KR0122855B1 - 하이 임피던스 측정회로 - Google Patents

하이 임피던스 측정회로

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KR0122855B1
KR0122855B1 KR1019930010662A KR930010662A KR0122855B1 KR 0122855 B1 KR0122855 B1 KR 0122855B1 KR 1019930010662 A KR1019930010662 A KR 1019930010662A KR 930010662 A KR930010662 A KR 930010662A KR 0122855 B1 KR0122855 B1 KR 0122855B1
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이천성
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김광호
삼성전자주식회사
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables

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Abstract

본 발명은 하이 임피던스 측정회로에 관한 것으로, 특히 입력신호를 비교기를 통하여 기준신호와 비교하여 디지탈 계측기만으로 입력신호의 하이 임피던스 상태의 유무를 판별할 수 있도록 된 하이 임피던스 측정회로에 관한 것이며, 입력단자(1)를 통하여 비반전단자에 입력되는 입력신호와 반전단자에 입력되는 기준신호(Va)를 비교하는 비교기(COMP1)와, 이 비교기(COMP1)의 출력신호를 반전시키는 인버어터(NT)와,상기 입력단자(1)를 통하여 비반전단자에 입력되는 입력신호와 반전단자에 입력되는 기준신호(Vb)를 비교하는 비교기(COMP2)와, 이 비교기(COMP2)의 출력신호와 상기 인버어터(NT)의 출력신호를 논리합하는 OR 게이트(OR)로 구성된 것이다.

Description

하이 임피던스 측정회로
제1도는 본 발명의 실시회로도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
COMP1∼COMP2 : 비교기, NT : 인버어터,
OR : OR 게이트.
본 발명은 하이 임피던스 측정회로에 관한 것으로, 특히 입력신호를 비교기를 통하여 기준신호와 비교하여 디지탈 계측기만으로 입력신호의 하이 임피던스(Hi-Z) 상태의 유무를 판별할 수 있도록 된 하이 임피던스 측정회로에 관한 것이다.
종래에는 아날로그 계측기로는 하이 임피던스 상태를 측정할 수 있었지만 디지탈 계측기로는 하이 임피던스 상태를 측정할 수 없다는 문제점이 있었다.
이에 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 입력신호와 기준신호를 비교하여 입력신호가 하이 또는 로우신호이면 하이신호를 출력하고, 입력신호가 하이 임피던스 상태일 때는 로우신호를 출력함으로써 디지탈 계측기만으로 입력신호의 하이 임피던스 상태의 유무를 판별할 수 있는 하이 임피던스 측정회로를 제공함에 그 목적이 있다.
이하, 본 발명의 실시예를 제1도에 의하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
본 발명은 제1도에 도시된 바와 같이, 입력단자(1)를 통하여 비반전단자에 입력되는 입력신호와 반전단자에 입력되는 기준신호(Va)를 비교하는 비교기(COMP1)와, 이 비교기(COMP1)의 출력신호를 반전시키는 인버어터(NT)와, 상기 입력단자(1)를 통하여 비반전단자에 입력되는 입력신호와 반전단자에 입력되는 기준신호(Vb)를 비교하는 비교기(COMP2)와, 이 비교기(COMP2)의 출력신호와 상기 인버어터(NT)의 출력신호를 논리합하는 OR 게이트(OR)로 구성되어 있다.
여기서 미설명부호 2는 출력단자이다.
다음에는 상기와 같은 구성으로 된 본 발명 실시예의 작용효과를 설명한다.
본 발명은 먼저 하이 임피던스(Hi-Z) 상태를 나타내는 입력신호를, 예를 들어 2.5[V]라 하면, 기준신호들(Va,Vb)의 값은 VaHi-Z 입력신호Vb의 관계가 되도록, 예를 들어 Va=2[V], Vb=3[V]로 설정한다.
그리고, 입력단자(1)을 통하여 입력되는 입력신호가 하이일 경우, 기준신호(Va)와 입력신호를 비교하는 비교기(COMP1)의 출력은 하이가 되고, 이 하이의 출력신호는 인버어터(NT)에 의해 로우로 반전되며, 한편 비교기(COMP2)에는 하이의 입력신호와 기준신호(Vb)가 입력되어 하이의 신호가 출력되고 상기의 인버어터(NT)의 로우출력과 논리합되어 하이신호를 출력하게 된다.
입력신호가 로우일 경우, 기준신호(Va)와 입력신호를 비교하는 비교기(COMP1)의 출력은 로우가 되고, 이 로우의 출력신호는 인버어터(NT)에 의해 하이로 반전되며, 한편 비교기(COMP2)에는 로우의 입력신호와 기준신호(Vb)가 입력되어 로우의 신호가 출력되고 상기의 인버어터(NT)의 하이출력과 논리합되어 하이신호를 출력하게 된다.
입력신호가 하이 임피던스일 경우, 기준신호(Va)와 하이 임피던스 입력신호를 비교하는 비교기(COMP1)의 출력은 하이가 되고, 이 하이의 출력신호는 인버어터(NT)에 의해 로우로 반전되며, 한편 비교기(COMP2)에는 입력신호와 기준신호(Vb)가 입력되어 로우의 신호가 출력되고 상기의 인버어터(NT)의 로우출력과 논립합되어 로우신호를 출력하게 된다.
이상의 설명에서와 같이 본 발명은, 입력신호가 하이 임피던스 상태일 경우는 로우신호가 출력되고, 입력신호가 하이 임피던스 상태가 아닐 경우는 하이신호가 출력되므로 입력신호의 하이 임피던스 상태의 유무를 디지탈 계측기만으로 판별할 수 있게 되는 것이다.

Claims (2)

  1. 입력단자(1)를 통하여 비반전단자에 입력되는 입력신호와 반전단자에 입력되는 기준신호(Va)를 비교하는 비교기(COMP1)와, 이 비교기(COMP1)의 출력신호를 반전시키는 인버어터(NT)와, 상기 입력단자(1)를 통하여 비반전단자에 입력되는 입력신호와 반전단자에 입력되는 기준신호(Vb)를 비교하는 비교기(COMP2)와, 이 비교기(COMP2)의 출력신호와 상기 인버어터(NT)의 출력신호를 논리합하는 OR 게이트(OR)로 구성된 것을 특징으로 하는 하이 임피던스 측정회로.
  2. 제1항에 있어서, 기준신호들(Va,Vb)의 값은 VaHi-Z 입력신호Vb의 관계가 이루어지도록 설정되는 것을 특징으로 하는 하이 임피던스 측정회로.
KR1019930010662A 1993-06-11 1993-06-11 하이 임피던스 측정회로 KR0122855B1 (ko)

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