KR0176538B1 - 인쇄 회로 기판 검사 방법 및 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 인쇄 회로 기판의 검사 방법 및 장치에 관해 개시한다.

본 발명에 따른 인쇄 회로 기판의 검사 방법은 인쇄 회로 기판(100)의 적어도 하나 이상의 검사 영역(10),(11)을 적어도 하나 이상의 반사 미러(2)(3)(4)(5)로 구성된 미러 조립체(20),(20')의 반사광경로(6),(6')를 통해 화상 인식 장치(1),(1')로 반사시킴으로써 검사가 이루어지는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 따른 검사 장치는 그러한 반사 미러 및 화상 인식 장치를 포함하며, 본 발명은 인쇄 회로 기판의 검사 속도를 2배 이상으로 향상시킬 수 있는 이점이 있다.

Description

인쇄 회로 기판 검사 방법 및 장치

제1도는 본 발명에 따른 인쇄 회로 기판의 검사 장치를 나타낸 개략적 도면이다.

제2도는 본 발명에 또 다른 일 실시예를 나타낸 개략적 도면이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1,1' : CCD 카메라 2,3,4,5 : 반사미러

6 : 광경로 7,7' : 조절 장치

10,11,12,13 : 검사 영역 14,14' : 조명 장치

100 : 인쇄 회로 기판

본 발명은 인쇄 회로 기판(PCB)상의 부품 장착 상태 및 배열을 검사하는 장치 및 방법에 관한 것으로서, 구체적으로는 동일한 배열을 가진 인쇄 회로 기판을 검사하기 위해 다수의 반사 미러(mirror) 및 두 개상의 CCD 카메라를 이용한 검사 장치 및 방법에 관한 것이다.

일반적으로, 인쇄 회로 기판을 제작한 후에 그 양, 부에 대한 검사는 CCD 카메라와 같은 화상 인식 장치에 의해 촬상한 화면으로써 이루어진다.

이 경우, CCD 카메라의 촬상 범위는 제한되어 있으므로 인쇄 회로 기판의 크기가 클 경우에는 CCD 카메라를 여러번 옮기면서 촬상한 후 이를 개별적으로 검사하는 방법이 행해진다. 따라서 한 개의 CCD 카메라로써 인쇄 회로 기판을 검사하는데에는 상당한 시간이 소요되었다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 창안된 것으로서, 다수의 반사 미러를 이용하여 복수 개의 광경로를 만들고 이를 통해 인쇄 회로 기판을 반사시켜 이 반사된 화상을 복수 개의 CCD 카메라로 촬상하여 검사함으로써 인쇄 회로 기판의 검사 속도를 향상시킬 수 있는 인쇄 회로 기판의 검사 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.

본 발명의 또 다른 목적은 인쇄 회로 기판에 대하여 동시에 다수의 검사 영역을 확보할 수 있는 개선된 인쇄 회로 기판의 검사 장치를 제공하는 것이다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 인쇄 회로 기판 검사 방법은, 인쇄 회로 기판 상에서 적어도 2개 이상의 검사 영역을 적어도 2개 이상의 화상 인식 장치를 사용해 동시에 검사하는 방법에 있어서, 상기 인쇄 회로 기판의 적어도 하나 이상의 검사 영역을 적어도 하나 이상의 반사 미러로 구성된 미러 조립체의 반사광경로를 통해 상기 화상 인식 장치로 반사시킴으로써 검사가 이루어지는 것을 특징으로 한다.

또한, 그러한 방법과 함께 본 발명에 따른 인쇄 회로 기판을 검사하는 장치는, 인쇄 회로 기판 상에서 2개 이상의 검사 영역을 적어도 2개 이상의 화상 인식 장치를 사용해 동시에 검사하는 장치에 있어서, 상기 인쇄 회로 기판의 적어도 하나 이상의 검사 영역을 상기 화상 인식 장치로 반사시키는 적어도 하나 이상의 반사 미러로 구성된 미러 조립체를 포함하는 것을 특징으로 한다.

본 발명에 따른 또 다른 일 실시예는, 인쇄 회로 기판 상에서 2개 이상의 검사 영역을 적어도 2개 이상의 화상 인식 장치를 사용해 동시에 검사하는 장치에 있어서, 상기 인쇄 회로 기판의 측부에 수직으로 배향된 조명 장치; 상기 조명으로부터 나온 광을 상기 인쇄 회로 기판의 적어도 하나 이상의 검사 영역으로 일부 반사시키고, 다시 그 인쇄 회로 기판으로부터 반사되어 나온 광을 일부 통과시키는 적어도 하나의 반반사미러; 상기 반반사미러로부터 나온 광을 촬상하는 화상 인식 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 검사 장치이다.

이하 도면을 참조로 하여 본 발명을 상세히 설명하기로 한다.

제1도에는 본 발명에 따른 인쇄 회로 기판의 검사 장치가 도시되어 있다.

본 발명은 인쇄 회로 기판(100) 위의 검사 영역(10),(11)을 검사하기 위해 하나 이상의 미러로 구성된 미러 조립체(20),(20')와 검사 영역(10),(11)의 화상을 촬상하기 위한 화상 인식 장치인 CCD 카메라(1),(1')를 포함한다.

바람직하게는, 상기 미러 조립체(20)는 제1미러(2), 제2미러(3), 제3미러(4) 및 제4미러(5)로 이루어진 4개의 미러를 포함하지만 이들에 한정되는 것은 아니다. 구체적으로 이들 미러의 배치를 보면, 제1미러(2)는 인쇄 회로 기판의 검사 영역(10) 위에 기판과 45도 각도로 설치되고, 제2미러(3)는 그 반사면이 상기 제1미러(2)의 반사면과 평행하게 수평으로 설치되며, 제3미러(4)는 그 반사면이 상기 제2미러(3)의 반사면과 직각이 되도록 상기 제2미러 상부에 설치되고, 제4미러(5)는 그 반사면이 상기 제3미러(4)의 반사면과 평행하게 수평으로 설치되어 반사된 화상을 상기 화상 인식 장치로 최종 반사한다.

상기 미러 조립체(20),(20')는 검사 영역(10),(11)의 화상을 CCD 카메라(1),(1')로 반사시키는 광경로(6),(6')를 이룬다. 한 개의 검사 영역(10)은 하나의 광경로(6)를 형성하는 미러 조립체(20) 및 CCD 카메라(1)에 의해 검사되며, 이러한 검사는 동시에 2개 이상의 검사 영역에서 함께 수행된다.

본 발명에 따른 일 실시예는 2개의 검사 영역을 2개의 CCD 카메라로 동시에 검사하는 예를 들고 있다.

도면을 참조하면, 인쇄 회로 기판(100)을 검사하기 위해 먼저 미러 조립체(20),(20') 및 CCD 카메라(1),(1')가 검사 영역(10),(11) 위에 위치한다. 이 상태에서 검사 영역(10)의 화상은 그 상부에 위치해 있는 미러(2)에 의해 반사된다. 이것은 다시 미러(3), 미러(4) 및 미러(5)로 차례로 반사되어 최종적으로 CCD 카메라(1)에 도달한다(10'). CCD 카메라에 잡힌 화상은 신호 처리되어 모니터로 출력되거나 제어기로 보내진다. 또 하나의 검사 영역(11)에 대한 동작도 마찬가지로 이루어진다. 즉, 미러 조립체(20),(20')의 광경로(6),(6')를 이용해 동시에 2개의 검사 영역(10),(11)을 검사할 수 있는 것이다. 즉, 동일한 시간내에 2배 이상의 인쇄 회로 기판 검사 효율을 발휘한다.

본 발명에 따른 실시예에서는 미러 조립체(20),(20')가 다수의 미러, 예컨대 4개의 미러로 이루어져 있지만, 이러한 미러의 갯수는 전술한 바와 마찬가지로 조정될 수 있다. 다시 말해, 미러(2) 및 미러(3)으로 광경로(6)를 형성하고, 상기 미러(3) 위에 곧 바로 CCD 카메라(1)가 위치할 수도 있다. 극단적으로는, 한 개의 미러(2)에 의해 검사 영역(10)이 반사되고 이를 촬상하는 CCD 카메라는 측부에 가로로 설치될 수도 있다.

상기와 같은 동작으로 인쇄 회로 기판(100)의 검사 영역(10),(11)을 검사한 후에는 미러 조립체(20),(20') 및 CCD 카메라(1),(1')가 다른 검사 영역(12),(13)으로 동시에 이동하여 같은 동작을 반복한다. 물론 검사가 행해지는 인쇄 회로 기판(100)은 동일한 배열을 가진 또는 적어도 규칙적인 배열을 이루고 있는 것이 바람직하다.

상기 미러간의 이격 거리는 반사된 화상의 재반사가 이루어지지 않도록 충분히 조절된다. 또한 CCD 카메라(1)에 잡히는 화상의 초점을 맞추거나 화상을 조립하기 위한 조절장치(7),(7')도 포함된다.

이상과 같이 본 발명의 일 실시예를 설명하였으나, 이들의 실시예는 얼마든지 변형 가능하다. 즉, 동시에 검사되는 2개의 검사 영역(10),(11)에 있어서, 검사 영역(10)은 상기와 같은 미러 조립체(20) 및 CCD 카메라(1)에 의해 검사가 수행되고, 나머지 검사 영역(11)은 CCD 카메라의 직접적인 촬상에 의해 검사가 이루어질 수 있다.

또한, 본 실시예에서는 검사 영역(10),(11)이 서로 인접되어 있으나, 한 줄씩 건너 뛰어, 예컨대 검사 영역(11) 및 (13)을 동시에 검사한 후 다음에 검사 영역(10),(12)를 동시에 검사하는 방법도 본 발명의 범위에 포함되는 것이다.

본 발명에 따른 또 다른 일 실시예를 제2도에 도시하였다.

제2도에 나타낸 본 발명도 역시 인쇄 회로 기판 상에서 2개 이상의 검사 영역을 적어도 2개 이상의 화상 인식 장치를 사용해 동시에 검사하는 장치이다.

본 발명에 따른 검사 장치는, 인쇄 회로 기판의 측부에 수직으로 배향된 조명 장치(14),(14') 및 그 조명 장치로부터 나온 광을 인쇄 회로 기판(100)의 검사 영역(10),(11)으로 일부 반사시키고 다시 그 인쇄 회로 기판으로부터 반사되어 나온 광을 일부 통과시키는 반반사미러(15),(15')를 포함한다.

즉, 조명 장치(14),(14')로부터 나온 광은 반반사미러(15),(15')에 의해 일부 반사되어 검사 영역(10),(11)으로 굴절되고 일부는 통과된다. 다시 검사 영역(10),(11)으로부터 반사된 광은 마찬가지로 반반사미러(15),(15')를 일부 통과해 최종적으로 CCD 카메라(1),(1')에 도달한다. 여기에서, 통과되거나 반사되어 유효하지 않은 광은 서로 상쇄되어 기판의 화상을 촬상하는데 영향을 미치지 않는다.

전술한 바와 마찬가지로, 2개의 검사 영역(10),(11)을 동시에 검사하고 난 다음에는 반반사미러(15),(15') 및 CCD 카메라(1),(1')가 일체로 다음 검사 영역으로 이동하여 같은 동작을 반복한다. 상기에서는, 검사 영역(10),(11)이 서로 직접 인접해 있지 않은데 이것은 CCD 카메라 및 반반사미러의 용적으로 인해서 부득이 조절된 것이기는 하나 이에 한정되는 것은 아니다.

본 실시예도 그 변형이 가능한데, 예를 들어 하나의 검사 영역(10)은 상기와 같은 반반사미러(15) 및 CCD 카메라(1)에 의해 검사가 이루어지고, 다른 나머지 하나는 CCD 카메라의 직접적인 촬상에 의해 검사가 수행될 수도 있다. 단, 이 때 CCD 카메라에 의해 직접 촬상하는 검사 영역은 측부에 의한 간접 조명이 아닌 직접 조명시설이 별도로 구비되어야 할 것이다.

이상과 같이, 본 발명에 따른 인쇄 회로 기판의 검사 방법 및 장치는 동일한 배열을 가진 인쇄 회로 기판에서 동시에 2개 이상의 검사 영역을 검사할 수 있게 함으로써, 검사 시간을 반으로 줄일 수 있는 이점이 있는 동시에 여러 가지 변형을 채용함으로써 보다 효율적인 인쇄 회로 기판의 검사가 가능하다.

본 발명은 물론 도면에 도시된 실시예에 한정되는 것은 아니며 이들의 조합에 따른 다양한 실시예를 포함하는 것으로 한다.

Claims (4)

1. 인쇄 회로 기판 상에서 2개 이상의 검사 영역을 적어도 2개 이상의 화상 인식 장치를 사용해 동시에 검사하는 장치에 있어서, 상기 인쇄 회로 기판의 측부에 수직으로 배향된 조명 장치; 상기 조명으로부터 나온 광을 상기 인쇄 회로 기판의 적어도 하나 이상의 검사 영역으로 일부 반사시키고, 다시 그 인쇄 회로 기판으로부터 반사되어 나온 광을 일부 통과시키는 적어도 하나의 반반사미러; 상기 반반사미러로부터 나온 광을 촬상하는 화상 인식 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 검사 장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 인쇄 회로 기판 상의 검사 영역은 2개이며, 상기 화상 인식 장치는 2개인 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 검사 장치.
3. 제2항에 있어서, 상기 2개의 검사 영역 각각은 상기 반반사미러에 의해 상기 화상 인식 장치로 반사되는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 검사 장치.
4. 제2항에 있어서, 상기 검사 영역 중 1개는 상기 반반사미러에 의해 상기 화상 인식 장치로 반사되고, 나머지 1개는 화상 인식 장치로 직접 촬상하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 검사 장치.