JPWO2017183567A1 - 校正システム、校正方法、および校正プログラム - Google Patents
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Abstract
Description
[校正システム500]
図1を参照して、第1の実施の形態に従う校正システム500について説明する。図1は、第1の実施の形態に従う校正システム500におけるシステム構成の一例を示す図である。
図2〜図5を参照して、光学測定装置200の校正手順について説明する。図2は、光学測定装置200の校正手順の一例を示す図である。
図7を参照して、校正システム500の機能構成について説明する。図7は、校正処理を実現するための構成の一例を示す図である。
図8〜図10を参照して、校正システム500の制御構造について説明する。図8は、校正システム500が実行する処理を表わすフローチャートである。図9は、校正処理を表わすフローチャートである。図10は、校正結果の出力処理を表わすフローチャートである。図8〜図10の処理は、校正装置100の制御部101(図11参照)またはサーバー300の制御部301(図11参照)が校正プログラムを実行することにより実現される。他の局面において、処理の一部または全部が、回路素子またはその他のハードウェアによって実行されてもよい。
図11を参照して、校正装置100のハードウェア構成の一例について説明する。図11は、校正装置100の主要なハードウェア構成を示すブロック図である。
図12を参照して、サーバー300のハードウェア構成の一例について説明する。図12は、サーバー300の主要なハードウェア構成を示すブロック図である。
以上のようにして、本実施の形態に従う校正システム500は、校正対象の光学測定装置200の種類に合わせて校正基準を選択し、選択された校正基準に基づいて、光学測定装置200の校正処理を実行する。これにより、校正システム500は、様々な種類の光学測定装置に対応して校正処理を実行することができる。また、光学測定装置200の校正が自動で実行されるので、光学測定装置200の校正にかかる時間が短縮される。また、校正時に生じる人為的なミスが抑制される。
第1の実施の形態においては、校正対象の光学測定装置200がハンディ型の色彩色差計である例について説明を行なったが、校正可能な光学測定装置200は、これに限定されない。
[校正システム500]
第1の実施の形態に従う校正システム500は、基準板を用いて光学測定装置を校正していた。これに対して、第3の実施の形態に従う校正システム500は、基準光源を用いて光学測定装置を校正する。
図15および図16を参照して、第3の実施の形態における校正処理について説明する。図15は、第3の実施の形態に従う校正システム500が実行する処理の一部を表わすフローチャートである。図15の処理は、図8に示されるステップS200の処理に相当する。ステップS200以外のその他の処理については、第1の実施の形態で説明した通りであるので、それらの説明については繰り返さない。
ステップS224Aにおいて、校正システム500は、変数mをインクリメントする。すなわち、校正システム500は、変数mを「1」増加する。
第1〜第3の実施の形態に従う校正システム500は、温度などの環境データを校正処理には用いていなかった。これに対して、第4の実施の形態に従う校正システム500は、環境データを用いて校正処理を実行する。
校正システム500は、校正対象の光学測定装置200の周囲の環境を示す環境データを取得する。環境データは、光学測定装置200の周囲の温度や光学測定装置200に与えられた振動の大きさなどを含む。光学測定装置200の周囲の温度は、たとえば、温度センサー130(図1参照)によって検知される。光学測定装置200の振動の大きさは、たとえば、振動センサー132(図1参照)によって検知される。
異なる種類の光学測定装置を校正できる校正システムは、複数の基準物体と、校正対象の光学測定装置から当該光学測定装置の種類を受信するための受信部と、校正処理に用いられる基準物体を光学測定装置の種類ごとに対応付けている校正情報に基づいて、上記複数の基準物体の中から上記校正対象の光学測定装置の種類に対応付けられている基準物体を選択するための選択部と、上記選択部によって選択された基準物体の測定指示を上記校正対象の光学測定装置に出力し、当該校正対象の光学測定装置から当該基準物体の測定データを取得するための取得部と、上記測定データを用いて上記校正対象の光学測定装置を校正するための校正部とを備える。
Claims (7)
- 異なる種類の光学測定装置を校正できる校正システムであって、
複数の基準物体と、
校正対象の光学測定装置から当該光学測定装置の種類を受信するための受信部と、
校正処理に用いられる基準物体を光学測定装置の種類ごとに対応付けている校正情報に基づいて、前記複数の基準物体の中から前記校正対象の光学測定装置の種類に対応付けられている基準物体を選択するための選択部と、
前記選択部によって選択された基準物体の測定指示を前記校正対象の光学測定装置に出力し、当該校正対象の光学測定装置から当該基準物体の測定データを取得するための取得部と、
前記測定データを用いて前記校正対象の光学測定装置を校正するための校正部とを備える、校正システム。 - 前記校正対象の光学測定装置は、物体からの反射光を測定するための装置であり、
前記複数の基準物体は、異なる色の複数の基準板を含み、
前記選択部は、前記校正情報に基づいて、前記複数の基準板の中から前記校正対象の光学測定装置の種類に対応付けられている基準板を選択し、
前記校正システムは、前記選択部によって選択された基準板を前記校正対象の光学測定装置の測定口に対向するおように設置するための駆動部をさらに備える、請求項1に記載の校正システム。 - 前記校正対象の光学測定装置は、光源から発せられる光を測定するための装置であり、
前記複数の基準物体は、異なる波長の光を発する複数の光源を含み、
前記選択部は、前記校正情報に基づいて、前記複数の光源の中から前記校正対象の光学測定装置の種類に対応付けられている光源を選択し、
前記校正システムは、前記選択部によって選択された光源から発せられる光を前記校正対象の光学測定装置の測定口に導くための導光部をさらに備える、請求項1または2に記載の校正システム。 - 前記校正システムは、
校正装置と、
前記校正装置と通信可能なサーバーとを備え、
前記校正装置は、前記複数の基準物体と、前記受信部と、前記選択部と、前記取得部とを含み、
前記サーバーは、前記校正部を含む、請求項1〜3のいずれか1項に記載の校正システム。 - 前記校正システムは、前記校正対象の光学測定装置の周囲の環境を示す環境データを取得するためのセンサーをさらに備え、
前記校正部は、前記環境データおよび前記測定データを用いて前記校正対象の光学測定装置の校正処理を実行する、請求項1〜4のいずれか1項に記載の校正システム。 - 複数の基準物体を用いて異なる種類の光学測定装置を校正することが可能な校正方法であって、
校正対象の光学測定装置から当該光学測定装置の種類を受信するステップと、
校正処理に用いられる基準物体を光学測定装置の種類ごとに対応付けている校正情報に基づいて、前記複数の基準物体の中から前記校正対象の光学測定装置の種類に対応付けられている基準物体を選択するステップと、
前記選択するステップで選択された基準物体の測定指示を前記校正対象の光学測定装置に出力し、当該校正対象の光学測定装置から当該基準物体の測定データを取得するステップと、
前記測定データを用いて前記校正対象の光学測定装置を校正するステップとを備える、校正方法。 - 複数の基準物体を用いて異なる種類の光学測定装置を校正することが可能な校正プログラムであって、
前記校正プログラムは、コンピュータに、
校正対象の光学測定装置から当該光学測定装置の種類を受信するステップと、
校正処理に用いられる基準物体を光学測定装置の種類ごとに対応付けている校正情報に基づいて、前記複数の基準物体の中から前記校正対象の光学測定装置の種類に対応付けられている基準物体を選択するステップと、
前記選択するステップで選択された基準物体の測定指示を前記校正対象の光学測定装置に出力し、当該校正対象の光学測定装置から当該基準物体の測定データを取得するステップと、
前記測定データを用いて前記校正対象の光学測定装置を校正するステップとを実行させる、校正プログラム。
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