KR100620059B1 - Automatic test device of electronic interlocking device and control method - Google Patents
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Abstract
본 발명은 스위치 매트릭스와 시험용 지그를 이용하여 입력카드 및 출력카드에 전원, 계측기 및 부하를 자동으로 연결하고 응답신호를 자동으로 읽어들여 시험을 위한 시간과 노력을 줄일 수 있는 전자연동장치의 자동시험장치 및 그 제어방법에 관한 것으로서, 다수의 스위치로 구성된 스위치 매트릭스(12)와; 시험대상인 카드가 전자연동장치에 설치되었을 경우와 동일하게 작동하도록 설치하는 시험용 지그(13)와; 상기 스위치 매트릭스(12)를 통해 상기 시험대상 카드의 포트에 전원을 공급하고 그 공급되는 전압 및 전류의 세기를 표시하는 전원공급기(14)와; 상기 스위치 매트릭스(12)를 통해 상기 시험대상 카드의 출력포트에 연결되는 부하(15)와; 상기 스위치 매트릭스(12)를 제어하여 상기 시험대상 카드의 각 포트를 상기 전원공급기(14)와 부하(15)에 연결하고 제어하여 그 공급전원을 변화시키고 그 전원의 변화에 따라 각 포트의 반응전압 및 반응전류를 읽어들여 저장하고, 각 출력포트로부터 상기 부하(15)에 공급되는 전원을 변화시켜 자동차단전압을 측정하여 저장하는 제어용 컴퓨터(11)로 구성되어 입력카드 및 출력카드를 측정하기 위한 시간과 노력을 줄일 수 있는 효과가 있다.The present invention uses the switch matrix and the test jig to automatically connect the power supply, measuring instrument and load to the input card and output card, and automatically read the response signal to reduce the time and effort for the test, the automatic interlock device An apparatus and a control method thereof, comprising: a switch matrix (12) comprising a plurality of switches; A test jig 13 installed to operate in the same manner as the card under test is installed in the electronic interlocking device; A power supply (14) for supplying power to the port of the card under test through the switch matrix (12) and displaying the strength of the voltage and current supplied thereto; A load 15 connected to the output port of the card under test through the switch matrix 12; The switch matrix 12 is controlled to connect and control each port of the card under test to the power supply 14 and the load 15 so as to change the supply power and react the voltage of each port according to the change of the power. And a control computer 11 which reads and stores the reaction current, changes the power supplied to the load 15 from each output port, and measures and stores the cutoff voltage for measuring the input card and the output card. This will save you time and effort.
전자연동장치, 스위치 매트릭스, VME, 입력카드, 출력카드, 시험Electronic Interlock, Switch Matrix, VME, Input Card, Output Card, Test
Description
도1은 일반적인 전자연동장치의 구성을 나타내는 블록도,1 is a block diagram showing a configuration of a general electronic interlocking apparatus;
도2는 본 발명에 따른 전자연동장치의 자동시험장치의 구성을 나타내는 블록도,2 is a block diagram showing the configuration of an automatic test apparatus for an electronic interlocking apparatus according to the present invention;
도3은 스위치 매트릭스를 이용하여 부하의 전류를 측정하는 방법을 나타내는 일 실시예,3 is a diagram illustrating a method of measuring a current of a load using a switch matrix;
도4는 본 발명에 의한 시험장치로 입력카드를 시험하기 위한 스위치 매트릭스의 스위치 상태도,4 is a switch state diagram of a switch matrix for testing an input card with a test apparatus according to the present invention;
도5는 본 발명에 의한 시험장치로 출력카드를 시험하기 위한 스위치 매트릭스의 스위치 상태도,5 is a switch state diagram of a switch matrix for testing an output card with a test apparatus according to the present invention;
도6a 및 도6b는 본 발명에 의하여 전자연동장치의 입력카드를 시험하는 방법을 나타내는 플로우차트,6A and 6B are flowcharts illustrating a method for testing an input card of an electronic interlocking apparatus according to the present invention;
도7은 본 발명에 의하여 전자연동장치의 출력카드를 시험하는 방법을 나타내는 플로우차트이다.7 is a flowchart showing a method of testing an output card of the electronic interlocking apparatus according to the present invention.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Main Parts of Drawings>
11:제어용 컴퓨터 12:스위치 매트릭스 13:시험용 지그11: Control computer 12: Switch matrix 13: Test jig
14:전원공급기 15:부하 16:입력카드14: Power supply 15: Load 16: Input card
17:출력카드17: output card
본 발명은 전자연동장치의 자동시험장치 및 그 제어방법에 관한 것으로, 특히, 스위치 매트릭스와 시험용 지그를 이용하여 입력카드 및 출력카드에 전원, 계측기 및 부하를 자동으로 연결하고 응답신호를 자동으로 읽어들여 시험을 위한 시간과 노력을 줄일 수 있는 전자연동장치의 자동시험장치 및 그 제어방법에 관한 것이다.The present invention relates to an automatic test apparatus for an electronic interlocking device and a control method thereof, and in particular, by using a switch matrix and a test jig to automatically connect a power supply, a measuring instrument, and a load to an input card and an output card, and automatically read a response signal. The present invention relates to an automatic test apparatus for an electronic interlocking apparatus and a control method thereof, which can reduce the time and effort for testing.
전기철도를 비롯하여 철도 위를 달리는 열차는 정해진 레일위로 이동을 하게 되지만 열차 자체에서 방향을 설정하여 이동하지 못하고 지상설비에서 진행중인 열차가 목적지와 통과시간을 확인하여 진로를 설정하게 된다.Trains that run on railroads, including electric railways, move on fixed rails, but they do not move by setting directions on the trains themselves, but trains in the ground facilities check their destinations and transit times to set the course.
이렇게 진로를 설정할 때 과거에는 현장에서 수동으로 경로를 바꾸어 주어야 하였다. 그런데 제어기술의 발달로 전기식 전철기를 사용하고, 이를 중앙에서 통제하는 전자연동장치를 사용하여 간편하고 안전하게 열차의 진행경로를 바꿀 수 있게 되었다.In the past, when setting the course, the route had to be manually changed in the field. However, with the development of control technology, it is possible to change the course of the train simply and safely by using an electric train and using an electronic interlock device that controls it centrally.
도1에 일반적인 전자연동장치의 구성을 나타내는 블록도가 도시된다.1 is a block diagram showing the configuration of a general electronic interlocking apparatus.
연동논리부(1)는 연동처리, 버스 및 입출력모듈의 제어, 외부장치와의 통신, 시스템의 감시 및 절체 기능을 한다. 통신부(2)는 표시제어부(3)와 연동논리부(1) 사이에 통신을 한다. 표시제어부(3)는 운전자의 제어정보를 연동논리부(1)에 전달하고 연동장치의 상태를 표시한다. 릴레이부(4)는 상기 연동논리부(1)의 제어에 따라 온/오프되어 궤도회로부(5)를 동작시킨다. 분전반(6)은 궤도회로부(5)에서 출력되는 다수의 제어신호를 버퍼하여 다수의 현장기기(7)로 각각 출력한다. 현장기기 (7) 각각은 상기 제어신호에 따라 동작하여 열차의 운행을 제어한다.The interlocking logic unit 1 functions to interlock, control buses and input / output modules, communicate with external devices, monitor and switch over the system. The communication unit 2 communicates between the
도1에 도시된 바와 같이 전자연동장치는 다수의 부분으로 구성되어 그 구성이 복잡하고 기능이 많아 전체적인 시험시스템을 구축하지 못하고 각 기능별로 신호를 별도로 입력하여 시험을 하였다.As shown in FIG. 1, the electronic interlocking device is composed of a plurality of parts, and its configuration is complicated and functions, and thus, the entire test system cannot be established.
종래에는 연동장치의 부분별로 시험하는 시험지그에 선을 연결하여 시험을 준비하기 때문에 지그에 선을 연결하기 위한 시간의 소요가 많았다. 또한 지그와 전자연동장치의 시험 포인트를 선으로 연결하여야 하므로 선을 연결하기 위한 인력도 많이 투입되어야 하였다.In the related art, since a test is prepared by connecting a wire to a test jig to be tested for each part of the interlocking device, it takes a long time to connect the wire to the jig. In addition, since the test point of the jig and the electronic interlocking device should be connected with a line, a lot of manpower for connecting the line had to be invested.
전자연동장치의 시험은 다수(최대 32개)의 신호입력 포인트를 갖는 입력카드 시험으로, 1) 입력신호의 전압을 가변하면서 어느 전압에서 전자연동장치가 감응을 하는지 확인하는 시험과, 2) 입력회로의 소비전력을 확인하기 위한 전류측정시험(정격전압에서 전류를 증가하면서 어떤 전류 크기를 가진 입력에 대하여 회로가 동 작을 하는지를 확인하는 시험)과, 또한 3) 최대허용입력 전압을 10분간 인가하여 카드에 손상이 있는지를 확인하는 안전성시험으로 실시한다. 그리고 다수(최대 32개)의 신호 출력포인트를 갖는 출력카드 시험으로 출력회로에 대한 보호회로동작시험이 있다.The test of the electronic interlocking device is an input card test having a plurality of signal input points (up to 32). 1) A test for checking the voltage at which the electronic interlocking device responds while varying the voltage of the input signal; Current measurement test to check the power consumption of the circuit (test to check the operation of the circuit for the input of which current magnitude while increasing the current at the rated voltage), and 3) by applying the maximum allowable input voltage for 10 minutes. Perform a safety test to check the card for damage. In addition, there is a protection circuit operation test for the output circuit with an output card test having a plurality (up to 32) signal output points.
종래에는 이런 시험을 위해서 수동방식의 스위치 상자를 이용하여 각 입력 카드 및 출력카드의 입·출력포인트 가운데 시험대상인 포인트를 임의로 선택하였으며, 각각의 제작사별 입·출력 카드의 회로구성에 맞추어 별도로 시험용 지그를 별도로 제작하고 그 지그를 사용하여 시험대상 입·출력 카드와 계측기 및 스위치 상자를 접속하고 시험품의 동작상태를 확인하였다.Conventionally, for this test, a test switch was randomly selected from the input / output points of each input card and output card using a manual switch box, and the test jig was separately set according to the circuit configuration of each manufacturer's input / output card. Was manufactured separately and the Jig was used to connect the I / O card under test, the instrument, and the switch box to check the operation of the EUT.
또한, 선정된 시험포인트에 대하여, 1) 입력카드의 경우 시험품 접속용 지그를 통하여 동작상태를 확인하며 전원공급장치를 조절하여 입력신호에 해당하는 가변전압을 입력하고, 입력신호를 인식한 순간의 입력전압·전류를 멀티메타 또는 오실로스코프를 이용하여 전압의 크기를 측정하는 방식이었으며, 2) 출력카드의 경우 시험품 접속용 지그를 통하여 출력상태를 멀티메타 또는 오실로스코프를 이용하여 전압-전류 특성을 측정하는 수준이었다.In addition, for the selected test point, 1) In the case of the input card, check the operation state through the jig for connecting the EUT and input the variable voltage corresponding to the input signal by adjusting the power supply device. The input voltage and current were measured using a multimeter or an oscilloscope. 2) In the case of an output card, the voltage and current characteristics were measured using a multimeter or an oscilloscope. It was a level.
그 결과 이를 준비하는데 시간과 인력 그리고 자재 등의 비용이 많이 소요되며, 입출력카드의 모든 입출력포인트에 대한 시험이 불가능하였고, 시험조건의 설정 및 측정을 수동으로 행함에 따라 정밀한 계측이 곤란하였다.As a result, it took time, manpower, and materials to prepare for this, and it was impossible to test all the input / output points of the input / output card, and precise measurement was difficult as the test conditions were set and measured manually.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로, 본 발명의 목적은 입력전압·전류 및 출력부하의 크기를 조절할 수 있는 전자연동장치의 자동시험장치 및 그 제어방법을 제공하는데 있다. The present invention has been proposed to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide an automatic test apparatus and control method thereof of an electronic interlocking apparatus that can adjust the magnitude of the input voltage, current and output load.
본 발명의 다른 목적은 시험이 진행되는 동안 외부신호의 변동에 대하여 전자연동장치의 동작상태를 실시간으로 확인 기록할 수 있는 전자연동장치의 자동시험장치 및 그 제어방법을 제공하는 것이다.It is another object of the present invention to provide an automatic test apparatus for an electronic interlocking apparatus and a control method thereof, which can confirm and record the operating state of an electronic interlocking apparatus in real time with respect to a change in an external signal during a test.
본 발명의 또 다른 목적은 부하와 전원공급장치를 조절하여 전류의 크기와 전자연동장치 동작전압의 크기를 정확히 측정할 수 있는 전자연동장치의 자동시험장치 및 그 제어방법을 제공하는 것이다.Still another object of the present invention is to provide an automatic test apparatus for an electronic interlocking apparatus and a control method thereof capable of accurately measuring the magnitude of the current and the magnitude of the operating voltage of the electronic interlocking device by adjusting the load and the power supply.
본 발명의 또 다른 목적은 전자연동장치에 사용되는 서로 다른 종류의 카드와 계측장비를 스위치 매트릭스를 이용하여 연결함으로써 기구적인 변경없이 동일한 시험용 JIG를 사용하여 자동으로 연결하여 전자연동장치의 카드별 기능을 확인할 수 있는 전자연동장치의 자동시험장치 및 그 제어방법을 제공하는 것이다.
Another object of the present invention is to connect the different types of cards and measuring equipment used in the electronic interlocking device using a switch matrix to automatically connect using the same test JIG without mechanical changes by the card-specific function of the electronic interlocking device It is to provide an automatic test device of the electronic interlocking device and a control method thereof.
상기한 본 발명에 의한 목적을 달성하기 위해서, 본 발명에 의한 전자연동장치의 자동시험장치는 다수의 스위치로 구성된 스위치 매트릭스와; 시험대상인 카드가 전자연동장치에 설치되었을 경우와 동일하게 작동하도록 설치하는 시험용 지그와; 상기 스위치 매트릭스를 통해 대응되는 지그에 연결된 시험포인트의 전압/전류를 측정하는 전압측정기/전류측정기와; 상기 스위치 매트릭스를 통해 상기 시험용 지그에 연결되는 부하와; 상기 스위치 매트릭스를 제어하여 상기 시험대상 카드의 각 포트를 상기 전원공급기와 부하에 연결하고 제어하여 그 공급전원을 변화시키고 그 전원의 변화에 따라 각 포트의 반응전압 및 반응전류를 읽어들여 저장하고, 각 출력포트로부터 상기 부하에 공급되는 전원을 변화시켜 자동차단전압을 측정하여 저장하는 제어용 컴퓨터로 구성된다.In order to achieve the above object according to the present invention, the automatic test apparatus of the electronic interlocking apparatus according to the present invention comprises a switch matrix consisting of a plurality of switches; A test jig installed to operate in the same manner as the card under test is installed in the electronic interlocking device; A voltage meter / current meter for measuring a voltage / current of a test point connected to a corresponding jig through the switch matrix; A load connected to the test jig via the switch matrix; The switch matrix is controlled to connect and control each port of the test target card to the power supply and the load to change the supply power and read and store the reaction voltage and the reaction current of each port according to the change of the power supply. It is composed of a control computer for measuring and storing the vehicle cut-off voltage by varying the power supplied to the load from each output port.
본 발명에 의한 상기 시험용 지그는 전자연동장치의 제어부와 동일한 조건으로 시험대상인 카드를 설치하는 VME(Versa Module Europa) 버스를 가진 VME 랙으로 구성되며, 시험용 지그와 전원공급기 및 부하를 스위치 매트릭스로 연결하므로서 전자연동장치에 사용하는 여러 종류의 카드를 기구적인 변경없이 동일한 지그에서 시험하도록 구성하는 것을 특징으로 한다.The test jig according to the present invention comprises a VME rack having a VME (Versa Module Europa) bus for installing a card under test under the same conditions as a control unit of an electronic interlocking device, and connecting a test jig, a power supply, and a load to a switch matrix. Therefore, it is characterized in that the various types of cards used in the electronic interlocking device are configured to be tested in the same jig without mechanical change.
본 발명에 의한 전자연동장치의 자동시험장치는 상기 제어용 컴퓨터와 스위치 매트릭스, 상기 제어용 컴퓨터와 시험용 지그, 상기 제어용 컴퓨터와 전원공급기 및 상기 제어용 컴퓨터와 부하 사이에 직렬통신을 하는 것을 특징으로 한다.The automatic test apparatus of the electronic interlocking apparatus according to the present invention is characterized in that serial communication is performed between the control computer and the switch matrix, the control computer and the test jig, the control computer and the power supply, and the control computer and the load.
본 발명에 의한 전자연동장치의 입력카드의 자동시험 방법은,The automatic test method of the input card of the electronic interlocking device according to the present invention,
(A) 전원인가와 동시에 초기화과정을 수행하고, 스위치 매트릭스를 제어하여 전원공급기를 입력카드의 시험대상 포트에 연결하는 단계와;(A) performing an initialization process at the same time as applying power and controlling a switch matrix to connect the power supply to the test target port of the input card;
상기 전원공급기의 공급전압을 V1으로 설정하여 시험대상 포트에 인가하고, 시험용 지그로부터 응답전압(VLH)이 발생했는지를 확인하는 단계와;Setting a supply voltage of the power supply to V1 and applying it to a port to be tested, and checking whether a response voltage (VLH) is generated from a test jig;
응답전압(VLH)이 발생하지 않은 경우, 전원공급기의 전압을 0.1V 증가시켜 상기 시험대상 포트에 인가하고, 상기 응답전압(VLH)이 발생했는지를 확인하는 단계 이하의 과정을 반복하는 단계와;If the response voltage (VLH) does not occur, increasing the voltage of the power supply by 0.1V applied to the port to be tested, and checking whether the response voltage (VLH) has occurred;
응답전압(VLH)이 발생한 경우, 응답전압(VLH)과 응답전류(ILH)를 읽어들여 메모리에 저장하는 과정을 마지막 포트까지 반복하는 단계로 구성된 입력응답시험을 수행하는 과정과;Performing an input response test including repeating a process of reading the response voltage VLH and the response current IHL and storing them in a memory to the last port when the response voltage VLH occurs;
(B) 최대허용전압을 10분간 인가하여 손상이 발생하는지를 확인하는 안전성시험을 실시하는 과정과;(B) conducting a safety test to determine whether damage occurs by applying a maximum allowable voltage for 10 minutes;
(C) 상기 입력응답시험 과정에서 설정전압을 V2로 하고, 상기 설정전압에서 0.1V씩 감소시키면서 각 입력포트에 대해 응답전압(VHL)과 응답전류(IHL)를 확인하는 2차 입력응답시험 과정으로 구성되는 것을 특징으로 한다.(C) The secondary input response test process of checking the response voltage (VHL) and the response current (IHL) for each input port while reducing the set voltage to V2 in the input response test process, and decreasing the set voltage by 0.1V. Characterized in that consists of.
본 발명에 의한 전자연동장치의 입력카드의 자동시험 방법은 상기 안전성시험과정을 다수의 입력카드에 대해 1차 입력응답시험을 한 후, 1차 입력응답시험이 끝난 다수의 입력카드를 동시에 시험용 지그의 랙에 꽂아 실시하는 것을 특징으로 한다.In the automatic test method of the input card of the electronic interlocking apparatus according to the present invention, the safety test procedure is performed after the first input response test on a plurality of input cards, and then a plurality of input cards at the same time the first input response test is completed. It is characterized by performing in the rack.
본 발명에 의한 전자연동장치의 출력카드의 자동시험 방법은,The automatic test method of the output card of the electronic interlocking device according to the present invention,
전원인가와 동시에 초기화과정을 수행하고, 스위치 매트릭스의 스위치를 제어하여 전원공급기를 출력카드의 시험대상 포트에 연결하는 단계와;Performing an initialization process at the same time as applying power and controlling a switch of a switch matrix to connect a power supply to a test target port of an output card;
전원공급기의 공급전류를 I1으로 설정하여 시험대상 포트에 인가하고, 시험용 지그로부터 상기 시험대상 포트의 전압이 "0"으로 떨어졌는지를 확인하는 단계 와;Setting the supply current of the power supply to I1 and applying it to the port under test, and checking whether the voltage of the port under test has dropped to "0" from the test jig;
전압이 "0"으로 떨어지지 않은 경우, 전원공급기의 공급전류를 20㎃ 증가시켜 상기 시험대상 포트에 인가하고, 상기 공급전류를 시험대상 포트에 인가하는 단계로 되돌아가서 그 이하의 과정을 반복하는 단계와;If the voltage does not drop to "0", the supply current of the power supply is increased by 20 mA and applied to the port under test, and the step of returning to the step of applying the supply current to the port under test is repeated. Wow;
전압이 "0"으로 떨어진 경우, 차단전류 Ioff를 측정하고 그 값을 부하와의 통신인터페이스(GPIB)에 의해 읽어들여 메모리에 저장하는 과정을 마지막 포트까지 실행하는 것을 특징으로 한다.When the voltage drops to " 0 ", the process of measuring the breaking current Ioff and reading the value by the communication interface GPIB with the load and storing it in the memory is performed up to the last port.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, preferred embodiments of the present invention will be described in detail.
도2는 본 발명에 따른 본 발명에 의한 전자연동장치의 자동시험장치의 구성을 나타내는 블록도이다.2 is a block diagram showing the configuration of an automatic test apparatus for an electronic interlocking apparatus according to the present invention.
다수의 스위치로 구성된 스위치 매트릭스(12)와; 전자연동장치의 시험대상 카드가 끼워지고 상기 카드의 다수의 포트를 상기 스위치 매트릭스(12)의 열에 연결하는 시험용 지그(13)와; 상기 스위치 매트릭스(12)를 통해 상기 시험대상 카드의 포트에 전원을 공급하고 그 공급되는 전압 및 전류의 세기를 표시하는 전원공급기(14)와; 상기 스위치 매트릭스(12)를 통해 상기 시험대상 카드의 출력포트에 연결되는 부하(15)와; 상기 각 장치들을 제어하는 제어용 컴퓨터(11)로 구성된다.A
다수의 스위치가 행과 열로 배열되어 격자상태를 이루고 있는 스위치 매트릭 스(12)는 도3에 도시된 바와 같이 다수의 수평신호선(21,22,23)들과 다수의 수직신호선(24,25,26)들이 만나는 점에서 스위치 rij(i=1,2,3,..., j=1,2,3,...)가 다수의 수평신호선(21,22,23)들과 다수의 수직신호선(24,25,26)들 각각에 연결되어 있다.As shown in FIG. 3, the
그리고 다수의 수평신호선(21,22,23)들은 입력단자로서 사용되며 다수의 수직신호선(24,25,26)들은 출력단자로서 사용된다. 또한 스위치 rij(i=1,2,3,..., j=1,2,3,...)들은 평상시 "오프(off)" 상태이지만, 제어용 컴퓨터(11)로부터 제어신호를 받아 "온(on)" 상태로 된다.A plurality of
예를 들어, 스위치 r12와 스위치 r21이 "온(on)" 상태로 된 경우, 두 수직신호선(24,25)에 연결된 부하(29)가 전원(27)으로부터 수평신호선(21)을 통해 전기를 공급받고 수평신호선(22)을 통해 전류측정기(28)에 연결된다. 따라서 부하(29)에 흐르는 전류를 전류측정기(28)의 눈금을 읽어 측정할 수 있다.For example, when the switch r12 and the switch r21 are in the "on" state, the
도4에 본 발명에 의한 시험장치로 입력카드를 시험하기 위한 스위치 매트릭스의 스위치 상태가 도시된다.4 shows a switch state of the switch matrix for testing the input card with the test apparatus according to the present invention.
시험용 지그(13)는 VME 버스를 가진 VME 랙으로 구성되며, 시험용 지그(13)와 전원공급기(14) 및 부하(15)를 스위치 매트릭스(12)로 연결함으로써 전자연동장치에 사용하는 여러 종류의 카드를 기구적인 변경없이 동일한 지그에서 시험하도록 구성되어 그 랙에 입력카드 또는 출력카드를 끼워 그 카드들의 입,출력 포트들이 시험용 지그(13)를 통하여 스위치 매트릭스(12)에 연결된다. 도4에 도시된 바와 같 이 스위치 매트릭스(12)의 1행에 전원공급기(14)의 Vcc단자가 연결되고, 2행에 전원공급기(14)의 접지(ground)단자가 연결된다. 또한, 스위치 매트릭스(12)의 3행에 부하(15)의 "+"단자가 연결되고, 4행에 부하(15)의 "-"단자가 연결된다.The
그리고 입력카드(16)의 포트0의 A0단자는 스위치 매트릭스(12)의 1열에, B0 단자는 2열에, C0단자는 3열에 연결된다. 마찬가지로 포트1의 A1단자는 스위치 매트릭스(12)의 4열에, B1단자는 5열에, C1단자는 6열에, ...., 포트31의 A31단자는 스위치 매트릭스(12)의 94열에, B31단자는 95열에, C31단자는 96열에 연결된다.The A0 terminal of port 0 of the
제어용 컴퓨터(11)는 RS485 통신을 이용하여 스위치 매트릭스(12)를 제어하여 2행 1열 스위치를 "온(on)"상태로 하여 전원공급기(14)의 접지단자를 입력카드 (16)의 포트0의 A0단자에 연결하고, 1행 3열 스위치를 "온(on)"상태로 하여 전원공급기(14)의 Vcc단자를 입력카드(16)의 포트0의 C0단자에 연결한다.The
이렇게 스위치 매트릭스(12)의 2행 1열 스위치와 1행 3열 스위치를 "온(on)"상태로 하여 입력카드(16)의 포트0에 전원공급기(14)를 연결하고, 제어용 컴퓨터 (11)는 통신인터페이스(GPIB)를 이용하여 전원공급기(14)에서 공급되는 전압을 V1으로 설정하고, 0.1V씩 증가시키면서 입력카드(16)의 포트0에 전압을 공급한다.The
전압을 V1에서 0.1V씩 증가시켜 공급하던 중 입력카드(16)가 "로우(low)"에서 "하이(high)"로 반응하는 응답전압(VLH)이 발생한다. 제어용 컴퓨터(11)는 RS232 통신을 이용하여 시험용 지그(13)로부터 응답전압(VLH)과 이때의 응답전류(ILH)를 읽어들여 메모리에 저장하고, 2행 1열 스위치와 1행 3열 스위치를 "오프(off)"로 하여 포트0에 대해 입력응답시험을 완료한다.While supplying the voltage by increasing the voltage from V1 by 0.1V, a response voltage VLH occurs in which the
다음에 포트1에 대해 입력응답시험을 하기 위하여 스위치 매트릭스(12)를 제어하여 2행 4열 스위치를 "온(on)"상태로 하여 전원공급기(14)의 접지단자를 입력카드(16)의 포트1의 A1단자에 연결하고, 1행 6열 스위치를 "온(on)"상태로 하여 전원공급기(14)의 Vcc단자를 입력카드(16)의 포트1의 C1단자에 연결한다.Next, in order to perform an input response test on the port 1, the
이렇게 연결된 상태에서 V1에서 0.1V씩 증가시키면서 포트1의 응답전압(VLH)과 응답전류(ILH)를 읽어들여 포트1의 입력응답시험을 완료한다. 이러한 방법으로 포트31까지 입력응답시험을 완료한 다음, 최대허용전압(예를 들면, 30V)을 10분간 인가하여 손상이 발생하는지를 확인하는 안전성시험을 실시한다.In this connection, input response test of port 1 is completed by reading response voltage (VLH) and response current (ILH) of port 1, increasing by 0.1V from V1. After completing the input response test up to
그러나 하나의 입력카드에 대해 입력응답시험과 최대허용전압을 10분간 인가하는 안전성시험을 실시하게 되면, 다른 입력카드를 시험하기 위해 10분이상을 기다려야 하므로 시간이 많이 소요된다.However, if the input response test and the safety test for applying the maximum allowable voltage are applied to one input card for 10 minutes, it is time consuming to wait 10 minutes or more to test another input card.
따라서, 10매의 입력카드에 대해 입력응답시험을 한 후, 입력응답시험이 끝난 10매의 카드를 동시에 시험용 지그(13)의 랙에 꽂아 안전성시험을 실시한다. 10매의 입력카드를 동시에 안전성시험을 실시하게 되면, 10분이 소요되는 안전성시험을 1매의 카드당 1분이 소요되게 할 수 있어서 시간적으로 절약할 수 있다.Therefore, after the input response test is carried out on the 10 input cards, the 10 cards which have been subjected to the input response test are simultaneously inserted into the rack of the
안전성시험을 완료한 후, 설정전압 V2(예를 들면, 24V)에서 0.1V씩 감소시키면서 각 입력포트에 대해 응답전압(VHL)과 응답전류(IHL)를 확인하는 2차 입력응답시험을 실시한다.After completing the safety test, perform a secondary input response test to check the response voltage (VHL) and the response current (IHL) for each input port, decreasing by 0.1V from the set voltage V2 (for example, 24V). .
2차 입력응답시험은 설정전압 V2에서 0.1V씩 감소시키면서 각 입력포트에 대 해 응답전압(VHL)과 응답전류(IHL)를 확인하는 점 이외에 1차 입력응답시험과 동일하다.The secondary input response test is identical to the primary input response test except that the response voltage (VHL) and the response current (IHL) are checked for each input port by decreasing 0.1V from the set voltage V2.
다음에 출력카드를 시험하기 위하여 시험용 지그(13)의 랙에 출력카드를 꽂고, 상기 출력카드에 전원공급기(14)로 정격출력전압(예를 들면, +24V)과 정격출력전류(예를 들면, 0.5A)를 공급하는 상태에서 상기 출력카드에서 출력되는 전원을 부하(15)에 인가한 상태에서 전류값을 20㎃씩 증가시키면서 차단되는 전류값을 확인하는 보호회로 동작시험을 하게 된다.Next, in order to test the output card, the output card is inserted into the rack of the
도5에 본 발명에 의한 시험장치로 출력카드를 시험하기 위한 스위치 매트릭스의 스위치 상태가 도시된다.5 shows the switch state of the switch matrix for testing the output card with the test apparatus according to the present invention.
제어용 컴퓨터(11)는 스위치 매트릭스(12)를 제어하여 1행 1열 스위치를 "온(on)"상태로 하여 전원공급기(14)의 Vcc단자를 출력카드(17)의 포트0의 A0단자에 연결하고, 2행 2열 스위치와 4행 2열 스위치를 "온(on)"상태로 하여 전원공급기(14)의 접지단자와 부하(15)의 접지단자 및 포트0의 B0단자를 연결하고, 3행 3열 스위치를 "온(on)"상태로 하여 출력카드(16)의 포트0의 C0단자에서 출력되는 전압을 부하(15)의 Vcc단자에 연결한다.The
이렇게 연결된 상태에서 제어용 컴퓨터(11)는 통신인터페이스(GPIB)에 의해 전원공급기(14)를 제어하여 전원공급기(14)에서 공급되는 전류를 I1에서 20㎃씩 증가시키면서 부하(15)에 인가되는 전압이 "0"으로 떨어지는 전류 Ioff를 측정하고 그 값을 부하(15)와의 통신인터페이스(GPIB)에 의해 읽어들여 자체 메모리에 저장 한다. 이러한 시험을 나머지 포트에 대해서도 실행하여 출력카드(17)에 대해 보호회로 동작시험을 완료한다.In this connected state, the
도6a 및 도6b에 본 발명에 의하여 전자연동장치의 입력카드를 시험하는 방법을 나타내는 플로우차트가 도시된다.6A and 6B show a flowchart showing a method for testing an input card of an electronic interlocking apparatus according to the present invention.
전원인가와 동시에 모니터, 통신인터페이스(GPIB), RS232 및 RS485 통신, 전원공급기 및 계측기, 시험용 지그 등에 대해 초기화과정을 수행하고(단계 S1), 스위치 매트릭스(12)의 스위치를 제어하여 전원공급기(14)를 입력카드(16)의 포트0에 연결하여 시험대상 포트를 포트0으로 설정한다(단계 S2).Simultaneously with the power on, the monitor, communication interface (GPIB), RS232 and RS485 communication, power supply and instrumentation, test jig, etc. are initialized (step S1), and the switch of the
전원공급기(14)의 공급전압을 V1으로 설정하여 시험대상 포트로 정해진 포트 0에 인가하고(단계 S3), 시험용 지그(13)의 콘트롤러로부터 응답전압(VLH)이 발생했는지를 확인한다(단계 S4).The supply voltage of the
응답전압(VLH)이 발생하지 않은 경우, 전원공급기(14)의 전압을 0.1V 증가시켜 포트0에 인가하고(단계 S5), 단계 S4로 되돌아가서 응답전압(VLH)이 발생했는지를 확인한다.If the response voltage VLH does not occur, the voltage of the
응답전압(VLH)이 발생한 경우, 응답전압(VLH)과 응답전류(ILH)를 읽어들여 메모리에 저장하고(단계 S6), 마지막 포트인지를 판단한다(단계 S7). 마지막 포트가 아닌 경우, 상기 시험대상 포트 설정단계 S2로 되돌아가서 다음포트(포트1)를 시험대상 포트로 설정하고 입력응답시험을 반복한다.When the response voltage VLH occurs, the response voltage VLH and the response current IHL are read and stored in the memory (step S6), and it is determined whether it is the last port (step S7). If it is not the last port, return to the test target port setting step S2 and set the next port (port 1) as the test target port and repeat the input response test.
마지막 포트인 경우, 최대허용전압(예를 들면, 30V)을 10분간 인가하여 손상 이 발생하는지를 확인하는 안전성시험을 실시하고(단계 S8), 2차 입력응답시험을 하게 된다(단계 S9 내지 S14).In the case of the last port, a safety test for checking whether damage occurs by applying a maximum allowable voltage (for example, 30 V) for 10 minutes is performed (step S8), and a second input response test is performed (steps S9 to S14). .
2차 입력응답시험은 설정전압 V2에서 0.1V씩 감소시키면서 각 입력포트에 대해 응답전압(VHL)과 응답전류(IHL)를 확인하는 점 이외에 1차 입력응답시험과 동일하므로 설명을 생략한다.The secondary input response test is the same as the primary input response test except that the response voltage (VHL) and the response current (IHL) are checked for each input port by decreasing 0.1V from the set voltage V2.
도7에 본 발명에 의하여 전자연동장치의 출력카드를 시험하는 방법을 나타내는 플로우차트가 도시된다.7 is a flowchart showing a method of testing an output card of the electronic interlocking apparatus according to the present invention.
전원인가와 동시에 초기화과정을 수행하고(단계 S21), 스위치 매트릭스(12)의 스위치를 제어하여 전원공급기(14)를 출력카드(17)의 포트0에 연결하여 시험대상 포트를 포트0으로 설정한다(단계 S22).Perform the initialization process at the same time as the power is applied (step S21), the switch of the
전원공급기(14)의 공급전류를 I1으로 설정하여 시험대상 포트로 정해진 포트 0에 인가하고(단계 S23), 시험용 지그(13)의 콘트롤러로부터 C0 출력포트의 전압이 "0"으로 떨어졌는지를 확인한다(단계 S24).Set the supply current of the
전압이 "0"으로 떨어지지 않은 경우, 전원공급기(14)의 공급전류를 20㎃ 증가시켜 포트0에 인가하고(단계 S25), 단계 S24로 되돌아가서 그 이하의 과정을 반복한다.If the voltage does not fall to " 0 ", the supply current of the
전압이 "0"으로 떨어진 경우, 차단전류 Ioff를 측정하고 그 값을 부하(15)와의 통신인터페이스(GPIB)에 의해 읽어들여 제어용 컴퓨터(11)의 자체 메모리에 저장한다(단계 S26). 마지막 포트인지를 판단한다(단계 S27).When the voltage drops to " 0 ", the breaking current Ioff is measured and the value is read by the communication interface GPIB with the
마지막 포트가 아닌 경우, 상기 시험대상 포트 설정단계 S22로 되돌아가서 다음포트(포트1)를 시험대상 포트로 설정하고 출력응답시험을 반복한다. 마지막 포트인 경우 본 시험을 종료한다.If it is not the last port, return to the test target port setting step S22, set the next port (port 1) as the test target port, and repeat the output response test. For the last port, this test is terminated.
상술한 바와 같이 본 발명에 따르면, 전자연동장치의 입력카드 및 출력카드를 시험하기 위하여 스위치 매트릭스와 시험용 지그를 이용하여 시험과정을 자동화함으로써 입력카드 및 출력카드의 다수의 입출력 포인트에 계측기 및 전원장치를 자동으로 연결하고 그 응답신호를 자동으로 측정하여 입력카드 및 출력카드를 측정하기 위한 시간과 노력을 줄일 수 있는 효과가 있다.
According to the present invention as described above, in order to test the input card and the output card of the electronic interlocking device by using a switch matrix and a test jig by automating the test process to a plurality of input and output points of the input card and the output card measuring instrument and power supply device It is possible to reduce the time and effort for measuring the input card and the output card by automatically connecting and measuring the response signal automatically.
이상의 설명은 본 발명의 구체적인 실시예에 대한 설명에 불과하고, 본 발명은 이러한 구체적인 실시예에 한정되지 않으며, 또한 본 발명에 대한 상술한 구체적인 실시예로부터 그 구성의 다양한 변경 및 개조가 가능하다는 것을 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 쉽게 알 수 있다.The above description is only a description of specific embodiments of the present invention, and the present invention is not limited to these specific embodiments, and furthermore, various changes and modifications of the configuration are possible from the above-described specific embodiments of the present invention. Those skilled in the art will readily appreciate.
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EP2193973B1 (en) * | 2008-12-04 | 2013-01-30 | Siemens Schweiz AG | Method and device for testing units that influence trains with status data of track signals in relay interlocking systems |
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KR101722394B1 (en) * | 2015-09-07 | 2017-04-03 | 국방과학연구소 | Apparatus and method of internal balance inspection for wind tunnel testing |
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CN109444583A (en) * | 2018-11-09 | 2019-03-08 | 加弘科技咨询(上海)有限公司 | External module detects in place and method for controlling power supply, device and electronic equipment |
CN109557456A (en) * | 2018-12-26 | 2019-04-02 | 中国铁道科学研究院集团有限公司通信信号研究所 | A kind of computer interlocking intelligent acquisition driving plate automatically testing platform |
CN112829800B (en) * | 2021-03-05 | 2023-01-06 | 北京全路通信信号研究设计院集团有限公司 | Absolute infringement section identification method and device, storage medium and electronic equipment |
CN113791329A (en) * | 2021-08-25 | 2021-12-14 | 交控科技股份有限公司 | Full-electronic interlocking test system and method |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000168557A (en) | 1998-12-09 | 2000-06-20 | Railway Technical Res Inst | Load torque measuring device for electric switch machine and setting method for load torque decision value to the measuring device |
JP2003118575A (en) | 2001-10-15 | 2003-04-23 | Nippon Signal Co Ltd:The | Interlock inspection device |
JP2003137098A (en) | 2001-11-01 | 2003-05-14 | Toshiba Corp | Field apparatus diagnosing device, field apparatus diagnosing system, and interlocking device |
KR20040037701A (en) * | 2002-10-29 | 2004-05-07 | 한국철도기술연구원 | Auto-checking system for the interlocking system of rail |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5081453A (en) * | 1988-09-14 | 1992-01-14 | Fujitsu Limited | Detecting apparatus for detecting input operation in a switching matrix |
JP3216996B2 (en) * | 1996-07-19 | 2001-10-09 | 三菱電機株式会社 | Dual electronic interlocking device |
JP4488394B2 (en) * | 2000-04-19 | 2010-06-23 | 東海旅客鉄道株式会社 | Electronic interlocking system and control method thereof |
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2004
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000168557A (en) | 1998-12-09 | 2000-06-20 | Railway Technical Res Inst | Load torque measuring device for electric switch machine and setting method for load torque decision value to the measuring device |
JP2003118575A (en) | 2001-10-15 | 2003-04-23 | Nippon Signal Co Ltd:The | Interlock inspection device |
JP2003137098A (en) | 2001-11-01 | 2003-05-14 | Toshiba Corp | Field apparatus diagnosing device, field apparatus diagnosing system, and interlocking device |
KR20040037701A (en) * | 2002-10-29 | 2004-05-07 | 한국철도기술연구원 | Auto-checking system for the interlocking system of rail |
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