사장비를 사용해야 되므로 공간을 많이 차지하고 고가의 검사장비를 여러대 갖춰야 되므로 설비비가 증가되는 등의 단점이 있었다.

본 발명은 종래의 문제점을 감안하여 개발한 것으로서, 본 발명의 목적은 수직으로 합착된 두 종류의 LCD패널 또는 수직으로 합착된 일반 LCD패널과 터치패널의 이상유무를 동시에 검사할 수 있도록 하기 위하여 두 종류의 프로브들과 이들 프로브를 지지하는 가이드플레이트를 하나의 조립체로 구성함으로써, 하나의 검사장비로 서로 다른 패널을 동시에 검사할 수 있으므로 설비를 효율적으로 사용할 수 있으며 또한 생산성이 향상되는 이종 액정디스플레이패널 검사용 프로브블록을 제공함에 있다.

이를 위하여 본 발명은 검사장비에 각각 연결된 제1,2플랙시블기판들과 검사대상 제1,2패널들을 회로적으로 일대일 연결하는 다수의 제1프로브 및 제2프로브들이 구비되고, 상기 제1프로브들을 탄성적으로 지지하는 제1가이드플레이트가 구비되고, 상기 제1가이드플레이트의 상,하측에는 상기 제2프로브들을 탄성적으로 지지하는 제2상부가이드플에이트 및 제2하부가이드플레이트가 각각 구비되며, 상기 제1가이드플레이트의 상단에는 상기 제1프로브의 수평돌기가 상기 제1플랙시블기판과 접촉되도록 안내하는 슬릿 및 걸림턱이 각각 형성되고, 하단에는 상기 제1프로브의 제1탐침이 상기 제1패널의 단자들과 접촉되도록 안내하는 탐침용 슬릿이 형성되며, 상기 제2상부가이드플레이트에는 상기 제2프로브의 좌우구속돌기가 제2플랙시블기판과 접촉되도록 안내하는 슬릿 및 걸림턱이 각각 형성되며, 상기 제2하부가이드플레이트에는 상기 제2프로브의 제2탐침이 상기 제2패널의 단자들과 접촉되도록 안내하는 탐침용 슬릿이 형성된 특징이 있다.

다품종 소량생산되는 핸드폰 같은 패널의 경우 종류와 크기가 다양하므로 패널의 형태가 변할때 마다 이를 검사하기 위한 프로브블록을 새롭게 구성해야 되므로 검사비용이 증가되는 문제점이 있었으나, 본 발명은 이종의 패널을 검사하기위한 두 종류의 프로브를 하나의 블록으로 조립하였으므로 하나의 검사장비에서 수직으로 합착된 두 종류의 패널을 동시에 검사할 수 있다. 따라서 다품종 소량생산되는 패널제품에 적합하므로 설비비를 줄일 수 있으며, 하나의 설비를 효율적으로 활용할 수 있는 이점이 있다.

또한 프로브를 지지하는 프로브 블록을 3등분하여 제1블록으로 하나의 프로브를 지지하고 나머지 두개의 블록을 상기 제1블록의 상,하측에 조립식으로 체결하여 하나의 프로브 블록이 완성되도록 하면 이들 프로브들의 간격유지를 위한 슬롯의 형성이 쉬워지므로 프로브 블록의 제작이 편리한 이점이 있으며, 프로브들은 해당 가이드플레이트에 조립식으로 체결되며 이들 프로브들은 검사장비의 인쇄회로기판과 납땜방식이 아닌 접촉 방식으로 연결되기 때문에 불량 프로브를 검사현장에서 작업자가 쉽게 교체가능한 이점이 있다.

도 1은 본 발명 한 실시예의 프로브블록의 분리 사시도
도 2는 본 발명 한 실시예의 프로브블록의 분리 단면도
도 3은 본 발명 한 실시예의 프로브블록의 조립 단면도

본 발명 한 실시예의 프로브블록은 제1패널(70) 검사용 제1프로브(30)를 지지하는 제1가이드플레이트(20)가 구비되고, 상기 제1가이드플레이트(20)의 상,하측에 결합되어 제2패널(71)을 검사하기위한 제프로브(60)를 지지하는 제2상부가이드플레이트(40) 및 제2하부가이드플레이트(50)로 구성된다.

상기 제1프로브(30)는 블레이드 형태로써 한쪽 끝단에 수평탄성부(34)로 연결되는 수평돌기(33)가 상부로 돌출 구비되고, 상기 수평돌기(33)와 대향되도록 다른쪽 끝단에 수직돌기(36)가 상부로 돌출되며, 상기 수직돌기(36)의 하부에는 원호형 수직탄성부(32)로 연결되어 제1패널(70)과 접촉되는 제1탐침(31)이 구비된다.

상기 제1가이드플레이트(20)에는 상기 제1프로브(30)의 수평돌기(33)가 걸리는 걸림턱(22)이 측면에 돌출 구비되고, 상기 수직돌기(36)가 끼워들어가는 걸림홈(24)이 구비되며, 상기 제1탐침(31)이 제자리에서 승강되도록 안내하는 탐침용 슬릿(21)이 구비된다. 그리고 상기 걸림턱(22)에는 상기 제1프로브(30)의 수평돌기(33)와 수평탄성부(34) 사이에 형성된 끼움편(35)이 들어가도록 안내하는 슬릿(23)이 구비된다.

그리고 상기 제1프로브(30)의 수평돌기(33)와 회로적으로 접촉되는 제1플랙시블기판(10)이 구비되어 검사장비와 연결되며, 상기 제1프로브(30)가 상기 제1가이드플레이트(20)와 결합되면 수평돌기(33)와 걸림턱(22)에 의해 제1프로브(30)의 상,하측 방향이 구속되고, 상기 수직돌기(36)와 걸림홈(24)에 의해 제1프로브(30)의 좌,우측 방향이 구속되며, 끼움편(35)과 슬릿(23)에 의해 제1프로브(30)의 전,후측 방향이 구속된 상태로 상기 제1탐침(31)이 탄성적으로 움직이면서 제1패널(70)의 단자들과 접촉될 수 있다.

상기 제2상부가이드플레이트(40)의 상단에는 제2프로브(60)의 상부에 형성된 좌우구속돌기(65)가 끼워져 걸리는 슬릿(41)과 걸림턱(42)이 형성되고, 상기 제2하부가이드플레이트(50)의 하단에는 상기 제2프로브(60)의 하단에 형성된 제2탐침(61)의 꼽히는 탐침용 슬릿(51)이 형성된다. 그리고 상기 제1가이드플레이트(20)의 측면에는 상기 제2상부가이드플레이트(40)와 접하는 부분으로 걸림홈(25)이 형성되어 상기 제프로브(60)의 중간에 형성된 상하구속돌기(64)가 끼워져 걸리는 구성이다.

또한 상기 제2프로브(60)에는 상단에 신호입력단(66)이 형성되고 상기 신호입력단(66)에 탄성을 부여하는 수평탄성부(63)가 구비되며, 상기 제2탐침(61)에 탄성을 부여하는 수직탄성부(62)가 구비되고, 상기 좌우구속돌기(65)는 제2플랙시블기판(11)과 접촉되어 검사장비와 회로적으로 연결된다. 상기 신호입력단(66)은 검사장비와 별도로 연결되어 검사 대상 패널에 신호를 입력할 수 있다.

이처럼 구성된 본 발명 한 실시예의 프로브블록은 제1프로브(30) 및 제프로브(60)들이 제1,2가이드플레이트(20)(40)(50)에 조립식으로 체결되므로 검사현장에서 불량이 발생되면 해당 프로브만 교체하면 되므로 사용이 편리한 이점이 있다.

본 발명의 프로브블록은 제1가이드플레이트(20)의 상,하부에 제2상부가이드플레이트(40) 및 제2하부가이드플레이트(50)가 접착제 또는 기타 나사 체결방식으로 결합되어 하나의 블록을 이루는 것이다. 이러한 블록에 해당 프로브들을 조립과정하는 살펴보면, 먼저 제1프로브(30)는 제1가이드플레이트(20)의 밑에서 수직으로 밀어 넣어 상기 수직돌기(36)가 걸림홈(24)에 끼워들어가고 수평돌기(33)가 걸림턱(22)에 걸리도록 한다.

이때 상기 수평돌기(33)는 수평탄성부(34)를 이용하여 한쪽으로 벌린 상태에서 상기 걸림턱(22)에 형성된 슬릿(23)으로 들어가도록 안내한 뒤 제1프로브(30)를 밀어 넣으면 걸림턱(22)이 슬릿(23)을 벗어나는 순간 수평탄성부(34)의 복원력에 의해 원위치 되면서 걸림턱(22)의 상단에 수평돌기(33)가 걸려 제1프로브(30)가 고정된다. 상기 수평돌기(33)는 제1플랙시블기판(10)의 단자부와 탄성적으로 접촉되므로 검사장비와 회로적으로 연결되고, 상기 제1프로브(30)의 제1탐침(31)은 탐침용 슬릿(21)에 자리잡는다.

제2프로브(60)는 제2상부가이드플레이트(40) 및 제2하부가이드플레이트(50) 쪽으로 수평이동 시켜 조립하면 되는데, 이때 상기 제프로브(60)의 상부에 형성된 좌우구속돌기(65)가 슬릿(41)에 끼워들어가 걸림턱(42)에 걸린 상태에서 제2플랙시블기판(11)과 회로적으로 연결된다. 또한 제2프로브(60)의 중간에 형성된 상하구속돌기(64)는 제1가이드플레이트(20)의 걸림홈(25)에 끼워지고 하부의 제2탐침(61)은 탐침용 슬릿(51)에 끼워진 상태로 상하측 및 좌우측 방향으로 구속된다.

따라서 제1프로브(30)는 제1탐침(31)이 제1패널(70)의 단자부와 접촉되고 수평돌기(33)가 제1플랙시블기판(10)에 접촉되어 검사장비와 제1패널(70)을 회로적으로 연결시킨다. 그리고 제2프로브(60)는 제1탐침(31)이 제2패널(71)의 단자부와 접촉되고 좌우구속돌기(65)가 제2플랙시블기판(11)에 접촉되어 검사장비와 제2패널(71)을 회적으로 연결시켜 하나의 프로브블록으로 서로다른 두 종류의 패널을 동시에 검사할 수 있다.

10 : 제1플랙시블기판 11 : 제2플랙시블기판
20 : 제1가이드플레이트 21 : 탐침용 슬릿
22 : 걸림턱 23 : 슬릿
24 : 걸림홈 25 : 걸림턱
30 : 제1프로브 31 : 제1탐침
32 : 수직탄성부 33 : 수평돌기
34 : 수평탄성부 35 : 끼움편
36 : 수직돌기 40 : 제2상부가이드플레이트
41 : 슬릿 42 : 걸림턱
50 : 제2하부가이드플레이트 51 : 탐침용 슬릿
60 : 제2프로브 61 : 제2탐침
62 : 수직탄성부 63 : 수평탄성부
64 : 상하구속돌기 65 : 좌우구속돌기
70 : 제1패널 71 : 제2패널

Claims

검사장비에 각각 연결된 제1,2플랙시블기판들(10)(11)과 검사대상 제1,2패널들(70)(71)을 회로적으로 일대일 연결하는 다수의 제1프로브(30) 및 제2프로브(60)들이 구비되고,
상기 제1프로브(30)들을 탄성적으로 지지하는 제1가이드플레이트(20)가 구비되고,
상기 제1가이드플레이트(20)의 상,하측에는 상기 제2프로브(60)들을 탄성적으로 지지하는 제2상부가이드플에이트(40) 및 제2하부가이드플레이트(50)가 각각 구비되며,
상기 제1가이드플레이트(20)의 상단에는 상기 제1프로브(30)의 수평돌기(33)가 상기 제1플랙시블기판(10)과 접촉되도록 안내하는 슬릿(23) 및 걸림턱(22)이 각각 형성되고, 하단에는 상기 제1프로브(30)의 제1탐침(31)이 상기 제1패널(70)의 단자들과 접촉되도록 안내하는 탐침용 슬릿(21)이 형성되며,
상기 제2상부가이드플레이트(40)에는 상기 제2프로브(60)의 좌우구속돌기(65)가 제2플랙시블기판(11)과 접촉되도록 안내하는 슬릿(41) 및 걸림턱(42)이 각각 형성되며,
상기 제2하부가이드플레이트(50)에는 상기 제2프로브(60)의 제2탐침(61)이 상기 제2패널(71)의 단자들과 접촉되도록 안내하는 탐침용 슬릿(51)이 형성됨을 특징으로 하는 이종 액정디스플레이패널 검사용 프로브블록.
제 1 항에 있어서,
상기 제1프로브(30)에는 상기 수평돌기(33)가 제1플랙시블기판(10)과 탄성적으로 접촉되도록 안내하는 수평탄성부(34)가 구비되고, 상기 제1탐침(31)이 상기 제1패널(70)과 탄성적으로 접촉되도록 안내하는 수직탄성부(32)가 구비되며,
상기 제2프로브(60)에는 상기 좌우구속돌기(65)가 제2플랙시블기판(11)과 탄성적으로 접촉되도록 안내하는 수평탄성부(63)가 구비되고, 상기 제2탐침(61)이 제2패널(71)과 탄성적으로 접촉되도록 안내하는 수직탄성부(62)가 구비됨을 특징으로 하는 이종 액정디스플레이패널 검사용 프로브블록.