一种测试装置及面板的检测方法
技术领域
本发明涉及一种应用于面板的测试装置,特别涉及一种可以叠合接合的面板测试装置。
背景技术
一般业界(显示器模块供货商)所提供给***厂(例如手机组装商)的显示器模块,通常都会以软性电路板做为连接器,因此该***厂则配合的采用插槽以供软性电路板插接。
然而,由于显示器模块供货商在产品出厂前,会先于内部进行一连串的品质测试以确保产品(显示器模块)的品质。在这一连串的品质测试中,均需要将显示器模块与测试***连接,而需多次进行拔插的动作。但因显示器模块的软性电路板与测试***的拔插的动作,常因拔插施力不当,使得软性电路板发生形变和电路损坏,进而造成显示器模块的画面显示不正常。
此外,另一种为采用扎针结构做为连接器的测试***,此种连接器会直接造成软性电路板上的损伤,也会造成显示器模块画面的显示不正常。
因此为了避免显示器模块的软性电路板因拔插次数过多而损坏,进而造成显示器模块画面显示不正常的现象,提出本发明,以降低显示器模块的损坏率。
发明内容
以下仅通过具体实施例,且佐以附图作详细的说明,以使本领域技术人员能对于本发明的各项功能、特点,有更进一步的了解与认识。
根据本发明的第一方向,提出一种测试装置,用以检测一面板。面板包括一第一电路板,其中第一电路板上包括多个接脚,其中测试装置包括一第二电路板及压合件。第二电路板包括一本体、多个测试垫、多个测试电路及多个导电元件。本体具有一第一表面及一第二表面。多个测试垫设置于第一表面上,且所述测试垫分别对应所述接脚设置。多个测试电路对应所述测试垫设置于第二表面上。多个导电元件贯穿设置于本体中,用以使所述测试电路与所述测试垫电性连接。压合件对应此第二电路板的所述测试垫设置,用以使第一电路板及第二电路板叠合后紧密接合。当第一电路板叠合于第二电路板时,所述测试电路经由所述导电元件、测试垫与所述接脚电性连接。
根据本发明的第二方向,提出一种面板的检测方法。面板的检测方法包括下列步骤。提供一面板,面板包括一第一电路板,且第一电路板包括多个接脚;提供具有一第二电路板的一测试装置,且第二电路板包括多个测试垫,其中所述测试垫对应所述接脚设置;叠合第一电路板及第二电路板,以使所述测试垫与所述接脚电性连接;以及置放一压合件于第一电路板及第二电路板的叠合处,以使第一电路板与第二电路板紧密接合。
通过本发明的应用于面板的测试装置,可通过测试装置的测试垫直接与面板的接脚接触耦接,直接进行测试,不需插拔。如此一来,即可有效降低在测试中因多次插拔的面板毁坏率,降低成本。
附图说明
图1A示出了本发明较佳实施例的测试装置及面板的上视图;
图1B示出了将图1A中的测试装置及面板叠合的上视图;
图1C示出了依照图1B中剖面线1C-1C的剖面图;
图2示出了将图1A中第二电路板置放于固定元件的上视图;以及
图3示出了置放第一电路板于图2的第二电路板的上视图。
其中,附图标记说明如下:
w1,w2:宽度 100:面板
110:第一电路板 112:接脚
120:显示屏幕 200:测试装置
202:本体 210:第二电路板
210a:第一定位孔 212:测试垫
214:第一表面 215:第二表面
216:测试电路 218:导电元件
220:压合件 230:固定元件
232:平板 232a:凹槽
234:定位板 234a:螺丝
236:第一定位柱 238:第二定位柱
具体实施方式
请参阅图1A及图1B,图1A示出了本发明较佳实施例的测试装置及面板的上视图,图1B示出了将图1A中的测试装置及面板叠合的上视图。测试装置200用以测试一面板100,而面板100包括一第一电路板110,且第一电路板110上具有多个接脚(pin)112。本实施例的测试装置200包括一第二电路板210及一压合件220(示出于图1B中)。第二电路板210包括多个测试垫212,且所述测试垫212分别对应第一电路板110的接脚112设置,其中当第一电路板110与第二电路板210叠合时,接脚112会与测试垫212电性耦接。于本实施例中,面板100的第一电路板110为软性电路板,且接脚112也可为常见的金手指结构。本实施的测试装置200通过第二电路板210与面板100的第一电路板110连接,以使面板100与测试装置200电性连接以进行测试,进而使显示屏幕120显示测试结果。于本实施例中,于第一电路板110及第二电路板210叠合后,也可以设置一压合件220于第二电路板210上(如图1B),以使第一电路板110及第二电路板210叠合后紧密接合。
请再参照图1A,于此实施例中,测试垫212的形状例如为圆形,且所述测试垫212的直径w2略小于接脚112的宽度w1,以使测试垫212能完全与接脚112密合。比如说,当接脚112的宽度w1为0.33毫米(mm)时,测试垫212的宽度w2例如为0.3毫米(mm)。
接着,请参照图1B及图1C,图1C示出了依照图1B中剖面线1C-1C的剖面图。于本实施例中,压合件220较佳地可以活动式的方式设置,并且对应设置于测试垫212上。如此一来,便能通过压合件220的重量增加接脚112与测试垫212之间的紧密度,而使第一电路板110可与第二电路板210叠合后紧密接合。
请参照图1C,本实施例中第二电路板210包括一本体202、多个测试垫212、多个测试电路216、多个导电元件218。本体202具有一第一表面214、第二表面215。前述的测试垫212设置于第一表面214上。多个电路216设置于第二表面215上,所述测试电路216与测试装置200的测试***(未示出)连接,用以传递测试***的测试信号。此外,再通过导电元件218贯穿设置于本体202中,使所述测试电路216与对应的测试垫212电性连接。如此一来,由测试***传出的测试信号便能经由测试电路216、导电元件218、测试垫212、接脚112传递到面板100。于本实施例中,导电元件218例如可为金属导线、导电块或其它可用于导电的元件。另外,本实例采用环状的测试垫212,在实施情况下,当然也可为其它形状,如圆形或方形。
接着,请参照图2,其示出了将图1A中第二电路板置放于固定元件的上视图。于本实施例中,测试装置200较佳地还包括一固定元件230,该固定元件230用以固定第二电路板210,以利测试的进行。这是由于,在实际的操作上,测试人员会测试成千上万片的面板,因此将第二电路板210固定于固定元件230后,测试人员仅需替换第一电路板110(未示出),如此可大量减少测试人员的工作。
于本实施例中,固定元件230较佳地包括一平板232、一定位板234、一第一定位柱236、一第二定位柱238。平板232具有一凹槽232a,此凹槽232a用以置放第二电路板210及第一电路板110(请参照图3),其中凹槽232a对应叠合后的第一电路板110及第二电路板210的形状设置,以使叠合后的第一电路板110及第二电路板210能紧密置放于凹槽232a中。如此一来,便能避免第一电路板110及第二电路板210在凹槽232a中摇晃。
于本实施例中,第一定位柱236例如为两个,设置于平板232的凹槽232a中。此外,第二电路板210对应所述第一定位柱236具有两个第一定位孔210a(也可同时参照图1A)。如此一来,当第二电路板210经由第一定位孔210a套接于第一定位柱236上时,第二电路板210便能固定于平板232的凹槽232a中,以避免第二电路板210于XY方向移动。另外,定位板234用以固定已置放于凹槽232a中的第二电路板210,该定位板234可以通过螺丝234a锁固于平板232上。特别的是,当定位板234固定第二电路板210后,此定位板234会恰巧裸露出第二电路板210的测试垫212。
接着,请参照图3,其示出了置放第一电路板于图2的第二电路板的上视图。于本实施例中,固定元件230还包括两个第二定位柱238,所述第二定位柱238设置于凹槽232a中。第二定位柱238分别对应设置于第二电路板210的一测试垫212的两侧(如图2所示),以使第一电路板110置放于凹槽232a中时,所述第二定位柱238会位于第一电路板110的两侧。
另外,由于定位板234的位置会恰巧使第二电路板210裸露出测试垫212(如图3),因此当第一电路板110的顶端抵触到定位板234时,第一电路板110的接脚112(因位于另一面,并不会显示于图3中)便会与第二电路板210的测试垫212叠合。此外,再通过第二定位柱238的辅助,调整第一电路板110位于第二定位柱238之间。因此,测试人员只要先将第一电路板110置放于凹槽232a中,将第一电路板110推到抵触到定位板234且位于两个第二定位柱238间,便可使第一电路板110于X方向及Y方向同时定位。接着,再通过压合件220(未示出于图3中)使第一电路板110及第二电路板210紧密接合,即可使接脚112及测试垫212电性耦接。
另外,由于接脚112及测试垫212采用接触的方式电性连接,所以在替换面板100测试时,仅需移走面板100,不需插拔。因此,通过本实施例的测试装置200进行面板100的测试,可避免因多次测试而造成第一电路板110的毁坏,降低面板100损坏率。
综合以上所述,本发明的应用于面板的测试装置,可通过测试装置的测试垫直接与面板的接脚接触耦接,直接进行测试,不需插拔。如此一来,即可有效降低在测试中因多次插拔的面板毁坏率,降低成本。
以上为本发明所举的实施例,仅为便于说明而设,不能以此限制本案的保护范围,即凡所附权利要求书所限定的范围所为的各种变换设计,均应包含在本发明的保护范围中。