JPWO2011104881A1 - 太陽電池の改修方法、太陽電池の製造方法、この製造方法により製造された太陽電池、太陽電池の改修装置、太陽電池の製造装置及び検査装置、これらの装置を製造工程に用いた太陽電池 - Google Patents

太陽電池の改修方法、太陽電池の製造方法、この製造方法により製造された太陽電池、太陽電池の改修装置、太陽電池の製造装置及び検査装置、これらの装置を製造工程に用いた太陽電池 Download PDF

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Abstract

太陽電池の短絡部の除去処理を効率的に行うことができる太陽電池の改修方法、この改修方法を適用した太陽電池の製造方法、この製造方法により製造された太陽電池、太陽電池の改修装置、太陽電池の製造装置及び検査装置、これらの装置を製造工程に用いた太陽電池を提供する。薄膜型太陽電池100の太陽電池セル105の単位長さ当たりの抵抗値をパラメータとして入力し、太陽電池セル105に対し点状のプローブピン305a、305bを介して逆電圧を印加するプローブ部305の太陽電池セル105上での移動位置を算出し、この移動位置にプローブ部305を移動させ、プローブピン305a、305bを太陽電池セル105に接触させて逆電圧を印加してリーク電流を検出し、リーク電流が許容リーク電流以下になったとき短絡部除去の処理を終了する。

Description

本発明は、太陽電池の製造工程で生じるピンホールによる短絡部を除去する太陽電池の改修方法、この改修方法を適用した太陽電池の製造方法、この製造方法により製造された太陽電池、太陽電池の改修装置、太陽電池の製造装置及び検査装置、これらの装置を製造工程に用いた太陽電池に関するものである。
最近、地球規模の温暖化防止対策の一環として太陽電池が注目されている。
このような太陽電池のうち薄膜型太陽電池は、例えば、ガラスやプラスチックなどの透明基板上に表面電極(透明)、アモルファスシリコン(薄膜シリコン)、金属からなる裏面電極を順に積層している。このうちのアモルファスシリコンは、基板側からp型−i型−n型の三層構造になっていて、透明基板側から光が照射されると、透明基板、表面電極を通過した光がアモルファスシリコンにあたり、アモルファスシリコンに電気を発生することにより発電するようになっている。この場合、アモルファスシリコンは、p型側がプラス、n型側がマイナスとなり、ダイオード特性を有している。
ところで、このような薄膜型太陽電池は、その製造工程において、表面電極上にアモルファスシリコンを形成する際に、アモルファスシリコン中にピンホールなどの欠陥が発生することがある。すると、その後のアモルファスシリコン上に裏面電極を形成する際に、電極材料がピンホール内に入り込むことがあり、この部分で表面電極と裏面電極間に短絡部(ショート)が発生し、これが原因で、薄膜型太陽電池の変換効率(太陽電池に当てた光量を電気に変換する効率)が低下し、薄膜型太陽電池の性能を著しく劣化させることがある。
従来、薄膜型太陽電池の短絡部を除去する短絡部除去方法として、特許文献1に開示されるように複数の点状接触部を有する印加部材、又は線状や面状の接触部を有する印加部材を短絡部除去対象となる太陽電池セルの電極に接触させ、これらの印加部材を介して太陽電池セルに対して逆電圧を印加することにより短絡部を除去する方法が知られている。
特許3740618号公報 特許4411338号公報
しかし、このような特許文献1に開示される短絡部除去方法では、印加部材が点状接触部を有する場合、点状接触部の個数が少ないと、太陽電池セルの電極面上での点状接触部の位置と短絡部の位置との間の距離が大きくなることがあり、印加部材と短絡部の間の電極面での抵抗による電圧降下のため、逆電圧を印加しても短絡部に十分な電流を流すことができず、短絡部の除去ができないことがある。
そこで、逆電圧として、より高い電圧を印加することも考えられるが、このような高い電圧を印加すると、薄膜型太陽電池のダイオードの逆耐電圧を超えてしまい、薄膜型太陽電池を破損してしまう虞が生じる。
また、印加部材の点状接触部の個数を大幅に増やすことで、点状接触部の位置と短絡部の位置との間の距離を小さくできるようにすることも考えられる。しかし、点状接触部の個数が増加すると、メンテナンスの際に点状接触部を交換するのに多大な時間と労力を要するという問題がある。さらに、複数の短絡部が存在する場合には、それらすべての短絡部に同時に十分な電流を流すことが必要となるため、より大電力の電源装置を用いる必要が生じ、コストアップになると共に装置が大型化するという問題も生じる。
また、印加部材が線状又は面状接触部を有する場合、太陽電池セルの電極面に対する線状又は面状接触部の接触面積が大きくなるため、電極表面の広範囲に亘って傷を付けてしまい製品価値を低下させることがある。
一方、最近の薄膜型太陽電池では、製造歩留まりを高めるために、例えば図5(b)に示すように太陽電池セル100を複数(図示例では3個)に分割するものが一般的になりつつある。太陽電池セルの分割については、例えば、特許文献2に記載されている。しかし、このような分割された太陽電池セルに、上述の複数の点状接触部を有する印加部材を採用すると、分割された各太陽電池セルに対し同じ個数の点状接触部が接触されないことがあり、同一の逆電圧を印加できないことがある。例えば、図5(b)に示すように太陽電池セル100の分割数が「3」の場合、点状接触部の個数が「6」ならば、各分割セルあたり2個所の接触部が得られるが、点状接触部の個数が「5」の場合は、各分割セルあたり1個所の場合と2個所の場合が混在し、さらに2個所の点状接触部が得られる分割セルも接触点の分布がアンバランスになってしまう。このため、この場合も印加部材の点状接触部の個数を大幅に増加させることが考えられるが、上述したと同様にメンテナンスの際に点状接触部を交換するのに多大な時間と労力を要するという問題を生じる。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、太陽電池の短絡部除去処理を効率的に行うことができる太陽電池の改修方法、この改修方法を採用した太陽電池の製造方法、この製造方法により製造された太陽電池、太陽電池の改修装置、太陽電池の製造装置及び検査装置を提供することを目的とする。
請求項1記載の発明は、太陽電池を構成する太陽電池セルに対して1点で接触する点状接触部を有する電圧印加手段より逆電圧を印加する第1のステップと、前記太陽電池セルに対して前記電圧印加手段の移動位置を算出する第2のステップと、前記第2のステップで算出された移動位置に基づいて前記太陽電池セルに対する前記電圧印加手段の位置を設定する第3のステップと、前記逆電圧の印加により前記太陽電池に流れるリーク電流を測定するとともに、前記リーク電流が予め設定されたリーク電流許容値以下になったとき短絡部除去の処理を終了する第4のステップと、を具備したことを特徴としている。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明において、前記第1のステップは、前記太陽電池セルに対して1点で接触する点状接触部を前記太陽電池セルの数と同数又は前記太陽電池セルの数より少ない数有するプローブユニットにより逆電圧を印加し、前記第3のステップは、前記プローブユニットを前記太陽電池セルの長手方向に沿って平行移動させるとともに、前記太陽電池セルに対して上下方向に移動させることを特徴としている。
請求項3記載の発明は、太陽電池を構成する太陽電池セルの単位長さ当たりの抵抗値をパラメータとして設定する第1のステップと、前記パラメータに基づいて前記太陽電池セルに対して逆電圧を印加する点状接触部を有する電圧印加手段の移動位置を算出する第2のステップと、前記第2のステップで算出された移動位置に基づいて前記太陽電池セルに対する前記電圧印加手段の位置を設定する第3のステップと、前記電圧印加手段の点状接触部より前記太陽電池セルに逆電圧を印加する第4のステップと、前記逆電圧の印加により前記太陽電池に流れるリーク電流を測定するとともに、前記リーク電流が予め設定されたリーク電流許容値以下になったとき短絡部除去の処理を終了する第5のステップとを具備したことを特徴としている。
請求項4記載の発明は、請求項3記載の発明において、前記第1のステップは、さらに太陽電池セルの分割数をパラメータとして設定し、前記第2のステップは、前記第1のステップで設定されたパラメータに基づいて前記電圧印加手段の移動位置を算出することを特徴としている。
請求項5記載の発明は、請求項3又は4記載の発明において、前記第2のステップは、前記第1のステップで設定されたパラメータに基づいて
(L/2ND)<(1/r)×((V/A)−R)
(但し、Nは電圧印加手段の移動個所数であり整数、Lは太陽電池セルの長さ、Dは太陽電池セルの分割数であり整数、rは太陽電池セルの単位長さ当たりの抵抗値、Vは太陽電池セルの最大印加電圧、Aは太陽電池セルのリミット電流値、Rは太陽電池セルの並列抵抗値である。)
より、前記電圧印加手段の移動個所数Nを算出し、さらに
X=L/2DN
より前記電圧印加手段の移動距離Xを算出することを特徴としている。
請求項6記載の発明は、請求項1乃至4のいずれか一記載の太陽電池の改修方法を製造工程に適用したことを特徴とする太陽電池の製造方法である。
請求項7記載の発明は、請求項5記載の太陽電池の改修方法を製造工程に適用したことを特徴とする太陽電池の製造方法である。
請求項8の発明は、請求項6記載の太陽電池の製造方法により製造されることを特徴とする太陽電池である。
請求項9の発明は、請求項7記載の太陽電池の製造方法により製造されることを特徴とする太陽電池である。
請求項10記載の発明は、太陽電池を構成する太陽電池セルに逆電圧を印加する、前記太陽電池セルに対して1点で接触する点状接触部を有する電圧印加手段と、前記太陽電池セルに対して前記電圧印加手段の移動位置を算出する移動位置算出手段と、前記移動位置算出手段で算出された移動位置に基づいて前記太陽電池セルに対する前記電圧印加手段の位置を設定する位置設定手段と、前記逆電圧の印加により前記太陽電池に流れるリーク電流を測定するとともに、前記リーク電流が予め設定されたリーク電流許容値以下になったとき短絡部除去の処理を終了するリーク電流判定手段と、を具備したことを特徴としている。
請求項11記載の発明は、請求項10記載の発明において、前記電圧印加手段は複数の点状接触部を有するプローブユニットからなり、該プローブユニットは、前記太陽電池セルに対して1点で接触する点状接触部を前記太陽電池セルの数と同数又は少ない数有し、前記位置設定手段は、前記プローブユニットを前記太陽電池セルの長手方向に沿って平行移動させるとともに、前記太陽電池セルに対して上下方向に移動させる移動機構を有することを特徴としている。
請求項12記載の発明は、太陽電池を構成する太陽電池セルの単位長さ当たりの抵抗値をパラメータとして設定するパラメータ設定手段と、前記太陽電池セルに逆電圧を印加する点状接触部を有する電圧印加手段と、前記パラメータに基づいて前記太陽電池セルに対して前記電圧印加手段の移動位置を算出する移動位置算出手段と、前記移動位置算出手段で算出された移動位置に基づいて前記太陽電池セルに対する前記電圧印加手段の位置を設定する位置設定手段と、前記逆電圧の印加により前記太陽電池に流れるリーク電流を測定するとともに、前記リーク電流が予め設定されたリーク電流許容値以下になったとき短絡部除去の処理を終了するリーク電流判定手段とを具備したことを特徴としている。
請求項13記載の発明は、請求項12記載の発明において、前記パラメータ設定手段は、さらに太陽電池セルの分割数をパラメータとして設定し、前記移動位置算出手段は、前記パラメータ設定手段で設定されたパラメータに基づいて前記電圧印加手段の移動位置を算出することを特徴としている。
請求項14記載の発明は、請求項12又は13記載の発明において、移動位置算出手段は、前記パラメータ設定手段で設定されたパラメータに基づいて
(L/2ND)<(1/r)×((V/A)−R)
(但し、Nは電圧印加手段の移動個所数であり整数、Lは太陽電池セルの長さ、Dはセルの分割数であり整数、rは太陽電池セルの単位長さ当たりの抵抗値、Vは太陽電池セルの最大印加電圧、Aは太陽電池セルのリミット電流値、Rは太陽電池セルの並列抵抗値である。)
より、前記電圧印加手段の移動個所数Nを算出し、さらに
X=L/2DN
より前記電圧印加手段の移動距離Xを算出することを特徴としている。
請求項15記載の発明は、請求項12又は13記載の発明において、前記パラメータ設定手段は、表示手段と入力手段のインターフェースを有し、前記表示手段にパラメータを表示し、このパラメータを入力する機能を有することを特徴としている。
請求項16記載の発明は、請求項14記載の発明において、前記パラメータ設定手段は、表示手段と入力手段のインターフェースを有し、前記表示手段にパラメータを表示し、このパラメータを入力する機能を有することを特徴としている。
請求項17記載の発明は、請求項10乃至13、16のいずれか一記載の太陽電池の改修装置を製造工程に適用したことを特徴とする太陽電池の製造装置である。
請求項18記載の発明は、請求項14記載の太陽電池の改修装置を製造工程に適用したことを特徴とする太陽電池の製造装置である。
請求項19記載の発明は、請求項15記載の太陽電池の改修装置を製造工程に適用したことを特徴とする太陽電池の製造装置である。
請求項20記載の発明は、請求項10乃至13、16のいずれか一記載の太陽電池の改修装置を適用したことを特徴とする太陽電池の検査装置である。
請求項21記載の発明は、請求項14記載の太陽電池の改修装置を適用したことを特徴とする太陽電池の検査装置である。
請求項22記載の発明は、請求項15記載の太陽電池の改修装置を適用したことを特徴とする太陽電池の検査装置である。
請求項23記載の発明は、請求項10乃至13、16のいずれか一記載の装置を製造工程に適用したことを特徴とする太陽電池である。
請求項24記載の発明は、請求項14記載の装置を製造工程に適用したことを特徴とする太陽電池である。
請求項25記載の発明は、請求項15記載の装置を製造工程に適用したことを特徴とする太陽電池である。
本発明によれば、太陽電池セルあたり1個の点状接触部により多数の点状接触部を配置したのと同じ効果を得られるので、点状接触部の定期交換を簡単かつ短時間で行うことができ、メンテナンスに要する費用を低減できる。また多数の点状接触部や線状・面状の接触部を用いる場合と比較して、逆電圧印加のための電源装置が小規模のものですむので、コストが低減でき装置も小型化できる。
また、本発明によれば、太陽電池セルに対して太陽電池セルあたり1個の点状接触部を点接触させるので、太陽電池セルとの接触面を最小限にでき、太陽電池セル表面に傷を付けるようなことが少なくなり、高い品質を確保できる。
さらに、本発明によれば、パラメータとして設定される太陽電池セルの単位長さ当たりの抵抗値とセル分割数から電圧印加手段の移動回数を太陽電池ごとに最適なものに設定でき、これによりタクトタイムの短縮が図れ、生産性を向上できる。
図1は、本発明に適用される薄膜型太陽電池の製造工程の一例を示す図。 図2は、薄膜型太陽電池の概略構成及びプローブピンを示す図。 図3は、本発明の一実施の形態の短絡部改修装置の概略構成を示す図。 図4は、一実施の形態に適用されるパラメータの入力例を示す図。 図5は、一実施の形態に適用される太陽電池セルの分割を説明する図。 図6は、一実施の形態に適用されるプローブ部の移動を説明する図。 図7は、一実施の形態の作用を説明するフローチャート。 図8は、一実施の形態の短絡部に印加される階段状の逆電圧を説明する図。 図9は、一実施の形態の短絡部に流れるリーク電流とリーク電流許容値の関係を説明する図。 図10は、薄膜型太陽電池として最良なI−V特性を示す図。 図11は、薄膜型太陽電池の改修前後のI−V特性を示す図。
以下、本発明の一実施の形態を図面に従い説明する。
図1は、本発明に適用される薄膜型太陽電池の製造工程の一例を示すものである。
この場合、まず、洗浄されたガラス、プラスチックなどの透明基板101上に表面電極(透明電極)102を形成し(図1(a))、この表面電極102をパターンニングする(図1(b))。次に、パターンニングした表面電極102上にアモルファスシリコン(薄膜シリコン)103を形成し(図1(c))、このアモルファスシリコン103をパターンニングする(図1(d))。次に、パターンニングしたアモルファスシリコン103上に銀などの金属からなる裏面電極104を形成し(図1(e))、この裏面電極104をパターンニングする(図1(f))。これにより、図2に示すように太陽電池セル105を複数並設した構造の薄膜型太陽電池100が得られる。この場合、各太陽電池セル105は、互いに直列に接続されている。なお、図2に示す薄膜型太陽電池100は、図1と同一部分には同符号を付している。
その後、検査装置106により、薄膜型太陽電池100の各太陽電池セル105について各種の検査を行う。具体的には、各太陽電池セル105について図10に示すような電流−電圧特性(I−V特性)を測定し、この結果、得られたI−V特性を評価することで、太陽電池セル105ごとの性能を確認する。この場合、測定対象の太陽電池セル105について、所望する性能が確認できない場合は、上述したようにアモルファスシリコン103に生じたピンホールによって表面電極102と裏面電極104間が短絡している可能性が高いと判断する。このような場合、検査装置106では、後述する短絡部改修装置を用いて短絡部を除去する。この短絡部改修装置では、太陽電池セル105に対して階段状の逆電圧、つまり、上述したアモルファスシリコン103のダイオード特性に対して逆方向の階段状の電圧を印加して短絡部にジュール熱を発生させ、この熱で、短絡部を酸化して絶縁物に変化させるか短絡部を焼き切るなどして短絡部を除去し、性能の回復を図るようにしている。このような短絡部除去処理を行った後は、改めてI−V特性を測定し直し、太陽電池セル105の性能を確認する。
この場合、短絡部除去処理によって性能回復が図れたか否かの確認は、以下のようにして行う。まず、短絡部除去を実行する前に、薄膜太陽電池100の複数の太陽電池セル105についてI−V特性を測定する。図11(a)は、複数(図示例では4個)の太陽電池セル105のI−V特性の測定結果を示すもので、ここでは良好なI−V特性を示す太陽電池セル105(c1、c2)に対して劣悪なI−V特性を示す太陽電池セル105(c3、c4)が混在している。次に、階段状の逆電圧Vaを用いて複数の太陽電池セル105に対して短絡部除去を実行する。そして、再度I−V特性を測定し、複数の太陽電池セル105の中で良好なI−V特性を示す太陽電池セル105に対し、他の太陽電池セル105のI−V特性が近づいたか否かを確認する。図11(b)は、短絡部除去を実行した後の複数の太陽電池セル105のI−V特性の測定結果を示すもので、ここでは、良好なI−V特性を示す太陽電池セル105(c1、c2)に対して他の太陽電池セル105(c3、c4)のI−V特性が近づき、短絡部除去処理によって性能回復が図れたことが確認できる。
なお、ここでは、分かり易さのため、I−V特性測定、短絡部除去、I−V特性測定、という3ステップを用いる例を挙げたが、本発明での短絡部除去は、リーク電流により良否判定を行っているので、I−V特性の測定の一方あるいは両方を省略することも可能である。
その後、最終処理部107に移行して、組立て配線やラミネートなどの最終処理を行い、薄膜型太陽電池100を完成する。
図3は、このような製造工程の検査装置106において適用される短絡部改修装置の概略構成を示している。
図3において、301は演算処理を行う演算処理部で、この演算処理部301には、表示・入力部302、計測処理部303及び搬送制御部304が接続されている。表示・入力部302は、パラメータ設定手段を有するもので、液晶表示装置などのディスプレイ手段とキーボード、マウス、タッチパネルなどの入力手段のインターフェースを有し、入力手段により、ディスプレイ手段上に、例えば、パラメータとして図4に示すように太陽電池セル105の単位長さ当たりの抵抗値401と太陽電池セル105の分割数402を表示させ、これらのパラメータを演算処理部301に入力し、また、演算処理部301からの各種の表示情報をディスプレイ手段に表示する機能を有している。ここで、単位長さ当たりの抵抗値401は、予め太陽電池セル105について実測された抵抗値と太陽電池セル105の実際の長さとにより求められた数値である。また、分割数402は、図5(a)に示すように太陽電池セル105を複数並設した構造の薄膜型太陽電池100の分割数を「1」(分割なし)とし、図5(b)に示すように太陽電池セル105を、さらに長手方向に多分割、例えば、分割セル105a、105b、105cで示すように3分割したときの分割数を「3」としている。
計測処理部303は、演算処理部301の測定指示により逆電圧を生成し、この逆電圧を、電圧印加手段としてのプローブ部305を介して薄膜型太陽電池100の短絡除去処理対象の太陽電池セル105に印加し、また、プローブ部305を介して太陽電池セル105に流れる電流(リーク電流)を取り込み演算処理部301に出力する。この場合、逆電圧は、予め設定される電圧印加時間と電圧ステップ値により階段状をした電圧として生成される。逆電圧についての詳細は後述する。
プローブ部305は、図2に示すように点状接触部として1つの太陽電池セル105あたり1本のプローブピン305a、305bを有し、これらプローブピン305a、305bの先端を薄膜型太陽電池100の隣接する2つの太陽電池セル105(これらの太陽電池セル105は直列に接続されている。)の裏面電極104面に各別に点接触可能にしている。より具体的には、プローブ部305は、図6に示すように1つの太陽電池セル105あたり1本のプローブピン305a、305b…(図示例では11本)を有したプローブユニットからなっており、これらのプローブピン305a、305b…を、各々対応する太陽電池セル105に対して同時に点接触可能にしている。
搬送制御部304は、位置設定手段を有するもので、演算処理部301の制御情報に基づいて太陽電池セル105に対するプローブ部305の位置を設定可能にしている。この場合、搬送制御部304は、図6に示すように演算処理部301の制御情報に基づいてプローブ部305を太陽電池セル105の長手方向aに沿って平行移動させるとともに、下上方向bに移動させ、プローブピン305a、305bの先端を太陽電池セル105の裏面電極104面に対して接触又は離間させる。また、搬送制御部304は、演算処理部301の制御情報に基づいて薄膜型太陽電池100を検査装置106に搬入して定められた位置まで移動し、短絡部除去の処理や性能の確認が終了したのち、薄膜型太陽電池100を検査装置106から搬出するようにもしている。
演算処理部301は、プローブ部305の移動位置を算出する移動位置算出手段、リーク電流許容値算出手段及びリーク電流判定手段などを有している。移動位置算出手段は、表示・入力部302で設定されるパラメータに基づいて、下記の(1)(2)式によりプローブ部305の太陽電池セル105に対する移動個所数と移動距離を算出する。つまり、
(L/2ND)<(1/r)×((V/A)−R)…(1)
(但し、Nはプローブ部305の移動個所数であり整数、Lは太陽電池セルの長さ、Dは太陽電池セルの分割数であり整数、rは太陽電池セルの単位長さ当たりの抵抗値、Vは太陽電池セルの最大印加電圧、Aは太陽電池セルのリミット電流値、Rは太陽電池セルの並列抵抗値である。)
より、図6に示す太陽電池セル105の長手方向aに対するプローブ部305の移動個所数を算出し、
X=L/2DN…(2)
より太陽電池セル105の長手方向aに対する移動距離を算出する。
なお、ここでの最大印加電圧V、リミット電流値A、並列抵抗値Rは、薄膜型太陽電池100の仕様ごとに設定されるものである。このうちの並列抵抗値302cは、薄膜型太陽電池100のpn接合周辺における漏れ電流などにより決定されるものである。
また、リーク電流許容値算出手段及びリーク電流判定手段は、プローブ部305で生成される逆電圧と並列抵抗Rを用いてリーク電流許容値を算出するとともに、プローブ部305を介して取り込まれるリーク電流とリーク電流許容値とを比較し、リーク電流がリーク電流許容値以下になったことを判定すると、短絡部除去の処理を終了する。
次に、このように構成された短絡部改修装置の作用を図7に従い説明する。
まず、ステップ700で、太陽電池セル105の単位長さ当たりの抵抗値401と太陽電池セル105の分割数402を設定する。この場合、表示・入力部302の入力手段の操作によりディスプレイ手段に単位長さ当たりの抵抗値401と太陽電池セル105の分割数402のパラメータを表示させ(図4参照)、これらパラメータを演算処理部301に入力する。ここで、単位長さ当たりの抵抗値401は、予め太陽電池セル105について実測された抵抗値と太陽電池セル105の実際の長さとにより求められた数値である。また、分割数402は、例えば、図2に示すように太陽電池セル105の分割なしの場合は、分割数「1」とし、図5に示すように太陽電池セル105が、分割セル105a、105b、105cで示すように3分割されているときは分割数を「3」とする。
次に、ステップ701で、プローブ部305の移動位置を算出する。この場合、演算処理部301により表示・入力部302で設定されるパラメータに基づいて、上述した(1)(2)式によりプローブ部305の太陽電池セル105に対する移動個所数と移動距離を算出する。
具体的には、まず(1)式において、仮に、太陽電池セルの長さL=140cm、太陽電池セルの最大印加電圧V=10V、太陽電池セルのリミット電流値A=1A及び太陽電池セルの並列抵抗値R=100mΩとすると、単位長さ当たりの抵抗値r=1、分割数D=1の場合、(1)式より7.07<Nとなって、移動個所数N=8が得られる。次に、(2)式より移動個所数N=8により移動距離Xは、X=8.75cmとして得られる。また、分割数D=3の場合は、(1)式より2.36<Nとなって、移動個所数N=3が得られ、(2)式より移動個所数N=3により移動距離Xは、X=7.78cmとして得られる。
次に、ステップ702で、逆電圧Vaを初期化し、この後、ステップ703に進み、搬送制御部304によりプローブ部305をステップ702で算出された移動距離Xだけ太陽電池セル105の長手方向aに沿って平行移動させる。そして、ステップ704で、プローブ部305を下方向に移動させ、プローブピン305a、305b先端を太陽電池セル105に接触させる。
次に、ステップ705に進み、太陽電池セル105へ印加される逆電圧Vaの最大値Vam(図8参照)を超えたかが判断される。ここでは、まだ逆電圧Vaは印加されておらず、Noと判断され、ステップ706に進む。
ステップ706では、太陽電池セル105に対して逆電圧Vaを印加する。この場合、逆電圧Vaは、図8に示すように電圧印加時間Δtごとに電圧ステップ値ΔVaずつ上昇する階段状をしている。これら電圧印加時間Δt及び電圧ステップ値ΔVaは、薄膜型太陽電池100の種類や特性に対して最適な組合せを予め実験などの手法を用いて見つけ出したものが用いられる。
この場合の逆電圧Vaは、最初、図8に示す電圧ステップ値ΔVa(図示aで示す部分)分が電圧印加時間Δtだけ印加される。
次に、ステップ707で、太陽発電セル105の短絡部に流れるリーク電流Iaを測定する。リーク電流Iaは、プローブ部305を介して取り込まれる。そして、ステップ708で、プローブ部305を介して検出されたリーク電流Iaがリーク電流許容値Io以下かが判断される。
この場合、リーク電流許容値Ioは、上述した並列抵抗値Rと薄膜型太陽電池100に逆電圧Vaに基づいて算出され設定される。ここでのリーク電流許容値Ioは、電圧ステップ値ΔVaずつ上昇する逆電圧Vaごとに計算され、図9に示すように階段状のリーク電流許容値Io1、Io2、…、Ionとして設定される。これらのリーク電流許容値Io1、Io2、…、Ionは、実際に並列抵抗値Rと逆電圧Vaにより計算される電流値より僅かに大きな値に設定される。
そして、プローブ部305を介して最初に検出されたリーク電流Ia1が、階段状のリーク電流許容値Ioの最初のリーク電流許容値Io1以下かが判断される。ここで、図9に示すように、リーク電流Ia1がリーク電流許容値Io1より大きく、Noであれば、ステップ709に進む。
ステップ709では、電圧ステップ値ΔVaを1ステップ分上昇して、ステップ705に戻り、ここで、太陽電池セル105へ印加される逆電圧Vaが最大値Vamを超えておらずNoと判断されると、ステップ706に進み、次の逆電圧Va(図6のbで示す部分)を電圧印加時間Δtだけ印加する。そして、このとき検出されるリーク電流Ia2を階段状リーク電流許容値Ioの次のリーク電流許容値Io2と比較する(ステップ707、708)。
以下、同様にして電圧印加時間Δtごとに逆電圧Vaを電圧ステップ値ΔVaづつ上昇させながら電圧印加時間Δtだけ太陽発電セル105に印加するような動作を繰り返す。
その後、逆電圧Vaにより太陽発電セル105の短絡部に流れるリーク電流により発生するジュール熱によって短絡部が酸化して絶縁物に変化するか短絡部が焼き切られると、つまり、短絡部が除去されリーク電流Iaが急激に減少すると、つまり、図9に示すようにリーク電流Ianがリーク電流許容値Ion以下に低下すると、ステップ708でYesと判断され、ステップ710に進む。ステップ710では、プローブ部305を上方向に移動させ、プローブピン305a、305b先端を太陽電池セル105から離間させる。そして、短絡部除去処理に関するデータを不図示の記憶部に記憶するとともに、太陽発電セル105の短絡部が除去されたことを表示・入力部302のディスプレイ手段に表示して処理を終了する。
一方、ステップ706からステップ709で逆電圧Vaを電圧印加時間Δtごとに電圧ステップ値ΔVaづつ上昇させながら太陽発電セル105に印加する動作を繰り返しても、リーク電流Iaがリーク電流許容値Io以下にならない場合、つまり、太陽発電セル105の短絡部が除去できない場合は、ステップ705において、太陽電池セル105へ印加される逆電圧Vaが最大値Vamを超えたことが判断されるのを待って、ステップ711に進む。ステップ711では、一旦プローブ部305を上方向に移動させ、プローブピン305a、305b先端を太陽電池セル105から離間させる。
そして、ステップ712で、太陽電池セル105上の全ての移動位置での短絡部除去処理が終了したかが判断される。ここで、太陽電池セル105上でのプローブ部305の移動位置が残っていて、Noと判断されると、ステップ702に戻って、逆電圧Vaを初期化したのち、ステップ703に進み、搬送制御部304によりプローブ部305をステップ702で算出された移動距離Xだけ太陽電池セル105の長手方向aに沿ってさらに平行移動させる。
次に、ステップ704で、プローブ部305を下方向に移動させ、プローブピン305a、305b先端を太陽電池セル105面に接触させ、以下、上述したと同様な動作が繰り返し実行する。一方、ステップ711で、Yesと判断された場合は、太陽電池セル105上でのプローブ部305の移動位置が残っておらず、全てのプローブ部305の移動位置において短絡部除去処理ができなかったこととして、その旨のデータを不図示の記憶部に記憶するとともに、太陽発電セル105の短絡部除去が不調に終わったことを表示・入力部302のディスプレイ手段に表示して処理を終了する。
このように本発明では、薄膜型太陽電池100の太陽電池セル105の単位長さ当たりの抵抗値をパラメータとして入力し、1つの太陽電池セル105あたり1本のプローブピン305a、305bを介して逆電圧を印加するプローブ部305の太陽電池セル105上での移動位置を算出し、この算出された移動位置にプローブ部305を移動させるとともに、プローブピン305a、305bを太陽電池セル105に接触させ、プローブピン305a、305bを介して逆電圧を印加してリーク電流を検出し、リーク電流が許容リーク電流以下になったとき短絡部除去のための処理を終了するようにした。これにより、点状接触部は、太陽電池セル105ごとに1本のプローブピン305a、305bのみで、従来の印加部材の点状接触部の個数を多数配置したものと同じ効果を得ることができるので、点状接触部の数を大幅に少なくでき、その分、これら点状接触部の定期交換を簡単かつ短時間で行うことができ、これによって生産ラインの停止による生産性の低下を避けることができ、さらにメンテナンスに要する費用を低減することもできる。さらに、多数の点状接触部や線状・面状の接触部を用いる場合と比較して、逆電圧印加のための電源装置が小規模のものですむので、コストが低減でき、装置の小型化を図ることができる。
また、太陽電池セル105に対して点状のプローブピン305a、305bを点接触させているので、プローブピン305a、305bと太陽電池セル105との接触面を小さくすることができ、太陽電池の製造過程で太陽電池セル105の電極表面に傷を付けるようなことも少なくなり、太陽電池の高い品質を確保できる。
さらに、予めパラメータとして設定された太陽電池セル105の単位長さ当たりの抵抗値401とセル分割数から、太陽電池セル105に最適なプローブ部305の移動位置、つまり移動個所数と移動距離が求められ、プローブ部305の移動が制御されるので、プローブ部305の移動回数を太陽電池ごとに最適なものに設定できる。これによりタクトタイムの短縮が図れ、生産性を向上させることができる。
なお、本発明は、上記実施の形態に限定されるものでなく、実施段階では、その要旨を変更しない範囲で種々変形することが可能である。上述した実施の形態では、薄膜型太陽電池について述べたが、ハイブリッド型太陽電池や多接合型太陽電池などの他の太陽電池にも適用できる。
さらに、上記実施の形態には、種々の段階の発明が含まれており、開示されている複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出できる。例えば、実施の形態に示されている全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題を解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出できる。
100…薄膜型太陽電池、101…透明基板、102…表面電極
103…アモルファスシリコン、104…裏面電極
105…太陽電池セル、106…検査装置、107…最終処理部
301…演算処理部、302…表示・入力部
302a…電圧印加時間、302b…電圧ステップ値
302c…並列抵抗値、303…計測処理部
304…搬送制御部、305…プローブ部
305a.305b…プローブピン

Claims (25)

  1. 太陽電池を構成する太陽電池セルに対して1点で接触する点状接触部を有する電圧印加手段より逆電圧を印加する第1のステップと、
    前記太陽電池セルに対して前記電圧印加手段の移動位置を算出する第2のステップと、
    前記第2のステップで算出された移動位置に基づいて前記太陽電池セルに対する前記電圧印加手段の位置を設定する第3のステップと、
    前記逆電圧の印加により前記太陽電池に流れるリーク電流を測定するとともに、前記リーク電流が予め設定されたリーク電流許容値以下になったとき短絡部除去の処理を終了する第4のステップと、
    を具備したことを特徴とする太陽電池の改修方法。
  2. 前記第1のステップは、前記太陽電池セルに対して1点で接触する点状接触部を前記太陽電池セルの数と同数又は前記太陽電池セルの数より少ない数有するプローブユニットにより逆電圧を印加し、
    前記第3のステップは、前記プローブユニットを前記太陽電池セルの長手方向に沿って平行移動させるとともに、前記太陽電池セルに対して上下方向に移動させることを特徴とする請求項1記載の太陽電池の改修方法。
  3. 太陽電池を構成する太陽電池セルの単位長さ当たりの抵抗値をパラメータとして設定する第1のステップと、
    前記パラメータに基づいて前記太陽電池セルに対して逆電圧を印加する点状接触部を有する電圧印加手段の移動位置を算出する第2のステップと、
    前記第2のステップで算出された移動位置に基づいて前記太陽電池セルに対する前記電圧印加手段の位置を設定する第3のステップと、
    前記電圧印加手段の点状接触部より前記太陽電池セルに逆電圧を印加する第4のステップと、
    前記逆電圧の印加により前記太陽電池に流れるリーク電流を測定するとともに、前記リーク電流が予め設定されたリーク電流許容値以下になったとき短絡部除去の処理を終了する第5のステップと
    を具備したことを特徴とする太陽電池の改修方法。
  4. 前記第1のステップは、さらに太陽電池セルの分割数をパラメータとして設定し、
    前記第2のステップは、前記第1のステップで設定されたパラメータに基づいて前記電圧印加手段の移動位置を算出することを特徴とする請求項3記載の太陽電池の改修方法。
  5. 前記第2のステップは、前記第1のステップで設定されたパラメータに基づいて
    (L/2ND)<(1/r)×((V/A)−R)
    (但し、Nは電圧印加手段の移動個所数であり整数、Lは太陽電池セルの長さ、Dは太陽電池セルの分割数であり整数、rは太陽電池セルの単位長さ当たりの抵抗値、Vは太陽電池セルの最大印加電圧、Aは太陽電池セルのリミット電流値、Rは太陽電池セルの並列抵抗値である。)
    より、前記電圧印加手段の移動個所数Nを算出し、さらに
    X=L/2DN
    より前記電圧印加手段の移動距離Xを算出することを特徴とする請求項3又は4記載の太陽電池の改修方法。
  6. 請求項1乃至4のいずれか一記載の太陽電池の改修方法を製造工程に適用したことを特徴とする太陽電池の製造方法。
  7. 請求項5記載の太陽電池の改修方法を製造工程に適用したことを特徴とする太陽電池の製造方法。
  8. 請求項6記載の太陽電池の製造方法により製造されることを特徴とする太陽電池。
  9. 請求項7記載の太陽電池の製造方法により製造されることを特徴とする太陽電池。
  10. 太陽電池を構成する太陽電池セルに逆電圧を印加する、前記太陽電池セルに対して1点で接触する点状接触部を有する電圧印加手段と、
    前記太陽電池セルに対して前記電圧印加手段の移動位置を算出する移動位置算出手段と、
    前記移動位置算出手段で算出された移動位置に基づいて前記太陽電池セルに対する前記電圧印加手段の位置を設定する位置設定手段と、
    前記逆電圧の印加により前記太陽電池に流れるリーク電流を測定するとともに、前記リーク電流が予め設定されたリーク電流許容値以下になったとき短絡部除去の処理を終了するリーク電流判定手段と、
    を具備したことを特徴とする太陽電池の改修装置。
  11. 前記電圧印加手段は複数の点状接触部を有するプローブユニットからなり、該プローブユニットは、前記太陽電池セルに対して1点で接触する点状接触部を前記太陽電池セルの数と同数又は少ない数有し、
    前記位置設定手段は、前記プローブユニットを前記太陽電池セルの長手方向に沿って平行移動させるとともに、前記太陽電池セルに対して上下方向に移動させる移動機構を有することを特徴とする請求項10記載の太陽電池の改修装置。
  12. 太陽電池を構成する太陽電池セルの単位長さ当たりの抵抗値をパラメータとして設定するパラメータ設定手段と、
    前記太陽電池セルに逆電圧を印加する点状接触部を有する電圧印加手段と、
    前記パラメータに基づいて前記太陽電池セルに対して前記電圧印加手段の移動位置を算出する移動位置算出手段と、
    前記移動位置算出手段で算出された移動位置に基づいて前記太陽電池セルに対する前記電圧印加手段の位置を設定する位置設定手段と、
    前記逆電圧の印加により前記太陽電池に流れるリーク電流を測定するとともに、前記リーク電流が予め設定されたリーク電流許容値以下になったとき短絡部除去の処理を終了するリーク電流判定手段と、
    を具備したことを特徴とする太陽電池の改修装置。
  13. 前記パラメータ設定手段は、さらに太陽電池セルの分割数をパラメータとして設定し、
    前記移動位置算出手段は、前記パラメータ設定手段で設定されたパラメータに基づいて前記電圧印加手段の移動位置を算出することを特徴とする請求項12記載の太陽電池の改修装置。
  14. 移動位置算出手段は、前記パラメータ設定手段で設定されたパラメータに基づいて
    (L/2ND)<(1/r)×((V/A)−R)
    (但し、Nは電圧印加手段の移動個所数であり整数、Lは太陽電池セルの長さ、Dはセルの分割数であり整数、rは太陽電池セルの単位長さ当たりの抵抗値、Vは太陽電池セルの最大印加電圧、Aは太陽電池セルのリミット電流値、Rは太陽電池セルの並列抵抗値である。)
    より、前記電圧印加手段の移動個所数Nを算出し、さらに
    X=L/2DN
    より前記電圧印加手段の移動距離Xを算出することを特徴とする請求項12又は13に記載の太陽電池の改修装置。
  15. 前記パラメータ設定手段は、表示手段と入力手段のインターフェースを有し、前記表示手段にパラメータを表示し、このパラメータを入力する機能を有することを特徴とする請求項12又は13記載の太陽電池の改修装置。
  16. 前記パラメータ設定手段は、表示手段と入力手段のインターフェースを有し、前記表示手段にパラメータを表示し、このパラメータを入力する機能を有することを特徴とする請求項14記載の太陽電池の改修装置。
  17. 請求項10乃至13、16のいずれか一記載の太陽電池の改修装置を製造工程に適用したことを特徴とする太陽電池の製造装置。
  18. 請求項14記載の太陽電池の改修装置を製造工程に適用したことを特徴とする太陽電池の製造装置。
  19. 請求項15記載の太陽電池の改修装置を製造工程に適用したことを特徴とする太陽電池の製造装置。
  20. 請求項10乃至13、16のいずれか一記載の太陽電池の改修装置を適用したことを特徴とする太陽電池の検査装置。
  21. 請求項14記載の太陽電池の改修装置を適用したことを特徴とする太陽電池の検査装置。
  22. 請求項15記載の太陽電池の改修装置を適用したことを特徴とする太陽電池の検査装置。
  23. 請求項10乃至13、16のいずれか一記載の装置を製造工程に適用したことを特徴とする太陽電池。
  24. 請求項14記載の装置を製造工程に適用したことを特徴とする太陽電池。
  25. 請求項15記載の装置を製造工程に適用したことを特徴とする太陽電池。
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