KR100197441B1 - 전전자 교환기에서 백보드를 이용한 탈장 감지 장치 - Google Patents
전전자 교환기에서 백보드를 이용한 탈장 감지 장치 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 적어도 두 개 이상의 버퍼(B1,B2),(B3,B4)를 구비하는 두 개의 프로세서(P1,P2)와, 접지된 감시 선로(L1,L2)를 각기 구비하는 적어도 두 개 이상의 타임 슬롯 스위치(1,2)의 이중화 연결 상태를 감지하기 위한 전전자 교환기에 관한 것으로서, 전원(Vcc)과; 상기 프로세서(P1,P2)내 버퍼(B1,B2,B3,B4)들을 상기 타임 슬롯 스위치(1,2)의 선로(L1,L2) 및 상기 전원(Vcc)에 각각 연결하는 두 개 이상의 저항(R11,R12)을 상기 타임 슬롯 스위치(1,2)와 상기 프로세서(P1,P2) 사이에 백보드(3)로서 구성한다.
즉, 본 발명은 타임 슬롯 스위치와 프로세서간의 탈장 상태를 감자하는 회로를 백보드(Back Board)내에 구성하므로써 필요한 저항 수를 감소시킬 수 있다는 효과가 있다.
Description
제1도는 종래의 이중화된 프로세서서와 타임 슬롯 스위치간의 탈장 상태를 감시하기 위한 회로의 블록도.
제2도는 본 발명에 따른 전전자 교환기에서 백보드를 이용한 탈장 감지 장치의 블록도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
P1,P2 : 프로세서 1,2 : 타임 슬롯 스위치
3 : 백 보오드
본 발명은 전전자 교환기에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 프로세서와 텔레포니 디바이스(Telepony Device)간의 통신을 타임 슬롯 방식으로 구현한 전전자 교환기에서 텔레포니 디바이스와 프로세서간의 탈장 상태를 감지하는 장치에 관한 것이다.
전전자 교환기는 일반적으로 두 개의 프로세서 레벨 즉 상위 레벨인 T 그룹 프로세서와 하위 레벨 프로세서인 B/D 그룹 프로세서로 구성된다. T 그룹 프로세서들은 T버스를 공유하게 구성되고 이들 간에는 상호 평형 관계를 형성하며 B/D 버스를 공유하는 B 프로세서 및 D 프로세서와는 수직 관계를 형성하도록 되어 있다.
하위 레벨인 B 프로세서는 가입자 회로, 트렁크 회로 및 각종 신호 장치를 포함하는 텔레포니(Telepony) 장치를 직접 제어하며, D 프로세서는 마그네틱 테이프 드라이버, 디스크 드라이버 및 CRT 등의 유지 보수용 시스템 주변 장치를 제어하고 모분구간의 통신 및 경보 기능도 제어하게 구성되어 있다.
상위 레벨 T 프로세서는 하위 레벨인 B 프로세서 및 D 프로세서로부터 발생된 각종 신호를 기준으로 기능적으로 분산된 전 T 프로세서 유니트에서 각각 전반적인 호처리 기능과 시스템의 MA 기능을 수행하며 그 결과를 다시 B 프로세서 및 D 프로세서로 전송하므로써 전헤 기능 교환이 이루어진다.
이와 같이 전전자 교환기에서는 다수개의 프로세서들을 구비하고 있으며, 특히 하위 프로세서 즉, B 프로세서 및, D 프로세서들은 상술한 바와 같이 각종 디바이스들에/로부터 정보의 송수신이 요하게 된다. 이러한 하위 프로세서오 디바이스들간의 정보 교환의 통로로서 종래에는 일반적인 버스를 사용하여 구현하였다.
그러나, 이와 같이 버스를 이용하여 프로세서와 디바이스들간의 정보 교환로를 형성하게 되는 경우에는 프로세서와 연결되는 디바이스들의 숫자가 한정된다는 문제가 있게 된다. 즉, 버스를 이용한 통신은 버스를 통하여 통신할 디바이스가 별도의 어드레스를 통하여 지정되어야 하는 바, 그 구성이 복잡하고, 어드레스의 지정 문제 등에 의하여 프로세서와 연결되는 디바이스의 수가 한정된다는 문제가 있었다.
본 발명자는 이러한 문제를 해결하기 위하여 전전자 교환기의 프로세서와 디바이스간 통신 장치(출원번호 제96-20140호)를 출원하였다. 이 출원에서 본 발명자는 프로세서와 디바이스간에 타임 슬롯 스위치를 구성하므로써 타임 슬롯 방식으로 프로세서와 디바이스들간의 통신을 행하도록 하였다. 또한 본원 발명자는 이러한 타임 슬롯 스위치와 프로세서간에는 통신의 안전성을 확보하기 위하여 타임 슬롯 스위치와 프로세서 간을 이중화한 전전자 교환기의 프로세서와 타임 슬롯 스위치간 이중화 알람 통신 장치(출원 번호 제96-20144호)를 출원하였다.
한편, 이러한 프로세서와 타임 슬롯 스위치의 연결에 있어서 탈장(즉, 상호 연결 상태가 단락되는)이 발생될 수 있으며, 프로세서는 이러한 탈장 상태를 감지하여 탈장되는 않은 타임 슬롯 스위치와 통신을 계속하여야 한다.
제1도에는 프로세서와 타임 슬롯 스위치간의 탈장 상태를 감지하기 위하여 종래의 제안될 수 있는 방식이 도시되어 있다.
도시된 바와 같이 두 개의 프로세서(P1,P2)내에는 각각 두 개의 버퍼(B1,N2),(B3,B4)가 저항(R1,R2),(R3,R4)을 통하여 전원(Vcc)에 병렬 연결되어 있다. 그리고, 프로세서(P1)내의 버퍼(B1)는 선로(L1)을 통하여 타임 슬롯 스위치(1)내에서 접지되어 있으며, 버퍼(B2)는 선로(L2)를 통하여 타임 슬롯 스위치(2)내에 접지되어 있다. 마찬가지로 프로세서(P2)내의 버퍼(B3)는 선로(L1)를 통하여 타임 슬롯 스위치(1)내에서 접지되어 있으며, 버퍼(B4)는 선로를 통하여 타임 슬롯 스위치(2)내에 접지되어 있다.
따라서, 프로세서(P1,P2) 및 타임 슬롯 스위치(1,2)들이 선로를 통하여 각각 연결되어 있는 상태에서는 버퍼(B1-B4)가 로우 레벨의 로직을 출력하나, 버퍼(B1-B4)와 제1, 2 선로(L1,L2)가 단선되면 해당 버퍼(B1-B4)는 하이레벨의 로직을 출력하므로 프로세서(P1,P2)는 타임 슬롯 스위치(1,2)와의 연결 상태를 각각 감지할 수 있는 것이다.
여기서, 상술한 예에서는 타임 슬롯 스위치가 두 개 구성되는 것으로 하였으나 그 수는 필요에 따라 증가할 수 있으며, 이 타임 슬롯 스위치에 증가에 따라 프로세서 내의 버퍼 수도 증가할 것이다. 따라서, 이러한 종래의 회로는 상술한 바와같이 프로세서내에 타임 슬롯 스위치의 수에 비례하여 저항이 구성되어야 하는 바, 구성이 복잡하며 제작단가가 높다는 문제가 있었다.
본 발명은 이러한 문제를 해결하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 타임 슬롯 스위치와 프로세서간의 탈장 상태를 감지하는 회로를 백보드(Back Board)내에 구성하므로써 회로 구성을 간략화한 전전자 교환기에서 백보드를 이용한 탈장 감지 장치를 제공하는데 있다.
본 발명에 따른 전전자 교환기에서 백보드를 이용한 탈장 감지 장치는, 적어도 두 개 이상의 버퍼를 구비하는 두 개의 프로세서와 접지된 감시 선로를 각기 구비하는 적어도 두 개 이상의 타임 슬롯 스위치의 이중화 연결 상태를 감지하기 위하여, 전원과; 상기 프로세서내 버퍼들을 상기 타임 슬롯 스위치의 선로 및 상기 전원에 각각 연결하는 두 개 이상의 저항을; 상기 타임 슬롯 스위치와 상기 프로세서 사이에 백보드로서 구성한다.
이하, 본 발명의 일 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
제2도는 본 발명에 따른 전전자 교환기에서 백보드를 이용한 탈장 감지 장치이 블록도로서 도시된 바와 같이, 두 개의 프로세서(P1,P2)내에는 각각 두 개의 버퍼(B1,B2)(B3,B4)가 구성되어 있으며, 두 개의 타임 슬롯 스위치(1,2)에는 접지된 선로(L1,L2)가 각각 구성되어 있다.
이때, 이러한 타임 슬롯 스위치(1,2) 및 프로세서(P1,P2)들은 각각 하나의 보오드로 구성되어 있으며, 타임 슬롯 스위치(1,2) 및 프로세서(P1,P2)들은 백보드(3)를 통하여 연결된다.
즉 도시된 바와 같이 백보드(3)내에는 전원(Vcc) 및 저항(R11,R12)가 구성되어있고, 저항 (R11)과 프로세서(P1,P2)의 버퍼(B2,B3) 및 타임 슬롯 스위치(1)의 선로(L1)는 병렬 연결되어 있다. 또한 저항(R12)과 프로세서(P1,P2)의 버퍼(B1,B4) 및 타임 슬롯 스위치(2)의 선로(L2) 역시 병렬 연결되어 있다.
따라서, 프로세서(P1,P2) 및 타임 슬롯 스위치(1,2)들이 선로를 통하여 각각 연결되어 있는 상태에서는 버퍼(B1-B4)가 로우 레벨의 로직을 출력하나, 버퍼(B1-B4)와 제1, 2 선로(L1,L2)가 단선되면 해당 버퍼(B1-B4)는 하이레벨의 로직을 출력하므로 프로세서(P1,P2)는 타임 슬롯 스위치(1,2)와의 연결 상태를 각각 감지할 수 있는 것이다.
여기서, 본 발명에서는 상술한 전원(Vcc) 및 저항(R11,R12)를 하나의 밸보드내에 구성하므로써 제1도에 도시된 종래 기술에 비하여 저항의 수가 반으로 줄어듬을 알 수 있다. 즉, 프로세서(P1,P2)내의 저항(R11,R12)를 백보드내에 구성함에 따라 병렬 구성이 가능하여 저항의 수를 줄일 수 있다는 것이다.
상술한 에에서는 타임 슬롯 스위치가 두 개 구성되는 것으로 하였으나 그 수는 필요에 따라 증가할 수 있다. 이 타임 슬롯 스위치에 증가에 따라 프로세서 내의 버퍼 수도 증가할 것이며, 또한, 버퍼 및 타임 슬롯 스위치의 수에 따라 선로의 수 및 백보드(3)내의 저항 수도 증가할 것이나, 저항 수의 증가는 종래 기술에 비하여 1/2로 감축됨을 알 수 있다.
이와 같이 본 발명은 타임 슬롯 스위치와 프로세서간의 탈장 상태를 감지하는 회로를 백보드(Back Board)내에 구성하므로써 필요한 저항 수를 감소시킬 수 있다는 효과가 있다.
Claims (1)
- 적어도 두 개 이상의 버퍼(B1,B2),(B3,B4)를 구비하는 두 개의 프로세서(P1,P2)와, 접지된 감시 선로(L1,L2)를 각기 구비하는 적어도 두 개 이상의 타임 슬롯 스위치(1,2)의 이중화 연결 상태를 감지하기 위한 전전자 교환기에 있어서, 전원(Vcc)과; 상기 프로세서(P1,P2)내 버퍼(B1,B2,B3,B4)들을 상기 타임 슬롯 스위치(1,2)의 선로(L1,L2) 및 상기 전원(Vcc)에 각각 연결하는 두 개 이상의 저항(R11,R12)을 상기 타임 슬롯 스위치(1,2)와 상기 프로세서(P1,P2) 사이에 백보드(3)로서 구성한 전전자 교환기에서 백보드를 이용한 탈장 감지 장치.
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- 1996-06-05 KR KR1019960020145A patent/KR100197441B1/ko not_active IP Right Cessation
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