KR100278275B1 - 저전력-고속스택틱캐스코드회로 - Google Patents

저전력-고속스택틱캐스코드회로 Download PDF

Info

Publication number
KR100278275B1
KR100278275B1 KR1019970029639A KR19970029639A KR100278275B1 KR 100278275 B1 KR100278275 B1 KR 100278275B1 KR 1019970029639 A KR1019970029639 A KR 1019970029639A KR 19970029639 A KR19970029639 A KR 19970029639A KR 100278275 B1 KR100278275 B1 KR 100278275B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
pull
output
power supply
terminal
node
Prior art date
Application number
KR1019970029639A
Other languages
English (en)
Other versions
KR19990005442A (ko
Inventor
이선형
Original Assignee
김영환
현대전자산업주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김영환, 현대전자산업주식회사 filed Critical 김영환
Priority to KR1019970029639A priority Critical patent/KR100278275B1/ko
Publication of KR19990005442A publication Critical patent/KR19990005442A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100278275B1 publication Critical patent/KR100278275B1/ko

Links

Images

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

본 발명은 상대적으로 크기가 큰 MOS 트랜지스터로 이루어진 출력수단을 통해 누설전류를 흘리지 않고, 크기가 작은 MOS 트랜지스터를 통해 누설전류를 흐르게 하여 전력 소비를 줄일 수 있는 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로를 제공하기 위한 것으로, 이를 위해 본 발명은 다수의 NMOS 트랜지스터를 구비하여, 다수의 입력단을 통해 입력된 데이터의 입력레벨에 응답하여 소정의 노드를 풀업 구동하는 풀업수단; 상기 노드에 걸리는 전압레벨에 응답하여 출력단을 구동하는 출력수단; 다수의 NMOS 트랜지스터를 구비하여, 상기 다수의 입력단을 통해 입력된 데이터의 입력에 응답하여 상기 출력단을 풀다운 구동하는 풀다운수단; 및 상기 출력수단을 구성하는 트랜지스터의 크기에 비해 상대적으로 작은 크기의 트랜지스터들을 구비하여, 상기 풀업수단의 풀업 구동 시 상기 풀업수단의 NMOS 트랜지스터들의 전달 특성에 의한 상기 노드의 상대적으로 낮은 전원전압 레벨을 상기 출력수단으로 전달되는 것을 차단하고, 상기 상대적으로 작은 크기의 트랜지스터들을 통해 전류를 누설한 후 정상적인 전원전압 레벨을 상기 출력수단으로 전달하여, 회로 전체에 흐르는 누설 전류양을 제어하는 제어 수단을 포함한다.

Description

저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로{LOW POWER AND HIGH SPEED STATIC CASCODE CIRCUIT}
본 발명은 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로(Static Cascode)에 관한 것으로서, 특히 접지로 누설되는 전류량을 줄여 소비전력을 줄일 수 있는 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로에 관한 것이다.
도 1을 참조하여 종래의 스택틱 캐스코드로 구현한 노아게이트를 설명한다.
도 1은 종래의 스택틱 캐스코드 회로의 회로도로서, 도면에 도시된 바와 같이 종래의 스택틱 캐스코드로 구현된 노아게이트는 다수의 입력단(IN1 내지 INn)을 통해 입력된 데이터의 입력에 응답하여 풀업 구동하기 위한 풀업수단(10)과, 풀업수단(10)으로부터 출력된 신호를 반전시켜 출력단(OUT)으로 출력하기 위한 출력수단(20)과, 다수의 입력단(IN1 내지 INn)을 통해 입력된 데이터에 응답하여 출력단(OUT)을 풀다운 구동하기 위한 풀다운하는 풀다운수단(30)을 구비한다.
또한, 종래의 스택틱 캐스코드로 구현된 노아게이트는 전류소오스를 위한 저항수단(40)을 더 구비한다.
구체적으로, 풀업수단(10)은 게이트들이 각각 다수의 입력단(IN1 내지 INn)에 연결되며, 전원전압단과 노드(N1) 사이에 병렬 연결된 다수의 NMOS 트랜지스터(NM1 내지 NMn)로 이루어진다.
그리고, 출력수단(20)은 게이트가 노드(N1)에 각각 연결되며, 전원전압단과 접지전원단 사이에 직렬 연결된 PMOS 트랜지스터(PM20) 및 NMOS 트랜지스터(NM20)로 구성된 CMOS 인버터로 구성된다.
이때, 출력수단(20)의 PMOS 트랜지스터(PM20) 및 NMOS 트랜지스터(NM20)는, 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로의 전체적인 신호를 드라이빙하기 위하여 크기가 매우 크게 구성되어 있다.
또한, 풀다운수단(30)은 게이트가 각각 다수의 입력단(IN1 내지 INn)에 연결되며, 출력단(OUT)과 접지전원단 사이에 병렬 연결된 다수의 NMOS 트랜지스터(NM30-1 내지 NM30-n)로 이루어진다.
마지막으로, 저항수단(40)은 게이트에 전원전압이 인가되고, 노드(N1)와 접지전원단 사이에 연결된 전류소오스용 NMOS 트랜지스터(NM40)로 구성된다.
상기와 같은 구조를 갖는 종래의 스택틱 캐스코드로 구현한 노아게이트의 동작을 설명하면 다음과 같다.
다수의 입력단(IN1 내지 INn)을 통해 모두 '1'의 데이터가 입력되는 경우, 풀업수단(10)의 NMOS 트랜지스터(NM1 내지 NMn)와 풀다운수단(30)의 NMOS 트랜지스터들(NM30-1 내지 NM30-n)이 모두 턴온되어 '1'이 출력수단(20)으로 출력되며, 출력수단(20)은 풀업수단(10)으로부터 출력된 '1'을 반전시켜 '0'을 출력단(OUT)을 통해 출력한다.
다수의 입력단(IN1 내지 INn)을 통해 모두 '0'의 데이터가 입력되는 경우, 풀업수단(10)의 NMOS 트랜지스터(NM1 내지 NMn)와 풀다운수단(30)의 NMOS 트랜지스터(NM30-1 내지 NM30-n)가 모두 턴오프되어 '0'이 출력수단(20)으로 출력되며, 출력수단(20)은 풀업수단(10)으로부터 출력된 '0'을 반전시켜 '1'을 출력단(OUT)을 통해 출력한다.
만일, 다수의 입력단(IN1 내지 INn)을 통해 서로 상반된 신호('0' 및 '1')들이 인가되면, 풀업수단(10)의 NMOS 트랜지스터(NM1 내지 NMn)들 중에 턴온된 NMOS 트랜지스터들을 통해 '1'이 출력수단(20)으로 출력되며, 이어서 출력수단(20)은 풀업수단(10)으로부터 출력된 '1'을 반전시켜 '0'을 출력단(OUT)을 통해 출력한다.
그러나, 상기와 같은 종래의 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로는, 다수의 입력단을 통해 모두 '0'이 입력되면, 전류소오스용 NMOS 트랜지스터(NM40)에 의해 풀업수단(10)의 출력단(N1)이 '0'이 되어야 하므로, 전류소오스용 NMOS 트랜지스터(NM40)의 크기는 다수의 입력단으로 입력되는 신호에 따라 세심한 주의를 필요로 하는 번거로움이 있었으며, 또한 전류소오스용 NMOS 트랜지스터의 크기가 커지면, 전력 소비가 증가되는 문제점이 존재하였다.
또한, 풀업수단(10)이 전원전압단과 노드(N1) 사이에 NMOS 트랜지스터로 연결되어 있으므로, 풀업수단(10)으로부터 출력되는 '1'은 (전원전압-NMOS 트랜지스터의 문턱 전압)만큼의 전압값을 가진다. 이는 "약한 1(week 1)"로 나타낼 수 있고 이러한 "약한 1"이 출력수단의 입력으로 인가되면, 출력수단 내의 NMOS 트랜지스터는 턴온되나 PMOS 트랜지스터는 완전히 턴오프되지 못하여 전원전압단에서 접지전원단으로 누설전류가 흐르게 된다.
더욱이, 종래의 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로의 전체적인 신호를 드라이빙하기 위하여 출력수단의 PMOS 트랜지스터(PM20) 및 NMOS 트랜지스터(NM20)가 매우 크게 구성됨으로써, 전류의 누설이 매우 크게 발생되고, 이에 따라 소비 전력이 커지는 문제점이 존재하였다.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 상대적으로 크기가 큰 MOS 트랜지스터로 이루어진 출력수단을 통해 누설전류를 흘리지 않고, 크기가 작은 MOS 트랜지스터를 통해 누설전류를 흐르게 하여 전력 소비를 줄일 수 있는 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로를 제공하는데 그 목적이 있다.
도 1은 종래의 스택틱 캐스코드 회로의 회로도.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로도.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
10: 풀업수단 20: 출력수단
30: 풀다운수단 40: 저항수단
100: 전류 제어수단
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 다수의 NMOS 트랜지스터를 구비하여, 다수의 입력단을 통해 입력된 데이터의 입력레벨에 응답하여 소정의 노드를 풀업 구동하는 풀업수단; 상기 노드에 걸리는 전압레벨에 응답하여 출력단을 구동하는 출력수단; 다수의 NMOS 트랜지스터를 구비하여, 상기 다수의 입력단을 통해 입력된 데이터의 입력에 응답하여 상기 출력단을 풀다운 구동하는 풀다운수단; 및 상기 출력수단을 구성하는 트랜지스터의 크기에 비해 상대적으로 작은 크기의 트랜지스터들을 구비하여, 상기 풀업수단의 풀업 구동 시 상기 풀업수단의 NMOS 트랜지스터들의 전달 특성에 의한 상기 노드의 상대적으로 낮은 전원전압 레벨을 상기 출력수단으로 전달되는 것을 차단하고, 상기 상대적으로 작은 크기의 트랜지스터들을 통해 전류를 누설한 후 정상적인 전원전압 레벨을 상기 출력수단으로 전달하여, 회로 전체에 흐르는 누설 전류양을 제어하는 제어 수단을 포함하여 이루어진다.
이하, 도 2 및 도 3을 참조하여 본 발명의 바람직한 일실시예를 설명한다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 저전력-고속 스택틱 캐스코드로 구현된 노아 게이트의 회로도이다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 저전력-고속 스택틱 캐스코드로 구현된 노아 게이트 회로는, 도 1과 마찬가지로, 게이트가 각각 다수의 입력단(IN1 내지 INn)에 연결되며, 전원전압단과 노드(N1) 사이에 병렬 연결된 다수의 NMOS 트랜지스터(NM1 내지 NMn)로 이루어진 풀업수단(10)과, 게이트가 노드(N1)에 각각 연결되며, 전원전압단과 접지전원단 사이에 직렬 연결된 PMOS 트랜지스터(PM20) 및 NMOS 트랜지스터(NM20)의 CMOS 인버터로 구성된 출력수단(20)과, 게이트가 각각 다수의 입력단(IN1 내지 INn)에 연결되며, 출력단(OUT)과 접지전원단 사이에 병렬 연결된 다수의 NMOS 트랜지스터(NM30-1 내지 NM30-n)로 이루어진 풀다운수단(30)과, 게이트에 전원전압이 인가되고, 노드(N1)와 접지전원단 사이에 연결된 전류소오스용 NMOS 트랜지스터(NM40)로 구비된 저항수단(40)을 구비하되, 풀업수단(10)의 출력신호에 응답하여 상기 출력수단(20)을 구성하는 트랜지스터의 크기에 비해 상대적으로 작은 크기의 트랜지스터를 통해 전류를 누설하여 스택틱 캐스코드 회로의 전체 누설 전류양을 줄이기 위한 전류 제어수단(100)을 더 구비한다.
구체적으로, 전류 제어수단(100)은 게이트에 각각 풀업수단(10)의 출력신호가 인가되며, 전원전압단과 접지전원단 사이에 직렬 연결된 PMOS 트랜지스터(PM110) 및 NMOS 트랜지스터(NM110)로 이루어진 CMOS 인버터(110)와, 풀업수단(10)의 출력단과 출력수단(20)의 입력단 사이에 연결되며, 게이트에 CMOS 인버터(110)의 출력신호가 인가되는 패스용 NMOS 트랜지스터(NM120)와, 전원전압단과 풀업수단(10)의 출력단 사이에 연결되며, 게이트에 CMOS 인버터(110)의 출력신호가 인가되는 PMOS 트랜지스터(PM120)와, 전원전압단과 출력수단(20)의 입력단 사이에 연결되며, 게이트에 CMOS 인버터(110)의 출력신호가 인가되는 PMOS 트랜지스터(PM130)로 이루어진다.
이때, 전류 제어수단(100)의 PMOS 트랜지스터(PM110, PM120, PM130) 및 NMOS 트랜지스터(NM110, NM120)들은, 출력수단(20)의 PMOS 트랜지스터(PM20) 및 NMOS 트랜지스터(NM20)에 비하여, 매우 작게 구성된다.
상기와 같은 구조를 갖는 본 발명의 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로의 동작을 설명하면 다음과 같다.
다수의 입력단(IN1 내지 INn)을 통해 모두 '1'의 데이터가 입력되는 경우, 풀업수단(10)의 NMOS 트랜지스터(NM1 내지 NMn)가 모두 턴온되어 '1'이 전류 제어수단(100)으로 출력되고, 풀다운수단(30)의 NMOS 트랜지스터들(NM30-1 내지 NM30-n)이 모두 턴온된다. 이어서, 전류 제어수단(100)의 CMOS 인버터(110)는 풀업수단(10)으로부터 인가된 "약한 1"을 반전시켜 '0'을 PMOS 트랜지스터(PM120, PM130) 및 NMOS 트랜지스터(NM120)의 게이트로 인가하여, 패스용 NMOS 트랜지스터(NM120)를 턴오프시키고, PMOS 트랜지스터(PM120, PM130)들을 턴온시키므로써, 결국 전류 제어수단(100)은 PMOS 트랜지스터(PM130)를 통해 "강한 1(strong 1)"을 출력수단(20)으로 스위칭하며, 이어 출력수단(20)의 CMOS 인버터는 전류 제어수단(100)으로부터 출력된 "강한 1"을 반전시켜 '0'을 출력단(OUT)으로 출력한다. 따라서, 전류 제어수단(100)으로부터 출력되는 "강한 1"에 의해 출력수단(20)의 PMOS 트랜지스터(PM20)와 NMOS 트랜지스터(NM20)를 통해 흐르는 누설전류는 차단되고, 대신에 출력수단(20)의 트랜지스터(PM20, NM20)와 비교했을 때 상대적으로 작은 크기를 가지는 트랜지스터들(PM110, NM110)로 이루어진 전류 제어수단(100)의 CMOS 인버터(110)를 통해 풀업수단(10)으로부터 출력되는 "약한 1"에 의한 누설전류가 흐르게 됨으로써 상대적으로 크기가 큰 출력수단(20)의 트랜지스터들을 통해 전류가 누설되는 종래의 회로보다 누설되는 전류량을 줄일 수 있다.
다수의 입력단(IN1 내지 INn)을 통해 모두 '0'의 데이터가 입력되는 경우, 풀업수단(10)의 NMOS 트랜지스터(NM1 내지 NMn)가 모두 턴오프되어 '0'이 출력수단(20)으로 출력되고, 풀다운수단(30)의 NMOS 트랜지스터(NM30-1 내지 NM30-n)가 모두 턴오프된다. 이어서, 전류 제어수단(100)의 CMOS 인버터(110)는 풀업수단(10)으로부터 인가된 '0'을 반전시켜 '1'을 PMOS 트랜지스터(PM120, PM130) 및 NMOS 트랜지스터(NM120)의 게이트로 인가하여, PMOS 트랜지스터(PM120, PM130)들을 턴오프시키고, 패스용 NMOS 트랜지스터(NM120)를 턴온시키므로써, 결국 전류 제어수단(100)은 풀업수단(10)으로부터 인가된 '0'을 패스용 NMOS 트랜지스터(NM120)를 통해 출력수단(20)으로 스위칭하며, 이어 출력수단(20)의 CMOS 인버터는 풀업수단(10)으로부터 출력된 '0'을 반전시켜 '1'을 출력단(OUT)으로 출력한다.
만일, 다수의 입력단(IN1 내지 INn)을 통해 서로 상반된 신호들('0' 및 '1')이 인가되면, 풀업수단(10)의 다수의 NMOS 트랜지스터(NM1 내지 NMn) 중에 턴온된 NMOS 트랜지스터들을 통해 "약한 1"이 전류 제어수단(100)으로 출력되며, 이어 전류 제어수단(100)의 CMOS 인버터(110)는 풀업수단(10)으로부터 인가된 "약한 1"을 반전시켜 '0'을 PMOS 트랜지스터(PM120, PM130) 및 NMOS 트랜지스터(NM120)의 게이트로 인가하여, 패스용 NMOS 트랜지스터(NM120)를 턴오프시키고, PMOS 트랜지스터(PM120, PM130)들을 턴온시키므로써, 결국 전류 제어수단(100)은 PMOS 트랜지스터(PM130)를 통해 "강한 1"을 출력수단(20)으로 스위칭시킨다. 이어서, 출력수단(20)의 CMOS 인버터는 풀업수단(10)으로부터 출력된 '1'을 반전시켜 '0'을 출력단(OUT)으로 출력한다. 따라서, 전류 제어수단(100)으로부터 출력되는 "강한 1"에 의해 출력수단(20)의 PMOS 트랜지스터(PM20)와 NMOS 트랜지스터(NM20)를 통해 흐르는 누설전류는 차단되고, 대신에 출력수단(20)의 트랜지스터(PM20, NM20)와 비교했을 때 상대적으로 작은 크기를 가지는 트랜지스터들(PM110, NM110)로 이루어진 전류 제어수단(100)의 CMOS 인버터(110)를 통해 풀업수단(10)으로부터 출력되는 "약한 1"에 의한 누설전류가 흐르게 됨으로써 상대적으로 크기가 큰 출력수단(20)의 트랜지스터들을 통해 전류가 누설되는 종래의 회로보다 누설되는 전류량을 줄일 수 있다.
도 3을 참조하여 본 발명의 다른 실시예에 따른 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로의 전류 제어수단을 설명한다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로의 전류 제어수단(100)은, 게이트에 각각 풀업수단(10)의 출력신호가 인가되며, 전원전압단과 접지전원단 사이에 직렬 연결된 PMOS 트랜지스터(PM140) 및 NMOS 트랜지스터(NM130)로 이루어진 CMOS 인버터(120)와, 전원전압단과 풀업수단(10)의 출력단 사이에 연결되며, 게이트에 CMOS 인버터(120)의 출력신호가 인가되는 PMOS 트랜지스터(PM150)와, 게이트에 각각 CMOS 인버터(130)의 출력신호가 인가되며, 전원전압단과 접지전원단 사이에 직렬 연결된 PMOS 트랜지스터(PM160) 및 NMOS 트랜지스터(NM140)로 이루어진 CMOS 인버터(130)를 구비한다.
이때, 전류 제어수단(100)의 PMOS 트랜지스터(PM140, PM150, PM160) 및 NMOS 트랜지스터(NM130, NM140)는, 출력수단(20)의 PMOS 트랜지스터(PM20) 및 NMOS 트랜지스터(NM20)에 비하여, 매우 작게 구성된다.
상기와 같은 구조를 갖는 본 발명의 다른 실시예에 따른 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로의 전류 제어수단의 동작을 설명하면 다음과 같다.
풀업수단(10)으로부터 "약한 1"이 인가되면, 전류 제어수단(100)의 CMOS 인버터(120)는 풀업수단(10)으로부터 인가된 "약한 1"을 반전시켜 '0'을 CMOS 인버터(130)로 출력하고, 이때, PMOS 트랜지스터(PM150)를 통한 피드백으로 인해 풀업수단(10)으로부터 인가된 "약한 1"은 "강한 1"로 바뀐다. 이어 전류 제어수단(100)의 CMOS 인버터(130)는 CMOS 인버터(120)로부터 출력되는 '0'을 다시 반전시켜 '1'을 출력하므로써, 결국 전류 제어수단(100)은 풀업수단(10)으로부터 "강한 1"을 출력수단(20)으로 스위칭시킨다.
또한, 풀업수단(10)으로부터 '0'이 출력되면, 상기와 마찬가지로, 전류 제어수단(100)은 CMOS 인버터(120, 130)들을 이용해 풀업수단(10)으로부터 인가된 '0'을 출력수단으로 스위칭시킨다.
결론적으로, 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로의 전체적인 신호를 드라이빙하기 위해 상대적으로 매우 크게 구성되는 출력수단(20)의 PMOS 트랜지스터(PM20) 및 NMOS 트랜지스터(NM20)를 통해 흐르는 누설전류를 막기 위해 상대적으로 작게 구성되는 전류 제어수단의 트랜지스터를 통해 전류가 누설되도록 하여 누설되는 전류량을 줄이므로써, 소비 전력을 감소시킬 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 본 발명이 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능함이 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에게 있어 명백할 것이다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명의 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로는, 매우 크게 구성된 출력수단의 NMOS 트랜지스터 및 PMOS 트랜지스터를 통해 전류를 누설하던 종래와 달리, 종래에 비하여 매우 작게 구성된 전류 제어수단의 MOS 트랜지스터를 통해 전류를 누설시키므로써, 누설되는 전류량을 줄일 수 있으며, 이에 따라 전력의 소비량을 줄이고, 또한 동작 속도를 향상시킬 수 있는 효과를 제공한다.

Claims (5)

  1. 다수의 NMOS 트랜지스터를 구비하여, 다수의 입력단을 통해 입력된 데이터의 입력레벨에 응답하여 소정의 노드를 풀업 구동하는 풀업수단;
    상기 노드에 걸리는 전압레벨에 응답하여 출력단을 구동하는 출력수단;
    다수의 NMOS 트랜지스터를 구비하여, 상기 다수의 입력단을 통해 입력된 데이터의 입력에 응답하여 상기 출력단을 풀다운 구동하는 풀다운수단; 및
    상기 출력수단을 구성하는 트랜지스터의 크기에 비해 상대적으로 작은 크기의 트랜지스터들을 구비하여, 상기 풀업수단의 풀업 구동 시 상기 풀업수단의 NMOS 트랜지스터들의 전달 특성에 의한 상기 노드의 상대적으로 낮은 전원전압 레벨을 상기 출력수단으로 전달되는 것을 차단하고, 상기 상대적으로 작은 크기의 트랜지스터들을 통해 전류를 누설한 후 정상적인 전원전압 레벨을 상기 출력수단으로 전달하여, 회로 전체에 흐르는 누설 전류양을 제어하는 제어 수단
    을 포함하여 이루어지는 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 노드와 접지전원단 사이에 연결된 전류소오스용 NMOS 트랜지스터로 구성된 저항수단
    을 더 포함하여 이루어지는 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 출력수단은,
    NMOS 트랜지스터 및 PMOS 트랜지스터로 구성된 CMOS 인버터
    를 포함하여 이루어지는 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로.
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 제어수단은,
    상기 노드에 각각의 게이트단이 연결되며, 전원전압단과 접지전원단 사이에 직렬 연결되는 제1 PMOS 트랜지스터 및 제1 NMOS 트랜지스터로 이루어진 CMOS 인버터;
    상기 노드와 상기 출력수단의 입력단 사이에 연결되며, 게이트로 상기 CMOS 인버터의 출력신호를 인가받는 패스용 제2 NMOS 트랜지스터;
    전원전압단과 상기 노드 사이에 연결되며, 게이트로 상기 CMOS 인버터의 출력신호를 인가받는 제2 PMOS 트랜지스터; 및
    전원전압단과 상기 출력수단의 입력단 사이에 연결되며, 게이트로 상기 CMOS 인버터의 출력신호를 인가받는 제3 PMOS 트랜지스터
    를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 제어수단은,
    상기 노드에 각각의 게이트단이 연결되며, 전원전압단과 접지전원단 사이에 직렬 연결되는 제1 PMOS 트랜지스터 및 제1 NMOS 트랜지스터로 이루어진 제1 CMOS 인버터;
    전원전압단과 상기 노드 사이에 연결되며, 게이트로 상기 CMOS 인버터의 출력신호를 인가받는 제2 PMOS 트랜지스터; 및
    상기 제1 CMOS 인버터의 출력단에 각각의 게이트단이 연결되며, 전원전압단과 접지전원단 사이에 직렬 연결되는 제3 PMOS 트랜지스터 및 제2 NMOS 트랜지스터로 이루어진 제2 CMOS 인버터
    를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 저전력-고속 스택틱 캐스코드 회로.
KR1019970029639A 1997-06-30 1997-06-30 저전력-고속스택틱캐스코드회로 KR100278275B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019970029639A KR100278275B1 (ko) 1997-06-30 1997-06-30 저전력-고속스택틱캐스코드회로

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019970029639A KR100278275B1 (ko) 1997-06-30 1997-06-30 저전력-고속스택틱캐스코드회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR19990005442A KR19990005442A (ko) 1999-01-25
KR100278275B1 true KR100278275B1 (ko) 2001-01-15

Family

ID=65988241

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019970029639A KR100278275B1 (ko) 1997-06-30 1997-06-30 저전력-고속스택틱캐스코드회로

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100278275B1 (ko)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3986036B2 (ja) * 1999-04-16 2007-10-03 株式会社日立製作所 半導体集積回路装置
KR100450955B1 (ko) * 2002-01-23 2004-10-02 삼성전자주식회사 반도체 장치의 누설전류 방지회로 및 그 제어방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR19990005442A (ko) 1999-01-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7268588B2 (en) Cascadable level shifter cell
US7176741B2 (en) Level shift circuit
KR940003809B1 (ko) Ttl 대 cmos 입력 버퍼
US5334888A (en) Fast exclusive-or and exclusive-nor gates
US5670898A (en) Low-power, compact digital logic topology that facilitates large fan-in and high-speed circuit performance
KR100243850B1 (ko) 비휘발성 메모리 집적 회로의 고전압 스위칭용고전압 레벨 시프터
WO2003105193A2 (en) Low-leakage integrated circuits and dynamic logic circuits
US20050212558A1 (en) Thin-oxide devices for high voltage I/O drivers
EP0225249B1 (en) Cmos current switching circuit
JPH07105448B2 (ja) Mos型集積回路
CN113691249B (zh) 工作周期校正电路及其方法
US6373291B1 (en) Pass transistor logic circuit for reducing power consumption
US6573758B2 (en) Fast, symmetrical XOR/XNOR gate
US6169432B1 (en) High voltage switch for providing voltages higher than 2.5 volts with transistors made using a 2.5 volt process
US5777505A (en) Low-power crosspoint switch
KR100278275B1 (ko) 저전력-고속스택틱캐스코드회로
JP2003017987A (ja) 選択可能な出力エッジレイト制御
JP3556533B2 (ja) レベルシフタ回路
JPH06252740A (ja) デジタル論理回路
US5455520A (en) CMOS input circuit for providing logical output signal from TTL compatible input signal
US5495182A (en) Fast-fully restoring polarity control circuit
JP2003198358A (ja) レベルシフト回路
US20090160517A1 (en) Flip-flop
US6329842B1 (en) Output circuit for electronic devices
JP3192049B2 (ja) バッファ回路

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20050923

Year of fee payment: 6

LAPS Lapse due to unpaid annual fee