KR100533705B1 - 탭 또는 씨오에프의 외형 검사 속도 향상 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명에 따르면 탭 또는 씨오에프의 결함을 검사하기 위해 영역 설정을 다각형으로 설정함으로써 검사가 불필요한 영역을 최소화함은 물론이고, 환경설정이 같은 영역을 다각형으로 동일 영역에 포함시킴으로써 환경 설정 시간을 크게 단축시킬 수 있다.

또한, 검사 영역의 중복 처리를 최소화함으로써 영상 처리 시간을 단축할 수 있게 된다.

또한, 이미지의 영역을 판별하기 위해 마스크 버퍼를 두고 이미지의 외각선에 대한 값에서만 영역 판별이 이루어지도록 함으로써 속도를 향상시키는 효과가 있다.

Description

탭 또는 씨오에프의 외형 검사 속도 향상 방법{The method for enhancing an appearance inspection speed of TAB or COF}

탭 또는 씨오에프의 결함을 검사하는 방법으로는 현미경을 통해 사람이 육안으로 결함을 검사하는 방식이 있다. 이러한 육안 검사의 문제점은 불량 판단 기준이 정확하지 않고 검사 시간이 길다는 데 있다.

최근, 육안 검사의 문제점을 해결하기 위한 방법으로 불량의 기준을 확립하고 그 기준에 따라 일률적인 고정밀 검사 결과를 얻을 수 있도록 고해상도 라인 스캐너 카메라에 의한 연속 검사를 구현해 공정 중에 발생하는 다양한 패턴 결함을 신속하게 검사하는 외형 검사기에 의한 검사 방식이 늘고 있다.

외형 검사기로 탭(TAB: Tape Automated Binding) 또는 씨오에프(COF: Chip On Firm)의 결함 검사를 할 때 탭 또는 씨오에프의 영역을 여러 개로 설정할 필요가 있다. 이는 탭 또는 씨오에프의 영역별로 검사항목이 다르고, 이에 따른 환경변수 설정 및 적용알고리즘이 다르기 때문이다.

종래에는, 탭 또는 씨오에프의 영역을 크기가 다른 사각형으로 설정하였다. 이와 같이 크기가 다른 사각형으로 탭 또는 씨오에프의 영역을 설정하는 경우에는 검사하고자 하는 영역 이외의 불필요한 영역이 많이 포함되는 문제점이 있었다.

더구나, 검사항목 및 환경변수가 같은 영역이라 하더라도 여러 개의 영역으로 나누어지는 경우가 많아져서 환경 설정 시간이 길어진다는 단점이 있었다.

또한, 많은 검사 영역 및 중복 처리로 인하여 영상 처리 시간이 늘어난다는 단점이 있었다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 탭 또는 씨오에프의 검사항목과 환경변수 및 적용알고리즘이 같은 영역을 동일 영역으로 설정하여 검사 영역을 최소화하고 환경 설정 시간을 단축할 수 있는 다각형 영역 설정 방법을 제공함으로써 탭 또는 씨오에프의 외형 검사 속도를 향상시킬 수 있는 방법을 제공함에 있다.

본 발명의 다른 목적은, 상기 설정된 다각형 영역의 영역 판별을 보다 효율적으로 하기 위해 마스크 버퍼를 생성하고, 생성된 마스크 버퍼 값을 이용하여 영역 판별을 실시하여 영역 판별 시간을 단축하는 방법을 제공함으로써 탭 또는 씨오에프의 외형 검사 속도를 향상시킬 수 있는 방법을 제공함에 있다.

이와 같은 기술적 과제를 해결하기 위하여 본 발명에 의한 탭 또는 씨오에프의 외형 검사 장치의 구성은 본 출원에 의한 대한민국 특허출원 제2003-88510호와 다르지 않다.

본원 발명의 탭 또는 씨오에프의 결함을 검사하기 위한 외형 검사기의 화상처리 시스템 구성은, 검사 대상이 되는 탭 또는 씨오에프 필름과; 탭 또는 씨오에프의 이미지를 획득하기 위해 라인카메라와 에어리어 카메라에서 이미지를 스캔하고 스캔된 이미지에서 마스터 이미지를 선택하여 다각형 영역별로 검사항목과 환경 변수 및 적용알고리즘을 설정하여 마스터 이미지의 정보를 획득하고 상기 마스터 이미지와 스캔된 검사 대상 이미지를 비교하여 결함을 검사하는 이미지 획득 처리부와; 상기 이미지 획득 처리부의 동작과 장비제어부의 동작을 관할하는 화상처리부; 및 상기 이미지 획득 처리부의 검사 결과 결함이 있는 경우 상기 화상처리부의 지시에 따라 탭 또는 씨오에프 필름에 결함 표시를 하는 장비제어부;로 구성된다.

본 발명에 따른 탭 또는 씨오에프의 결함을 검사하기 위한 외형 검사 단계는, 탭 또는 씨오에프 외형 검사의 기준이 되는 마스터 이미지를 획득하는 단계; 상기 마스터 이미지 위에 여러개의 영역이 설정되는 마스터 이미지 영역 설정 단계; 상기 마스터 이미지 위의 각 영역별 검사항목과 환경변수 및 적용알고리즘을 설정하는 환경 설정 단계; 상기 마스터 이미지 위에 설정된 각 영역별로 영역의 내부 또는 외부를 판단하는 영역 판별 값을 갖는 마스크 버퍼 값 설정 단계; 상기 마스터 이미지의 각 영역별 환경 설정에 따른 마스터 이미지의 정보 추출을 위한 영역 판별이 마스크 버퍼 값에 의해 이루어져 마스터 이미지의 정보가 추출되는 단계; 상기 마스터 이미지와 비교 검사되는 탭 또는 씨오에프의 검사 대상 이미지를 획득하는 검사 대상 이미지 획득 단계; 상기 검사 대상 이미지를 검사하기 위해 마스터 이미지의 기준점과 검사 대상 이미지의 기준점을 맞추는 단계; 상기 검사 대상 이미지의 기준점에서 상대적으로 동일한 위치에 있는 마스크 버퍼의 값에 따라 검사 대상 이미지의 영역과 마스터 이미지 영역이 매핑되는 검사 대상 이미지 영역 판별 단계; 상기 검사 대상 이미지의 영역과 동일한 위치의 마스터 이미지의 영역에 설정된 검사 환경 설정에 따른 검사가 이루어지는 대상 이미지 검사 단계; 로 이루어지는 것을 특징으로 한다.

상기 마스터 이미지 위에 여러 개의 영역이 설정되는 마스터 이미지 영역 설정 단계는 마스터 이미지 위에 기준점을 두고 다각형으로 설정됨을 특징으로 한다.

상기 마스크 이미지 위에 설정된 각 영역별 영역의 내부 또는 외부를 판단하는 영역 판별 값을 가지는 마스크 버퍼 값 설정 단계는, 상기 마스터 이미지에 설정된 각각의 다각형 크기와 동일한 크기의 마스크 버퍼를 생성하여 "1"로 초기화 하는 마스크 버퍼 초기화 단계; 상기 마스터 이미지의 다각형 외각선 위치와 동일한 위치의 마스크 버퍼의 값을 "0"으로 설정하는 다각형의 외각선 설정 단계; 상기 마스크 버퍼에서 "0"으로 설정된 다각형 외각선을 기준으로 다각형의 내부 또는 외부를 판단하여 마스크 버퍼의 값을 완성하는 단계;로 이루어지는 것을 특징으로 한다.

상기 마스터 이미지의 다각형 외각선 위치와 동일한 위치의 마스크 버퍼의 값을 "0"으로 설정하는 다각형의 외각선 설정은, 상기 마스터 이미지 내에 설정된 다각형의 인접한 점으로 직선의 방정식을 구하고, 직선상에 있는 동일한 위치의 마스크 버퍼의 값을 "0"으로 설정함을 특징으로 한다.

상기 마스크 버퍼에서 "0"으로 설정된 다각형 외각선을 기준으로 다각형의 내부 또는 외부를 판단하여 마스크 버퍼의 값을 완성하는 단계는, 상기 마스크 버퍼의 값이 "0" 인지 확인하는 단계와 상기 마스크 버퍼의 값이 "0" 인 경우에 영역 판별을 시도하는 단계 및 상기 영역 판별 결과 영역의 내부인 경우 마스크 버퍼 값을 "0"으로 설정하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 한다.

상기 마스터 이미지의 각 영역별 환경설정에 따른 마스터 이미지의 정보 추출을 위한 영역 판별이 마스크 버퍼 값에 의해 이루지고 마스터 이미지의 정보가 추출되는 단계는, 상기 마스터 이미지의 위치와 동일한 위치의 마스크 버퍼의 값을 읽어서 마스크 버퍼의 값이 영역의 내부를 나타내는 경우 적용된 환경설정에 따른 마스터 이미지 정보를 추출하는 것을 특징으로 한다.

상기 검사 대상 이미지의 기준점에서 상대적으로 동일한 위치에 있는 마스크 버퍼의 값에 따라 검사 대상 이미지의 영역과 마스크 이미지 영역이 매핑되는 검사 대상 이미지 영역 판별 단계는, 상기 마스터 이미지의 영역 판별을 위해 사용되었던 마스크 버퍼 값에 따라 검사 대상 이미지의 영역 판별이 이루어짐을 특징으로 한다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예의 구성 및 작용을 설명하기로 한다.

도 1은 본 발명의 외형 검시기의 화상처리 시스템 개략 블록도이다. 도 1을 참조하면, 검사할 탭 또는 씨오에프 필름(1)은 이미지 획득 처리부(2)에서 라인카메라와 에어리어 카메라를 통해 스캔되어 영상으로 바뀌고, 스캔된 탭 또는 씨오에프의 영상에서 가장 마스터 이미지 기준에 적합하다고 판단되는 이미지를 선택하여 마스터 이미지로 등록하게 된다. 이때 마스터 이미지의 각 영역별로 검사항목과 환경변수 및 적용알고리즘이 다르기 때문에 마스터 이미지의 영역 설정이 필요하다. 이렇게 설정된 마스터 이미지를 기준으로 탭 또는 씨오에프의 외형 검사가 이루어진다. 화상처리부(3)는 이미지 획득 처리부(2)와 장비제어부(4)의 동작을 관할한다. 검사된 탭 또는 씨오에프의 검사 결과 결함이 있는 경우 화상처리부(3)의 명령으로 장비제어부(4)에서 탭 또는 씨오에프 필름(1)에 결함이 표시된다.

탭 또는 씨오에프의 결함을 검사하는 외형 검사 단계를 도 2를 참조하여 살펴보면, 탭 또는 씨오에프의 결함을 검사하기 위한 외형 검사 단계는, 탭 또는 씨오에프 외형 검사의 기준이 되는 마스터 이미지를 획득하고, 상기 마스터 이미지 위에 여러 개의 영역이 설정하여, 영역별 검사항목과 환경변수 및 적용알고리즘을 설정하고, 상기 마스터 이미지에 설정된 각 영역별 영역의 내부 또는 외부를 판단하는 영역 판별 값을 갖는 마스크 버퍼 값을 생성하여, 상기 마스크 버퍼 값에 의해 마스터 이미지의 영역이 판별되어 각 영역별 환경설정에 따른 마스터 이미지의 정보가 추출된다.

상기 단계를 통해 마스터 이미지가 등록되면 상기 마스터 이미지와 비교 검사되는 탭 또는 씨오에프의 검사 대상 이미지를 획득하여, 상기 마스터 이미지의 기준점과 검사 대상 이미지의 기준점을 맞추고, 상기 검사 대상 이미지의 기준점에서 상대적으로 동일한 위치에 있는 마스크 버퍼의 값에 따라 검사 대상 이미지의 영역과 마스터 이미지 영역이 매핑되어, 상기 검사 대상 이미지의 영역과 동일한 위치의 마스터 이미지의 영역에 설정된 환경 설정에 따라 검사 대상 이미지의 검사가 이루어진다.

상기 마스터 이미지 위에 설정되는 여러 개의 영역은 마스터 이미지 위에 기준점을 두고 다각형으로 설정된다.

상기 마스크 이미지 위에 설정된 각 영역별 영역의 내부 또는 외부를 판단하는 마스크 버퍼 값은, 상기 마스터 이미지에 설정된 각각의 다각형 크기와 동일한 크기의 마스크 버퍼를 생성하여 "1"로 초기화하고, 상기 마스터 이미지의 다각형 외각선 위치와 동일한 위치의 마스크 버퍼의 값을 "0"으로 설정하여, 마스크 버퍼 값이 "0"인 지점에서 영역의 내부 또는 외부를 판단한 값으로 이루어진다.

본 발명의 검사 대상인 탭에 대한 이미지는 도 3a이고 a1 내지 a13은 탭에서 검사되어야 할 항목을 도시한 것이다. 일부 예로 a1은 탭 위의 문자를, a2는 아웃리드(Out Lead)입력측, a3은 디바이스홀(Device Hole)을 나타내고 있다. 이는 나머지 a4 내지 a13 외 검사항목에 따라 더 추가 또는 삭제 될 수 있다. 또한, 도 3b의 씨오에프 이미지 위의 b1 내지 b6 역시 각 영역별 검사되어야 할 항목을 도시한 예로서 b1은 아웃리드(Out Lead)입력측, b2는 인식마크, b3은 문자를 나타내고 있다. 나머지 b4 내지 b6 외 검사항목에 따라 더 추가 또는 삭제 될 수 있다. 도 3a 내지 도 3b에서 보듯이 탭 또는 씨오에프의 각 부분별 검사 대상이 각각 다르다. 따라서 탭 또는 씨오에프의 정확한 검사를 위해서는 부분별로 영역을 설정할 필요가 있다.

도 4a는 영역 설정을 하는 일반적인 방법으로 이미지를 크기가 다른 사각형으로 영역을 설정하고 있다. 이와 같이 크기가 다른 사각형으로 영역을 설정할 경우, 도 4a에서와 같이 검사를 하지 않아도 되는 불필요한 영역이 많이 포함되는 것은 물론이고, 같은 검사항목과 환경변수 및 알고리즘을 적용해야 할 영역이 여러 개로 분할되므로 환경 설정 시간이 길어지게 된다.

또한, 많은 검사 영역이 중복 처리됨으로 인하여 영상 처리 시간이 늘어나게 된다.

도 4b는 상기 4a와 같이 사각형으로 영역을 나누었을 때 발생하는 문제점을 줄이는 방법으로, 본 발명에서 탭 또는 씨오에프의 결함을 검사하기 위한 영역 설정을 다각형으로 한 영역 설정도이다. 이와 같이 탭 또는 씨오에프의 검사 영역을 다각형으로 설정함으로써 검사가 불필요한 영역을 최소화함은 물론이고 환경설정이 같은 영역을 다각형으로 동일 영역에 포함시킴으로써 환경 설정 시간이 크게 단축될 수 있다.

또한, 검사할 부분의 영역만을 다각형으로 설정하므로 검사가 필요하지 않은 영역을 제외시킬 수 있어 영역의 중복처리를 최소화하게 됨으로써 영상 처리 시간을 단축할 수 있게 된다.

이와 같이, 검사 영역을 다각형으로 설정할 때 대상 이미지가 다각형의 영역 내부인지 또는 외부인지 판별하는 영역 판별이 중요하다. 도 5a는 다각형 영역 설정의 한 예로 크기가 가로 세로 31*31 인 이미지 내에 존재하는 십자형 이미지를 다각형으로 영역 설정한 예시도이고, 도 5b는 도 5a와 같이 설정된 다각형 이미지에서 영역 판별이 이루어진 결과 이미지이다.

도 5c는 도 5a의 다각형 이미지 영역이 도 5b와 같은 영역 판별 결과를 얻기 위해 적용되는 일반적인 영역 판별 순서도이다. 예시에서 원이미지 도 5a의 십자형 이미지 영역을 포함할 수 있는 최소 크기를 31*31로 하였으므로 도 5b는 961번의 영역 판별을 통해 생성된다. 이때 사용되는 영역 판별에 사용되는 다각형의 영역을 판별 알고리즘은 기존의 제시되는 C++ 언어의 MFC 라이브러리에서 제공하는 CRgn.PtInRegion() 함수를 사용하였다. 그러나 이는 발명을 한정하는 것은 아니다. 이와 같이 다각형 영역을 판별할 경우 영역 판별 시간은 다각형을 포함하는 이미지의 크기에 따라 비례적으로 증가하게 됨으로 탭 또는 씨오에프의 외형 검사에서 차지하는 시간이 길어지게 된다. 따라서 영역 판별 시간을 단축하는 것은 탭 또는 씨오에프의 외형 검사의 전 공정의 시간을 단축하기 위해 중요한 의미를 지닌다.

이와 같이 탭 또는 씨오에프의 외형 검사 속도를 향상하기 위한 영역 판별 방법을 도 6a 내지 6d 및 도 7을 통해 살펴본다.

우선, 도 6a는 도 5a와 같은 십자형 이미지 영역을 설정한 31*31 크기의 다각형 영역이 설정된 예시도이고, 도 6b 내지 도 6d는 도 6a에 설정된 다각형 영역의 판별에 사용되는 마스크 버퍼 값이 생성되는 과정을 나타내고 있다. 도 6b 내지 도 6d의 영역 판별 마스크 버퍼 값 생성을 순서대로 살펴보면, 도 6b는 도 6a의 원이미지 내의 다각형을 포함하는 최소 크기 31*31 의 마스크 버퍼가 생성되고 "1"로 초기화 된 예시도이다. 이후, 도 6c는 도 6a의 다각형 영역의 외각에 해당하는 각 점 P1에서 P12까지 연결한 직선상의 위치에 해당하는 마스크 버퍼 값을 "0"으로 설정한 예시도이다. 도 6d는 도 6c의 마스크 버퍼 값이 "0"인 지점에서 영역 판별이 이루어지고 해당하는 버퍼 값이 생성된 예시도이다.

도 6c에서 도 6d의 영역 판별이 이루어져 마스크 버퍼 값이 생성되는 과정을 도 7을 통해 살펴보면, 도 6a의 다각형 외각의 위치에 해당하는 직선상의 값을 마스크 버퍼 위에 "0"으로 표현한 후 마스크 버퍼의 값이 "0"인 지점에서만 영역 판별을 실시한다. 이때 사용되는 다각형 영역을 판별 알고리즘은 상기 도 5c의 순서도에서 사용했던 것과 동일하다. 이와 같이 마스크 버퍼 위에 먼저 다각형 영역의 외각선에 해당하는 부분을 설정하고 외각선 부분에서만 영역의 판별이 이루어지도록 상태값(state)을 두어 마스크 버퍼 값이 "0"인 지점에서 영역 판별을 수행하고 영역의 내부인 경우 상태값을 "0"으로 하여 마스크 버퍼 값을 설정한다.

이와 같이 영역 판별을 할 경우 다각형의 크기에 비례했던 영역 판별 시간 보다 다각형의 길이에 비례한 영역 판별이 이루어짐으로 영역 판별 시간이 짧아져 탭 또는 씨오에프의 외형 검사 속도를 크게 개선할 수 있게 된다.

상기 작성된 마스크 버퍼의 값은 마스터 이미지 정보를 추출하기 위한 영역 판별에 사용되며, 검사하게 될 탭 또는 씨오에프의 검사 대상 이미지와 마스터 이미지의 영역을 매핑하는데 사용된다. 도 8의 도 a 내지 도 b는 다각형 영역 판별에 마스크 버퍼 값을 사용하는 예이다. 도 a는 원이미지로, 마스터 이미지 또는 검사 대상 이미지 어느 쪽이나 가능하다. 도 a 위의 두점 s1은 다각형 영역 외부에 있는 점을 나타내고 s2는 다각형 영역의 내부에 있는 점을 나타낸다. 도 a의 점 s1 내지 s2의 영역을 판별하기 위해 도 b의 마스크 버퍼 값을 사용한다. 도 b의 점 d1은 도 a의 점 s1과 같은 위치에 해당하고 버퍼값으로 "1"을 가지고 있으므로 도 a의 점 s1이 다각형 영역의 외부에 있음을 나타낸다. 도 b의 점 d2는 도 a의 점 s2와 같은 위치에 해당하고 버퍼 값으로 "0"을 가지고 있으므로 도 a의 점 s2가 다각형 영역의 내부에 있음을 나타낸다. 이처럼 마스터 이미지와 검사 이미지의 영역을 판별할 때 마스터 이미지와 검사 이미지의 기준점을 맞추고 기준점에서 상대적인 거리에 떨어진 마스크 버퍼의 값을 읽음으로써 영역 판별을 손쉽게 할 수 있다.

본 발명에 의하면 탭 또는 씨오에프의 결함을 검사하기 위해 영역 설정을 다각형으로 설정함으로써 검사가 불필요한 영역을 최소화함은 물론이고, 환경설정이 같은 영역을 다각형으로 동일 영역에 포함시킴으로써 환경 설정 시간이 크게 단축될 수 있다.

또한, 검사 영역의 중복 처리를 최소화함으로써 영상 처리 시간을 단축할 수 있게 된다.

또한, 이미지의 영역을 판별하기 위해 마스크 버퍼를 두고 이미지의 외각선에 대한 값에서만 영역 판별이 이루어지도록 함으로써 속도를 향상시키는 효과가 있다.

이상에서 본 발명은 기재된 구체예에 대해서만 상세히 설명되었지만, 본 발명의 기술사상 범위내에서 다양한 변형 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속함은 당연한 것이다.

도 1은 본 발명의 외형 검시기의 화상처리 시스템 개략 블록도이다.

도 2는 본 발명의 탭 또는 씨오에프의 외형 검사 단계 흐름도이다.

도 3a 은 본 발명의 검사 대상인 탭의 예시도이다.

도 3b 는 본 발명의 검사 대상인 씨오에프의 예시도이다.

도 4a는 탭 또는 씨오에프의 결함을 검사하기 위해 크기가 다른 사각형으로 영역 설정을 한 일반적인 영역 설정도이다.

도 4b는 본 발명에서 탭 또는 씨오에프의 결함을 검사하기 위해 다각형으로 영역 설정을 한 영역 설정도이다.

도 5a는 다각형 이미지의 영역 설정을 한 예시도이다.

도 5b는 도 5a와 같이 설정된 다각형의 영역 판별 결과이다.

도 5c는 도 5b의 결과를 얻기 위한 일반적인 영역 판별 순서도이다.

도 6a는 본 발명에서 사용되는 다각형 이미지의 영역 설정을 한 예시도이다.

도 6b는 도 6a 와 같이 설정된 다각형 이미지의 영역 판별을 하기 위해 사용될 마스터 버퍼를 "1"로 초기화한 도이다.

도 6c는 도 6a와 같이 설정된 다각형 이미지 위의 점 P1에서 P12까지 연결하는 외각선에 해당하는 부분을 "0"으로 표현하는 도이다.

도 6d는 도 6c에서 설정된 외각선 위치 "0"에서 영역 판별이 이루어져 생성된 마스크 버퍼 값이다.

도 7은 도 6c에서 도 6d의 영역 판별이 이루어지는 순서도이다.

도 8은 다각형 이미지의 영역 판별에 마스크 버퍼 값을 사용하는 예시도이다.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>

1: 탭 또는 씨오에프의 필름 2: 이미지 획득 처리부 3: 화상처리부

4: 장비제어부

a1 내지 a13 : 탭의 검사 항목

b1 내지 b6 : 씨오에프의 검사항목

P1 내지 P12 : 다각형의 외각을 이루는 점

Claims (7)

1. 탭 또는 씨오에프의 결함을 검사하기 위한 외형 검사 단계는,

   탭 또는 씨오에프 외형 검사의 기준이 되는 마스터 이미지를 획득하는 단계;

   상기 마스터 이미지 위에 여러 개의 영역이 설정되는 마스터 이미지 영역설정 단계;

   상기 마스터 이미지 위의 각 영역별 검사항목과 환경변수 및 적용알고리즘을 설정하는 환경설정 단계;

   상기 마스터 이미지 위에 설정된 각 영역별 영역의 내부 또는 외부를 판단하는 영역 판별 값을 갖는 마스크 버퍼 값 설정 단계;

   상기 마스터 이미지의 각 영역별 환경설정에 따른 마스터 이미지의 정보 추출을 위한 영역 판별이 마스크 버퍼 값에 의해 이루지고 마스터 이미지의 정보가 추출되는 단계;

   상기 마스터 이미지와 비교 검사되는 탭 또는 씨오에프의 검사 대상 이미지를 획득하는 검사 대상 이미지 획득 단계;

   상기 검사 대상 이미지를 검사하기 위해 마스터 이미지의 기준점과 검사 대상 이미지의 기준점을 맞추는 단계;

   상기 검사 대상 이미지의 기준점에서 상대적으로 동일한 위치에 있는 마스크 버퍼의 값에 따라 검사 대상 이미지의 영역과 마스터 이미지 영역이 매핑되는 검사 대상 이미지 영역 판별 단계;

   상기 검사 대상 이미지의 영역과 동일한 위치의 마스터 이미지의 영역에 설정된 검사 환경설정에 따른 검사가 이루어지는 검사 대상 이미지 검사 단계;

   로 이루어지는 것을 특징으로 하는 탭 또는 씨오에프의 외형 검사 속도 향상 방법.
2. 제 1 항에 있어서,

   상기 마스터 이미지 위에 여러 개의 영역이 설정되는 마스터 이미지 영역설정 단계는 마스터 이미지 위에 기준점을 두고 다각형으로 설정됨을 특징으로 하는 상기 탭 또는 씨오에프의 외형 검사 속도 향상 방법.
3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,

   상기 마스터 이미지 위에 설정된 각 영역별 영역의 내부 또는 외부를 판단하는 영역 판별 값을 가지는 마스크 버퍼 값 설정 단계는,

   상기 마스터 이미지에 설정된 각각의 다각형 크기와 동일한 크기의 마스크 버퍼를 생성하여 "1"로 초기화하는 마스크 버퍼 초기화 단계;

   상기 마스터 이미지의 다각형의 외각선 위치와 동일한 위치의 마스크 버퍼 값을 "0"으로 설정하는 다각형 외각선 설정 단계;

   상기 마스크 버퍼에서 "0"으로 설정된 다각형 외각선을 기준으로 다각형의 내부 또는 외부를 판단하여 마스크 버퍼의 값을 완성하는 단계;

   로 이루어지는 것을 특징으로 하는 상기 탭 또는 씨오에프의 외형 검사 속도 향상 방법.
4. 제 3 항에 있어서,

   상기 마스터 이미지의 다각형 외각선 위치와 동일한 위치의 마스크 버퍼 값을 "0"으로 설정하는 다각형의 외각선 설정은,

   상기 마스터 이미지에 설정된 다각형의 인접한 점으로 직선의 방정식을 구하고, 직선상에 있는 동일한 위치의 마스크 버퍼의 값을 "0"으로 설정함을 특징으로 하는 상기 탭 또는 씨오에프의 외형검사 속도 향상 방법.
5. 제 3 항에 있어서,

   상기 마스크 버퍼에서 "0"으로 설정된 다각형 외각선을 기준으로 다각형의 내부 또는 외부를 판단하는 마스크 버퍼 값을 완성하는 단계는,

   상기 마스크 버퍼의 값이 "0"인지 확인하는 단계;

   상기 마스크 버퍼의 값이 "0"인 경우에 영역 판별을 시도하는 단계;

   상기 영역 판별 결과 영역의 내부인 경우 마스크 버퍼 값을 "0"으로 설정하는 단계;

   로 이루어지는 것을 특징으로 하는 상기 탭 또는 씨오에프의 외형검사 속도 향상 방법.
6. 제 1 항에 있어서,

   상기 마스터 이미지의 각 영역별 환경설정에 따른 마스터 이미지의 정보 추출을 위한 영역 판별이 마스크 버퍼 값에 의해 이루지고 마스터 이미지의 정보가 추출되는 단계는,

   상기 마스터 이미지의 위치와 동일한 위치의 마스크 버퍼의 값을 읽어서 마스크 버퍼의 값이 영역의 내부를 나타내는 경우 적용된 환경설정에 따른 마스터 이미지 정보를 추출하는 것을 특징으로 하는 탭 또는 씨오에프의 외형검사 속도 향상 방법.
7. 제 1 항에 있어서,

   상기 검사 대상 이미지의 기준점에서 상대적으로 동일한 위치에 있는 마스크 버퍼의 값에 따라 검사 대상 이미지의 영역과 마스터 이미지 영역이 매핑되는 검사 대상 이미지 영역 판별 단계는,

   상기 마스터 이미지의 영역 판별을 위해 사용되었던 마스크 버퍼 값에 따라 검사 대상 이미지의 영역 판별이 이루어짐을 특징으로 하는 상기 탭 또는 씨오에프의 외형검사 속도 향상 방법.