KR100948570B1 - 프로브핀 - Google Patents
프로브핀 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100948570B1 KR100948570B1 KR1020080046627A KR20080046627A KR100948570B1 KR 100948570 B1 KR100948570 B1 KR 100948570B1 KR 1020080046627 A KR1020080046627 A KR 1020080046627A KR 20080046627 A KR20080046627 A KR 20080046627A KR 100948570 B1 KR100948570 B1 KR 100948570B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- sleeve
- probe pin
- contact portion
- external connection
- contact
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06733—Geometry aspects
- G01R1/06738—Geometry aspects related to tip portion
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2601—Apparatus or methods therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Geometry (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
Description
Claims (4)
- 외부연결단자가 접촉하도록 상부에 마련되는 상부접촉부와 하부에 마련되는 하부접촉부가 탄성적으로 결합되어 마련되는 슬리브로 이루어지되, 상기한 하부접촉부가 슬리브의 일단에서 내부로 구브러지면서 내재되어 탄성부를 형성하며 종단은 슬리브의 하부로 돌출되어 연장형성된 연장편으로 이루어지는 통상의 프로브핀에 있어서;상기한 상부접촉부는 상기 슬리브의 하단에서 절개되어 내측으로 구브러진 탄성부를 형성하면서 슬리브의 상부로 돌출되도록 형성되는 제1연장편으로 이루어지며;상기한 하부접촉부는 상기 슬리브의 상단에서 절개되어 내측으로 구브러진 탄성부를 형성하면서 슬리브의 하부로 돌출되도록 형성되는 제2연장편으로 이루어져 있는 것을 특징으로 하는 프로브핀
- 제 1항에 있어서;상기한 제1연장편과 제2연장편은 슬리브 상에서 수직상으로 일치하는 위치에 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 프로브핀
- 제 2항에 있어서;상기한 제1연장편과 제2연장편은 슬리브의 펼친상태에서 양측부에 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 프로브핀
- 제 1항에 있어서;상기한 슬리브에는 상기 상부접촉부 및 하부접촉부의 탄성부가 가이드되도록 내외부가 연통하도록 된 장공이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 프로브핀
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080046627A KR100948570B1 (ko) | 2008-05-20 | 2008-05-20 | 프로브핀 |
PCT/KR2008/007804 WO2009084906A2 (en) | 2008-01-02 | 2008-12-30 | The proble pin composed in one body and the method of making it |
JP2009548178A JP5190470B2 (ja) | 2008-01-02 | 2008-12-30 | 一体型で構成されるプローブピン及びその製造方法 |
CN2008801238626A CN101911273B (zh) | 2008-01-02 | 2008-12-30 | 整体形成的探针及其制造方法 |
US12/811,399 US20100285698A1 (en) | 2008-01-02 | 2008-12-30 | Probe pin composed in one body and the method of making it |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080046627A KR100948570B1 (ko) | 2008-05-20 | 2008-05-20 | 프로브핀 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090120692A KR20090120692A (ko) | 2009-11-25 |
KR100948570B1 true KR100948570B1 (ko) | 2010-03-19 |
Family
ID=41603892
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080046627A KR100948570B1 (ko) | 2008-01-02 | 2008-05-20 | 프로브핀 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100948570B1 (ko) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101699688B1 (ko) * | 2016-09-21 | 2017-01-25 | 한지수 | 프로브핀 가공툴 및 이를 이용한 프로브핀의 제조 방법 |
KR102153299B1 (ko) * | 2019-05-31 | 2020-09-21 | 주식회사 이노글로벌 | 양방향 도전성 핀, 이를 이용한 양방향 도전성 모듈 및 그 제조방법 |
KR102667483B1 (ko) * | 2021-10-06 | 2024-05-22 | (주)포인트엔지니어링 | 전기 전도성 접촉핀 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001230035A (ja) | 2000-02-17 | 2001-08-24 | Kasasaku Electronics:Kk | Icソケット |
JP2003043065A (ja) | 2001-07-27 | 2003-02-13 | Ricoh Co Ltd | プローブピン及び電気的特性試験部材 |
JP2005009984A (ja) | 2003-06-18 | 2005-01-13 | Shinei Denki Seisakusho:Kk | コンタクトプローブ |
-
2008
- 2008-05-20 KR KR1020080046627A patent/KR100948570B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001230035A (ja) | 2000-02-17 | 2001-08-24 | Kasasaku Electronics:Kk | Icソケット |
JP2003043065A (ja) | 2001-07-27 | 2003-02-13 | Ricoh Co Ltd | プローブピン及び電気的特性試験部材 |
JP2005009984A (ja) | 2003-06-18 | 2005-01-13 | Shinei Denki Seisakusho:Kk | コンタクトプローブ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20090120692A (ko) | 2009-11-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5190470B2 (ja) | 一体型で構成されるプローブピン及びその製造方法 | |
US7922544B2 (en) | Pogo pin, the fabrication method thereof and test socket using the same | |
US20100273364A1 (en) | Axially Compliant Microelectronic Contactor | |
KR101715750B1 (ko) | 반도체 디바이스를 검사하기 위한 프로브 및 그를 사용하는 테스트 소켓 | |
US6069481A (en) | Socket for measuring a ball grid array semiconductor | |
JP4911495B2 (ja) | 半導体集積回路用ソケット | |
KR101591013B1 (ko) | 셀프결합형 프로브 핀 | |
KR102033135B1 (ko) | 프로브 핀 | |
KR101736307B1 (ko) | 비지에이 컨택용 프로브 핀 | |
KR100948570B1 (ko) | 프로브핀 | |
KR20050087300A (ko) | 반도체 패키지용 테스트 소켓 | |
KR101031634B1 (ko) | 프로브핀 및 그 제조방법 | |
CN105308464A (zh) | 测试探针、测试探针组件及测试平台 | |
JP2008046100A (ja) | 検査用探針装置及びその製造方法 | |
KR101031643B1 (ko) | 프로브핀 및 그 제조방법 | |
KR20110076855A (ko) | 반도체 검사용 소켓 | |
KR100823111B1 (ko) | 프로브핀 및 그 제조방법 | |
KR101031639B1 (ko) | 프로브핀 | |
KR100996200B1 (ko) | 프로브핀 | |
US6948945B2 (en) | Matrix connector | |
KR100890927B1 (ko) | 프로브핀 및 그 제조방법 | |
KR100948571B1 (ko) | 프로브핀 및 그 제조방법 | |
US8860446B2 (en) | Multiple contact test probe | |
KR200325737Y1 (ko) | 프로브핀 및 이를 포함하는 테스트소켓 | |
KR20100036547A (ko) | 프로브 핀 및 이를 이용한 테스트소켓 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121221 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130124 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150911 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160826 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170804 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180903 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |