JPWO2017183567A1 - 校正システム、校正方法、および校正プログラム - Google Patents

Abstract

光学測定装置の種類に応じて光学測定装置を校正できる校正システムを提供する。校正システム（５００）は、複数の基準物体と、校正対象の光学測定装置から当該光学測定装置の種類を受信するための受信部（１５０）と、校正処理に用いられる基準物体を光学測定装置の種類ごとに対応付けている校正情報（８４Ａ）に基づいて、複数の基準物体の中から校正対象の光学測定装置の種類に対応付けられている基準物体を選択するための選択部（１５２）と、選択部（１５２）によって選択された基準物体の測定指示を校正対象の光学測定装置に出力し、当該校正対象の光学測定装置から当該基準物体の測定データを取得するための取得部（１５６）と、測定データを用いて校正対象の光学測定装置を校正するための校正部（３５２）とを備える。

Description

本開示は、光学測定装置を校正するための技術に関する。

測定対象物の色彩を測定することが可能な光学測定装置が普及している。光学測定装置が故障した場合には、光学測定装置を校正する必要がある。校正とは、光学測定装置の光学系がずれている場合などに測定データをソフトウェア上で補正することをいう。校正された光学測定装置は、測定データを正しく出力することができる。

校正処理に関し、特開昭６３−１４５９２４号公報（特許文献１）は、複数の校正基準試料を用いて校正処理を実行する色彩計を開示している。特開平１０−３０７０６２号公報（特許文献２）は、修理を迅速に行なうことができる分光測定装置を開示している。特開平１０−１５３５４５号公報（特許文献３）は、必要に応じて自動校正を実行する分光分析機を開示している。

特開昭６３−１４５９２４号公報 特開平１０−３０７０６２号公報 特開平１０−１５３５４５号公報

校正手順は、光学測定装置の種類に応じて変わる。近年、様々な種類の光学測定装置が普及しており、光学測定装置の校正処理は、複雑化している。そのため、校正時に人為的なミスが発生している。特許文献１〜３に開示される技術は、単一の光学測定装置に対して校正処理を実行するものである。したがって、光学測定装置の種類に応じて校正処理を適切に実行できる校正システムが望まれている。

本開示は上述のような問題点を解決するためになされたものであって、ある局面における目的は、光学測定装置の種類に応じて光学測定装置を校正できる校正システムを提供することである。他の局面における目的は、光学測定装置の種類に応じて光学測定装置を校正できる校正方法を提供することである。さらに他の局面における目的は、光学測定装置の種類に応じて光学測定装置を校正できる校正プログラムを提供することである。

異なる種類の光学測定装置を校正できる校正システムは、複数の基準物体と、校正対象の光学測定装置から当該光学測定装置の種類を受信するための受信部と、校正処理に用いられる基準物体を光学測定装置の種類ごとに対応付けている校正情報に基づいて、上記複数の基準物体の中から上記校正対象の光学測定装置の種類に対応付けられている基準物体を選択するための選択部と、上記選択部によって選択された基準物体の測定指示を上記校正対象の光学測定装置に出力し、当該校正対象の光学測定装置から当該基準物体の測定データを取得するための取得部と、上記測定データを用いて上記校正対象の光学測定装置を校正するための校正部とを備える。

他の局面に従うと、複数の基準物体を用いて異なる種類の光学測定装置を校正することが可能な校正方法は、校正対象の光学測定装置から当該光学測定装置の種類を受信するステップと、校正処理に用いられる基準物体を光学測定装置の種類ごとに対応付けている校正情報に基づいて、上記複数の基準物体の中から上記校正対象の光学測定装置の種類に対応付けられている基準物体を選択するステップと、上記選択するステップで選択された基準物体の測定指示を上記校正対象の光学測定装置に出力し、当該校正対象の光学測定装置から当該基準物体の測定データを取得するステップと、上記測定データを用いて上記校正対象の光学測定装置を校正するステップとを備える。

さらに他の局面に従うと、複数の基準物体を用いて異なる種類の光学測定装置を校正することが可能な校正プログラムは、コンピュータに、校正対象の光学測定装置から当該光学測定装置の種類を受信するステップと、校正処理に用いられる基準物体を光学測定装置の種類ごとに対応付けている校正情報に基づいて、上記複数の基準物体の中から上記校正対象の光学測定装置の種類に対応付けられている基準物体を選択するステップと、上記選択するステップで選択された基準物体の測定指示を上記校正対象の光学測定装置に出力し、当該校正対象の光学測定装置から当該基準物体の測定データを取得するステップと、上記測定データを用いて上記校正対象の光学測定装置を校正するステップとを実行させる。

ある局面において、光学測定装置の種類に応じて光学測定装置を校正することができる。

本発明の上記および他の目的、特徴、局面および利点は、添付の図面と関連して理解される本発明に関する次の詳細な説明から明らかとなるであろう。

第１の実施の形態に従う校正システムにおけるシステム構成の一例を示す図である。 光学測定装置の校正手順の一例を示す図である。 校正基準の選択処理時に参照される校正情報の内容を示す図である。 校正基準の設置手順の一例を示す図である。 校正処理時に参照される基準データの内容を示す図である。 基準板を予め測光して得られた基準スペクトルと、その後に基準板を測光して得られた測定スペクトルとをグラフで示す図である。 校正処理を実現するための構成の一例を示す図である。 第１の実施の形態に従う校正システムが実行する処理を表わすフローチャートである。 第１の実施の形態における校正処理を表わすフローチャートである。 第１の実施の形態における校正結果の出力処理を表わすフローチャートである。 第１の実施の形態に従う校正装置の主要なハードウェア構成を示すブロック図である。 第１の実施の形態に従うサーバーの主要なハードウェア構成を示すブロック図である。 第２の実施の形態に従う校正装置に据え置き型の光学測定装置を設置している様子を示す図である。 第３の実施の形態に従う校正システムにおけるシステム構成の一例を示す図である。 第３の実施の形態に従う校正システムが実行する処理の一部を表わすフローチャートである。 第３の実施の形態に従う校正情報を示す図である。

以下、図面を参照しつつ、本発明に従う各実施の形態について説明する。以下の説明では、同一の部品および構成要素には同一の符号を付してある。それらの名称および機能も同じである。したがって、これらについての詳細な説明を繰り返さない。なお、以下で説明される各実施の形態および各変形例は、適宜選択的に組み合わされてもよい。

＜第１の実施の形態＞
［校正システム５００］
図１を参照して、第１の実施の形態に従う校正システム５００について説明する。図１は、第１の実施の形態に従う校正システム５００におけるシステム構成の一例を示す図である。

校正システム５００は、校正装置１００と、サーバー３００とで構成されている。校正装置１００は、サーバー３００と通信できる。

校正装置１００には、校正対象の光学測定装置２００が設置される。光学測定装置２００は、たとえば、物体からの反射光を測定するための装置である。一例として、光学測定装置２００は、ハンディ型の分光測色計またはハンディ型の色彩色差計などである。

校正装置１００は、たとえば、制御部１０１とボックス１０２とで構成されている。制御部１０１とボックス１０２内の各構成とは電気的に接続されており、制御部１０１は、ボックス１０２内の各構成を制御する。制御部１０１は、ボックス１０２内に設けられてもよいし、ボックス１０２外に設けられてもよい。

ボックス１０２は、外部の光をカットする暗箱であってもよいし、透明の箱であってもよい。ボックス１０２の内部には、台１０３が設けられている。台１０３には、収納部１０４と、駆動部１０５と、ステージ１１２と、固定機構１１６とが配置されている。

収納部１０４は、光学測定装置２００の校正処理に用いられる校正基準１１０（基準物体）を収納する。校正処理とは、光学測定装置２００の故障前に校正基準１１０を測光して得られた基準データと、その後に同一の校正基準１１０を測光して得られる測定データとの差異に基づいて、新たに得られた測定データを基準データに合わせて補正する処理のことをいう。校正基準１１０は、たとえば、青の基準板１１０Ｂと、赤の基準板１１０Ｒと、緑の基準板１１０Ｇと、黄の基準板１１０Ｙと、オレンジの基準板１１０Ｏと、シアンの基準板１１０Ｃと、マゼンタの基準板１１０Ｍと、白の基準板１１０Ｗとを含む。

駆動部１０５は、たとえば、ロボットアーム１０６と、電磁コイル１０８とで構成されている。駆動部１０５は、ロボットアーム１０６を上下方向に駆動できるとともに、ロボットアーム１０６を回転駆動することができる。

電磁コイル１０８は、校正基準１１０の上面に貼り付けられた金属板（図示しない）を磁力で吸着する。その後、駆動部１０５は、校正基準１１０を光学測定装置２００の測定口に対向するように設置する。駆動部１０５は、光学測定装置２００の種類に合わせて設置する校正基準１１０の種類を変える。校正基準１１０の選択方法については後述する。

光学測定装置２００は、ステージ１１２上に設置され得る。ステージ１１２は、制御部１０１からの制御信号に従って上下方向に移動する。

固定機構１１６は、制御部１０１からの制御信号に従って上下方向に移動する。固定機構１１６には、孔が形成されている。制御部１０１は、光学測定装置２００の測定口が固定機構１１６の孔に嵌るように、ステージ１１２および固定機構１１６の少なくとも一方を駆動する。これにより、光学測定装置２００が校正装置１００に固定される。

固定機構１１６には、スペーサー１１８が設けられている。好ましくは、スペーサー１１８の数は、３つ以上である。スペーサー１１８には、校正基準１１０が設置される。図１の例では、赤の基準板１１０Ｒがスペーサー１１８に設置されている。制御部１０１は、スペーサー１１８と光学測定装置２００の測定口とが同じ高さになるように、ステージ１１２および固定機構１１６の少なくとも一方を駆動する。その結果、基準板１１０Ｒは、光学測定装置２００の測定口に接する。

好ましくは、ボックス１０２の内部には、光学測定装置２００の周囲の環境を示す環境データを検知するセンサーが設けられる。当該センサーは、たとえば、温度センサー１３０および振動センサー１３２を含む。温度センサー１３０は、ボックス１０２の内部の温度を検知する。より具体的には、温度センサー１３０は、光学測定装置２００の周囲に設けられ、光学測定装置２００の周囲の温度を検知する。振動センサー１３２は、光学測定装置２００の周囲に設けられ、光学測定装置２００に与えられる振動の大きさを検知する。振動センサー１３２は、たとえば加速度センサーであり、振動の大きさは、加速度で表わされる。

なお、図１の例では、校正システム５００が１つの校正装置１００で構成されているが、校正システム５００は複数の校正装置１００で構成されてもよい。同様に、図１の例では、校正システム５００が１つのサーバー３００で構成されているが、校正システム５００は複数のサーバー３００で構成されてもよい。また、図１の例では、１つの光学測定装置２００が校正装置１００に設置されているが、複数の光学測定装置２００が校正装置１００に設置されてもよい。

［校正手順］
図２〜図５を参照して、光学測定装置２００の校正手順について説明する。図２は、光学測定装置２００の校正手順の一例を示す図である。

ステップＳ１０において、校正装置１００は、光学測定装置２００の校正指示をユーザーから受け付けたとする。このことに基づいて、校正装置１００は、光学測定装置２００との通信を確立する。

ステップＳ１２において、校正装置１００は、光学測定装置２００の種類を取得するための要求を光学測定装置２００に送信する。

ステップＳ１４において、光学測定装置２００は、校正装置１００から取得要求を受信したことに基づいて、光学測定装置２００の種類を校正装置１００に送信する。光学測定装置２００の種類は、識別情報８４Ｂ（図１１参照）として光学測定装置２００に予め格納されている。識別情報８４Ｂは、たとえば、ＩＤ（Identification）などで表わされる。

ステップＳ２０において、校正装置１００は、校正基準１１０（図１参照）の中から、光学測定装置２００の種類に対応する校正基準１１０を選択する。図３を参照して、校正基準１１０の選択処理について説明する。図３は、選択処理時に参照される校正情報８４Ａの内容を示す図である。校正情報８４Ａは、校正処理に用いられる校正基準を光学測定装置の種類ごとに対応付けている。図３の例では、校正基準の一例として基準板が示されている。各光学測定装置に対応付けられる基準板は、１つであってもよいし、複数であってもよい。校正装置１００は、校正基準１１０の中から光学測定装置２００の種類に対応付けられている校正基準を選択する。校正装置１００は、選択された校正基準を校正処理に用いる校正基準として決定する。

再び図２を参照して、ステップＳ３０において、校正装置１００は、ステップＳ２０で選択された校正基準を光学測定装置２００の測定口に対向するように設置する。図４を参照して、校正基準の設置手順について説明する。図４は、選択された校正基準の設置手順の一例を示す図である。

一例として、ステップＳ２０の選択処理において赤色の基準板１１０Ｒが選択されたとする。校正装置１００の制御部１０１（図１参照）は、駆動部１０５に制御命令を出力し、ロボットアーム１０６の先端に設けられている電磁コイル１０８を基準板１１０Ｒ上に駆動する。基準板１１０Ｒの上面には金属板（図示しない）が貼り付けられており、電磁コイル１０８は、基準板１１０Ｒの金属板を磁力で吸着する。その後、駆動部１０５は、ロボットアーム１０６を駆動し、基準板１１０Ｒを光学測定装置２００の測定口に対向するように設置する。

再び図２を参照して、ステップＳ３２において、校正装置１００は、光学測定装置２００に測光命令を出力する。これにより、光学測定装置２００は、設置された基準板１１０Ｒを測光する。その結果、基準板１１０Ｒの測定データが得られる。

ステップＳ３４において、光学測定装置２００は、基準板１１０Ｒの測定データを校正装置１００に送信する。

ステップＳ３６において、校正装置１００は、光学測定装置２００から受信した測定データをサーバー３００に送信する。

ステップＳ４０において、サーバー３００は、校正装置１００から受信した測定データに基づいて、光学測定装置２００の校正処理を実行する。図５を参照して、校正処理について説明する。図５は、校正処理時に参照される基準データ３２０Ａの内容を示す図である。

基準データ３２０Ａは、サーバー３００に予め格納されている。また、基準データ３２０Ａは、光学測定装置の種類ごとに準備されている。サーバー３００は、ステップＳ１４で受信した光学測定装置２００の種類に対応する基準データ３２０Ａを選択する。

基準データ３２０Ａは、各色の校正基準１１０を予め測光して得られたものである。基準データ３２０Ａは、たとえば、各色の校正基準１１０を測光して得られた分光スペクトルを含む。分光スペクトルは、波長ごとの光強度で表わされる。サーバー３００は、ステップＳ３６で校正装置１００から受信した測定データが基準データ３２０Ａと異なる場合に、光学測定装置２００が故障していると判断し、光学測定装置２００の校正処理を実行する。

図６を参照して、校正処理の一例について説明する。図６は、基準板１１０Ｒを予め測光して得られた基準スペクトル３２１と、ステップＳ３６で基準板１１０Ｒを測光して得られた測定スペクトル３２２とをグラフで示す図である。基準スペクトル３２１は、図５に示される基準データ３２０Ａから取得される。

赤の基準板１１０Ｒは、波長λ１（約６５０ｎｍ）の光を主に反射する。そのため、基準スペクトル３２１における光強度は、波長λ１で最大となる。一方で、測定スペクトル３２２においては、光強度は波長λ２で最大となっている。すなわち、測定スペクトル３２２は、波長λ１と波長λ２との波長差Δλの分だけずれている。サーバー３００は、波長差Δλが所定値よりも大きい場合には、光学測定装置２００が故障していると判断する。

なお、上述では、サーバー３００が基準スペクトル３２１と測定スペクトル３２２とに基づいて、光学測定装置２００が故障しているか否かを判断する例について説明を行なったが、サーバー３００は、基準データ３２０Ａに規定されているＬａｂ値と、基準板を測光して得られるＬａｂ値とに基づいて、光学測定装置２００が故障しているか否かを判断してもよい。

再び図２を参照して、ステップＳ４２において、サーバー３００は、ステップＳ４０の校正処理で算出された波長差Δλを校正結果として校正装置１００に送信する。

ステップＳ４４において、校正装置１００は、サーバー３００から受信した校正結果を光学測定装置２００に送信する。

ステップＳ４６において、光学測定装置２００は、校正装置１００から受信した校正結果を格納する。

ステップＳ５０において、光学測定装置２００は、ユーザーから測光指示を受け付けたとする。

ステップＳ５２において、光学測定装置２００は、測定対象物を測光する。その結果、測定対象物の測定データが得られる。

ステップＳ５４において、光学測定装置２００は、ステップＳ５２で得られた測定データを波長差Δλの分だけずらす。これにより、測定データが校正される。

［機能構成］
図７を参照して、校正システム５００の機能構成について説明する。図７は、校正処理を実現するための構成の一例を示す図である。

図７に示されるように、校正システム５００は、校正装置１００とサーバー３００とで構成されている。校正装置１００は、記憶部８４と、受信部１５０と、選択部１５２と、駆動制御部１５４と、取得部１５６と、送信部１５８とを含む。サーバー３００は、記憶部３２０と、受信部３５０と、校正部３５２とを含む。

受信部１５０は、校正対象の光学測定装置２００から光学測定装置２００の種類を受信する。光学測定装置２００の種類は、選択部１５２および送信部１５８に出力される。

選択部１５２は、校正処理に用いる校正基準１１０（基準物体）を光学測定装置の種類ごとに対応付けている校正情報８４Ａに基づいて、校正基準１１０の中から光学測定装置２００の種類に対応付けられている校正基準１１０を選択する。校正基準の選択方法は図３で説明した通りであるので、その説明については繰り返さない。

好ましくは、校正基準１１０は、異なる色の基準板１１０Ｂ，１１０Ｒ，１１０Ｇ，１１０Ｙ，１１０Ｏ，１１０Ｃ，１１０Ｃ，１１０Ｍ，１１０Ｗ（図１参照）を含む。選択部１５２は、校正情報８４Ａに基づいて、基準板１１０Ｂ，１１０Ｒ，１１０Ｇ，１１０Ｙ，１１０Ｏ，１１０Ｃ，１１０Ｃ，１１０Ｍ，１１０Ｗの中から光学測定装置２００の種類に対応付けられている基準板を選択する。

駆動制御部１５４は、駆動部１０５（図１参照）を制御する。駆動部１０５は、駆動制御部１５４からの制御信号に基づいて、選択部１５２によって選択された校正基準を光学測定装置２００の測定口に対向するように設置する。

取得部１５６は、校正基準１１０が設置されたことに基づいて、光学測定装置２００に測定指示を出力し、校正対象の光学測定装置２００から、選択部１５２によって選択された校正基準の測定データを取得する。取得された測定データは、送信部１５８に出力される。

送信部１５８は、受信部１５０から出力された光学測定装置２００の種類と、取得部１５６から出力された定データとをサーバー３００に送信する。

受信部３５０は、光学測定装置２００の種類と、選択された校正基準の測定データとを校正装置１００から受信する。

校正部３５２は、選択された校正基準を測光して得られた測定データを用いて光学測定装置２００を校正する。校正処理は図５および図６で説明した通りであるので、その説明については繰り返さない。

校正装置１００または光学測定装置２００の処理能力は、サーバー３００よりも劣ることが多い。そのため、サーバー３００が校正処理を実行することで、校正処理にかかる時間が短縮される。また、サーバー３００が校正処理を実行することで、校正アルゴリズムが流出するリスクや、校正アルゴリズムが紛失するリスクが無くなる。

［制御構造］
図８〜図１０を参照して、校正システム５００の制御構造について説明する。図８は、校正システム５００が実行する処理を表わすフローチャートである。図９は、校正処理を表わすフローチャートである。図１０は、校正結果の出力処理を表わすフローチャートである。図８〜図１０の処理は、校正装置１００の制御部１０１（図１１参照）またはサーバー３００の制御部３０１（図１１参照）が校正プログラムを実行することにより実現される。他の局面において、処理の一部または全部が、回路素子またはその他のハードウェアによって実行されてもよい。

ステップＳ１１０において、校正システム５００は、校正指示を受け付けたか否かを判断する。当該判断処理は、たとえば、校正装置１００に実行される。校正装置１００は、校正指示を受け付けたと判断した場合（ステップＳ１１０においてＹＥＳ）、制御をステップＳ１１２に切り替える。そうでない場合には（ステップＳ１１０においてＮＯ）、校正装置１００は、ステップＳ１１０の処理を再び実行する。

ステップＳ１１２において、校正システム５００は、校正対象の光学測定装置２００の種類を光学測定装置２００から取得する。当該取得処理は、たとえば、校正装置１００の受信部１５０（図７参照）によって実行される。

ステップＳ１１４において、校正システム５００は、光学測定装置２００の使用時の環境データを光学測定装置２００から取得する。当該環境データは、たとえば、光学測定装置２００の使用時における温度や光学測定装置２００の使用時に与えられた振動の大きさなどを含む。当該温度は、光学測定装置２００に備えられる温度センサー（図示しない）によって定期的に検知され、温度履歴として光学測定装置２００記憶される。光学測定装置２００に与えられる振動の大きさは、光学測定装置２００に備えられる振動センサー（図示しない）によって定期的に検知され、振動情報として光学測定装置２００に記憶される。校正システム５００は、温度履歴と振動履歴とを光学測定装置２００から取得する。

ステップＳ１１６において、校正システム５００は、温度履歴と振動履歴とに基づいて、光学測定装置２００の故障原因を推定する。当該推定処理は、たとえば、サーバー３００に実行される。一例として、サーバー３００は、所定値以上の温度が温度履歴に含まれている場合に、高温環境下で使用されたことによる故障であると判断する。あるいは、サーバー３００は、所定値以上の振動の大きさが振動履歴に含まれている場合に、落下による故障であると判断する。

ステップＳ１２０において、校正システム５００は、光学測定装置２００の故障が校正処理で対応可能であるか否かを判断する。当該推定処理は、たとえば、サーバー３００に実行される。一例として、校正システム５００は、ステップＳ１１６で光学測定装置２００の故障が高温環境下での使用に起因すると判断された場合には、光学測定装置２００の故障が校正処理で対応可能であると判断する。校正システム５００は、ステップＳ１１６で光学測定装置２００の故障が落下に起因すると判断された場合には、光学測定装置２００の修理が必要であると判断する。すなわち、校正システム５００は、光学測定装置２００の故障が校正処理では対応できないと判断する。校正システム５００は、光学測定装置２００の故障が校正処理で対応可能であると判断した場合（ステップＳ１２０においてＹＥＳ）、制御をステップＳ２００に切り替える。そうでない場合には（ステップＳ１２０においてＮＯ）、校正システム５００は、制御をステップＳ３００に切り替える。

ステップＳ２００において、校正システム５００は、光学測定装置２００の校正処理を実行する。図９を参照して、ステップＳ２００における校正処理について説明する。

ステップＳ２１０において、校正システム５００は、上述の校正情報８４Ａ（図３参照）に基づいて、複数の基準板の中から光学測定装置２００の種類に対応付けられている基準板を選択する。当該選択処理は、たとえば、校正装置１００の選択部１５２（図７参照）によって実行される。基準板の選択方法は図３で説明した通りであるので、その説明については繰り返さない。

ステップＳ２１２において、校正システム５００は、基準板の番号を表わす変数ｎを初期化する。変数ｎは、たとえば、ゼロに初期化される。ステップＳ２１０で複数の基準板が選択された場合には、当該複数の基準板は、変数ｎにより一意に識別される。

ステップＳ２１４において、校正システム５００は、光学測定装置２００の測定口に対向するようにｎ番目の基準板を設置する。当該設置処理は、たとえば、校正装置１００の駆動制御部１５４（図７参照）によって実行される。

ステップＳ２１６において、校正システム５００は、ｎ番目の基準板が設置されたことに基づいて、光学測定装置２００に測光命令を出力する。その結果、校正システム５００は、ｎ番目の基準板の測定データを得ることができる。

ステップＳ２１８において、校正システム５００は、光学測定装置２００の校正処理を実行する。当該校正処理は、たとえば、サーバー３００の校正部３５２（図７参照）によって実行される。当該校正処理は図５および図６で説明した通りであるので、その説明については繰り返さない。

ステップＳ２２０において、校正システム５００は、全ての基準板を用いて校正処理を実行したか否かを判断する（ステップＳ２２０においてＹＥＳ）、ステップＳ２００の処理を終了し、制御をステップＳ３００に切り替える。そうでない場合には（ステップＳ２２０においてＮＯ）、校正システム５００は、制御をステップＳ２２２に切り替える。

ステップＳ２２２において、校正システム５００は、ｎ番目の基準板を元の位置に戻す。当該処理は、たとえば、校正装置１００の駆動制御部１５４（図７参照）によって実行される。

ステップＳ２２４において、校正システム５００は、変数ｎをインクリメントする。すなわち、校正システム５００は、変数ｎを「１」増加する。

ステップＳ３００において、校正システム５００は、光学測定装置２００の校正結果を表示する。図１０を参照して、ステップＳ３００における校正結果の表示処理について説明する。

ステップＳ３１０において、校正システム５００は、校正処理が正常終了したか否かを判断する。校正システム５００は、校正処理が正常終了したと判断した場合（ステップＳ３１０においてＹＥＳ）、制御をステップＳ３１２に切り替える。そうでない場合には（ステップＳ３１０においてＮＯ）、校正システム５００は、制御をステップＳ３２０に切り替える。

ステップＳ３１２において、校正システム５００は、校正処理が正常終了したことを表示する。校正処理が正常終了したことは、たとえば、校正装置１００の表示部８０（図１１参照）に表示される。あるいは、校正処理が正常終了したことは、音声により報知されてもよい。

ステップＳ３２０において、校正システム５００は、校正処理が異常終了したことを表示する。校正処理が異常終了したことは、たとえば、校正装置１００の表示部８０（図１１参照）に表示される。このとき、好ましくは、表示部８０は、異常終了の原因（内容）を表示する。なお、校正処理が異常終了したことは、音声により報知されてもよい。

ステップＳ３２２において、校正システム５００は、光学測定装置２００の修理が必要であるか否かを判断する。修理が必要であるか否かは、たとえば、ステップＳ１１６における故障原因の推定結果に基づいて判断される。校正システム５００は、光学測定装置２００の修理が必要であると判断した場合（ステップＳ３２２においてＹＥＳ）、制御をステップＳ３２４に切り替える。そうでない場合には（ステップＳ３２２においてＮＯ）、校正システム５００は、制御をステップＳ３２６に切り替える。

ステップＳ３２４において、校正システム５００は、光学測定装置２００の修理が必要であることを表示する。光学測定装置２００の修理が必要であることは、たとえば、校正装置１００の表示部８０（図１１参照）に表示される。このとき、好ましくは、表示部８０は、故障原因を表示する。これにより、光学測定装置２００の故障原因を解析するための時間が短縮される。なお、光学測定装置２００の修理が必要であることは、音声により報知されてもよい。

ステップＳ３２６において、校正システム５００は、光学測定装置２００の再校正が必要であることを表示する。光学測定装置２００の再校正が必要であることは、たとえば、校正装置１００の表示部８０（図１１参照）に表示される。あるいは、光学測定装置２００の再校正が必要であることは、音声により報知される。その後、再びステップＳ２００の校正処理が実行される。

［校正装置１００のハードウェア構成］
図１１を参照して、校正装置１００のハードウェア構成の一例について説明する。図１１は、校正装置１００の主要なハードウェア構成を示すブロック図である。

図１１に示されるように、校正装置１００は、表示部８０と、操作部８２と、記憶部８４と、通信インターフェイス９０と、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）端子９２と、制御部１０１と、ステージ１１２と、温度センサー１３０と、校正基準１１０と、温度センサー１３０と、選択部１５２とを含む。ステージ１１２、温度センサー１３０、および選択部１５２については、図１で説明した通りであるので、以下ではそれらの説明については繰り返さない。

表示部８０は、たとえば、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）、有機ＥＬ（Electro Luminescence）ディスプレイ、またはその他の表示機器である。好ましくは、表示部８０は、ディスプレイとタッチパネルとで構成されている。ディスプレイおよびタッチパネルは互いに重ねられており、表示部８０は、校正装置１００に対する操作をタッチ操作で受け付ける。表示部８０は、たとえば、校正装置１００の電源状態（たとえば、オンまたはオフ）、校正モード、校正状態、校正結果、校正装置１００内の温度などを表示する。

操作部８２は、校正装置１００に対する操作を受け付ける。一例として、操作部８２は、電源ボタン、校正モードの選択ボタン、校正開始ボタン、校正中止ボタン、アップダウンキーなどで構成されている。なお、表示部８０がタッチパネルとして構成されている場合には、操作部８２は、設けられてなくてもよい。

記憶部８４は、たとえば、ハードディスクや外付けの記憶装置などの記憶媒体である。一例として、記憶部８４は、上述の校正情報８４Ａ（図３参照）、光学測定装置２００から受信した光学測定装置２００の識別情報８４Ｂ、本実施の形態に従う校正プログラム８４Ｃなどを格納する。校正情報８４Ａ、識別情報８４Ｂ、および校正プログラム８４Ｃの格納場所は、記憶部８４に限定されず、たとえば、制御部３０１の記憶領域（たとえば、キャッシュなど）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、または外部記憶装置などに格納されてもよい。

なお、校正プログラム８４Ｃは、単体のプログラムとしてではなく、任意のプログラムの一部に組み込まれて提供されてもよい。この場合、任意のプログラムと協働して本実施の形態に従う制御処理が実現される。このような一部のモジュールを含まないプログラムであっても、本実施の形態に従うサーバー３００の趣旨を逸脱するものではない。さらに、本実施の形態に従う校正プログラム８４Ｃによって提供される機能の一部または全部は、専用のハードウェアによって実現されてもよい。さらに、校正装置１００とサーバー３００とが協働して、校正プログラム８４Ｃによって提供される機能の一部または全部が実現されてもよい。さらに、少なくとも１つのサーバーが本実施の形態に従う処理を実現する所謂クラウドサービスのような形態でサーバー３００が構成されてもよい。

通信インターフェイス９０は、校正装置１００と他の通信機器との間の通信を実現する。他の通信機器は、たとえば、光学測定装置２００やサーバー３００などである。ある局面において、通信インターフェイス９０にはアンテナ（図示しない）が接続され、校正装置１００と他の通信機器との間の通信は、当該アンテナ介した無線通信によって実現される。無線通信の規格としては、たとえば、Ｗｉｆｉダイレクト、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）、ＺｉｇＢｅｅなどが採用される。

ＵＳＢ端子９２には、ＵＳＢケーブルが接続され得る。校正装置１００と光学測定装置２００とはＵＳＢケーブルを介して互いに接続され、校正装置１００と光学測定装置２００との間の通信は、ＵＳＢケーブルを介した有線通信によって実現される。あるいは、校正装置１００と光学測定装置２００との間の通信は、ＬＡＮ（Local Area Network）ケーブルを介した有線通信によって実現されてもよい。

制御部１０１は、校正装置１００を制御する。制御部１０１は、たとえば、少なくとも１つの集積回路によって構成される。集積回路は、たとえば、少なくとも１つのＣＰＵ（Central Processing Unit）、少なくとも１つのＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、少なくとも１つのＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）、またはそれらの組み合わせなどによって構成される。

校正基準１１０は、たとえば、基準板１１１および基準光源１１３の少なくとも一方を含む。基準板１１１は、上述の基準板１１０Ｂ，１１０Ｒ，１１０Ｇ，１１０Ｙ，１１０Ｏ，１１０Ｃ，１１０Ｃ，１１０Ｍ，１１０Ｗ（図１参照）に相当する。

基準光源１１３は、複数の光源１１３Ａ〜１１３Ｃを有する。光源の数は、任意である。光源１１３Ａ〜１１３Ｃは、たとえば、水銀ランプやキセンノンランプなどのランプ、またはＬＥＤ（Light Emitting Diode）である。基準光源１１３の詳細については後述する。

［サーバー３００のハードウェア構成］
図１２を参照して、サーバー３００のハードウェア構成の一例について説明する。図１２は、サーバー３００の主要なハードウェア構成を示すブロック図である。

図１２に示されるように、サーバー３００は、制御部３０１と、ＲＯＭ３０２と、ＲＡＭ３０３と、通信インターフェイス３０４と、表示部３０５と、記憶部３２０とを含む。

制御部３０１は、たとえば、少なくとも１つの集積回路によって構成される。集積回路は、たとえば、少なくとも１つのＣＰＵ、少なくとも１つのＡＳＩＣ、少なくとも１つのＦＰＧＡ、またはそれらの組み合わせなどによって構成される。

制御部３０１は、本実施の形態に従う校正プログラム３２０Ｂなどの各種プログラムを実行することでサーバー３００の動作を制御する。制御部３０１は、校正プログラム３２０Ｂの実行命令を受け付けたことに基づいて、校正プログラム３２０Ｂを記憶部３２０からＲＯＭ３０２に読み出す。ＲＡＭ３０３は、ワーキングメモリとして機能し、校正プログラム３２０Ｂの実行に必要な各種データを一時的に格納する。

通信インターフェイス３０４は、アンテナ（図示しない）を介して、他の通信機器との間でデータを送受信する。他の通信機器は、たとえば、校正装置１００などの通信端末を含む。サーバー３００は、通信インターフェイス３０４を介して、本実施の形態に従う校正プログラム３２０Ｂをダウンロードできるように構成されてもよい。

表示部３０５は、たとえば、液晶ディスプレイ、有機ＥＬ（Electro Luminescence）ディスプレイ、またはその他の表示機器である。一例として、表示部３０５は、光学測定装置２００の校正結果を表示したり、校正処理時のパラメータを設定する設定画面を表示したりする。

記憶部３２０は、たとえば、ハードディスクや外付けの記憶装置などの記憶媒体である。一例として、記憶部３２０は、上述の基準データ３２０Ａ（図５参照）や本実施の形態に従う校正プログラム３２０Ｂなどを格納する。基準データ３２０Ａおよび校正プログラム３２０Ｂの格納場所は、記憶部３２０に限定されず、たとえば、制御部３０１の記憶領域（たとえば、キャッシュなど）、ＲＯＭ３０２、ＲＡＭ３０３、または外部記憶装置などに格納されてもよい。

なお、校正プログラム３２０Ｂは、単体のプログラムとしてではなく、任意のプログラムの一部に組み込まれて提供されてもよい。この場合、任意のプログラムと協働して本実施の形態に従う制御処理が実現される。このような一部のモジュールを含まないプログラムであっても、本実施の形態に従うサーバー３００の趣旨を逸脱するものではない。さらに、本実施の形態に従う校正プログラム３２０Ｂによって提供される機能の一部または全部は、専用のハードウェアによって実現されてもよい。さらに、校正装置１００とサーバー３００とが協働して、校正プログラム３２０Ｂによって提供される機能の一部または全部が実現されてもよい。さらに、少なくとも１つのサーバーが本実施の形態に従う処理を実現する所謂クラウドサービスのような形態でサーバー３００が構成されてもよい。

［小括］
以上のようにして、本実施の形態に従う校正システム５００は、校正対象の光学測定装置２００の種類に合わせて校正基準を選択し、選択された校正基準に基づいて、光学測定装置２００の校正処理を実行する。これにより、校正システム５００は、様々な種類の光学測定装置に対応して校正処理を実行することができる。また、光学測定装置２００の校正が自動で実行されるので、光学測定装置２００の校正にかかる時間が短縮される。また、校正時に生じる人為的なミスが抑制される。

＜第２の実施の形態＞
第１の実施の形態においては、校正対象の光学測定装置２００がハンディ型の色彩色差計である例について説明を行なったが、校正可能な光学測定装置２００は、これに限定されない。

図１３を参照して、校正可能なその他の光学測定装置について説明する。図１３は、第２の実施の形態に従う校正装置１００に据え置き型の光学測定装置２００Ａを設置している様子を示す図である。光学測定装置２００Ａは、たとえば、据え置き型の分光測色計、または据え置き型の色彩色差計などである。

校正装置１００は、光学測定装置２００Ａがステージ１１２に設置された状態で、光学測定装置２００Ａを校正する。校正の方法は、第１の実施の形態で説明した通りであるので、その説明については繰り返さない。

このように、校正システム５００は、ハンディ型の光学測定装置２００だけでなく、据え置き型の光学測定装置２００も校正することができる。

＜第３の実施の形態＞
［校正システム５００］
第１の実施の形態に従う校正システム５００は、基準板を用いて光学測定装置を校正していた。これに対して、第３の実施の形態に従う校正システム５００は、基準光源を用いて光学測定装置を校正する。

以下では、図１４を参照して、第３の実施の形態に従う校正システム５００について説明する。図１４は、第３の実施の形態に従う校正システム５００におけるシステム構成の一例を示す図である。

校正装置１００には、光学測定装置２００Ｂが設置され得る。光学測定装置２００Ｂは、たとえば、光源から発せられる光を測定することが可能な装置である。一例として、光学測定装置２００Ｂは、色彩輝度計である。校正装置１００は、光学測定装置２００Ｂと通信することができる。

校正装置１００は、制御部１０１とボックス１０２とで構成されている。ボックス１０２の内部には、基準光源１１３および導光部１１５が設けられている。

基準光源１１３は、たとえば、異なる波長の光を発する光源１１３Ａ〜１１３Ｃを含む。校正装置１００は、光学測定装置２００Ｂの種類に合わせて、光源１１３Ａ〜１１３Ｃの中から校正処理に用いる光源を選択する。その後、校正装置１００は選択され光源を点灯し、当該光源から照射された光は導光部１１５に入射する。

導光部１１５は、たとえば反射板である。導光部１１５は、駆動機構（図示しない）によって駆動される。導光部１１５は、基準光源１１３から照射された光を受けて、当該光を光学測定装置２００Ｂの測定光に反射する。これにより、光学測定装置２００Ｂは、基準光源１１３を測光することができる。

なお、導光部１１５は、必ずしも設けられる必要はない。たとえば、導光部１１５が駆動される代わりに、基準光源１１３が駆動されてもよい。この場合、導光部１１５は、各光源から照射された光が光学測定装置２００の測定口に直接入射するように駆動される。

［校正処理］
図１５および図１６を参照して、第３の実施の形態における校正処理について説明する。図１５は、第３の実施の形態に従う校正システム５００が実行する処理の一部を表わすフローチャートである。図１５の処理は、図８に示されるステップＳ２００の処理に相当する。ステップＳ２００以外のその他の処理については、第１の実施の形態で説明した通りであるので、それらの説明については繰り返さない。

ステップＳ２１０Ａにおいて、校正システム５００は、複数の基準光源の中から光学測定装置２００の種類に対応付けられている基準光源を選択する。当該選択処理は、図１６に示される校正情報８４Ａに基づいて実行される。図１６は、第３の実施の形態に従う校正情報８４Ａを示す図である。

校正情報８４Ａにおいて、校正処理に用いられる校正基準１１０が光学測定装置の種類ごとに対応付けられている。選択部１５２は、校正情報８４Ａに基づいて、複数の基準光源の中から光学測定装置２００Ｂの種類に対応付けられている基準光源を選択する。より具体的には、選択部１５２は、校正基準１１０に規定されている光学測定装置の種類の中から、光学測定装置２００Ｂの種類を探索し、当該探索された種類に対応付けられている基準光源を選択する。校正装置１００は、選択された校正基準を校正処理に利用する基準光源として決定する。

ステップＳ２１２Ａにおいて、校正システム５００は、基準光源の番号を表わす変数ｍを初期化する。変数ｍは、たとえば、ゼロに初期化される。ステップＳ２１０Ａで複数の基準光源が選択された場合には、当該複数の基準光源は、変数ｍにより一意に識別される。

ステップＳ２１４Ａにおいて、校正システム５００は、ｍ番目の基準光源を点灯する。その後、校正システム５００は、ｍ番目の基準光源から照射された光を光学測定装置２００Ｂの測定口に導くように導光部１１５（図１４参照）を駆動する。これにより、導光部１１５は、選択された光源から発せられる光を校正対象の光学測定装置２００Ｂの測定口に導く。導光部１１５の駆動処理は、たとえば、校正装置１００の駆動制御部１５４（図７参照）によって実行される。

ステップＳ２１６Ａにおいて、校正システム５００は、光学測定装置２００に測光命令を出力する。その結果、校正システム５００は、ｍ番目の基準光源の測定データを取得することができる。

ステップＳ２１８Ａにおいて、校正システム５００は、光学測定装置２００の校正処理を実行する。当該校正処理は、たとえば、サーバー３００の校正部３５２（図７参照）によって実行される。当該校正処理については図５および図６で説明した通りであるので、その説明については繰り返さない。

ステップＳ２２０Ａにおいて、校正システム５００は、全ての基準光源を用いて校正処理を実行したか否かを判断する（ステップＳ２２０ＡにおいてＹＥＳ）、ステップＳ２００の処理を終了し、制御をステップＳ３００に切り替える。そうでない場合には（ステップＳ２２０ＡにおいてＮＯ）、校正システム５００は、制御をステップＳ２２２Ａに切り替える。

ステップＳ２２２Ａにおいて、校正システム５００は、ｍ番目の基準光源を消灯する。
ステップＳ２２４Ａにおいて、校正システム５００は、変数ｍをインクリメントする。すなわち、校正システム５００は、変数ｍを「１」増加する。

＜第４の実施の形態＞
第１〜第３の実施の形態に従う校正システム５００は、温度などの環境データを校正処理には用いていなかった。これに対して、第４の実施の形態に従う校正システム５００は、環境データを用いて校正処理を実行する。

以下、第４の実施の形態における校正処理について説明する。
校正システム５００は、校正対象の光学測定装置２００の周囲の環境を示す環境データを取得する。環境データは、光学測定装置２００の周囲の温度や光学測定装置２００に与えられた振動の大きさなどを含む。光学測定装置２００の周囲の温度は、たとえば、温度センサー１３０（図１参照）によって検知される。光学測定装置２００の振動の大きさは、たとえば、振動センサー１３２（図１参照）によって検知される。

第４の実施の形態においては、上述の基準データ３２０Ａ（図５参照）が、環境データごとに予め準備されている。すなわち、基準データ３２０Ａの各々には環境データが対応付けられている。校正システム５００は、基準データ３２０Ａの各々に対応付けられている環境データの中から、校正処理時に検知された環境データに一致または略一致するものを探索し、探索された環境データに対応付けられている環境データを選択する。

次に、校正システム５００は、光学測定装置２００の種類に対応する校正基準１１０を選択する。校正基準１１０の選択方法は図３で説明した通りであるので、その説明については繰り返さない。校正システム５００は、選択された校正基準１１０を測光し、校正基準１１０の測光データを取得する。

校正システム５００は、当該測定データと、環境データに応じて選択された基準データ３２０Ａとを比較し、当該比較結果に基づいて、光学測定装置２００の校正処理を実行する。校正処理については図５および図６で説明した通りであるので、その説明については繰り返さない。

以上のように、第４の実施の形態に従う校正システム５００は、校正対象の光学測定装置２００の周囲の環境を示す環境データと、選択された校正基準を測光して得られた測定データとを用いて、光学測定装置２００の校正処理を実行する。環境データを用いて校正処理が実行されることで、光学測定装置２００をより正確に校正することができる。

＜まとめ＞
異なる種類の光学測定装置を校正できる校正システムは、複数の基準物体と、校正対象の光学測定装置から当該光学測定装置の種類を受信するための受信部と、校正処理に用いられる基準物体を光学測定装置の種類ごとに対応付けている校正情報に基づいて、上記複数の基準物体の中から上記校正対象の光学測定装置の種類に対応付けられている基準物体を選択するための選択部と、上記選択部によって選択された基準物体の測定指示を上記校正対象の光学測定装置に出力し、当該校正対象の光学測定装置から当該基準物体の測定データを取得するための取得部と、上記測定データを用いて上記校正対象の光学測定装置を校正するための校正部とを備える。

好ましくは、上記校正対象の光学測定装置は、物体からの反射光を測定するための装置である。上記複数の基準物体は、異なる色の複数の基準板を含む。上記選択部は、上記校正情報に基づいて、上記複数の基準板の中から上記校正対象の光学測定装置の種類に対応付けられている基準板を選択する。上記校正システムは、上記選択部によって選択された基準板を上記校正対象の光学測定装置の測定口に対向するおように設置するための駆動部をさらに備える。

好ましくは、上記校正対象の光学測定装置は、光源から発せられる光を測定するための装置である。上記複数の基準物体は、異なる波長の光を発する複数の光源を含む。上記選択部は、上記校正情報に基づいて、上記複数の光源の中から上記校正対象の光学測定装置の種類に対応付けられている光源を選択する。上記校正システムは、上記選択部によって選択された光源から発せられる光を上記校正対象の光学測定装置の測定口に導くための導光部をさらに備える。

好ましくは、上記校正システムは、校正装置と、上記校正装置と通信可能なサーバーとを備える。上記校正装置は、上記複数の基準物体と、上記受信部と、上記選択部と、上記取得部とを含む。上記サーバーは、上記校正部を含む。

好ましくは、上記校正システムは、上記校正対象の光学測定装置の周囲の環境を示す環境データを取得するためのセンサーをさらに備える。上記校正部は、上記環境データおよび上記測定データを用いて上記校正対象の光学測定装置の校正処理を実行する。

今回開示された実施の形態は全ての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内での全ての変更が含まれることが意図される。

８０，３０５ 表示部、８２ 操作部、８４，３２０ 記憶部、８４Ａ 校正情報、８４Ｂ 識別情報、８４Ｃ，３２０Ｂ 校正プログラム、９０，３０４ 通信インターフェイス、９２ ＵＳＢ端子、１００ 校正装置、１０１，３０１ 制御部、１０２ ボックス、１０３ 台、１０４ 収納部、１０５ 駆動部、１０６ ロボットアーム、１０８ 電磁コイル、１１０ 校正基準、１１０Ｂ，１１０Ｃ，１１０Ｇ，１１０Ｍ，１１０Ｏ，１１０Ｒ，１１０Ｗ，１１０Ｙ，１１１ 基準板、１１２ ステージ、１１３ 基準光源、１１３Ａ〜１１３Ｃ 光源、１１５ 導光部、１１６ 固定機構、１１８ スペーサー、１３０ 温度センサー、１３２ 振動センサー、１５０，３５０ 受信部、１５２ 選択部、１５４ 駆動制御部、１５６ 取得部、１５８ 送信部、２００，２００Ａ，２００Ｂ 光学測定装置、３００ サーバー、３０２ ＲＯＭ、３０３ ＲＡＭ、３２０Ａ 基準データ、３２１ 基準スペクトル、３２２ 測定スペクトル、３５２ 校正部、５００ 校正システム。

Claims (7)

1. 異なる種類の光学測定装置を校正できる校正システムであって、
   複数の基準物体と、
   校正対象の光学測定装置から当該光学測定装置の種類を受信するための受信部と、
   校正処理に用いられる基準物体を光学測定装置の種類ごとに対応付けている校正情報に基づいて、前記複数の基準物体の中から前記校正対象の光学測定装置の種類に対応付けられている基準物体を選択するための選択部と、
   前記選択部によって選択された基準物体の測定指示を前記校正対象の光学測定装置に出力し、当該校正対象の光学測定装置から当該基準物体の測定データを取得するための取得部と、
   前記測定データを用いて前記校正対象の光学測定装置を校正するための校正部とを備える、校正システム。
2. 前記校正対象の光学測定装置は、物体からの反射光を測定するための装置であり、
   前記複数の基準物体は、異なる色の複数の基準板を含み、
   前記選択部は、前記校正情報に基づいて、前記複数の基準板の中から前記校正対象の光学測定装置の種類に対応付けられている基準板を選択し、
   前記校正システムは、前記選択部によって選択された基準板を前記校正対象の光学測定装置の測定口に対向するおように設置するための駆動部をさらに備える、請求項１に記載の校正システム。
3. 前記校正対象の光学測定装置は、光源から発せられる光を測定するための装置であり、
   前記複数の基準物体は、異なる波長の光を発する複数の光源を含み、
   前記選択部は、前記校正情報に基づいて、前記複数の光源の中から前記校正対象の光学測定装置の種類に対応付けられている光源を選択し、
   前記校正システムは、前記選択部によって選択された光源から発せられる光を前記校正対象の光学測定装置の測定口に導くための導光部をさらに備える、請求項１または２に記載の校正システム。
4. 前記校正システムは、
   校正装置と、
   前記校正装置と通信可能なサーバーとを備え、
   前記校正装置は、前記複数の基準物体と、前記受信部と、前記選択部と、前記取得部とを含み、
   前記サーバーは、前記校正部を含む、請求項１〜３のいずれか１項に記載の校正システム。
5. 前記校正システムは、前記校正対象の光学測定装置の周囲の環境を示す環境データを取得するためのセンサーをさらに備え、
   前記校正部は、前記環境データおよび前記測定データを用いて前記校正対象の光学測定装置の校正処理を実行する、請求項１〜４のいずれか１項に記載の校正システム。
6. 複数の基準物体を用いて異なる種類の光学測定装置を校正することが可能な校正方法であって、
   校正対象の光学測定装置から当該光学測定装置の種類を受信するステップと、
   校正処理に用いられる基準物体を光学測定装置の種類ごとに対応付けている校正情報に基づいて、前記複数の基準物体の中から前記校正対象の光学測定装置の種類に対応付けられている基準物体を選択するステップと、
   前記選択するステップで選択された基準物体の測定指示を前記校正対象の光学測定装置に出力し、当該校正対象の光学測定装置から当該基準物体の測定データを取得するステップと、
   前記測定データを用いて前記校正対象の光学測定装置を校正するステップとを備える、校正方法。
7. 複数の基準物体を用いて異なる種類の光学測定装置を校正することが可能な校正プログラムであって、
   前記校正プログラムは、コンピュータに、
   校正対象の光学測定装置から当該光学測定装置の種類を受信するステップと、
   校正処理に用いられる基準物体を光学測定装置の種類ごとに対応付けている校正情報に基づいて、前記複数の基準物体の中から前記校正対象の光学測定装置の種類に対応付けられている基準物体を選択するステップと、
   前記選択するステップで選択された基準物体の測定指示を前記校正対象の光学測定装置に出力し、当該校正対象の光学測定装置から当該基準物体の測定データを取得するステップと、
   前記測定データを用いて前記校正対象の光学測定装置を校正するステップとを実行させる、校正プログラム。