KR100361693B1 - 온도 보상용 트리밍장치 - Google Patents

온도 보상용 트리밍장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100361693B1
KR100361693B1 KR1019990037654A KR19990037654A KR100361693B1 KR 100361693 B1 KR100361693 B1 KR 100361693B1 KR 1019990037654 A KR1019990037654 A KR 1019990037654A KR 19990037654 A KR19990037654 A KR 19990037654A KR 100361693 B1 KR100361693 B1 KR 100361693B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
resistors
temperature compensation
temperature
reference resistors
value
Prior art date
Application number
KR1019990037654A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20010026365A (ko
Inventor
이경탁
김찬
Original Assignee
주식회사 케이이씨
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 케이이씨 filed Critical 주식회사 케이이씨
Priority to KR1019990037654A priority Critical patent/KR100361693B1/ko
Publication of KR20010026365A publication Critical patent/KR20010026365A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100361693B1 publication Critical patent/KR100361693B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L1/00Measuring force or stress, in general
    • G01L1/20Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress
    • G01L1/22Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress using resistance strain gauges
    • G01L1/2268Arrangements for correcting or for compensating unwanted effects
    • G01L1/2281Arrangements for correcting or for compensating unwanted effects for temperature variations
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L19/00Details of, or accessories for, apparatus for measuring steady or quasi-steady pressure of a fluent medium insofar as such details or accessories are not special to particular types of pressure gauges
    • G01L19/02Arrangements for preventing, or for compensating for, effects of inclination or acceleration of the measuring device; Zero-setting means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L9/00Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
    • G01L9/02Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in ohmic resistance, e.g. of potentiometers, electric circuits therefor, e.g. bridges, amplifiers or signal conditioning
    • G01L9/04Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in ohmic resistance, e.g. of potentiometers, electric circuits therefor, e.g. bridges, amplifiers or signal conditioning of resistance-strain gauges
    • G01L9/045Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in ohmic resistance, e.g. of potentiometers, electric circuits therefor, e.g. bridges, amplifiers or signal conditioning of resistance-strain gauges with electric temperature compensating means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

개시된 온도 보상용 트리밍장치는 온도 특성의 정밀 제어가 요구되는 각종 집적소자 및 각종 센서의 신호 처리회로 등에 사용되어 온도 보상을 조정하는 것이다.
소정의 기준 온도계수를 가지고 상호간에 직렬 연결되어 바이어스 전압 또는 동작 값을 설정하는 복수의 기준 저항과, 온도 보상을 위하여 복수의 기준 저항과 상이한 온도계수를 가지고 복수의 기준 저항과 각기 동일한 값을 가짐과 아울러 그 복수의 기준 저항에 직렬 연결되는 복수의 온도 보상용 저항과, 복수의 기준 저항에 각기 병렬 접속되어 그 복수의 기준 저항을 개방시키고 인위적으로 복수의 기준 저항을 각기 쇼트시킬 수 있는 복수의 쇼트 수단과, 복수의 온도 보상용 저항에 각기 병렬 접속되어 그 온도 보상용 저항을 각기 쇼트시키고 인위적으로 복수의 온도 보상용 저항을 개방시킬 수 있는 복수의 개방 수단을 구비하여, 설정할 온도계수에 따라 복수의 기준 저항을 선택적으로 쇼트시키고, 선택적으로 쇼트시킨 복수의 기준 저항과 동일한 값을 가지는 복수의 온도 보상용 저항을 선택적으로 개방시켜 전체 합성 저항의 값에는 변동을 주지 않으면서 온도계수의 값을 조정한다.

Description

온도 보상용 트리밍장치{Trimming apparatus for temperature compensation}
본 발명은 온도 특성의 정밀 제어가 요구되는 각종 집적소자 및 각종 센서의 신호 처리회로 등에 사용되어 온도 보상을 조정하는 온도 보상용 트리밍장치에 관한 것이다.
일반적으로 온도 특성의 정밀 제어가 필요한 각종 집적소자나, 각종 센서의 신호를 처리하여 출력하는 신호 처리회로 등에서는 온도의 변화에 관계없이 정확하게 동작할 수 있도록 하기 위하여 온도 보상을 하고 있다.
종래에는 정확한 온도 보상을 위하여 집적회로 등을 설계할 경우에 저항 등의 파라미터를 동일한 공정 조건 등으로 제조하고 있다.
그러나 온도 보상을 위하여 정확하게 설계하여도 제조공정에서 오차가 발생할 수 있는 것으로서 이 공정 오차에 의하여 정확하게 온도 보상을 할 수 없었다.
그리고 미국특허 제5,042,307호에서는 직류적인 출력 특성의 보상과, 온도보상용 트리밍 저항의 트리밍 방법을 제시하고 있다.
그러나 상기 미국특허 제5,042,307호는 온도 보상을 위하여 저항 값을 조정할 경우에 직류 특성에 영향을 주게 되는 문제점이 있었다.
따라서 본 발명의 목적은 직류 특성에는 아무런 영향을 주지 않고, 공정 오차 및 실제 집적소자의 특성상의 오차를 정확하게 보상할 수 있는 온도 보상용 트리밍장치를 제공하는데 있다.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 온도 보상용 트리밍장치에 따르면, 소정의 기준 온도계수를 가지고 상호간에 직렬 연결되어 바이어스 전압 또는 동작 값을 설정하는 복수의 기준 저항; 온도 보상을 위하여 상기 복수의 기준 저항과 상이한 온도계수를 가지고 상기 복수의 기준 저항과 각기 동일한 값을 가짐과 아울러그 복수의 기준 저항에 직렬 연결되는 복수의 온도 보상용 저항; 상기 복수의 기준 저항에 각기 병렬 접속되어 그 복수의 기준 저항을 개방시키고 인위적으로 복수의 기준 저항을 각기 쇼트시킬 수 있는 복수의 쇼트 수단인 다이오드; 및 상기 복수의 온도 보상용 저항에 각기 병렬 접속되어 그 온도 보상용 저항을 각기 쇼트시키고 인위적으로 복수의 온도 보상용 저항을 개방시킬 수 있는 복수의 개방 수단인 퓨즈를 구비하는 것을 특징으로 한다.
도 1은 본 발명의 온도 보상용 트리밍장치를 보인 회로도이고,
도 2는 본 발명의 온도 보상용 트리밍장치의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*
R11, R12, R13,ㆍㆍㆍ, R1N : 복수의 기준 저항
R21, R22, R23,ㆍㆍㆍ, R2N : 복수의 온도 보상용 저항
D1, D2, D3,ㆍㆍㆍ, DN : 복수의 쇼트 수단(다이오드)
FU1, FU2, FU3,ㆍㆍㆍ, FUN : 복수의 개방 수단(퓨즈)
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 온도 보상용 트리밍장치를 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 온도 보상용 트리밍장치를 보인 회로도이다.
여기서, 부호 R11, R12, R13,ㆍㆍㆍ, R1N은 소정의 기준 온도계수를 가지고 상호간에 직렬 연결되어 바이어스 전압 또는 동작 값 등을 설정하는 복수의 기준 저항이고, 부호 R21, R22, R23,ㆍㆍㆍ, R2N은 온도 보상을 위한 소정의 온도계수를 가지고 상기 복수의 기준 저항(R11, R12, R13,ㆍㆍㆍ, R1N)에 직렬 연결되는 복수의 온도 보상용 저항이다.
상기 각각의 온도 보상용 저항(R21, R22, R23,ㆍㆍㆍ, R2N)은 상기 각각의 기준 저항(R11, R12, R13,ㆍㆍㆍ, R1N)과 각기 동일한 값으로 설정한다.
부호 D1, D2, D3,ㆍㆍㆍ, DN은 상기 복수의 기준 저항(R11, R12, R13,ㆍㆍㆍ, R1N)에 각기 병렬 접속되어 그 복수의 기준 저항(R11, R12, R13,ㆍㆍㆍ, R1N)을 개방시키고 인위적으로 복수의 기준 저항(R11, R12, R13,ㆍㆍㆍ, R1N)을 각기 쇼트시키는 복수의 쇼트 수단인 다이오드이다.
부호 FU1, FU2, FU3,ㆍㆍㆍ, FUN은 상기 복수의 온도 보상용 저항(R21, R22, R23,ㆍㆍㆍ, R2N)에 각기 병렬 접속되어 온도 보상용 저항(R21, R22, R23,ㆍㆍㆍ, R2N)을 각기 쇼트시키고 인위적으로 복수의 온도 보상용 저항(R21, R22, R23,ㆍㆍㆍ, R2N)을 개방시킬 수 있는 복수의 개방 수단인 퓨즈이다.
이와 같이 구성된 본 발명의 온도 보상용 트리밍장치는 설정할 온도 보상 값에 따라 복수의 쇼트 수단인 다이오드(D1, D2, D3,ㆍㆍㆍ, DN)를 선택적으로 쇼트시켜 복수의 기준 저항(R11, R12, R13,ㆍㆍㆍ, R1N)이 선택적으로 쇼트되게 함과 아울러 선택적으로 쇼트시킨 다이오드(D1, D2, D3,ㆍㆍㆍ, DN)가 병렬 접속된 복수의 기준 저항(R11, R12, R13,ㆍㆍㆍ, R1N)과 동일한 값을 가지는 복수의 온도 보상용 저항(R21, R22, R23,ㆍㆍㆍ, R2N)에 병렬 접속된 복수의 개방 수단인 퓨즈(FU1, FU2, FU3,ㆍㆍㆍ, FUN)를 선택적으로 개방시킨다.
그러면, 양단(A)(B) 사이의 전체 저항 값은 변동되지 않으면서 온도 보상 값만 조정된다.
예를 들면, 도 2에 도시된 바와 같이 복수의 기준 저항(R11, R12, R13)의 온도계수가 1000ppm/℃이고, 복수의 온도 보상용 저항(R21, R22, R23)의 온도계수가 4000ppm/℃이며, 저항(R11, R21)의 값은 10㏀이고, 저항(R12, R22)의 값은 5㏀이며, 저항(R13, R23)의 값은 2㏀이라고 가정하면, 양단(A)(B) 사이의 전체 저항 값은 17㏀이고, 온도계수는 1000ppm/℃이다.
여기서, 온도계수를 조정하기 위하여 다이오드(D1)를 쇼트시킴과 아울러 퓨즈(FU1)를 개방시킬 경우에 양단(A)(B) 사이의 전체 저항 값은 17㏀으로 변동되지 않고, 온도계수는 다음의 수학식 1과 같이 2765ppm/℃로 조정된다.
(4000 × 10 + 1000 × 7) / 17 ≒ 2765ppm/℃
그리고 다이오드(D2)를 쇼트시킴과 아울러 퓨즈(FU2)를 개방시킬 경우에 양단(A)(B) 사이의 전체 저항 값은 17㏀으로 변동되지 않고, 온도계수는 다음의 수학식 2와 같이 1882ppm/℃로 조정된다.
(1000 × 12 + 4000 × 5) / 17 ≒ 1882ppm/℃
또한 다이오드(D3)를 쇼트시킴과 아울러 퓨즈(FU3)를 개방시킬 경우에 양단(A)(B) 사이의 전체 저항 값은 17㏀으로 변동되지 않고, 온도계수는 다음의 수학식 3과 같이 1353ppm/℃로 조정된다.
(1000 × 15 + 4000 × 2) / 17 ≒ 1353ppm/℃
이상에서와 같이 본 발명에 따르면, 복수의 기준 저항과 각기 값은 동일하면서 온도계수가 상이한 복수의 온도 보상용 저항을 구비하여 설정할 온도계수에 따라 복수의 기준 저항을 선택적으로 쇼트시킴과 아울러 그 선택적으로 쇼트시킨 복수의 기준 저항과 동일한 값을 가지는 복수의 온도 보상용 저항을 선택적으로 개방시킴으로써 전체 합성 저항의 값에는 변동을 주지 않으면서 온도계수의 값을 조정하여 온도 보상을 할 수 있다.

Claims (3)

  1. 소정의 기준 온도계수를 가지고 상호간에 직렬 연결되어 바이어스 전압 또는 동작 값을 설정하는 복수의 기준 저항;
    온도 보상을 위하여 상기 복수의 기준 저항과 상이한 온도계수를 가지고 상기 복수의 기준 저항과 각기 동일한 값을 가짐과 아울러 그 복수의 기준 저항에 직렬 연결되는 복수의 온도 보상용 저항;
    상기 복수의 기준 저항에 각기 병렬 접속되어 그 복수의 기준 저항을 개방시키고 인위적으로 복수의 기준 저항을 각기 쇼트시킬 수 있는 복수의 쇼트 수단; 및
    상기 복수의 온도 보상용 저항에 각기 병렬 접속되어 그 온도 보상용 저항을 각기 쇼트시키고 인위적으로 복수의 온도 보상용 저항을 개방시킬 수 있는 복수의 개방 수단으로 구성됨을 특징으로 하는 온도 보상용 트리밍장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 복수의 쇼트 수단은;
    다이오드인 것을 특징으로 하는 온도 보상용 트리밍장치.
  3. (정정) 제 1 항에 있어서, 상기 복수의 개방 수단은;
    퓨즈인 것을 특징으로 하는 온도 보상용 트리밍장치.
KR1019990037654A 1999-09-06 1999-09-06 온도 보상용 트리밍장치 KR100361693B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990037654A KR100361693B1 (ko) 1999-09-06 1999-09-06 온도 보상용 트리밍장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990037654A KR100361693B1 (ko) 1999-09-06 1999-09-06 온도 보상용 트리밍장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20010026365A KR20010026365A (ko) 2001-04-06
KR100361693B1 true KR100361693B1 (ko) 2002-11-22

Family

ID=19610214

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019990037654A KR100361693B1 (ko) 1999-09-06 1999-09-06 온도 보상용 트리밍장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100361693B1 (ko)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100745947B1 (ko) * 1998-12-30 2008-01-09 주식회사 하이닉스반도체 셀프 리프레쉬 장치_
KR100475736B1 (ko) * 2002-08-09 2005-03-10 삼성전자주식회사 고속 테스트에 적합한 편이온도 검출회로를 갖는온도감지기 및 편이온도 검출방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR20010026365A (ko) 2001-04-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0039215B1 (en) Temperature compensating voltage generator circuit
EP3471255A1 (en) Sensing network mismatch compensation for switching voltage regulator with input voltage and current sensing
US7365588B2 (en) Automatic time constant adjustment circuit
US8373408B2 (en) High precision algorithmically assisted voltage divider with fault detection
US9709452B2 (en) Systems and methods for compensating a sensor
US8415979B2 (en) Differential driver with calibration circuit and related calibration method
US10268226B1 (en) Voltage generating device and calibrating method thereof
US20180145026A1 (en) Method for adjusting circuit characteristics with trimming technology in integrated circuits
US7889048B2 (en) Resistor network and variable resistor simulator
US20070296384A1 (en) Method of forming a feedback network and structure therefor
US20190227586A1 (en) Resistance calibration
KR100361693B1 (ko) 온도 보상용 트리밍장치
US6452405B1 (en) Method and apparatus for calibrating a current sensing system
US7164259B1 (en) Apparatus and method for calibrating a bandgap reference voltage
KR0138161B1 (ko) 차동증폭기 동상모드 이상 정정 방법
KR950003599B1 (ko) 자동차용 센서장치
US20050184824A1 (en) Termination impedance tuning circuit
US8415971B2 (en) Transceiving circuit and transceiving circuit resistance calibration method
US6854076B2 (en) Method and apparatus for calibration of an electronic device
JP4710119B2 (ja) センサ回路
EP3860313B1 (en) Temperature measurement from luminaire sensors
US11455000B2 (en) Bias current generation circuit
KR100382580B1 (ko) 감열식 유량계
US20100295522A1 (en) Semiconductor device having voltage regulator
US6927624B2 (en) Method and circuit for improving control of trimming procedure

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee