KR100573666B1 - 박막증착장치 - Google Patents

박막증착장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100573666B1
KR100573666B1 KR1019980029197A KR19980029197A KR100573666B1 KR 100573666 B1 KR100573666 B1 KR 100573666B1 KR 1019980029197 A KR1019980029197 A KR 1019980029197A KR 19980029197 A KR19980029197 A KR 19980029197A KR 100573666 B1 KR100573666 B1 KR 100573666B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
gas
substrate
thin film
deposition
deposition chamber
Prior art date
Application number
KR1019980029197A
Other languages
English (en)
Other versions
KR19990014010A (ko
Inventor
유키오 후쿠나가
히로유키 시노자키
기와무 츠카모토
미츠나오 시바사키
구니아키 호리에
히로유키 우에야마
다케시 무라카미
Original Assignee
가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP21133997A external-priority patent/JP3649265B2/ja
Application filed by 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 filed Critical 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼
Publication of KR19990014010A publication Critical patent/KR19990014010A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100573666B1 publication Critical patent/KR100573666B1/ko

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45563Gas nozzles
    • C23C16/45565Shower nozzles
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/46Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for heating the substrate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/4412Details relating to the exhausts, e.g. pumps, filters, scrubbers, particle traps
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45563Gas nozzles
    • C23C16/4557Heated nozzles
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45587Mechanical means for changing the gas flow
    • C23C16/45591Fixed means, e.g. wings, baffles
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/54Apparatus specially adapted for continuous coating

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

소형 박막 증착 장치는 균일한 품질의 고품질 박막 제품의 안정한 성장을 촉진할 수 있다. 그것은 기판 유지용 기판 유지 장치를 감싸는 진공밀폐식 증착 챔버를 포함한다. 기판 유지 장치를 이동시키기 위한 승강 장치 및 기판을 향하는 박막 형성 가스를 유동시키기 위한 가스분사헤드가 구비된다. 이송 개구 및 배출 개구가 각각 이송 위치 및 증착 위치에 상응하는 높이의 증착 챔버의 벽 부분 상에 구비된다. 상기 증착 챔버는 유동 안내 부재가 구비되고, 유동 안내 부재는 기판 유지 장치의 승강 경로를 둘러싸기 위한 원통형 부재 및 배출 개구와 이송 개구 사이의 높이에서 챔버 공간을 수직으로 나누기 위한 제 1 링 부재를 포함한다.

Description

박막 증착 장치
본 발명은 일반적으로 반도체 웨이퍼와 같은 기판상에 바륨/스트론튬 티타네이트와 같은 고 유전체 또는 강유전체 물질의 증기상 반응에 의해 박막을 증착하기 위한 화학 증착 장치(CVD)에 관련된 것이다.
최근에, 반도체 산업에 의해 생산된 집적회로장치의 회로 집적도는 비약적인 발전을 해왔고, 활발한 개발 활동들이 오늘날 널리 쓰이는 메가비트급 DRAMs를 대체하는 기가비트급 DRAMs의 기대 하에 이루어지고 있다. 과거에는, DRAMs 생산에 필수적인 고 캐패시턴스 장치를 만들기 위해 사용되는 유전체 박막 물질은 10보다 작은 유전체 상수를 갖는 실리콘 산화 또는 실리콘 질화 박막, 20보다 작은 유전체 상수를 갖는 탄탈륨 펜타옥사이드(Ta2O5)를 포함하고 있었다; 그러나, 바륨 티타네이트(BaTiO3) 또는 스트론튬 티타네이트(SrTiO3) 또는 바륨/스트론튬 티타네이트((Ba, Sr)TiO3)와 같은 새로운 물질들이 보다 유망하게 되기 시작했다.
이러한 증기상 화학 반응으로 기판상의 금속 산화 박막이 성장할 때, 기판은 진공밀폐식 박막 증착 챔버내에 놓인 서셉터(susceptor)상에 위치하고, 기판은 소정의 온도로 서셉터 내에 둘러싸인 가열기와 같은 장치에 의해 가열되고, 공급가스 및 반응가스(산소 함유)의 혼합가스는 가스 분사(showering) 헤드를 통해 기판상에 분출된다.
이러한 방법을 사용하여 균질의 박막을 생산하기 위해, 기판 위의 가스 혼합물을 유동시키는 과정을 다루는 데에는 세심한 주의가 요구되어야 하며, 이것은 가스분사헤드로부터 기판상으로의 전달 형태 뿐만 아니라 박막 증착 챔버내의 사용한 가스 배출 통로의 영향을 포함하는 유동의 전체 과정이 중요한 변수가 된다.
예를 들면, 기판을 둘러싸는 가스를 형성하는 박막의 유동의 축대칭 형태를 형성하기 위해 축받이 아래로 직접적으로 사용한 가스 배출 개구를 놓는 것이 바람직하게 보일 수도 있으나, 이러한 배열은 그렇게 하는데 어려울 뿐만 아니라, 축받이 지지축과 그것을 위한 승강 장치와 같은 다른 구성요소가 있어야 하기 때문에, 챔버내의 유로의 길이가 증가하고, 침전 문제 및 반응 생성물의 고착을 유발하여, 증착된 박막에 있어 잠재적인 오염 공급원이 될 수 있다. 다른 한편, 배열은 복수개의 배출 개구가 기판 위의 박막 형성 가스의 대칭적인 유동 형태를 만들기 위해 기판 홀더의 외주 둘레로 대칭적으로 제공되도록 고려해야 하나, 이러한 설계는 넓은 바닥 공간을 필요로 하는 확장된 장치가 되는 결과로 되고, 또한 배출 개구 및 기판 이송 출구 개구와 기계적으로 간섭하는 어려움을 유발시킨다.
따라서, 본 발명의 제 1 목적은 균질의 고품질 박막 생산의 안정한 성장을 촉진하는 소형의 박막 증착 장치를 제공하는 것이다.
또한, 공급 물질의 특성들 중 하나는, 공급 액체가 증기화된 후에, 공급 증기의 안정성 범위가 극히 좁아서 증기가 주위의 온도가 높을 때 증기가 분해되는 반면 주위의 온도가 낮을 때 응결된다는 것이다. 본 발명자는 기화 온도에 가까운 소정 온도에서 증착 챔버의 내부벽 온도를 제어하여 그러한 증기의 좁은 안정성 범위에 의해 나타난 문제점을 방지하고자 일본 특허 출원, 공개 공보 H9-2896에서 방법을 제시하였다. 비록 반응 생성물의 형성을 효과적으로 저지할 수 있을 지라도, 그러한 생성물은 완전히 제거될 수가 없어서 미세한 입자들이 생성되고 증착 챔버의 내부벽에 달라붙게 된다.
공급 물질의 열 분석을 행하는 과정에서, 예를 들면 BST 또는 SBT 용 각각의 액체 공급 물질의 이전 물질이 모든 세 가지 물질이 안정한 가스 상태로 남을 수 있는 완전하고 확실한 온도 범위를 가질 수 없어서, 공급 증기의 적어도 일부분의 응결 또는 분해가 일어나는 것을 발견하였다. 또한 분해 및 고착된 생성물과 비교할 때 응결 및 고착된 생성물은 씻어내기가 쉽다는 것을 발견했다.
따라서, 본 발명의 제 2목적은 고온에서 공급 증기의 분해를 피하는 것이 가능하면서도 고품질 및 일정한 박막 생성물을 생산하는 증착 장치를 제공하는 것이다.
상기 간략히 보여진 제 1 목적은 기판을 유지하기 위한 기판 유지 장치를 둘러싸는 진공밀폐식 증착챔버; 증착 위치와 이송 위치 사이에서 상기 기판 유지 장치를 올리거나 내리기 위한 승강장치; 상기 기판을 향하여 박막 형성 가스를 유동시키기 위한 가스분사헤드; 상기 이송 위치에 상응하는 높이에 상기 증착 챔버의 벽 부분상에 구비된 이송 개구; 및 상기 증착 위치와 상기 이송 위치 사이의 높이에 상기 벽 부분상에 구비된 배출 개구를 포함하고, 상기 증착 챔버는 유동 안내 부재를 구비하고, 상기 유동 안내 부재는 상기 기판 유지 장치의 승강 유로를 둘러 싸기 위한 원통형 부재와, 상기 배출 개구 및 상기 이송 개구 사이의 높이에서 챔버 공간을 수직으로 나누기 위한 제 1 링 부재를 포함하는 유동 안내 부재를 구비하는 박막 증착 장치에 의해 달성될 수 있다.
따라서, 챔버 공간을 두 공간, 즉 하나는 박막 증착 공정용으로 다른 하나는 기판 이송과 같은 작업 공간으로 나눔으로써, 가스 유동이 안정한 증착 조건을 제공하도록 효과적으로 제어된다. 더욱이, 사용한 가스를 유동 안내 부재에 의해 배출 가스 개구로 안내하도록 환형 유동 경로를 형성함으로써, 배출 개구의 일정하지 않은 배열에 기인한 기판 위의 박막 형성 가스의 일정하지 않은 유동을 최소화하여 소형 설계 장치에 의해 균일하고 고품질의 박막 생산을 제공할 수 있다.
상기 본 장치에 있어서, 외부 유동 안내 부재는 유동 안내 부재와 관련하여 사용된 가스를 위한 배출 통로를 형성하기 위해 유동 안내 부재와 벽 부분의 내부면 사이에 위치할 수 있다. 유동 안내 부재와 증착 챔버로부터 쉽게 제거가능한 외부 유동 안내 부재를 제공하는 것이 장점이 있다.
상기 본 장치에 있어서, 제 2 링 부재는 챔버 공간과 상기 환형 유동 경로를 연통하기 위한 원주 슬릿 채널을 형성하기 위해 환형 유동 경로를 덮는 제 1 링 부재위에 배치될 수 있다. 상기 제 1 링 부재는 유동 안내 부재로부터 연장하도록 형성될 수 있다. 원주 슬릿 채널은 배출 개구의 근접위치에 있는 슬릿 폭이 개구로부터 먼 위치에 있는 슬릿 폭보다 좁게 되도록 형성될 수 있다. 단지 하나의 배출 개구가 원주 방향에 있을 수 있다.
유동 조정 링은 슬릿 크기가 기판 위에서 일정한 유동을 생성하도록 조절될 수 있기 위하여 제 2 링 부재상에 위치할 수 있다. 상기 외부 유동 안내 부재는 증착 챔버의 내부면의 형상을 따르는 곡선 모양으로 형성될 수 있다. 유동 안내 부재용 물질은 수정 또는 스테인레스 강 및 알루미늄과 같은 금속으로 만들어질 수 있다.
기판 유지 장치를 둘러 싸는 원통형 벽 부재가 구비될 수 있고, 유동 안내 부재가 원통형 벽 부재의 외부 원주상에 구비될 수 있다. 상기 원통형 벽 부재는 기판 유지 장치로부터 발산되는 열을 저지하기 위한 단열부재를 포함할 수 있고, 그것은 원통형 벽 부재를 특정 온도로 제어하기 위해 온도 제어 장치가 구비될 수 있다. 상기 온도 제어 장치는 원통형 벽 부재 내에 형성된 열 매개체가 구비되고 제어된 온도로 열 매개체를 공급하기 위해 외부 열 매개체 공급 장치가 구비될 수 있다.
본 발명의 또 다른 측면에 있어서, 박막 증착 장치는 기판 유지/가열 장치를 둘러싸는 원통형 진공밀폐식 증착 챔버; 증착 위치와 이송 위치 사이에서 상기 기판 유지/가열 장치를 올리거나 내리기 위한 승강 장치; 상기 증착 챔버의 꼭대기로부터 상기 기판을 향하여 박막 형성 가스를 유동시키기 위한 가스분사헤드; 상기 이송 위치에 상응하는 높이에서 상기 증착 챔버의 벽 부분상에 구비된 이송 개구; 및상기 증착 위치와 상기 이송 위치사이의 높이에서 상기 증착 챔버의 벽 부분상에 구비된 배출 개구를 포함하여, 원통형 단열부재가 상기 증착 위치에 위치하는 상기 기판 유지/가열 장치를 둘러싸도록 위치한다.
따라서, 상기 단열 부재는 기판 유지/가열 장치로부터 발산되는 열을 저지하고, 증착 챔버의 내부가 공급 물질의 분해 온도 이상의 온도에 도달하는 것을 방지한다. 따라서, 상기 공급 물질은 고온 지역과의 접촉을 통한 분해 및 고착으로부터 방지된다. 만약 상기 공급 물질이 내부 지역상에서 응결되면, 그것은 씻어내지고 장치 작동은 재개될 수 있다. 석영, 스테인레스 강 및 세라믹과 같은 단열 물질로부터 단열재를 만드는 것이 바람직하다.
상기 단열 부재는 소정의 온도로 단열 부재를 제어하기 위한 온도 제어 장치를 구비할 수 있다. 상기 온도 제어 장치는 단열재 내에 형성된 열 매개 유로와 제어된 온도로 매개체를 공급하기 위한 외부 열 매개 공급 장치로 구성될 수 있다.
상기 열적 단열 부재는 분리될 수 있는 방식으로 증착 챔버내에 위치될 수 있다. 상기 장치는 특정 온도보나 낮은 온도로 증착 온도의 벽 부분을 냉각시키기 위해 냉각 장치가 구비될 수 있다. 상기 장치는 소정의 온도보다 낮은 온도로 증착 챔버의 벽 부분을 냉각시키기 위해 냉각 장치가 구비될 수 있다.
본 발명의 또 다른 측면에 있어서, 박막 증착 장치는 기판 유지용 기판 유지 장치를 둘러싸는 원통형 진공밀폐식 증착 챔버; 증착 위치와 이송 위치 사이에서 상기 기판 유지 장치를 올리거나 내리기 위한 승강 장치; 상기 증착 챔버의 꼭대기로부터 상기 기판을 향하여 박막 형성 가스를 유동시키기 위한 노즐판을 구비하는 가스분사헤드; 상기 이송 위치의 높이에 상응하는 상기 증착 챔버의 벽 부분 상에 구비된 이송 개구; 및 상기 증착 위치와 상기 이송 위치 사이의 높이에서 상기 벽 부분상에 구비된 배출 개구를 포함하여, 상기 배출 개구는 실질적으로 원주상의 한 지점에 형성되고, 상기 가스분사헤드로부터 흐르는 가스의 가스유동밀도의 중심이,상기 기판 유지 장치상에 유지된 상기 기판의 중심으로부터 상기 배출 개구에 수평반대방향으로 오프셋된 것을 포함한다.
따라서, 배출 개구의 일정치 않은 배열에 기인한 기판 위의 박막 형성 가스의 비균일 가스 유동 농도가 보상되어, 소형 설계 장치에에 의한 고 균일 두께의 박막 생성을 제공한다. 그것은 수평으로 배출 개구에 대향하는 방향으로 기판 유지 장치상에 유지된 기판의 중심으로부터 오프셋된 노즐 판의 노즐 지역의 중심을 배열하거나 많은 수의 노즐 구멍들이 다른 곳을 제외한 배출 개구의 대향 측상에 구비되는 노즐 구멍 분포를 만듦으로써 이루어질 수 있다.
열 매개체를 사용하여 소정의 온도로 노즐 판을 제어하기 위한 온도 조절 장치를 가스분사헤드에 구비하는 것이 권고될 수 있다. 상기 노즐판은 기판보다 넓은 노즐 영역에 구비될 수 있다.
도 1A는 전체가 원통 형상인 진공밀폐식 증착 챔버(10)에 의해 구성된 박막 증착 장치의 제 1 실시예를 나타낸 것으로서, 기판(W)을 유지하기 위한 기판 홀더(12); 상한에 가까운 증착 위치와 하한에 가까운 이송 위치 사이에 홀더(12)를 올리거나 내리기 위한 승강 장치(14); 증착 챔버(10)의 꼭대기로부터 기판(W)을 향하여 공급 가스를 유동시키기 위한 가스분사헤드(16); 이송 위치에 상응하는 높이에서 증착 챔버(10)의 벽 부분(18)상에 형성된 이송 개구(20); 및 증착 위치 높이와 이송 위치 높이 사이의 높이에서 증착 챔버(10)의 벽 부분(18) 상에 형성된 배출 개구(22)를 포함한다. 하나의 배출 개구(22) 및 하나의 이송 개구(20)는 적당한 원주 위치에 분리되어 구비된다.
상기 기판 홀더(12)는 내부 가열기(도시되지 않음) 및 승강 장치(14)에 연결된 지지 로드(26)를 갖는 원형 디스크 형상 서셉터(24)로 구성된다. 서셉터(24)의 외주변 모서리는 반응 생성물의 증착을 방지하기 위해 L형상 단면의 환형 증착 방지판(28)을 갖는다. 상기 가스분사헤드(16)는 기판(W)보다 다소 큰 크기 및 원형상의 노즐판(32)을 갖고, 많은 노즐 구멍들(30)은 노즐판(32)의 좁은 주변 지역을 제외한 중심 영역인 노즐 지역(33)에 고르게 분포된다. 또한 이 경우에 있어서, 증착 챔버(10)는 공급 가스와 반응 가스(예를 들면, 산화 가스)를 혼합하기 위한 혼합 공간과, 소정 온도로 노즐 구멍들(30) 및 혼합 공간을 유지하기 위한 재킷(jacket) 가열기(온도 제어 장치)(34)를 구비한다.
상기 증착 챔버(10)는 원통형 벽 부분(18); 승강 장치(14)를 수용하기 위한 중앙 개구 부분을 갖는 바닥판(36); 또한 챔버(10)용 천장 역할을 하는 가스분사헤드(16); 및 테이퍼부를 구성하기 위해 벽 부분(18)과 가스분사헤드(16) 사이에 끼워지는 끝이 테이퍼된 블럭(38)으로 구성된다. 그것은 밀봉재로서 O-링(40), 필요한 경우 벨로우즈(42) 및 이송개구를 폐쇄하기 위한 게이트(도시되지 않음)와 같은 다른 구성요소를 포함한다. 이 실시예에 있어서, 열 매개체 통로 형태의 온도 제어 장치는 측벽 부분(18) 및 바닥판(36) 상에는 구비되지 않는다.
상기 증착 챔버(10)는 사용한 배출 가스를 배출 개구로(22)로 안내하기 위한 유로 (P1, P2)를 형성하기 위해 두 개의 유동 안내판(44, 46)을 구비한다. 유로(P1)는 내부 유동 안내판(44); 기판 홀더(12)용 승강 경로를 둘러싸는 원통형 부재(48); 배출 개구(22)와 이송 개구(20) 사이의 높이에서 챔버 공간을 수직으로 나누기 위한 제 1 링 부재(50); 및 외부 유동 안내판(46)을 통해 연통하는 슬릿 채널(52)을 형성하기 위한 환형 슬릿을 갖는 제 2링 부재(54)로 구성된다. 상기 외부 유동 안내판(46)은 증착 챔버(10)의 내측 벽을 따라 형성되고 반응된 가스를 배출 개구(22)로 안내하기 위해 내부 유동 안내판(44)과 짝을 이루어서 배출 통로(P2)를 형성한다.
상기 슬릿 채널(52)은 단지 하나의 배출 개구(22)가 있다는 사실에 의해 야기된 불균일한 가스의 유동을 방지하기 위해 있고, 슬릿 폭이 배출 개구(22)에 접근함에 따라 좁게 되도록 설계된다. 다시 말하면, 개구(21)측에서 슬릿 폭(d1)은 최소로 되고 대향하는 단부에서 슬릿 폭(d2)은 최대로 된다. 내부 유동판(44)의 상단은 내부로 연장되고, 증착 방지판(28)과 결합하여 서셉터(24) 사이의 공간을 좁히는 기능을 수행한다. 내부 및 외부 유동 안내판(44, 46)은 어떠한 고정 수단도 없이 환형 돌기부분(56) 상에 안착된다. 따라서, 상기 유동 안내판(44, 46)은 꼭대기 및 끝이 테이퍼된 블럭(38)에서 가스분사헤드(16)를 제거한 후에 단지 들어올려서 세척 및 교환 목적으로 증착 챔버(10)로부터 쉽게 제거될 수 있다.
그렇게 구성되어진 박막 증착 장치의 동작이 설명될 것이다. 서셉터(24)는 도 1a에 이중 점선으로 도시된 이송 위치에 위치하고, 기판(W)은 로봇팔(도시되지 않음)에 의해 이송 개구(20)로부터 그 곳 상에 적재되고, 기판(W)은 승강 장치(14)에 의해 도 1a에서 굵은 선으로 도시된 증착 위치로 올려진다. 기판(W)은 서셉터(24)를 사용하여 증착 온도로 가열되고, 공급 가스와 반응 가스의 가스 혼합체가 순환 열 매개체에 의해 특정 온도로 유지되는 가스분사헤드(16)로부터 공급된다.
공급 가스 및 반응 가스는 기판(W)상에 박막 증착을 형성하기 위해 기판(W)상에서 반응하고, 사용한 가스는 내부 및 외부 유동 안내판(44, 46)에 의해 형성된 배출 통로(P2)로 유동시키기 위해 기판(W) 위로 방사상으로 직접 유도된다. 사용한 가스는 슬릿 채널(52)을 통해 환형 유로(P1) 배출이 계속되고 배출 개구(22)로부터 제거된다. 비록 단지 하나의 개구가 있을지라도, 슬릿 채널(52)의 슬릿 폭이 배출 개구(22)를 향하여 보다 좁게 되기 때문에, 일정한 방사상 유동은 모든 기판(W)의 원주 둘레로 발생되어, 방사상으로 뿐만 아니라 기판(W)상에 원주 방향으로 균일한 품질의 증착을 생성시킨다.
또한, 내부 유동 안내판(44)이 있기 때문에, 반응 가스의 유동 경로는 가스가 서셉터(24) 및 승강 장치(14)의 바닥부 부분에 도달하는 것이 어렵도록 제한된다. 따라서, 이러한 생성물과 같은 반응 생성물의 고착과 잠재적인 오염 공급원은 방지된다. 만약 공급 물질 및 반응 생성물이 유동 안내판(44, 46)에 고착되면, 그것들은 동작을 정지하고 증착 챔버(10) 및 끝이 테이퍼된 블록(38)의 꼭대기에 있는 가스분사헤드(16)를 제거함으로써 제거되고 새로운 것으로 교환될 수 있다.
도 1b는 상기 기술된 실시예와 유사한 구조를 갖고, 외부 유동 안내판(46)이 생략되어 있다.
도 2는 증착 장치의 제 2 실시예를 도시한다. 이 실시예에 있어서, 내부 유동 안내판(44)의 제 2링 부재(54)는 외부 유동 안내판(46)으로부터 일정한 거리에 이격되어 있으나, 배출 개구(22)에서의 간극(d1)과 대향하는 단부에서의 간극(d2)이 d1 < d2의 관계가 되도록 제 2 링 부재(54)의 꼭대기상의 유동 조정 링부재(58)를 구비한다. 동작 조건에 맞도록 하기 위해, 가스의 일정한 유동은 유동 조정 링(58)의 형상을 조정하거나 유동 흐름 조정 링(58)을 제 2 링 부재(54)상에 편심적으로 위치시킴으로써 생성시킬 수 있다. 또한 이 경우에 있어서, 원통형 단열재(60)는 서셉터(24)로부터 방열을 하여 유동 안내판(44, 46)의 온도 증가를 방지하기 위해 내부 유동 안내판(44)과 서셉터(24) 사이에 구비된다.
도 3은 증착 장치의 제 3 실시예를 도시한다. 이 실시예에 있어서, 단열재(60)는 열 매개체를 유동시키기 위한 내부 유체 통로(62)를 갖는다. 열 매개체는 공급 파이프(64) 및 복귀 파이프를 단열재(60)에 연결함으로써 외부 공급원으로부터 공급된다. 유동 안내판(44, 46)의 성능은 증착 챔버 온도가 최적화 되도록 열 냉각 매체 내에서 방열을 흡수하기 위한 이 배열에 의해 더 개선된다.
도 4는 박막 증착 장치의 제 4 실시예를 도시한다. 이 장치에 있어서 상기 증착 챔버(10)는 유동 안내판을 가지지 않으나 기판 홀더(12)를 위한 승강 경로를 둘러싸는 단열부재(74)가 구비된다. 단열부재(74)는 석영, 스테인레스 강 및 세라믹과 같은 물질로 만들어지고 기저 부분으로 연장하는 환형 기저(76)와 함께 통합적으로 형성된다. 상기 단열부재(74)는 그것을 배출 개구 아래가 아니라 이송 개구 위에 벽부분(18)상에 형성된 환형 돌기(78)에 안착시킴으로써 증착 챔버 내측에 위치한다. 따라서, 그것은 상부 및 끝이 테이퍼된 블럭(38)에 있는 가스분사헤드(16)를 제거함으로써 증착 챔버(10)로부터 쉽게 제거될 수 있다.
그렇게 구성된 증착 장치의 동작이 설명될 것이다. 서셉터(24)는 도 4에 이중 점선으로 도시된 이송 위치에 위치하고, 기판(W)은 이송 개구로부터(20) 그 곳 상에 적재되고, 기판(W)은 승강 장치(14)에 의해 도 4에서 도시된 증착 위치로 올려진다. 기판(W)은 서셉터(24)를 사용하여 증착 온도로 가열되고, 공급 가스와 반응 가스의 가스 혼합체가 순환 열 매개체에 의해 특정 온도로 유지되는 가스분사헤드(16)로부터 기판(W)을 향하여 분사된다.
공급 가스 및 반응 가스는 기판(W)상에 박막 증착을 형성하기 위해 기판(W)상에서 반응하고, 사용한 가스는 챔버(10)의 벽 부분(18) 및 환형 단열재(74)에 의해 형성된 배출 통로(P)로 유동시키기 위해 기판(W) 위로 방사상으로 직접 유도되고, 배출 개구(22)로부터 배출된다. 반응된 가스의 통로는 가스가 서셉터(24)의 뒤쪽으로 유동하고 승강 장치(14)로 유동하도록 단열부재(74) 및 환형 기저(76)에 의해 제한되고 챔버(10) 아래에 위치하는 다른 지역은 그렇게 되기가 어려워서, 입자 고착 및 이러한 입자에 의한 가능성 있는 오염 공급원을 방지할 수 있다.
박막 형성 반응이 되는 동안, 단열부재(74)는 챔버(10)의 벽 부분(18)이 공급 물질의 분해 온도 이상으로 가열되는 것을 방지하기 위해 기판 홀더(12)로부터 방열을 저지하여, 공급 물질이 분해되어 이러한 위치에 달라 붙는 것을 방지한다. 이러한 위치에서 공급 물질의 응결이 발생할 때, 가스분사헤드(16) 및 끝이 테이퍼된 블럭(38)은 챔버(10)의 내부가 증착 과정을 재개하기 전에 씻어질 수 있도록 챔버(10)의 꼭대기를 통해 제거될 수 있다.
도 5는 박막 증착 장치의 제 5 실시예를 도시한다. 상기 단열부재(74)는 간단한 원통형 부재이고 벽 부분(18)의 내부 면상에 제공된 환형 홈(82)상에 분리될 수 있게 안착된다. 이 실시예에 있어서, 형상이 이전의 단열재보다 간단히 그리고 보다 소형으로 만들 수 있기 때문에, 단열부재(74)의 제작 뿐만 아니라 제거가 쉽고 단계를 교환하는 것이 보다 쉽게 된다. 이것은 단열부재(74)가 박막 증착 과정에 적합하도록 만들어진 물질을 바꾸는 것이 필요할 때 특히 바람직하다.
도 6은 증착 장치의 제 6 실시예를 도시한다. 이 경우에 있어서, 오일과 같은 열 매개체를 유동하기 위한 열 매개체 유로(84)가 단열부재(74)에 구비된다. 열 매개체는 공급 파이프(86) 및 복귀 파이프를 단열재(74)에 연결함으로써 외부 공급원으로부터 공급된다. 벽 부분(18)에서의 온도상승을 제어하는 능력은 증착 챔버(10)의 내부로부터의 복사열 흡수 때문에 더욱 개선될 수 있다.
도 7은 박막 증착 장치의 제 7 실시예를 도시한다. 이 경우에 있어서, 기판 홀더(12)로부터의 방열에 의해 바닥판(36)에 고정된 벽 부분(18) 및 승강 플랜지(90)의 가열이 벽 부분(18)을 냉각하기 위한 재킷(88)과 승강 플랜지(90)를 냉각하기 위한 재킷(89)을 구비함으로써 방지된다. 단열부재(74)에 의해 제공된 열 차단 효과에 덧붙여, 이러한 설비들은 챔버(10)의 내부 온도를 증착 반응 온도 아래로 유지하는 것을 더욱 보장한다. 이러한 장치들은 궁극적으로 밀봉 부재의 개선된 수명을 제공하고 결과적으로 작업자의 안전을 제공한다.
도 8a, 8b는 박막 증착 장치의 제 8 및 제 9 실시예를 도시한다. 도 8a에 도시된 경우에 있어서, 가스분사헤드(16)의 노즐판(32)의 중심은 서셉터(24)상에 유지되는 기판(W)의 중심으로부터 배출 개구(22)를 향하여 e1 만큼 오프셋된다. 이러한 배열은 도 1 내지 도 7에 도시된 임의의 장치와 관련하여 사용될 수 있다. 도 8a에 도시된 경우에 있어서, 노즐판(32)은 기판(W)보다 큰 반지름 R을 갖고, 도 8b에 도시된 경우에 있어서, 노즐판(32)은 e2 거리로 오프셋되어 반지름 R의 두 개의 반원을 갖는 평평한 타원 형상을 갖는다. 오프셋 e1, e2의 크기는 배출 개구(22)의 비대칭 위치에 기인한 불균일 가스 유동이 노즐판(32)의 이러한 오프셋에 의해 보상되도록 공정 조건을 적합하게 선택되도록 한다. 모든 경우에 있어서, 기판(W)은 노즐판(32)에 의해 투영면적내에 있어야 한다.
도 9a는 박막 증착 장치의 제 10 실시예를 도시한다. 이 경우에 있어서, 노즐 영역(33)에서 노즐 구멍들(30)의 분포 형태는 대향하는 절반측과 비교하여 배출 개구(22)에 가까운 절반측내에서 바뀐다. 단지 하나의 배출 개구(22)가 챔버에 제공되기 때문에, 배출 개구로 향하는 유동은 기판(W)상에서 전개된다. 따라서, 만약 노즐 구멍들(30)의 분포 형태가 대칭적으로 설계되면, 기판(W)상의 가스 유동 농도는 배출 개구측이 대향하는 측보다 높게 될 것이다. 따라서, 다수의 가스 분사 구멍들(30)이 노즐 지역(33)의 양측에서 가스 유동 밀도를 같게 하기 위해 배출개구 절반측상보다 노즐 지역(33)내의 대향하는 절반 측상에 구비된다. 이 형태의 가스 분사 노즐(16)은 도 1 내지 도 7에서 도시된 장치중 임의의 하나와 함께 사용될 수 있다.
도 9b는 박막증착 장치의 제 11실시예를 도시하고, 노즐 지역(33)의 영역이 대향하는 절반측과 비교하여 배출 개구(22)에 가까운 절반측에서 변경된다. 즉, 노즐 지역(33)은 배출 개구 절반 측상의 기판(W)의 반지름 r보다 큰 반지름 R1을 갖고, 대향하는 절반측상의 반지름 R1 보다는 큰 반지름 R2를 갖는다. 이러한 형상은 노즐 지역(33) 위의 가스 유동 농도의 동일성을 위해 또한 작용한다. 또한 그것들은 도 1 내지 도 7에서 도시된 장치들 중 임의의 하나와 함께 사용될 수 있다.
챔버 공간을 두 공간, 즉 하나는 박막 증착 공정용으로 다른 하나는 기판 이송과 같은 작업 공간으로 나눔으로써, 가스 유동이 안정한 등착 조건을 제공하도록 효과적으로 제어된다. 또한, 사용한 가스를 유동 안내 부재에 의해 배출 가스 개구로 안내하도록 환형 유동 경로를 형성함으로써, 배출 개구의 불균일한 배열에 기인한 기판 위의 박막 형성 가스의 불균일한 유동을 최소화하여 소형 설계 장치에 의해 고균일 품질의 박막 생성을 제공할 수 있다.
상기 열적 단열 부재는 기판 유지/가열 장치로부터 발산되는 열을 저지하고, 증착 챔버의 내부가 공급 물질의 증착 온도 이상의 온도에 도달하는 것을 방지한다. 따라서, 상기 공급 물질은 고온 지역과의 접촉을 통한 분해 및 고착으로부터 방지된다. 만약 상기 공급 물질이 내부 지역상에서 응결되면, 그것은 씻어내지고 장치 작동은 재개될 수 있다.
배출 개구의 불균일한 배열에 기인한 기판 위의 박막 형성 가스의 불균일한 가스 유동 밀도가 보상되어, 소형 설계 장치에에 의한 고균일 두께의 박막 생성을 제공한다.
도 1a는 본 발명의 박막 증착 챔버의 제 1 실시예의 단면도;
도 1b는 본 발명의 박막 증착 챔버의 제 1실시예의 약간 변형한 단면도;
도 2는 본 발명의 박막 증착 챔버의 제 2 실시예의 단면도;
도 3은 본 발명의 박막 증착 챔버의 제 3 실시에의 단면도;
도 4는 본 발명의 박막 증착 챔버의 제 4실시예의 단면도;
도 5는 본 발명의 박막 증착 챔버의 제 5 실시예의 단면도;
도 6은 본 발명의 박막 증착 챔버의 제 6 실시예의 단면도;
도 7은 본 발명의 박막 증착 챔버의 제 7 실시예의 단면도;
도 8a 및 도 8b는 본 발명의 박막 증착 챔버의 제 8 및 9 실시예의 부분 평면도; 및
도 9a 및 도 9b는 본 발명의 박막 증착 챔버의 제 10 및 11 실시예의 부분 평면도.

Claims (14)

  1. 박막 증착 장치에 있어서,
    기판을 유지하기 위한 기판 유지 장치를 둘러싸는 진공밀폐식 증착 챔버;
    증착 위치와 이송 위치 사이에서 상기 기판 유지 장치를 올리거나 내리기 위한 승강장치;
    상기 기판을 향하여 박막 형성 가스를 유동시키기 위한 가스분사헤드;
    상기 이송 위치에 상응하는 높이에 상기 증착 챔버의 벽 부분상에 구비된 이송 개구; 및
    상기 증착 위치와 상기 이송 위치 사이의 높이에 상기 벽 부분상에 구비된 배출 개구를 포함하여 이루어지고,
    상기 증착 챔버에 제공되는 유동 안내 부재는,
    상기 기판 유지 장치의 승강 통로를 둘러싸는 원통형 부재를 구비하는 내부유동 안내 부재;
    상기 배출 개구와 상기 이송 개구 사이의 높이에 챔버 공간을 수직으로 나누는 제 1 링 부재;
    상기 내부유동 안내 부재와 상기 증착 챔버의 상기 벽 부분의 내부면 사이에 배치되어 상기 내부유동 안내 부재와 함께 가스 배출 통로를 형성하는 외부유동 안내부재; 및
    제 2 링 부재를 구비하고,
    상기 가스 배출 통로는 가스를 실질적인 하나의 상기 배출 개구로 안내하기위한 환형 유로를 구비하며, 상기 제 2 링 부재는 상기 제 1 링 부재 상에 배치되어 상기 환형 유로 내에 원주 슬릿 채널을 형성하도록 상기 환형 유로를 수직으로 나누는 것을 특징으로 하는 박막 증착 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 원주 슬릿 채널은 상기 배출 개구에 근접한 슬릿 폭이 상기 배출 개구로부터 멀리 떨어진 슬릿 폭보다 좁은 방식으로 형성되는 것을 특징으로 하는 박막증착 장치.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 기판 유지 장치를 둘러싸는 원통형 벽 부재를 더욱 포함하고, 상기 유동 안내 부재는 상기 원통형 벽 부재의 외주 상에 구비되는 것을 특징으로 하는 박막 증착 장치.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 원통형 벽 부재는 상기 기판 유지 장치로부터 열복사를 저지하기 위한 단열부재를 포함하고, 상기 단열부재는 상기 증착 위치에 위치하는 상기 기판 유지장치를 둘러싸도록 위치하는 것을 특징으로 하는 박막 증착 장치.
  5. 제 4항에 있어서,
    상기 단열부재는 특정 온도로 상기 원통형 벽 부재를 소정 온도로 제어하기위한 온도 제어 장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 박막 증착 장치.
  6. 제 4항에 있어서,
    상기 단열부재는 분리가능한 방식으로 상기 증착 챔버내에 위치하는 것을 특징으로 하는 박막 증착 장치.
  7. 제 1항에 있어서,
    상기 증착 챔버의 상기 벽 부분을 소정 온도보다 낮은 온도로 냉각시키는 냉각 장치를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 박막 증착 장치.
  8. 제 1항에 있어서,
    상기 유동 안내 부재는, 분리가능한 방식으로 상기 증착 챔버 내에 위치하는것을 특징으로 하는 박막 증착 장치.
  9. 제 1항에 있어서,
    상기 원통형 부재는, 상기 제 1 링 부재와 일체적으로 형성되는 것을 특징으로 하는 박막 증착 장치
  10. 제 1항에 있어서,
    상기 가스분사헤드는, 박막을 형성하는 가스의 가스유동밀도의 중심이 상기기판유지장치상에 수평으로 유지된 상기 기판의 중심으로부터 상기 배출개구에 반대방향으로 오프셋된 방식으로, 가스를 기판으로 분사하는 것을 특징으로 하는 박막 증착 장치.
  11. 제 10항에 있어서,
    상기 가스분사헤드의 노즐 지역의 중심은, 상기 기판유지장치상에 수평으로 유지되는 상기 기판의 중심으로부터 상기 배출개구에 반대방향으로 오프셋된 것을 특징으로 하는 장치.
  12. 제 10항에 있어서,
    상기 가스분사헤드의 노즐지역은, 복수의 노즐 구멍이 상기 배출개구에 가까운 상기 노즐지역보다 상기 배출 개구 반대측의 노즐지역에 더 많이 구비되는 노즐구멍 분포를 갖는 것을 특징으로 하는 박막 증착 장치.
  13. 제 10항에 있어서,
    상기 가스분사헤드는, 열 매체를 사용하여 소정 온도로 상기 가스분사헤드의 노즐지역의 온도를 제어하기 위한 온도 제어 장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 박막 증착 장치.
  14. 제 1항에 있어서,
    상기 가스분사헤드는, 상기 기판보다 큰 노즐 영역을 구비하는 것을 특징으로 하는 박막 증착 장치.
KR1019980029197A 1997-07-22 1998-07-21 박막증착장치 KR100573666B1 (ko)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21133997A JP3649265B2 (ja) 1997-07-22 1997-07-22 薄膜気相成長装置
JP9-211338 1997-07-22
JP21133897 1997-07-22
JP9-211339 1997-07-22

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR19990014010A KR19990014010A (ko) 1999-02-25
KR100573666B1 true KR100573666B1 (ko) 2006-07-27

Family

ID=26518571

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019980029197A KR100573666B1 (ko) 1997-07-22 1998-07-21 박막증착장치

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6176929B1 (ko)
EP (1) EP0909836A3 (ko)
KR (1) KR100573666B1 (ko)
TW (1) TW565627B (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012071302A2 (en) * 2010-11-22 2012-05-31 Applied Materials, Inc. Interchangeable pumping rings to control path of process gas flow
KR20180126086A (ko) * 2016-04-15 2018-11-26 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 마이크로-볼륨 증착 챔버

Families Citing this family (218)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4230596B2 (ja) 1999-03-12 2009-02-25 東京エレクトロン株式会社 薄膜形成方法
JP4220075B2 (ja) 1999-08-20 2009-02-04 東京エレクトロン株式会社 成膜方法および成膜装置
JP3723712B2 (ja) * 2000-02-10 2005-12-07 株式会社日立国際電気 基板処理装置及び基板処理方法
JP2002035572A (ja) * 2000-05-18 2002-02-05 Ulvac Japan Ltd 真空処理装置と多室型真空処理装置
JP4567148B2 (ja) 2000-06-23 2010-10-20 東京エレクトロン株式会社 薄膜形成装置
US6582522B2 (en) * 2000-07-21 2003-06-24 Applied Materials, Inc. Emissivity-change-free pumping plate kit in a single wafer chamber
US6802906B2 (en) 2000-07-21 2004-10-12 Applied Materials, Inc. Emissivity-change-free pumping plate kit in a single wafer chamber
DE10064944A1 (de) * 2000-09-22 2002-04-11 Aixtron Ag Verfahren zum Abscheiden von insbesondere kristallinen Schichten, Gaseinlassorgan sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
TWI224815B (en) * 2001-08-01 2004-12-01 Tokyo Electron Ltd Gas processing apparatus and gas processing method
KR100438491B1 (ko) * 2001-11-16 2004-07-03 주식회사 유진테크 박막 제조용 화학기상증착 장치
JP3758579B2 (ja) * 2002-01-23 2006-03-22 信越半導体株式会社 熱処理装置および熱処理方法
US6730174B2 (en) * 2002-03-06 2004-05-04 Applied Materials, Inc. Unitary removable shield assembly
KR100455426B1 (ko) * 2002-03-29 2004-11-06 주식회사 엘지이아이 열교환기 연속 표면처리장비의 2열처리구조
JP4058364B2 (ja) * 2003-03-18 2008-03-05 株式会社日立製作所 半導体製造装置
KR100505367B1 (ko) * 2003-03-27 2005-08-04 주식회사 아이피에스 박막증착용 반응용기
DE102004009772A1 (de) * 2004-02-28 2005-09-15 Aixtron Ag CVD-Reaktor mit Prozesskammerhöhenstabilisierung
JP5347294B2 (ja) * 2007-09-12 2013-11-20 東京エレクトロン株式会社 成膜装置、成膜方法及び記憶媒体
US20090095221A1 (en) * 2007-10-16 2009-04-16 Alexander Tam Multi-gas concentric injection showerhead
KR101004927B1 (ko) * 2008-04-24 2010-12-29 삼성엘이디 주식회사 Cvd용 샤워 헤드 및 이를 구비하는 화학 기상 증착 장치
JP5231117B2 (ja) * 2008-07-24 2013-07-10 株式会社ニューフレアテクノロジー 成膜装置および成膜方法
KR101245769B1 (ko) * 2009-07-28 2013-03-20 엘아이지에이디피 주식회사 화학기상증착장치, 화학기상증착장치용 가이드부재 및 화학기상증착장치를 이용한 박막제조방법
KR101141155B1 (ko) * 2009-10-12 2012-05-02 세메스 주식회사 기판 처리 장치
JPWO2011114858A1 (ja) * 2010-03-15 2013-06-27 住友電気工業株式会社 半導体薄膜の製造方法、半導体薄膜の製造装置、サセプター、およびサセプター保持具
KR101362440B1 (ko) * 2010-11-12 2014-02-13 엘아이지에이디피 주식회사 화학기상증착장치
US9695510B2 (en) * 2011-04-21 2017-07-04 Kurt J. Lesker Company Atomic layer deposition apparatus and process
US20130023129A1 (en) 2011-07-20 2013-01-24 Asm America, Inc. Pressure transmitter for a semiconductor processing environment
US9490152B2 (en) * 2012-05-29 2016-11-08 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Asymmetrical chamber configuration
US10714315B2 (en) 2012-10-12 2020-07-14 Asm Ip Holdings B.V. Semiconductor reaction chamber showerhead
US20160376700A1 (en) 2013-02-01 2016-12-29 Asm Ip Holding B.V. System for treatment of deposition reactor
US10941490B2 (en) 2014-10-07 2021-03-09 Asm Ip Holding B.V. Multiple temperature range susceptor, assembly, reactor and system including the susceptor, and methods of using the same
US10276355B2 (en) 2015-03-12 2019-04-30 Asm Ip Holding B.V. Multi-zone reactor, system including the reactor, and method of using the same
US10458018B2 (en) 2015-06-26 2019-10-29 Asm Ip Holding B.V. Structures including metal carbide material, devices including the structures, and methods of forming same
US10211308B2 (en) 2015-10-21 2019-02-19 Asm Ip Holding B.V. NbMC layers
US11139308B2 (en) 2015-12-29 2021-10-05 Asm Ip Holding B.V. Atomic layer deposition of III-V compounds to form V-NAND devices
US20170207078A1 (en) * 2016-01-15 2017-07-20 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Atomic layer deposition apparatus and semiconductor process
US10529554B2 (en) 2016-02-19 2020-01-07 Asm Ip Holding B.V. Method for forming silicon nitride film selectively on sidewalls or flat surfaces of trenches
US11453943B2 (en) 2016-05-25 2022-09-27 Asm Ip Holding B.V. Method for forming carbon-containing silicon/metal oxide or nitride film by ALD using silicon precursor and hydrocarbon precursor
US10612137B2 (en) 2016-07-08 2020-04-07 Asm Ip Holdings B.V. Organic reactants for atomic layer deposition
US9859151B1 (en) 2016-07-08 2018-01-02 Asm Ip Holding B.V. Selective film deposition method to form air gaps
US9887082B1 (en) 2016-07-28 2018-02-06 Asm Ip Holding B.V. Method and apparatus for filling a gap
US9812320B1 (en) 2016-07-28 2017-11-07 Asm Ip Holding B.V. Method and apparatus for filling a gap
US11532757B2 (en) 2016-10-27 2022-12-20 Asm Ip Holding B.V. Deposition of charge trapping layers
US10714350B2 (en) 2016-11-01 2020-07-14 ASM IP Holdings, B.V. Methods for forming a transition metal niobium nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures
KR102546317B1 (ko) 2016-11-15 2023-06-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기체 공급 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
KR20180068582A (ko) 2016-12-14 2018-06-22 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11447861B2 (en) 2016-12-15 2022-09-20 Asm Ip Holding B.V. Sequential infiltration synthesis apparatus and a method of forming a patterned structure
US11581186B2 (en) 2016-12-15 2023-02-14 Asm Ip Holding B.V. Sequential infiltration synthesis apparatus
US10269558B2 (en) 2016-12-22 2019-04-23 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a structure on a substrate
US11390950B2 (en) 2017-01-10 2022-07-19 Asm Ip Holding B.V. Reactor system and method to reduce residue buildup during a film deposition process
US10468261B2 (en) 2017-02-15 2019-11-05 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a metallic film on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures
US10770286B2 (en) 2017-05-08 2020-09-08 Asm Ip Holdings B.V. Methods for selectively forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures
US11306395B2 (en) 2017-06-28 2022-04-19 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related deposition apparatus
KR20190009245A (ko) 2017-07-18 2019-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자 구조물 형성 방법 및 관련된 반도체 소자 구조물
US11374112B2 (en) 2017-07-19 2022-06-28 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US10590535B2 (en) 2017-07-26 2020-03-17 Asm Ip Holdings B.V. Chemical treatment, deposition and/or infiltration apparatus and method for using the same
US10770336B2 (en) 2017-08-08 2020-09-08 Asm Ip Holding B.V. Substrate lift mechanism and reactor including same
US10692741B2 (en) 2017-08-08 2020-06-23 Asm Ip Holdings B.V. Radiation shield
US11769682B2 (en) 2017-08-09 2023-09-26 Asm Ip Holding B.V. Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
US11830730B2 (en) 2017-08-29 2023-11-28 Asm Ip Holding B.V. Layer forming method and apparatus
US11295980B2 (en) 2017-08-30 2022-04-05 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a molybdenum metal film over a dielectric surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
US10658205B2 (en) 2017-09-28 2020-05-19 Asm Ip Holdings B.V. Chemical dispensing apparatus and methods for dispensing a chemical to a reaction chamber
CN111344522B (zh) 2017-11-27 2022-04-12 阿斯莫Ip控股公司 包括洁净迷你环境的装置
US11127617B2 (en) 2017-11-27 2021-09-21 Asm Ip Holding B.V. Storage device for storing wafer cassettes for use with a batch furnace
US10872771B2 (en) 2018-01-16 2020-12-22 Asm Ip Holding B. V. Method for depositing a material film on a substrate within a reaction chamber by a cyclical deposition process and related device structures
CN111630203A (zh) 2018-01-19 2020-09-04 Asm Ip私人控股有限公司 通过等离子体辅助沉积来沉积间隙填充层的方法
TWI799494B (zh) 2018-01-19 2023-04-21 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 沈積方法
US11081345B2 (en) 2018-02-06 2021-08-03 Asm Ip Holding B.V. Method of post-deposition treatment for silicon oxide film
US11685991B2 (en) 2018-02-14 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process
US10896820B2 (en) 2018-02-14 2021-01-19 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process
KR102636427B1 (ko) 2018-02-20 2024-02-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법 및 장치
US10975470B2 (en) 2018-02-23 2021-04-13 Asm Ip Holding B.V. Apparatus for detecting or monitoring for a chemical precursor in a high temperature environment
US11473195B2 (en) 2018-03-01 2022-10-18 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor processing apparatus and a method for processing a substrate
US11629406B2 (en) 2018-03-09 2023-04-18 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor processing apparatus comprising one or more pyrometers for measuring a temperature of a substrate during transfer of the substrate
KR102646467B1 (ko) 2018-03-27 2024-03-11 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 상에 전극을 형성하는 방법 및 전극을 포함하는 반도체 소자 구조
US11230766B2 (en) 2018-03-29 2022-01-25 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
KR20190128558A (ko) 2018-05-08 2019-11-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 상에 산화물 막을 주기적 증착 공정에 의해 증착하기 위한 방법 및 관련 소자 구조
KR102596988B1 (ko) 2018-05-28 2023-10-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법 및 그에 의해 제조된 장치
US11270899B2 (en) 2018-06-04 2022-03-08 Asm Ip Holding B.V. Wafer handling chamber with moisture reduction
US11718913B2 (en) 2018-06-04 2023-08-08 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution system and reactor system including same
US11286562B2 (en) 2018-06-08 2022-03-29 Asm Ip Holding B.V. Gas-phase chemical reactor and method of using same
US10797133B2 (en) 2018-06-21 2020-10-06 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a phosphorus doped silicon arsenide film and related semiconductor device structures
KR102568797B1 (ko) 2018-06-21 2023-08-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 시스템
WO2020003000A1 (en) 2018-06-27 2020-01-02 Asm Ip Holding B.V. Cyclic deposition methods for forming metal-containing material and films and structures including the metal-containing material
JP2021529254A (ja) 2018-06-27 2021-10-28 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 金属含有材料ならびに金属含有材料を含む膜および構造体を形成するための周期的堆積方法
US10612136B2 (en) 2018-06-29 2020-04-07 ASM IP Holding, B.V. Temperature-controlled flange and reactor system including same
US10755922B2 (en) 2018-07-03 2020-08-25 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
US10388513B1 (en) 2018-07-03 2019-08-20 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
US11430674B2 (en) 2018-08-22 2022-08-30 Asm Ip Holding B.V. Sensor array, apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods
KR102563925B1 (ko) * 2018-08-31 2023-08-04 삼성전자 주식회사 반도체 제조 장치
US11024523B2 (en) 2018-09-11 2021-06-01 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
KR20200030162A (ko) 2018-09-11 2020-03-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 증착 방법
CN110970344A (zh) 2018-10-01 2020-04-07 Asm Ip控股有限公司 衬底保持设备、包含所述设备的***及其使用方法
US11232963B2 (en) 2018-10-03 2022-01-25 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
KR102592699B1 (ko) 2018-10-08 2023-10-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 박막 증착 장치와 기판 처리 장치
KR102605121B1 (ko) * 2018-10-19 2023-11-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
KR102546322B1 (ko) 2018-10-19 2023-06-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
US11087997B2 (en) 2018-10-31 2021-08-10 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus for processing substrates
KR20200051105A (ko) 2018-11-02 2020-05-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
US11572620B2 (en) 2018-11-06 2023-02-07 Asm Ip Holding B.V. Methods for selectively depositing an amorphous silicon film on a substrate
US10818758B2 (en) 2018-11-16 2020-10-27 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a metal silicate film on a substrate in a reaction chamber and related semiconductor device structures
US11217444B2 (en) 2018-11-30 2022-01-04 Asm Ip Holding B.V. Method for forming an ultraviolet radiation responsive metal oxide-containing film
KR102636428B1 (ko) 2018-12-04 2024-02-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치를 세정하는 방법
US11158513B2 (en) 2018-12-13 2021-10-26 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a rhenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
TW202037745A (zh) 2018-12-14 2020-10-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成裝置結構之方法、其所形成之結構及施行其之系統
TWI819180B (zh) 2019-01-17 2023-10-21 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 藉由循環沈積製程於基板上形成含過渡金屬膜之方法
KR20200091543A (ko) 2019-01-22 2020-07-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
KR102638425B1 (ko) 2019-02-20 2024-02-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 표면 내에 형성된 오목부를 충진하기 위한 방법 및 장치
JP2020136677A (ja) 2019-02-20 2020-08-31 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 基材表面内に形成された凹部を充填するための周期的堆積方法および装置
KR20200102357A (ko) 2019-02-20 2020-08-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 3-d nand 응용의 플러그 충진체 증착용 장치 및 방법
KR102626263B1 (ko) 2019-02-20 2024-01-16 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 처리 단계를 포함하는 주기적 증착 방법 및 이를 위한 장치
JP2020133004A (ja) 2019-02-22 2020-08-31 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 基材を処理するための基材処理装置および方法
KR20200108242A (ko) 2019-03-08 2020-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 질화물 층을 선택적으로 증착하는 방법, 및 선택적으로 증착된 실리콘 질화물 층을 포함하는 구조체
US11742198B2 (en) 2019-03-08 2023-08-29 Asm Ip Holding B.V. Structure including SiOCN layer and method of forming same
JP2020167398A (ja) 2019-03-28 2020-10-08 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー ドアオープナーおよびドアオープナーが提供される基材処理装置
KR20200116855A (ko) 2019-04-01 2020-10-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자를 제조하는 방법
KR20200123380A (ko) 2019-04-19 2020-10-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 층 형성 방법 및 장치
KR20200125453A (ko) 2019-04-24 2020-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기상 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법
KR20200130121A (ko) 2019-05-07 2020-11-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 딥 튜브가 있는 화학물질 공급원 용기
KR20200130118A (ko) 2019-05-07 2020-11-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 비정질 탄소 중합체 막을 개질하는 방법
KR20200130652A (ko) 2019-05-10 2020-11-19 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 표면 상에 재료를 증착하는 방법 및 본 방법에 따라 형성된 구조
JP2020188255A (ja) 2019-05-16 2020-11-19 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法
JP2020188254A (ja) 2019-05-16 2020-11-19 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法
USD975665S1 (en) 2019-05-17 2023-01-17 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
USD947913S1 (en) 2019-05-17 2022-04-05 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
KR20200141002A (ko) 2019-06-06 2020-12-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 배기 가스 분석을 포함한 기상 반응기 시스템을 사용하는 방법
KR20200143254A (ko) 2019-06-11 2020-12-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 개질 가스를 사용하여 전자 구조를 형성하는 방법, 상기 방법을 수행하기 위한 시스템, 및 상기 방법을 사용하여 형성되는 구조
USD944946S1 (en) 2019-06-14 2022-03-01 Asm Ip Holding B.V. Shower plate
KR20210005515A (ko) 2019-07-03 2021-01-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치용 온도 제어 조립체 및 이를 사용하는 방법
JP2021015791A (ja) 2019-07-09 2021-02-12 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. 同軸導波管を用いたプラズマ装置、基板処理方法
CN112216646A (zh) 2019-07-10 2021-01-12 Asm Ip私人控股有限公司 基板支撑组件及包括其的基板处理装置
KR20210010307A (ko) 2019-07-16 2021-01-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
KR20210010820A (ko) 2019-07-17 2021-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 게르마늄 구조를 형성하는 방법
KR20210010816A (ko) 2019-07-17 2021-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 라디칼 보조 점화 플라즈마 시스템 및 방법
US11643724B2 (en) 2019-07-18 2023-05-09 Asm Ip Holding B.V. Method of forming structures using a neutral beam
CN112242296A (zh) 2019-07-19 2021-01-19 Asm Ip私人控股有限公司 形成拓扑受控的无定形碳聚合物膜的方法
CN112309843A (zh) 2019-07-29 2021-02-02 Asm Ip私人控股有限公司 实现高掺杂剂掺入的选择性沉积方法
CN112309899A (zh) 2019-07-30 2021-02-02 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112309900A (zh) 2019-07-30 2021-02-02 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
US11227782B2 (en) 2019-07-31 2022-01-18 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
US11587814B2 (en) 2019-07-31 2023-02-21 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
US11587815B2 (en) 2019-07-31 2023-02-21 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
CN112323048B (zh) 2019-08-05 2024-02-09 Asm Ip私人控股有限公司 用于化学源容器的液位传感器
USD965044S1 (en) 2019-08-19 2022-09-27 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
USD965524S1 (en) 2019-08-19 2022-10-04 Asm Ip Holding B.V. Susceptor support
JP2021031769A (ja) 2019-08-21 2021-03-01 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. 成膜原料混合ガス生成装置及び成膜装置
USD949319S1 (en) 2019-08-22 2022-04-19 Asm Ip Holding B.V. Exhaust duct
USD979506S1 (en) 2019-08-22 2023-02-28 Asm Ip Holding B.V. Insulator
USD940837S1 (en) 2019-08-22 2022-01-11 Asm Ip Holding B.V. Electrode
KR20210024423A (ko) 2019-08-22 2021-03-05 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 홀을 구비한 구조체를 형성하기 위한 방법
US11286558B2 (en) 2019-08-23 2022-03-29 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a molybdenum nitride film on a surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures including a molybdenum nitride film
KR20210024420A (ko) 2019-08-23 2021-03-05 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 비스(디에틸아미노)실란을 사용하여 peald에 의해 개선된 품질을 갖는 실리콘 산화물 막을 증착하기 위한 방법
KR20210029090A (ko) 2019-09-04 2021-03-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 희생 캡핑 층을 이용한 선택적 증착 방법
KR20210029663A (ko) 2019-09-05 2021-03-16 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11562901B2 (en) 2019-09-25 2023-01-24 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing method
CN112593212B (zh) 2019-10-02 2023-12-22 Asm Ip私人控股有限公司 通过循环等离子体增强沉积工艺形成拓扑选择性氧化硅膜的方法
TW202129060A (zh) 2019-10-08 2021-08-01 荷蘭商Asm Ip控股公司 基板處理裝置、及基板處理方法
KR20210043460A (ko) 2019-10-10 2021-04-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 포토레지스트 하부층을 형성하기 위한 방법 및 이를 포함한 구조체
KR20210045930A (ko) 2019-10-16 2021-04-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 산화물의 토폴로지-선택적 막의 형성 방법
US11637014B2 (en) 2019-10-17 2023-04-25 Asm Ip Holding B.V. Methods for selective deposition of doped semiconductor material
KR20210047808A (ko) 2019-10-21 2021-04-30 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 막을 선택적으로 에칭하기 위한 장치 및 방법
KR20210050453A (ko) 2019-10-25 2021-05-07 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 표면 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조
US11646205B2 (en) 2019-10-29 2023-05-09 Asm Ip Holding B.V. Methods of selectively forming n-type doped material on a surface, systems for selectively forming n-type doped material, and structures formed using same
KR20210054983A (ko) 2019-11-05 2021-05-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 도핑된 반도체 층을 갖는 구조체 및 이를 형성하기 위한 방법 및 시스템
US11501968B2 (en) 2019-11-15 2022-11-15 Asm Ip Holding B.V. Method for providing a semiconductor device with silicon filled gaps
KR20210062561A (ko) 2019-11-20 2021-05-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판의 표면 상에 탄소 함유 물질을 증착하는 방법, 상기 방법을 사용하여 형성된 구조물, 및 상기 구조물을 형성하기 위한 시스템
CN112951697A (zh) 2019-11-26 2021-06-11 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
KR20210065848A (ko) 2019-11-26 2021-06-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 제1 유전체 표면과 제2 금속성 표면을 포함한 기판 상에 타겟 막을 선택적으로 형성하기 위한 방법
CN112885693A (zh) 2019-11-29 2021-06-01 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112885692A (zh) 2019-11-29 2021-06-01 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
JP2021090042A (ja) 2019-12-02 2021-06-10 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. 基板処理装置、基板処理方法
KR20210070898A (ko) 2019-12-04 2021-06-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11885013B2 (en) 2019-12-17 2024-01-30 Asm Ip Holding B.V. Method of forming vanadium nitride layer and structure including the vanadium nitride layer
US11527403B2 (en) 2019-12-19 2022-12-13 Asm Ip Holding B.V. Methods for filling a gap feature on a substrate surface and related semiconductor structures
JP2021109175A (ja) 2020-01-06 2021-08-02 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー ガス供給アセンブリ、その構成要素、およびこれを含む反応器システム
US11993847B2 (en) 2020-01-08 2024-05-28 Asm Ip Holding B.V. Injector
KR20210095050A (ko) 2020-01-20 2021-07-30 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 형성 방법 및 박막 표면 개질 방법
TW202130846A (zh) 2020-02-03 2021-08-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成包括釩或銦層的結構之方法
KR20210100010A (ko) 2020-02-04 2021-08-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 대형 물품의 투과율 측정을 위한 방법 및 장치
US11776846B2 (en) 2020-02-07 2023-10-03 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing gap filling fluids and related systems and devices
TW202146715A (zh) 2020-02-17 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於生長磷摻雜矽層之方法及其系統
TW202203344A (zh) 2020-02-28 2022-01-16 荷蘭商Asm Ip控股公司 專用於零件清潔的系統
KR20210116240A (ko) 2020-03-11 2021-09-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 조절성 접합부를 갖는 기판 핸들링 장치
US11876356B2 (en) 2020-03-11 2024-01-16 Asm Ip Holding B.V. Lockout tagout assembly and system and method of using same
KR20210117157A (ko) 2020-03-12 2021-09-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 타겟 토폴로지 프로파일을 갖는 층 구조를 제조하기 위한 방법
KR20210124042A (ko) 2020-04-02 2021-10-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 형성 방법
TW202146689A (zh) 2020-04-03 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip控股公司 阻障層形成方法及半導體裝置的製造方法
TW202145344A (zh) 2020-04-08 2021-12-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於選擇性蝕刻氧化矽膜之設備及方法
US11821078B2 (en) 2020-04-15 2023-11-21 Asm Ip Holding B.V. Method for forming precoat film and method for forming silicon-containing film
US11996289B2 (en) 2020-04-16 2024-05-28 Asm Ip Holding B.V. Methods of forming structures including silicon germanium and silicon layers, devices formed using the methods, and systems for performing the methods
KR20210132600A (ko) 2020-04-24 2021-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 바나듐, 질소 및 추가 원소를 포함한 층을 증착하기 위한 방법 및 시스템
KR20210132605A (ko) 2020-04-24 2021-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 냉각 가스 공급부를 포함한 수직형 배치 퍼니스 어셈블리
JP2021172884A (ja) 2020-04-24 2021-11-01 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 窒化バナジウム含有層を形成する方法および窒化バナジウム含有層を含む構造体
KR20210134226A (ko) 2020-04-29 2021-11-09 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 고체 소스 전구체 용기
KR20210134869A (ko) 2020-05-01 2021-11-11 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. Foup 핸들러를 이용한 foup의 빠른 교환
KR20210141379A (ko) 2020-05-13 2021-11-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반응기 시스템용 레이저 정렬 고정구
KR20210143653A (ko) 2020-05-19 2021-11-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
KR20210145078A (ko) 2020-05-21 2021-12-01 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 다수의 탄소 층을 포함한 구조체 및 이를 형성하고 사용하는 방법
TW202200837A (zh) 2020-05-22 2022-01-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於在基材上形成薄膜之反應系統
TW202201602A (zh) 2020-05-29 2022-01-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理方法
TW202218133A (zh) 2020-06-24 2022-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成含矽層之方法
TW202217953A (zh) 2020-06-30 2022-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理方法
KR20220010438A (ko) 2020-07-17 2022-01-25 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 포토리소그래피에 사용하기 위한 구조체 및 방법
TW202204662A (zh) 2020-07-20 2022-02-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於沉積鉬層之方法及系統
TW202212623A (zh) 2020-08-26 2022-04-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成金屬氧化矽層及金屬氮氧化矽層的方法、半導體結構、及系統
USD990534S1 (en) 2020-09-11 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Weighted lift pin
USD1012873S1 (en) 2020-09-24 2024-01-30 Asm Ip Holding B.V. Electrode for semiconductor processing apparatus
TW202229613A (zh) 2020-10-14 2022-08-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 於階梯式結構上沉積材料的方法
KR20220053482A (ko) 2020-10-22 2022-04-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 바나듐 금속을 증착하는 방법, 구조체, 소자 및 증착 어셈블리
TW202223136A (zh) 2020-10-28 2022-06-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於在基板上形成層之方法、及半導體處理系統
TW202235675A (zh) 2020-11-30 2022-09-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 注入器、及基板處理設備
US11946137B2 (en) 2020-12-16 2024-04-02 Asm Ip Holding B.V. Runout and wobble measurement fixtures
TW202231903A (zh) 2020-12-22 2022-08-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 過渡金屬沉積方法、過渡金屬層、用於沉積過渡金屬於基板上的沉積總成
USD1023959S1 (en) 2021-05-11 2024-04-23 Asm Ip Holding B.V. Electrode for substrate processing apparatus
USD980814S1 (en) 2021-05-11 2023-03-14 Asm Ip Holding B.V. Gas distributor for substrate processing apparatus
USD980813S1 (en) 2021-05-11 2023-03-14 Asm Ip Holding B.V. Gas flow control plate for substrate processing apparatus
USD981973S1 (en) 2021-05-11 2023-03-28 Asm Ip Holding B.V. Reactor wall for substrate processing apparatus
USD990441S1 (en) 2021-09-07 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Gas flow control plate
CN117467976B (zh) * 2023-10-31 2024-05-17 北京北方华创微电子装备有限公司 用于气相沉积工艺腔室的上衬环、下衬环、进气衬体和内衬

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0747503A1 (en) * 1995-06-09 1996-12-11 Ebara Corporation Reactant gas injector for chemical vapor deposition apparatus

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4798165A (en) 1985-10-07 1989-01-17 Epsilon Apparatus for chemical vapor deposition using an axially symmetric gas flow
US5755886A (en) * 1986-12-19 1998-05-26 Applied Materials, Inc. Apparatus for preventing deposition gases from contacting a selected region of a substrate during deposition processing
US5441568A (en) * 1994-07-15 1995-08-15 Applied Materials, Inc. Exhaust baffle for uniform gas flow pattern
US5558717A (en) 1994-11-30 1996-09-24 Applied Materials CVD Processing chamber
US5885356A (en) * 1994-11-30 1999-03-23 Applied Materials, Inc. Method of reducing residue accumulation in CVD chamber using ceramic lining
TW297135B (ko) * 1995-03-20 1997-02-01 Hitachi Ltd
JP3534940B2 (ja) 1995-04-20 2004-06-07 株式会社荏原製作所 薄膜気相成長装置
US5552017A (en) * 1995-11-27 1996-09-03 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Method for improving the process uniformity in a reactor by asymmetrically adjusting the reactant gas flow
US5846332A (en) * 1996-07-12 1998-12-08 Applied Materials, Inc. Thermally floating pedestal collar in a chemical vapor deposition chamber

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0747503A1 (en) * 1995-06-09 1996-12-11 Ebara Corporation Reactant gas injector for chemical vapor deposition apparatus

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012071302A2 (en) * 2010-11-22 2012-05-31 Applied Materials, Inc. Interchangeable pumping rings to control path of process gas flow
WO2012071302A3 (en) * 2010-11-22 2012-07-19 Applied Materials, Inc. Interchangeable pumping rings to control path of process gas flow
KR20180126086A (ko) * 2016-04-15 2018-11-26 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 마이크로-볼륨 증착 챔버
KR102305854B1 (ko) 2016-04-15 2021-09-27 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 마이크로-볼륨 증착 챔버

Also Published As

Publication number Publication date
EP0909836A2 (en) 1999-04-21
US6176929B1 (en) 2001-01-23
KR19990014010A (ko) 1999-02-25
TW565627B (en) 2003-12-11
EP0909836A3 (en) 2001-06-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100573666B1 (ko) 박막증착장치
KR100492258B1 (ko) 반응가스분출헤드
JP5760017B2 (ja) 気化・堆積装置
US6844528B2 (en) Hot wall rapid thermal processor
JP4511722B2 (ja) 化学気相堆積用リアクタ
US6375748B1 (en) Method and apparatus for preventing edge deposition
US6635114B2 (en) High temperature filter for CVD apparatus
KR100427425B1 (ko) 박막증착장치
US5935336A (en) Apparatus to increase gas residence time in a reactor
US6448536B2 (en) Single-substrate-heat-processing apparatus for semiconductor process
US6900413B2 (en) Hot wall rapid thermal processor
WO2002099861A1 (en) Rector having a movale shuter
US6582522B2 (en) Emissivity-change-free pumping plate kit in a single wafer chamber
JP2004534905A (ja) チタン化学気相堆積用リアクタ
KR19990087225A (ko) 열처리장치
US20220262657A1 (en) Pedestal with multi-zone heating
JP3534940B2 (ja) 薄膜気相成長装置
EP1226395A1 (en) Hot wall rapid thermal processor
JP3649267B2 (ja) 反応ガス噴射ヘッド
KR20090131384A (ko) 가스분사조립체 및 이를 이용한 박막증착장치
JP3649265B2 (ja) 薄膜気相成長装置
JPH11158632A (ja) 薄膜気相成長装置
KR100559198B1 (ko) 일체형 가스 분배 채널링을 갖는 벨자
JP2000252270A (ja) ガス噴射ヘッド
JPH08325736A (ja) 薄膜気相成長装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee