KR0178694B1 - 디스플레이 엘이디 동작상태 검사장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 액티브 신호의 특정 구간에서 디지탈 신호(DATA)가 출력될 때 트리거 펄스를 이용하여 디지탈 신호를 정확히 검출토록 한 디스플레이 엘이디 동작상태 검사장치에 관한 것이다.
이러한 본 발명은 엘이디 디스플레이 동작을 목적으로 발생되는 액티브 신호(ACTIVE)를 저항과 콘덴서의 시정수만큼 지연시키는 신호 지연부(10)와; 상기 액티브 신호(스캔 신호)의 하이 또는 로우구간을 선택하고 그 선택한 신호를 트리거 신호로 출력하는 스캔신호 선택부(20)와; 상기 스캔신호 선택부(20)에서 발생된 트리거 신호에 따라 입력되는 데이타(D1 - D16)를 래치시키는 래치부(30)와; 상기 래치부(30)에서 래치된 데이타를 버퍼링하고 출력 인에이블신호(Out Enable)에 따라 그 버퍼링한 데이타를 엘이디 디스플레이 검사 데이타로 출력시키는 버퍼부(40)를 구비한다.
Description
제1도는 종래 마이컴의 동작상태를 검사하기 위한 데이타 검출장치 구성도.
제2도는 종래 엘이디(LED) 디스플레이부의 동작 신호 타이밍도.
제3도는 본 발명에 의한 디스플레이 엘이디(LED) 동작상태 검사장치 구성도.
제4도는 제3도의 신호 지연부 상세 회로도.
제5도는 제3도의 신호 지연부 출력 파형도.
제6도는 본 발명에서 데이터 구간안에 액티브 신호가 존재할 경우의 타이밍도.
제7도의 a,b는 제3도의 래치부 및 버퍼부 상세 구성도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 신호 지연부 20 : 스캔신호 선택부
30 : 래치부 40 : 버퍼부
본 발명은 마이컴의 동작 상태를 검사하기 위한 디스플레이 엘이디(LED)동작상태 검사에 관한 것으로, 특히 액티브 신호의 특정 구간에서 디지탈 신호(DATA)가 출력될 때 트리거 펄스를 이용하여 디지탈 신호를 정확히 검출토록 한 디스플레이 엘이디 동작상태 검사장치에 관한 것이다.
일반적으로, 마이컴의 현재 동작 상태를 표시하기 위해 디스플레이 엘이디(LED)를 사용한다.
이때, 엘이디 디스플레이부(7 세그먼트 포함)의 동작을 목적으로 액티브(SCAN)신호 및 디지탈 신호(DATA)를 제2도의 ①과 같은 파형으로 발생하고, 엘이디의 디스플레이 상태를 육안으로 확인하여 동작 상태를 검사한다.
한편, 엘이디 디스플레이부 검사를 장치적으로 검사하기 위해 제1도와 같은 데이타 검출회로를 이용한다.
즉, 제1도에 도시된 바와 같이, 버퍼부(1)를 이용하여 제2도와 같은 액티브 신호(ACTIVE 신호)가 하이(High)일때 입력 데이타(D1-D16)를 읽어들이고, 출력 인에이블 신호(Out Enable)가 로우가 되면 그 읽어들인 데이타를 출력(DIN1-DIN16)하여 양부를 판단한다.
그러나 이러한 종래 기술에서는 엘이디 디스플레이부 검사를 육안 또는 제2도에서와 같이 액티브 신호가 하이일때 데이타를 읽어 양부를 판단하는데, 제2도의 ⓑ의 시점과 같이 액티브 신호가 하이일때 데이타는 로우가 정상인데 ⓐ,ⓒ의 시점에서는 데이타 값이 다르게 발생하는 문제점이 있었다.
따라서 본 발명은 상기와 같은 종래 엘이디 디스플레이 동작상태 검사장치의 제반 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로서, 본 발명의 목적은 액티브 신호의 특정 구간에서 디지탈 신호(DATA)가 출력될 때 트리거 펄스를 이용하여 디지탈 신호를 정확히 검출토록 한 디스플레이 엘이디 동작상태 검사장치를 제공하는데 있다.
이러한 본 발명의 목적을 달성하기 위한 기술적인 수단은, 엘이디 디스플레이 동작을 목적으로 발생되는 액티브 신호를 시정수만큼 지연시키는 신호 지연부와; 상기 액티브 신호(스캔 신호)의 하이 또는 로우구간을 선택하고 그 선택한 신호를 트리거 신호로 출력하는 스캔신호 선택부와; 상기 스캔신호 선택부에서 발생된 트리거 신호에 따라 입력되는 데이타를 래치시키는 래치부와; 상기 래치부에서 래치된 데이타를 버퍼링하고 출력 인에이블신호에 따라 그 버퍼링한 데이타를 엘이디 디스플레이 검사 데이타로 출력시키는 버퍼부로 이루어진다.
이하, 본 발명을 첨부한 도면에 의거 상세히 설명하면 다음과 같다.
제3도는 본 발명에 의한 엘이디 디스플레이 동작상태 검사장치 구성도이다.
도시된 바와 같이, 엘이디 디스플레이 동작을 목적으로 발생되는 액티브 신호(ACTIVE신호)를 시정수만큼 지연시키는 신호 지연부(10)와; 상기 액티브 신호(스캔 신호)의 하이 또는 로우구간을 선택하고 그 선택한 신호를 트리거 신호로 출력하는 스캔신호 선택부(20)와; 상기 스캔신호 선택부(20)에서 발생된 트리거 신호에 따라 입력되는 데이타(D1-D16)를 래치시키는 래치부(30)와; 상기 래치부(30)에서 래치된 데이타를 버퍼링하고 출력 인에이블신호(Out Enable)에 따라 그 버퍼링한 데이타를 엘이디 디스플레이 검사 데이타로 출력시키는 버퍼부(40)로 구성 되었다.
상기에서 스캔신호 선택부(20)는 상기 신호 지연부(10)에서 출력되는 지연된 액티브 신호의 위상을 반전시키는 인버터(20a)와, 상기 인버터(20a)에서 위상반전된 액티브 신호를 트리거 신호로 선택하기 위한 제1선택 스위치(20b)와, 상기 신호 지연부(10)에서 출력되는 지연된 액티브 신호를 트리거 신호로 선택하기 위한 제2선택 스위치(20c)로 구성 되었다.
또한, 래치부(30)는 액티브 신호 8개를 트리거 신호로하여 입력되는 16개의 데이타를 래치시키는 제1 내지 제16디플립플롭(30a-30p)으로 구성 되었다.
그리고 버퍼부(40)는 상기 래치부(30)내의 제1 내지 제16디플립플롭(30a-30p)에서 각각 출력되는 데이타를 출력 인에이블신호에 따라 각각 버퍼링하여 엘이디 디스플레이 동작상태 검사치로 출력하는 제1 내지 제16디플립플롭(40a-40p)으로 구성 되었다.
이와 같이 구성된 본 발명에 의한 엘이디 디스플레이 동작상태 검사장치의 작용 및 효과를 첨부한 도면 제3도 내지 제7도에 의거 설명하면 다음과 같다.
먼저, 신호 지연부(10)는 제4도와 같이 저항(R1,R2)과 콘덴서(C1)로 구성되어, 제2도와 같이 입력되는 액티브신호를 지연시켜, 제5도와 같이 출력을 하게된다.
아울러 스캔신호 선택부(20)는 제1 및 제2선택 스위치(20b)(20c)의 동작에 따라 스캔 신호의 하이 또는 로우 구간을 선택하여 래치부(30)에 트리거 신호로 전달을 하게 된다.
즉, 스캔신호 선택부(20)는 제5도와 같은 액티브 신호를 비반전하여 래치부(30)에 트리거 신호로 전달하게 된다.
래치부(30)는 제7도에 도시된 바와 같이, 다수개의 디플립플롭(30a-30p)으로 구성되어, 입력되는 트리거 신호가 하이일때 입력되는 데이타(D1-D16)를 래치시키게 되고, 버퍼부(40)는 출력 인에이블 신호(Out Enable)가 로우(Low)일때 상기 래치부(30)에서 래치된 데이타를 출력하게 된다.
이때 출력되는 데이타는 제5도와 같이 스캔신호가 하이가 되는 시점에서(제2도의 ⓐ,ⓑ.ⓒ의 시점에서는 서로 다름)항상 로우가 된다.
제7도는 본 발명에서 액티브 신호 8개(ACTIVE1-ACTIVE8)를 선택할 수 있고, 동시에 데이타 16개를 검출할 수 있도록 구성된 래치부(30) 및 버퍼부(40)의 상세 회로도이다. 여기서, 액티브1-액티브8과 데이타1-데이타16은 피측정 기판에서 입력되는 신호로 액티브 신호를 지연시킨 스캔신호 및 데이타이고, 출력(OUT1-OUT8)은 스캔신호를 반전시킬 것인지, 아니면 비반전시킬 것인지를 선택하는 신호이며, 인에이블1-인에이블8은 검출된 데이타를 읽어갈때 버퍼부(40)내의 디플립플롭(40a-40p)을 선택하는 신호이다.
즉, 래치부(30)는 지연된 신호 액티브1-액티브8을 트리거 신호로 입력받아 하이가 될 때 데이타1 내지 데이타16을 래치시켜 출력하게 되고, 버퍼부(40)는 읽고자하는 시점에서 인에이블1-인에이블8의 신호에 따라 데이타1 내지 데이타16을 동시에 읽어 출력을 하게되는 것이다.
이상에서와 같이 본 발명은 기존의 마이콤을 사용하는 제품등의 디스플레이 엘이디(LED)의 동작을 검사할 때 대부분 육안 검사에 의존한 불명료한 동작 검사의 문제점과, 전기적 신호를 검출하여 검사할 때 디지탈 인 보드로 액티브신호와 데이타 신호를 읽어 검사할 경우 그 값이 불안정하여 여러번 읽어야하는 문제를 해소시킬 수 있는 효과가 있다.
Claims (4)
- 엘이디 디스플레이 동작을 목적으로 발생되는 액티브 신호(ACTIVE)를 저항과 콘덴서의 시정수만큼 지연시키는 신호 지연부(10)와; 상기 액티브 신호(스캔 신호)의 하이 또는 로우구간을 선택하고 그 선택한 신호를 트리거 신호로 출력하는 스캔신호 선택부(20)와; 상기 스캔신호 선택부(20)에서 발생된 트리거 신호에 따라 입력되는 데이타(D1-D16)를 래치시키는 래치부(30)와; 상기 래치부(30)에서 래치된 데이타를 버퍼링하고 출력 인에이블신호(Out Enable)에 따라 그 버퍼링한 데이타를 엘이디 디스플레이 검사 데이타로 출력시키는 버퍼부(40)를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 엘이디(LED) 동작상태 검사장치.
- 제1항에 있어서, 상기 스캔신호 선택부(20)는 상기 신호 지연부(10)에서 출력되는 지연된 액티브 신호의 위상을 반전시키는 인버터(20a)와 상기 인버터(20a)에서 위상반전된 액티브 신호를 트리거 신호로 선택하기 위한 제1선택 스위치(20b)와, 상기 신호 지연부(10)에서 출력되는 지연된 액티브 신호를 트리거 신호로 선택하기 위한 제2선택 스위치(20c)로 구성되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 엘이디(LED) 동작상태 검사장치.
- 제1항에 있어서, 상기 래치부(30)는 입력되는 8개의 트리거 신호가 하이상태일때 입력되는 16개의 데이타를 래치시키는 제1 내지 제16디플립플롭(30a-30p)으로 구성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 엘이디(LED) 동작상태 검사장치.
- 제1항에 있어서, 상기 버퍼부(40)는 상기 래치부(30)내의 제1 내지 제16디플립플롭(30a-30p)에서 각각 출력되는 데이타를 출력 인에이블신호에 따라 각각 버퍼링하여 엘이디 디스플레이 동작상태 검사치로 출력하는 제1 내지 제16디플립플롭(40a-40p)으로 구성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 엘이디(LED) 동작상태 검사장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1019960035719A KR0178694B1 (ko) | 1996-08-27 | 1996-08-27 | 디스플레이 엘이디 동작상태 검사장치 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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KR0178694B1 true KR0178694B1 (ko) | 1999-04-01 |
Family
ID=19470902
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960035719A KR0178694B1 (ko) | 1996-08-27 | 1996-08-27 | 디스플레이 엘이디 동작상태 검사장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR102602881B1 (ko) | 2023-09-04 | 2023-11-15 | 박정선 | 7세그먼트 표시소자의 검사방법 |
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1996
- 1996-08-27 KR KR1019960035719A patent/KR0178694B1/ko not_active IP Right Cessation
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