KR100818563B1 - Method of testing for display panel and the device thereof - Google Patents

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Abstract

A display panel testing method and a testing device are provided to check defects of a data line or a gate line directly by applying an image signal to be transmitted to a shorting bar, to an OLB(Outer Layer Bonding) pad directly while the shorting bar of a display panel is not removed. A display panel testing method executes VI(Visual Inspection) and GT(Gross Test) of a display panel by a probe unit. The display panel comprises an OLB pad formed at the end of a signal line including a data line or a gate line, a shorting bar electrically connected to the OLB pad, and a test signal input pad inputting a test signal to the shorting bar. The probe unit has plural probe pins contacting to the test signal input pad and the OLB pad of the display panel and a shorting circuit board applying an electric signal to the probe pins. The shorting circuit board is composed of a red signal line connected with the probe pins contacting to the OLB pad, a green signal line(142), a blue signal line, a red shorting wire(144) connected with the red signal line, a green shorting wire(145) connected with the green signal line, a blue shorting wire(146) connected with the blue signal line, a shorting film(140A) stuck with the red, green, and blue shorting wires, and an OLB wire film(140B) stuck with the red, green, and blue signal lines and overlapped with the shorting film. The OLB wire film has a through-hole(140Ba) contacting with the shorting wires. The probe pins of the probe unit are contacted to the OLB pad and the test signal input pad at the same time. One of the test signals for VI and GT is selectively applied to at least one of the OLB pad and the test signal input pad through the probe pins of the probe unit.

Description

디스플레이 패널 검사방법 및 장치{Method of testing for display panel and the device thereof} Display panel test method and device

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 패널 검사장치를 나타낸 블럭도,1 is a block diagram showing a display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention;

도 2는 도 1에 도시된 디스플레이 패널 검사장치의 프로브유닛을 나타낸 개략적 측단면도,Figure 2 is a schematic side cross-sectional view showing a probe unit of the display panel inspection device shown in FIG.

도 3은 도 2에 도시된 프로브유닛을 나타낸 사시도,3 is a perspective view showing the probe unit shown in FIG.

도 4는 도 2에 도시된 쇼핑 회로기판의 배선도,4 is a wiring diagram of a shopping circuit board shown in FIG. 2;

도 5는 도 4에 도시된 A-A선을 따라 절개한 개략적 측단면도, FIG. 5 is a schematic side cross-sectional view cut along the line A-A shown in FIG. 4;

도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 패널 검사방법을 나타낸 블럭도이다.6 is a block diagram illustrating a display panel inspection method according to an exemplary embodiment of the present invention.

※ 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 ※※ Explanation of code about main part of drawing ※

110 : 지그 111 : PCB 110: jig 111: PCB

120 : 프로브블록 130 : 탐침핀 120: probe block 130: probe pin

140 : 쇼팅 회로기판 140A : 쇼팅필름 140: shorting circuit board 140A: shorting film

140B : OLB배선필름 140Ba : 관통공 140B: OLB Wiring Film 140Ba: Through Hole

141 : 적색 신호선 142 : 녹색 신호선 141: red signal line 142: green signal line

143 : 청색 신호선 144 : 적색 쇼팅배선 143: blue signal line 144: red shorting wiring

145 : 녹색 쇼팅배선 146 : 청색 쇼팅배선 145: green shorting wiring 146: blue shorting wiring

147 : 전원공급배선 148 : 쇼팅바 신호공급배선 147: power supply wiring 148: shorting bar signal supply wiring

150 : 연결FPC 160 : 신호발생기 150: connection FPC 160: signal generator

170 : 전원 180 : 검사램프부 170: power supply 180: inspection lamp

10 : 패널몸체 11 : 데이터 라인 10 panel body 11: data line

12 : 게이트 라인 13 : 전기공급라인 12: gate line 13: electricity supply line

14 : OLB패드 15 : 쇼팅바 14: OLB pad 15: shorting bar

16 : 검사신호 입력패드 16: test signal input pad

본 발명은 디스플레이 패널 검사방법 및 장치에 관한 것으로, 특히 프로브유닛을 이용한 디스플레이 패널 검사방법 및 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a display panel inspection method and apparatus, and more particularly, to a display panel inspection method and apparatus using a probe unit.

일반적으로, LCD를 비롯한 디스플레이 패널의 제조공정에서 패널의 불량 여부를 검사하기 위해 다양한 검사공정이 이루어지고 있고, 각 검사공정을 위한 다양한 장비들이 개발되어 있다. In general, various inspection processes are performed to inspect whether a panel is defective in the manufacturing process of a display panel including an LCD, and various equipments for each inspection process have been developed.

비쥬얼 인스펙션(Visual Inspection: VI)은 다수 개의 게이트 라인 및/또는 데이터 라인이 연결된 쇼팅바(shorting bar)에 소정의 전압을 인가하여 액정 패널에 흑백 상태의 화상을 표시하여 게이트 라인 및/또는 데이터라인의 불량 여부를 검사하는 공정이다. Visual Inspection (VI) applies a predetermined voltage to a shorting bar to which a plurality of gate lines and / or data lines are connected, and displays a black and white image on the liquid crystal panel to display the gate lines and / or data lines. It is a process to check whether there is a defect.

여기서, 흑백 상태의 화상은 쇼팅바에 소정의 전압을 인가하여 구현될 수 있다. 이와 같이 구현된 흑백 화상은 CCD(Charge-Coupled Device) 카메라를 통해 도트(dot), 라인(line), 유니폼(uniform) 등의 불량 여부을 확인하는 데 이용된다.Here, the black and white image may be implemented by applying a predetermined voltage to the shorting bar. The black and white image implemented as described above is used to check whether a dot, line, uniform, etc. is defective through a CCD (Charge-Coupled Device) camera.

그로스 테스트(Gross Test: GT)는 게이트 및 데이터 구동 IC를 실장하기 전에 백라이트 유닛 및 구동 IC들이 조립된 모듈(module)과 동일한 환경에서 액정 패널의 동작 특성 및 도트(dot)/화소(pixel)의 불량 여부를 판단하는 공정으로, 쇼팅바를 제거한 후 모든 개별 화소에 대해 독립적인 신호를 인가하여 완제품과 동일하게 풀 컬러(full color)를 디스플레이되게 한다. The Gross Test (GT) is based on the operation characteristics of the liquid crystal panel and the dot / pixel in the same environment as the module in which the backlight unit and the driving ICs are assembled before mounting the gate and data driving ICs. In the process of determining whether there is a defect, after removing the shorting bar, an independent signal is applied to all individual pixels so that the full color is displayed in the same manner as the finished product.

피검사체(디스플레이 패널)에는 비쥬얼 인스펙션을 위하여 프로브유닛의 탐침핀에 접촉되는 검사신호 입력패드와 그로스 테스트시 접촉되는 OLB패드가 구비되어 있다. 또한, 종래 검사신호 입력패드와 OLB패드는 복수개의 쇼팅바에 전기적으로 연결되어 있다. The inspected object (display panel) is provided with an inspection signal input pad in contact with the probe pin of the probe unit for visual inspection and an OLB pad in contact with the gross test. In addition, the conventional test signal input pad and the OLB pad are electrically connected to the plurality of shorting bars.

한편, 종래에는 그로스 테스트장치와 비쥬얼 테스트장치가 별개로 구비되어 그로스 테스트와 비쥬얼 테스트가 서로 다른 장치에서 수행되었다. 즉, 비쥬얼 익스펙션을 마친 후에 OLB패드들을 쇼팅바로부터 단락시킨 후에 그로스 테스트를 위한 별도의 장비로 디스플레이 패널을 테스트하게 된다. Meanwhile, in the related art, a gross test apparatus and a visual test apparatus are separately provided so that the gross test and the visual test are performed in different devices. In other words, after finishing visual inspection, the OLB pads are shorted from the shorting bar, and then the display panel is tested with a separate device for gross testing.

여기서, 비쥬얼 인스펙션시에는 검사신호 입력패드와 OLB패드가 모두 쇼팅바에 연결되어 있는 상태이므로 영상신호 검출시 쇼팅바의 손상으로 인해 영상신호가 검출되지 않는 것과 데이타 라인이나 게이트 라인의 결함으로 인해 영상신호가 검 출되지 않는 것을 구별할 수 없었다. 그로 인해 양호한 디스플레이 패널도 불량으로 분류되는 문제점이 있었다. In the visual inspection, both the test signal input pad and the OLB pad are connected to the shorting bar. As a result, the video signal could not be distinguished from the detection of the video signal due to a defect in the data line or the gate line. As a result, there is a problem that a good display panel is also classified as defective.

따라서, 본 발명은 상기한 바와 같은 종래 디스플레이 패널 검사방법이 가지는 문제점들을 개선하기 위해 창출된 것으로, 프로브유닛의 탐침핀을 디스플레이 패널에 일회 접촉시켜 비쥬얼 인스펙션과 그로스 테스트를 모두 수행할 수 있는 디스플레이 패널 검사방법을 제공함에 그 목적이 있다. Therefore, the present invention was created to improve the problems of the conventional display panel inspection method as described above, the display panel capable of performing both visual inspection and gross test by contacting the probe pin of the probe unit to the display panel once. Its purpose is to provide an inspection method.

또한, 본 발명은 디스플레이 패널의 검사신호 입력패드와 OLB패드에 프로브유닛의 탐침핀이 동시에 접촉할 수 있도록 된 디스플레이 패널 검사장치를 제공함에 다른 목적이 있다.In addition, another object of the present invention is to provide a display panel inspection apparatus which allows a probe pin of a probe unit to simultaneously contact an inspection signal input pad and an OLB pad of a display panel.

상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 의한 디스플레이 패널 검사방법은, 데이터 라인이나 게이트 라인을 포함하는 신호라인의 단부에 형성된 OLB패드와, 비쥬얼 인스펙션을 위하여 상기 OLB패드와 전기적으로 연결된 쇼팅바, 및 상기 쇼팅바로 검사신호가 입력되는 검사신호 입력패드를 구비한 디스플레이 패널을 프로브유닛으로 검사하는 방법에 있어서, 상기 OLB패드 및 검사신호 입력패드 모두에 프로브유닛의 탐침핀들을 동시에 접촉시키고, 상기 OLB패드 및 검사신호 입력패드 중 적어도 하나에 상기 프로브유닛의 탐침핀들을 통하여 검사신호를 선택적으로 인가하는 것을 특징으로 한다. In order to achieve the above object, the display panel inspection method according to the present invention includes an OLB pad formed at an end of a signal line including a data line or a gate line, and a shorting bar electrically connected to the OLB pad for visual inspection. And a display unit including a test signal input pad through which a test signal is input to the shorting bar by a probe unit, wherein the probe pins of the probe unit are simultaneously brought into contact with both the OLB pad and the test signal input pad. The test signal may be selectively applied to at least one of the OLB pad and the test signal input pad through the probe pins of the probe unit.

또한, 상기한 바의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치는, 데이터 라인이나 게이트 라인을 포함하는 신호라인의 단부에 형성된 OLB패드와, 상기 OLB패드와 전기적으로 연결된 쇼팅바, 및 상기 쇼팅바로 검사신호가 입력되는 검사신호 입력패드를 구비한 디스플레이 패널을 프로브유닛으로 검사하는 장치에 있어서, 상기 프로브유닛은, 디스플레이 패널의 검사신호 입력패드와 OLB패드에 동시에 접촉하는 복수개의 탐침핀; 및 상기 탐침핀으로 전기신호를 인가하는 쇼팅 회로기판;을 포함하는 것을 특징으로 한다. In addition, the display panel inspection apparatus according to the present invention for achieving the above object, an OLB pad formed at the end of the signal line including a data line or a gate line, a shorting bar electrically connected to the OLB pad, and An apparatus for inspecting a display panel having a test signal input pad through which a test signal is input to the shorting bar by a probe unit, wherein the probe unit comprises a plurality of probe pins simultaneously contacting a test signal input pad and an OLB pad of a display panel. ; And a shorting circuit board configured to apply an electrical signal to the probe pin.

바람직하게는, 상기 쇼팅 회로기판은 OLB패드에 접촉하는 탐침핀과 연결되는 적색 신호선과 녹색 신호선 및 청색 신호선을 포함하는 OLB배선, 상기 OLB배선 중 다수개의 적색 신호선이 연결되는 적색 쇼팅배선, 상기 OLB배선 중 다수개의 녹색 신호선이 연결되는 녹색 쇼팅배선, 및 상기 OLB배선 중 청색 신호선이 연결되는 청색 쇼팅배선을 포함한다.Preferably, the short circuit board includes an OLB wire including a red signal line and a green signal line and a blue signal line connected to a probe pin contacting the OLB pad, a red shorting wire to which a plurality of red signal lines of the OLB wire are connected, and the OLB. And a green shorting line to which a plurality of green signal lines are connected, and a blue shorting line to which a blue signal line is connected among the OLB lines.

더욱 바람직하게는, 상기 쇼팅 회로기판은 상기 적색 쇼팅배선과 녹색 쇼팅배선 및 청색 쇼팅배선이 고착된 쇼팅필름; 및 상기 OLB배선이 고착되고, 상기 쇼팅필름과 겹쳐져 결합되며, 상기 쇼팅배선들과의 접촉을 위한 관통공이 형성된 OLB배선필름;을 더 포함한다. More preferably, the shorting circuit board may include a shorting film to which the red shorting wiring, the green shorting wiring, and the blue shorting wiring are fixed; And an OLB wiring film fixed to the OLB wiring, overlapping with the shorting film, and having a through hole for contact with the shorting wiring.

바람직하게는, 상기 디스플레이 패널의 신호라인은 전기테스트를 위한 전기공급라인을 포함하고, 상기 쇼팅 회로기판은 상기 전기공급라인으로 전원을 인가하기 위한 전원공급배선을 포함한다. Preferably, the signal line of the display panel includes an electrical supply line for an electrical test, and the shorting circuit board includes a power supply wiring for applying power to the electrical supply line.

더욱 바람직하게는, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치는 상기 전기신호선에 전원의 인가 여부를 표시하는 전원검사램프를 더 포함한다.More preferably, the display panel inspection apparatus according to the present invention further includes a power inspection lamp for indicating whether power is applied to the electrical signal line.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail a preferred embodiment of the display panel inspection apparatus according to the present invention.

도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 검사장치에 의해 검사되는 디스플레이 패널은 패널몸체(10)와, 데이터 라인(11)이나 게이트 라인(12) 및 전기공급라인(13)의 단부에 형성된 OLB패드(14)와, 상기 OLB패드(14)와 전기적으로 연결된 쇼팅바(15), 및 상기 쇼팅바(15)로 검사신호가 입력되는 검사신호 입력패드(16)를 구비하고 있다. As shown in FIG. 1, the display panel inspected by the inspection apparatus according to the present invention is formed at the end of the panel body 10, the data line 11, the gate line 12, and the electricity supply line 13. An OLB pad 14, a shorting bar 15 electrically connected to the OLB pad 14, and a test signal input pad 16 through which the test signal is input to the shorting bar 15.

상기 데이터 라인(11)과 게이트 라인(12)은 패널몸체(10)의 가장자리에 서로 교차되게 가로방향과 세로방향으로 구분되어 각각 형성되어 있다. 따라서, 가로방향으로 데이터 라인(11)이 형성되고 세로방향으로 게이트 라인(12)이 형성된 경우, 가로방향의 OLB패드(14)는 데이터 라인(11)과 전기공급라인(13)의 단부에 형성되고, 세로방향의 OLB패드(14)는 게이트 라인(12)과 전기공급라인(13)의 단부에 형성되어 있다.The data line 11 and the gate line 12 are formed in the horizontal direction and the vertical direction so as to cross each other at the edge of the panel body 10. Therefore, when the data line 11 is formed in the horizontal direction and the gate line 12 is formed in the vertical direction, the OLB pads 14 in the horizontal direction are formed at the ends of the data line 11 and the electricity supply line 13. The longitudinal OLB pad 14 is formed at the ends of the gate line 12 and the electricity supply line 13.

또한, 상기 데이터 라인(11)과 게이트 라인(12)은 쇼팅바(15)까지 연장되어 쇼트되어 있다. 상기 쇼팅바(15)의 선단에 검사신호 입력패드(16)가 형성되어 쇼팅바(15)로 외부의 검사신호를 인가하게 된다.In addition, the data line 11 and the gate line 12 are shortened by extending to the shorting bar 15. An inspection signal input pad 16 is formed at the tip of the shorting bar 15 to apply an external inspection signal to the shorting bar 15.

도 1 내지 도 4를 참조하면, 본 발명의 일실시예에 따른 디스플레이 패널 검사장치는 지그(110)에 결합되는 프로브유닛, 상기 쇼팅 회로기판(140)과 지그(110)상의 PCB(111)를 연결하는 연결FPC(150), 상기 연결FPC(150)를 통해 상기 쇼팅 회 로기판(140)으로 전기신호를 인가하는 신호발생기(160), 상기 연결FPC로 전원을 공급하는 전원(170)을 포함한다. 1 to 4, a display panel inspection apparatus according to an exemplary embodiment may include a probe unit coupled to a jig 110, the shorting circuit board 140, and a PCB 111 on the jig 110. A connection FPC 150 for connecting, a signal generator 160 for applying an electrical signal to the shorting circuit board 140 through the connection FPC 150, and a power supply 170 for supplying power to the connection FPC. do.

상기 프로브유닛은 지그(110)에 결합되는 프로브블록(120)과, 디스플레이 패널의 검사신호 입력패드(16)와 OLB패드(14)에 동시에 접촉하는 복수개의 탐침핀(130), 상기 탐침핀(130)으로 전기신호를 인가하는 쇼팅 회로기판(140)을 포함한다. The probe unit includes a probe block 120 coupled to the jig 110, a plurality of probe pins 130 simultaneously contacting the test signal input pad 16 and the OLB pad 14 of the display panel, and the probe pins ( And a shorting circuit board 140 for applying an electrical signal to the 130.

상기 탐침핀(130)은 프로브블록(120)의 선단에 서로 소정간격을 두고 다수개가 구비되어 디스플레이 패널에 접촉하게 된다. The probe pins 130 are provided at the front end of the probe block 120 at predetermined intervals to contact the display panel.

상기 탐침핀(130)은 검사신호 입력패드(16)에 접촉하는 것과 OLB패드(14)에 접촉하는 것이 서로 소정간격을 두고 일렬로 배열되어 있다. The probe pins 130 are arranged in a line at predetermined intervals to contact the test signal input pad 16 and the OLB pad 14.

도 4를 참조하면, 상기 쇼팅 회로기판(140)은 OLB패드(14)에 접촉하는 탐침핀(130)과 연결되는 적색 신호선(141)과 녹색 신호선(142) 및 청색 신호선(143), 상기 적색 신호선(141)이 연결되는 적색 쇼팅배선(144), 상기 녹색 신호선(142)이 연결되는 녹색 쇼팅배선(145), 상기 청색 신호선(143)이 연결되는 청색 쇼팅배선(146), 및 디스플레이 패널로 전원을 인가하기 위한 전원공급배선(147)을 포함한다.Referring to FIG. 4, the shorting circuit board 140 includes a red signal line 141, a green signal line 142, a blue signal line 143, and the red signal connected to the probe pin 130 contacting the OLB pad 14. A red shorting wiring 144 to which the signal line 141 is connected, a green shorting wiring 145 to which the green signal line 142 is connected, a blue shorting wiring 146 to which the blue signal line 143 is connected, and a display panel. And a power supply wiring 147 for applying power.

상기 적색 신호선(141)은 디스플레이 패널에서 데이터 라인(11)이나 게이트 라인(12) 중 적색 신호라인에 대응된다. The red signal line 141 corresponds to the red signal line of the data line 11 or the gate line 12 in the display panel.

상기 녹색 신호선(142)은 데이터 라인(11)이나 게이트 라인(12) 중에서 녹색 신호라인과 대응되고, 청색 신호선(143)은 청색 신호라인과 대응된다. The green signal line 142 corresponds to the green signal line among the data line 11 or the gate line 12, and the blue signal line 143 corresponds to the blue signal line.

상기 적색 신호선(141)은 다수개가 하나의 적색 쇼팅배선(144)에 쇼트되고, 다수개의 녹색 신호선(142)은 하나의 녹색 쇼팅배선(145)에 쇼트되며, 다수개의 청색 신호선(143)은 청색 쇼팅배선(146)에 쇼트된다. The plurality of red signal lines 141 are shorted to one red shorting line 144, the plurality of green signal lines 142 are shorted to one green shorting line 145, and the plurality of blue signal lines 143 are blue. The shorting wiring 146 is shorted.

따라서, 하나의 쇼팅배선에 다수개의 신호선들이 연결되고, 쇼팅배선들만을 연장하여 배선이 차지하는 면적을 줄일 수 있게 된다. 그로 인해, 쇼팅배선들의 외측으로 전원공급배선(147)이 함께 형성될 수 있는 공간이 충분히 확보된다.Therefore, a plurality of signal lines are connected to one shorting line, and only the shorting lines may be extended to reduce an area occupied by the line. As a result, a space sufficient for the power supply wiring 147 to be formed together outside the shorting wirings is ensured.

이에 탐침핀(130)이 접촉되는 쪽의 신호선들보다 지그(110)쪽의 쇼팅배선들의 폭을 넓게 형성할 수 있게 된다. 이는 연결FPC(150)와 접촉하는 단자부와 쇼팅 회로기판(140)의 단자부의 접촉면적이 커져 안정적인 접촉을 할 수 있게 한다. 이와 동시에 단자부들간의 간격을 여유있게 형성함으로써 단자부들간의 간섭이나 쇼트를 방지할 수 있게 한다. Accordingly, the width of the shorting wires on the jig 110 may be wider than the signal lines on the side where the probe pin 130 contacts. This increases the contact area of the terminal portion in contact with the connection FPC 150 and the terminal portion of the shorting circuit board 140 to allow stable contact. At the same time, the gap between the terminal portions is formed with a margin to prevent interference or short between the terminal portions.

상기 적색 쇼팅배선(144)과 녹색 쇼팅배선(145) 및 청색 쇼팅배선(146)은 쇼팅필름(140A)에 고착된 FPC형태를 이루게 된다. 또한, 상기 적색 신호선(141)과 녹색 신호선(142) 및 청색 신호선(143)은 OLB배선필름(140B)에 고착된 FPC형태를 이루게 된다. 상기 쇼팅필름(140A)과 OLB배선필름(140B)은 폴리아미드와 같은 연성의 재질로 형성된다. The red shorting wiring 144, the green shorting wiring 145, and the blue shorting wiring 146 form an FPC that is fixed to the shorting film 140A. In addition, the red signal line 141, the green signal line 142, and the blue signal line 143 form an FPC form adhered to the OLB wiring film 140B. The shorting film 140A and the OLB wiring film 140B are formed of a soft material such as polyamide.

도 5에 도시된 바와 같이, 상기 쇼팅필름(140A)에서 상기 적색 쇼팅배선(144)과 녹색 쇼팅배선(145) 및 청색 쇼팅배선(146)은 일측이 외부로 노출되어 상기 OLB배선필름(140B)상의 신호선들과 접촉할 수 있게 된다. 또한, 상기 OLB배선필름(140B)의 일측에는 신호선들과 쇼팅배선들의 접촉을 위한 관통공(140Ba)이 형 성되어 있다. As shown in FIG. 5, one side of the red shorting wiring 144, the green shorting wiring 145, and the blue shorting wiring 146 is exposed to the outside in the shorting film 140A, so that the OLB wiring film 140B is exposed. It is possible to contact the signal lines on the image. In addition, a through hole 140Ba is formed at one side of the OLB wiring film 140B for contact between the signal lines and the shorting wiring.

그리고, 상기 OLB배선필름(140B)과 쇼팅필름(140A)이 겹쳐져 결합되어 상기 관통공(140Ba)을 통해 신호선들과 쇼팅배선들이 접촉하게 된다. In addition, the OLB wiring film 140B and the shorting film 140A are overlapped and coupled to each other so that the signal lines and the shorting wirings come into contact with each other through the through hole 140Ba.

즉, 상기 적색 신호선(141)과 적색 쇼팅배선(144)이 교차하는 부분에 관통공(140Ba)이 형성되어 적색 신호선(141)이 적색 쇼팅배선(144)에 쇼트된다. 상기 녹색 신호선(142)과 녹색 쇼팅배선(145)이 교차하는 부분에도 쇼트를 위한 관통공(140Ba)이 형성되며, 상기 청색 신호선(143)과 청색 쇼팅배선(146)이 교차하는 부분에도 마찬가지로 관통공(140Ba)이 형성된다.That is, a through hole 140Ba is formed in a portion where the red signal line 141 and the red shorting line 144 cross each other, and the red signal line 141 is shorted to the red shorting line 144. A through hole 140Ba for short is also formed in a portion where the green signal line 142 and the green shorting line 145 intersect, and a portion through which the blue signal line 143 and the blue shorting line 146 intersect. Ball 140Ba is formed.

한편, 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 전원공급배선(147)의 통전여부를 테스트하기 위하여 전원공급배선(147)에는 검사램프부(180)로 연결되어 있다.On the other hand, as shown in Figure 1, in order to test whether the power supply wiring 147 is connected to the power supply wiring 147 is connected to the inspection lamp unit 180.

상기 검사램프부(180)는 지그(110)의 일측에 구비되어 연결FPC(150)를 통해 전원공급배선(147)과 전기적으로 연결됨으로써 전원공급배선(147)의 통전여부를 테스트하게 된다. 즉, 상기 검사램프부(180)는 상기 전원공급배선(147) 마다 각각의 램프를 독립적으로 구비하여 전원공급배선(147)의 통전여부에 따라 점등함으로써 통전상태를 나타내게 된다. The inspection lamp unit 180 is provided at one side of the jig 110 to be electrically connected to the power supply wiring 147 through the connection FPC 150 to test whether the power supply wiring 147 is energized. That is, the inspection lamp unit 180 is provided with each lamp independently for each of the power supply wiring 147 to turn on according to whether the power supply wiring 147 is energized to indicate an energized state.

상기 쇼팅 회로기판(140)에는 디스플레이 패널의 검사신호 입력패드(16)에 접촉하는 탐침핀(130)으로 신호를 입력하는 쇼팅바 신호공급배선(148)이 구비되어 있다.The shorting circuit board 140 is provided with a shorting bar signal supply wiring 148 for inputting a signal to the probe pin 130 in contact with the test signal input pad 16 of the display panel.

상기 쇼팅바 신호공급배선(148)은 탐침핀(130)을 통해 디스플레이 패널의 검사신호 입력패드(16)로 신호를 인가함으로써 쇼팅바(15)로 신호를 공급하게 된다.The shorting bar signal supply wiring 148 supplies a signal to the shorting bar 15 by applying a signal to the test signal input pad 16 of the display panel through the probe pin 130.

상기 쇼팅 회로기판(140)의 쇼팅바 신호공급배선(148)은 비쥬얼 인스펙션을 위하여 탐침핀(130)을 통해 상기 검사신호 입력패드(16)로 신호를 인가한다. 이때 쇼팅 회로기판(140)의 적색 신호선(141)과 녹색 신호선(142)과 청색 신호선(143) 및 전원공급배선(147)과 접촉하는 탐침핀(130)들은 OLB패드(14)에 접촉되어 있다. The shorting bar signal supply wiring 148 of the shorting circuit board 140 applies a signal to the test signal input pad 16 through the probe pin 130 for visual inspection. At this time, the probe pins 130 contacting the red signal line 141, the green signal line 142, the blue signal line 143, and the power supply wiring 147 of the short circuit board 140 are in contact with the OLB pad 14. .

또한, 상기 쇼팅 회로기판(140)의 적색 신호선(141)과 녹색 신호선(142)과 청색 신호선(143)은 그로스 테스트를 위하여 탐침핀(130)을 통해 OLB패드(14)로 신호를 인가한다. 이때 쇼팅바 신호공급배선(148)과 접촉하는 탐침핀(130)들은 검사신호 입력패드(16)에 접촉되어 있다. In addition, the red signal line 141, the green signal line 142, and the blue signal line 143 of the short circuit board 140 apply a signal to the OLB pad 14 through the probe pin 130 for the gross test. At this time, the probe pins 130 contacting the shorting bar signal supply wiring 148 are in contact with the test signal input pad 16.

그리고, 상기 쇼팅 회로기판(140)의 전기공급라인(13)은 전기적 테스트를 위하여 탐침핀(130)을 통해 OLB패드(14)로 전기신호를 인가한다. The electrical supply line 13 of the shorting circuit board 140 applies an electrical signal to the OLB pad 14 through the probe pin 130 for electrical testing.

도 1과 도 6을 참조하면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사방법은 디스플레이 패널의 OLB패드(14) 및 검사신호 입력패드(16) 모두에 프로브유닛의 탐침핀(130)들을 동시에 접촉시키는 단계, 및 상기 OLB패드(14) 및 검사신호 입력패드(16) 중 적어도 하나에 상기 프로브유닛의 탐침핀(130)들을 통하여 검사신호를 선택적으로 인가하는 단계를 포함한다. 1 and 6, the display panel inspection method according to the present invention includes the steps of simultaneously contacting the probe pins 130 of the probe unit to both the OLB pad 14 and the test signal input pad 16 of the display panel; And selectively applying a test signal to at least one of the OLB pad 14 and the test signal input pad 16 through the probe pins 130 of the probe unit.

먼저, 비쥬얼 인스펙션을 수행하는 과정을 설명하면,First, the process of performing visual inspection,

디스플레이 패널의 OLB패드(14) 및 검사신호 입력패드(16) 모두에 프로브유닛의 탐침핀(130)들을 동시에 접촉시킨 상태에서, 상기 쇼팅바 신호공급배선(148)을 통해 검사신호 입력패드(16)로 검사신호를 인가한다. In the state in which both the probe pins 130 of the probe unit are in contact with both the OLB pad 14 and the test signal input pad 16 of the display panel, the test signal input pad 16 is connected through the shorting bar signal supply wiring 148. Apply the test signal with.

상기 검사신호 입력패드(16)로 입력된 검사신호는 쇼팅바(15)를 통해 데이터 라인(11)이나 게이트 라인(12)으로 인가된다. 이때 상기 OLB패드(14)에 접촉된 탐침핀(130)으로는 신호가 입력되지 않는다.The test signal input to the test signal input pad 16 is applied to the data line 11 or the gate line 12 through the shorting bar 15. At this time, no signal is input to the probe pin 130 in contact with the OLB pad 14.

그로스 테스트 과정을 설명하면, Explaining the gross testing process,

비쥬얼 인스펙션시와 마찬가지로, 디스플레이 패널의 OLB패드(14) 및 검사신호 입력패드(16) 모두에 프로브유닛의 탐침핀(130)들을 동시에 접촉시킨 상태에서, OLB패드(14)에 접촉된 탐침핀(130)으로 신호를 입력하여 데이터 라인(11)이나 게이트 라인(12)의 그로스 테스트를 수행한다. 이때, 상기 검사신호 입력패드(16)에 접촉된 탐침핀(130)으로는 검사신호가 입력되지 않는다.As in the case of visual inspection, the probe pin 130 in contact with the OLB pad 14 while the probe pins 130 of the probe unit are simultaneously brought into contact with both the OLB pad 14 and the test signal input pad 16 of the display panel. The signal is input to 130 to perform a gross test on the data line 11 or the gate line 12. At this time, the test signal is not input to the probe pin 130 in contact with the test signal input pad 16.

또한, 전기적 테스트 과정을 설명하면,In addition, describing the electrical test process,

그로스 테스트나 비쥬얼 인스펙션시와 마찬가지로, 디스플레이 패널의 OLB패드(14) 및 검사신호 입력패드(16) 모두에 프로브유닛의 탐침핀(130)들을 동시에 접촉시킨 상태에서, 상기 OLB패드(14)에 접촉된 탐침핀(130)을 통해 전기공급라인(13)으로 전기신호를 인가한다. 이때, 상기 검사신호 입력패드(16)에 접촉된 탐침핀(130)으로는 검사신호가 입력되지 않는다.As in the gross test or visual inspection, the OLB pad 14 is contacted with the probe pins 130 of the probe unit being simultaneously brought into contact with both the OLB pad 14 and the test signal input pad 16 of the display panel. The electrical signal is applied to the electricity supply line 13 through the probe pin 130. At this time, the test signal is not input to the probe pin 130 in contact with the test signal input pad 16.

이와 같이, 디스플레이 패널의 OLB패드(14) 및 검사신호 입력패드(16) 모두에 프로브유닛의 탐침핀(130)들을 동시에 접촉시킨 상태에서 그로스 테스트과 비쥬얼 인스펙션 및 전기적 테스트 중 어느 하나를 선택적으로 수행할 수 있게 된다. In this way, while the probe pins 130 of the probe unit are simultaneously brought into contact with both the OLB pad 14 and the test signal input pad 16 of the display panel, one of a gross test, a visual inspection, and an electrical test may be selectively performed. It becomes possible.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사방법 및 장 치에 의하면, 디스플레이 패널 상의 쇼팅바가 제거되지 않은 상태에서 쇼팅바에 인가할 영상신호를 OLB패드에 직접 인가함으로써 데이타 라인이나 게이트 라인의 결함을 직접 확인할 수 있게 된다.As described above, according to the display panel inspection method and apparatus according to the present invention, a defect of a data line or a gate line is applied by directly applying an image signal to be applied to the shorting bar to the OLB pad without the shorting bar on the display panel being removed. You can check it yourself.

또한, 프로브유닛의 탐침핀을 디스플레이 패널에 한번 접촉시켜 비쥬얼 인스펙션과 그로스 테스트를 모두 수행할 수 있게 된다.In addition, the visual inspection and the gross test can be performed by contacting the probe pin of the probe unit to the display panel once.

또한, 쇼팅배선을 통해 전기적 테스트를 위한 전기신호선과 그로스 테스트를 위한 신호선을 집약하여 배치할 수 있다. In addition, the shorting wiring may aggregate and arrange an electrical signal line for an electrical test and a signal line for a gross test.

그리고, 전기신호선으로 공급되는 전원의 인가여부를 검사램프를 통해 용이하게 확인할 수 있다.Then, whether the power supplied to the electric signal line can be easily confirmed through the inspection lamp.

Claims (10)

삭제delete 삭제delete 삭제delete 데이터 라인이나 게이트 라인을 포함하는 신호라인의 단부에 형성된 OLB패드와, 상기 OLB패드와 전기적으로 연결된 쇼팅바, 및 상기 쇼팅바로 검사신호가 입력되는 검사신호 입력패드를 구비한 디스플레이 패널을 프로브유닛으로 비쥬얼 인스펙션 및 그로스 테스트를 하는 검사방법에 있어서, A display panel including an OLB pad formed at an end of a signal line including a data line or a gate line, a shorting bar electrically connected to the OLB pad, and a test signal input pad through which the test signal is input to the shorting bar as a probe unit In the inspection method for visual inspection and gross testing, 상기 프로브유닛은, 디스플레이 패널의 검사신호 입력패드와 OLB패드에 동시에 접촉하는 복수개의 탐침핀; 및 상기 탐침핀으로 전기신호를 인가하는 쇼팅 회로기판;을 포함하고, The probe unit may include: a plurality of probe pins simultaneously contacting the test signal input pad and the OLB pad of the display panel; And a shorting circuit board configured to apply an electrical signal to the probe pin. 쇼팅 회로기판은, OLB패드에 접촉하는 탐침핀과 연결되는 적색 신호선; 녹색 신호선; 및 청색 신호선; 상기 적색 신호선이 연결되는 적색 쇼팅배선; 상기 녹색 신호선이 연결되는 녹색 쇼팅배선; 상기 청색 신호선이 연결되는 청색 쇼팅배선; 상기 적색 쇼팅배선과 녹색 쇼팅배선 및 청색 쇼팅배선이 고착된 쇼팅필름; 및 상기 적색 신호선과 녹색 신호선 및 청색 신호선이 고착되고, 상기 쇼팅필름과 겹쳐져 결합되며, 상기 쇼팅배선들과의 접촉을 위한 관통공이 형성된 OLB배선필름;을 포함하며,The shorting circuit board may include a red signal line connected to a probe pin contacting the OLB pad; Green signal line; And blue signal lines; A red shorting wire to which the red signal line is connected; A green shorting wire to which the green signal line is connected; A blue shorting wire to which the blue signal line is connected; A shorting film to which the red shorting wiring, the green shorting wiring, and the blue shorting wiring are fixed; And an OLB wiring film fixed to the red signal line, the green signal line, and the blue signal line, overlapping with the shorting film, and having a through hole for contacting the shorting wires. 상기 OLB패드 및 검사신호 입력패드 모두에 프로브유닛의 탐침핀들을 동시에 접촉시키고, 상기 OLB패드 및 검사신호 입력패드 중 적어도 하나에 상기 프로브유닛의 탐침핀들을 통하여 비쥬얼 인스펙션을 위한 검사신호와 그로스 테스트를 위한 검사신호 중 어느 하나를 선택적으로 인가하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사방법.The probe pins of the probe unit are simultaneously brought into contact with both the OLB pad and the test signal input pad, and the test signal and gross test for visual inspection are performed through the probe pins of the probe unit to at least one of the OLB pad and the test signal input pad. Display panel inspection method, characterized in that for selectively applying any one of the inspection signal for. 삭제delete 삭제delete 데이터 라인이나 게이트 라인 및 전기테스트를 위한 전기공급라인을 포함하는 신호라인의 단부에 형성된 OLB패드와, 상기 OLB패드와 전기적으로 연결된 쇼팅바, 및 상기 쇼팅바로 검사신호가 입력되는 검사신호 입력패드를 구비한 디스플레이 패널을 프로브유닛으로 검사하는 장치에 있어서,An OLB pad formed at an end of a signal line including a data line or a gate line and an electrical supply line for an electrical test, a shorting bar electrically connected to the OLB pad, and a test signal input pad to which an inspection signal is input to the shorting bar; In the device for inspecting the provided display panel with a probe unit, 상기 프로브유닛은, The probe unit, 디스플레이 패널의 검사신호 입력패드와 OLB패드에 동시에 접촉하는 복수개의 탐침핀; 및 상기 탐침핀으로 전기신호를 인가하는 쇼팅 회로기판;을 포함하고, A plurality of probe pins simultaneously contacting the test signal input pad and the OLB pad of the display panel; And a shorting circuit board configured to apply an electrical signal to the probe pin. 상기 쇼팅 회로기판은, The short circuit board, OLB패드에 접촉하는 탐침핀과 연결되는 적색 신호선, 녹색 신호선, 및 청색 신호선; 상기 적색 신호선이 연결되는 적색 쇼팅배선; 상기 녹색 신호선이 연결되는 녹색 쇼팅배선; 상기 청색 신호선이 연결되는 청색 쇼팅배선; A red signal line, a green signal line, and a blue signal line connected to the probe pin in contact with the OLB pad; A red shorting wire to which the red signal line is connected; A green shorting wire to which the green signal line is connected; A blue shorting wire to which the blue signal line is connected; 디스플레이 패널로 전원을 인가하기 위한 전원공급배선; 및A power supply wiring for applying power to the display panel; And 디스플레이 패널의 검사신호 입력패드(16)에 접촉하는 탐침핀(130)으로 신호를 입력하는 쇼팅바 신호공급배선;을 포함하는 디스플레이 패널 검사장치.And a shorting bar signal supply wiring for inputting a signal to the probe pins 130 contacting the test signal input pads 16 of the display panel. 제7항에 있어서, 상기 쇼팅 회로기판은, The method of claim 7, wherein the short circuit board, 상기 적색 쇼팅배선과 녹색 쇼팅배선 및 청색 쇼팅배선이 고착된 쇼팅필름; 및A shorting film to which the red shorting wiring, the green shorting wiring, and the blue shorting wiring are fixed; And 상기 적색 신호선과 녹색 신호선 및 청색 신호선이 고착되고, 상기 쇼팅필름과 겹쳐져 결합되며, 상기 쇼팅배선들과의 접촉을 위한 관통공이 형성된 OLB배선필 름;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.And an OLB wiring film having the red signal line, the green signal line, and the blue signal line fixed thereto, overlapping with the shorting film, and having a through hole for contacting the shorting wires. . 삭제delete 제7항에 있어서, The method of claim 7, wherein 상기 전기신호선에 연결되어 전원의 인가 여부를 표시하는 전원검사램프;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.And a power test lamp connected to the electric signal line to indicate whether power is applied.
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