KR100697017B1 - 플라즈마 디스플레이 패널 - Google Patents

Abstract

본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널에 관한 것으로서, 유효 방전 영역에 형성되는 다수개의 방전셀과, 상기 유효 방전 영역 이외의 비유효 방전 영역에 적어도 6 라인 이상 형성되는 더미셀을 포함하여 구성되어, 플라즈마 패널 내부의 오염물을 상기 더미셀로 유도하여 유효 방전 영역에 형성되는 방전 셀의 방전을 강화할 수 있다.

플라즈마 디스플레이 패널, 더미셀, 오염방지

Description

플라즈마 디스플레이 패널 {The plasma display panel}

도 1 은 플라즈마 디스플레이 패널의 구조가 도시된 도,

도 2 는 종래 기술에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 정면도,

도 3 은 본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 정면도,

도 4a 내지 4f 는 본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 오염 방지 버퍼셀의 형상의 실시예가 도시된 도이다.

<도면의 주요 부분에 관한 부호의 설명>

100: 전면기판 200: 배면기판

C: 방전셀 D: 더미셀

본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널에 관한 것으로써, 특히 플라즈마 디스플레이 패널의 비유효 방전 영역에 6 라인 이상의 더미셀을 형성하여 플라즈마 디 스플레이 패널 내부의 오염물을 유도하여 유효 방전 영역 코너부의 미점등 또는 오방전/과방전을 방지하여 휘점을 개선하고 유효 방전 영역의 방전을 강화하는 플라즈마 디스플레이 패널에 관한 것이다.

일반적인 플라즈마 디스플레이 패널은 도 1 에 도시된 바와 같이, 전면기판(10)과 배면기판(20)으로 구성되는데, 상기 전면기판(10)은 배면기판(20)과 대향하여 스트라이프형으로 배열 형성되는 복수개의 버스 전극(11) 및 투명 전극(12)과, 상기 버스 전극을 덮도록 적층되어 방전시 방전 전류를 제한하고 벽전하 생성을 용이하게 하는 유전체층(13)과, 상기 유전체층을 보호하기 위한 유전체 보호층(14)으로 이루어진다.

또한 상기 배면기판(20)은 상기 전면기판의 버스 전극(11)과 직교하도록 스트라이프형으로 배열되어 상기 버스 전극과 함께 전체 화면을 복수개의 셀로 구분하는 복수개의 어드레스 전극(21)과, 상기 배면기판의 전면에 도포되어 상기 어드레스 전극을 보호하고 전기적인 절연을 수행하기 위한 유전체층(23)과, 상기 유전체층 상에 스트라이프 형태로 배열 형성되어 방전공간 형성하는 격벽(22)과, 상기 격벽에 의해 형성된 방전공간 내부에 인쇄, 도포되어 각 셀의 방전시 자외선에 의해 여기되어 가시광을 방출하는 형광체(24)로 이루어진다.

상기 격벽(22)은 통상 샌드 블라스트(Sand Blast), 프레스(Press) 또는 감광 물질을 이용한 식각 방법(Etching) 등에 의해 원하는 형상으로 패터닝(Patterning) 된 후, 450℃ 이상의 고온에서 소성하는 과정을 통해 형성되는데, 이때 상기 격벽 을 형성하는 물질에 포함된 불순물과 바인더 성분이 배출된다.

상기 플라즈마 디스플레이 패널에는 도 2 에 도시된 바와 같이, 상기 격벽 형성 물질에서 배출되는 불순물 및 바인더 성분을 배출하기 위해 최외각 부분에 배기팁(T)이 형성된다.

따라서, 배기 공정시 플라즈마 디스플레이 패널 내부의 불순물이 상기 배기팁(T)을 통해 배출되는데, 상기 배기팁 주변부에는 배기 공정시 플라즈마 디스플레이 패널 외부로 배출되지 못하는 불순물이 남아 방전 셀(C)에 오염이 발생될 수 있다.

이를 방지하기 위해, 플라즈마 다스플레이 패널에 화면이 디스플레이 되는 유효 방전 영역(A) 외부에 더미셀(D)을 3 라인 형성하여, 상기 배출되지 못한 불순물에 의해 발생되는 오염을 유도한다.

그러나, 유효 방전 영역(A) 외부에 형성되는 더미셀(D)이 형성되는 경우에도, 배기 공정을 통해 배출되지 못한 불순물이 상기 더미셀에 전량 유도되지 못해서 상기 유효 방전 영역의 방전 셀(C)에 영향을 미쳐 휘점 불량, 과방전 또는 오방전을 발생시킨다.

특히, 금속 불순물의 경우에는 MgO로 이루어진 유전체층(13)에 쉽게 고착되어 상기 유전체층의 저항을 감소시킨다.

이에 따라, 상기 방전 셀(C)에서 방전이 발생되는 경우, 상기 유전체층(13)의 저항 감소로 인해 상기 유전체층을 통해 흐르는 전류가 증가하게 되어 상기 유전체층에 벽전하가 충분히 형성되지 않아 방전 셀이 점등되지 않게 되므로, 방전을 일으키기 위한 구동 전압을 높여야 하고 이에 따라 플라즈마 디스플레이 패널의 소비 전력이 커진다는 문제점이 있다.

본 발명은 상기한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 비유효 방전 영역에 플라즈마 디스플레이 패널 내부의 오염물을 고착시키기 위한 더미셀을 형성하여, 방전시 상기 오염물에 의해 유효 방전 영역에서 오방전/과방전 또는 코너부 미점등을 방지하고 유효 방전 영역의 방전을 강화하는 플라즈마 디스플레이 패널을 제공하는 데 있다.

상기한 과제를 해결하기 위한 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널은 유효 방전 영역에 형성되는 다수개의 방전셀과, 상기 유효 방전 영역 이외의 비유효 방전 영역에 적어도 6 라인 이상 형성되는 더미셀을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널을 설명하면 다음과 같다. 도 3 은 본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 정면도이고, 도 4a 내지 4f 는 본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 더미셀의 형상의 실시예가 도시된 도이다.

본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 패널은 전면 기판위에 면방전을 수행하기 위한 버스 전극쌍과 투명 전극쌍이 형성되고, 상기 버스 전극쌍 및 투명 전극쌍 위에 유전체층과 유전체 보호층이 차례로 형성된다.

배면기판(200)에는 영상 데이터에 따라 방전 셀을 선택하기 위한 어드레스 전극과, 상기 어드레스 전극 위에 유전체층과 방전 공간을 구획하기 위한 격벽(220)과 형광체가 차례로 형성된다.

상기 플라즈마 디스플레이 패널의 비유효 방전 영역에는 도 3 에 도시된 바와 같이, 플라즈마 디스플레이 패널 내부의 가스를 배기하는 배기팁(T)이 형성된다. 플라즈마 디스플레이 패널의 상기 전면 기판 및 배면 기판(200)을 합착 후, 상기 플라즈마 디스플레이 패널을 400℃ 이상의 고온으로 가열하여 플라즈마 디스플레이 패널에 형성된 구조물 내부에 존재하는 불순물을 배출시키고, 상기 불순물은 배기 공정시 펌핑되어 상기 배기팁을 통해 외부로 배출된다.

이때, 배출되지 못한 불순물은 플라즈마 디스플레이 패널의 방전 셀(C)을 오염시켜 방전 효율성을 떨어뜨리게 되므로, 상기 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널에는 유효 방전 영역(A) 외부의 비유효 방전 영역에 복수개의 더미셀(D)을 구비한다.

일반적으로, 더미셀(D)은 일반적으로 상기 유효 방전 영역(A)에 형성되는 방전 셀(C)과 동일한 형상을 가지고 유효 방전 영역 외곽에 가로 세로 방향으로 각각 3 라인정도 형성되어, 배기 공정 시 상기 배기팁(T)으로 빠져나가지 못한 불순물이 상기 유효 방전 영역의 유전체층에 고착되는 방지한다.

본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널에 구비되는 상기 더미셀(D)은 배기 공정 시 플라즈마 디스플레이 패널 내부의 불순물을 유도하여 플라즈마 디스플레이 패널 내부의 불순물이 유효 방전 영역(A)에 형성되는 방전 셀(C)로 확산되는 것을 방지하는 오염 방지셀(D')을 포함하여 구성된다.

즉, 유효 방전 영역(A) 외부의 비유효 방전 영역에는 더미셀(D) 및 오염 방지셀(D')이 형성되고, 상기 오염 방지셀은 상기 더미셀이 상기 배기팁(T) 주변으로 유도된 플라즈마 디스플레이 패널 내부의 불순물을 충분히 흡착하지 못하는 것을 보완하여 배기 공정 이후 상기 플라즈마 디스플레이 패널 내부에 잔존하는 불순물을 완전히 흡착하여, 상기 유효 방전 영역에 형성되는 유전체층에 불순물이 고착되어 방전 효율을 떨어뜨리는 것을 방지한다.

종래와 같이 상기 더미셀(D)이 3라인 내지 6라인 정도 유효 방전 영역(A) 외부에 형성되는 경우에는, 상기 배기팁(T) 주변으로 유도된 불순물에 의해 상기 유효 방전 영역의 방전 셀(C)이 영향을 받게 되는데, 상기와 같이 오염 방지셀(D')을 포함하는 더미셀이 6 라인 이상 형성하면 배기팁(T) 주변으로 유도된 불순물이 상기 방전 셀로 미치는 영향이 없어진다.

특히, 상기 불순물은 전면기판에 형성되는 투명 전극 끝단에 주로 모여 상기 유전체층에 고착되는데, 상기 오염 방지셀(D')이 구비되면 상기 플라즈마 디스플레이 패널 내부의 불순물을 상기 배기팁(T) 주변으로 더 많이 유도하여 상기 유전체층에 불순물이 고착되지 않게 한다.

이를 위해, 상기 오염 방지셀(D')은 상기 배기팁(T) 아래쪽에 수평 또는 수직하게 형성되어야 하는데, 상기 오염 방지셀이 많이 형성될수록 상기 유효 방전 영역(A)에 불순물이 존재할 확률이 줄어들어 유효 방전 영역에서 방전이 상기 불순물에 의해 약화되는 것을 방지할 수 있다.

일반적으로 플라즈마 디스플레이 패널에는 실(seal)제를 막기 위한 격벽(Seal Barrier Rib, 이하 SBR)이 형성되는데, 상기 오염 방지셀(B)은 상기 SBR(250)을 넘지 않도록 형성되어야 하고, 바람직하게는 상기 SBR을 기준으로 약 7㎜ 안까지 형성하여 배기 공정시 불순물이 배출되는 통로를 충분히 확보해야 한다.

상기 오염 방지셀(D')은 유효 방전 영역(A)의 방전 셀(C)과 동일한 형상을 가지도록 형성될 수 있고, 방전 셀과 다른 형상으로 형성될 수 있는데, 도 3 에 도시된 바와 같이 직사각형으로 형성될 수 있도 있고, 도 4a 에 도시된 바와 같이 정사각형으로 형성될 수 있다.

즉, 3 라인 정도의 더미셀(D)이 형성되면, 상기 더미셀 외곽에 상기 더미셀과 형상이 다른 오염 방지셀(D')를 형성할 수 있는데, 이때 상기 오염 방지셀의 가로폭 또는 세로폭은 상기 유효 방전 영역에 형성되는 방전 셀의 가로폭 또는 세로폭보다 크게 형성될 수 있다.

예를 들어, 도 4b 에 도시된 바와 같이, 상기 오염 방지셀(D')은 가로폭(W₁)은 상기 방전 셀(C)과 동일하게 구성하고 세로폭(H₁)은 방전 셀보다 크게 형성하거나, 도 4c 에 도시된 바와 같이, 세로폭(H₂)은 방전 셀과 동일하게 구성하고 가로폭 (W₂)가 방전 셀보다 크게 형성할 수 있다.

또한, 도 4d 에 도시된 바와 같이 상기 오염 방지셀(D')은 배면기판(200)의 어드레스 전극과 평행한 띠(stripe) 형태로 형성될 수 있다. 이처럼 상기 오염 방지 버퍼셀(B)이 띠 형태로 형성되면 상기 격자 형태로 형성되는 것보다 가로 격벽을 형성하지 않으므로 제조 공정이 간단해 진다는 장점이 있다.

또 다른 실시예를 살펴보면, 도 4e 에 도시된 바와 같이 상기 띠 형태로 형성되는 라인과 다수개의 직사각형 형태의 셀로 구성되는 라인을 교대로 형성하여 오염 방지셀(D')을 형성할 수 있고, 오각형 형태 또는 육각형 형태(미도시)를 비롯하여 다각형 모양으로 구성할 수 있게 된다.

상기 실시예에서 나타난 바와 같이, 상기 오염 방지셀(D')이 어느 형상으로 형성되는지에 상관없이, 상기 플라즈마 디스플레이 패널 내부의 불순물이 오염 방지셀에 의해 유효 방전 영역(A)의 방전 셀로 퍼지는 것을 방지하게 된다.

Pb, Na, Ca와 같은 금속 불순물이 상기 유전체층에 고착되면 유전체층의 표면 저항을 약화시키고, 상기 금속 불순물에 의해 유전체층에 전류가 흐르게 되어 방전 셀(C)에서의 방전이 약화된다.

또한 상기 불순물은 상기 배기팁(T) 주변에 많이 고착되므로, 상기 더미셀(D)이 상기 오염 방지셀(D')을 포함하여 구성되지 않는 경우에는 상기 배기팁 주변에 형성되는 더미셀에 불순물이 과도하게 고착되고, 일부 불순물은 상기 더미셀과 인접한 방전 셀(C)로 넘어가 코너부의 과방전을 발생시키거나 휘점을 과도하게 높 이게 된다.

따라서 상기 더미셀(D)이 오염 방지셀(D')을 포함하여 형성되면 상기 오염 방지셀이 배기팁(T) 주변으로 유도된 불순물이 완전히 고착되어 상기 방전 셀(C)로 불순물이 넘어가 코너부 과방전 또는 휘점이 과도하게 높아지는 것을 방지하여, 상기 방전 셀의 방전을 강화할 수 있다.

상기 오염 방지셀(D')에는 방전 셀(C)과 달리 형광체가 형성되지 않아 구동 전압이 인가되어도 가시광선이 생성되지 않아 방전이 발생하지 않게 되어 상기 오염 방지셀 부분에서 발생되는 방전에 의해 플라즈마 디스플레이 패널의 화질이 저하되는 것을 막을 수 있다.

또한 상기 오염 방지셀(D')을 형성하는 물질은 MgO를 함유하고 있어, 상기와 같이 오염 방지셀에 형광체가 형성되지 않으면 플라즈마 디스플레이 패널 내부의 불순물이 오염 방지셀에 더 잘 흡착되게 되므로 불순물 제거 효과를 높여 유효 방전 영역(A)의 방전 셀(C)에서 방전을 강화시킬 수 있게 된다.

특히, 상기 오염 방지셀(D')을 포함하는 더미셀(D)이 상기 유효 방전 영역(A) 외부에 6 라인 이상 형성됨에 따라, 플라즈마 디스플레이 패널 내부의 오염물을 완전히 고착시켜 상기 유효 방전 영역(A)의 방전 셀(C)에서 방전이 일어날 때 상기 오염물에 의해 방전이 약화되거나 특정 셀의 방전이 너무 강하여 휘도 특성이 저하되는 것을 막을 수 있는 동시에, 상기 오방전/과방전으로 인하여 형광체가 열화되어 플라즈마 디스플레이 패널의 수명이 저하되는 것을 방지할 수 있다.

이상과 같이 본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 패널을 예시된 도면을 참조로 설명하였으나, 본 명세서에 개시된 실시예와 도면에 의해 본 발명은 한정되지 않고, 본 발명의 기술사상이 보호되는 범위 이내에서 당업자에 의해 응용이 가능하다.

상기와 같이 구성되는 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널은 플라즈마 디스플레이 패널의 유효 방전 영역 외곽에 존재하는 비유효 방전 영역에 플라즈마 디스플레이 패널 내부의 오염물을 고착시키기 위한 오염 방지셀을 포함하는 더미셀을 6 라인 이상 형성하여, 방전시 상기 오염물에 의해 유효 방전 영역에서 오방전/과방전 또는 코너부 미점등을 방지하는 동시에 휘점을 개선시켜 플라즈마 디스플레이 패널의 배기팁 주변의 방전 취약성을 개선하고 유효 방전 영역의 방전을 강화 할 수 있는 효과가 있다.

Claims (7)

1. 유효 방전 영역에 형성되는 다수개의 방전셀과;

   상기 유효 방전 영역 이외의 비유효 방전 영역에 적어도 6 라인 이상 형성되는 더미셀을 포함하여 구성되되, 상기 더미셀 중 적어도 1라인 이상은 띠(stripe) 형상으로 형성되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널.
2. 제 1 항에 있어서,

   상기 플라즈마 디스플레이 패널은 비유효 방전 영역에 배기팁을 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널.
3. 제 1 항에 있어서,

   상기 더미셀은 상기 배기팁 아래쪽에 수평 또는 수직하게 형성되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널.
4. 제 1 항에 있어서,

   상기 더미셀은 실(Seal)제를 막는 격벽(Seal Barrier Rib, 이하 SBR) 안쪽에 형성되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널.
5. 삭제
6. 삭제
7. 제 1 항에 있어서,

   상기 더미셀의 가로폭 또는 세로폭은 상기 유효 방전 영역에 형성되는 방전 셀의 가로폭 또는 세로폭보다 크게 형성되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널.

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