KR100842460B1 - 평판 디스플레이 패널의 도트 결함 검출 방법 - Google Patents
평판 디스플레이 패널의 도트 결함 검출 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100842460B1 KR100842460B1 KR1020060092335A KR20060092335A KR100842460B1 KR 100842460 B1 KR100842460 B1 KR 100842460B1 KR 1020060092335 A KR1020060092335 A KR 1020060092335A KR 20060092335 A KR20060092335 A KR 20060092335A KR 100842460 B1 KR100842460 B1 KR 100842460B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- dot
- defect
- detecting
- luminance
- image
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
- G09G2330/10—Dealing with defective pixels
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
Description
Claims (7)
- 평판 디스플레이 장치의 결함을 검출하기 위한 방법에 있어서,촬영 장치를 이용하여 각각의 색상 패턴에 대한 영상을 획득하는 단계;상기 색상 패턴의 영상에 대하여 변환 행렬을 이용한 캘리브레이션(calibration)을 수행하는 단계;상기 색상 패턴의 영상에 포함된 도트의 위치를 결정하는 단계; 및상기 도트의 휘도값을 기준값과 비교하여 도트 결함을 검출하는 단계를 포함하고,상기 도트 결함을 검출하는 단계는, 테스트 대상 도트의 인접 도트가 하이 도트(high dot)이면, 상기 테스트 대상 도트에 인접하는 상기 하이 도트의 반대편 인접 도트를 구성하는 적어도 1열의 픽셀을 포함하여 휘도를 측정하는 단계를 포함하는 결함 검출 방법.
- 삭제
- 삭제
- 제1항에 있어서,상기 도트 결함을 검출하는 단계는 테스트 대상 도트의 휘도가 정상 도트의 휘도값의 최저값보다 작은 경우 오프 도트 결함으로 판정하는 단계를 더 포함하는 방법.
- 제1항에 있어서,상기 도트 결함을 검출하는 단계는 테스트 대상 도트의 휘도가 정상 도트의 휘도값의 최대값보다 큰 경우 하이 도트 결함으로 판정하는 단계를 더 포함하는 방법.
- 제4항에 있어서,상기 오프 도트 결함이 가로 또는 세로 방향으로 5개 이상으로 연속하는 경우, 라인 결함으로 판정하는 단계를 더 포함하는 방법.
- 제5항에 있어서,상기 하이 도트 결함이 가로 또는 세로 방향으로 5개 이상으로 연속하는 경우, 라인 결함으로 판정하는 단계를 더 포함하는 방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060092335A KR100842460B1 (ko) | 2006-09-22 | 2006-09-22 | 평판 디스플레이 패널의 도트 결함 검출 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060092335A KR100842460B1 (ko) | 2006-09-22 | 2006-09-22 | 평판 디스플레이 패널의 도트 결함 검출 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080026995A KR20080026995A (ko) | 2008-03-26 |
KR100842460B1 true KR100842460B1 (ko) | 2008-07-01 |
Family
ID=39414190
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060092335A KR100842460B1 (ko) | 2006-09-22 | 2006-09-22 | 평판 디스플레이 패널의 도트 결함 검출 방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100842460B1 (ko) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105700206B (zh) * | 2016-02-16 | 2019-12-06 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种基板表面信息检测装置以及方法 |
CN109282967A (zh) * | 2018-09-21 | 2019-01-29 | 深圳市瑞易创科技有限公司 | 多功能测屏仪的测屏方法 |
CN116405661B (zh) * | 2023-04-28 | 2023-09-29 | 可诺特软件(深圳)有限公司 | 一种智能电视开发性能测试方法和装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20050033164A (ko) * | 2003-10-06 | 2005-04-12 | 바이옵트로 주식회사 | 평판디스플레이의 화질검사를 위한 자동 정렬방법 |
US20070030229A1 (en) | 2005-07-22 | 2007-02-08 | Li Liu | Defective pixel management for flat panel displays |
KR20070073078A (ko) * | 2006-01-03 | 2007-07-10 | 엘지전자 주식회사 | 평판디스플레이의 결함 좌표 검출방법 |
KR20070076711A (ko) * | 2006-01-19 | 2007-07-25 | 엘지전자 주식회사 | 평판디스플레이 결함 검사 방법 및 장치 |
-
2006
- 2006-09-22 KR KR1020060092335A patent/KR100842460B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20050033164A (ko) * | 2003-10-06 | 2005-04-12 | 바이옵트로 주식회사 | 평판디스플레이의 화질검사를 위한 자동 정렬방법 |
US20070030229A1 (en) | 2005-07-22 | 2007-02-08 | Li Liu | Defective pixel management for flat panel displays |
KR20070073078A (ko) * | 2006-01-03 | 2007-07-10 | 엘지전자 주식회사 | 평판디스플레이의 결함 좌표 검출방법 |
KR20070076711A (ko) * | 2006-01-19 | 2007-07-25 | 엘지전자 주식회사 | 평판디스플레이 결함 검사 방법 및 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20080026995A (ko) | 2008-03-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI665655B (zh) | 應用於顯示面板之光學補償裝置及其運作方法 | |
CN103792705B (zh) | 检测基板缺陷的检测方法及检测装置 | |
JP4436810B2 (ja) | ディスプレーの多角度計測システム及び方法 | |
US20110249116A1 (en) | Color measuring apparatus and color measuring method | |
KR20160061541A (ko) | 비전 검사 장치 및 이의 감마 및 얼룩 보정 방법 | |
US9286859B2 (en) | Brightness measurement method and brightness adjustment device for display elements | |
WO2013078708A1 (zh) | 一种自动光学检测方法和光学自动检测设备 | |
US20190158823A1 (en) | Measurement method for measuring display panel and apparatus thereof | |
CN108957799A (zh) | 一种lcd显示模组背光色度均匀性的检测方法 | |
US20150356896A1 (en) | Apparatus and method for image analysis and image display | |
KR100842460B1 (ko) | 평판 디스플레이 패널의 도트 결함 검출 방법 | |
JP2002267574A (ja) | カラー表示装置の測色装置、測色方法、画質調整・検査装置、画質調整・検査方法 | |
US9672768B2 (en) | Luminance-chrominance calibration production line of LED display module | |
CN104658461A (zh) | 显示器发光均匀性的测试方法 | |
US9646224B2 (en) | Image processing method, image processing device and automated optical inspection machine | |
JP2010098364A (ja) | ラインセンサを用いた動画応答特性の測定方法及び装置 | |
KR101668039B1 (ko) | 디스플레이 패널 점등 검사방법 | |
CN110780478A (zh) | 一种液晶屏校准检测方法 | |
JP2005337797A (ja) | 表示素子の画素位置取得方法および表示用パネルの検査方法 | |
US10048131B2 (en) | Chromaticity test method and chromaticity test apparatus | |
TWI470207B (zh) | 灰階-明度對照關係式的建立方法、顯示面板檢測方法、及顯示面板自動檢測系統 | |
KR101420331B1 (ko) | 디스플레이 패널 휘도의 불균일도 측정방법 | |
JP5634473B2 (ja) | パネル評価システム及びパネル評価方法 | |
JP5396950B2 (ja) | カラーフィルタの検査装置及び検査方法、ならびにカラーフィルタの製造方法 | |
KR20210085411A (ko) | 반복 얼룩 검출 장치 및 반복 얼룩 검출 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
N231 | Notification of change of applicant | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130620 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140624 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150527 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160622 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170622 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180619 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190624 Year of fee payment: 12 |