JPWO2017159855A1 - X線検査装置 - Google Patents

X線検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2017159855A1
JPWO2017159855A1 JP2018506042A JP2018506042A JPWO2017159855A1 JP WO2017159855 A1 JPWO2017159855 A1 JP WO2017159855A1 JP 2018506042 A JP2018506042 A JP 2018506042A JP 2018506042 A JP2018506042 A JP 2018506042A JP WO2017159855 A1 JPWO2017159855 A1 JP WO2017159855A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
ray
foreign object
function
inspection apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2018506042A
Other languages
English (en)
Inventor
株本 隆司
隆司 株本
正雄 津野
正雄 津野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ishida Co Ltd
Original Assignee
Ishida Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ishida Co Ltd filed Critical Ishida Co Ltd
Publication of JPWO2017159855A1 publication Critical patent/JPWO2017159855A1/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/083Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/18Investigating the presence of flaws defects or foreign matter

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

本発明の課題は、物品全体における異物の位置を特定し易い画像を生成するX線検査装置を提供することにある。X線検査装置(10)では、異物位置特定用画像(P3)によって、検査員は商品(G)における異物の位置を容易に特定することができるので、従来のような「物品の全体形状の画像と当該異物のみの画像とを交互に見比べながら当該物品全体における当該異物の位置を特定する」必要がなくなり、作業性が向上する。

Description

本発明は、検査対象物に対して照射されたX線の透過画像に基づいて検査対象物内の異物混入の有無を判定する検査装置に関する。
従来、物品への異物混入の有無を判定する手段としてX線検査装置が利用されている。例えば、特許文献1(特開2009−210535号公報)に記載のX線検査装置は、
被検査物にX線を照射し、被検査物を透過したX線(透過X線量)に基づいて異物の範囲を特定している。
しかしながら、異物の混入があると判定された物品から当該異物を除去するために対象となるX線透過画像で当該異物の位置を特定しようとしても、当該物品の全体形状の画像と当該異物のみの画像とを交互に見比べながら当該物品全体における当該異物の位置を特定しなければならず、不慣れなオペレータには手間がかかる作業であった。
本発明の課題は、物品全体における異物の位置を特定し易い画像を生成するX線検査装置を提供することにある。
本発明の第1観点に係るX線検査装置は、物品に対してX線を照射して、物品に異物が含まれているか否かを判定するX線検査装置であって、画像生成部を備えている。画像生成部は、物品を透過したX線のデータからX線透過画像を生成する。また、画像生成部は、第1機能と、第2機能と、第3機能とを有している。第1機能は、異物の有無を判定するための画像である異物抽出画像を生成する機能である。第2機能は、物品の位置、大きさ、及び形状を示す輪郭を抽出した輪郭抽出画像を生成する機能である。第3機能は、輪郭抽出画像を異物抽出画像に合成し、物品における異物の位置を特定した画像である異物位置特定用画像を生成する。
このX線検査装置では、異物位置特定画像によって、作業者は物品における異物の位置を容易に特定することができるので、従来のような「物品の全体形状の画像と当該異物のみの画像とを交互に見比べながら当該物品全体における当該異物の位置を特定する」必要がなくなり、作業性が向上する。
本発明の第2観点に係るX線検査装置は、第1観点に係るX線検査装置であって、画像生成部が、輪郭及び/又は輪郭の内側を着色する着色機能をさらに有している。
このX線検査装置では、物品の輪郭の視認性が向上するので、作業効率の向上に繋がる。
本発明の第3観点に係るX線検査装置は、第1観点に係るX線検査装置であって、表示部と、調整部とをさらに備えている。表示部は、画像生成部が生成する画像を表示する。調整部は、表示部に異物位置特定用画像を表示させながら、検査感度の調整を行うために使用される。
このX線検査装置では、作業者は、表示部に異物位置特定用画像を表示させながら、検査感度の調整を行うことができるので、調整が容易で、検査作業者にとって使い勝手がよい。
本発明の第4観点に係るX線検査装置は、第1観点に係るX線検査装置であって、画像生成部が、エッジ処理の機能と、標準化機能とをさらに有している。エッジ処理の機能は、X線透過画像における輝度の空間変化を輪郭として強調する機能である。標準化機能は、エッジ処理された画像において輪郭を膨張・縮小処理によって標準化する機能である。
このX線検査装置では、輪郭線を明瞭に表示することができる。
本発明に係るX線検査装置では、異物位置特定画像によって、作業者は物品における異物の位置を容易に特定することができるので、従来のような「物品の全体形状の画像と当該異物のみの画像とを交互に見比べながら当該物品全体における当該異物の位置を特定する」必要がなくなり、作業性が向上する。
本発明の一実施形態に係るX線検査装置の外観斜視図。 X線検査装置のシールドボックスの内部構成図。 X線検査の原理を示す模式図。 制御コンピュータのブロック構成図。 画像生成部の機能ブロック図。 X線検査装置の前後の工程構成図。 異物が検出された商品のX線透過画像の画像図。 異物抽出画像の画像図。 輪郭抽出画像の画像図。 異物位置特定画像の画像図 異物位置特定用画像の自動生成制御のフローチャート。
以下図面を参照しながら、本発明の実施形態について説明する。なお、以下の実施形態は、本発明の具体例であって、本発明の技術的範囲を限定するものではない。
(1)X線検査装置10全体の構成
図1は、本発明の一実施形態に係るX線検査装置の外観斜視図である。図1において、X線検査装置10は、食品等の商品Gの生産ライン(図6参照)に組み込まれて商品Gの品質検査を行う装置の1つであって、連続的に搬送されてくる商品Gに対してX線を照射することにより商品Gの良否判断を行う装置である。
検査対象物である商品Gは、前段コンベア60によってX線検査装置10のところまで運ばれてくる。商品Gは、X線検査装置10において良品または不良品に分類される。このX線検査装置10での検査結果は、X線検査装置10の下流側に配置されている振分機構70に送られる。
振分機構70は、X線検査装置10において良品と判断された商品Gを、正常品を排出するコンベア80へと送り、X線検査装置10において不良品と判断された商品Gを、不良排出方向90、不良排出方向91へと振り分ける。
(2)詳細構成
図2は、X線検査装置のシールドボックスの内部構成図である。図1及び図2において、X線検査装置10は、シールドボックス11と、コンベア12と、X線照射器13と、X線ラインセンサ14と、タッチパネル機能付きのモニタ30(図1参照)と、制御コンピュータ20(図4参照)とから構成されている。
(2−1)シールドボックス11
シールドボックス11の両側面には、商品Gをシールドボックス11の内外に搬入出させるための開口11aが形成されている。開口11aは、シールドボックス11の外部へのX線の漏洩を防止するために、遮蔽ノレン(図示せず)により塞がれている。この遮蔽ノレンは、鉛を含むゴムから成形されており、商品Gが開口11aを通過する際に商品Gによって押しのけられるようになっている。
そして、シールドボックス11内には、コンベア12、X線照射器13、X線ラインセンサ14、制御コンピュータ20等が収容されている。また、シールドボックス11の正面上部には、モニタ30の他、キーの差し込み口および電源スイッチ等が配置されている。
(2−2)コンベア12
コンベア12は、シールドボックス11内において商品Gを搬送するものであり、図1に示すように、シールドボックス11の両側面に形成された開口11aを貫通するように配置されている。そして、コンベア12は、コンベアモータ12a(図4参照)によって駆動される駆動ローラによって無端状のベルトを回転させながら、ベルト上に載置された商品Gを搬送する。
コンベア12による搬送速度は、オペレータが入力した設定速度になるように、制御コンピュータ20によるコンベアモータ12aのインバータ制御によって細かく制御される。また、コンベアモータ12aには、コンベア12による搬送速度を検出して制御コンピュータ20に送るエンコーダ12b(図4参照)が装着されている。
(2−3)X線照射器13
X線照射器13は、図2に示すように、コンベア12の上方に配置されており、下方のX線ラインセンサ14に向けて扇状の照射範囲XにX線を照射する。
(2−4)X線ラインセンサ14
図3は、X線検査の原理を示す模式図である。図3において、X線ラインセンサ14は、コンベア12の下方に配置されており、主として多数の画素センサ14aから構成されている。これらの画素センサ14aは、コンベア12による搬送方向に直交する向きに一直線に水平配置されている。また、各画素センサ14aは、商品Gやコンベア12を透過したX線を検出し、X線透視像信号を出力する。X線透視像信号は、X線の明るさ(濃度)を示すものである。
(2−5)モニタ30
モニタ30は、フルドット表示の液晶ディスプレイであり、検査時に必要となる検査パラメータ等の入力をオペレータに促す画面を表示する。また、モニタ30は、タッチパネル機能も有しており、オペレータからの検査パラメータ等の入力を受け付ける。
(2−6)制御コンピュータ20
図4は、制御コンピュータ20のブロック構成図である。図4において、制御コンピュータ20は、CPU(中央演算処理装置)21、ROM(リードオンリーメモリ)22、RAM(ランダムアクセスメモリ)23、HDD(ハードディスク)25および記憶メディア等を挿入するためのドライブ24を搭載している。
CPU21では、ROM22やHDD25に格納されている各種プログラムが実行される。HDD25には、検査パラメータや検査結果が保存蓄積される。検査パラメータについては、モニタ30のタッチパネル機能を使ったオペレータからの入力によって設定及び変更が可能である。オペレータは、これらのデータがHDD25だけでなくドライブ24に挿入された記憶メディアにも保存蓄積されるように設定することができる。
さらに、制御コンピュータ20は、モニタ30でのデータ表示を制御する表示制御回路(図示せず)、モニタ30のタッチパネルを介してオペレータにより入力されたキー入力データを取り込むキー入力回路(図示せず)、プリンタ(図示せず)等の外部機器やLAN等のネットワークとの接続を可能にする通信ポート(図示せず)なども備えている。
そして、制御コンピュータ20の各部(21〜25)は、アドレスバスやデータバス等のバスラインを介して相互に接続されている。
また、制御コンピュータ20は、コンベアモータ12a、エンコーダ12b、光電センサ15、X線照射器13、X線ラインセンサ14等に接続されている。光電センサ15は、検体である商品Gが扇状のX線の照射範囲X(図2参照)を通過するタイミングを検知するための同期センサであり、主として、コンベア12を挟んで配置される一対の投光器および受光器から構成されている。
(3)CPU21の構成
制御コンピュータ20のHDD25には、画像生成モジュール、領域特定モジュール、重量推定モジュール、重量診断モジュール、異物検査モジュールおよび総合診断モジュールを含む検査プログラムが格納されている。そして、制御コンピュータ20のCPU21は、これらのプログラムモジュールを読み出して実行することにより、画像生成部21a、領域判別部21b、重量推定部21c、重量診断部21d、異物検査部21eおよび総合診断部21f(図4参照)として動作する。
(3−1)画像生成部21a
画像生成部21aは、X線ラインセンサ14から出力されるX線透視像信号に基づいて、商品GのX線透過画像を生成する。画像生成部21aは、商品Gが扇状のX線の照射範囲X(図2参照)を通過するときにX線ラインセンサ14の各画素センサ14aから出力されるX線透視像信号を細かい時間間隔で取得し、取得したX線透視像信号に基づいて商品GのX線透過画像を生成する。なお、商品Gが扇状のX線の照射範囲Xを通過するタイミングは、光電センサ15からの信号により判断される。すなわち、画像生成部21aは、X線ラインセンサ14の各画素センサ14aから得られるX線の明るさに関する細かい時間間隔毎のデータをマトリクス状に時系列につなぎ合わせることにより、商品Gを写すX線透過画像を生成する。
画像生成部21aは、X線透過画像を生成する機能が主機能であるが、この主機能のほかに、異物位置を特定するために必要ないくつかの機能を有している(図5参照)。これらについては「(4)異物位置の特定」の段で説明する。
(3−2)領域判別部21b
領域判別部21bは、画像生成部21aにより生成された商品Gを写すX線透過画像から、商品領域を判別する。
(3−3)重量推定部21c
重量推定部21cは、領域判別部21bにより判別された商品領域に対して画像処理を施すことにより、商品Gの重量を推定する。当該重量推定処理は、X線透過画像P上においてはX線の照射方向に厚みのある物質ほど暗く写るという性質を利用し、以下の原理に基づいて行われる。
X線透過画像P上の厚さtの物質を写す画素の明るさIは、物質の存在しない領域に含まれる画素の明るさをI0とした場合、以下の式(1)によって表される。
I/I0=e-μt ・・・(1)
ここで、μは、X線のエネルギーと物質の種類とに応じて定まる線吸収係数である。式(1)を物質の厚さtについて解くと、以下の式(2)のようになる。
t=−1/μ×ln(I/I0) ・・・(2)
また、内容物の微小部位の重量は、当該微小部位の厚さに比例する。したがって、明るさIの画素の写す内容物の微小部位の重量mは、適当な定数αを用いて、以下の式(3)によって近似的に算出される。
m=−αln(I/I0) ・・・(3)
重量推定部21cは、商品Gを構成する全ての画素に対応する重量mを算出して足し合わせることにより、商品G全体の重量を推定する。
(3−4)重量診断部21d
重量診断部21dは、商品Gの内容物の重量が所定の範囲内に収まっているか否かをチェックする。そして、重量が当該範囲内に収まっている場合には、その商品Gを正常と診断し、当該範囲内に収まっていない場合には、その商品Gを重量異常と診断する。
なお、重量診断部21dによる処理は、重量推定部21cによる処理に遅れて並列に実行される。
(3−5)異物検査部21e
異物検査部21eは、画像生成部21aにより生成された商品GのX線透過画像に対して2値化処理を施すことにより、商品Gに含まれる異物を検出する。より具体的には、商品GのX線透過画像P上に予め設定した閾値よりも暗く現れる領域が存在する場合には、その商品Gに異物が混入していると判断し、その商品Gを異常と判断する。
(3−6)総合診断部21f
重量診断部21dも異物検査部21eも、商品Gを異常と判断すると、直ちにその旨を示す信号を総合診断部21fに送る。総合診断部21fは、重量診断部21dから当該信号を受け取ると、商品Gを不良品であると診断するとともに、直ちに異物検査部21eによる検査を終了させる。
また、異物検査部21eから当該信号を受け取った場合には、商品Gを不良品であると診断するとともに、直ちに重量診断部21dによる検査を終了させる。異物が検出されただけの商品Gであっても、重量異常が検出されただけの商品Gであっても出荷できないのであるから、他の検査結果にかかわらず当該商品Gを不良品と結論付けることができるからである。また、総合診断部21fは、重量診断部21dおよび異物検査部21eの両方から異常が検出されなかった旨を示す信号を受け取った場合には、商品Gを良品である診断する。そして、総合診断部21fは、診断結果を振分機構70へ送る。
(4)異物位置の特定手順
異物検査部21eによって異物が検出された商品Gは、振分機構70によってコンベア80から除外され、異物の再検査が行われる。異物の再検査では、商品G内に混入した異物の位置を特定する作業が必要であり、以下の手順で行われる。
(4−1)手順1
先ず、画面と実際の商品Gとを観察しながら異物の位置を特定するため、再検査の対象となる商品GのX線透過画像P0がモニタ30に表示される。
図7Aは、異物が検出された商品GのX線透過画像P0の画像図である。図7Aにおいて、濃く写る領域Rgは商品Gのシルエットである。そのシルエット中に薄く写る領域Rfが異物と判定されたものである。
なお、異物検査部21eによって異物が検出された商品GのX線透過画像P0は、ROM22に格納されているので、検査員は、随時、元画像を画面に表示することができる。
(4−2)手順2
次に、異物抽出画像P1がモニタ30に表示される。図7Bは、異物抽出画像P1の画像図である。図7Bにおいて、異物抽出画像P1は、X線透過画像P0の異物と判定された領域Rfを抽出した画像である。画像生成部21aは、異物抽出画像P1を生成する機能(以後、第1機能という。)を有している。
従来、検査員は画面上で、X線透過画像P0と異物抽出画像P1とを交互に見比べながら商品G全体における異物の位置を特定しなければならず、必ずしも使い勝手が良いとはいえなかった。そこで、本実施形態のX線検査装置では、さらに使い勝手を良くするため、画像生成部21aには以下に説明する機能が追加されている。
(4−3)手順3
ここでは、輪郭抽出画像P2がモニタ30に表示される。図7Cは、輪郭抽出画像P2の画像図である。図7Cにおいて、輪郭抽出画像P2は、X線透過画像P0の領域Rgの輪郭のみを抽出した画像である。画像生成部21aは、輪郭抽出画像P2を生成する機能(以後、第2機能という。)を有している。
なお、画像生成部21aは、輪郭を特定するため、X線透過画像P0における輝度の空間変化を輪郭として強調するエッジ処理の機能と、エッジ処理された画像において輪郭を膨張・縮小処理によって標準化する標準化機能とをさらに有している。
(4−4)手順4
次に、異物位置特定用画像P3がモニタ30に表示される。図7Dは、異物位置特定用画像P3の画像図である。図7Dにおいて、異物位置特定用画像P3は、輪郭抽出画像P2を異物抽出画像P1に合成し、商品Gにおける異物の位置を特定した画像である。画像生成部21aは、異物位置特定用画像P3を生成する機能(以後、第3機能という。)を有している。
検査員は、異物位置特定用画像P3を利用して、実際の商品Gにおける異物の位置を特定し、商品Gから異物を取り出し、解析を行う。
上記の通り、画像生成部21aが、異物抽出画像P1を生成する第1機能に加えて、輪郭抽出画像P2を生成する第2機能と、輪郭抽出画像P2を異物抽出画像P1に合成して異物位置特定用画像P3を生成する第3機能とを備えたことにより、商品Gにおける異物位置の特定が格段に容易となる。
また、付加機能として、モニタ30に異物位置特定用画像P3を表示させながら、検査感度の調整を行う調整部33をモニタ30側に備えてもよい。
(4−5)手順5
画像生成部21aは、輪郭抽出画像P2及び異物位置特定用画像P3上の輪郭線を着色する、或いは輪郭線の内側を着色する着色機能をさらに有しているので、この機能によって、輪郭線を着色するか、或いは輪郭線の内側を着色することができ、視認性を良くし、作業効率の向上を図ることができる。
(5)特徴
(5−1)
X線検査装置10では、異物位置特定用画像P3によって、検査員は商品Gにおける異物の位置を容易に特定することができるので、従来のような「物品の全体形状の画像と当該異物のみの画像とを交互に見比べながら当該物品全体における当該異物の位置を特定する」必要がなくなり、作業性が向上する。
(5−2)
X線検査装置10では、画像生成部21aが、エッジ処理の機能によってX線透過画像P0における輝度の空間変化を輪郭として強調し、標準化機能によってその輪郭を膨張・縮小処理によって標準化するので、輪郭線を明瞭に表示することができる。
(5−3)
X線検査装置10では、検査員は、モニタ30に異物位置特定用画像P3を表示させながら、検査感度の調整を行うことができるので、調整が容易で、検査員にとって使い勝手がよい。
(5−4)
X線検査装置10では、画像生成部21aが、輪郭抽出画像P2及び異物位置特定用画像P3上の輪郭線を着色する、或いは輪郭線の内側を着色する着色機能をさらに有しているので、この機能によって、輪郭線を着色するか、或いは輪郭線の内側を着色することによって、視認性が良くし、作業効率の向上を図ることができる。
(6)変形例
上記の実施形態では、検査員が異物位置特定用画像P3を生成するまでの手順を用いて異物位置の特定方法を説明したが、例えば、所定の入力を行えば、異物位置特定用画像P3を自動生成する制御を導入してもよい。
図8は、異物位置特定用画像P3の自動生成制御のフローチャートである。図8において、制御コンピュータ20は画像生成部21aを介して以下の制御を行う。
(ステップS1)
先ず、制御コンピュータ20は、ステップS1で異物位置特定用画像P3の生成指令の有無を判定し、指令があったときはステップS2に進み、指令がないときは異物位置特定用画像P3の生成指令の有無の判定を継続する。
(ステップS2)
次に、制御コンピュータ20は、ステップS2で対象となるX線データを読み込み、ステップS3に進む。
(ステップS3)
次に、制御コンピュータ20は、ステップS3でX線透過画像P0を生成し、ステップS4に進む。
(ステップS4)
次に、制御コンピュータ20は、ステップS4で異物抽出画像P1を生成し、ステップS5に進む。
(ステップS5)
次に、制御コンピュータ20は、ステップS5で輪郭抽出画像P2を作成し、ステップS6に進む。
(ステップS6)
次に、制御コンピュータ20は、ステップS6で異物抽出画像P1に輪郭抽出画像P2を合成して異物位置特定用画像P3を生成する。
(ステップS7)
次に、制御コンピュータ20は、ステップS7で異物位置特定用画像P3の輪郭を着色する指令の有無を判定し、指令があったときはステップS8進み、指令がないときは制御を終了する。
(ステップS8)
そして、制御コンピュータ20は、ステップS8で異物位置特定用画像P3の物品の輪郭を着色し、制御を終了する。
以上のように、異物位置特定用画像P3が自動で生成されるので、ユーザーにとって使い勝手がよい。
(7)その他の実施形態
上記実施形態では、主に、異物が検出されてコンベアから除外された商品Gに対して、その異物の位置を特定する作業に関する、いわゆる「調整の場面」を中心に説明を行ってきた。しかし、本発明に係るX線検査装置10の適用例はそれだけに限定されるものではなく、調整の場面以外にも適用される。
例えば、X線検査装置10は、鶏肉の骨の検査が可能である。検査対象物を鶏肉として、鶏肉に残された小骨を検知することによって、作業者はその小骨が鶏肉のどの場所にあるのかを認識することができる。その結果、作業者はコンベア上で容易に鶏肉から小骨を除去することができる。
本発明のX線検査装置は、X線透過画像に含まれる領域における明るさから異物混入を判定するX線検査装置に対して広く適用可能である。
10 X線検査装置
21a 画像生成部
30 モニタ(表示部)
33 調整部
P0 X線透過画像
P1 異物抽出画像
P2 輪郭抽出画像
P3 異物位置特定画像
特開2009−210535号公報

Claims (4)

  1. 物品に対してX線を照射して、前記物品に異物が含まれているか否かを判定するX線検査装置であって、
    前記物品を透過したX線のデータからX線透過画像を生成する画像生成部を備え、
    前記画像生成部は、
    前記異物の有無を判定するための画像である異物抽出画像を生成する第1機能と、
    前記物品の位置、大きさ、及び形状を示す輪郭を抽出した輪郭抽出画像を生成する第2機能と、
    前記輪郭抽出画像を前記異物抽出画像に合成し、前記物品における前記異物の位置を特定した画像である異物位置特定用画像を生成する第3機能と、
    を有する、
    X線検査装置。
  2. 前記画像生成部は、前記輪郭及び/又は前記輪郭の内側を着色する着色機能をさらに有する、
    請求項1に記載のX線検査装置。
  3. 前記画像生成部が生成する画像を表示する表示部と、
    前記表示部に前記異物位置特定用画像を表示させながら、検査感度の調整を行うための調整部と、
    をさらに備える、
    請求項1に記載のX線検査装置。
  4. 前記画像生成部は、
    前記X線透過画像における輝度の空間変化を輪郭として強調するエッジ処理の機能と、
    前記エッジ処理された画像において、前記輪郭を膨張・縮小処理によって標準化する標準化機能と、
    をさらに有する、
    請求項1に記載のX線検査装置。
JP2018506042A 2016-03-18 2017-03-17 X線検査装置 Pending JPWO2017159855A1 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016055555 2016-03-18
JP2016055555 2016-03-18
PCT/JP2017/010932 WO2017159855A1 (ja) 2016-03-18 2017-03-17 X線検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPWO2017159855A1 true JPWO2017159855A1 (ja) 2019-01-24

Family

ID=59851065

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018506042A Pending JPWO2017159855A1 (ja) 2016-03-18 2017-03-17 X線検査装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JPWO2017159855A1 (ja)
WO (1) WO2017159855A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2022082331A (ja) * 2020-11-20 2022-06-01 朝日レントゲン工業株式会社 検査結果表示装置及び検査結果表示方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3860154B2 (ja) * 2003-09-12 2006-12-20 アンリツ産機システム株式会社 X線検査装置
JP4053032B2 (ja) * 2004-08-30 2008-02-27 アンリツ産機システム株式会社 異物検出方法、異物検出プログラム及び異物検出装置
JP4574478B2 (ja) * 2005-07-21 2010-11-04 アンリツ産機システム株式会社 X線異物検出方法及びx線異物検出装置
JP4519789B2 (ja) * 2006-03-01 2010-08-04 アンリツ産機システム株式会社 X線検査装置
JP5337086B2 (ja) * 2010-03-18 2013-11-06 株式会社イシダ X線検査装置
JP5933199B2 (ja) * 2011-07-07 2016-06-08 アンリツインフィビス株式会社 X線検査装置
WO2016063381A1 (ja) * 2014-10-22 2016-04-28 株式会社システムスクエア 電磁波検知部と光学検知部を使用した検査装置
JP5884144B1 (ja) * 2014-10-22 2016-03-15 株式会社 システムスクエア 包装体の検査装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2022082331A (ja) * 2020-11-20 2022-06-01 朝日レントゲン工業株式会社 検査結果表示装置及び検査結果表示方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2017159855A1 (ja) 2017-09-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2019159440A1 (ja) 検査装置
US7477726B2 (en) X-ray inspection apparatus
JP6537008B1 (ja) 検査装置
JP2016156647A (ja) 電磁波を使用した検査装置
JP4585915B2 (ja) X線検査装置
JP6746142B2 (ja) 光検査システム及び画像処理アルゴリズム設定方法
JP2009139230A (ja) X線異物検出装置
JP2007183200A (ja) X線検査装置及び物品検査装置
JP2009085627A (ja) X線ラインセンサモジュール及びx線異物検査装置
WO2017159855A1 (ja) X線検査装置
JP2015137858A (ja) 検査装置
JP6466671B2 (ja) 検査装置
JP2005031069A (ja) X線検査装置
JP2009168590A (ja) X線検査装置
JP2009080031A (ja) X線検査装置
JP2009080030A (ja) X線検査装置
JP7239960B2 (ja) 検査装置
JP2021025874A (ja) 検査装置
JP6941851B2 (ja) 質量推定装置
JP4291123B2 (ja) 放射線異物検査装置および放射線異物検査方法
WO2018168668A1 (ja) X線検査装置
WO2017159856A1 (ja) X線検査装置
JP2019107605A5 (ja)
JP6346831B2 (ja) 検査装置
JP2008175691A (ja) X線検査装置および検査方法