KR100940073B1 - 엘시디의 분할촬영을 이용한 불량검출방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 엘시디에 검사 패턴을 점등하고 점등된 검사 패턴을 촬영한 후 촬영하여 얻어진 이미지의 광량을 측정하여 엘시디의 불량을 검출하는 방법에 있어서, 엘시디에 하나의 검사 패턴을 복수개로 분할 점등하고 분할 점등된 각각의 검사 패턴을 촬영한 후, 촬영하여 얻어진 복수개의 분할 이미지를 하나의 이미지로 합하고 그 광량을 측정하여 엘시디의 불량을 검출함으로써 미세한 광량 차이의 결함 등을 검출할 수 있어 불량 검출력을 향상시킬 수 있는 잇점이 있다.

엘시디, 불량, 검출, 모아레, 패턴, 분할, 점등

Description

엘시디의 분할촬영을 이용한 불량검출방법{Method for detecting fail of LCD using division photographing}

본 발명은 엘시디의 불량검출방법에 관한 것으로서, 특히 이웃하는 픽셀들 간의 간섭에 의하여 생성되는 모아레 현상을 제거한 상태로 엘시디의 불량을 검출할 수 있는 방법에 관한 것이다.

일반적으로, 엘시디(LCD) 자동화상 검사장치는 엘시디에 일정한 검사 패턴을 점등하고 점등된 검사 패턴을 촬영한 후 촬영하여 얻어진 이미지의 광량을 측정하여 엘시디의 불량을 검출한다. 도 1은 종래 엘시디 자동화상 검사장치를 이용한 엘시디의 불량검출 개념도로서, 패턴 발생기(10)로 엘시디(1)에 검사 패턴을 점등하고, 화상 카메라(20)로 검사 패턴을 촬영한 후 화상 처리기(30)로 이미지의 광량을 측정하여 엘시디의 불량을 검출한다.

구체적으로, 엘시디의 불량검출방법을 살펴보면, 하나의 검사 패턴으로 모든 서브 픽셀(Sub Pixel)을 동시에 점등하여 촬영한 후, 촬영된 이미지를 하나의 이미지(Raw Image)로 합하고 그 광량을 측정하여 엘시디의 불량을 검출한다.

그런데, 모든 서브 픽셀을 동시에 점등하여 촬영하게 되면 도 2에 도시한 바 와 같이 서브 픽셀들 간에 빛의 간섭 현상 즉 모아레 현상이 발생하게 되고, 모아레 현상이 있는 이미지로 불량을 검출하는 경우, 모아레와 불량의 정확한 구분이 어려워서 불량 검출력이 저하되는 문제점이 있다. 부연하자면, 엘시디에 특정한 패턴(White, Green, Red, Blue 등)을 동시에 점등하여 이를 화상 카메라로 촬영함으로써 촬영된 이미지에 이웃한 픽셀들 간 빛의 간섭으로 특정한 픽셀의 광량값이 자신의 온전한 광량값이 아닌 주위의 픽셀 간섭의 광량과 합산된 모아레 현상이 발생되어 불량 검출력이 저하되게 되는 것이다.

이에 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 서브 픽셀들 간 빛의 간섭으로 인한 모아레 현상을 제거하여 불량 검출력을 향상시킬 수 있는 엘시디의 분할촬영을 이용한 불량검출방법을 제공하는데 그 목적이 있다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 엘시디의 분할촬영을 이용한 불량검출방법은, 엘시디에 검사 패턴을 점등하고 점등된 검사 패턴을 촬영한 후 촬영하여 얻어진 이미지의 광량을 측정하여 엘시디의 불량을 검출하는 방법에 있어서, 엘시디에 하나의 검사 패턴을 서브 픽셀들 간 빛의 간섭으로 인한 모아레 현성을 제거하기 위하여 짝수 라인 짝수 열, 짝수 라인 홀수 열, 홀수 라인 짝수 열 및 홀수 라인 홀수 열과 같은 4개로 분할하여 점등하고, 화상 카메라로 분할 점등된 각각의 검사 패턴을 촬영한 후, 화상 카메라로 촬영하여 얻어진 4개의 분할 이미지를 하나의 이미지로 합하고 그 이미지의 광량을 측정하여 엘시디의 불량을 검출하는 것을 특징으로 한다.

삭제

본 발명에 따른 엘시디의 분할촬영을 이용한 불량검출방법은 이웃하는 픽셀들 간의 간섭에 의하여 생성되는 모아레 현상을 제거함으로써 미세한 광량 차이의 결함 등을 검출할 수 잇어 불량 검출력을 향상시킬 수 있는 잇점이 있다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명하기로 한다.

본 발명에서의 점등은 엘시디의 광량(0%~100%)을 0~255계조로 표현할 때 63계조 이상을 의미하는 것으로 한다.

도 3은 본 발명에 따른 엘시디의 분할촬영을 이용한 불량검출방법을 나타내는 흐름도, 도 4는 본 발명에 따른 엘시디의 분할촬영을 이용한 불량검출방법을 설명하기 위한 개념도이고, 도 5는 본 발명에 따라 체커 분산 패턴으로 빛의 간섭을 최소화하여 모아레 현상이 개선된 것을 보여주는 도면이다.

도 3에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 엘시디의 분할촬영을 이용한 불량검출방법은, 먼저 엘시디에 하나의 검사 패턴을 복수개로 분할하여 점등한다(S110). 즉, 서브 픽셀들 간 빛의 간섭으로 인한 모아레 현상을 제거하기 위하여 검사 패턴을 2개, 4개, 6개 등과 같은 복수개로 분할하여 점등하는 것이다. 이때, 효율적인 측면에서 고려할 때 하나의 패턴을 4개로 분할하여 점등하는 것이 유리하다. 만약, 하나의 패턴을 4개로 분할하여 점등한다면, 도 4에 도시한 바와 같이 짝수 라인 짝수 열, 짝수 라인 홀수 열, 홀수 라인 짝수 열 및 홀수 라인 홀수 열과 같은 형태로 4개로 분할하여 점등할 수 있다.

계속하여, 화상 카메라로 분할 점등된 검사 패턴을 촬영한다(S120).

마지막으로, 반복 촬영하여 얻어진 복수개로 분할된 이미지를 하나의 이미지로 합하고 그 이미지의 광량을 측정하여 엘시디의 불량을 검출한다(S130). 이와 같이, 엘시디의 모든 서브픽셀을 한꺼번에 동시에 점등하지 않고 이를 복수개로 분할 점등 촬영하여 얻어진 복수개의 이미지를 하나의 이미지로 합함으로써 빛의 간섭으 로 인한 모아레 현상이 제거된 깨끗한 이미지를 얻을 수 있어 불량 검출력을 향상시킬 수 있다.

패턴을 4개로 분산 점등하여 촬영하고 이를 합산하여 이미지를 생성하게 되면, 도 5에 도시한 바와 같이 모아레 현상이 제거되고 서브 픽셀들 간 광량값의 유의차가 적어 검출력을 향상시킬 수가 있다.

한편, 본 발명에 따른 엘시디의 분할촬영을 이용한 불량검출방법을 한정된 실시예에 따라 설명하였지만, 본 발명의 범위는 특정 실시예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명과 관련하여 통상의 지식을 가진자에게 자명한 범위내에서 여러 가지의 대안, 수정 및 변경하여 실시할 수 있다.

도 1은 종래 엘시디 자동화상 검사장치를 이용한 엘시디의 불량검출 개념도.

도 2는 종래 실수 배 컨벌루션에서 서브 픽셀 간의 불균형한 빛의 간섭으로 모아레 현상이 발생된 것을 보여주는 도면.

도 3은 본 발명에 따른 엘시디의 분할촬영을 이용한 불량검출방법을 나타내는 흐름도.

도 4는 본 발명에 따른 엘시디의 분할촬영을 이용한 불량검출방법을 설명하기 위한 개념도.

도 5는 본 발명에 따라 체커 분산 패턴으로 빛의 간섭을 최소화하여 모아레 현상이 개선된 것을 보여주는 도면.

Claims (2)

1. 삭제
2. 엘시디에 검사 패턴을 점등하고 점등된 검사 패턴을 촬영한 후 촬영하여 얻어진 이미지의 광량을 측정하여 엘시디의 불량을 검출하는 방법에 있어서,

   엘시디에 하나의 검사 패턴을 서브 픽셀들 간 빛의 간섭으로 인한 모아레 현성을 제거하기 위하여 짝수 라인 짝수 열, 짝수 라인 홀수 열, 홀수 라인 짝수 열 및 홀수 라인 홀수 열과 같은 4개로 분할하여 점등하고,

   화상 카메라로 분할 점등된 각각의 검사 패턴을 촬영한 후,

   화상 카메라로 촬영하여 얻어진 4개의 분할 이미지를 하나의 이미지로 합하고 그 이미지의 광량을 측정하여 엘시디의 불량을 검출하는 것을 특징으로 하는 엘시디의 분할촬영을 이용한 불량검출방법.

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