KR100355558B1 - 음극선관용펀넬결합체의검사장치및검사방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은, 유리펀넬과 그 정부에 결합되어 있는 유리넥크로 이루어진 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다. 본 검사장치는, 상기 넥크가 상향배치되도록 상기 펀넬결합체를 지지하는 지지플랫폼을 갖는 프레임과, 상기 펀넬을 상기 지지플랫폼상의 기준위치에 유지하는 위치설정수단과, 상기 프레임에 상기 넥크의 축선에 대해 반경방향으로 이동가능하게 설치되며, 상기 넥크의 외표면에 접촉하여 신호를 발생하는 둘 이상의 프루브를 갖는 검출수단과, 상기 프루브의 이동을 제어하며 상기 프루브로부터의 신호를 미리 설정된 기준값에 비교하여 상기 펀넬에 대한 상기 넥크의 편심도 및 기울기를 포함한 기하학적 상태를 평가하는 제어부를 포함한다. 이에 의해, 펀넬에 대한 넥크의 기하학적 상태를 정확히 평가할 수 있다.
Description
본 발명은, 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치 및 검사방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 유리펀넬과 그 정부에 결합되어 있는 유리넥크로 이루어진 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다.
음극선관은, 화상이 형성되는 유리패널과, 패널의 배면에 부착되는 깔때기 형상의 유리펀넬과, 펀넬의 정부에 결합되는 관상의 유리넥크를 가진다. 넥크내에는 화상을 형성하는 전자총이 수용된다.
넥크의 축선이 펀넬의 축선에 대해 편위되거나 기울어질 경우에는 전자총이 제위치에 유지될 수 없으므로 양질의 화상을 형성할 수 없게 된다. 그래서, 펀넬과 넥크의 접합공정이 완료된 후, 펀넬결합체는 펀넬에 대한 넥크의 편심도 및 기울기를 측정하여 그 양부를 판단하는 검사공정을 거친다.
도 1은 종래의 음극선관용 펀넬결합체 검사장치의 정면도이고, 도 2는 도 1의 검사장치를 이용하여 펀넬결합체의 검사과정을 설명하기 위한 확대정면도이다. 이들 도면에 도시된 바와 같이, 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치(이하에서는 검사장치로 표기함)는, 검사될 펀넬결합체(109)를 지지하는 지지플랫폼(102)을 갖는 프레임(101)과, 프레임(101)에 설치된 스탠드(103)와, 스탠드(103)에 지지되어 승강가능한 검출유니트(104)를 가진다. 스탠드(105)에는 검출유니트(104)의 초기위치설정을 위한 승강조절을 위해 수동조작용 핸들(105)이 마련되어 있다. 초기의 위치설정이후에는 도시않은 구동수단에 의해 조작버턴을 누르면 검출유니트(104)가 자동적으로 승강한다.
검사될 펀넬결합체(109)는 지지플랫폼(102) 상에 넥크(113)가 상향되도록 적치된다. 펀넬(114)의 하단스커트(115)에는 펀넬(114)의 기준포인트를 나타내는 세 개의 패드(112)가 마련되어 있고, 지지플랫폼(102) 상에는 이들 패드(112)에 대응하는 위치에 마련되어 펀넬결합체(109)의 검사위치를 설정하는 세 개의 스톱퍼(110)가 설치되어 있다.
검출유니트(104)는 넥크(113)의 축선을 따라 하향연장된 원기둥형태의 프루브로드(106)와, 프루브로드(106)의 외벽면에 돌출 및 철회가능한 상부 및 하부프루브(107, 108)들을 갖는다. 상부 및 하부프루브(107, 108)는 프루브로드(106)에 각 세 개가 등각도 간격으로 배치되어 있다. 이들 프루브(107, 108)는 도시않은 제어부에 검출된 신호를 제공한다.
이러한 구성에 의하여, 검사될 펀넬결합체(109)는, 지지플랫폼(102)상에 적치되고 펀넬(114)의 3개의 기준패드(112)가 각 스톱퍼(110)에 접촉한 상태로 고정유지된다. 그런 다음, 소정의 조작버튼을 누르면 검출유니트(104)의 프루브로드(106)가 하강하여 넥크(13)의 내부에 삽입된다. 검출유니트(104)가 설정된 위치까지 하강하면, 프루브로드(106)의 상부프루브(107) 및 하부프루브(108)는 넥크(113)의 내벽면에 접촉될 때까지 돌출되었다가 다시 철회된다. 각 프루브(107, 108)들의 돌출거리에 해당하는 신호는 제어부에 제공되고, 제어부는 이들 신호에 기초하여 넥크(113)의 편심도 및 기울기를 평가한다. 동일 평면내의방사상으로 배치된 3개의 프루브로부터 제공된 신호를 상호 비교함으로써, 해당 높이위치에서의 넥크의 편심도를 알 수 있고, 상부 및 하부프루브간의 신호를 비교함으로써 넥크의 기울기의 정도를 평가할 수 있다.
그런데, 이러한 종래의 검사장치에 있어서는, 프루브가 넥크의 내벽면에 접촉하여 검출하기 때문에, 넥크의 내경이 커지거나 작아질 경우에는 검출유니트를 그에 상응하도록 별도로 제작하여야 한다. 즉, 다양한 크기의 펀넬결합체에 대해 각각 전용의 검출유니트를 마련하여야 되므로, 검출유니트의 제작과 관련한 비용이 소요될 뿐만아니라, 검출유니트의 교체에 시간과 인력이 소요된다는 문제점이 있다. 또한, 경우에 따라서는 펀넬결합체를 지지하는 지지플랫폼도 함께 교체하여야 한다.
또한, 종래의 검사장치에서는 스톱퍼에 의해 기준검사위치에 고정된 펀넬에 대한 넥크의 상대위치를 평가하여 네크결합의 양부를 판단한다. 따라서, 넥크의 편심결함이나 기울기 결함이 있는 것으로 평가된 경우에도, 그 결함이 네크의 시일링과정에 기인하지 아니하고, 펀넬 검사위치의 잘못된 설정이나 펀넬 자체의 왜곡등의 윤곽결함에 기인할 수 있다. 이러한 오류는 종래의 검사장치에서 보정되지 못하고, 네크결합의 불량으로 처리되었다.
따라서, 본 발명의 목적은, 다양한 크기의 펀넬결합체에 대해 펀넬과 넥크의 접합상태를 신속하고 정확하게 검출할 수 있는 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치 및 검사방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은, 넥크결합상태와 펀넬의 윤곽검사를 동시에 행할 수 있는 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치 및 검사방법을 제공하는 것이다.
도 1은 종래의 음극선관용 펀넬결합체 검사장치의 정면도,
도 2는 도 1의 검사장치에 의한 검사방법을 설명하기 위한 확대정면도,
도 3은 펀넬결합체의 사시도,
도 4는 펀넬결합체의 평면도,
도 5는 본 발명에 따른 음극선관용 펀넬결합체 검사장치의 정면도,
도 6은 도 5의 검사장치의 평면도,
도 7은 지지플랫폼의 확대평면도,
도 8은 검사과정의 설명을 위한 확대정면도,
도 9는 본 발명에 따른 검사장치의 제어블럭도이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
20 : 프레임 21 : 지지플랫폼
22 : 지지블럭 24 : 스톱퍼
25 : 푸싱유니트 28 : 이젝팅유니트
22 : 고정공 33 : 상부프루브
34 : 하부프루브 40 : 프루브액츄에이터
61-68 : 윤곽검사 프루브
상기 목적은, 본 발명에 따라, 유리펀넬과 그 정부에 결합되어 있는 유리넥크로 이루어진 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치에 있어서, 상기 넥크가 상향배치되도록 상기 펀넬결합체를 지지하는 지지플랫폼을 갖는 프레임과; 상기 펀넬을 상기 지지플랫폼상의 기준위치에 유지하는 위치설정수단과; 상기 프레임에 상기 넥크의 축선에 대해 반경방향으로 이동가능하게 설치되며, 상기 넥크의 외표면에 접촉하여 신호를 발생하는 프루브를 갖는 검출수단과; 상기 프루브의 이동을 제어하며 상기 프루브로부터의 신호를 미리 설정된 기준값에 비교하여 상기 펀넬에 대한 상기 넥크의 편심도 및 기울기를 포함한 기하학적 상태를 평가하는 제어부를 포함하는 검사장치에 의해 달성된다.
상기 검출수단은, 상기 넥크의 축선에 대해 방사상으로 배치되도록 상기 프레임에 설치된 스탠드와, 상기 각 스탠드에 설치되어 상기 프루브를 상기 넥크에 대해 이동시키는 액츄에이터를 포함할 수 있다. 넥크의 편심도와 기울기를 동시에 검사하기 위하여, 상기 각 스탠드에는 상기 넥크의 축선방향을 따라 상하배치되는 한 쌍이상의 상부 및 하부프루브가 부속되어 있는 것이 바람직하다.
그리고, 위치설정수단은, 상기 지지플랫폼상에 고정되어 상기 펀넬의 외벽면에 접촉하는 하나 이상의 스톱퍼와, 상기 지지플랫폼상에 설치되어 상기 펀넬을 상기 스톱퍼를 향하여 미는 하나 이상의 푸싱유니트로 간단히 구성될 수 있다. 이때, 다양한 크기의 펀넬결합체를 검사할 수 있도록 상기 스톱퍼의 설치위치를 변경할 수 있는 수단이 마련되어 있는 것이 바람직하다. 이 스톱퍼 설치위치 가변수단은, 검사될 펀넬결합체의 크기에 대응하여 상기 지지플랫폼상에 형성된 다수의 스톱퍼고정공과, 상기 스톱퍼를 상기 고정공에 체결하는 고정볼트로 간단히 구성될 수 있다.
또한, 펀넬의 스커트 윤곽검사를 위해, 상기 지지플랫폼상에 설치되어 상기 펀넬의 하단스커트의 외벽면에 접촉 및 이격가능하도록 배치된 둘 이상의 윤곽검사 프루브를 더 포함하고, 상기 제어부는 상기 윤관검사 프루브로부터의 신호에 기초하여 상기 하단스커트의 형상을 평가하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 목적은, 유리펀넬과 그 정부에 결합되어 있는 유리넥크로 이루어진 음극선관용 펀넬결합체의 검사방법에 있어서, 상기 펀넬결합체를 기준위치에 고정유지하는 단계와; 둘 이상의 프루브를 상기 넥크의 축선에 대해 반경방향으로 이동시켜 상기 넥크의 외표면에 접촉시키는 단계와; 상기 프루브로부터의 신호에 기초하여 상기 펀넬에 대한 상기 넥크의 편심도 및 기울기를 포함한 기하학적 상태를 평가하는 단계를 포함하는 검사방법에 의해서도 달성된다.
여기서, 복수의 윤곽검사 프루브를 상기 펀넬의 하단스커트의 외벽면에 접촉시키는 단계와, 상기 윤곽검사 프루브로부터의 신호를 미리 설정된 기준값에 비교하여 펀넬윤곽의 기하학적 상태를 평가하는 단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 대하여 상세히 설명한다.
도 3은 검사될 음극선관용 펀넬결합체의 사시도이고, 도 4는 그 평면도이다.펀넬결합체(10)는 깔때기형상의 펀넬(11)과 그 정부에 결합되는 관상의 넥크(12)로 이루어진다. 펀넬(11)의 하단영역에는 패널과의 결합을 위한 시일엣지를 형성하는 스커트(14)가 형성되어 있다. 펀넬(11)의 평면형상은 도 4에 도시된 바와 같이 거의 장방형을 나타낸다. 스커트(14)에는 펀넬(11)의 기하학적 형상의 기준이 되는 세 개의 패드(15a, 15b, 15c)가 형성되어 있다. 펀넬(11)의 일 장변측에 두 개의 패드(15a, 15b)가 배치되어 있고, 일 단변측에 하나의 패드(15c)가 배치되어 있다.
도 5는 이러한 음극선관용 펀넬결합체의 검사를 위한 본 발명에 따른 검사장치의 정면도이고, 도 6은 그 평면도이다. 도 5는 설명의 편리를 위해 다소 개략적으로 도시되어 있어 도 6과 반드시 일치하지는 않음을 언급해둔다. 이들 도면에 도시된 바와 같이, 본 검사장치는, 상면에 수평의 평탄한 지지플랫폼(21)를 갖는 프레임(20)과, 프레임(20)으로부터 상향연장된 세 개의 스탠드(23)를 갖는다. 세 개의 스탠드(23)는 검사될 펀넬결합체(10)의 축선에 대해 등각도 간격으로 배치되어 있다. 각 스탠드(23)는 검출유니트(30)를 지지한다.
지지플랫폼(21)상에는, 검사될 펀넬결합체(10)를 평탄하게 지지하기 위한 세 개의 지지블럭(22)이 설치되어 있다. 지지블럭(22)들은 펀넬결합체(10)의 세 모서리의 하부에 배치되어 펀넬(11)의 시일엣지에 접촉하여, 넥크(12)가 상향위치하도록 펀넬결합체(10)를 수평되게 지지한다.
지지플랫폼(21)상에는 또한, 펀넬(11)의 세 패드(15a, 15b, 15c)에 대응하는 위치에 마련된 세 개의 스톱퍼(24)가 설치되어 있다. 각 스톱퍼(24)는 펀넬(11)의 스커트(14)의 외벽면에 접촉하는 멈춤부재(24a)를 갖는다. 각 스톱퍼(24)에 대향하여 세 개의 푸싱유니트(25)가 배치되어 있다. 각 푸싱유니트(25)는, 실린더(26)와, 이 실린더(26)에 의해 펀넬 스커트(14)의 외벽면을 가압하는 가압부재(27)를 갖는다. 검사될 펀넬결합체(10)가 지지블럭(22)상에 적치되면, 푸싱유니트(25)의 실린더(26)가 동작하여 가압부재(27)가 펀넬(11)을 밀어 스톱퍼(24)에 접촉되도록 한다. 이에 의해, 검사될 펀넬결합체(10)는 미리 설정된 기준위치에 확고히 고정되게 된다. 또한, 지지플랫폼(21)상에는 푸싱유니트(25)와 동일한 형태의 이젝팅유니트(28)가 마련되어 있다. 이젝팅유니트(28)는 장변측 스톱퍼(24)와 단변측 스톱퍼(24) 사이에서 펀넬결합체(10)의 모서리를 밀수 있도록 배치되어, 검사가 종료된 펀넬결합체(10)를 퇴출시키는 역할을 한다.
지지플랫폼(21)상에는 또한, 펀넬(11)의 둘레에 배치되는 8개의 윤곽검사 프루브(61-68)가 마련되어 있다. 이들 윤곽검사 프루브(61-68)는, 도 4에 도시된 8개의 검사위치(P1, P2, P5, P8, P9, P10, P13, P16)에 대응하여 배치되어 있다. 이들 프루브(61-68)는 펀넬(11)의 스커트(14)의 외벽면에 접촉하여 그에 따른 신호를 발생하고, 그 신호를 후술할 제어부에 제공함으로써 펀넬(11)의 스커트(14)에 관한 기하학적 형상의 양부를 판단할 수 있도록 한다. 이들 프루브(61-68)는 미세 변위량에 비례하는 전압을 출력하는 소위 선형차동트랜스퍼머로 구성되며, 이들에 의해 출력된 전압은 제어부에서 수평이동거리값으로 각각 환산된다.
각 검출유니트(30)는, 해당 스탠드(23)를 따라 승강가능하게 설치되어 있는 지지부재(38)에 지지되어 있다. 지지부재(38)는 스탠드(23)의 상단에 설치된 핸들(32)에 의해 높이 조절되어, 검출유니트(30)가 펀넬결합체(10)의 크기에 따라검출위치를 벼경할 수 있도록 한다. 검출유니트(30)는 지지부재(38)상에 고정된 액츄에이터(40)와, 액츄에이터(40)의 구동로드(41)에 연결되어 수평방향으로 전진 및 후퇴가능한 프루브블럭(35)을 갖는다. 프루브블럭(35)의 안정된 수평이동을 안내하기 위해 구동로드(41)와 평행하게 안내로드(42)가 마련되어 있다. 액츄에이터(40)에는 구동로드(41)의 이동한계를 설정하는 한쌍의 리미트센서(44, 45)가 마련되어, 구동로드(41)의 과도한 이동을 제한한다.
프루브블럭(35)에는 상하 한쌍의 프루브(33, 34)가 설치되어 있다. 이들 프루브(33, 34)는 액츄에이터(40)에 의해 넥크(12)의 축선에 가로방향 즉 반경방향으로 이동하여 넥크(12)의 외벽면에 접촉할 수 있으며, 접촉시 신호를 발생하여 후술할 제어부에 제공한다. 이들 프루브(33, 34)는 윤곽검사 프루브(61-68)들과 마찬가지로 선형차동트랜스퍼머로 이루어져 있다.
도 7은 지지플랫폼(21)상의 유니트들이 장착되지 아니한 상태를 나타낸 지지플랫폼(21)의 평면도이다. 지지플랫폼(21)에는, 지지블럭(22), 스톱퍼(24) 및 스탠드(23), 푸싱유니트(25), 이젝팅유니트(28) 등을 장착하기 위한 다수의 고정공(29)이 형성되어 있다. 이 고정공(29)들은, 스톱퍼장착부(51a, 51b, 51c), 지지블럭장착부(57a, 57b, 57c), 푸싱유니트장착부(52a, 52b, 52c), 스탠드장착부(59a, 59b, 59c), 이젝팅유니트장착부(53)로 나뉘어진다. 각 유니트들의 장착위치를 변경할 수 있도록 하기 위해, 각 장착부에는 다수의 여분의 고정공(29)이 마련되어 있다. 이에 의해, 검사될 펀넬결합체(10)의 크기가 변경되더라도, 각 유니트들의 설치위치를 적절히 변경함으로써, 사이즈가 상이한 펀넬결합체(10) 예를 들어 4:3 비율의소위 레귤러타입과 16:9 비율을 가지는 소위 와이드타입의 펀넬결합체를 하나의 지지플랫폼(21)상에 재치하여 검사를 행할 수 있다.
도 8은 펀넬결합체(10)의 검사과정을 설명하기 위한 확대정면도이고, 도 9는 본 검사장치의 제어블럭도이다.
검사될 펀넬결합체(10)는 지지플랫폼(21)상의 지지블럭(22)에 적치되어 있다. 펀넬결합체(10)는 스톱퍼(24)와 푸싱유니트(25)에 의해 수평방향에서 소정의 기준위치에 고정된다. 펀넬결합체(10)가 기준위치에 고정되면, 8개의 윤곽검사 프루브(61-68)가 해당 액츄에이터의 작용에 의해 펀넬 스커트(14)의 외벽면에 접촉한다. 그런 다음, 검출유니트(30)의 액츄에이터(40)가 동작하여 넥크검사 프루브(33, 34)를 넥크(12)의 외벽면에 접근시킨다. 푸싱유니트(25), 윤곽검사 프루브(61-68)의 액츄에이터들 및 넥크검사 프루브(33, 34)의 액츄에이터(40)는 도 9에 도시된 제어부(43)에 의해 제어된다.
도 9에 도시된 바와 같이, 제어부(43)는 윤곽검사 프루브(61-68) 및 넥크검사 프루브(33, 34)들로부터 신호를 입력받아, 스커트(14)의 윤곽의 양부와 넥크결합상태의 양부를 평가한다.
제어부(43)는, 윤곽검사 프루브(61-68)들로부터의 신호에 기초하여, 각 종축선으로부터 기준포인트를 설정하는 패드(15a, 15b, 15c)까지의 거리(NA, NB, NC)를 포함한 윤곽파라미터들을 구하고, 그 값들을 기설정된 소정의 기준값들과 비교하여 허용범위내에 있는지를 판단한다. 이들 윤곽파라미터들이 허용범위를 벗어나면 제어부(43)는 펀넬(11)이 불량임을 표시하고, 허용범위내에 있으면 넥크(12)의 검사에 들어간다.
제어부(43)는 상부 프루브(33)와 하부 프루브(34)로부터의 신호에 기초하여 펀넬(11)에 대한 넥크(12)의 편심도와 기울기를 평가한다. 편심도는 동일평면내에 방사상으로 배치된 세 개의 하부 프루브(34)로부터의 신호를 상호 비교하거나 미리 설정되어 있는 기준값과 비교하여 그 정도가 평가된다. 그리고, 기울기는, 대응하는 한쌍의 상부 및 하부 프루브(33, 34)간의 신호값을 상호 비교하여 평가한다. 편심도와 기울기가 소정의 허용범위내에 있으면, 네크결합상태는 양호한 것으로 표시되고, 그렇지 않으면 불량으로 처리된다.
윤곽검사 및 네크검사가 종료되면, 제어부(43)는 네크검사 프루브(33, 34)의 액츄에이터(40)와 윤곽검사 프루브(61-68)의 액츄에이터들을 동작시켜 펀넬결합체(10)로부터 이격시키고, 푸싱유니트(25)를 해제시킨다. 그런 다음, 이젝팅유니트(28)를 동작시켜 펀넬결합체(10)를 지지플랫폼(21)상으로부터 일정거리 밀어낸다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 검사장치 및 검사방법에서는, 넥크검사용 프루브가 네크의 외벽면에 방사상으로 접촉하여 네크의 결합상태를 검사하므로, 펀넬결합체의 크기에 관계없이 검사가 가능하다. 이를 위해, 지지플랫폼에는 펀넬결합체의 지지 및 고정을 위한 유니트들이 펀넬결합체의 종류에 따라 고정위치의 변동이 가능하도록 배려되어 있다. 또한, 본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 넥크검사와 함께 펀넬의 윤곽검사가 동시에 이루어질 수 있으므로, 펀넬의 왜곡 등 기하학적 결함을 용이하게 검사할 수 있고, 펀넬에 결합에 기인한 넥크결합상태의 오판정을 방지할 수 있다.
Claims (9)
- 유리펀넬과 그 정부에 결합되어 있는 유리넥크로 이루어진 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치에 있어서,상기 넥크가 상향배치되도록 상기 펀넬결합체를 지지하는 지지플랫폼을 갖는 프레임과;상기 펀넬을 상기 지지플랫폼상의 기준위치에 유지하는 위치설정수단과;상기 프레임에 상기 넥크의 축선에 대해 반경방향으로 이동가능하게 설치되며, 상기 넥크의 외표면에 접촉하여 신호를 발생하는 프루브를 갖는 검출수단과;상기 프루브의 이동을 제어하며 상기 프루브로부터의 신호를 미리 설정된 기준값에 비교하여 상기 펀넬에 대한 상기 넥크의 편심도 및 기울기를 포함한 기하학적 상태를 평가하는 제어부를 포함하는 검사장치.
- 제 1항에 있어서,상기 검출수단은, 상기 넥크의 축선에 대해 방사상으로 배치되도록 상기 프레임에 설치된 스탠드와, 상기 각 스탠드에 설치되어 상기 프루브를 상기 넥크에 대해 이동시키는 액츄에이터를 포함하는 검사장치.
- 제 2항에 있어서,상기 각 스탠드에는 상기 넥크의 축선방향을 따라 상하배치되는 한 쌍 이상의 상부 및 하부프루브가 부속되어 있는 검사장치.
- 제 1항에 있어서,상기 위치설정수단은, 상기 지지플랫폼상에 고정되어 상기 펀넬의 외벽면에 접촉하는 하나 이상의 스톱퍼와, 상기 지지플랫폼상에 설치되어 상기 펀넬을 상기 스톱퍼를 향하여 미는 하나 이상의 푸싱유니트를 포함하는 검사장치.
- 제 4항에 있어서,상기 스톱퍼의 설치위치를 변경할 수 있는 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 검사장치.
- 제 5항에 있어서,상기 스톱퍼 설치위치 가변수단은, 검사될 펀넬결합체의 크기에 대응하여 상기 지지플랫폼상에 형성된 스톱퍼고정공들과, 상기 스톱퍼를 상기 고정공에 체결하는 고정볼트를 포함하는 검사장치.
- 제 6항에 있어서,상기 지지플랫폼상에 설치되어 상기 펀넬의 하단스커트의 외벽면에 접촉 및 이격가능하도록 배치된 둘 이상의 윤곽검사 프루브를 더 포함하며; 상기 제어부는 상기 윤관검사 프루브로부터의 신호에 기초하여 상기 하단스커트의 형상을 평가하는 검사장치.
- 유리펀넬과 그 정부에 결합되어 있는 유리넥크로 이루어진 음극선관용 펀넬결합체의 검사방법에 있어서:상기 펀넬결합체를 기준위치에 고정유지하는 단계와;둘 이상의 프루브를 상기 넥크의 축선에 대해 반경방향으로 이동시켜 상기 넥크의 외표면에 접촉시키는 단계와;상기 프루브로부터의 신호에 기초하여 상기 펀넬에 대한 상기 넥크의 편심도 및 기울기를 포함하는 기하학적 상태를 평가하는 단계를 포함하는 검사방법.
- 제 8항에 있어서,둘 이상의 윤곽검사 프루브를 상기 펀넬의 하단스커트의 외벽면에 접촉시키는 단계와, 상기 윤곽검사 프루브로부터의 신호를 미리 설정된 기준값에 비교하여 펀넬윤곽의 기하학적 상태를 평가하는 단계를 더 포함하는 검사방법.
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---|---|---|---|---|
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---|---|---|---|---|
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US6837410B1 (en) * | 2000-04-19 | 2005-01-04 | Neng-Kuei Yeh | Automatic picture tube cutting machine |
US6648708B2 (en) * | 2001-06-13 | 2003-11-18 | Sony Corporation | Apparatus and method for measuring cathode-ray tube neck alignment and tilt |
KR100460053B1 (ko) * | 2002-09-13 | 2004-12-04 | 한국전기초자 주식회사 | 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치 |
US7003894B2 (en) * | 2003-03-17 | 2006-02-28 | Forintek Canada Corp. | Surface profile measurement, independent of relative motions |
US7131211B2 (en) * | 2003-08-18 | 2006-11-07 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for measurement of thickness and warpage of substrates |
CN103090840A (zh) * | 2011-10-28 | 2013-05-08 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 平面度检测装置 |
FR3008795B1 (fr) * | 2013-07-18 | 2015-08-28 | Msc & Sgcc | Dispositif de controle dimensionnel de recipients a detection optique de contact |
US9581424B2 (en) * | 2014-12-09 | 2017-02-28 | Tokyo Seimitsu Co., Ltd. | Roundness measuring apparatus |
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Family Cites Families (10)
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---|---|---|---|---|
US3879993A (en) * | 1973-09-28 | 1975-04-29 | Owens Illinois Inc | Method and apparatus for inspecting glass containers |
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US4221053A (en) * | 1978-11-13 | 1980-09-09 | Libbey-Owens-Ford Company | Inspection apparatus |
US4693110A (en) * | 1985-06-06 | 1987-09-15 | Gte Valeron Corporation | Method and apparatus for testing the operability of a probe |
DE3714862A1 (de) * | 1987-05-05 | 1988-11-17 | Mauser Werke Oberndorf | Flexible cnc-vielstellenmesseinrichtung |
FR2617589B1 (fr) * | 1987-06-30 | 1989-12-08 | Inst Francais Du Petrole | Dispositif et methode de mesure des deformations d'un echantillon |
GB9120029D0 (en) * | 1991-09-19 | 1991-11-06 | System E Controls Ltd | Measuring apparatus and method |
US5383948A (en) * | 1993-07-06 | 1995-01-24 | Corning Incorporated | Method and apparatus for crackoff and neck sealing of cathode ray tube funnels |
US5460058A (en) * | 1994-03-02 | 1995-10-24 | Trw Vehicle Safety Systems Inc. | Apparatus and method for inspecting an air bag module |
DE19703690A1 (de) * | 1996-04-15 | 1997-10-16 | Zeiss Carl Fa | Meßeinrichtung zur Vermessung von Werkstücken |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100460050B1 (ko) * | 2002-09-13 | 2004-12-04 | 한국전기초자 주식회사 | 음극선관용 펀넬결합체의 검사장치 |
Also Published As
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JP3267554B2 (ja) | 2002-03-18 |
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