KR100777267B1 - 전자소자 테스트 시스템의 범용 프루브 장치 - Google Patents
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- 서포트 베이스, 프루브 커넥터 및 제1 수량의 프루브를 포함하며, 상기 프루브는 상기 서포트 베이스에 설치되며, 전자소자 시스템에 대해 테스트를 진행하기 위한 것으로, 상기 프루브 커넥터는 상기 제1 수량의 프루브 커넥터 핀을 포함하며, 상기 프루브 커넥터 핀은 상기 프루브에 대응하여 전기적으로 접속되는 프루브 유닛; 및상기 프루브와 제3 수량의 테스트 신호원을 전기적으로 접속시키기 위한 회로 스위칭 장치를 포함하며,상기 회로 스위칭 장치는:제2 수량의 프루브 터미널 핀을 구비하며, 상기 프루브 커넥터 핀에 대응하여 전기적으로 접속되게 하기 위한 프루브 접속 헤드; 및상기 제3 수량의 신호원 터미널 핀을 구비하며, 상기 제3 수량의 상기 테스트 신호원에 전기적으로 접속되게 하기 위한 것이며, 또한 상기 신호원 터널 핀과 상기 제2 수량의 상기 프루브 터미널 핀은 전기적으로 접속되는 신호원 접속 헤드를 포함하며,상기 제2 수량은 상기 제1 수량보다 작으며, 상기 제2 수량은 상기 제3 수량보다 작지 않은 것을 특징으로 하는 전자소자 시스템의 테스트에 적용되는 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치.
- 제6항에 있어서,상기 프루브와 상기 프루브 커넥터 핀은 소프트 회로판으로 전기적으로 접속되는 것을 특징으로 하는 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치.
- 제6항에 있어서,상기 프루브 장치는 복수 개의 기판과 배합하여 사용할 수 있으며, 각각의 상기 기판에는 복수 개의 접촉 패드가 구비되며, 각각의 상기 접촉 패드는 모두 상기 프루부 중의 하나에 대응될 수 있는 것을 특징으로 하는 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치.
- 서포트 베이스, 프루브 커넥터 및 제1 수량의 프루브를 포함하며, 상기 프루브는 상기 서포트 베이스에 설치되며, 패널 어레이에 대해 테스트를 진행하기 위한 것이며, 상기 프루브 커넥터는 상기 제1 수량의 프루브 커넥터 핀을 포함하며, 상기 프루브 커넥터 핀은 대응적으로 상기 프루브에 전기적으로 접속 되는 프루브 유닛;상기 제1 수량의 프루브 터미널 핀을 구비하며, 대응적으로 상기 프루브 커넥터 핀에 삽입설치 되게 하기 위한 프루브 접속 헤드 및 상기 제3 수량의 신호원 터미널 핀을 구비하며, 상기 신호원 터미널핀은 제2 수량의 상기 프루브 터미널 핀과 전기적으로 접속되며, 그 중 상기 제2 수량은 상기 제1 수량보다 작으며, 상기 제2 수량은 상기 제3 수량보다 작지 않은 신호원 접속 헤드를 포함하는 회로 스위칭 장치; 및상기 제4 수량의 신호원 커넥터 핀을 포함하며 상기 신호원 터미널 핀에 대응하여 삽입 설치 및 전기적으로 접속되게 하기 위한 것으로, 테스트 신호를 공급하는 신호원 커넥터를 포함하며,상기 제4 수량은 상기 제3 수량보다 크거나 같은 신호원 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자소자 시스템의 테스트에 적용되는 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치.
- 제9항에 있어서,상기 제2 수량은 상기 제3수량의 정수배인 것을 특징으로 하는 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치.
- 제9항에 있어서,상기 프루브와 상기 프루브 커넥터 핀은 소프트 회로판으로 전기적으로 접속되는 것을 특징으로 하는 전자소자 테스트 시스템의 프루브 장치.
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