JPWO2019167485A1 - Particle detection sensor - Google Patents
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Abstract
粒子検出センサ(1)は、対象流体に含まれる粒子を検出する粒子検出センサであって、検出領域(DA)に向けて光(L1)を出射する投光部(20)と、投光部(20)が出射する光に対して受光感度を有し、検出領域(DA)を通過する粒子による光(L1)の散乱光(L2)を光電変換することで電気信号を生成して出力する受光部(30)と、電気信号に基づいて、第1粒子が含まれる第1粒径区分の第1質量濃度と、第1粒子及び当該第1粒子より大きい第2粒子が含まれる第2粒径区分の第2質量濃度とを算出する信号処理回路(50)と、第1粒子の粒子数に基づいて第2粒子の粒子数を推定し、推定した粒子数に基づいて第2質量濃度の補正を行う補正回路(60)とを備える。The particle detection sensor (1) is a particle detection sensor that detects particles contained in a target fluid, and includes a light projecting unit (20) that emits light (L1) toward a detection region (DA) and a light projecting unit (20). It has light-receiving sensitivity to the light emitted by (20), and generates and outputs an electrical signal by photoelectric conversion of scattered light (L2) of light (L1) by particles passing through the detection region (DA). Based on the light receiving part (30) and the electric signal, the first mass concentration of the first particle size category containing the first particle, and the second particle containing the first particle and the second particle larger than the first particle. The signal processing circuit (50) that calculates the second mass concentration of the diameter division, the number of particles of the second particle is estimated based on the number of particles of the first particle, and the second mass concentration is based on the estimated number of particles. A correction circuit (60) for performing correction is provided.
Description
本発明は、粒子検出センサに関する。 The present invention relates to a particle detection sensor.
従来、投光素子と受光素子とを備え、空気中に浮遊する粒子を検出し、検出した粒子の粒径を算出する光電式の粒子検出センサが知られている(例えば、特許文献1を参照)。 Conventionally, a photoelectric particle detection sensor including a light emitting element and a light receiving element, which detects particles suspended in the air and calculates the particle size of the detected particles is known (see, for example, Patent Document 1). ).
光電式の粒子検出センサでは、粒径と粒子の個数とから粒径区分毎の質量濃度を算出することができる。このとき、質量濃度を十分な精度で算出するためには、一定数以上の粒子数を取得しなければならない。しかしながら、一般的には、粒子径が大きくなるにつれて、大気中に浮遊する粒子の数が少なくなる。このため、大きい粒径区分の質量濃度の計測精度が悪化するという問題がある。 In the photoelectric particle detection sensor, the mass concentration for each particle size category can be calculated from the particle size and the number of particles. At this time, in order to calculate the mass concentration with sufficient accuracy, it is necessary to obtain a certain number or more of particles. However, in general, as the particle size increases, the number of particles suspended in the atmosphere decreases. Therefore, there is a problem that the measurement accuracy of the mass concentration of a large particle size category deteriorates.
そこで、本発明は、複数の粒径区分の質量濃度を精度良く計測することができる粒子検出センサを提供することを目的とする。 Therefore, an object of the present invention is to provide a particle detection sensor capable of accurately measuring the mass concentration of a plurality of particle size categories.
上記目的を達成するため、本発明の一態様に係る粒子検出センサは、対象流体に含まれる粒子を検出する粒子検出センサであって、検出領域に向けて光を出射する投光部と、前記投光部が出射する光に対して受光感度を有し、前記検出領域を通過する粒子による前記光の散乱光を光電変換することで電気信号を生成して出力する受光部と、前記電気信号に基づいて、第1粒子が含まれる第1粒径区分の第1質量濃度と、前記第1粒子及び当該第1粒子より大きい第2粒子が含まれる第2粒径区分の第2質量濃度とを算出する信号処理回路と、前記第1粒子の粒子数に基づいて前記第2粒子の粒子数を推定し、推定した粒子数に基づいて前記第2質量濃度の補正を行う補正回路とを備える。 In order to achieve the above object, the particle detection sensor according to one aspect of the present invention is a particle detection sensor that detects particles contained in a target fluid, and includes a light projecting unit that emits light toward a detection region and the above. A light receiving unit that has light receiving sensitivity to the light emitted by the light projecting unit and generates and outputs an electric signal by photoelectrically converting the scattered light of the light by particles passing through the detection region, and the electric signal. Based on the above, the first mass concentration of the first particle size category containing the first particle and the second mass concentration of the second particle size category containing the first particle and the second particle larger than the first particle. A signal processing circuit for calculating the number of particles, and a correction circuit for estimating the number of particles of the second particle based on the number of particles of the first particle and correcting the second mass concentration based on the estimated number of particles. ..
本発明に係る粒子検出センサによれば、複数の粒径区分の質量濃度を精度良く計測することができる。 According to the particle detection sensor according to the present invention, it is possible to accurately measure the mass concentration of a plurality of particle size categories.
以下では、本発明の実施の形態に係る粒子検出センサについて、図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、いずれも本発明の一具体例を示すものである。したがって、以下の実施の形態で示される数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置及び接続形態、ステップ、ステップの順序などは、一例であり、本発明を限定する趣旨ではない。よって、以下の実施の形態における構成要素のうち、独立請求項に記載されていない構成要素については、任意の構成要素として説明される。 Hereinafter, the particle detection sensor according to the embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In addition, all the embodiments described below show a specific example of the present invention. Therefore, the numerical values, shapes, materials, components, arrangement and connection forms of the components, steps, the order of steps, etc. shown in the following embodiments are examples, and are not intended to limit the present invention. Therefore, among the components in the following embodiments, the components not described in the independent claims will be described as arbitrary components.
また、各図は、模式図であり、必ずしも厳密に図示されたものではない。したがって、例えば、各図において縮尺などは必ずしも一致しない。また、各図において、実質的に同一の構成については同一の符号を付しており、重複する説明は省略又は簡略化する。 Further, each figure is a schematic view and is not necessarily exactly illustrated. Therefore, for example, the scales and the like do not always match in each figure. Further, in each figure, substantially the same configuration is designated by the same reference numerals, and duplicate description will be omitted or simplified.
(実施の形態)
[構成]
まず、実施の形態に係る粒子検出センサ1について、図1〜図3を用いて説明する。(Embodiment)
[Constitution]
First, the
図1は、本実施の形態に係る粒子検出センサ1の斜視図である。図2は、本実施の形態に係る粒子検出センサ1の断面図である。具体的には、図2は、粒子検出センサ1の筐体10のZ軸方向における略中央におけるXY面に平行な断面を示している。図3は、本実施の形態に係る粒子検出センサ1の動作を説明するための拡大断面図である。具体的には、図3は、図2に示す断面において、検出領域DAを含む部分を拡大して示している。
FIG. 1 is a perspective view of the
なお、X軸、Y軸及びZ軸は、三次元直交座標系の三軸を示している。X軸方向及びY軸方向は、略扁平な直方体形状を有する筐体10の2つの辺に沿った方向である。Z軸方向は、筐体10の厚み方向に相当する。
The X-axis, Y-axis, and Z-axis indicate the three axes of the three-dimensional Cartesian coordinate system. The X-axis direction and the Y-axis direction are directions along two sides of the
粒子検出センサ1は、対象流体に含まれる複数の粒子Pを検出する光電式の粒子検出センサである。本実施の形態では、対象流体は、例えば空気(大気)などの気体である。粒子Pは、気体中を浮遊するマイクロメートルオーダーの微粒子、すなわち、粒子状物質(エアロゾル)である。具体的には、粒子Pは、PM2.5、浮遊粒子状物質(SPM:Suspended Particulate Matter)、PM10などである。
The
図1に示されるように、粒子検出センサ1は、筐体10を備える。図2に示されるように、粒子検出センサ1は、投光部20と、受光部30と、誘導装置40と、信号処理回路50と、補正回路60とを備える。
As shown in FIG. 1, the
なお、図2に示す断面には、信号処理回路50及び補正回路60が現れていないので、図2では、信号処理回路50及び補正回路60を模式的に表している。信号処理回路50及び補正回路60は、例えば、筐体10の外側面であって、流入口11及び流出口12が設けられた面とは反対側の面などに取り付けられている。
Since the
筐体10は、投光部20及び受光部30を収納し、内部に検出領域DAを有する。筐体10は、複数の粒子Pを含む気体の流路を形成している。検出領域DAは、気体の流路上に位置している。
The
具体的には、筐体10は、図1に示されるように、内部に気体を流入させる流入口11と、流入した気体を外部に流出させる流出口12とを有する。図2の太破線の矢印で示すように、筐体10の内部を、流入口11から流出口12まで至る経路が、気体の流路に相当する。図2には、気体の流路がL字状に形成されている例を示しているが、気体の流路は、流入口11と流出口12とを結ぶ直線状に形成されていてもよい。
Specifically, as shown in FIG. 1, the
筐体10は、例えば、遮光性を有し、受光部30及び検出領域DAに、ノイズの原因となる外光が入射するのを抑制する。筐体10は、例えば黒色の樹脂材料を用いた射出成形により形成されている。具体的には、筐体10は、射出成形により形成された複数の部品が組み合わされて構成されている。当該複数の部品によって、投光部20及び受光部30が挟まれて筐体10内の所定位置に固定されている。
The
筐体10の内部には、迷光を多重反射させることにより減衰させる光トラップ構造が設けられていてもよい。迷光は、投光部20から出射された光L1(図3を参照)のうち、検出領域DAを通過中の粒子Pによって散乱されなかった光、すなわち、散乱光L2(図3を参照)以外の光である。光トラップ構造は、流入口11又は流出口12から内部に入射した外光も減衰させることができる。
An optical trap structure may be provided inside the
投光部20は、検出領域DAに向けて光L1を出射する。図2及び図3に示されるように、投光部20は、投光素子21と、レンズ22とを備える。
The
投光素子21は、例えば固体発光素子であり、具体的には半導体レーザなどのレーザ素子である。あるいは、投光素子21は、発光ダイオード(LED:Light Emitting Diode)又は有機EL(Electroluminescence)素子などでもよい。
The
投光素子21が出射する光L1は、赤外光、紫外光、青色光、緑色光又は赤色光などの所定の波長にピークを有する光である。光L1のピークにおける半値幅は、例えば50nm以下などの狭帯域でもよい。また、光L1は、DC駆動による連続光又はパルス光であるが、これらに限られない。
The light L1 emitted by the
レンズ22は、投光素子21と検出領域DAとの間に配置されている。レンズ22は、例えば集光レンズであり、投光素子21から出射された光L1を効率良く検出領域DAに集光させる。
The
受光部30は、投光部20が出射する光に対して受光感度を有し、検出領域DAを通過する粒子Pによる光L1の散乱光L2を光電変換することで電気信号を生成して出力する。図2及び図3に示されるように、受光部30は、受光素子31と、レンズ32とを備える。
The
受光素子31は、例えばフォトダイオード、フォトトランジスタ、又は光電子増倍管などの、受光した光を電気信号に変換する光電変換素子である。受光素子31は、受光した光の受光強度に応じた電気信号を出力する。受光素子31は、投光素子21が出射する光L1の波長帯域に感度を有する。
The
受光素子31は、図2に示されるように、投光素子21が出射した光L1の直接光が入射しない位置に配置されている。具体的には、受光素子31は、投光素子21の光軸と重ならない位置に配置されている。なお、投光素子21の光軸は、投光素子21が出射する光L1のうち、強度が最も強い光の経路に相当する。具体的には、投光素子21の光軸は、投光素子21と検出領域DAとを結ぶ直線に相当する。本実施の形態では、受光素子31は、受光素子31の光軸が検出領域DAで投光素子21の光軸と交差するように配置されている。
As shown in FIG. 2, the
レンズ32は、受光素子31と検出領域DAとの間に配置されている。レンズ32は、検出領域DAにおいて粒子Pによって散乱された散乱光L2を効率良く受光素子31に集光させる。
The
誘導装置40は、検出領域DAに向けて対象流体を誘導する装置である。具体的には、誘導装置40は、検出領域DAを通過する気流を生成する送風機構である。誘導装置40は、例えば、ヒータなどの発熱素子であり、発熱による上昇気流を生成する。なお、上昇気流を効率良く利用するため、本実施の形態では、図1及び図2に示すY軸の正方向が鉛直上方、Y軸の負方向が鉛直下方になるように、粒子検出センサ1を立てて使用される。
The
誘導装置40は、小型のファンなどでもよい。誘導装置40は、筐体10の内部に配置されているが、筐体10の外側に配置されていてもよい。
The
信号処理回路50は、受光部30から出力される電気信号に基づいて、粒径区分毎に質量濃度を算出する。具体的には、信号処理回路50は、電気信号に基づいて、第1粒子が含まれる第1粒径区分の第1質量濃度と、第1粒子及び当該第1粒子より大きい第2粒子が含まれる第2粒径区分の第2質量濃度とを算出する。
The
第1粒子は、具体的には微小粒子であり、粒径が例えば2.5μm以下の粒子である。本実施の形態では、第1粒径区分は、例えばPM2.5などの小粒径区分であり、第1質量濃度は、PM2.5の質量濃度である。 The first particle is specifically a fine particle, and is a particle having a particle size of, for example, 2.5 μm or less. In the present embodiment, the first particle size category is a small particle size category such as PM2.5, and the first mass concentration is the mass concentration of PM2.5.
第2粒子は、具体的には、微小粒子よりも粒径が大きい粗大粒子であり、粒径が例えば10μm以下の粒子である。本実施の形態では、第2粒径区分は、例えばPM10などの大粒径区分であり、第2質量濃度は、PM10の質量濃度である。なお、第2粒径区分は、SPMであってもよく、第2質量濃度は、SPMの質量濃度であってもよい。 Specifically, the second particle is a coarse particle having a particle size larger than that of the fine particle, and is a particle having a particle size of, for example, 10 μm or less. In the present embodiment, the second particle size category is a large particle size category such as PM10, and the second mass concentration is the mass concentration of PM10. The second particle size classification may be SPM, and the second mass concentration may be the mass concentration of SPM.
信号処理回路50は、受光部30から出力される電気信号のピーク値の大きさに基づいて、粒子数及び粒径を計測し、計測結果に基づいて粒径区分毎の質量濃度を算出する。具体的には、信号処理回路50は、電気信号のピーク値と、粒径に対応するように予め定められた1以上の閾値とを比較することで、検出された粒子の粒径を推定する。
The
本実施の形態では、信号処理回路50は、電気信号のうち第1期間分の第1信号に基づいて、PM2.5の質量濃度を算出し、電気信号のうち第2期間分の第2信号に基づいて、PM10の質量濃度を算出する。第1期間は、例えば、PM2.5に含まれる微小粒子の粒子数(以下、PM2.5粒子数と記載する)の計測期間である。第2期間は、第1期間とは異なる期間であり、例えばPM10に含まれる粗大粒子の粒子数(以下、PM10粒子数と記載する)の計測期間である。
In the present embodiment, the
つまり、本実施の形態に係る粒子検出センサ1では、PM2.5粒子数の計測とPM10粒子数の計測とが時分割で行われる。具体的には、信号処理回路50は、受光部30から出力される電気信号を所定の期間毎に区切って演算することで、粒径区分毎の粒子数の計測を行う。
That is, in the
このとき、信号処理回路50は、受光素子31から出力される電気信号の増幅率(ゲイン)を、計測対象の粒径区分に応じて異ならせる。具体的には、図4に示されるように、信号処理回路50は、2つの増幅器51及び52と、スイッチ53とを備える。
At this time, the
図4は、本実施の形態に係る信号処理回路50の構成を示す図である。図4に示されるように、信号処理回路50は、さらに、3つの抵抗54〜56と、演算回路57とを備える。信号処理回路50は、2つの増幅器51の多段構成を有する。
FIG. 4 is a diagram showing a configuration of a
増幅器51及び52はそれぞれ、例えばオペアンプである。増幅器51の正入力端子と負入力端子との間に受光素子31が接続されている。増幅器51の出力端子は、抵抗54を介して負入力端子に接続されている。増幅器51の出力端子は、さらに、増幅器52の正入力端子に接続されている。
The
増幅器52の負入力端子は、抵抗55を介して接地されている。増幅器52の出力端子は、抵抗56を介して負入力端子に接続されている。増幅器52の出力端子は、演算回路57に接続されている。
The negative input terminal of the
スイッチ53は、抵抗56に対して並列に、すなわち、増幅器52の出力端子と負入力端子との間に設けられている。スイッチ53を導通(オン)させることにより、増幅器52の出力端子と負入力端子とが短絡されるので、増幅器52による増幅が行われない。スイッチ53がオンされた場合には、増幅器51のみによる増幅が行われる。このように、スイッチ53のオン/オフによって、電気信号の増幅率を異ならせることができる。
The
具体的には、信号処理回路50は、PM2.5粒子数を計測する第1期間では、スイッチ53をオフにすることで、増幅率を大きくする。例えば、受光素子31から出力される光電流の大きさをI、増幅器52の出力信号の電圧をVoutとした場合、スイッチ53がオフされたときのVoutは、以下の式(1)で表される。
Specifically, the
(1) Vout=Z1×(1+Z3/Z2)×I(1) Vout = Z 1 × (1 + Z 3 / Z 2 ) × I
なお、Z1〜Z3はそれぞれ、抵抗54〜56の抵抗値である。増幅率は、Z1×(1+Z3/Z2)で表される。Z 1 to Z 3 are resistance values of
PM2.5粒子数を計測する場合、投光素子21からの光を反射する粒子が微小粒子であるため、当該粒子による散乱光L2が弱くなる。このため、受光素子31から出力される光電流が小さくなる。したがって、スイッチ53をオフし、増幅率を大きくすることで、出力信号の電圧を大きくすることができる。これにより、ピーク値と閾値との比較を容易にし、粒径の推定を精度良く行うことができる。
When measuring the number of PM2.5 particles, since the particles that reflect the light from the
また、信号処理回路50は、PM10粒子数を計測する第2期間では、スイッチ53をオンすることで、増幅率を小さくする。スイッチ53がオンされたときのVoutは、以下の式(2)で表される。
Further, the
(2) Vout=Z1×I(2) Vout = Z 1 × I
PM10粒子数を計測する場合、投光素子21からの光を反射する粒子が粗大粒子であるため、微小粒子に比べて散乱光L2が強くなる。このため、受光素子31から出力される光電流も大きくなる。したがって、スイッチ53をオンし、増幅率を小さくしてもよい。
When measuring the number of PM10 particles, the scattered light L2 is stronger than the fine particles because the particles that reflect the light from the
このように、計測対象の粒子の大きさに応じて増幅率を異ならせることで、計測対象の粒子の大きさによらず、Voutが取りうる範囲を同等にすることができる。これにより、後段の演算回路57でのピーク値と閾値との比較を容易に行わせることができる。
In this way, by making the amplification factor different according to the size of the particle to be measured, the range that Vout can take can be made the same regardless of the size of the particle to be measured. As a result, it is possible to easily compare the peak value and the threshold value in the
本実施の形態では、演算回路57は、PM2.5粒子数の計測を行う第1期間分の電気信号に表れるピークの極大値(以下、ピーク値と記載する)に基づいて粒子の粒径を推定し、複数のサブ区分のいずれかに分類する。PM2.5のサブ区分は、PM2.5に相当する粒径区分が1以上の閾値によって分割された複数のサブ区分である。
In the present embodiment, the
図5は、本実施の形態に係る粒子検出センサ1の受光素子31から出力される電気信号であって、PM2.5粒子数を計測する第1期間の第1信号を示す図である。図5において、横軸は時間を表しており、縦軸は電気信号の信号強度を表している。本実施の形態では、受光素子31から出力される電気信号が電圧Voutに変換されているので、縦軸は、電圧値に相当する。
FIG. 5 is an electric signal output from the
例えば、図5に示されるように、PM2.5は、4つの閾値1〜4によって4つのサブ区分に分割されている。具体的には、PM2.5は、例えば、1.0μm以上の第1サブ区分、1.0μmより小さく0.5μm以上の第2サブ区分、0.5μmより小さく0.3μm以上の第3サブ区分、及び、0.3μmより小さい第4サブ区分が含まれる。なお、閾値4は、ノイズ成分を除去するための閾値である。
For example, as shown in FIG. 5, PM2.5 is divided into four subdivisions by four
図5には、5つのピークS1〜S5が現れた例を示している。ピークS1〜S5はそれぞれ、検出領域DAを通過した粒子による散乱光L2を受光素子31が受光することで現れた電気信号の変化に相当する。演算回路57は、ピークS1〜S5の各々のピーク値と閾値とを比較することにより、粒子をPM2.5の第1サブ区分〜第4サブ区分のいずれかに分類する。
FIG. 5 shows an example in which five peaks S1 to S5 appear. Each of the peaks S1 to S5 corresponds to a change in the electric signal that appears when the
例えば、ピークS1のピーク値は、閾値2より小さく閾値3以上であるので、ピークS1に相当する粒子は、第3サブ区分に分類される。同様に、ピークS2のピーク値は、閾値3より小さく閾値4以上であるので、ピークS2に相当する粒子は、第4サブ区分に分類される。ピークS3のピーク値は、閾値1より小さく閾値2以上であるので、ピークS3に相当する粒子は、第2サブ区分に分類される。ピークS4及びS5の各々のピーク値は、閾値1以上であるので、ピークS4及びS5の各々に相当する粒子は、第1サブ区分に分類される。
For example, since the peak value of the peak S1 is smaller than the
PM10についても同様である。具体的には、演算回路57は、PM10粒子数の計測を行う第2期間分の電気信号に現れるピークの極大値(ピーク値)に基づいて粒子の粒径を推定し、複数のサブ区分のいずれかに分類する。PM10のサブ区分は、PM10に相当する粒径区分が1以上の閾値によって分割された複数のサブ区分である。
The same applies to PM10. Specifically, the
図6は、本実施の形態に係る粒子検出センサ1の受光素子31から出力される電気信号であって、PM10粒子数を計測する第2期間の第2信号を示す図である。図6において、横軸は時間を表しており、縦軸は電気信号の信号強度を表している。本実施の形態では、受光素子31から出力される電気信号が電圧Voutに変換されているので、縦軸は、電圧値に相当する。
FIG. 6 is an electric signal output from the
例えば、図6に示されるように、PM10は、4つの閾値A〜Dによって4つのサブ区分に分割されている。具体的には、PM10は、例えば、10μmより小さく5μm以上の第1サブ区分、5μmより小さく2.5μm以上の第2サブ区分、2.5μmより小さく1.0μm以上の第3サブ区分、及び、1.0μmより小さい第4サブ区分が含まれる。 For example, as shown in FIG. 6, PM10 is divided into four subdivisions by four thresholds A to D. Specifically, PM10 is, for example, a first subsection smaller than 10 μm and 5 μm or more, a second subcategory smaller than 5 μm and 2.5 μm or more, a third subcategory smaller than 2.5 μm and 1.0 μm or more, and , A fourth subsection smaller than 1.0 μm is included.
図6には、5つのピークSa〜Seが現れた例を示している。ピークSa〜Seはそれぞれ、検出領域DAを通過した粒子による散乱光L2を受光素子31が受光することで現れた電気信号の変化に相当する。演算回路57は、ピークSa〜Seの各々のピーク値と閾値とを比較することにより、粒子をPM10の第1サブ区分〜第4サブ区分のいずれかに分類する。具体的な処理は、PM2.5の場合と同様である。
FIG. 6 shows an example in which five peaks Sa to Se appear. Each of the peaks Sa to Se corresponds to a change in the electric signal that appears when the
なお、PM2.5及びPM10の少なくとも一方のサブ区分の個数は、4個に限らず、2個又は3個でもよく、5個でもよい。あるいは、サブ区分の個数は1個でもよい。すなわち、PM2.5及びPM10の少なくとも一方は、複数のサブ区分に分割されなくてもよい。 The number of at least one subsection of PM2.5 and PM10 is not limited to 4, but may be 2 or 3, or 5. Alternatively, the number of sub-divisions may be one. That is, at least one of PM2.5 and PM10 does not have to be divided into a plurality of subdivisions.
なお、本実施の形態に係る粒子検出センサ1では、実際には、検出領域DAの中心以外の部分を通過する粒子も多数含まれる。例えば、検出領域DAの端を大きな粒子が通過した場合、当該粒子による散乱光の受光素子31による受光強度が小さくなる。このため、大きな粒子であるにも関わらず、当該粒子のサイズが「小さい」と誤判定される可能性がある。
The
本実施の形態に係る演算回路57は、当該誤判定を抑制するため、例えば、図7に示すような、信号強度(電圧値)と、粒子のサイズ毎の粒子の頻度とを対応付けたヒストグラムをメモリに保持している。図7は、本実施の形態に係る粒子検出センサ1によって検出された粒子のヒストグラムである。図7において、横軸は信号強度、縦軸は粒子のサイズ毎の粒子の頻度である。
The
図7に示されるように、信号強度が大きい場合には、そのほとんどは、粒径が大きい粒子である。一方で、信号強度が小さい場合には、粒径が小さい粒子だけでなく、検出領域DAの中心以外の部分を通過する粒径が大きい粒子及び中くらいの粒子も含まれる。演算回路57は、電気信号のピーク強度に基づいて、図7に示すヒストグラムを参照することで、当該ピークに対応する粒子Pのサイズを推定する。
As shown in FIG. 7, when the signal intensity is high, most of them are particles having a large particle size. On the other hand, when the signal intensity is small, not only the particles having a small particle size but also the particles having a large particle size and the particles having a medium particle size passing through a portion other than the center of the detection region DA are included. The
演算回路57は、一定の動作期間中に検出された粒子Pの個数をサブ区分毎にカウントする。演算回路57は、サブ区分毎に、予め定められた平均質量と、カウントした個数との積を算出し、算出したサブ区分毎の積を加算することで、PM2.5の質量濃度及びPM10の質量濃度をそれぞれ算出する。
The
演算回路57は、例えば比較器などを含む1以上の電子部品で実現される。例えば、演算回路57は、MPU(Micro Processing Unit)などで実現されてもよい。演算回路57が行う処理は、ハードウェアで実現されてもよく、プロセッサによって実行されるソフトウェアで実現されてもよい。
The
補正回路60は、第1粒径区分に含まれる第1粒子の粒子数に基づいて第2粒径区分に含まれる第2粒子の粒子数を推定し、推定した粒子数に基づいて第2粒径区分の質量濃度の補正を行う。具体的には、補正回路60は、PM2.5に含まれる微小粒子の粒子数に基づいて、PM10に含まれる粗大粒子の粒子数を推定する。補正回路60は、推定した粗大粒子の粒子数に基づいてPM10の質量濃度の補正を行う。
The
本実施の形態では、微小粒子の粒子数は、PM2.5が分割された複数のサブ区分のうち、最大粒径のサブ区分に含まれる粒子数である。例えば、図5に示される例における微小粒子の粒子数は、粒径が1.0μm以上である第4サブ区分に含まれる粒子の粒子数である。 In the present embodiment, the number of fine particles is the number of particles included in the sub-category having the maximum particle size among the plurality of sub-categories in which PM2.5 is divided. For example, the number of fine particles in the example shown in FIG. 5 is the number of particles included in the fourth sub-category having a particle size of 1.0 μm or more.
補正回路60は、第4サブ区分に含まれる粒子の粒子数の含有率に基づいて、粗大粒子の粒子数を推定する。含有率は、PM2.5に相当する全粒子数に対する、第4サブ区分に含まれる粒子の粒子数の割合に相当する。
The
本実施の形態では、補正回路60は、大きく分けて2つの補正を行う。2つの補正は、信号処理回路50によって算出されたPM10の質量濃度を補正する第1の補正と、PM10粒子数の計測方法を調整する第2の補正とである。各補正処理の詳細については、後で説明する。
In the present embodiment, the
補正回路60は、例えば1以上の電子部品で実現される。例えば、補正回路60は、MPUなどで実現されてもよい。補正回路60が行う動作は、ハードウェアで実現されてもよく、プロセッサによって実行されるソフトウェアで実現されてもよい。
The
[補正処理]
以下では、補正回路60が行う補正処理について説明する。[Correction processing]
Hereinafter, the correction process performed by the
まず、PM10の質量濃度を補正する第1の補正について、図8を用いて説明する。図8は、PM2.5及びPM10の各々の粒径に対する濃度分布を示す図である。図8において、横軸は粒径[μm]を表しており、縦軸は質量濃度を示している。 First, the first correction for correcting the mass concentration of PM10 will be described with reference to FIG. FIG. 8 is a diagram showing the concentration distribution for each particle size of PM2.5 and PM10. In FIG. 8, the horizontal axis represents the particle size [μm], and the vertical axis represents the mass concentration.
図8で示されるように、PM2.5の濃度分布とPM10の濃度分布とには、重複する部分(網掛け部分)が存在している。重複部分は、例えば、PM2.5の第4サブ区分に相当する部分である。 As shown in FIG. 8, there is an overlapping portion (shaded portion) between the concentration distribution of PM2.5 and the concentration distribution of PM10. The overlapping portion is, for example, a portion corresponding to the fourth sub-category of PM2.5.
PM2.5の濃度分布とPM10の濃度分布とには、相関関係がある。このため、重複部分に相当する第4サブ区分に含まれる微小粒子の粒子数の含有率に基づいて、PM10に含まれる粗大粒子の粒子数の推定が可能になる。例えば、補正回路60は、含有率と粗大粒子の粒子数との対応関係を示す対応情報を記憶するメモリを有する。補正回路60は、当該メモリから対応情報を読み出し、読み出した対応情報を参照することで、微小粒子の粒子数の含有率に基づいて粗大粒子の推定を行う。
There is a correlation between the concentration distribution of PM2.5 and the concentration distribution of PM10. Therefore, it is possible to estimate the number of coarse particles contained in PM10 based on the content of the number of fine particles contained in the fourth sub-category corresponding to the overlapping portion. For example, the
補正回路60は、推定した粗大粒子の粒子数に基づいて、演算回路57によって算出されたPM10の質量濃度を補正する。例えば、補正回路60は、推定した粒子数に基づく質量濃度と、PM10粒子数の計測結果(すなわち、実測数)に基づいて算出された質量濃度とに所定値以上の差分が生じた場合、補正回路60は、推定結果と実測結果とを平均化することで、PM10の質量濃度の補正値として出力する。なお、補正値は、推定結果と実測結果との平均でなくてもよく、例えば推定結果を強く重み付けした重み付け加算値であってもよい。
The
また、推定した粗大粒子の粒子数と質量濃度の補正値とを対応付けた対応情報がメモリに記憶されていてもよい。補正回路60は、当該対応情報をメモリから読み出し、読み出した対応情報を参照することで、推定した粒子数から質量濃度の補正値を決定して出力してもよい。なお、対応情報は、例えば、PM10の質量濃度が判明している環境下でPM2.5粒子数に基づく推定値を得ることで、予め生成しておくことができる。
Further, the corresponding information in which the estimated number of coarse particles and the correction value of the mass concentration are associated with each other may be stored in the memory. The
次に、粒子数の計測方法に対する第2の補正の詳細について説明する。 Next, the details of the second correction for the method of measuring the number of particles will be described.
<計測期間の補正(第1例)>
まず、粒子数の計測処理に対する補正の第1例について、図9を用いて説明する。<Correction of measurement period (1st example)>
First, a first example of correction for the particle number measurement process will be described with reference to FIG.
図9は、本実施の形態に係る粒子検出センサ1の補正の第1例として、粗大粒子の粒子数の計測期間の調整例を示す図である。補正回路60は、推定した粗大粒子の粒子数に基づいて、PM10粒子数の計測期間である第2期間の長さを変更する。
FIG. 9 is a diagram showing an example of adjusting the measurement period of the number of coarse particles as the first example of the correction of the
本実施の形態に係る粒子検出センサ1では、図9に示されるように、微小粒子の粒子数の計測と、粗大粒子の粒子数の計測と、PM2.5の質量濃度の算出と、PM10の質量濃度の算出とがこの順で行われる。微小粒子の粒子数の計測が、PM2.5の質量濃度の算出のための第1期間に相当する。粗大粒子の粒子数の計測が、PM10の質量濃度の算出のための第2期間に相当する。
In the
本実施の形態では、図9に示されるように、補正回路60は、推定された粒子数が少ない場合、推定された粒子数が多い場合よりも、第2期間を長くする。これにより、検出される粗大粒子の数(検出数)を一定数以上確保しやすくなるので、粗大粒子の粒子数を精度良く計測することができ、PM10の質量濃度を精度良く算出することができる。
In the present embodiment, as shown in FIG. 9, the
なお、推定された粒子数が多い場合は、第2期間を長くしなくても、一定数以上の粗大粒子の検出数を確保することができる。したがって、粗大粒子の粒子数を精度良く計測することができ、PM10の質量濃度を精度良く算出することができる。また、粒子数の計測から質量濃度の算出までに要する時間を短くすることができる。 When the estimated number of particles is large, it is possible to secure the number of detected coarse particles of a certain number or more without lengthening the second period. Therefore, the number of coarse particles can be measured with high accuracy, and the mass concentration of PM10 can be calculated with high accuracy. In addition, the time required from the measurement of the number of particles to the calculation of the mass concentration can be shortened.
<平均化のサイクル数の補正(第2例)>
次に、粒子数の計測処理に対する補正の第2例について、図10を用いて説明する。<Correction of the number of averaging cycles (second example)>
Next, a second example of correction for the particle number measurement process will be described with reference to FIG.
図10は、本実施の形態に係る粒子検出センサ1の補正の第2例として、質量濃度の演算の際の平均化のサイクル数の調整例を示す図である。補正回路60は、推定した粗大粒子の粒子数に基づいて、PM10の質量濃度の演算の際の平均化のサイクル数を変更する。
FIG. 10 is a diagram showing an example of adjusting the number of averaging cycles when calculating the mass concentration as a second example of correction of the
本実施の形態に係る粒子検出センサ1では、図10に示されるように、微小粒子の粒子数の計測と、粗大粒子の粒子数の計測と、PM2.5の質量濃度の算出と、PM10の質量濃度の算出とを1サイクルとして、当該サイクルが複数回繰り返される。1サイクル毎に算出される質量濃度を、複数回分で平均化することで、質量濃度が算出される。
In the
具体的には、演算回路57は、粗大粒子の計測期間に得られた電気信号(第2信号)に基づいてPM10の質量濃度を算出する処理を所定回数繰り返し、得られた所定回数分の質量濃度を平均化することで、PM10の質量濃度を算出する。補正回路60は、平均化の回数であるサイクル数を変更する。
Specifically, the
本実施の形態では、図10に示されるように、補正回路60は、推定された粒子数が少ない場合、推定された粒子数が多い場合よりも、サイクル数を多くする。例えば、図10には、推定された粒子数が多い場合は、サイクル数が3回であるのに対して、推定された粒子数が少ない場合は、サイクル数が6回である例を示している。なお、サイクル数の具体的な数値例は、これらに限らない。
In the present embodiment, as shown in FIG. 10, the
これにより、平均化の仮定で、検出される粗大粒子の数(検出数)を一定数以上確保しやすくなるので、粗大粒子の粒子数を精度良く計測することができ、PM10の質量濃度を精度良く算出することができる。 This makes it easier to secure a certain number or more of the coarse particles to be detected (detected number) under the assumption of averaging, so that the number of coarse particles can be measured accurately and the mass concentration of PM10 can be accurately measured. It can be calculated well.
なお、演算回路57は、PM2.5の質量濃度の場合も同様である。このとき、平均化のサイクル数は、PM2.5の場合とPM10の場合とで同じであってもよく、異なっていてもよい。例えば、PM2.5の場合のサイクル数は、推定された粒子数によらず、常に一定であってもよい。
The
<誘導量の補正(第3例)>
次に、粒子数の計測処理に対する補正の第3例について、図11を用いて説明する。<Correction of induction amount (3rd example)>
Next, a third example of correction for the particle number measurement process will be described with reference to FIG.
図11は、本実施の形態に係る粒子検出センサ1の補正の第3例として、対象流体の誘導量の調整例を示す図である。補正回路60は、粗大粒子の計測期間である第2期間内に誘導装置40によって誘導される対象流体の誘導量を変更する。
FIG. 11 is a diagram showing an example of adjusting the induction amount of the target fluid as a third example of the correction of the
本実施の形態では、誘導装置40は、気体を筐体10の内部に取り入れるための送風機構である。このため、補正回路60は、誘導量として吸気量を変更する。例えば、誘導装置40が抵抗素子であり、発熱による上昇気流を利用する場合、補正回路60は、抵抗素子に流す電流を調整することで、発熱量を調整する。例えば、補正回路60は、電流を多く流し、発熱量を増やすことで、上昇気流が強くなり、吸気量を多くすることができる。
In the present embodiment, the
図11に示されるように、補正回路60は、推定された粒子数が少ない場合、推定された粒子数が多い場合よりも、吸気量を増加させる。これにより、1回の計測で取り入れられる気体の量が増加するので、気体に含まれる粒子数も増加させることができる。したがって、一定数以上の粗大粒子の検出数を確保することができる。よって、粗大粒子の粒子数を精度良く計測することができ、PM10の質量濃度を精度良く算出することができる。
As shown in FIG. 11, the
PM10粒子数の計測方法の第2の補正では、上述した第1例〜第3例の全てが行われてもよく、1つのみが行われてもよい。また、PM10粒子数の計測方法の第2の補正と、PM10の質量濃度の第1の補正との両方が行われてもよく、いずれか一方のみが行われてもよい。 In the second correction of the method for measuring the number of PM10 particles, all of the above-mentioned first to third examples may be performed, or only one may be performed. Further, both the second correction of the method for measuring the number of PM10 particles and the first correction of the mass concentration of PM10 may be performed, or only one of them may be performed.
[効果など]
以上のように、本実施の形態に係る粒子検出センサ1は、対象流体に含まれる粒子を検出する粒子検出センサであって、検出領域DAに向けて光を出射する投光部20と、投光部20が出射する光L1に対して受光感度を有し、検出領域DAを通過する粒子による光の散乱光L2を光電変換することで電気信号を生成して出力する受光部30とを備える。粒子検出センサ1は、さらに、電気信号に基づいて、微小粒子が含まれる第1粒径区分の第1質量濃度(例えば、PM2.5の質量濃度)と、微小粒子及び当該微小粒子より大きい粗大粒子が含まれる第2粒径区分の第2質量濃度(例えば、PM10の質量濃度)とを算出する信号処理回路50と、微小粒子の粒子数に基づいて粗大粒子の粒子数を推定し、推定した粒子数に基づいて第2質量濃度の補正を行う補正回路60とを備える。[Effects, etc.]
As described above, the
これにより、一定数以上の粒子数が容易に計測でき、精度良く計測された微小粒子の粒子数に基づいて粗大粒子の粒子数を推定するので、粗大粒子の粒子数の推定精度も高くなる。本実施の形態によれば、推定結果に基づいてPM10の質量濃度を補正するので、PM10の質量濃度の計測精度も高められる。したがって、PM2.5だけでなく、PM10の質量濃度も精度良く計測することができる。このように、本実施の形態に係る粒子検出センサ1によれば、複数の粒径区分の質量濃度を精度良く計測することができる。
As a result, the number of particles of a certain number or more can be easily measured, and the number of coarse particles is estimated based on the number of fine particles measured with high accuracy, so that the estimation accuracy of the number of coarse particles is also high. According to the present embodiment, since the mass concentration of PM10 is corrected based on the estimation result, the measurement accuracy of the mass concentration of PM10 is also improved. Therefore, not only PM2.5 but also the mass concentration of PM10 can be measured with high accuracy. As described above, according to the
また、例えば、微小粒子の粒子数は、第1粒径区分が分割された複数のサブ区分のうち、最大粒径のサブ区分に含まれる粒子数である。補正回路60は、微小粒子の粒子数の含有率に基づいて粗大粒子の粒子数を推定する。
Further, for example, the number of fine particles is the number of particles included in the sub-category of the maximum particle size among the plurality of sub-categories in which the first particle size category is divided. The
これにより、PM2.5の最大粒径のサブ区分の粒子数の含有率と、PM10に含まれる粗大粒子の粒子数とには相関関係があるので、当該相関関係に基づいて、粗大粒子の粒子数を精度良く推定することができる。粗大粒子の粒子数の推定精度が高くなるので、PM10の質量濃度の計測精度も高められる。したがって、PM2.5だけでなく、PM10の質量濃度も精度良く計測することができる。 As a result, there is a correlation between the content of the number of particles in the sub-category of the maximum particle size of PM2.5 and the number of coarse particles contained in PM10. Therefore, based on the correlation, the particles of coarse particles The number can be estimated accurately. Since the estimation accuracy of the number of coarse particles is increased, the measurement accuracy of the mass concentration of PM10 is also improved. Therefore, not only PM2.5 but also the mass concentration of PM10 can be measured with high accuracy.
また、例えば、信号処理回路50は、電気信号のうち第1期間分の第1信号に基づいてPM2.5の質量濃度を算出し、電気信号のうち第1期間とは異なる第2期間分の第2信号に基づいてPM10の質量濃度を算出する。
Further, for example, the
これにより、PM2.5の質量濃度とPM10の質量濃度とを時系列で算出することができる。PM10の質量濃度の実測値が得られるので、補正の精度が高められる。したがって、PM2.5だけでなく、PM10の質量濃度も精度良く計測することができる。 As a result, the mass concentration of PM2.5 and the mass concentration of PM10 can be calculated in chronological order. Since the measured value of the mass concentration of PM10 can be obtained, the accuracy of correction can be improved. Therefore, not only PM2.5 but also the mass concentration of PM10 can be measured with high accuracy.
また、例えば、補正回路60は、補正として、推定した粒子数に基づいて、第2信号に基づいて算出したPM10の質量濃度を補正する。
Further, for example, the
これにより、PM10の質量濃度の演算結果を補正するので、PM10の質量濃度を精度良く計測することができる。 As a result, the calculation result of the mass concentration of PM10 is corrected, so that the mass concentration of PM10 can be measured with high accuracy.
また、例えば、補正回路60は、補正として、推定した粒子数に基づいて粗大粒子の計測期間の長さを変更する。
Further, for example, the
これにより、粗大粒子の計測に要する時間を長くすることができるので、粗大粒子の粒子数を一定数以上確保しやすくなる。したがって、PM2.5だけでなく、PM10の質量濃度も精度良く計測することができる。 As a result, the time required for measuring the coarse particles can be lengthened, so that it becomes easy to secure a certain number or more of the coarse particles. Therefore, not only PM2.5 but also the mass concentration of PM10 can be measured with high accuracy.
また、例えば、信号処理回路50は、第2信号に基づいてPM10の質量濃度を算出する処理を所定回数繰り返し、得られた所定回数分の質量濃度を平均化することで、PM10の質量濃度を算出する。補正回路60は、補正として、上記繰り返しの回数(すなわち、サイクル数)を変更する。
Further, for example, the
これにより、PM10の質量濃度の算出の際の平均化サイクルを長くすることができるので、粗大粒子の粒子数を一定数以上確保しやすくなる。したがって、PM2.5だけでなく、PM10の質量濃度も精度良く計測することができる。 As a result, the averaging cycle when calculating the mass concentration of PM10 can be lengthened, so that it becomes easy to secure a certain number or more of coarse particles. Therefore, not only PM2.5 but also the mass concentration of PM10 can be measured with high accuracy.
また、例えば、粒子検出センサ1は、さらに、検出領域DAに向けて対象流体を誘導する誘導装置40を備える。補正回路60は、補正として、第2期間内に誘導装置40によって誘導される対象流体の誘導量を変更する。
Further, for example, the
これにより、粗大粒子の粒子数の計測時に誘導される気体の量が多くなるので、粗大粒子の粒子数を一定数以上確保しやすくなる。したがって、PM2.5だけでなく、PM10の質量濃度も精度良く計測することができる。 As a result, the amount of gas induced when measuring the number of coarse particles increases, so that it becomes easy to secure a certain number or more of coarse particles. Therefore, not only PM2.5 but also the mass concentration of PM10 can be measured with high accuracy.
(その他)
以上、本発明に係る粒子検出センサについて、上記の実施の形態に基づいて説明したが、本発明は、上記の実施の形態に限定されるものではない。(Other)
The particle detection sensor according to the present invention has been described above based on the above-described embodiment, but the present invention is not limited to the above-described embodiment.
例えば、上記の実施の形態では、対象流体が気体である場合を説明したが、これに限らない。対象流体は、水などの液体でもよい。粒子検出センサ1は、水などの液体中に含まれる粒子を検出し、質量濃度を算出する。このとき、粒子検出センサ1は、筐体10の外側面に取り付けられた信号処理回路50が液体に接触するのを防ぐ防水機構を有する。防水機構は、例えば、信号処理回路50を覆うように設けられた金属製のシールド部材である。当該シールド部材は、例えば溶接などにより筐体10に隙間なく固定される。
For example, in the above embodiment, the case where the target fluid is a gas has been described, but the present invention is not limited to this. The target fluid may be a liquid such as water. The
また、例えば、粒子検出センサ1では、PM10粒子数の計測が行われなくてもよい。具体的には、信号処理回路50は、微小粒子の計測と、PM2.5の質量濃度の演算と、PM10の質量濃度の演算とをこの順に行ってもよい。PM10の質量濃度の演算では、PM2.5に含まれる微小粒子の粒子数の含有率に基づいて推定された粗大粒子の粒子数を用いて、PM10の質量濃度を算出してもよい。
Further, for example, the
また、例えば、補正回路60は、PM2.5の最大粒径のサブ区分ではなく、PM2.5に含まれる微小粒子の全粒子数に基づいて、粗大粒子の粒子数を推定してもよい。
Further, for example, the
また、例えば、粒子検出センサ1は、誘導装置40を備えなくてもよい。例えば、粒子検出センサ1は、一定方向に気流が流れている場所に、流入口11が気流の上流側、流出口12が下流側に位置するように配置されてもよい。
Further, for example, the
また、例えば、上記の実施の形態では、投光部20及び受光部30の各々がレンズを備える例について示したが、これに限らない。例えば、投光部20及び受光部30の少なくとも一方は、レンズの代わりに、ミラー(反射体)を備えてもよい。
Further, for example, in the above embodiment, an example in which each of the
なお、粒子検出センサ1は、例えば、エアコン、空気清浄機、換気扇などの各種家電機器などに搭載される。各種家電機器は、粒子検出センサ1によって検出された粒子の質量濃度に応じて、その動作を制御してもよい。例えば、空気清浄機は、粒子の質量濃度が所定の閾値より大きい場合に、運転強度(具体的には、空気の浄化力)を強くしてもよい。
The
その他、各実施の形態に対して当業者が思いつく各種変形を施して得られる形態や、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で各実施の形態における構成要素及び機能を任意に組み合わせることで実現される形態も本発明に含まれる。 In addition, it is realized by arbitrarily combining the components and functions in each embodiment within the range obtained by applying various modifications to each embodiment and the gist of the present invention. Forms are also included in the present invention.
1 粒子検出センサ
20 投光部
30 受光部
40 誘導装置
50 信号処理回路
60 補正回路
DA 検出領域
L1 光
L2 散乱光1
図4は、本実施の形態に係る信号処理回路50の構成を示す図である。図4に示されるように、信号処理回路50は、さらに、3つの抵抗54〜56と、演算回路57とを備える。信号処理回路50は、2つの増幅器51及び52の多段構成を有する。
FIG. 4 is a diagram showing a configuration of a
本実施の形態では、微小粒子の粒子数は、PM2.5が分割された複数のサブ区分のうち、最大粒径のサブ区分に含まれる粒子数である。例えば、図5に示される例における微小粒子の粒子数は、粒径が1.0μm以上である第1サブ区分に含まれる粒子の粒子数である。 In the present embodiment, the number of fine particles is the number of particles included in the sub-category having the maximum particle size among the plurality of sub-categories in which PM2.5 is divided. For example, the number of fine particles in the example shown in FIG. 5 is the number of particles included in the first sub-category having a particle size of 1.0 μm or more.
補正回路60は、第1サブ区分に含まれる粒子の粒子数の含有率に基づいて、粗大粒子の粒子数を推定する。含有率は、PM2.5に相当する全粒子数に対する、第1サブ区分に含まれる粒子の粒子数の割合に相当する。
The
図8で示されるように、PM2.5の濃度分布とPM10の濃度分布とには、重複する部分(網掛け部分)が存在している。重複部分は、例えば、PM2.5の第1サブ区分に相当する部分である。 As shown in FIG. 8, there is an overlapping portion (shaded portion) between the concentration distribution of PM2.5 and the concentration distribution of PM10. The overlapping portion is, for example, a portion corresponding to the first sub-category of PM2.5.
PM2.5の濃度分布とPM10の濃度分布とには、相関関係がある。このため、重複部分に相当する第1サブ区分に含まれる微小粒子の粒子数の含有率に基づいて、PM10に含まれる粗大粒子の粒子数の推定が可能になる。例えば、補正回路60は、含有率と粗大粒子の粒子数との対応関係を示す対応情報を記憶するメモリを有する。補正回路60は、当該メモリから対応情報を読み出し、読み出した対応情報を参照することで、微小粒子の粒子数の含有率に基づいて粗大粒子の推定を行う。
There is a correlation between the concentration distribution of PM2.5 and the concentration distribution of PM10. Therefore, it is possible to estimate the number of coarse particles contained in PM10 based on the content of the number of fine particles contained in the first sub-category corresponding to the overlapping portion. For example, the
Claims (7)
検出領域に向けて光を出射する投光部と、
前記投光部が出射する光に対して受光感度を有し、前記検出領域を通過する粒子による前記光の散乱光を光電変換することで電気信号を生成して出力する受光部と、
前記電気信号に基づいて、第1粒子が含まれる第1粒径区分の第1質量濃度と、前記第1粒子及び当該第1粒子より大きい第2粒子が含まれる第2粒径区分の第2質量濃度とを算出する信号処理回路と、
前記第1粒子の粒子数に基づいて前記第2粒子の粒子数を推定し、推定した粒子数に基づいて前記第2質量濃度の補正を行う補正回路とを備える
粒子検出センサ。A particle detection sensor that detects particles contained in the target fluid.
A floodlight unit that emits light toward the detection area,
A light receiving unit that has light receiving sensitivity to the light emitted by the light projecting unit and generates and outputs an electric signal by photoelectrically converting the scattered light of the light by particles passing through the detection region.
Based on the electric signal, the first mass concentration of the first particle size category containing the first particle and the second mass concentration of the second particle size category containing the first particle and the second particle larger than the first particle. A signal processing circuit that calculates the mass concentration and
A particle detection sensor including a correction circuit that estimates the number of particles of the second particle based on the number of particles of the first particle and corrects the second mass concentration based on the estimated number of particles.
前記補正回路は、前記第1粒子の粒子数の含有率に基づいて前記第2粒子の粒子数を推定する
請求項1に記載の粒子検出センサ。The number of particles of the first particle is the number of particles included in the sub-category of the maximum particle size among the plurality of sub-categories in which the first particle size category is divided.
The particle detection sensor according to claim 1, wherein the correction circuit estimates the number of particles of the second particle based on the content of the number of particles of the first particle.
前記電気信号のうち第1期間分の第1信号に基づいて、前記第1質量濃度を算出し、
前記電気信号のうち前記第1期間とは異なる第2期間分の第2信号に基づいて、前記第2質量濃度を算出する
請求項1又は2に記載の粒子検出センサ。The signal processing circuit
The first mass concentration is calculated based on the first signal for the first period of the electric signals.
The particle detection sensor according to claim 1 or 2, wherein the second mass concentration is calculated based on a second signal for a second period different from the first period among the electric signals.
請求項3に記載の粒子検出センサ。The particle detection sensor according to claim 3, wherein the correction circuit corrects the second mass concentration calculated based on the second signal based on the estimated number of particles as the correction.
請求項3に記載の粒子検出センサ。The particle detection sensor according to claim 3, wherein the correction circuit changes the length of the second period based on the estimated number of particles as the correction.
前記補正回路は、前記補正として、前記所定回数を変更する
請求項3に記載の粒子検出センサ。The signal processing circuit calculates the second mass concentration by repeating the process of calculating the second mass concentration based on the second signal a predetermined number of times and averaging the obtained mass concentrations for the predetermined number of times. And
The particle detection sensor according to claim 3, wherein the correction circuit changes the predetermined number of times as the correction.
前記補正回路は、前記補正として、前記第2期間内に前記誘導装置によって誘導される前記対象流体の誘導量を変更する
請求項3に記載の粒子検出センサ。Further, a guiding device for guiding the target fluid toward the detection region is provided.
The particle detection sensor according to claim 3, wherein the correction circuit changes the induction amount of the target fluid induced by the induction device within the second period as the correction.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018033439 | 2018-02-27 | ||
JP2018033439 | 2018-02-27 | ||
PCT/JP2019/002077 WO2019167485A1 (en) | 2018-02-27 | 2019-01-23 | Particle detecting sensor |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2019167485A1 true JPWO2019167485A1 (en) | 2020-12-03 |
JP6883770B2 JP6883770B2 (en) | 2021-06-09 |
Family
ID=67808827
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020502864A Active JP6883770B2 (en) | 2018-02-27 | 2019-01-23 | Particle detection sensor |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6883770B2 (en) |
KR (1) | KR102321560B1 (en) |
CN (1) | CN111630365B (en) |
TW (1) | TW201939009A (en) |
WO (1) | WO2019167485A1 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US10935480B1 (en) | 2018-09-26 | 2021-03-02 | Airviz Inc. | Optical-particle sensor head |
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-
2019
- 2019-01-23 JP JP2020502864A patent/JP6883770B2/en active Active
- 2019-01-23 CN CN201980009433.4A patent/CN111630365B/en active Active
- 2019-01-23 WO PCT/JP2019/002077 patent/WO2019167485A1/en active Application Filing
- 2019-01-23 KR KR1020207021262A patent/KR102321560B1/en active IP Right Grant
- 2019-02-13 TW TW108104745A patent/TW201939009A/en unknown
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR102321560B1 (en) | 2021-11-03 |
TW201939009A (en) | 2019-10-01 |
KR20200099588A (en) | 2020-08-24 |
CN111630365A (en) | 2020-09-04 |
CN111630365B (en) | 2023-02-24 |
WO2019167485A1 (en) | 2019-09-06 |
JP6883770B2 (en) | 2021-06-09 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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