KR100777267B1 - 전자소자 테스트 시스템의 범용 프루브 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 전자소자 테스트 시스템에 사용되는 프루브(probe) 장치에 관한 것으로서, 상기 프루브 장치는 범용(universal)이며, "범용"이란 상기 프루브 장치가 서로 다른 패널 사이즈들 및 소자 레이아웃들(layouts)에 적용될 수 있음을 나타낸다. 상기 프루브 장치는 프루브 유닛과 회로 스위칭 장치를 포함한다. 프루브 유닛은 서포트 베이스(support base)와 복수 개의 프루브들을 포함하며, 프루브는 서포트 베이스에 설치되며 전자소자 시스템에 대해 테스트를 진행하기 위한 것이다. 회로 스위칭 장치는 대응되는 서로 다른 패널에 대응되는 프루브와 테스트 신호원(signal source) 간의 전기적 접속을 허용하기 위한 것이다.
전자소자 테스트, 프루브, 스위칭 장치, 서포트 베이스, TFT 패널

Description

전자소자 테스트 시스템의 범용 프루브 장치{UNIVERSAL PROBING APPARATUS FOR TFT ARRAY TEST}
도 1a는 본 발명에 따른 전자소자 테스트 시스템의 범용 프루브 장치의 바람직한 실시예를 나타내는 예시도.
도 1b는 본 발명에 따른 바람직한 일 실시예 중 프루브와 접촉 패드의 접촉을 나타내는 예시도.
도 2는 본 발명에 따른 바람직한 일 실시예 중 프루브를 나타내는 배치도.
도 3은 본 발명에 따른 바람직한 일 실시예 중 회로 스위칭 장치 내부의 회로 배치를 나타내는 예시도.
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*
100 : 신호원 장치 102 : 신호원 커넥터
102a : 신호원 커넥터 핀(pin) 104 : 테스트 신호원
110 : 프루브 유닛 112 : 프레임
114 : 프루브 116 : 소프트 회로판
118 : 프루브 커넥터 118a : 프루브 커넥터 핀
120 : 회로 스위칭 장치 122 : 전송 회로
124 : 프루브 접속 헤드 124a : 프루브 터미널 핀
126 : 신호원 접속 헤드 126a : 신호원 터미널 핀
160 : 테스트 대기 패널 162 : 접촉 패드
202 : 프루브 위치 310 : 프루브 커넥터
312 : 프루브 커넥터 핀 320 : 신호원 커넥터
322a ~ 322e : 신호원 커넥터 핀
330 : 회로 배치
본 발명은 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치에 관한 것으로서, 구체적으로는 패널 어레이(array) 테스트의 프루브 장치에 관한 것이다.
평면 디스플레이의 응용은 문서처리기, 데스크탑 개인 컴퓨터, 포켓 티비 디스플레이 및 유사 응용에 보급되어 신속히 확장되고 있다. 특히 액정 디스플레이(Liquid Crystal Display : LCD) 패널이 그 제조공정 기술이 성숙되었기 때문에 여러가지 응용에 광범위하게 적용되고 있다. 제조 기술의 진보에 따라 디스플레이 패널 사이즈도 여러 가지 규격으로 발전하여 서로 다른 사용 수요를 만족시키고 있으며, 또한 액정 디스플레이 패널이 수많은 액정셀 및 기타 소자로 구성되기 때문에, 비교적 큰 액정 디스플레이 패널은 비교적 많은 소자를 가지게 된다. 액정 디스플레이 패널 중 하나의 소자만 고장이 발생하더라도 전체 액정 디스플레이 패널은 실패하게 된다. 따라서 액정 디스플레이 패널을 패키징(packaging)하기 전에 액 정 디스플레이 패널의 테스트를 위한 테스트 절차는 제조한 액정 디스플레이 품질을 보장하는 중요한 절차이다.
전통적으로, 접촉식 프루브 검사 모듈이 표시 패널 테스트에 사용되고 있으며, 테스트할 때 프루브 모듈에 있는 프루브를 사용하여 액정 디스플레이 패널에 있는 접촉 패드 대하여 접촉 테스트를 실행한다. 그러나 각종 상이한 사이즈의 패널은 접촉 패드 수량도 서로 다르기 때문에 반드시 각종 상이한 사이즈에 대응하는 관련 프루브 테스트 모듈을 설계하고 제작하여 각종 액정 디스플레이 패널을 테스트 하여야 한다.
따라서 액정 디스플레이의 제조 공장에서, 하나의 테스트 스테이션은 다만 한가지 규격의 액정 디스플레이 패널을 테스트 할 수 있으며, 테스트 스테이션에서 테스트를 진행하기 위한 프루브 테스트 모듈은 상기 사이즈의 액정 디스플레이에 맞춰서 설계한 것으로서, 만약 생산 라인이 다른 사이즈의 액정 디스플레이를 생산하게 되면 반드시 사용되는 프루브 테스트 모듈을 바꿔, 제조하려는 새로운 사이즈의 액정 디스플레이 패널에 부합되게 해야 한다.
예를 들면, 종래의 많은 프루브 테스트 모듈은 일반적으로 서로 상이한 규격의 프루브 프레임을 제작하어, 상이한 제품 라인의 테스트에 사용된다. 각각의 특정 프레임에서 프루브의 개수는 특정 사이즈 규격의 패널이 가지고 있는 접촉 패드의 개수에 대응되며, 프루브 프레임은 바로 많은 테스트용 프루브를 일체의 유닛으로 정합한 것으로 대량 테스트에 유리하다.
그러나 개발한 서로 상이한 사이즈의 패널에 대해 만약 이런 방식으로 측정 을 실행하면, 상이한 사이즈의 패널이 상이한 수량의 접촉 패드를 가지기 때문에 새로운 제품 규격이 개발되면 반드시 다시 새로운 사이즈 규격에 부합되는 프루브 프레임을 제작하여야 한다. 한가지 특정된 규격의 프레임은 일반적으로 그 외 제품에 적용될 수 없기 때문에, 이렇게 되면 별도의 프루브 프레임 제작 및 설계 비용을 조성하게 되며, 또한 프루브 프레임의 제작 내지 교체 시간이 매우 길어진다. 그 외, 제품 라인을 바꿔서 테스트 할 때, 프루브 프레임 교환 절차도 상당한 시간을 소모하게 되며, 이러한 여러 가지 원인들이 생산 능률 및 인력의 낭비를 초래하게 된다.
본 발명의 목적은 이상에서 언급한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 편리하게 서로 다른 사이즈 규격의 패널 또는 전자소자 레이아웃을 테스트 하기 위한 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치를 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 다른 목적은 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치를 제공함으로서, 서로 다른 사이즈 규격의 패널 또는 전자소자 레이아웃을 테스트하는 솔루션을 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 원가, 시간 및 인력의 소비를 절약하는 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치를 제공하기 위한 것이다.
이상과 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치를 제공한다. 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치는 프루브 유닛과 회로 스위칭 장치를 포함하며, 프루브 유닛은 서포트 베이스와 제1 수량의 프루브를 포함하며, 프루브는 서포트 베이스에 설치되고, 패널 어레이에 대해 테스트를 진행한다. 회로 스위칭 장치는 제2 수량의 프루브와 제3 수량의 테스트 신호원 사이를 전기적으로 접속시킨다. 그 중 제2 수량은 제1 수량보다 작으며, 제2 수량은 제3 수량보다 작지 않으며, 또한 테스트 신호원 중의 하나가 적어도 하나의 프루브에 전기적으로 접속된다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 테스트 장치는 패널 어레이의 테스트를 위한 것이며, 회로 스위칭 장치는 드롭 아웃 라인이며, 프루브 접속 헤드, 신호원 접속 헤드 및 전송 회로를 포함한다. 프루브 접속 헤드는 제1 수량의 프루브 터미널 핀을 포함하고 있으며, 프루브에 전기적으로 접속하기 위한 것이다. 신호원 접속 헤드는 제3 수량의 신호원 터미널 핀을 포함하며, 테스트 신호원에 전기적으로 접속하기 위한 것이다. 전송 회로는 프루브 터미널 핀과 신호원 터미널 핀으로 하여금 회로 배치에 따라 전기적으로 접속되게 한다. 각각의 신호원 터미널 삽입공은 적어도 하나의 프루브 터미널 삽입공에 전기적으로 접속된다.
패널 어레이 테스트 장치는 신호원 커넥터를 구비한 신호원 장치를 더 포함한다. 신호원 커넥터는 제4 수량의 신호원 커넥터 핀을 구비하며, 각각의 신호원 커넥터 핀을 하나의 테스트 신호원으로 하여, 회로 스위칭 장치의 신호원 터미널 핀에 대응적으로 삽입 및 전기적으로 접속되게 하여 프루브 유닛에 테스트 신호원을 공급한다. 그 중 제4 수량은 제3 수량보다 크거나 같다.
회로 스위칭 장치는 또한 꽂았다 뺏다 할 수 있는 소프트 회로판일 수 있으 며, 회로 스위칭 장치의 일단(一端)은 프루브에 전기적으로 접속하며, 다른 일단은 테스트 신호원에 전기적으로 접속한다.
특정 사이즈 규격의 패널을 측정할 때, 이미 설계한 서로 대응되는 회로 스위칭 장치를 이용하여 각각 프루브 유닛 및 신호원에 삽입 접속하며, 다시 프루브 유닛의 프루브를 테스트용 패널 세팅 플랫폼에 맞추어(align) 패널의 접촉 패드와 일부의 프루브가 서로 접촉되게 하며, 기타 프루브는 예를 들면 빈 핀과 같이, 어떤 접촉 패드와도 접촉되지 않게 된다. 회로 스위칭 장치의 회로 배치에 의해 신호원으로 하여금 특정 위치의 프루브에 전송되게 하여 테스트를 진행한다.
상이한 규격의 패널을 교체할 때, 회로 스위칭 장치만 빼서 다른 회로 배치 설계를 가지는 회로 스위칭 장치로 교체하면, 즉시 테스트를 진행할 수 있다.
사전에 많은 프루브를 프루브 모듈에 설계하였기 때문에, 프루브 유닛으로 하여금 하나 이상 사이즈 규격의 패널 테스트 범위를 포함하게 하며, 회로 스위칭 장치만 교환하면 다른 제품 라인 테스트에 사용할 수 있도록 바뀔 수 있어서, 회로 스위칭 장치는 프루브 유닛 전체에 비해 설계 제조에서 매우 간단하고 빠르며, 소모하는 원가도 낮게 되며, 교체 절차에 있어도 비교적 빠르며, 생산 라인의 생산 시간의 이용에 대해서도 상당히 큰 이익이 있다.
이하에서, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 구성 및 동작을 설명한다.
본 발명은 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치에 관한 것으로서, 공용의 프루브 유닛으로 상이한 사이즈 규격의 표시 패널에 대해 테스트 절차를 진행하며, 제품 라인을 변경하여 테스트 시, 회로 스위칭 장치만 교환하면 되어 종래의 별도로 프루브 프레임을 설계 제작 및 교체해야 하는 불편함 및 대량의 원가 소모를 제거하였다. 본 발명의 서술을 더욱 상세하고 완벽하게 하기 위하여 이하에서는 도 1a와 도 1b의 도시를 참조하여 설명한다.
도 1a를 참조하면, 도 1a는 본 발명에 따른 전자소자 테스트 시스템의 범용 프루브 장치의 바람직한 일 실시예를 나타내는 예시도이다. 본 발명의 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치는 프루브 유닛(110)(도 1b에 도시) 및 회로 스위칭 장치(120)를 포함한다. 프루브 유닛(110)은 예를 들면 프레임(112)과 같은 서포트 베이스 및 제1 수량의 프루브(114) (도 1b에 도시)를 포함하며, 모든 프루브(114)는 긴밀하게 작은 간격으로 서포트 베이스에 설치되며, 전자소자 시스템 예를 들면, 패널 어레이에 대해 테스트를 진행한다.
회로 스위칭 장치(120)는 일부 프루브(114) 즉 제2 수량의 프루브(114)와 제3 수량의 테스트 신호원(104)(도 1b에 도시) 사이를 전기적으로 접속시킨다. 상기의 제2 수량은 제1 수량보다 작으며, 제2 수량은 제3 수량보다 작지 않다. 실제적으로 프루브 장치를 이용하여 테스트를 진행할 때, 테스트 신호원(104) 중의 하나가 적어도 하나의 프루브(114)에 전기적으로 접속된다. 제2 수량은 예를 들면 제3 수량의 정수 배수이다.
구체적으로 말하면, 회로 스위칭 장치(120)는 제2 수량의 프루브 터밀 핀(124a) 및 제3 수량의 신호원 터미널 핀(126a)를 구비하며, 프루브 터미널 핀(124a)는 프루브 유닛(110)의 프루브(114)에 전기적으로 접속되기 위한 것이며, 신호원 터미널 핀(126a)은 테스트 신호원(104)에 전기적으로 접속시키기 위한 것이다. 또한 상기 핀과 프루브 및 테스트 신호원 간의 전기적으로 접속은 꽂았다 뺏다 할 수 있어 분리 가능하다.
바람직한 일 실시예에 있어서, 전자 소자 테스트 시스템의 프루브 장치는 신호원 장치(100), 회로 스위칭 장치(120) 및 프루브 유닛(110)을 포함한다. 신호원 장치(100)는 테스트 신호를 공급하기 위한 것이며 신호원 커넥터(102)를 포함한다. 신호원 케넥터(102)는 제4 수량의 신호원 커넥터 핀(102a)을 그 위에 구비하며, 각각의 신호원 커넥터 핀(102a)는 일종의 테스트 신호원을 대표하며 특정한 테스트 신호를 제공하지만, 실제 사용 시에는 제4 수량의 모든 신호를 반드시 전송하는 것은 아니며, 가시 테스트 수요로 일부분의 테스트 신호만 이용한다. 때문에 제4 수량은 제3 수량보다 크거나 같다. 본 실시예에서 신호원 장치(100)는 또한 플랫폼 구조이며, 테스트 대기 패널(160) 세팅의 플랫폼으로 된다.
프루브 유닛(110)은 프레임(112), 프루브 커넥터(118) 및 제1 수량의 프루브(114)를 포함하며, 모든 프루브(114)는 프레임(112)에 설치되며, 대응하는 패널(160) 어레이의 테스트 진행을 위한 것이다. 본 실시예에서 프레임(112)은 예를 들면 직사각형 형상과 같은 사각형 프레임이며, 프루브(114)는 프레임(112)의 프레임의 가장자리에 설치된다. 본 발명의 프레임 장치 중 서포트 베이스는 상기 실시예에 나타난 프레임에 국한되지 않으며, 예를 들면 일종의 가로대(횡목) 구조일 수 있다.
프루브 커넥터(118)는 프루브(114)와 서로 대응되며 동일한 수량의 프루브 커넥터 핀(118a) 즉 제1 수량의 핀(118a)을 구비하며, 각각의 프루브 커넥터 핀(118a)은 각각 개별적인 프루브(114)에 대응하여 전기적으로 접속된다. 본 실시예 중 모든 프루브(114)와 프루브 커넥터 핀(118a)은 소프트 회로판(116)에 의해 전기적으로 접속되며, 프루브 커넥터(118)는 프레임(112)에 고정 설치된다.
회로 스위칭 장치(120)는 드롭 아웃 라인이며, 프루브 접속 헤드(124), 신호원 접속 헤드(126) 및 전송 회로(122)를 포함한다. 회로 스위칭 장치(120)의 일단은 프루브 접속 헤드(124)로서, 제2 수량의 프루브 터미널 핀(124a)을 구비하며, 프루브 유닛(110)을 프루브 커넥터(118)에 삽입, 접속시키기 위한 것이다. 프루브 커넥터 핀(118a)과 프루브 터미널 핀(124a) 사이의 접촉에 의해 회로 스위칭 장치(120)와 프루브(114) 사이를 전기적으로 접속시킨다.
회로 스위칭 장치(120)의 다른 일단은 신호원 접속 헤드(126)로서, 제3 수량의 신호원 터미널 핀(126a)을 구비하며, 신호원 장치(120)의 신호원 커넥터(102)에 삽입, 접속시키기 위한 것이다. 신호원 커넥터 핀(102a)과 신호원 터미널 핀(126a) 사이의 접촉에 의해 회로 스위칭 장치(120)와 테스트 신호원(104) 사이를 전기적으로 접속시킨다.
제3 수량의 신호원 터미널 핀(126a)은 전송 회로(122)를 통하여 제2 수량의 프루브 터미널 핀(124a)과 전기적으로 접속되며, 테스트 신호원(104)이 발생시킨 신호를 신호원 터미널 핀(126a)으로부터 제2 수량의 프루브 터미널 핀(124a)으로 전송한다. 전송 선로(122)가 특정된 회로배치이기 때문에 회로 스위칭 장치(120)는 프루브(114)와 테스트 신호원(104) 사이의 전도 경로가 되며, 또한 제공된 전도(傳 導) 경로는 상이한 규격 사이즈의 패널 제품에 대해 상이한 회로배선 설계를 가지게 된다.
상기 회로 스위칭 장치의 형태는 접속 헤드의 드롭 아웃 라인을 포함하는 데에 국한되지 않으며, 예를 들면 꽂았다 뺐다 할 수 있는 회로판 또는 소프트 회로판 설계와 같은 것이어도 되며, 프루브 및 테스트 신호원에 전기적으로 접속시키기 위한 프루브 터미널 핀 및 신호원 터미널 핀을 구비하여도 본 발명과 동일한 기능을 발휘한다. 또한 실시예 중 회로 스위칭 장치는 삽입공을 구비하는 커넥터 즉 암플러그(female plug)이지만 숫플러그(male plug)여도 좋다. 이러한 숫플러그와 암플러그의 간단한 호환 설계는 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 쉽게 생각하고 변환할 수 있는 바, 회로 스위칭 장치가 프루브 및 신호원 장치에서 꽂았다 뺐다 하는 것이 가능하다면 모두 본 발명의 청구범위에 포함된다.
이하에서 예를 들어 본 발명의 전자소자 테스트 시스템 프루브 장치의 작동 과정에 대해 설명한다. 도 1b에 나타내는 바와 같이, 테스트 대기 패널(160)은 이미 예를 들면 신호원 장치(100)의 플랫폼과 같은 규정된 위치에 세팅되었으며, 프레임(112)을 정확한 방위에 맞추어서 놓아, 프루브(114)를 테스트 대기 패널(160)의 접촉 패드(162)에 접촉시킨다. 테스트를 시작할 때 신호원 장치(100)를 시동하여 테스트 신호원(104)으로 하여금 테스트 신호를 발생시키게 하며, 회로 스위칭 장치(120)의 전송 회로를 거쳐 신호를 정확하게 프루브(114)에 전송하며, 또한 접촉 패드(162)에 전송한다. 제품 라인을 교체하여 테스트를 진행할 경우, 이전에 사용한 회로 스위칭 장치(120)를 빼내고 다른 일종 규격의 회로 스위칭 장치로 대체 하면 테스트 규격 교체 절차를 완성하게 된다. 종래의 반드시 프레임(112) 전체를 교체하는 방식에 비하면 본 발명의 프루브 유닛은 범용 설계로 대체되어, 매우 간편한 교체 절차가 되었다.
동시에 도 3을 참조하면, 도 3은 회로 스위칭 장치 내부의 회로 배치를 나타낸다. 도에서 나타내는 바와 같이, 신호원 커넥터(320)의 신호원 커넥터 핀(322a~322e)의 수량은 5개이며, 5종의 테스트 신호가 제공되어 테스트용으로 사용되는 것을 나타낸다. 테스트 신호는 신호원 커넥터 핀(322a~322e) 부위에서 회로 스위칭 장치의 회로배치(330)를 통하여 프루브 커넥터(310)의 프루브 커넥터 핀(312)에 전송된다. 도시예에서 명확히 알 수 있듯이, 프루브 커넥터 핀(312)는 상하 두 열로 나뉘어져 있으며, 각 종류의 신호는 회로배치(330)을 걸쳐 4개 프루브 커넥터 핀(312)에 전송되어, 4개 프루브가 동일한 테스트 신호를 사용되게 된다.
프루브 커넥터(310)에 나머지 프루브 커넥터 핀은 회로배치(330)의 관계 때문에 신호원 커넥터 핀(322a~322e)과 전기적으로 접속되어 있지 않으며, 테스트 장치를 사용할 때의 빈 핀으로 된다. 다시 말하면 프루브 소켓 핀(312)이 이미 전부 프루브 접속 헤드의 프루브 터미널 삽입공에 대응적으로 삽입 설치되었지만, 이로하여 전부가 테스트 신호원과 전기적으로 접속되는 것은 아니며, 회로배치(330)에 의해 결정되며, 상이한 패널 사이즈 설계에 대하여 상이한 도통 상태가 있게 된다.
특정 규격의 패널을 테스트 할 때 빈 핀은, 전기 신호를 대응하는 상기 부위 의 프루브에 제공하지 않는다는 것을 의미한다. 패널의 접촉 패드에 따라 설계한 결과, 상기 부위의 프루브는 대응되는 접촉의 접촉 패드가 없게 되기 때문에 테스트 신호가 필요하지 않게 된다. 요컨대, 빈 핀의 배치는 회로 스위칭 장치의 설계에 의해 결정된다.
도 2를 참조하면 도 2는 본 발명에 따른 바람직한 일 실시예 중 프루브를 나타내는 배치도이다. 만약 현재 존재하는 14인치, 15인치, 17인치, 19인치의 패널에 있어서, 각 종류의 사이즈 규격의 접촉 패드의 수는 모두 다르다. 패널의 접촉 패드의 배치는 프루브 유닛에 있는 모든 프루브 위치(202)에 의해 설계되며, 어떠한 종류의 규격의 패널이라도 모든 접촉 패드는 프루브 유닛 중 복수 개의 프루브 위치(202)에서의 그 중 일부분 위치에 모두 대응하도록 설계되어, 정확한 프루브 대응 접촉을 제공한다.
때문에, 프루브 수량의 설계 수량은 적절한 수량을 선택하여, 향후 발전되어 나오는 패널 인치 규격에 대응되는 접촉 패드의 수량을 포함하게 한다. 프루브 수량의 설계가 많고 치밀할 수록 포함되는 상이한 제품 수도 상대적으로 많다. 본 예에서 프루브 수량은 사각형 프레임으로 설계하였으며, 한 측에 100개의 프루브를 구비하며, 프루브 사이 간격은 10mm이다. 프루브를 등간격 설계하는 것은 프루브와 패널 설계의 편이성을 고려한 것이며, 반드시 등간격이 부합되는 것은 아니며, 비 등간격 설계도 본 발명의 청구범위에 속하며, 이는 당해 분야에서 통상의 지식을 가진자가 쉽게 생각하고 변를 할 수 있다.
프루브 장치는 복수 개의 기판에 배합하여 사용할 수 있으며, 예를 들면 패 널 기판과 같은 각 기판에 복수 개의 접촉 패드가 구비되며, 각 접촉 패드는 모두 프루브 위치에 대응될 수 있다.
도 1a 및 도 2를 동시에 참조하여, 측변 길이가 1000mm인 초기 유리 시트(mother glass)를 예로 들어 설명한다. 만약 설계 프루브 간격이 10mm이고, 처음과 마지막 프루브 위치와 각각 초기 유리 시트의 변두리 사이와의 거리는 예를 들어 5mm이다. 프레임(112)의 일측에 100개의 프루브(114)가 설계되어 균일하게 분배되며, 대응되는 프루브 커넥터 핀(118a)도 100개를 구비하게 된다.
만약 이 초기 유리 시트가 모두 2ⅹ4개의 패널(160)의 제작에 제공되면, 도에서 나타내는 바와 같이, 좌우 양측에 4개의 패널(160)을 나눠 배치한다. 그리고 프레임(112)의 양 측에 두 조의 프루브 커넥터 핀을 설계하며, 좌측의 프루브 커넥터 핀은 도면의 좌측에 위치한 4개 패널을 제어하고, 우측의 프루브 커넥터 핀(118a)는 도면의 우측에 위치한 다른 4개의 패널을 제어한다.
만약 각 패널(160)이 5종의 테스트 신호 수신이 필요하다면, 좌측과 우측의 회로 스위칭 장치(120)의 신호원 터미널 핀(126a)의 수량은 제3 수량으로, 이 예에서는 모두 5이며, 각각 신호원 장치(100)의 5종의 테스트 신호를 수신한다.
때문에 좌측의 프루브 터미널 핀은 5ⅹ4개이며, 같은 수량의 프루브(114)와 전기적으로 접속되는 핀이다. 같은 이론으로서, 우측의 회로 스위칭 장치(120)의 신호원 터미널 핀도 같은 수량인 5이며, 신호원 장치(100)의 5종의 테스트 신호를 수신하며, 각각 우측의 4개의 패널(160)에 전송한다.
또한, 우측의 프루브 터미널 핀(124a)도 같이 5ⅹ4이며, 5ⅹ4개 프루부와 전 기적으로 접속되는 핀이다. 만약 초기 유리 시트를 예를 들어 2ⅹ6개 패널로 제작하면, 각 패널(160)은 7종의 테스트 신호를 수신하여야 하며, 이렇게 되면, 각 측의 신호원 터미널 핀(126a)은 수량이 7개이며, 각 측의 프루브 터미널 핀(124a)은 7ⅹ6개이고, 같은 수량의 프루브(114)와 전기적으로 접속되는 핀이다.
반드시 제4 수량을 구비하는 신호원 커넥터 핀(102a)을 실제 사용할 때, 반드시 제4 수량의 테스트 신호를 전송하는 것은 아니며, 사용은 수요에 따라 결정되며, 제4 수량보다 적은 테스트 신호를 제공할 수도 있다는 점을 주의해야 한다. 따라서, 제4 수량은 제3 수량보다 크거나 같다. 상기 실시예에서는 제4 수량을 제3 수량과 같게 시범하여 설명하였다.
실제 사용 요구에 따라 신호원 수량을 예를 들어 5개, 7개 또는 기타 수량으로 한다. 이렇게 하면, 상이한 사이즈 또는 패널 소자 레이아웃에 적용되는 회로 스위칭 장치를 교환하기만 하면 즉시 동일한 프루브 유닛에 적용될 수 있다. 각 패널의 소자 레이아웃이 변화가 있을 때, 따로 프루브 유닛을 설계하지 않아도 되며, 각 패널이 수신하는 테스트 신호의 접촉 패드와 프루브 유닛의 프루브가 대응되는 위치가 있기만 하면 즉시 각종 상이한 패널 사이즈 및 소자 레이아웃에 적용될 수 있다.
상기 실시예에 있어서, 서포트 베이스 양측의 프루브 커넥터 핀으로 각각 양측에 위치한 패널을 제어하지만, 실제 응용에서도 단일 프루브 커넥터를 일측에 배치되어 전부 패널의 테스트를 제어하게 설계할 수 있으며, 양측의 프루브를 정합 설계하여 단일 프루브 커넥터 핀에 전기적으로 접속되게 할 수도 있으며, 이때의 프루브 커넥터 핀의 수량은 전체 프루브의 총합이다.
이상에서 설명한 본 발명에 따른 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치는 다음과 같은 효과를 제공한다.
면밀한 프루브 설계와 꽂았다 뺐다 할 수 있는 회로 스위칭 장치를 배합에 의해, 동일한 프루브 유닛으로 하여금 상이한 사이즈 규격의 패널에 대해 테스틀 진행할 수 있게 한다. 상이한 규격 제품라인을 변경하여 테스트를 진행할 때, 간단하게 회로 스위칭 장치를 뽑아 교체하면 되기 때문에 종래의 전체 프레임을 변경하는 방식에 비교하여 매우 많은 교체 시간과 인력 자원을 절약한다.
또한, 서로 상이하거나 새로 개발되는 제품 규격에 대하여 본 발명은 서로 대응되는 회로배치의 회로 스위칭 장치를 설계 또는 수정하기만 하면 되며, 설계와 장치의 설계, 제작 시간 및 편이성, 더욱이 원가 소모 방면에서 모두 새로운 규격의 프루브 프레임을 다시 제작하는 것보다 현저한 효익을 가지게 되어 본 발명은 실로 무시할 수 없는 상업상의 가치를 제공한다.
본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시 예에 관해 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어서 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시 예에 국한되어져서는 아니 되며 후술하는 특허청구의 범위뿐만 아니라 이 특허청구의 범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.

Claims (11)

  1. 삭제
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  5. 삭제
  6. 서포트 베이스, 프루브 커넥터 및 제1 수량의 프루브를 포함하며, 상기 프루브는 상기 서포트 베이스에 설치되며, 전자소자 시스템에 대해 테스트를 진행하기 위한 것으로, 상기 프루브 커넥터는 상기 제1 수량의 프루브 커넥터 핀을 포함하며, 상기 프루브 커넥터 핀은 상기 프루브에 대응하여 전기적으로 접속되는 프루브 유닛; 및
    상기 프루브와 제3 수량의 테스트 신호원을 전기적으로 접속시키기 위한 회로 스위칭 장치를 포함하며,
    상기 회로 스위칭 장치는:
    제2 수량의 프루브 터미널 핀을 구비하며, 상기 프루브 커넥터 핀에 대응하여 전기적으로 접속되게 하기 위한 프루브 접속 헤드; 및
    상기 제3 수량의 신호원 터미널 핀을 구비하며, 상기 제3 수량의 상기 테스트 신호원에 전기적으로 접속되게 하기 위한 것이며, 또한 상기 신호원 터널 핀과 상기 제2 수량의 상기 프루브 터미널 핀은 전기적으로 접속되는 신호원 접속 헤드를 포함하며,
    상기 제2 수량은 상기 제1 수량보다 작으며, 상기 제2 수량은 상기 제3 수량보다 작지 않은 것을 특징으로 하는 전자소자 시스템의 테스트에 적용되는 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 프루브와 상기 프루브 커넥터 핀은 소프트 회로판으로 전기적으로 접속되는 것을 특징으로 하는 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 프루브 장치는 복수 개의 기판과 배합하여 사용할 수 있으며, 각각의 상기 기판에는 복수 개의 접촉 패드가 구비되며, 각각의 상기 접촉 패드는 모두 상기 프루부 중의 하나에 대응될 수 있는 것을 특징으로 하는 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치.
  9. 서포트 베이스, 프루브 커넥터 및 제1 수량의 프루브를 포함하며, 상기 프루브는 상기 서포트 베이스에 설치되며, 패널 어레이에 대해 테스트를 진행하기 위한 것이며, 상기 프루브 커넥터는 상기 제1 수량의 프루브 커넥터 핀을 포함하며, 상기 프루브 커넥터 핀은 대응적으로 상기 프루브에 전기적으로 접속 되는 프루브 유닛;
    상기 제1 수량의 프루브 터미널 핀을 구비하며, 대응적으로 상기 프루브 커넥터 핀에 삽입설치 되게 하기 위한 프루브 접속 헤드 및 상기 제3 수량의 신호원 터미널 핀을 구비하며, 상기 신호원 터미널핀은 제2 수량의 상기 프루브 터미널 핀과 전기적으로 접속되며, 그 중 상기 제2 수량은 상기 제1 수량보다 작으며, 상기 제2 수량은 상기 제3 수량보다 작지 않은 신호원 접속 헤드를 포함하는 회로 스위칭 장치; 및
    상기 제4 수량의 신호원 커넥터 핀을 포함하며 상기 신호원 터미널 핀에 대응하여 삽입 설치 및 전기적으로 접속되게 하기 위한 것으로, 테스트 신호를 공급하는 신호원 커넥터를 포함하며,
    상기 제4 수량은 상기 제3 수량보다 크거나 같은 신호원 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자소자 시스템의 테스트에 적용되는 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 제2 수량은 상기 제3수량의 정수배인 것을 특징으로 하는 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 프루브와 상기 프루브 커넥터 핀은 소프트 회로판으로 전기적으로 접속되는 것을 특징으로 하는 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치.
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