KR100769959B1 - 기록매체 주사용 광학 헤드 및 광학 주사장치 - Google Patents

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헨드릭스베르나르두스에이치.더블유.
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코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이.
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Abstract

제 1 및 제 2 형태의 광학 기록매체(2; 40) 주사장치는, 제 1 및 제 2 형태의 기록매체를 주사하는 제 1 및 제 2 방사빔을 각각 발생하고, 상기 제 1 방사빔은 그 제 2 방사빔의 제 2 개구수보다 큰 제 1 개구수를 갖는다. 상기 주사장치는, 그 제 1 방사빔에 영향을 미치지 않은 비주기적인 위상 구조를 구비한다. 이 위상 구조는, 상기 제 1 및 제 2 형태의 기록매체(2, 40)의 서로 다른 두께의 투명층(3, 41)을 통해 주사하는데 필요한 구면수차의 차이를 보상하기 위한 제 2 형태의 기록매체를 주사하는 제 2 방사빔에서의 구면수차의 양을 도입한다. 제 2 개구수보다 큰 개구수를 갖는 제 2 방사빔에서의 광선으로부터 검출계(25)에 관해 빗나가는 빛의 양을 감소시키기 위해서, 위상 격자는, 파면 편차의 경사도에 있어서 불연속성을 일으켜, 제 2 방사빔에서 일어난다. 이 불연속성으로, 제 2 방사빔의 원하는 광선 및 원하지 않는 광선을 갖는 검출계(25)의 평면에서 공간적인 필터링이 이루어진다.
광학 헤드, 주사장치, 기록매체, 위상 구조, 개구수, 파면 편차

Description

기록매체 주사용 광학 헤드 및 광학 주사장치{OPTICAL HEAD AND OPTICAL SCANNING DEVICE FOR SCANNING A RECORD CARRIER}
본 발명은, 제 1 및 제 2의 서로 다른 형태의 기록매체를 주사하는 광학 헤드에 관한 것이다. 또한, 본 발명은, 2개의 서로 다른 형태의 광학 기록매체를 주사하되, 상기 언급된 광학 헤드를 구비한 장치에 관한 것이다. 2가지 형태의 기록매체는, 정보층과 그것을 통해 방사빔이 상기 정보층을 주사할 수 있는 투명층을 갖는다. 상기 투명층의 두께는, 2가지 형태의 기록매체에 대해 서로 다르다. 상기 광학 헤드는, 제 1 형태의 기록매체를 주사하기 위한 제 1 파장을 갖는 제 1 방사빔과, 제 2 형태의 기록매체를 주사할 경우 제 2의 다른 파장을 갖는 제 2 방사빔을 발생하는 방사원을 구비한다. 상기 제 1 방사빔은, 기록매체에 입사하는 상기 제 2 방사빔 보다 큰 개구수를 갖는다.
광학 기록 분야에서의 진보로 높은 정보밀도를 갖는 새로운 광학 기록매체가 통상의 시장으로 유입된다. 일반적으로, 이러한 기록매체는, 이전 세대의 기록매체를 주사하는데 사용된 것과 서로 다른 파장과 개구수를 갖는 방사빔에 의해 주사되도록 설계되어 있다. 또한, 상기 새로운 기록매체용으로 설계된 주사장치는, 예전의 기록매체를 주사할 수 있는 것이 바람직하다. 따라서, 상기 주사장치는, 각 형태의 기록매체를 위해 2가지 형태의 방사빔을 제공하도록 구성되어야 한다. 예를 들면, 소위 DVD 형태의 기록매체를 주사하는데 적합한 장치는, 660nm의 파장을 갖는 제 1 방사빔, 0.6의 개구수(NA: numerical aperture) 및 0.6mm의 기록매체 지지체 두께에 대한 구면수차 보상을 제공한다. 또한, 이전 세대의 소위 CD형태의 기록매체에 기록하기 위해서, 상기 장치는 785nm의 파장을 갖는 제 2 방사빔, 0.50의 NA 및 1.2nm의 기록매체 지지체 두께에 대한 구면수차 보상을 제공한다. 상기 장치는, 제조 비용을 낮추기 위해서 기록매체 상에 상기 방사빔을 포커싱하는 단일 대물계로 구성되는 것이 바람직하다.
Katayama 등에 의해, journal Applied Optics, Vol.38, No.17의 3778쪽 내지 3786쪽에 발표된, "Dual-wavelength optical head with a wavelength-selective filter for 0.6- and 1.2-mm-thick-substrate optical disks"이라는 논문에는, DVD 및 CD 형태 모두에 기록할 수 있는 장치에서 사용하기 위한 단일 대물계를 갖는 광학 헤드가 개시되어 있다. 상기 광학 헤드는, 상기 서로 다른 두께의 투명층을 횡단할 경우 상기 방사빔에 의해 일어난 구면수차의 차이를 보상하기 위해 비주기적인 위상(phase)을 갖는 부재를 구비한다. 상기 위상 구조는, 광 경로의 패턴을 형성하는 복수의 동심 영역을 구비한다. 상기 위상 구조는, 제 2 개구수에 대응하는 직경을 갖는다. 박막 간섭 스택은, 상기 위상 구조 주위에 배치된다. 상기 위상 구조는, 상기 제 2 방사빔의 구면수차를 일으켜 상기 투명층의 두께 차이를 보상한다. 인접 영역 사이의 높이차는, 상기 영역 사이의 광 경로차가 제 1 파장의 정수배이어서, 상기 제 1 파장의 방사빔에 대해 상기 위상 구조를 불활성화 시킨다. 상기 간섭 스택은, 상기 제 1 방사빔을 전송하고 상기 제 2 방사빔을 차단하도록 설계되어 있다. 그래서, 상기 부재는, 실질적으로 평탄한 파면과 보다 큰 제 1 개구수에 대응하는 직경을 갖는 제 1 파장의 방사빔과, 구면적으로 수차가 있는 파면과 상기 보다 작은 제 2 개구수에 대응하는 직경을 갖는 제 2 파장의 방사빔을 형성한다.
이 공지된 광학 헤드의 단점은, 위상 구조와 박막 스택 모두의 존재로 생긴 상기 부재가 비교적 높은 비용이 든다는 것이다. 더욱이, 상기 박막 스택은, 복잡한데, 그 이유는, 상기 위상 구조를 통해 전송된 부분에 관하여 스택을 통해 전송된 방사빔의 일부에 대한 동일한 파면을 이루기 위해서 상기 제 1 방사빔에서의 소정 위상 전이를 일으켜야 하기 때문이다.
본 발명의 목적은, 위상 구조를 갖는 덜 비싼 부재를 구비한 광학 헤드를 제공하는데 있다.
본 발명의 목적은, 제 1 정보층과 제 1 두께를 갖는 제 1 투명층을 포함하는 제 1 광학 기록매체와 제 2 정보층과 상기 제 1 두께와 다른 제 2 두께를 갖는 제 2 투명층을 포함하는 제 2 광학 기록매체를 주사하는 광학 헤드로서, 상기 광학 헤드는 제 1 파장을 갖는 제 1 방사빔과 상기 제 1 파장과 다른 제 2 파장을 갖는 제 2 방사빔을 발생하는 방사원과, 상기 제 1 투명층을 통하여 제 1 개구수를 갖는 상기 제 1 방사빔을 상기 제 1 정보층상의 초점에 집광하고 상기 제 2 투명층을 통하여 제 2 개구수를 갖는 상기 제 2 방사빔을 상기 제 2 정보층상의 초점에 집광하는 광학계를 구비하고, 상기 제 1 개구수는 상기 제 2 개구수보다 크고, 상기 광학계는 상기 제 1 및 제 2 투명층에 기인하는 구면수차에서의 차이를 보상하는 비주기적인 위상구조를 포함하고, 상기 위상구조는 광 경로의 패턴을 형성하는 복수의 동심 영역을 포함하고, 상기 광 경로의 패턴은 상기 제 1 파장에 대한 평탄한 파면편차 및 상기 제 2 파장에 대한 구면수차의 차이에 근접하는 파면편차를 형성하는 광학 헤드에 있어서, 상기 위상구조는 상기 제 2 개구수에서 상기 제 2 방사빔의 파면의 구배에 불연속성을 도입하는 것을 특징으로 한다.
상기 공지된 광학 헤드에 존재하는 것과 같은 박막 스택이 본 발명에 따른 헤드에서 필요하지 않으므로, 상기 위상 구조를 갖는 상기 요소의 제조는 더 값싸질 것이다. 더욱이, 상기 박막 스택이 없으면, 상기 제 1 방사빔의 정확한 위상이 상기 제 1 방사빔의 전체 직경에서 상기 위상 구조의 영역 두께의 적절한 선택으로 이루어질 수 있기 때문에 상기 제 1 방사빔의 전체 직경에서 평탄한 파면을 달성하기 보다 쉬워진다.
상기 박막 스택의 부재에 의해 상기 제 1 개구수 이상으로 상기 제 2 방사빔의 방사가 일어나 기록매체에 도달하고, 이어서, 상기 검출계에 이르러 상기 검출계에서 발생된 전기신호 중에서 특히 잡음을 증가시킬 수도 있다. 상기 공지된 위상 구조는, 구면수차의 차이에 대한 제 2 방사빔의 위상을 보정하지만 상기 방사빔에서의 광선의 전파 방향은 아니다. 따라서, 상기 구면수차의 차이에 의해 상기 제 2 방사빔의 외경 근처에서 광선이 생겨서, 상기 광선의 개구수를 점차적으로 증가시키면서 증가하는 상기 방사빔의 광축으로부터의 거리에서 상기 검출기 평면상에 충돌한다. 상기 검출기 평면에서의 연속적인 방사선 분포에 의해 상기 제 2 개구수보다 작은 개구수를 갖는 방사선과 보다 큰 개구수를 갖는 방사선간을 식별하기 곤란케 한다. 보다 큰 개구수를 갖는 광선의 포착은, 상기 제 2 개구수보다 큰 개구수를 갖는 제 2 기록매체를 주사할 때 생긴다. 상기 기록매체의 틸트로 상기 개구수의 3제곱에 비례한 코마틱 파면 오류를 일으키므로, 상기 주사하는 개구수의 증가는 상기 기록매체의 틸트에 관한 공차를 감소시킨다. 이를 피하기 위해서, 상기 검출계는, 실현하기 어려운 그 방사선 감지영역의 위치 및 규격을 정밀하게 정의해야 한다. 따라서, 본 발명에 따른 상기 위상 구조는, 상기 제 2 개구수에 대응하는 직경에서의 상기 제 2 방사빔의 파면 경사도의 불연속성을 도입한다. 상기 경사도의 불연속성으로 제 2 방사빔의 광선의 전파 방향의 변화가 생겨, 2개의 분리된 방사선 분포, 즉, 상기 제 2 개구수 보다 큰 개구수를 갖는 광선으로 인한 환상 방사선 분포로부터 진한 링(ring)에 의해 분리된, 상기 제 2 개구수 보다 작은 개구수를 갖는 제 2 방사빔에서의 광선들로 인한 검출기 평면에서의 중심 방사선 분포가 생긴다. 상기 검출계는, 그것의 위치 또는 규격의 위험한 공차 없이 중심 분포로 배치될 수 있다. 따라서, 상기 환상 방사선 분포는, 상기 검출계로부터 효과적으로 멀어질 수 있다.
상기 파면의 경사도의 불연속성을 실현하기 위해서는, 상기 제 2 개구수에 대응하는 외경을 갖는 영역의 적어도 일부는, 거의 구면수차의 차이와 같은 파면을 국부적으로 형성하는 상기 제 2 파장에 대한 광 경로를 갖고, 다른 영역은 거의 평탄한 파면 편차를 형성하는 제 1 파장에 대한 광 경로를 갖는 것이 바람직하다. 상기 구면수차의 차이와 같은 파면을 국부적으로 갖는 상기 제 2 방사빔의 일부에서의 광선은, 상기 광축과 상기 검출기 평면의 교차점으로 향할 것이다. 상기 위상 구조의 외향 인접 영역은, 상기 제 2 투명층을 통해 상기 제 1 방사빔의 통과를 위해 정정된다. 따라서, 상기 제 2 투명층을 통과한 후 상기 제 2 방사빔의 영역에서 의 광선은, 비교적 큰 구면수차를 나타내어 그 광선이 상기 광축으로부터 멀리 향할 것이다. 상기 2개의 영역간의 차이에 의해 상기 제 2 방사빔의 파면의 경사도의 원하는 불연속성이 일어난다.
제 1 방사빔의 위상 구조의 효과는, 최소화된다. 즉, 상기 위상 구조로, 바람직하게는 상기 위상 구조의 인접 영역의 광 경로 사이의 차이가 상기 제 1 파장에 거의 정수배일 경우 전체 평탄한 파면 편차가 일어난다.
본 발명의 다른 국면은, 2가지 형태의 광학 기록매체를 주사하는 장치에 관한 것으로, 상기 장치는, 상기 광학 헤드와 오류 정정을 위한 정보 처리부를 구비한다. 제 2 형태의 기록매체를 주사할 경우 상기 검출기 상의 광선 광량의 감소는, 상기 검출계에 의해 발생되고 상기 기록매체로부터 판독된 정보를 나타내는 전기 정보신호의 잡음을 감소시킨다. 또한, 상기 위상 구조는, 상기 제 2 기록매체의 틸트 마진을 증가시켜서, 상기 방사빔에서의 코마양과 상기 관련된 트랙 대 트랙 누화와 심볼간 간섭을 감소시킨다. 고품질의 정보신호는 상기 신호에서의 오류 수를 감소시켜서, 오류 정정을 위한 상기 정보 처리부에 과해진 요구를 감소시킨다.
본 발명의 목적, 장점 및 특징은, 아래 첨부도면에 도시된 것처럼, 본 발명의 바람직한 실시예들의 더욱 상세한 설명으로부터 명백해질 것이다:
도 1은 본 발명에 따른 주사장치를 나타내고,
도 2는 종래의 위상 구조를 갖는 광학부재를 나타내고,
도 3은 종래의 광학부재의 단면과 2개의 서로 다른 파장 λ1 및 λ2에 대한 그것의 광 경로차를 나타내며,
도 4는 종래의 위상 구조를 위한 검출계와 본 발명에 따른 검출계의 평면에서의 방사선 분포를 나타내고,
도 5는 본 발명에 따른 광학부재의 단면과 2개의 서로 다른 파장 λ1 및 λ2에 대한 그것의 광 경로차를 나타내고,
도 6은 다른 실시예의 위상 구조의 단면을 나타낸다.
도 1은 제 1 형태의 광학 기록매체(2)와 제 2 형태의 기록매체(40)를 주사하는 장치(1)를 나타낸 것이다. 도시된 실시예에서, 상기 제 1 형태는 DVD이고, 제 2 형태는 기록 가능형 CD이다. 상기 기록매체(2)는, 투명층(3)을 구비하고, 그것의 일측면 위에 정보층(4)이 배치된다. 상기 투명층으로부터 멀리 대향하는 정보층의 측면은, 보호층(5)에 의해 환경적인 영향으로부터 보호된다. 상기 장치에 대향하는 투명층의 측면은, 소위 입사면(6)이라 불린다. 상기 투명층(3)은, 상기 정보층에 대한 기계적인 지지를 제공함으로써 상기 기록매체용 지지체로서 동작한다. 또한, 상기 투명층은, 상기 정보층을 보호하는 단일 기능을 가져도 되고, 상기 정보층에 대한 기계적인 지지는, 이를테면 상기 보호층(5)에 의해서 또는 그 이상의 정보층과 상기 정보층(4)에 연결된 투명층에 의해 상기 정보층의 다른 측면의 층으로 구성된다. 정보는, 도면에 도시되어 있지 않고, 거의 평행하고, 동심형 또는 나선형 트랙으로 배치된 광학적으로 검출 가능한 마크의 형태로 상기 기록매체의 정보층(4)에 저장되어도 된다. 상기 마크는, 예를 들면, 피트 또는 반사 계수 또는 그들 주위와 다른 자화 방향을 갖는 영역의 형태, 또는 이들 형태의 조합 형태와 같은 임의의 광학적으로 판독 가능한 형태이어도 된다.
상기 주사장치(1)는, 서로 다른 파장을 갖는 제 1 및 제 2 방사빔(7, 8)을 방출할 수 있는 방사원을 구비한다. 도면에 도시된 방사원은, 상기 방사빔(7, 8)을 방출하는 2개의 반도체 레이저(9, 10)를 구비한다. 예를 들면 반투명판과 같은 빔 스플리터(11)는, 2개의 빔(7, 8)의 경로를 단일 광 경로로 조합한다. 상기 제 1 방사빔(7)은, 제 1 형태의 광학 기록매체(2)를 주사하는데 사용된다. 제 2 방사빔(8)은, 제 2 형태의 광학 기록매체(40)를 주사하는데 사용된다. 제 2 빔 스플리터(13)는, 상기 광 경로의 발산 방사빔(12)을 시준렌즈(14)로 반사하여, 그 발산 빔(12)을 시준 빔(15)으로 변환한다. 상기 시준 빔(15)은, 투과성 광학부재(16)에 입사되어, 상기 시준 빔의 파면을 변형한다. 광학부재(16)로부터 나오는 빔(17)은, 대물계(18)에 입사된다. 상기 대물계는, 하나 또는 그 이상의 렌즈 및/또는 격자를 구비하여도 된다. 상기 대물계(18)는, 광축(19)을 갖는다. 상기 대물계(18)는, 상기 빔(17)을 기록매체(2)의 입사면(6)에 입사되는 수렴빔(20)으로 변화시킨다. 상기 대물계는, 상기 투명층(3)의 두께를 상기 제 1 방사빔이 통과하도록 구성된 구면수차 보정부재를 갖는다. 상기 수렴빔(20)은, 상기 정보층(4) 상에 스폿(21)을 형성한다. 상기 정보층(4)에 의해 반사된 방사선은, 상기 대물계(18)에 의해 실질적으로 시준된 빔(23)으로 변환된 후, 상기 시준렌즈(14)에 의해 수렴빔(24)으로 변환된 발산 빔(22)을 형성한다. 상기 빔 스플리터(13)는, 검출계(25)를 향하는 수렴빔(24)의 적어도 일부를 전송함으로써 상기 전방향 및 반사된 빔으로 분리한다. 상기 검출계는, 방사선을 포착하여 그것을 전기 출력신호(26)로 변환한다. 신호 처리기(27)는, 이들 출력신호를 다양한 다른 신호로 변환한다. 상기 신호들 중 하나는, 정보신호(28)이고, 그것의 값은 상기 정보층(4)으로부터 판독된 정보를 나타낸다. 상기 정보신호는, 오류 정정을 위한 정보 처리부(29)에 의해 처리된다. 상기 신호 처리기(27)로부터의 다른 신호들은, 초점 오류신호와 반경방향 오류신호(30)이다. 상기 초점 오류신호는, 스폿(21)과 정보층(40) 사이의 축방향 높이차를 나타낸다. 상기 반경 방향 오류신호는, 상기 스폿(21)과 상기 스폿에 의해 다음에 오는 정보층의 트랙의 중심 사이에서 상기 정보층(4)의 평면 거리를 나타낸다. 상기 초점 오류 신호와 상기 반경방향 오류신호는, 이들 신호들을 초점 액추에이터와 반경방향 액추에이터 각각을 제어하기 위한 서보 제어신호(32)로 변환하는 서보회로(31)에 공급된다. 도면에서 상기 액추에이터는 도시되어 있지 않다. 상기 초점 액추에이터는, 초점 방향(33)으로 대물계(18)의 위치를 제어하여, 상기 정보층(4)의 평면과 거의 일치하도록 상기 스폿(21)의 실제 위치를 제어한다. 상기 반경방향 액추에이터는, 반경방향(34)으로 상기 대물렌즈(18)의 위치를 제어하여, 상기 정보층(4)에 다음에 오는 상기 트랙의 중심선과 거의 일치하도록 상기 스폿(21)의 반경방향 위치를 제어한다. 도면에서의 트랙은, 도면의 평면에 수직한 방향으로 주행한다.
또한, 도 1의 장치는, 제 2 형태의 기록매체(40)를 주사하도록 구성된다. 이 기록매체는, 상기 기록매체(2)보다 두꺼운 투명층(41), 정보층(42), 보호층(43) 및 입사면(44)을 구비한다. 상기 장치는, 정보 평면(42)을 주사하는 제 2 방사빔(8)을 사용한다. 이 방사빔의 NA는, 상기 정보층(42)을 주사하는 초점 스폿(47)을 형성하는데 적합한 NA를 갖는 수렴빔(45)을 얻도록 구성되어도 된다. 상기 NA의 적합한 값은, DVD형 기록매체용 0.6의 제 1 개구수 NA1와 CD형 기록매체용 0.5의 제 2 개구수 NA2이다. 상기 대물계(18)의 구면수차 보상은, 상기 투명층의 서로 다른 파장과 서로 다른 두께 때문에 상기 투명층(41)의 두께로 구성되지 않는다. 상기 광학부재(16)는, 상기 제 2 방사빔이 그것을 통과하는 경우 구면수차의 형태를 갖는 파면 편차를 일으키도록 설계되어 있다. 구면수차의 양은, 상기 제 1 및 제 2 투명층으로 인한 구면수차의 차이이다. 상기 대물계에 입사된 제 2 방사빔(46)에서 일어난 구면수차는, 상기 방사빔에서 상기 광학부재(16)와 상기 대물계(18)에 의해 일어난 상기 조합된 구면수차가 상기 투명층(41)을 통과할 때 상기 방사빔에 의해 일어난 구면수차를 보상하도록 선택된다.
도 2는 상기 광학부재(16)의 광축(19)을 통과하는 단면을 나타낸다. 상기 광학부재는, 투명판(50)을 구비하고, 그것의 일 표면(51)은 위상 구조(52)로 구성되고, 이 구조는 광축(19) 주위에서 회전적으로 대칭한다. 상기 위상 구조는, 중심영역(53)과 8개의 동심형 환상 영역(54∼61)을 갖는다. 상기 영역은, 상기 광학부재를 통해 전송된 방사빔의 광선의 서로 다른 광 경로를 일으키는 서로 다른 높이를 갖는다. 상기 도면에서 상기 영역의 높이는, 상기 투명판(50)의 두께 반경 범위에 대해 확대되어 있다.
인접 영역간 높이차는, 아래 식에 의해 주어진 높이 h1의 배수 m이다.
Figure 112002017158121-pct00001
상기 λ1은 제 1 파장, n1은 상기 파장 λ1에서의 환상 영역의 재료의 굴절률이다. 상기 배수 m은, 예를 들면, -1, 0 또는 1과 같은 임의의 정수 값이어도 된다. 상기 중심영역(53)의 높이에 대한 동심영역(54∼60)의 높이는, h1의 5, 4, 3, 2, 3, 4배이다. 상기 광학부재를 횡단하는 파장 λ1의 제 1 방사빔에서의 위상 구조의 인접 영역에 의해 일어난 상기 광 경로차(optical path difference; OPD)는, mλ1과 같은 mh1(n1-1)과 같다. 결과적으로, 상기 위상 구조는, 상기 제 1 방사빔에 대한 평탄한 파면 편차를 일으킨다. 달리 말하면, 상기 위상 구조는, 제 1 방사빔의 파면에 영향을 미치지 않는다.
이것은, 도 3에 개략적으로 도시되어 있다. 상부 다이어그램은, 상기 위상 구조에서의 반경의 함수로서 h1의 단위로 상기 위상 구조의 영역의 높이 h를 나타낸 것이다. 상기 반경은, 상기 방사빔에서의 광선의 개구수 NA로 표현되고, 이때의 광선은 상기 방사빔의 중심 영역으로부터 반경과 같은 거리에 있다. 상기 반경 r과 소위 싸인(sine) 조건에 부합하는 렌즈에 대한 공기의 개구수 NA 사이의 관계는, NA=r/f로 주어지고, 이때 f는 대물계(18)의 초점 거리이다. 상기 도면은, CD 및 DVD 각각에 대한 0.5 및 0.6의 NA를 나타낸다. 외부측 영역(60)은, 제로 높이를 갖 고 NA2까지 연장하는 영역(62)이 있다. 상기 제로 높이 영역(63)과 함께, 상기 영역(62)은 상기 영역(61)을 형성한다. 도 3의 중앙 다이어그램에서 그려진 선(64)은, 상기 위상 구조에 의해 상기 제 1 방사빔에서 일어난 OPD 또는 파면 편차를 나타내고, 상기 OPD는 λ1의 단위로 빔의 중심 광선의 광 경로에 관련된다. 상기 영역(54∼60)의 OPD는, 상기 광선이 도 2에 도시된 상기 위상 구조에 의해 지연되기 때문에 음의 값이다. 즉, 상기 위상 구조의 형상은, 상기 일어난 파면 편차가 볼록인 부분에서 오목하다. 상기 중앙 다이어그램에서의 점선(65)은, 상기 광학부재를 투과한 후 상기 제 1 방사빔에서 일어난 상기 파면 편차를 나타낸 것이다. 상기 파면 편차는, 광학부재가 상기 제 1 방사빔에 영향을 미치지 않는 것을 나타내는 전체적으로 및 국부적으로 모두 평탄하다. 상기 대물계(18)는, 상기 제 1 방사빔에 의해 일어난 구면수차의 보상을 위해 필요한 구면수차의 양을 상기 제 1 형태의 기록매체의 투명층(3)에 도입한다. 따라서, 상기 광학부재(16)와 대물계(18)를 통과 후 상기 제 1 방사빔은, 상기 제 1 형태의 기록매체에 대해 정확하게 보상된다.
상기 제 2 방사빔이 상기 광학부재(16)를 통과할 경우, 그것의 파면은, 상기 방사빔이 λ1과 서로 다른 파장 λ2를 갖고, 상기 동심 영역에 의해 일어난 광 경로차가 λ2의 배수와 같지 않기 때문에 영향을 받을 것이다. 상기 차이는, 도 2의 상기 특정 위상 구조에 대해 결정될 것이다. 동심 영역의 재료는, 660nm인 λ1에 대한 1.4891의 굴절률 n1과, 785nm인 λ2에 대한 1.4861의 굴절률 n2를 갖는 폴리메틸메타크릴레이트(polymethylmetacrylate, PMMA)이다. 표 I는, λ2로 나눈 광 경로차 OPD의 분수, 즉 1 내지 6의 값을 갖는 mh1 및 m의 계단 높이에 대한 {mh1(n2-1) modλ2 }/λ2를 나타낸 것이다.
Figure 112002017158121-pct00002
상기 환상 영역의 높이와 반경 범위는, 1.2mm의 투명층에 의해 파장 λ2를 갖는 상기 수렴빔(45)에서 일어난 구면수차와 상기 빔(45)에서의 대물계(18)에 의해 일어난 보상의 합인 구면수차의 양을 도입하도록 선택되었다. 이 합은, 기록매체의 투명층의 두께 차이로 인한 구면수차의 차이와 같다. 대물계의 구면 색수차(sphero-chromatism), 즉 상기 파장이 λ1에서 λ2로 변화하는 경우 상기 대물계에 의해 일어난 구면수차의 변화는, 상기 차이보다 작은 크기 순이고, 상기 언급된 차이에 포함되는 것으로서 간주된다. 상기 영역(53∼60)에 대한 m의 값이 도 3의 상부 다이어그램에 도시된 값을 갖고, NA2에 관해 규격화된 개구수로서 표현된 상기 환상 영역(53∼60, 62)의 반경 범위가 각각 0.239∼0.352, 0.352∼0.449, 0.449∼0.556, 0.556∼0.830, 0.830∼0.893, 0.893∼0.936, 0.936∼0.971, 0.971∼1.00일 경우, 상기 원하는 구면수차는 달성될 수 있다.
상기 제 2 방사빔에서 상기 광학부재에 의해 일어난 파면 편차는, 도 3의 하부 다이어그램에서 그려진 곡선(66)으로 도시되어 있다. 상기 수직축을 따라 OPD는, λ2의 단위로 주어진다. 점선으로 그려진 곡선(67-68)은, 기록매체의 투명층의 두께 차이로 인한 구면수차의 차이이다. 이 구면수차의 차이는, NA2=0.50까지, 즉 제 2 형태의 기록매체가 주사되는 제 2 방사빔의 개구수까지 상기 광학부재에 의해 보상되어야 한다. 상기 하부 다이어그램은, 상기 계단형 파면(66)이 전체적으로 상기 원하는 구면수차(67)에 근접한 것을 나타낸다. 그러나, 상기 근접값은, 국부적 레벨, 즉 동심 영역의 레벨에서 정확하지 않다. 즉, 각 영역은 평탄한 파면 편차를 제공하는 반면에, 그 영역에 대한 상기 원하는 파면 편차는 일반적으로 평탄하지 않다. 상기 국부적 레벨에서의 이 불일치에 의해, λ2의 단위로 상기 초점 스폿(47) 근처의 파면인 하부 다이어그램에서의 톱니형 선(69)으로 도시된 것처럼, 완전하지 않은 구면수차의 정정이 일어난다. 상기 파면은, 정정하려고 하는 파면(67)과 상기 광학부재의 실제 파면 정정(66) 사이의 차이이다. 상기 파면(69)은, 상기 광학부재(16)가 제 2 방사빔에서 파면 편차를 일으키지 않았을 경우 상기 초점 스폿(47) 근처에 존재하였을 파면(67)과 비교되어야 한다. 상기 광학부재(16)의 정정은, 0.68λ2 내지 0.16λ2의 피크 파면 편차와 0.234λ2 내지 0.044λ2 의 RMS OPD를 감소시켰다. 제 1 형태의 기록매체(1)를 주사하는 초점 스폿(21)의 포인트 확산 함 수의 반치전폭(full-width-at-half-maximum, FWHM)은 0.57㎛이다. 제 2 형태의 기록매체(40)를 주사하는 초점 스폿(47)의 FWHM은 0.81㎛이고, 이는 0.50의 개구수를 갖는 기록매체(49)를 주사하도록 특정적으로 설계된 대물계에 의해 형성된 초점 스폿의 FWHM이다.
위상 구조를 갖는 광학부재는, 예를 들면 디아크릴(diacryl)과 같은 래커(lacquer)층을 금형에 의해 성형되어 UV 조명에 의해 경화된 기판에 적층하는 소위 복제 공정을 사용하여 제조되어도 된다. 또한, 광학부재는, 전체 부재를 금형에 주입 몰딩으로 제조되어도 되고, 그것의 반은 상기 위상 구조의 프로파일로 구성된다. 또한, 상기 광학부재는, 반사부재로 동작되어도 된다. 그 경우에, 상기 h1에 대한 수식은 h11/2로 대체되어야 되고, 그에 따라서 표 I는 변경되어야 한다.
상기 광학부재(16)에 의해 상기 제 2 방사빔의 완전하지 않은 정정은, 상기 검출계(25)에 의해 기록매체(40)로부터 복귀하는 상기 방사빔의 검출에 영향을 미친다. 상기 광학부재(16)로부터 나오고 상기 검출계를 향하여 왕복주행하는 상기 빔의 파면이 평탄했을 경우, 상기 시준렌즈(14)는 광축과 상기 검출계가 정확하게 교차하는 빔을 형성하는 상기 광선을 포커싱할 것이다. 그러나, 상기 기록매체(40)로부터 복귀하고 상기 검출계(25)에 입사되는 상기 방사빔은, 그 파면에 있어서, 도 3의 하부 다이어그램의 톱니 프로파일(69)을 나타낸다. 상기 광학부재가 거의 상기 파면의 위상 오류를 감소시키지만, 그것은 상기 파면의 경사도(gradient) 또는 경사(slope)를 변경시키지 않는다. 상기 파면에 대한 국부적인 법선이 방사빔에서의 광선 방향이므로, 광선의 방향은 상기 톱니 프로파일(69)에 대한 법선으로부터 알 수 있다. 약 0.35보다 작은 NA를 갖는 광선은, 도면에서 우측으로 향하는 반면에, 그 보다 큰 NA를 갖는 광선은 좌측으로 향한다. 도 4a는 상기 검출계의 평면에서 방사선 분포(70) 결과를 나타낸 것이다. 이 분포는, 중심에서는 최고의 세기를 갖고, 중심으로부터 멀리서는 감소된다. 점선 원(71)은, NA2보다 작은 개구수를 갖는 광선이 그 내부에 존재하고 상기 검출계에 의해 포착되어야 되는 원이다. 상기 원 외부에 있는 광선은, NA2보다 큰 개구수를 갖고, 상기 검출계에 의해 발생된 전기신호의 잡음을 일으켜 상기 장치의 공차를 감소시킨다. 상기 점선 원(71) 내에의 광선만을 포착하도록 상기 검출계를 배치하는 것이 어렵다.
본 발명은, 이 문제점을 상기 종래의 위상 구조를 변형하여 해결한다. 본 발명에 따른 위상 구조의 단면은, 도 5의 상부 다이어그램에 도시되어 있다. 상기 구조는, 도 3에 도시된 위상 구조에서처럼 상기 영역(54∼57)내에 레벨 상부측을 갖는다. 상기 영역(58', 59' 및 60')은, 상기 레벨 상부측 대신에 경사진 상부측을 갖는다. 마찬가지로, 상기 영역(60')은, 경사진 상부측을 갖는다. 도 5의 중앙 다이어그램은, 상기 제 1 방사빔의 파면(65')이, 투명층(3)을 횡단할 때 상기 제 1 방사빔에 의해 일어난 구면수차를 보상하는데 요구되는 것과 같은 평탄한 파면에 전체적으로 근접하다는 것을 나타낸다. 그러나, 국부적으로, 상기 보상은 영역(53∼57)에 대해서만 정확하고, 각 영역은 실질적으로 평탄한 파면을 형성한다. 상기 보상은, 도면에 도시된 것처럼, 상기 파면에서의 작은 톱니를 나타내는 영역(58'∼60' 및 62')에 대해 완전하지 않다. 이 불완전한 보상으로 기록매체(2)를 주사하는 스폿의 비교적 작은 저하값인 1.00 내지 0.93의 스폿(21)의 소위 슈트레일(Strehl) 세기가 감소된다.
도 5의 하부 다이어그램은, 상기 제 2 방사빔에 대한 영역의 OPD를 나타낸다. 상기 영역(53∼57)의 보상은, 상기 종래의 위상 구조의 것과 유사하게 완전하지 않다. 상기 영역(58'∼60' 및 61')에서 상기 위상 구조의 상부측의 경사도는, 상기 구면수차(67)의 차이와 국부적으로 같은 파면을 형성하도록 선택되면, 완벽에 가까운 보상을 한다. 상기 상부측은, 직선 대신에 만곡되어 상기 파면과 보다 좋은 매칭을 제공한다. 도면에서 양호한 보상은, NA=0.35와 0.5 사이의 평탄한 파면(69)으로 도시되어 있다. 영역(63), 즉 NA2보다 큰 개구수를 갖는 광선에 대해 보상이 없으므로, 구면수차에 대한 파면 특징에서의 큰 경사가 생긴다. 영역 61'부터 영역 62까지의 보상에 있어서의 천이에 의해, NA2=0.50의 OPD(69)에서 구부러진 부분으로 하부 다이어그램에서 도시된 파면의 경사도가 불연속성으로 나타난다. 약 0.35보다 작은 NA를 갖는 광선은, 도면에서 우측으로 향한다. 0.35와 0.50 사이의 NA를 갖는 광선은, 광축을 향하여 상기 검출계(25)에 적절하게 포커싱 된다. 0.50보다 큰 NA를 갖는 광선은, 도면에서 좌측으로 향한다.
도 4b는 본 발명에 따른 위상 구조를 사용할 경우 상기 제 2 방사빔의 검출계 평면에서의 방사 분포(70')를 나타낸다. 이 분포는, 진한 링(74)으로 분리된 중심부(72)와 환상부(73)를 구비한다. NA2보다 작은 개구수를 갖는 광선은, 상기 중심 부(72)에 구속된다. 그 보다 큰 개구수를 갖는 광선은, 상기 환상부(74)에 속한다. 본 발명에 따른 위상 구조는, 원하는 광선과 원하지 않는 광선을 정밀하게 공간적 필터링하게 하는 제 2 방사빔에 대한 검출계의 평면에서의 개구수의 적절한 정의를 제공한다. 상기 진한 링으로, 상기 검출계의 방사 감지 영역의 실제 크기에 비교적 관련 없이 상기 검출계의 적절한 위치 결정이 이루어진다.
도 5에 도시된 위상 격자의 실시예는, 영역(58', 59', 60' 및 62')을 적응하여, 상기 제 2 방사빔의 적절한 구면수차를 보상한다. 이 보상을 제공하는 영역의 수는, 보다 크거나 보다 작아도 되고, 일부 영역으로 제한되어도 된다. 그 영역의 수의 증가로 상기 제 2 형태의 기록매체를 주사하는 스폿(47)의 품질을 향상시키는 반면에, 영역의 수의 감소는 제 1 형태의 기록매체를 주사하는 스폿(21)의 품질을 향상시킬 것이다. 도 6은 본 발명에 따른 위상 구조의 2개 그 이상의 실시예의 OPD를 나타낸다. 도 6a에서는 하나의 영역(62)만을 적응하였다. 상기 영역(61)의 OPD(64)에 의해 제 1 방사빔의 파면(65)에서 톱니 형상을 나타낸다. 도 6b에서는 영역(54∼60, 62)을 구성하였다. 상기 파면(65)은 도 6a에서의 파면과 비교하여 상당히 저하되었다. 표 II는, 이전의 문단에서 설명된 위상 격자의 2가지 실시예에 대해 스폿(21, 47)의 슈트레일 세기의 감소로서 표현된 파면 저하를 나타낸 것이다.
Figure 112002017158121-pct00003
상기 표 II는, 적응 영역의 수의 증가는, CD의 경우 스폿 47의 슈트레일 세기를 증가시키고, DVD의 경우 스폿 21의 슈트레일 세기를 감소시킨다. 빗나간 빛을 억제하기 위해서, 0.95NA2와 NA2 사이의 개구수를 갖는 영역이 적응되어야 한다. 그러나, 도 6a에 도시된 위상 등의 그러한 위상을 사용하는 경우 상기 검출계에 의해 더 차단된 빗나간 빛의 양으로, 이 위상 구조를 사용하는 장치는 고성능 응용에 덜 적합해진다. 도 5 및 도 6b의 실시예에서와 같은 0.90NA2와 NA2 사이의 개구수를 갖는 영역의 적응으로, 상기 차단된 빗나간 빛의 양이 대수롭지 않게 적게 된다. 따라서, 빛이 빗나가는 것을 억제하기 위해서는, 최대 0.95NA2부터 NA2까지 더욱 바람직하게는, 최대 0.90NA2부터 NA2까지의 개구수를 갖는 구역 내에 상기 영역 또는 그 부분을 적응하여 달성되는 것이 바람직하다. 여러 가지의 실시예들 가운데의 선택은, 상기 검출계의 수용 가능한 빗나간 빛의 양과 상기 원하는 스폿(21)의 품질에 의거한다.
상기 위상 격자가 도 1에 도시된 실시예에서는 판(50) 위에 또는 내부에 배 치되었지만, 상기 위상 격자는, 시준렌즈(14), 특히 큐브(cube) 빔 스플리터일 경우의 빔 스플리터(13) 또는, 바람직하게는 상기 방사원(10)에 대향하는 대물계의 렌즈 표면상의 대물계(18) 등의 임의의 다른 광학부재 위에 또는 내부에 배치되어도 된다.

Claims (4)

  1. 제 1 정보층과 제 1 두께를 갖는 제 1 투명층을 포함하는 제 1 광학 기록매체와 제 2 정보층과 상기 제 1 두께와 다른 제 2 두께를 갖는 제 2 투명층을 포함하는 제 2 광학 기록매체를 주사하는 광학 헤드로서, 상기 광학 헤드는 제 1 파장을 갖는 제 1 방사빔과 상기 제 1 파장과 다른 제 2 파장을 갖는 제 2 방사빔을 발생하는 방사원과, 상기 제 1 투명층을 통하여 제 1 개구수를 갖는 상기 제 1 방사빔을 상기 제 1 정보층상의 초점에 집광하고 상기 제 2 투명층을 통하여 제 2 개구수를 갖는 상기 제 2 방사빔을 상기 제 2 정보층상의 초점에 집광하는 광학계를 구비하고, 상기 제 1 개구수는 상기 제 2 개구수보다 크고, 상기 광학계는 상기 제 1 및 제 2 투명층에 기인하는 구면수차에서의 차이를 보상하는 비주기적인 위상구조를 포함하고, 상기 위상구조는 광 경로의 패턴을 형성하는 복수의 동심 영역을 포함하고, 상기 광 경로의 패턴은 상기 제 1 파장에 대한 평탄한 파면편차 및 상기 제 2 파장에 대한 구면수차의 차이에 근접하는 파면편차를 형성하는 광학 헤드에 있어서,
    상기 위상구조는 상기 제 2 개구수에서 상기 제 2 방사빔의 파면의 구배에 불연속성을 도입하는 것을 특징으로 하는 광학 헤드.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 2 개구수에 대응하는 외경을 갖는 상기 동심 영역 중 적어도 하나의 일부는, 상기 구면수차에서의 차이와 같은 파면을 국부적으로 형성하는 상기 제 2 파장에 대한 광 경로를 갖고, 다른 동심 영역은 평탄한 파면 편차를 형성하는 상기 제 1 파장에 대한 광 경로를 갖는 것을 특징으로 하는 광학 헤드.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 위상구조의 인접 영역의 상기 광 경로간의 차이는, 상기 제 1 파장의 정수배인 것을 특징으로 하는 광학 헤드.
  4. 청구항 제 1항에 따른 광학 헤드와 오류 정정을 위한 정보 처리부를 구비고, 2가지 형태의 광학 기록매체를 주사하는 것을 특징으로 하는 광학 주사장치.
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