KR100396660B1 - Method and apparatus for controlling defect area of optical record medium - Google Patents
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Abstract
광 기록매체의 결함 영역 제어 방법 및 장치에 관한 것으로서, 특히 결함 발생 직전의 안정적인 영역에서 검출되는 TE, FE는 편심이나 기타 영향이 반영되어 수행되던 에러 레벨이므로 상기 안정적인 에러 레벨(TE-avg)과 결함이 검출된 시점에서의 에러 레벨과의 옵셋을 구한 후 상기 옵셋을 결함 구간 처리 방법에 따라 적당히 보상해줌으로써, 안정적으로 광 기록매체의 결함을 처리할 수 있다. 또한, 슬라이스 레벨에 의한 결함 구간의 검출 후 결함임에도 불구하고 처리되지 않은 결함 구간에 대해서는 안정적인 서보 영역의 TE 신호의 마진 내에 들어올때까지 결함 처리함으로써, 광 기록매체의 결함을 더욱 안정적으로 처리할 수 있다.The present invention relates to a method and a device for controlling a defect area of an optical recording medium. In particular, TE and FE detected in a stable area immediately before a defect is generated due to an eccentricity or other influence, so that the stable error level (TE-avg) and After obtaining an offset with an error level at the time of detecting a defect, the offset can be compensated appropriately according to a method of processing a defect section, whereby the defect of the optical recording medium can be stably processed. In addition, despite the defect after the detection of the defect section by the slice level, the unprocessed defect section can be treated with defects until it falls within the margin of the TE signal of the stable servo region, thereby making it possible to more stably handle the defect of the optical recording medium. have.
Description
본 발명은 광 기록매체 기록 재생 장치에 관한 것으로서, 특히 광 기록매체의 결함 영역을 검출하여 처리하는 광 기록매체의 결함 영역 제어 방법 및 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an optical recording medium recording and reproducing apparatus, and more particularly, to a method and apparatus for controlling a defective area of an optical recording medium for detecting and processing a defective area of an optical recording medium.
일반적으로, 광 기록매체는 크게 CD 계열과 DVD 계열로 나뉘어진다. 즉, 기존의 시디롬(CD-ROM) 타이틀이 갖고 있는 저장 용량이 점차 한계점에 도달함에 따라 DVD(Digital Versatile Disc)가 새로운 저장매체로서 각광받고 있다. 상기 DVD는 CD와 구현 원리에 있어서는 크게 다르지 않다. 즉, 레이저를 이용하여 반사되는 각도로 0과 1의 데이터를 인식하는 CD와 똑같은 원리로 데이터를 인지한다. 다만 차이가 있다면 CD에 비해 데이터의 저장 폭이 미세하다는 것이다.In general, optical recording media are largely divided into CD series and DVD series. In other words, as the storage capacity of an existing CD-ROM title reaches a limit point, a DVD (Digital Versatile Disc) is in the spotlight as a new storage medium. The DVD is not much different from the CD in terms of implementation. That is, the data is recognized on the same principle as a CD that recognizes data of 0 and 1 at an angle reflected by a laser. The difference is that the data storage is smaller than the CD.
이때, 상기 CD, DVD와 같은 광 기록매체들은 표면의 긁힘, 먼지 등의 미진, 제작시의 오류 등에 의해 결함(defect)이 발생되기도 한다.At this time, the optical recording media such as CD and DVD may have defects due to scratches on the surface, dust such as dust, errors in production, and the like.
또한, 재기록 가능형 광 기록 매체의 경우, 그 사용 특성상 정보의 기록/재생 작업이 반복적으로 수행되는데, 이로 인해 광 기록 매체에 정보 기록을 위해 형성된 기록층을 구성하는 혼합물의 기록 특성이 초기의 기록 특성과 달라지게 되어 그 특성을 잃어버림으로써 정보의 기록/재생시 오류가 발생된다. 이러한 현상을 열화라고 하는데, 이 열화된 영역은 광 기록매체의 포맷, 기록, 재생 수행시 결함 영역(Defect Area)으로 나타나게 된다. 또한, 이러한 결함 영역은 디스크 표면의 손상 등에 의해서도 발생할 수가 있다.In addition, in the case of a rewritable optical recording medium, the recording / reproducing operation of information is repeatedly performed due to its use characteristics, whereby the recording characteristics of the mixture constituting the recording layer formed for recording information on the optical recording medium are initially recorded. It is different from the characteristics and loses the characteristics, and an error occurs when recording / reproducing information. This phenomenon is called deterioration, and this deteriorated area appears as a defective area when performing the format, recording, and reproduction of the optical recording medium. Such defective areas may also occur due to damage to the surface of the disk or the like.
이러한 결함 영역은 보통 RF 신호의 왜곡으로부터 검출한다. 즉, RF 신호를 로우패스 필터링(또는 엔벨로프)한 후, 이를 슬라이스 레벨로 슬라이스함으로써, 결함 영역을 표시하는 디지털 펄스를 생성한다.This defect area is usually detected from distortion of the RF signal. That is, by low pass filtering (or enveloped) the RF signal, and then slicing it to the slice level, a digital pulse representing a defective area is generated.
도 1은 편심에 의한 대물렌즈 이동도를 보이고 있고, 도 2의 (a) 내지 (c)는 결함 영역의 검출 과정을 보이고 있다. 즉, 도 2의 (b)는 도 2의 (a)의 박스 부분을 확대한 것이고, 도 2의 (c)는 상기 도 2의 (b) 부분에서 기 설정된 슬라이스 레벨로 RF 신호를 슬라이스하여 결함 처리 구간을 검출하는 예를 보이고 있다.1 shows the objective lens mobility due to eccentricity, and FIGS. 2A to 2C show a detection process of a defective area. That is, (b) of FIG. 2 is an enlarged box portion of (a) of FIG. 2, (c) of FIG. 2 (c) slices an RF signal at a preset slice level in the (b) portion of FIG. An example of detecting a processing section is shown.
도 2의 (c)에서 기 결정된 슬라이스 레벨로 RF 신호를 슬라이스하면 결함 영역(Th)이 검출된다.When the RF signal is sliced at the slice level determined in FIG. 2C, the defective area Th is detected.
이때, 실제 결함 영역은 Tf + Th + Tb 구간이지만, 슬라이스 레벨에 의해 검출되는 Th 구간만 결함 처리된다. 즉, Th가 결함 처리 구간이 된다. 여기서, Tf는 실제는 결함 영역이지만 슬라이스 레벨에 의한 결함 검출 시 미 검출된 지연 결함 구간이고, Tb도 실제는 결함 영역이지만 슬라이스 레벨에 의한 결함 검출시 미 검출된 결함 구간이다.At this time, the actual defect area is a Tf + Th + Tb section, but only the Th section detected by the slice level is defect processed. That is, Th becomes a defect processing section. Here, Tf is actually a defective area but a undetected delayed defect section when detecting defects by the slice level, and Tb is a defective area which is actually a defective area but undetected when detecting defects by the slice level.
즉, 광 기록매체 기록 재생 장치는 상기 디지털 펄스 구간(Th)동안 TE, FE를 적당한 레벨로 홀드함으로써, 결함에 의해 이들 서보가 오동작하는 것을 방지하고 있다.That is, the optical recording medium recording and reproducing apparatus holds TE and FE at an appropriate level during the digital pulse section Th, thereby preventing these servos from malfunctioning due to defects.
일 예로, 도 2의 (b)에서와 같이 결함에 의해 발생한 TE 옵셋을 구한 후 상기 결함 처리 구간(Th)에서 TE 옵셋만큼 TE 신호를 보상하는 방법이 있다.As an example, there is a method of compensating the TE signal by the TE offset in the defect processing section Th after obtaining the TE offset generated by the defect as shown in FIG.
여기서, 상기 결함 처리 구간(Th)에서 보상되어야 할 TE 옵셋은 하기의 수학식 1과 같이 구할 수 있다.Here, the TE offset to be compensated for in the defect processing section Th may be obtained as shown in Equation 1 below.
상기 수학식 1에서 TE_avg는 실제 결함 영역 전(예, Tf 구간 전) TE의 소구간 평균값이고, TE_defect는 검출된 결함 처리 구간(즉, Th 구간) 전 결함(즉, Th의 시작 부분)에 의해 발생된 TE 옵셋이다.In Equation 1, TE_avg is an average value of a small section of TE before the actual defect area (eg, before the Tf section), and TE_defect is a defect (ie, the beginning of Th) before the detected defect processing section (ie, the Th section). TE offset generated.
그러면, 도 2의 (b)에서와 같이 상기 결함 처리 구간(Th)에서는 보상된 결함처리 TE 레벨(TE_hold)로 TE 신호를 홀드하여 트랙킹 서보를 수행한다. 즉, 결함 영역 처리시 상기 옵셋(±△V)을 보상하는 방향으로 옵셋을 처리하여 결함을 보상한다. 예컨대, 보상되어할 옵셋이 +△V으로 검출되면 반대로 -△V만큼 보상한 TE로 트랙킹 서보를 수행한다.Then, in the defect processing section Th, as shown in (b) of FIG. 2, a tracking servo is performed by holding the TE signal at the compensated defect processing TE level TE_hold. That is, the defect is compensated for by processing the offset in the direction of compensating the offset (± ΔV) during the defect area processing. For example, if an offset to be compensated for is detected as + ΔV, the tracking servo is performed with TE compensated by -ΔV.
이때, 상기 슬라이스 레벨을 너무 높게 설정하거나 너무 낮게 설정하면 문제가 발생할 수 있다.In this case, if the slice level is set too high or too low, problems may occur.
즉, 슬라이스 레벨을 높게 설정 예컨대, 결함이 민감하게 검출되도록 설정하면 실제 결함에 있어서는 안정적이지만 그만큼 민감해져서 실제 결함이 아닌 경우또는, 짧은 구간의 결함도 모두 결함 영역으로 검출하여 처리하게 된다.In other words, if the slice level is set high, for example, a defect is sensitively detected, it is stable for an actual defect but becomes sensitive enough so that a defect in a short section or even a short section of defects is detected and processed.
이는 재생 품질의 열화 및 기록시에는 치명적 악영향을 미치게 된다. 즉, 짧은 스크래치나 지문 등에 의해서도 RF 신호가 왜곡될 수 있지만 이때 검출되는 영역에서는 그대로 데이터를 기록하여야 한다. 그런데, 슬라이스 레벨을 높게 설정하면 상기된 영역도 모두 결함 처리 구간으로 검출하므로 기록시 비상 상태가 자주 발생한다. 그럴때마다 광 파워가 높아지므로 기록에 악영향을 주게 된다.This has a fatal adverse effect on deterioration and recording of reproduction quality. That is, the RF signal may be distorted even by a short scratch or fingerprint, but the data should be recorded as it is in the detected area. However, if the slice level is set high, all of the above-mentioned areas are also detected as defect processing sections, so that an emergency state occurs frequently during recording. Each time, the optical power is increased, which adversely affects the recording.
한편, 반대로 슬라이스 레벨을 낮게 설정 예컨대, 결함이 둔감하게 검출되도록 슬라이스 레벨을 설정하면 결함으로 처리할 결함 영역인데도 검출하지 못하는 경우가 발생할 수 있다. 즉, 이 경우에는 Tf, Tb 구간이 늘어나게 되고, 실제 결함을 처리해야 하는 결함 처리 구간(Th)은 상대적으로 짧아진다. 따라서, 결함 처리 구간에서 충분히 결함 처리를 하지 못함으로써, 기록/재생 품질에 영향을 미친다.On the other hand, if the slice level is set low, for example, if the slice level is set so that the defect is detected insensitively, it may occur that the detection is not possible even though the defect area is to be treated as a defect. In other words, in this case, the Tf and Tb sections are increased, and the defect processing section Th, which should deal with the actual defects, becomes relatively short. Therefore, insufficient defect processing in the defect processing section affects the recording / reproducing quality.
특히, 이러한 문제는 실제 결함으로 검출되는 영역(Th) 이외의 구간(Tf, Tb)이 시간적으로 길어지게 되는 저 배속일수록 커진다.In particular, this problem becomes larger at low speeds in which the sections Tf and Tb other than the area Th detected as actual defects become longer in time.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 결함을 검출하는 슬라이스 레벨을 적절하게 설정하고, 결함 처리 구간은 슬라이스 레벨에 의해 검출되는 결함 구간보다 길게 연장함으로써, 안정적으로 결함 영역을 처리하는 광 기록매체의 결함 영역 제어 방법 및 장치를 제공함에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to stably set a slice level for detecting a defect, and to extend the defect processing section longer than the defect section detected by the slice level. A defect area control method and apparatus for an optical recording medium for processing an area are provided.
도 1은 편심에 의한 대물렌즈의 이동 예를 보여주는 일반적인 도면1 is a general view showing an example of the movement of the objective lens by the eccentric
도 2a, 2b는 결함 신호 생성 원리를 보여주는 도면2A and 2B show the principle of fault signal generation
도 3은 본 발명에 따른 광 기록매체의 결함 영역 제어 장치의 구성 블록도3 is a block diagram of a defect area control apparatus for an optical record carrier according to the present invention;
도면의 주요부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for main parts of the drawings
301 : 구간별 평균값 산출부 302 : 저장부301: section average calculation unit 302: storage unit
303 : 결함 처리부 304 : 결함 검출부303: Defect processing unit 304: Defect detection unit
305 : 서보 제어부305: servo control unit
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광 기록매체의 결함 영역 제어 방법은, 결함 구간 검출을 위한 슬라이스 레벨 설정 단계와, 안정 영역의 제어 신호 레벨과 결함 영역 시작시의 제어 신호 레벨과의 차를 구하여 옵셋을 구하는 단계와, 상기 옵셋값을 이용하여 결함 구간으로 검출된 영역 동안 적용될 최종 제어 신호 레벨을 결정하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method for controlling a defect area of an optical recording medium, comprising: setting a slice level for detecting a defect section, a control signal level of a stable area, and a control signal level at the start of a defect area; Obtaining an offset by obtaining a difference, and determining a final control signal level to be applied during an area detected as a defect section by using the offset value.
상기 최종 제어 신호 레벨이 적용되는 결함 영역의 길이는 상기 슬라이스 레벨에 의해 검출되는 결함 영역 구간보다 더 긴 것을 특징으로 한다.The length of the defect area to which the final control signal level is applied is longer than the defect area section detected by the slice level.
상기 최종 제어 신호 레벨이 적용되는 결함 영역의 길이는 상기 결함 영역에서 검출되는 제어 신호가 상기 안정 영역에서 검출된 제어 신호의 일정 마진 내에 들어올 때까지 연장되는 것을 특징으로 한다.The length of the defective area to which the final control signal level is applied is extended until the control signal detected in the defective area falls within a certain margin of the control signal detected in the stable area.
상기 최종 제어 신호 레벨이 적용되는 결함 영역의 길이를 산출하는 방법은 이전의 안정 영역의 트랙 에러 신호 레벨을 기초로 하여 디스크의 편심양을 고려하여 결정하는 것을 특징으로 한다.The method for calculating the length of the defective area to which the final control signal level is applied is determined in consideration of the eccentricity of the disc based on the track error signal level of the previous stable area.
상기 최종 제어 신호 레벨이 적용되는 결함 영역의 길이를 산출하는 방법은 이전의 안정 영역의 포커스 에러 신호 레벨을 기초로 하여 디스크의 면진양을 고려하여 결정하는 것을 특징으로 한다.The method for calculating the length of the defective area to which the final control signal level is applied may be determined in consideration of the amount of surface isolation of the disk based on the focus error signal level of the previous stable area.
본 발명에 따른 광 기록매체의 결함 영역 제어 장치는, 광 픽업 내의 광 검출기로부터 출력되는 전기 신호를 이용하여 RF 및 FE, TE와 같은 제어 신호를 생성하여 광 기록매체의 결함 영역을 제어하는 장치에 있어서, 슬라이스 레벨을 설정하고, 설정된 슬라이스 레벨로 상기 RF 신호를 슬라이스하는 결함 검출부와, 지시된 구간별로 상기 제어 신호의 평균값을 구하여 저장하며, 상기 결함 검출부에서 결함 영역 검출시 안정 영역의 제어 신호를 출력하는 평균값 산출 및 저장부와, 상기 안정 영역의 제어 신호 레벨과 결함 영역 시작시의 제어 신호 레벨과의 차를 구하여 옵셋을 구한 후 상기 옵셋값을 이용하여 최종 제어 신호 레벨을 결정하고 상기 최종 제어 신호 레벨이 적용될 결함 영역의 길이를 구하는 결함 처리부와, 상기 최종 제어 신호 레벨로 상기 결함 구간으로 검출된 영역 동안 서보를 수행하는 서보 제어부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.An apparatus for controlling a defect area of an optical record carrier according to the present invention is a device for controlling a defect area of an optical record carrier by generating control signals such as RF, FE, and TE using an electrical signal output from an optical detector in an optical pickup. The method may include setting a slice level, a defect detector for slicing the RF signal at a set slice level, and obtaining and storing an average value of the control signal for each of the indicated intervals, and detecting the control signal of the stable region when detecting the defect region. Calculates and outputs an average value outputting and storing unit and a difference between the control signal level of the stable region and the control signal level at the start of the defective region, and then uses the offset value to determine the final control signal level. A defect processing unit for obtaining a length of a defect area to which a signal level is to be applied; And a servo controller which performs the servo during the region detected as the defect section.
본 발명의 다른 목적, 특징 및 잇점들은 첨부한 도면을 참조한 실시예들의 상세한 설명을 통해 명백해질 것이다.Other objects, features and advantages of the present invention will become apparent from the following detailed description of embodiments taken in conjunction with the accompanying drawings.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
본 발명은 결함을 검출하는 슬라이스 레벨은 안정된 레벨로 적절하게 설정하고, 실제 결함 처리 구간은 상기 슬라이스 레벨에 의해 검출되는 결함 처리 구간보다 길게 연장함으로써, 안정적으로 결함을 처리하는데 있다.In the present invention, the slice level for detecting a defect is appropriately set to a stable level, and the actual defect processing section extends longer than the defect processing section detected by the slice level, thereby stably processing the defect.
도 3은 본 발명에 따른 광 기록매체의 결함 영역 제어 장치의 구성 블록도로서, 광 픽업 내의 광 검출기로부터 출력되는 전기 신호를 이용하여 RF 및 FE, TE와 같은 서보 에러 신호를 생성하는 RF 및 서보 에러 생성부(300), 지시된 시간(average time) 동안 서보 에러 신호의 평균값을 구하는 구간별 평균값 산출부(301), 상기 서보 에러 신호의 평균값을 저장하는 저장부(302), RF 신호를 기 설정된 슬라이스 레벨로 슬라이스하여 결함 영역을 검출하는 결함 검출부(304), 상기 RF 및 서보 에러 생성부(300)에서 생성된 서보 에러 신호, 구간별 평균값 산출부(301)의 출력과 저장부(302)의 출력, 그리고 결함 검출부(304)의 출력으로부터 실제 결함 처리 구간을 결정하고, 상기 결정된 결함 처리 구간에서 처리할 결함 서보 에러 레벨(TE_hold)을 결정하여 출력하는 결함 처리부(303), 및 노말시에는 상기 RF 및 서보 에러 생성부(300)에서 생성된 서보 에러 신호를 이용하고, 결함 영역에서는 상기 결함 처리부(303)에서 출력되는 결함 서보 에러 레벨로 트랙킹 서보 및 포커스 서보를 수행하는 서보 제어부(305)로 구성된다.3 is a block diagram illustrating an apparatus for controlling a defect area of an optical record carrier according to the present invention. FIG. The error generating unit 300, the section average value calculating unit 301 for obtaining the average value of the servo error signal during the indicated time (average time), the storage unit 302 for storing the average value of the servo error signal, and the RF signal The defect detection unit 304 which slices at a set slice level and detects a defect area, the output of the servo error signal generated by the RF and servo error generation unit 300, the average value calculation unit 301 for each section, and the storage unit 302. A defect processing unit 303 which determines an actual defect processing section from the output of the error detection unit 304 and an output of the defect detection unit 304, and determines and outputs a defect servo error level TE_hold to be processed in the determined defect processing section. And a servo that performs tracking servo and focus servo using a servo error signal generated by the RF and servo error generation unit 300 at a normal time, and a defect servo error level output from the defect processing unit 303 in a defect area. The control unit 305 is configured.
여기서, 상기 서보 에러 신호는 TE 신호일 수도 있고, FE 신호일 수도 있으며, 본 발명에서는 TE 신호를 이용하는 것을 실시예로 설명한다. 이때, FE에 대해서도 그대로 적용할 수 있으며, 대신 편심이란 용어는 면진으로 대치된다.Here, the servo error signal may be a TE signal or an FE signal. In the present invention, the use of the TE signal will be described as an embodiment. In this case, the FE can be applied as it is, and the term eccentricity is replaced by seismic isolation.
이와 같이 구성된 본 발명에서 결함 영역을 검출하는 결함 검출부(304)는 RF 신호를 기 설정된 슬라이스 레벨로 슬라이스하여 결함 영역(Th)을 검출한 후 결함 처리부(303)와 서보 제어부(305)로 출력한다. 이때, 상기 슬라이스 레벨은 너무 높거나 낮지 않게 사용자가 안정적인 레벨로 적절하게 설정할 수 있는데, 일 예로 전체 대비 약 50% 정도로 설정할 수 있다. 이는 설계자에 의해 달라질 수 있다.In the present invention configured as described above, the defect detector 304 detecting the defect region slices an RF signal to a preset slice level, detects the defect region Th, and outputs the defect region Th to the defect processor 303 and the servo controller 305. . In this case, the slice level may be appropriately set by the user to a stable level so that the slice level is not too high or low. For example, the slice level may be set to about 50% of the whole. This can be varied by the designer.
그리고, 상기 결함 영역을 검출하기 위하여 소스로 RF 신호를 사용하는데, 결함 영역을 검출할 수 있는 신호이면 상기 RF 신호 대신 소스로 사용할 수 있다.In addition, an RF signal is used as a source to detect the defective area, and a signal capable of detecting the defective area may be used as a source instead of the RF signal.
한편, 구간별 평균값 산출부(301)는 RF 및 서보 에러 생성부(300)에서 생성된 TE 신호를 정해진 구간 동안 즉, 지시된 시간(average time) 동안 평균한 후 결함 처리부(303)와 저장부(302)로 출력한다. 상기 저장부(302)는 선입선출(First In First Output ; FIFO)로 구성할 수 있으며, TE 신호의 구간별 에러값을 설정된 시간 간격으로 저장하고 있다가 결함 검출시 안정적인 서보 에러 신호 예컨대 TE_avg 신호를 결함 처리부(303)로 출력한다.Meanwhile, the average value calculator 301 for each section averages the TE signal generated by the RF and servo error generator 300 for a predetermined period, that is, for an indicated time, and then the defect processor 303 and the storage unit. Output at 302. The storage unit 302 may be configured as a first in first output (FIFO). The storage unit 302 stores an error value for each section of the TE signal at a set time interval, and generates a stable servo error signal such as a TE_avg signal when detecting a defect. It outputs to the defect processing part 303.
상기 결함 처리부(303)는 결함이 검출되면 즉, 결함 검출부(304)에서 결함 처리 구간(Th) 신호가 입력되면 이때 검출되는 TE 값과 안정적인 영역의 TE 값으로 보상되어질 TE 신호의 옵셋(±△V)을 생성한다. 즉, 상기 결함 처리부(304)에서 결함 영역이 검출되었을 때 상기 구간별 평균값 산출부(301)에서 결함 처리부(303)로 출력되는 신호(TE_defect)가 결함이 검출된 시점에서의 TE 신호의 레벨이 되고, 상기 저장부(302)에서 상기 결함 처리부(303)로 출력되는 TE 신호(TE_avg)가 안정된 영역에서 검출된 TE 신호의 레벨이 된다. 이때, 상기 결함이 검출된 시점에서의 TE 신호는 이미 결함에 의해서 왜곡되어 있다.When a defect is detected, that is, when a defect processing section Th signal is input from the defect detection unit 304, the defect processing unit 303 offsets the TE signal to be compensated by the TE value detected at this time and the TE value of the stable region. Produces V). That is, when the defect area is detected by the defect processing unit 304, the signal TE_defect output from the average value calculation unit 301 to the defect processing unit 303 by the section is at a level when the defect is detected. The TE signal TE_avg output from the storage unit 302 to the defect processing unit 303 becomes the level of the TE signal detected in the stable region. At this time, the TE signal at the time when the defect is detected is already distorted by the defect.
따라서, 보상되어야 할 TE 신호의 옵셋(±△V)는 상기된 수학식 1과 같이 구할 수 있다. 즉, 안정된 영역에서 검출된 TE 신호의 평균값(TE_avg)에서 결함이 검출된 시점에서의 TE 신호의 평균값(TE_defect)을 빼면 된다. 이때, 상기저장부(302)는 안정된 영역 즉, 실제 결함 영역 전(예컨대, Tf 전)에서의 TE 신호의 평균값을 출력하기 위해 안정된 서보 영역의 어드레스를 입력받을 수 있으며, 이때는 상기 어드레스에 저장된 TE 신호의 평균값이 결함 처리부(303)로 출력된다.Therefore, the offset (± ΔV) of the TE signal to be compensated for may be obtained as shown in Equation 1 above. That is, the average value TE_defect of the TE signal at the time when a defect is detected is subtracted from the average value TE_avg of the TE signal detected in the stable region. In this case, the storage unit 302 may receive an address of a stable servo area in order to output an average value of the TE signal in a stable area, that is, before the actual defective area (eg, before Tf), in which case the TE stored in the address The average value of the signals is output to the defect processing unit 303.
상기 결함 처리부(303)는 보상되어질 옵셋(±△V)이 구해지면 결함 구간 처리 방법에 따라 상기 옵셋(±△V)을 이용하여 최종 TE 신호(TE_hold)를 생성한 후 제어부(305)로 출력한다.When the offset (± ΔV) to be compensated is obtained, the defect processing unit 303 generates a final TE signal (TE_hold) using the offset (± ΔV) according to a defect section processing method, and then outputs the final TE signal (TE_hold) to the controller 305. do.
여기서, 상기 결함 구간 처리 방법은 여러 가지가 있을 수 있으며, 다음은 그 방법들의 예이다.Here, the defect interval processing method may be various, and the following are examples of the methods.
일반적으로 수행되는 결함 바로 직전의 서보 에러로 홀드하는 방법,A method of holding to a servo error immediately before a commonly performed fault,
결함 구간은 서보 에러 처리 게인을 크게 낮추는 방법, 그리고Fault intervals are a method of significantly lowering the servo error processing gain, and
결함 구간에도 어느 정도 올바른 TE 정보가 있을 것을 대비하여 TE를 낮은 대역의 LPF로 처리하는 방법 등을 이용할 수 있다.In case there is some correct TE information in the defect section, a method of treating the TE with a low band LPF may be used.
만일, 결함 처리 구간동안 TE 신호를 일정 전압으로 홀드하는 경우에는 TE_avg 신호를 그대로 적용할 수 있다. 또한, TE를 로우 패스 필터(LPF)로 저역 필터링하는 경우에는 저역 필터링된 TE(TElpf)에 상기 옵셋(±△V)을 더하여 홀드시킬 최종 TE 신호(TE_hold)를 생성한다. 또는 결함 구간에서 에러 처리 게인을 낮추는 경우에는 게인을 적절히 더하거나 빼주면 된다.If the TE signal is held at a constant voltage during the defect processing period, the TE_avg signal may be applied as it is. In addition, when the TE is low-pass filtered by the low pass filter LPF, the offset (± ΔV) is added to the low-pass filtered TE (TElpf) to generate the final TE signal TE_hold to be held. Alternatively, if the error processing gain is lowered in the defect section, the gain may be added or subtracted as appropriate.
이때, 결함 영역을 좀 더 안정적으로 처리하기 위하여 본 발명은 슬라이스 레벨에 의해 검출된 결함 처리 구간보다 실제 결함 처리 구간을 더 연장할 수 있다.In this case, in order to process the defect area more stably, the present invention may extend the actual defect processing section more than the defect processing section detected by the slice level.
즉, 상기 결함 영역에서 검출되는 TE 또는 TE_avg가 일정 마진(TE_avg±Vm)이 될 때까지 상기 생성된 최종 TE 신호(TE_hold)를 계속 홀드하는 것이다.That is, the generated final TE signal TE_hold is held until the TE or TE_avg detected in the defective area reaches a certain margin TE_avg ± Vm.
예를 들어, 슬라이스 레벨에 의해 검출된 결함 처리 구간(Th)이 끝나는 시점에서 검출된 TE 또는 TE_avg가 일정 마진(TE_avg±Vm) 내에 들어오면 결함이 모두 처리되었다고 판단하고 그에 따른 제어 신호를 제어부(305)로 출력하고, 일정 마진(TE_avg±Vm) 내에 들어오지 않으면 일정 마진(TE_avg±Vm) 내에 들어올 때까지 결함 처리 구간을 연장하면서 결함 처리 구간임을 나타내는 제어 신호를 상기 제어부(305)로 출력한다. 이때, Tb 구간이 짧아지거나 없어질 수 있으므로 실제 결함 처리 구간은 최대 Th+Tb 구간까지 연장된다. 즉, 최대 Th+Tb 구간까지 최종 TE 신호(TE_hold)로 트랙킹 서보를 수행함을 의미한다. 여기서, 상기 Vm양은 편심(또는 면진)등의 영향을 고려하여 실험에 의해 구해질 수 있다.For example, when the detected TE or TE_avg comes within a certain margin (TE_avg ± Vm) at the end of the defect processing section Th detected by the slice level, it is determined that all the defects have been processed and the control signal according to the control unit ( 305, and if it is not within the predetermined margin TE_avg ± Vm, a control signal indicating that the defect processing section is extended to the control unit 305 while extending the defect processing section until it is within the predetermined margin TE_avg ± Vm. At this time, since the Tb section may be shortened or disappeared, the actual defect processing section is extended up to a maximum Th + Tb section. That is, the tracking servo is performed with the final TE signal TE_hold up to the maximum Th + Tb period. Here, the amount of Vm can be obtained by experiment in consideration of the influence of eccentricity (or isolation).
이와 같이 종래에는 검출된 결함 처리 구간(Th) 동안에만 결함 처리를 하였으나, 본 발명에서는 슬라이스 레벨에 의해 검출된 결함 처리 구간(Th) 뿐만 아니라 미 검출된 결함 처리 구간(Tb)에서도 결함 처리를 함으로써, 안정적으로 결함 영역을 처리할 수 있다.As described above, the defect processing is performed only during the detected defect processing section Th. However, in the present invention, the defect processing is performed not only in the defect processing section Th detected by the slice level but also in the undetected defect processing section Tb. The defect area can be processed stably.
상기 제어부(305)는 제어 신호에 따라 즉, 현재 결함 처리 구간임을 나타내면 상기 옵셋(±△V)이 보상된 최종 TE 레벨(TE_hold)로 트랙킹 서보를 수행하고, 상기 제어 신호가 결함 처리 구간이 끝남음을 나타내면 즉, 노말 구간에서는 상기 RF 및 서보 에러 생성부(300)에서 출력되는 TE 레벨로 트랙킹 서보를 수행한다.The control unit 305 performs tracking servo to the final TE level (TE_hold) in which the offset (± ΔV) is compensated according to the control signal, that is, the current defect processing section, and the control signal ends the defect processing section. In other words, in the normal period, the tracking servo is performed at the TE level output from the RF and servo error generation unit 300.
이때, 트랙킹에 있어서 결함 처리인 경우에는 TE 신호를 사용하고, FE 구간에서는 동일 방법으로 TE 대신 FE 신호를 사용한다.In this case, the TE signal is used for defect processing in tracking, and the FE signal is used instead of TE in the same manner in the FE section.
즉, 결함 발생 직전의 안정적인 영역에서 검출되는 TE, FE는 편심(또는 면진)이나 기타 영향이 반영되어 수행되던 에러 레벨이므로 상기 안정적인 에러 레벨(TE-avg)과 결함이 검출된 시점에서의 에러 레벨(TE-defect : 이미 결함에 의해서 TE, FE가 왜곡되어 있음)과의 옵셋을 구한 후 상기 옵셋을 결함 구간 처리 방법에 따라 적당히 보상해줌으로써, 안정적으로 광 기록매체의 결함을 처리할 수 있게 된다.That is, since the TE and FE detected in the stable area immediately before the occurrence of the defect are the error levels performed by reflecting the eccentricity (or isolation) or other influence, the stable error level (TE-avg) and the error level at the time when the defect is detected (TE-defect: TE and FE are already distorted due to defects) and then compensate the offset appropriately according to the method of processing the defect section, thereby stably handling defects in the optical recording medium. .
또한, 결함 구간의 검출 후 결함임에도 불구하고 처리되지 않은 결함 구간(Tb 구간)에 대해서도 안정적인 서보 영역의 TE 신호의 마진 내에 들어올때까지 최종 TE 신호(TE_hold)로 서보를 수행함으로써, 광 기록매체의 결함을 더욱 안정적으로 처리할 수 있게 된다. 이때 마진의 양은 편심(또는 면진)의 영향을 고려하여 정하도록 하여야 한다.In addition, even after the detection of the defective section, the servo is performed with the final TE signal (TE_hold) for the unprocessed defect section (Tb section) until it falls within the margin of the TE signal of the stable servo region. Defects can be handled more reliably. The amount of margin should be determined in consideration of the effects of eccentricity (or isolation).
이상에서와 같이 본 발명에 따른 광 기록매체의 결함 영역 제어 방법 및 장치에 의하면, 결함 처리 구간을 안정되게 검출하고, 상기 결함에 의해 발생한 옵셋을 결함 발생 직전의 안정된 서보 영역의 값으로 보상해줌으로써, 광 기록매체의 기록 재생시 기록/재생 품질을 향상시킬 수 있다.As described above, according to the method and apparatus for controlling a defective area of an optical recording medium according to the present invention, by stably detecting a defect processing section and compensating an offset caused by the defect with a value of a stable servo area immediately before a defect is generated. In this case, the recording / reproducing quality can be improved during recording and reproducing of the optical recording medium.
특히, 본 발명은 슬라이스 레벨에 의해 결함으로 검출되는 영역(Th) 이외의 구간(Tf, Tb)이 시간적으로 길어지게 되는 저 배속에서도 안정적으로 결함을 처리할 수 있다.In particular, the present invention can stably handle defects even at a low speed where the sections Tf and Tb other than the region Th detected as defects by the slice level become longer in time.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술 사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
따라서, 본 발명의 기술적 범위는 실시예에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의하여 정해져야 한다.Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the embodiments, but should be defined by the claims.
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