JPS6395353A - 超音波探傷器の測定範囲設定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は超音波探傷器において、被検査物体における測
定範囲を定める超音波探傷器の測定範囲設定装置に関す
る。

〔従来の技術〕

超音波探傷器は、物体内部の傷の存在の有無を当該物体
を破壊することなく検査する装置として良く知られてい
る。この超音波探傷器を図により説明する。

第５図は従来の超音波探傷器のブロック図である０図で
、１は被検査物体、１ｆは被検査物体１内に存在する欠
陥を示す、２は被検査物体ｌ内に超音波を放射するとと
もに、反射してきた超音波に比例した電気信号を出力す
る超音波探触子である。３は超音波探傷器であり、超音
波探触子２に対して超音波発生パルスを出力し、かつ、
超音波探触子２からの信号を受信し、この信号の波形を
表示する。

超音波探傷器３は次の各要素で構成されている。

即ち、４は超音波探傷器３の動作に時間的規制を与えろ
信号電圧を発生する同期回路、５は同期回路４の信号に
より超音波探触子２に超音波発生のためのパルスを出力
する送信部である。６は超音波探触子２からの信号を受
信する受信部であり、抵抗器で構成される分圧器の組合
せより成る減衰回路６ａ、および増幅回路６ｂで構成さ
れる。７は増幅回路６ｂからの信号を整流する検波回路
、８は垂直軸増幅回路である。

９は同期図８４からの同期信号により三角波を発生する
掃引回路、１０は掃引回路９の三角波信号を増幅する増
幅回路である。２は超音波探触子２からの信号波形を表
示する表示部であり、横軸は増幅回路ｌＯから出力され
る三角波で定まる時間軸とされ、縦軸は垂直軸増幅回路
８から出力される信号の大きさとされる０表示部１１と
しては陰極線管が用いられ、その表面にはスケールが表
示されている。１２は被検査物体１において、その表面
からの検査すべき範囲（測定範囲）を設定する測定範囲
設定部である。１３は掃引開始信号に遅れ時間をもたせ
て表示部１１に表示される波形の位置を平行移動させる
遅延時間設定部である。

第６図は第５図に示す掃引回路の回路図である。

図で、９ａは増幅器、９ｒは可変抵抗器、９Ｃは可変コ
ンデンサである。測定範囲設定部１２は通常、粗調用の
つまみと微調用のつまみより成りこれらのつまみを回動
することにより可変抵抗器９ｒの抵抗値および可変コン
デンサ９Ｃの容量を調整する。

次に、上記従来の超音波探傷器の動作の概略を説明する
。同期回路４からの信号電圧により送信部５からパルス
が出力されると、超音波探触子２はこのパルスにより励
起されて被検査物体１に対して超音波を放射する。放射
された超音波の一部は被検査物体１の表面から直ちに超
音波探触子２に戻り、他は被検査物体１内を伝播し、被
検査物体１の底部に達し、ここで反射されて超音波探触
子２に戻る。一方、被検査物体１に欠陥１ｒが存在する
と、超音波は当該欠陥Ｉｆにおいても反射されて超音波
探触子２に戻る。これら超音波探触子２に戻った超音波
は超音波探触子２をその大きさに比例して励起し、超音
波探触子２からはこれに応じた電気信号が出力される。

この信号は減衰回路６ａに入力され、処理に適した大き
さに調節され、増幅回路６ｂを経て検波回路７に入力さ
れる。検波回路７は表示部１１の表示を片振り指示とす
るため、入力信号を整流する。この際、当該信号に混入
している雑音成分も除去される。検波回路７の出力信号
は垂直軸増幅回路８を経て表示部１１に入力され、その
大きさが表示部１１の縦軸に表される。一方、掃引回路
９は同期回路４の同期信号により三角波電圧を発生し、
この電圧は増幅回路１０を経て表示部１１（陰極線管）
の偏向電極に印加され、電子ビームを掃引する。この掃
引と前記垂直軸増幅回路８からの入力信号により、表示
部１１には超音波探触子２に戻った反射波の波形が表示
される。

第７図は表示された反射波の波形図である。図で、横軸
は時間、縦軸は反射波の大きさを示す。

Ｔは被検査物体１の表面からの反射波、Ｆ、は欠陥１ｆ
からの反射波、Ｂ＋　は被検査物体１の底面からの反射
波である。Ｓは表示部１１上に描かれているスケールを
示す。底面から反射した反射波の一部は表面で再反射さ
れて再び被検査物体ｌ内に戻る。これにより、欠陥１ｆ
からの反射波Ｆ２、底面からの反射波Ｂ２が再び現れる
が反射波Ｆｔ、Ｂ！の大きさは当然ながら反射波Ｆ９、
ＢＩの大きさより小さい。このように、欠陥１ｆからの
反射波および底面からの反射波が減衰しながら繰返し現
れることになる。なお、被検査物体１内における超音波
の音速は一定であるので、横軸（時間軸）は被検査物体
１内の表面からの距離を表すことになり、この波形図か
ら欠陥１ｆの位置が判明する。

ところで、一般に、被検査物体１を探傷する場合、必ず
しもその表面から底面まで全体を検査する必要はなく、
表面からある一定の深さ範囲を検査すればよい場合が多
い。この場合には、波形の表示はその範囲（測定範囲）
のみの表示とすることが望ましく、それによってより精
度の高い分析を行うことができる。

ここで、このような測定範囲を設定する方法について説
明する。今、仮に表面から底面までの距離が２００ｍｍ
の被検査物体において、測定範囲を１００ｍｍ（表面か
ら１００ｍｍ以内）に設定する場合について考える。こ
の場合、被検査物体ｌと同一材料で、厚さ１００ｍｍの
試片を用意する。次に、その試片に超音波を放射すると
、表示部１１には、反射波Ｔ、Ｂ＋　、Ｂｚ　、・・・
・・・・・・が現れる。そこで、測定範囲設定部１２の
粗目用つまみと微調用つまみを操作して横軸の拡張、縮
少を行い、表示部１１の左端のスケールＳＬに反射波Ｂ
１が、又、右端のスケールにＳＲに反射波Ｂ。

が現れるように調節する。この場合、表示部１１には反
射波Ｂ＋　、Ｂｚのみが表示されており、左右両端の各
スケールＳＬ、Ｓえの間隔が１００ｗ＋ｍの位置間隔に
相当することとなる。次に、遅延時間設定部１３のつま
みを回動して波形を右方に平行移動させ、反射波Ｔを左
端のスケールＳＬに合せる。この状態で被検査物体１に
超音波を放射すると、表示部１１には表面（スケールＳ
Ｌ）から１００ｍｍ（スケールＳ＋ｔ）の測定範囲が表
示されることになる。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上記従来装置における測定範囲の設定は、上述のように
、測定範囲に等しい厚さをもち、被検査物体１と同一材
料の試片を用意し、測定範囲設定部１２の２つのつまみ
、および遅延時間設定部１３のつまみを操作する必要が
あり、又、それらの操作において反射波Ｂ＋、Ｂｇをス
ケールｓＬ、Ｓカに合致させるには相当の熟練を要する
ことから、極めて面倒である。しかも、必要とする材質
および厚みを有する試片が常に存在するとは限らず、む
しろ存在しない方が多く、この場合には測定範囲の設定
はほとんど不可能である。

もつとも、ある音速の材料について、掃引回路９の抵抗
９ｒおよびコンデンサ９Ｃの値を各測定範囲毎に予め計
算し、測定範囲設定部１２の一方のつまみ（例えば粗調
用つまみ）部分に測定範囲を表示しておき、他方のつま
み（例えば微調用つまみ）部分に前記表示と対応して予
め計算により音速を表示しておき、両つまみにより測定
範囲を設定することも可能であるが、可変コンデンサ９
Ｃを用いるので上記各表示自体が非直線性の表示となり
、つまみを正確にセットすることは極めて困難であり、
したがって、測定範囲の正確な設定はほとんど不可能に
近い。そして、測定範囲が正確に設定できないと欠陥の
位置を正確に読取ることはできなくなる。

このように、上記従来袋πにあっては、測定範囲の正確
な設定は、試片が存在していても極めて面倒であり、試
片が存在しない場合にはほとんど不可能に近いという問
題があった。これに加えて、仮に測定範囲の正確な設定
ができたとしても、次のような問題点があった。即ち、
掃引回路９の抵抗９ｒの抵抗値、コンデンサ９Ｃの容量
、および増幅回路１０の増幅率は温度により変化する。

したがって、周囲温度が変化すると折角正確に設定した
測定範囲にも誤差を生じる。このことは、反射波に横軸
方向のずれが生じることを意味し、欠陥の位置を正確に
知ることはできなくなる。

本発明の目的は、上記従来技術の問題点を解決し、測定
範囲を容易に、かつ、正確に設定することができる超音
波探傷器の測定範囲設定装置に関する。

〔問題点を解決するための手段〕

上記の目的を達成するため、本発明は、超音波探触子に
対して所定のパルスを出力する送信部と、超音波探触子
からの信号を受信する受信部と、この受信部で受信され
た信号に基づいてその信号の波形を表示する表示部とを
儂えた超音波探傷器において、メモリを設けて受信部で
受信された入力信号を所定のサンプリング周期で当該メ
モリにそのアドレス順に順次記憶させ、一方、入力信号
の波形の分析に必要な測定範囲を設定する測定範囲設定
部および液深傷物体内に伝播する音速を入力する音速入
力部を設け、測定範囲設定部に設定された値、音速入力
部に入力された音速、およびサンプリング周期に基づい
て選択すべきメモリのアドレスを演算手段により演算し
、この演算によって選択されたアドレスからデータをと
り出して表示部に表示するようにしたことを特徴とする
。

〔作　用〕

被検査物体からの超音波の反射波は超音波探触子に戻り
、超音波探触子からはこの反射波に応じた信号が出力さ
れる。受信部ではこの信号を受信し、受信部からの出力
信号は所定のサンプリング周期でメモリに順に記憶され
る。測定範囲を設定する場合には、測定範囲設定部に任
意の測定範囲をセットするとともに、音速入力部に被検
査物体における音速を入力する。演算手段では、このセ
ットされた測定範囲と入力された音速に基づいて、前記
メモリに記憶されているデータのうちとり出すべきデー
タが収容されているアドレスが演算される。この演算結
果にしたがって順次該当アドレスのデータがとり出され
、このデータは表示制御手段により表示部に表示される
。

〔実施例〕

以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明する。

第１図は本発明の実施例に係る超音波探傷器のブロック
図である。図で、第５図に示す部分と同一部分には同一
符号を付して説明を省略する。２１は本実施例の超音波
探傷器を示す。この超音波探傷器２１は次の各要素によ
り構成されている。即ち、２２は受信部６の出力信号を
ディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換部、２３はＡ／Ｄ変
換部２２で変換された値を記憶する波形メモリ、２４は
波形メモリ２３の各アドレスを順に指定してゆくアドレ
スカウンタである。２５はタイミング回路であり、送信
部５、Ａ／Ｄ変換部２２およびアドレスカウンタ２４へ
それぞれ起動信号を与える。このタイミング回路２５の
発振には水晶発振子が用いられる。

２６は所要の演算、制御を行うＣＰＵ　（中央処メモリ
）、２８はＣＰＵ２６の処理手順を記憶するＲＯＭ　（
リード・オンリ・メモリ）である。２９は所望の測定範
囲を入力する測定範囲設定部、３０は被検査物体１内を
超音波が伝播する速度（音速）を入力する音速入力部で
ある。３１は液晶表示部、３２はＣＰＵ２６の演算、制
御の結果得られたデータに基づいて液晶表示部３１の表
示を制御する表示部コントローラである。

次に、本実施例の動作を第２図に示す反射波の波形図、
第３図に示す波形メモリ２３のブロック図、および第４
図に示すフローチャートを参照しながら説明する。最初
に、測定範囲設定部２９に所望の測定範囲１＊　　（こ
の値は第１図に示す被検査物体１に示されている。）を
設定する。又、音速入力部にも被検査物体１の材質で定
まる音速Ｖ、を入力する。この状態において、タイミン
グ回路２５から送信部５ヘトリガ信号が出力されると、
送信部５は超音波探触子２にパルスを出力し、超音波探
触子２から被検査物体１内に超音波が放射される。この
超音波の反射波は超音波探触子２により電気信号に変換
され、この信号は受信部６で受信される。受信部６は、
受信した反射波信号を以後の処理に適した値として出力
する。この出力された反射波信号は、所定のサンプリン
グ周期毎にＡ／Ｄ変換部２２においてディジタル値に変
換され、この変換された値は順次波形メモリ２３に記憶
される。この記憶は、アドレスカウンタ２４が波形メモ
リ２３のアドレスを順次指定することによりなされる。

反射波信号のサンプリング、波形メモリ２３のアドレ指
定はタイミング回路２５から出力される起動信号により
実行される。このような反射波信号のサンプリングと、
そのディジタル値の波形メモリ２３への収容を第２図お
よび第３図により説明する。

第２図は反射波信号の波形図である。図で、横軸には時
間が、縦軸には反射波信号の大きさく′Ｗ１圧）がとっ
である、Ｔ、Ｆ、は第７図に示すものと同じ反射波を示
す。なお、第２図では横軸のみが極端に拡大して描かれ
ている６次に、第３図は波形メモリ２３のブロック図で
ある。縦列に番々ビ示された各ブロックは波形メモリ２
３におけるデータの収容部を意味し、各収容部に記載さ
れたＤ　、。）＋Ｄ＋１１＋　　・・・　・・・　・・
・　Ｄ＋＋％−１１＋　　Ｄ　　（＋ａ）ｒ　　Ｄ　　
（ｎ＋　。　　・・・・・・・・・はＡ／Ｄ変換部２２
でディジタル値に変換された反射波信号のデータである
。これらデータを一般形としてＤ（１，で表わす。又、
各収容部の左側に記載された符号ＡＭ（。）、ＡＭ（＋
１＋・・・・・・・・・ＡＭ（Ｉｔ−ＩｌｌＡＭ＋ｌＩ
）、ＡＭ（１１＋１１１・・・・・・・・・は対応する
収容部のアドレスを示す、これらアドレスを一般形とし
てＡ１１（１）で表わす。

今、第２図に示す時刻ｔ０において、タイミング回路２
５からＡ／Ｄ変換部２２およびアドレスカウンタ２４に
起動信号が出力されると、Ａ／Ｄ変換部２２ではそのと
きの反射波Ｔの電圧をＡ／Ｄ変換してデータＤく。）を
得る。又、アドレスカウンタ２４は波形メモリ２３のア
ドレスＡ、４（。）を指定する。この結果、データＤ（
。、は波形メモリ２３のアドレスＡＭ＋１１１に収容さ
れる。次いで、時間τ３経過後の時刻ｔ１において、タ
イミング回路２５から再びＡ／Ｄ変換部２２およびアド
レスカウンタ２４に起動信号が出力されると、同じくそ
のときの反射波Ｔの電圧がＡ／Ｄ変換部２２で変換され
てデータＤ　Ｃ１＋　が得られ、アドレスカウンタ２４
は次のアドレスＡ□８．を指定するので、波形メモリ２
３のアドレスＡ、（１）にデータＤ（１）が収容される
。この場合、時間τ、がサンプリング時間（例えば５０
ｎｓ）となる。以下、同様にして反射波Ｔ、Ｆ＋　、Ｂ
＋　、Ｆｔ　、Ｂｚ　　　・・・・・・・・・のデータ
が波形メモリ２３に記憶されることになる。

次に、ＣＰＵ２６はＲＯＭ２８に記憶されている手順に
したがって、まず音速入力部３０に入力された音速Ｖ、
および測定範囲設定部２９に設定された測定範囲ｌ、Ｉ
を順次読み込む（第４図に示す手順Ｐ＋、Ｐｚ）。次い
で、液晶表示部３１の横方向全体に測定範囲ｌ、Ｉを表
示するには、即ち、液晶表示部３１の左端のスケール１
（反射波Ｔを、又右端のスケールに距離ｌ、Ｉに対応す
る位置を表示するには、波形メモリ２３に記憶されてい
るデータをどのようにとり出せばよいかが演算により求
められる（手順Ｐ、）、以下、この演算について説明す
る。

波形メモリ２３には、前述のように反射波Ｔ以下の繰返
しの反射波のデータが記憶されている。

しかし、この中で必要とされるのは、測定範囲内のデー
タであり、これら測定範囲内のデータを液晶表示部３１
の左右端のスケール間に表示すればよいことになる。一
般に、液晶表示部３１に表示を行う場合には、表示部コ
ントローラ３２に設けられた表示メモリ　（図示されて
いない）に表示のためのデータが格納される。この表示
メモリのアドレスは液晶ドツトの横方向の配列数（例え
ば２００個）に対して用意されている。このアドレスを
一般形としてＡＬ（Ｊ）（ｊ−０＋　　Ｌ　　２．・・
・・・・・・・１９９）で表す。この表示メモリのアド
レスは測定範囲がある程度の値であれば、波形メモリ２
３に記憶されている測定範囲内のデータの数（即ち、測
定範囲内のアドレスの数）より少ないのが通常である。

そこで、測定範囲内のデータを前記左右端のスケール間
に表示するには、波形メモリ２．３における測定範囲内
のアドレスをどのように選択すればよいかを決定するた
めに上記演算が実行されることになる。

ここで、 τＳ　：サンプリング時間 ｌえ　：測定範囲 ■、：被検被検体物体１内音波の音速 ｔ　：反射波が戻るまでの時間 Δへ：測定範囲ｌＲに対応する波形メモリ２３内のアド
レスの数 Ｄｔ　：液晶表示部３１の横方向の液晶ドツトの配列数
（又は表示メモリのアドレス数）とすると、表面から測
定範囲１８の距離の反射波が戻るに必要な時間ｔは、 ｔ　＝　２　ｔｔ＊　／ＶＳ　　　　　　　　　−−・
・旧−（１）この時間内に波形メモリに記憶されるアド
レス数τ３　　　τ３’ＶＳ このアドレス数ΔＡのアドレスのうち、液晶ドツト数り
、（表示メモリのアドレス数）に応じてアドレスを選択
するには、ΔＡ／ＤＬの比率でアドレスを選択してゆけ
ばよいことになる。即ち、第３図に示す波形メモリ２３
の各アドレスＡ□。、。

ＡＭ＋Ｉ１１　”１””’ＡＭＩｎ−１１１ＡＭ（ｎ）
＋　ＡＭ（ｎａｉｌｓ…・・・・・・のうち測定範囲Ｉ
Ｉ＋を表示するためｉ番目毎のアドレスを選択するもの
とすると、数ｉは次式％式％ ただし、ｊは正の整数（Ｏから（Ｄｔ−１）まで）。

である０手順Ｐ、ではこの（３）式の演算が実行される
。

手順Ｐ、で得られた数ｉは波形メモリのアドレスの番号
なので当然整数でなければならない。したがって、この
数ｉは適宜の手段で整数化される（手順Ｐ４）、このよ
うにして得られた各アドレスＡＨ（１）のデータは表示
メモリ　（図示されていない）の所定の各アドレスＡＬ
（ｊｌに転送される（手順Ｐｓ　）　、次いで、表示部
コントローラ３２により液晶表示部３１が駆動され、（
手順Ｐ６）、上記表示メモリに収容されたデータが順次
表示される。これにより、液晶表示部３■にはその左右
両端のスケール間に測定範囲ｌ、ｌ内における反射波の
波形がすべて現れることになる。

次に、上記の手順を具体的な例９適用して説明する。今
、サンプリング時間τ５、測定範囲Ｉ！え、音速ｖ８、
液晶ドツト数り、が下記の数値であるとする。

τｓ　−５００ｎｓ　　（２０ＭＨｚ）ｌ＊−２００ｍ
ｍ Ｖｓ＝５．９Ｋｍ／５ ＤＬ−２００点 まず゛、音速入力部３０に数値５．９が、又、測定範囲
設定部２９に数値２００が入力され、この値が読込まれ
る（手順Ｐ＋、Ｐｇ）。次いで、手順Ｐ！において、測
定範囲２００ｍｍに対応する波形メモリ２３内のアドレ
スの数ΔＡが（２）式がら求められる。

即ち、波形メモリ２３のアドレス八〇。、〜Ａ□、１．
）に、表面から２００ｍｍの範囲の波形データが格納さ
れていることになる。これらアドレスのデータを表示メ
モリの全アドレスＡＬ（。）〜ＡＬＨ啼ｑ）に格納する
ため、上記波形メモリ２３のアドレスＡ□。、〜Ａ、ｐ
ｇｎ：＋ｓｓ＋　のうち、どのアドレスを選択するかを
（３）式により求める。

−６，８１Ｘｊ ここで、数６．８１に整数Ｏ〜１９９を順次乗じてゆき
、選択すべきアドレスを決定してゆくのであるが、この
乗算の際に数ｉが整数化される（手順Ｐ、）。本例では
整数化は四捨五入により行う。

このようにして選択された波形メモリの各アドレスを、
順に表示メモリの各アドレスＡＬ（＠）〜ＡＬ（＋？ｎ
に対応させ、前者のアドレスのデータを後者のアドレス
に格納する（手順Ｐｓ）。これを表にまとめると次のよ
うになる。

即ち、上記表の波形メモリアドレスに格納されているデ
ータを、その左側に記載されている表示メモリアドレス
に格納する。最後に、これら格納されたデータに基づい
て液晶表示部３１に表示が行われる（手順Ｐ６）。

このように、本実施例では、反射波のデータを一旦波形
メモリに収容し、測定範囲に応じて選択すべきアドレス
を演算により求め、その′７ドレスのデータを表示する
ようにしたので、測定範囲の股定は、単に測定範囲設定
部および音速入力部に測定範囲と音速の数値を入力する
だけでよく、極めて簡単に、かつ、正確に行うことがで
き、測定に囲の大きさも自由に選択することができ、又
、弐片も不要である。そして、測定範囲を液晶表示部の
両端のスケール間全体に正確に表示できることから、欠
陥等の位置を高い精度で検査することができる。

さらに、本実施例の構成において、反射波にずれを生じ
るのはサンプリング時間に狂いを生じた場合のみである
が、このサンプリング時間を決定するタイミング回路に
は水晶発振子が用いられているので、正確なサンプリン
グ時間が得られるとともに、温度が変動してもサンプリ
ング時間に影響を受けることなく、したがって反射波に
ずれを生じることもなく、この点からも高精度で信頬性
の高い検査を行うことができる。

なお、上記実施例の説明では、表示部として液晶表示部
を例示して説明したが、液晶表示部に限ることはなく、
通常の陰極線管、プラズマ表示部等を用いることができ
るのは明らかである。

〔発明の効果〕

以上述べたように、本発明では、受信した反射波のデー
タを波形メモリに記憶させ、測定範囲に応じて選択する
各アドレスを演算により求め、これらアドレスのデータ
を表示するようにしたので、測定範囲を極めて容易、か
つ、正確に設定することができ、又、設定後温度変化等
により波形にずれを生じることもない。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例に係る超音波探傷器のブロック
図、第２図は反射波の一部の波形図、第３図は第１図に
示す波形メモリのブロック図、第４図は第１図に示す超
音波探傷器の動作を説明するフローチャート、第５図は
従来の超音波探傷器のブロック図、第６図は第５図に示
す掃引回路の回路図、第７図は反射波の波形図である。 １・・・・・・・・・被検査物体、１ｆ・・・・・・・
・・欠陥、２・・・・・・・・・超音波探触子、５・・
・・・・・・・送信部、６・・・・・・・・・受信部、
２１・・・・・・・・・超音波探傷器、２２・・・・・
・・・・Ａ／Ｄ変換部、２３・・・・・・・・・波形メ
モリ、２４・・・・・・・・・アドレスカウンタ、２５
・・・・・・・・・タイミング回路、２６・・・・・・
・・・ＣＰＵ、２７・・・・・・・・・ＲＡＭ、２８・
・・・・・・・・ＲＯＭ、２９・・・・・・・・・測定
範囲設定部、３０・・・・・・・・・音速入力部、３１
・・・・・・・・・液晶表示部第２図 第３図 第４図 第６図 第７図 手続補正書（自発） 昭和６２年１１月７７０

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 超音波探触子に対して所定のパルスを出力する送信部と
   、前記超音波探触子からの信号を受信する受信部と、こ
   の受信部で受信された信号に基づいて当該信号の波形を
   表示する表示部とを備えた超音波探傷器において、前記
   受信部で受信された入力信号を所定のサンプリング周期
   で順次アドレスに記憶するメモリと、前記入力信号の波
   形の分析に必要な測定範囲を設定する測定範囲設定部と
   、被探傷物体内を伝播する音速を入力する音速入力部と
   、設定された前記測定範囲、入力された前記音速および
   前記サンプリング周期に基づいて選択すべき前記メモリ
   のアドレスを演算する演算手段と、この演算手段により
   選択されたアドレスのデータを前記表示部に表示する表
   示制御手段とを設けたことを特徴とする超音波探傷器の
   測定範囲設定装置。