JPWO2018225338A1 - 表示装置及び画像データ補正方法 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の実施形態について、図1〜図3に基づいて説明すれば、以下の通りである。図1は、本発明の実施形態1に係る表示装置1の構成を示すブロック図である。図2は、表示装置1の構成を示す他のブロック図である。図3は、表示装置1の動作を示すフローチャートである。
表示装置1は、図1に示すように、表示制御回路10、表示部20、ソースドライバ回路30、及びゲートドライバ回路40を備えている。表示装置1は、有機エレクトロルミネッセンスを用いた表示装置である。
Iは劣化量の増分、Gは階調、dは劣化指数、BCはBC係数、TCは温度係数である。階調とは、表示部20に表示される画像データに含まれる階調データが示す階調であり、階調データの上位8ビットを用いて0〜255の値で示される。階調データとは、階調を示すデータである。劣化指数とは、階調を劣化量に換算するための値であり、階調と輝度との関係を示す係数であるガンマ係数m、及び輝度と劣化量との関係を示す係数nを用いて、劣化指数はm×nで算出される。通常、ガンマ係数mは2.2である。係数nは実験から求められる値であり、nは1.5〜2.0であることが望ましい。
表示装置1の動作(画像データ補正方法)について図3に基づいて説明する。
本発明の他の実施形態について、図4〜図6に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。図4は、本発明の実施形態2に係る表示装置2の構成を示すブロック図である。図5は、表示装置2の動作を示すフローチャートである。図6の(a)〜(d)は、表示部20の表示面が複数の領域に分割されたときの1つの領域205を示す模式図である。
表示装置2は、図4に示すように、表示装置1と比べて、表示制御回路10が表示制御回路11に変更されている点が異なる。表示制御回路11は、表示制御回路10と比べて、画像データ補正回路110が画像データ補正回路111に変更されている点が異なる。画像データ補正回路111は、画像データ補正回路110と比べて、領域分割部160、合計劣化量算出部165、平均劣化量算出部170、及び平均劣化量累積部175(平均累積部)を備えている点、及び劣化量累積部125を備えていない点が異なる。
表示装置2の動作について図5に基づいて説明する。図5に示すように、表示装置2の動作は、表示装置1の動作と比べて、ステップS145〜ステップS160の処理が追加されている点、及びステップS115の処理が省かれている点が異なる。ここでは、表示装置2の動作が表示装置1の動作と異なっている部分のみについて説明する。
なお、1つの領域205に含まれるサブ画素数が多くなると、領域の境界と、表示される画像における階調の差が大きい箇所とが異なり、補正の誤差が目立つことが考えられる。この誤差を目立たなくするため、図6の(a)〜(d)に示すように、白い画素W1と黒い画素B1とを交互に配置する。具体的には、白い画素W1の輝度と、黒い画素B1の輝度とを別々に管理する。白い画素W1及び黒い画素B1とは、説明しやすいように、各画素を白または黒で表現しているだけであり、各画素が白または黒であることに特段の意味はない。ここでは、白い画素W1の平均累積劣化量と、黒い画素B1の平均累積劣化量とが別々に算出される。図6の(a)〜(d)に、いくつかの例を示す。表1に平均累積劣化量の圧縮率を示す。
本発明の他の実施形態について、図8及び図9に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。図8は、本発明の実施形態3に係る表示装置3の構成を示すブロック図である。図9は、表示装置3の動作を示すフローチャートである。
表示装置3は、図8に示すように、表示装置1と比べて、表示制御回路10が表示制御回路12に変更されている点が異なる。表示制御回路12は、表示制御回路10と比べて、画像データ補正回路110が画像データ補正回路112に変更されている点が異なる。画像データ補正回路112は、画像データ補正回路110と比べて、劣化量判定部180を備えている点が異なる。
表示装置3の動作について図9に基づいて説明する。図9に示すように、表示装置3の動作は、表示装置1の動作と比べて、ステップS170の処理が追加されている点が異なる。
本発明の他の実施形態について、図10及び図11に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。図10は、本発明の実施形態4に係る表示装置4の構成を示すブロック図である。図11は、表示装置4の動作を示すフローチャートである。
表示装置4は、図10に示すように、表示装置1と比べて、表示制御回路10が表示制御回路13に変更されている点が異なる。表示制御回路13は、表示制御回路10と比べて、画像データ補正回路110が画像データ補正回路113に変更されている点が異なる。画像データ補正回路113は、画像データ補正回路110と比べて、画像データ調整部185(調整部)、合計輝度算出部190(平均算出部)、平均輝度算出部195(平均算出部)、及び輝度判定部200を備えている点が異なる。
表示装置4の動作について図11に基づいて説明する。図11に示すように、表示装置4の動作は、表示装置1の動作と比べて、ステップS175、及びステップS180〜ステップS200の処理が追加されている点が異なる。
画像データ補正回路110・111・112の制御ブロック(特に画像データ取得部115、劣化量増分算出部120、劣化量累積部125、閾値判定部130、補正部135、領域分割部160、合計劣化量算出部165、平均劣化量算出部170、平均劣化量累積部175、及び劣化量判定部180)は、集積回路(ICチップ)等に形成された論理回路(ハードウェア)によって実現してもよいし、CPU(Central Processing Unit)を用いてソフトウェアによって実現してもよい。
本発明の態様1に係る表示装置1・3は、有機発光素子を含む画素が複数設けられた表示部20を備える表示装置1において、前記表示部に表示される画像データに含まれる階調データに基づいて、各画素に含まれる有機発光素子の劣化量の増分を算出する算出部(劣化量増分算出部120)と、前記算出部によって算出された劣化量の増分を一定時間ごとに累積する累積部(劣化量累積部125)と、前記累積部によって累積された劣化量の増分の総量に基づいて、前記画素の輝度を補正する補正部135とを備えることを特徴とする。
10、11、12、13 表示制御回路
20 表示部
30 ソースドライバ回路
40 ゲートドライバ回路
105 表示制御部
110、111、112、113 画像データ補正回路
115 画像データ取得部
120 劣化量増分算出部(算出部)
125 劣化量累積部(累積部)
130 閾値判定部
135 補正部
145 記憶部
150 出力データ記憶部
155 経時劣化特性記憶部
160 領域分割部
165 合計劣化量算出部
170 平均劣化量算出部
175 平均劣化量累積部(平均累積部)
180 劣化量判定部
185 画像データ調整部
190 合計輝度算出部(平均算出部)
195 平均輝度算出部(平均算出部)
200 輝度判定部
205 領域
305 シフトレジスタ
310 レジスタ
315 ラッチ回路
Aij 画素回路
Gi 走査線
Sj データ線
Claims (7)
- 有機発光素子を含む画素が複数設けられた表示部を備える表示装置において、
前記表示部に表示される画像データに含まれる階調データに基づいて、各画素に含まれる有機発光素子の劣化量の増分を算出する算出部と、
前記算出部によって算出された劣化量の増分を一定時間ごとに累積する累積部と、
前記累積部によって累積された劣化量の増分の総量に基づいて、前記画素の輝度を補正する補正部とを備えることを特徴とする表示装置。 - 前記補正部は、
前記画素の輝度を補正した後、前記画素の輝度の最大値が、前記表示部が表示可能な上限値以下である場合、有機発光素子が劣化していない画素の輝度に合わせて、有機発光素子が劣化している画素の輝度を補正し、
前記画素の輝度を補正した後、前記画素の輝度の最大値が、前記上限値を超えている場合、前記累積部によって累積された劣化量の増分の総量が最大である画素の輝度に合わせて、前記累積部によって累積された劣化量の増分の総量が最大である画素以外の画素の輝度を補正することを特徴とする請求項1に記載の表示装置。 - 周囲の明るさに応じて画素の輝度を調整する調整部と、
前記画像データに基づいて、全画素の輝度の平均を算出する平均算出部とをさらに備え、
前記補正部は、
前記平均算出部によって算出された平均が所定閾値以上である場合、前記累積部によって累積された劣化量の増分の総量が最大である画素の輝度に合わせて、前記累積部によって累積された劣化量の増分の総量が最大である画素以外の画素の輝度を補正し、
前記平均算出部によって算出された平均が前記所定閾値未満である場合、有機発光素子が劣化していない画素の輝度に合わせて、有機発光素子が劣化している画素の輝度を補正することを特徴とする請求項1に記載の表示装置。 - 有機発光素子を含む画素が複数設けられた表示部を備える表示装置における画像データ補正方法において、
前記表示部に表示される画像データに含まれる階調データに基づいて、各画素に含まれる有機発光素子の劣化量の増分を算出する算出工程と、
前記算出工程にて算出された劣化量の増分を一定時間ごとに累積する累積工程と、
前記累積工程にて累積された劣化量に基づいて、前記画素の輝度を補正する補正工程とを備えることを特徴とする画像データ補正方法。 - 前記補正工程は、
前記画素の輝度を補正した後、前記画素の輝度の最大値が、前記表示部が表示可能な上限値以下である場合、有機発光素子が劣化していない画素の輝度に合わせて、有機発光素子が劣化している画素の輝度を補正し、
前記画素の輝度を補正した後、前記画素の輝度の最大値が、前記上限値を超えている場合、前記累積工程にて累積された劣化量の増分の総量が最大である画素の輝度に合わせて、前記累積工程にて累積された劣化量の増分の総量が最大である画素以外の画素の輝度を補正することを特徴とする請求項4に記載の画像データ補正方法。 - 有機発光素子を含む画素が複数設けられた表示部を備える表示装置において、
前記表示部の表示面を複数の領域に分割する領域分割部と、
前記表示部に表示される画像データに含まれる階調データに基づいて、前記領域ごとに、前記領域内の各画素に含まれる有機発光素子の劣化量の増分の合計を算出する合計劣化量算出部と、
前記合計に基づいて有機発光素子の劣化量の増分の平均を算出する平均劣化量算出部と、
前記平均を累積する平均累積部と、
前記平均累積部によって累積された平均に基づいて、前記画素の輝度を補正する補正部とを備えることを特徴とする表示装置。 - 有機発光素子を含む画素が複数設けられた表示部を備える表示装置における画像データ補正方法において、
前記表示部の表示面を複数の領域に分割する領域分割工程と、
前記表示部に表示される画像データに含まれる階調データに基づいて、前記領域ごとに、前記領域内の各画素に含まれる有機発光素子の劣化量の増分の合計を算出する合計劣化量算出工程と、
前記合計に基づいて有機発光素子の劣化量の増分の平均を算出する平均劣化量算出工程と、
前記平均を累積する平均累積工程と、
前記平均累積工程にて累積された平均に基づいて、前記画素の輝度を補正する補正工程とを備えることを特徴とする画像データ補正方法。
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