JPS6395353A - 超音波探傷器の測定範囲設定装置 - Google Patents
超音波探傷器の測定範囲設定装置Info
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- JPS6395353A JPS6395353A JP61240191A JP24019186A JPS6395353A JP S6395353 A JPS6395353 A JP S6395353A JP 61240191 A JP61240191 A JP 61240191A JP 24019186 A JP24019186 A JP 24019186A JP S6395353 A JPS6395353 A JP S6395353A
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は超音波探傷器において、被検査物体における測
定範囲を定める超音波探傷器の測定範囲設定装置に関す
る。
定範囲を定める超音波探傷器の測定範囲設定装置に関す
る。
超音波探傷器は、物体内部の傷の存在の有無を当該物体
を破壊することなく検査する装置として良く知られてい
る。この超音波探傷器を図により説明する。
を破壊することなく検査する装置として良く知られてい
る。この超音波探傷器を図により説明する。
第5図は従来の超音波探傷器のブロック図である0図で
、1は被検査物体、1fは被検査物体1内に存在する欠
陥を示す、2は被検査物体l内に超音波を放射するとと
もに、反射してきた超音波に比例した電気信号を出力す
る超音波探触子である。3は超音波探傷器であり、超音
波探触子2に対して超音波発生パルスを出力し、かつ、
超音波探触子2からの信号を受信し、この信号の波形を
表示する。
、1は被検査物体、1fは被検査物体1内に存在する欠
陥を示す、2は被検査物体l内に超音波を放射するとと
もに、反射してきた超音波に比例した電気信号を出力す
る超音波探触子である。3は超音波探傷器であり、超音
波探触子2に対して超音波発生パルスを出力し、かつ、
超音波探触子2からの信号を受信し、この信号の波形を
表示する。
超音波探傷器3は次の各要素で構成されている。
即ち、4は超音波探傷器3の動作に時間的規制を与えろ
信号電圧を発生する同期回路、5は同期回路4の信号に
より超音波探触子2に超音波発生のためのパルスを出力
する送信部である。6は超音波探触子2からの信号を受
信する受信部であり、抵抗器で構成される分圧器の組合
せより成る減衰回路6a、および増幅回路6bで構成さ
れる。7は増幅回路6bからの信号を整流する検波回路
、8は垂直軸増幅回路である。
信号電圧を発生する同期回路、5は同期回路4の信号に
より超音波探触子2に超音波発生のためのパルスを出力
する送信部である。6は超音波探触子2からの信号を受
信する受信部であり、抵抗器で構成される分圧器の組合
せより成る減衰回路6a、および増幅回路6bで構成さ
れる。7は増幅回路6bからの信号を整流する検波回路
、8は垂直軸増幅回路である。
9は同期図84からの同期信号により三角波を発生する
掃引回路、10は掃引回路9の三角波信号を増幅する増
幅回路である。2は超音波探触子2からの信号波形を表
示する表示部であり、横軸は増幅回路lOから出力され
る三角波で定まる時間軸とされ、縦軸は垂直軸増幅回路
8から出力される信号の大きさとされる0表示部11と
しては陰極線管が用いられ、その表面にはスケールが表
示されている。12は被検査物体1において、その表面
からの検査すべき範囲(測定範囲)を設定する測定範囲
設定部である。13は掃引開始信号に遅れ時間をもたせ
て表示部11に表示される波形の位置を平行移動させる
遅延時間設定部である。
掃引回路、10は掃引回路9の三角波信号を増幅する増
幅回路である。2は超音波探触子2からの信号波形を表
示する表示部であり、横軸は増幅回路lOから出力され
る三角波で定まる時間軸とされ、縦軸は垂直軸増幅回路
8から出力される信号の大きさとされる0表示部11と
しては陰極線管が用いられ、その表面にはスケールが表
示されている。12は被検査物体1において、その表面
からの検査すべき範囲(測定範囲)を設定する測定範囲
設定部である。13は掃引開始信号に遅れ時間をもたせ
て表示部11に表示される波形の位置を平行移動させる
遅延時間設定部である。
第6図は第5図に示す掃引回路の回路図である。
図で、9aは増幅器、9rは可変抵抗器、9Cは可変コ
ンデンサである。測定範囲設定部12は通常、粗調用の
つまみと微調用のつまみより成りこれらのつまみを回動
することにより可変抵抗器9rの抵抗値および可変コン
デンサ9Cの容量を調整する。
ンデンサである。測定範囲設定部12は通常、粗調用の
つまみと微調用のつまみより成りこれらのつまみを回動
することにより可変抵抗器9rの抵抗値および可変コン
デンサ9Cの容量を調整する。
次に、上記従来の超音波探傷器の動作の概略を説明する
。同期回路4からの信号電圧により送信部5からパルス
が出力されると、超音波探触子2はこのパルスにより励
起されて被検査物体1に対して超音波を放射する。放射
された超音波の一部は被検査物体1の表面から直ちに超
音波探触子2に戻り、他は被検査物体1内を伝播し、被
検査物体1の底部に達し、ここで反射されて超音波探触
子2に戻る。一方、被検査物体1に欠陥1rが存在する
と、超音波は当該欠陥Ifにおいても反射されて超音波
探触子2に戻る。これら超音波探触子2に戻った超音波
は超音波探触子2をその大きさに比例して励起し、超音
波探触子2からはこれに応じた電気信号が出力される。
。同期回路4からの信号電圧により送信部5からパルス
が出力されると、超音波探触子2はこのパルスにより励
起されて被検査物体1に対して超音波を放射する。放射
された超音波の一部は被検査物体1の表面から直ちに超
音波探触子2に戻り、他は被検査物体1内を伝播し、被
検査物体1の底部に達し、ここで反射されて超音波探触
子2に戻る。一方、被検査物体1に欠陥1rが存在する
と、超音波は当該欠陥Ifにおいても反射されて超音波
探触子2に戻る。これら超音波探触子2に戻った超音波
は超音波探触子2をその大きさに比例して励起し、超音
波探触子2からはこれに応じた電気信号が出力される。
この信号は減衰回路6aに入力され、処理に適した大き
さに調節され、増幅回路6bを経て検波回路7に入力さ
れる。検波回路7は表示部11の表示を片振り指示とす
るため、入力信号を整流する。この際、当該信号に混入
している雑音成分も除去される。検波回路7の出力信号
は垂直軸増幅回路8を経て表示部11に入力され、その
大きさが表示部11の縦軸に表される。一方、掃引回路
9は同期回路4の同期信号により三角波電圧を発生し、
この電圧は増幅回路10を経て表示部11(陰極線管)
の偏向電極に印加され、電子ビームを掃引する。この掃
引と前記垂直軸増幅回路8からの入力信号により、表示
部11には超音波探触子2に戻った反射波の波形が表示
される。
さに調節され、増幅回路6bを経て検波回路7に入力さ
れる。検波回路7は表示部11の表示を片振り指示とす
るため、入力信号を整流する。この際、当該信号に混入
している雑音成分も除去される。検波回路7の出力信号
は垂直軸増幅回路8を経て表示部11に入力され、その
大きさが表示部11の縦軸に表される。一方、掃引回路
9は同期回路4の同期信号により三角波電圧を発生し、
この電圧は増幅回路10を経て表示部11(陰極線管)
の偏向電極に印加され、電子ビームを掃引する。この掃
引と前記垂直軸増幅回路8からの入力信号により、表示
部11には超音波探触子2に戻った反射波の波形が表示
される。
第7図は表示された反射波の波形図である。図で、横軸
は時間、縦軸は反射波の大きさを示す。
は時間、縦軸は反射波の大きさを示す。
Tは被検査物体1の表面からの反射波、F、は欠陥1f
からの反射波、B+ は被検査物体1の底面からの反射
波である。Sは表示部11上に描かれているスケールを
示す。底面から反射した反射波の一部は表面で再反射さ
れて再び被検査物体l内に戻る。これにより、欠陥1f
からの反射波F2、底面からの反射波B2が再び現れる
が反射波Ft、B!の大きさは当然ながら反射波F9、
BIの大きさより小さい。このように、欠陥1fからの
反射波および底面からの反射波が減衰しながら繰返し現
れることになる。なお、被検査物体1内における超音波
の音速は一定であるので、横軸(時間軸)は被検査物体
1内の表面からの距離を表すことになり、この波形図か
ら欠陥1fの位置が判明する。
からの反射波、B+ は被検査物体1の底面からの反射
波である。Sは表示部11上に描かれているスケールを
示す。底面から反射した反射波の一部は表面で再反射さ
れて再び被検査物体l内に戻る。これにより、欠陥1f
からの反射波F2、底面からの反射波B2が再び現れる
が反射波Ft、B!の大きさは当然ながら反射波F9、
BIの大きさより小さい。このように、欠陥1fからの
反射波および底面からの反射波が減衰しながら繰返し現
れることになる。なお、被検査物体1内における超音波
の音速は一定であるので、横軸(時間軸)は被検査物体
1内の表面からの距離を表すことになり、この波形図か
ら欠陥1fの位置が判明する。
ところで、一般に、被検査物体1を探傷する場合、必ず
しもその表面から底面まで全体を検査する必要はなく、
表面からある一定の深さ範囲を検査すればよい場合が多
い。この場合には、波形の表示はその範囲(測定範囲)
のみの表示とすることが望ましく、それによってより精
度の高い分析を行うことができる。
しもその表面から底面まで全体を検査する必要はなく、
表面からある一定の深さ範囲を検査すればよい場合が多
い。この場合には、波形の表示はその範囲(測定範囲)
のみの表示とすることが望ましく、それによってより精
度の高い分析を行うことができる。
ここで、このような測定範囲を設定する方法について説
明する。今、仮に表面から底面までの距離が200mm
の被検査物体において、測定範囲を100mm(表面か
ら100mm以内)に設定する場合について考える。こ
の場合、被検査物体lと同一材料で、厚さ100mmの
試片を用意する。次に、その試片に超音波を放射すると
、表示部11には、反射波T、B+ 、Bz 、・・・
・・・・・・が現れる。そこで、測定範囲設定部12の
粗目用つまみと微調用つまみを操作して横軸の拡張、縮
少を行い、表示部11の左端のスケールSLに反射波B
1が、又、右端のスケールにSRに反射波B。
明する。今、仮に表面から底面までの距離が200mm
の被検査物体において、測定範囲を100mm(表面か
ら100mm以内)に設定する場合について考える。こ
の場合、被検査物体lと同一材料で、厚さ100mmの
試片を用意する。次に、その試片に超音波を放射すると
、表示部11には、反射波T、B+ 、Bz 、・・・
・・・・・・が現れる。そこで、測定範囲設定部12の
粗目用つまみと微調用つまみを操作して横軸の拡張、縮
少を行い、表示部11の左端のスケールSLに反射波B
1が、又、右端のスケールにSRに反射波B。
が現れるように調節する。この場合、表示部11には反
射波B+ 、Bzのみが表示されており、左右両端の各
スケールSL、Sえの間隔が100w+mの位置間隔に
相当することとなる。次に、遅延時間設定部13のつま
みを回動して波形を右方に平行移動させ、反射波Tを左
端のスケールSLに合せる。この状態で被検査物体1に
超音波を放射すると、表示部11には表面(スケールS
L)から100mm(スケールS+t)の測定範囲が表
示されることになる。
射波B+ 、Bzのみが表示されており、左右両端の各
スケールSL、Sえの間隔が100w+mの位置間隔に
相当することとなる。次に、遅延時間設定部13のつま
みを回動して波形を右方に平行移動させ、反射波Tを左
端のスケールSLに合せる。この状態で被検査物体1に
超音波を放射すると、表示部11には表面(スケールS
L)から100mm(スケールS+t)の測定範囲が表
示されることになる。
上記従来装置における測定範囲の設定は、上述のように
、測定範囲に等しい厚さをもち、被検査物体1と同一材
料の試片を用意し、測定範囲設定部12の2つのつまみ
、および遅延時間設定部13のつまみを操作する必要が
あり、又、それらの操作において反射波B+、Bgをス
ケールsL、Sカに合致させるには相当の熟練を要する
ことから、極めて面倒である。しかも、必要とする材質
および厚みを有する試片が常に存在するとは限らず、む
しろ存在しない方が多く、この場合には測定範囲の設定
はほとんど不可能である。
、測定範囲に等しい厚さをもち、被検査物体1と同一材
料の試片を用意し、測定範囲設定部12の2つのつまみ
、および遅延時間設定部13のつまみを操作する必要が
あり、又、それらの操作において反射波B+、Bgをス
ケールsL、Sカに合致させるには相当の熟練を要する
ことから、極めて面倒である。しかも、必要とする材質
および厚みを有する試片が常に存在するとは限らず、む
しろ存在しない方が多く、この場合には測定範囲の設定
はほとんど不可能である。
もつとも、ある音速の材料について、掃引回路9の抵抗
9rおよびコンデンサ9Cの値を各測定範囲毎に予め計
算し、測定範囲設定部12の一方のつまみ(例えば粗調
用つまみ)部分に測定範囲を表示しておき、他方のつま
み(例えば微調用つまみ)部分に前記表示と対応して予
め計算により音速を表示しておき、両つまみにより測定
範囲を設定することも可能であるが、可変コンデンサ9
Cを用いるので上記各表示自体が非直線性の表示となり
、つまみを正確にセットすることは極めて困難であり、
したがって、測定範囲の正確な設定はほとんど不可能に
近い。そして、測定範囲が正確に設定できないと欠陥の
位置を正確に読取ることはできなくなる。
9rおよびコンデンサ9Cの値を各測定範囲毎に予め計
算し、測定範囲設定部12の一方のつまみ(例えば粗調
用つまみ)部分に測定範囲を表示しておき、他方のつま
み(例えば微調用つまみ)部分に前記表示と対応して予
め計算により音速を表示しておき、両つまみにより測定
範囲を設定することも可能であるが、可変コンデンサ9
Cを用いるので上記各表示自体が非直線性の表示となり
、つまみを正確にセットすることは極めて困難であり、
したがって、測定範囲の正確な設定はほとんど不可能に
近い。そして、測定範囲が正確に設定できないと欠陥の
位置を正確に読取ることはできなくなる。
このように、上記従来袋πにあっては、測定範囲の正確
な設定は、試片が存在していても極めて面倒であり、試
片が存在しない場合にはほとんど不可能に近いという問
題があった。これに加えて、仮に測定範囲の正確な設定
ができたとしても、次のような問題点があった。即ち、
掃引回路9の抵抗9rの抵抗値、コンデンサ9Cの容量
、および増幅回路10の増幅率は温度により変化する。
な設定は、試片が存在していても極めて面倒であり、試
片が存在しない場合にはほとんど不可能に近いという問
題があった。これに加えて、仮に測定範囲の正確な設定
ができたとしても、次のような問題点があった。即ち、
掃引回路9の抵抗9rの抵抗値、コンデンサ9Cの容量
、および増幅回路10の増幅率は温度により変化する。
したがって、周囲温度が変化すると折角正確に設定した
測定範囲にも誤差を生じる。このことは、反射波に横軸
方向のずれが生じることを意味し、欠陥の位置を正確に
知ることはできなくなる。
測定範囲にも誤差を生じる。このことは、反射波に横軸
方向のずれが生じることを意味し、欠陥の位置を正確に
知ることはできなくなる。
本発明の目的は、上記従来技術の問題点を解決し、測定
範囲を容易に、かつ、正確に設定することができる超音
波探傷器の測定範囲設定装置に関する。
範囲を容易に、かつ、正確に設定することができる超音
波探傷器の測定範囲設定装置に関する。
上記の目的を達成するため、本発明は、超音波探触子に
対して所定のパルスを出力する送信部と、超音波探触子
からの信号を受信する受信部と、この受信部で受信され
た信号に基づいてその信号の波形を表示する表示部とを
儂えた超音波探傷器において、メモリを設けて受信部で
受信された入力信号を所定のサンプリング周期で当該メ
モリにそのアドレス順に順次記憶させ、一方、入力信号
の波形の分析に必要な測定範囲を設定する測定範囲設定
部および液深傷物体内に伝播する音速を入力する音速入
力部を設け、測定範囲設定部に設定された値、音速入力
部に入力された音速、およびサンプリング周期に基づい
て選択すべきメモリのアドレスを演算手段により演算し
、この演算によって選択されたアドレスからデータをと
り出して表示部に表示するようにしたことを特徴とする
。
対して所定のパルスを出力する送信部と、超音波探触子
からの信号を受信する受信部と、この受信部で受信され
た信号に基づいてその信号の波形を表示する表示部とを
儂えた超音波探傷器において、メモリを設けて受信部で
受信された入力信号を所定のサンプリング周期で当該メ
モリにそのアドレス順に順次記憶させ、一方、入力信号
の波形の分析に必要な測定範囲を設定する測定範囲設定
部および液深傷物体内に伝播する音速を入力する音速入
力部を設け、測定範囲設定部に設定された値、音速入力
部に入力された音速、およびサンプリング周期に基づい
て選択すべきメモリのアドレスを演算手段により演算し
、この演算によって選択されたアドレスからデータをと
り出して表示部に表示するようにしたことを特徴とする
。
被検査物体からの超音波の反射波は超音波探触子に戻り
、超音波探触子からはこの反射波に応じた信号が出力さ
れる。受信部ではこの信号を受信し、受信部からの出力
信号は所定のサンプリング周期でメモリに順に記憶され
る。測定範囲を設定する場合には、測定範囲設定部に任
意の測定範囲をセットするとともに、音速入力部に被検
査物体における音速を入力する。演算手段では、このセ
ットされた測定範囲と入力された音速に基づいて、前記
メモリに記憶されているデータのうちとり出すべきデー
タが収容されているアドレスが演算される。この演算結
果にしたがって順次該当アドレスのデータがとり出され
、このデータは表示制御手段により表示部に表示される
。
、超音波探触子からはこの反射波に応じた信号が出力さ
れる。受信部ではこの信号を受信し、受信部からの出力
信号は所定のサンプリング周期でメモリに順に記憶され
る。測定範囲を設定する場合には、測定範囲設定部に任
意の測定範囲をセットするとともに、音速入力部に被検
査物体における音速を入力する。演算手段では、このセ
ットされた測定範囲と入力された音速に基づいて、前記
メモリに記憶されているデータのうちとり出すべきデー
タが収容されているアドレスが演算される。この演算結
果にしたがって順次該当アドレスのデータがとり出され
、このデータは表示制御手段により表示部に表示される
。
以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明する。
第1図は本発明の実施例に係る超音波探傷器のブロック
図である。図で、第5図に示す部分と同一部分には同一
符号を付して説明を省略する。21は本実施例の超音波
探傷器を示す。この超音波探傷器21は次の各要素によ
り構成されている。即ち、22は受信部6の出力信号を
ディジタル値に変換するA/D変換部、23はA/D変
換部22で変換された値を記憶する波形メモリ、24は
波形メモリ23の各アドレスを順に指定してゆくアドレ
スカウンタである。25はタイミング回路であり、送信
部5、A/D変換部22およびアドレスカウンタ24へ
それぞれ起動信号を与える。このタイミング回路25の
発振には水晶発振子が用いられる。
図である。図で、第5図に示す部分と同一部分には同一
符号を付して説明を省略する。21は本実施例の超音波
探傷器を示す。この超音波探傷器21は次の各要素によ
り構成されている。即ち、22は受信部6の出力信号を
ディジタル値に変換するA/D変換部、23はA/D変
換部22で変換された値を記憶する波形メモリ、24は
波形メモリ23の各アドレスを順に指定してゆくアドレ
スカウンタである。25はタイミング回路であり、送信
部5、A/D変換部22およびアドレスカウンタ24へ
それぞれ起動信号を与える。このタイミング回路25の
発振には水晶発振子が用いられる。
26は所要の演算、制御を行うCPU (中央処メモリ
)、28はCPU26の処理手順を記憶するROM (
リード・オンリ・メモリ)である。29は所望の測定範
囲を入力する測定範囲設定部、30は被検査物体1内を
超音波が伝播する速度(音速)を入力する音速入力部で
ある。31は液晶表示部、32はCPU26の演算、制
御の結果得られたデータに基づいて液晶表示部31の表
示を制御する表示部コントローラである。
)、28はCPU26の処理手順を記憶するROM (
リード・オンリ・メモリ)である。29は所望の測定範
囲を入力する測定範囲設定部、30は被検査物体1内を
超音波が伝播する速度(音速)を入力する音速入力部で
ある。31は液晶表示部、32はCPU26の演算、制
御の結果得られたデータに基づいて液晶表示部31の表
示を制御する表示部コントローラである。
次に、本実施例の動作を第2図に示す反射波の波形図、
第3図に示す波形メモリ23のブロック図、および第4
図に示すフローチャートを参照しながら説明する。最初
に、測定範囲設定部29に所望の測定範囲1* (こ
の値は第1図に示す被検査物体1に示されている。)を
設定する。又、音速入力部にも被検査物体1の材質で定
まる音速V、を入力する。この状態において、タイミン
グ回路25から送信部5ヘトリガ信号が出力されると、
送信部5は超音波探触子2にパルスを出力し、超音波探
触子2から被検査物体1内に超音波が放射される。この
超音波の反射波は超音波探触子2により電気信号に変換
され、この信号は受信部6で受信される。受信部6は、
受信した反射波信号を以後の処理に適した値として出力
する。この出力された反射波信号は、所定のサンプリン
グ周期毎にA/D変換部22においてディジタル値に変
換され、この変換された値は順次波形メモリ23に記憶
される。この記憶は、アドレスカウンタ24が波形メモ
リ23のアドレスを順次指定することによりなされる。
第3図に示す波形メモリ23のブロック図、および第4
図に示すフローチャートを参照しながら説明する。最初
に、測定範囲設定部29に所望の測定範囲1* (こ
の値は第1図に示す被検査物体1に示されている。)を
設定する。又、音速入力部にも被検査物体1の材質で定
まる音速V、を入力する。この状態において、タイミン
グ回路25から送信部5ヘトリガ信号が出力されると、
送信部5は超音波探触子2にパルスを出力し、超音波探
触子2から被検査物体1内に超音波が放射される。この
超音波の反射波は超音波探触子2により電気信号に変換
され、この信号は受信部6で受信される。受信部6は、
受信した反射波信号を以後の処理に適した値として出力
する。この出力された反射波信号は、所定のサンプリン
グ周期毎にA/D変換部22においてディジタル値に変
換され、この変換された値は順次波形メモリ23に記憶
される。この記憶は、アドレスカウンタ24が波形メモ
リ23のアドレスを順次指定することによりなされる。
反射波信号のサンプリング、波形メモリ23のアドレ指
定はタイミング回路25から出力される起動信号により
実行される。このような反射波信号のサンプリングと、
そのディジタル値の波形メモリ23への収容を第2図お
よび第3図により説明する。
定はタイミング回路25から出力される起動信号により
実行される。このような反射波信号のサンプリングと、
そのディジタル値の波形メモリ23への収容を第2図お
よび第3図により説明する。
第2図は反射波信号の波形図である。図で、横軸には時
間が、縦軸には反射波信号の大きさく′W1圧)がとっ
である、T、F、は第7図に示すものと同じ反射波を示
す。なお、第2図では横軸のみが極端に拡大して描かれ
ている6次に、第3図は波形メモリ23のブロック図で
ある。縦列に番々ビ示された各ブロックは波形メモリ2
3におけるデータの収容部を意味し、各収容部に記載さ
れたD 、。)+D+11+ ・・・ ・・・ ・・
・ D++%−11+ D (+a)r D
(n+ 。 ・・・・・・・・・はA/D変換部22
でディジタル値に変換された反射波信号のデータである
。これらデータを一般形としてD(1,で表わす。又、
各収容部の左側に記載された符号AM(。)、AM(+
1+・・・・・・・・・AM(It−IllAM+lI
)、AM(11+111・・・・・・・・・は対応する
収容部のアドレスを示す、これらアドレスを一般形とし
てA11(1)で表わす。
間が、縦軸には反射波信号の大きさく′W1圧)がとっ
である、T、F、は第7図に示すものと同じ反射波を示
す。なお、第2図では横軸のみが極端に拡大して描かれ
ている6次に、第3図は波形メモリ23のブロック図で
ある。縦列に番々ビ示された各ブロックは波形メモリ2
3におけるデータの収容部を意味し、各収容部に記載さ
れたD 、。)+D+11+ ・・・ ・・・ ・・
・ D++%−11+ D (+a)r D
(n+ 。 ・・・・・・・・・はA/D変換部22
でディジタル値に変換された反射波信号のデータである
。これらデータを一般形としてD(1,で表わす。又、
各収容部の左側に記載された符号AM(。)、AM(+
1+・・・・・・・・・AM(It−IllAM+lI
)、AM(11+111・・・・・・・・・は対応する
収容部のアドレスを示す、これらアドレスを一般形とし
てA11(1)で表わす。
今、第2図に示す時刻t0において、タイミング回路2
5からA/D変換部22およびアドレスカウンタ24に
起動信号が出力されると、A/D変換部22ではそのと
きの反射波Tの電圧をA/D変換してデータDく。)を
得る。又、アドレスカウンタ24は波形メモリ23のア
ドレスA、4(。)を指定する。この結果、データD(
。、は波形メモリ23のアドレスAM+111に収容さ
れる。次いで、時間τ3経過後の時刻t1において、タ
イミング回路25から再びA/D変換部22およびアド
レスカウンタ24に起動信号が出力されると、同じくそ
のときの反射波Tの電圧がA/D変換部22で変換され
てデータD C1+ が得られ、アドレスカウンタ24
は次のアドレスA□8.を指定するので、波形メモリ2
3のアドレスA、(1)にデータD(1)が収容される
。この場合、時間τ、がサンプリング時間(例えば50
ns)となる。以下、同様にして反射波T、F+ 、B
+ 、Ft 、Bz ・・・・・・・・・のデータ
が波形メモリ23に記憶されることになる。
5からA/D変換部22およびアドレスカウンタ24に
起動信号が出力されると、A/D変換部22ではそのと
きの反射波Tの電圧をA/D変換してデータDく。)を
得る。又、アドレスカウンタ24は波形メモリ23のア
ドレスA、4(。)を指定する。この結果、データD(
。、は波形メモリ23のアドレスAM+111に収容さ
れる。次いで、時間τ3経過後の時刻t1において、タ
イミング回路25から再びA/D変換部22およびアド
レスカウンタ24に起動信号が出力されると、同じくそ
のときの反射波Tの電圧がA/D変換部22で変換され
てデータD C1+ が得られ、アドレスカウンタ24
は次のアドレスA□8.を指定するので、波形メモリ2
3のアドレスA、(1)にデータD(1)が収容される
。この場合、時間τ、がサンプリング時間(例えば50
ns)となる。以下、同様にして反射波T、F+ 、B
+ 、Ft 、Bz ・・・・・・・・・のデータ
が波形メモリ23に記憶されることになる。
次に、CPU26はROM28に記憶されている手順に
したがって、まず音速入力部30に入力された音速V、
および測定範囲設定部29に設定された測定範囲l、I
を順次読み込む(第4図に示す手順P+、Pz)。次い
で、液晶表示部31の横方向全体に測定範囲l、Iを表
示するには、即ち、液晶表示部31の左端のスケール1
(反射波Tを、又右端のスケールに距離l、Iに対応す
る位置を表示するには、波形メモリ23に記憶されてい
るデータをどのようにとり出せばよいかが演算により求
められる(手順P、)、以下、この演算について説明す
る。
したがって、まず音速入力部30に入力された音速V、
および測定範囲設定部29に設定された測定範囲l、I
を順次読み込む(第4図に示す手順P+、Pz)。次い
で、液晶表示部31の横方向全体に測定範囲l、Iを表
示するには、即ち、液晶表示部31の左端のスケール1
(反射波Tを、又右端のスケールに距離l、Iに対応す
る位置を表示するには、波形メモリ23に記憶されてい
るデータをどのようにとり出せばよいかが演算により求
められる(手順P、)、以下、この演算について説明す
る。
波形メモリ23には、前述のように反射波T以下の繰返
しの反射波のデータが記憶されている。
しの反射波のデータが記憶されている。
しかし、この中で必要とされるのは、測定範囲内のデー
タであり、これら測定範囲内のデータを液晶表示部31
の左右端のスケール間に表示すればよいことになる。一
般に、液晶表示部31に表示を行う場合には、表示部コ
ントローラ32に設けられた表示メモリ (図示されて
いない)に表示のためのデータが格納される。この表示
メモリのアドレスは液晶ドツトの横方向の配列数(例え
ば200個)に対して用意されている。このアドレスを
一般形としてAL(J)(j−0+ L 2.・・
・・・・・・・199)で表す。この表示メモリのアド
レスは測定範囲がある程度の値であれば、波形メモリ2
3に記憶されている測定範囲内のデータの数(即ち、測
定範囲内のアドレスの数)より少ないのが通常である。
タであり、これら測定範囲内のデータを液晶表示部31
の左右端のスケール間に表示すればよいことになる。一
般に、液晶表示部31に表示を行う場合には、表示部コ
ントローラ32に設けられた表示メモリ (図示されて
いない)に表示のためのデータが格納される。この表示
メモリのアドレスは液晶ドツトの横方向の配列数(例え
ば200個)に対して用意されている。このアドレスを
一般形としてAL(J)(j−0+ L 2.・・
・・・・・・・199)で表す。この表示メモリのアド
レスは測定範囲がある程度の値であれば、波形メモリ2
3に記憶されている測定範囲内のデータの数(即ち、測
定範囲内のアドレスの数)より少ないのが通常である。
そこで、測定範囲内のデータを前記左右端のスケール間
に表示するには、波形メモリ2.3における測定範囲内
のアドレスをどのように選択すればよいかを決定するた
めに上記演算が実行されることになる。
に表示するには、波形メモリ2.3における測定範囲内
のアドレスをどのように選択すればよいかを決定するた
めに上記演算が実行されることになる。
ここで、
τS :サンプリング時間
lえ :測定範囲
■、:被検被検体物体1内音波の音速
t :反射波が戻るまでの時間
Δへ:測定範囲lRに対応する波形メモリ23内のアド
レスの数 Dt :液晶表示部31の横方向の液晶ドツトの配列数
(又は表示メモリのアドレス数)とすると、表面から測
定範囲18の距離の反射波が戻るに必要な時間tは、 t = 2 tt* /VS −−・
・旧−(1)この時間内に波形メモリに記憶されるアド
レス数τ3 τ3’VS このアドレス数ΔAのアドレスのうち、液晶ドツト数り
、(表示メモリのアドレス数)に応じてアドレスを選択
するには、ΔA/DLの比率でアドレスを選択してゆけ
ばよいことになる。即ち、第3図に示す波形メモリ23
の各アドレスA□。、。
レスの数 Dt :液晶表示部31の横方向の液晶ドツトの配列数
(又は表示メモリのアドレス数)とすると、表面から測
定範囲18の距離の反射波が戻るに必要な時間tは、 t = 2 tt* /VS −−・
・旧−(1)この時間内に波形メモリに記憶されるアド
レス数τ3 τ3’VS このアドレス数ΔAのアドレスのうち、液晶ドツト数り
、(表示メモリのアドレス数)に応じてアドレスを選択
するには、ΔA/DLの比率でアドレスを選択してゆけ
ばよいことになる。即ち、第3図に示す波形メモリ23
の各アドレスA□。、。
AM+I11 ”1””’AMIn−111AM(n)
+ AM(nails…・・・・・・のうち測定範囲I
I+を表示するためi番目毎のアドレスを選択するもの
とすると、数iは次式%式% ただし、jは正の整数(Oから(Dt−1)まで)。
+ AM(nails…・・・・・・のうち測定範囲I
I+を表示するためi番目毎のアドレスを選択するもの
とすると、数iは次式%式% ただし、jは正の整数(Oから(Dt−1)まで)。
である0手順P、ではこの(3)式の演算が実行される
。
。
手順P、で得られた数iは波形メモリのアドレスの番号
なので当然整数でなければならない。したがって、この
数iは適宜の手段で整数化される(手順P4)、このよ
うにして得られた各アドレスAH(1)のデータは表示
メモリ (図示されていない)の所定の各アドレスAL
(jlに転送される(手順Ps ) 、次いで、表示部
コントローラ32により液晶表示部31が駆動され、(
手順P6)、上記表示メモリに収容されたデータが順次
表示される。これにより、液晶表示部3■にはその左右
両端のスケール間に測定範囲l、l内における反射波の
波形がすべて現れることになる。
なので当然整数でなければならない。したがって、この
数iは適宜の手段で整数化される(手順P4)、このよ
うにして得られた各アドレスAH(1)のデータは表示
メモリ (図示されていない)の所定の各アドレスAL
(jlに転送される(手順Ps ) 、次いで、表示部
コントローラ32により液晶表示部31が駆動され、(
手順P6)、上記表示メモリに収容されたデータが順次
表示される。これにより、液晶表示部3■にはその左右
両端のスケール間に測定範囲l、l内における反射波の
波形がすべて現れることになる。
次に、上記の手順を具体的な例9適用して説明する。今
、サンプリング時間τ5、測定範囲I!え、音速v8、
液晶ドツト数り、が下記の数値であるとする。
、サンプリング時間τ5、測定範囲I!え、音速v8、
液晶ドツト数り、が下記の数値であるとする。
τs −500ns (20MHz)l*−200m
m Vs=5.9Km/5 DL−200点 まず゛、音速入力部30に数値5.9が、又、測定範囲
設定部29に数値200が入力され、この値が読込まれ
る(手順P+、Pg)。次いで、手順P!において、測
定範囲200mmに対応する波形メモリ23内のアドレ
スの数ΔAが(2)式がら求められる。
m Vs=5.9Km/5 DL−200点 まず゛、音速入力部30に数値5.9が、又、測定範囲
設定部29に数値200が入力され、この値が読込まれ
る(手順P+、Pg)。次いで、手順P!において、測
定範囲200mmに対応する波形メモリ23内のアドレ
スの数ΔAが(2)式がら求められる。
即ち、波形メモリ23のアドレス八〇。、〜A□、1.
)に、表面から200mmの範囲の波形データが格納さ
れていることになる。これらアドレスのデータを表示メ
モリの全アドレスAL(。)〜ALH啼q)に格納する
ため、上記波形メモリ23のアドレスA□。、〜A、p
gn:+ss+ のうち、どのアドレスを選択するかを
(3)式により求める。
)に、表面から200mmの範囲の波形データが格納さ
れていることになる。これらアドレスのデータを表示メ
モリの全アドレスAL(。)〜ALH啼q)に格納する
ため、上記波形メモリ23のアドレスA□。、〜A、p
gn:+ss+ のうち、どのアドレスを選択するかを
(3)式により求める。
−6,81Xj
ここで、数6.81に整数O〜199を順次乗じてゆき
、選択すべきアドレスを決定してゆくのであるが、この
乗算の際に数iが整数化される(手順P、)。本例では
整数化は四捨五入により行う。
、選択すべきアドレスを決定してゆくのであるが、この
乗算の際に数iが整数化される(手順P、)。本例では
整数化は四捨五入により行う。
このようにして選択された波形メモリの各アドレスを、
順に表示メモリの各アドレスAL(@)〜AL(+?n
に対応させ、前者のアドレスのデータを後者のアドレス
に格納する(手順Ps)。これを表にまとめると次のよ
うになる。
順に表示メモリの各アドレスAL(@)〜AL(+?n
に対応させ、前者のアドレスのデータを後者のアドレス
に格納する(手順Ps)。これを表にまとめると次のよ
うになる。
即ち、上記表の波形メモリアドレスに格納されているデ
ータを、その左側に記載されている表示メモリアドレス
に格納する。最後に、これら格納されたデータに基づい
て液晶表示部31に表示が行われる(手順P6)。
ータを、その左側に記載されている表示メモリアドレス
に格納する。最後に、これら格納されたデータに基づい
て液晶表示部31に表示が行われる(手順P6)。
このように、本実施例では、反射波のデータを一旦波形
メモリに収容し、測定範囲に応じて選択すべきアドレス
を演算により求め、その′7ドレスのデータを表示する
ようにしたので、測定範囲の股定は、単に測定範囲設定
部および音速入力部に測定範囲と音速の数値を入力する
だけでよく、極めて簡単に、かつ、正確に行うことがで
き、測定に囲の大きさも自由に選択することができ、又
、弐片も不要である。そして、測定範囲を液晶表示部の
両端のスケール間全体に正確に表示できることから、欠
陥等の位置を高い精度で検査することができる。
メモリに収容し、測定範囲に応じて選択すべきアドレス
を演算により求め、その′7ドレスのデータを表示する
ようにしたので、測定範囲の股定は、単に測定範囲設定
部および音速入力部に測定範囲と音速の数値を入力する
だけでよく、極めて簡単に、かつ、正確に行うことがで
き、測定に囲の大きさも自由に選択することができ、又
、弐片も不要である。そして、測定範囲を液晶表示部の
両端のスケール間全体に正確に表示できることから、欠
陥等の位置を高い精度で検査することができる。
さらに、本実施例の構成において、反射波にずれを生じ
るのはサンプリング時間に狂いを生じた場合のみである
が、このサンプリング時間を決定するタイミング回路に
は水晶発振子が用いられているので、正確なサンプリン
グ時間が得られるとともに、温度が変動してもサンプリ
ング時間に影響を受けることなく、したがって反射波に
ずれを生じることもなく、この点からも高精度で信頬性
の高い検査を行うことができる。
るのはサンプリング時間に狂いを生じた場合のみである
が、このサンプリング時間を決定するタイミング回路に
は水晶発振子が用いられているので、正確なサンプリン
グ時間が得られるとともに、温度が変動してもサンプリ
ング時間に影響を受けることなく、したがって反射波に
ずれを生じることもなく、この点からも高精度で信頬性
の高い検査を行うことができる。
なお、上記実施例の説明では、表示部として液晶表示部
を例示して説明したが、液晶表示部に限ることはなく、
通常の陰極線管、プラズマ表示部等を用いることができ
るのは明らかである。
を例示して説明したが、液晶表示部に限ることはなく、
通常の陰極線管、プラズマ表示部等を用いることができ
るのは明らかである。
以上述べたように、本発明では、受信した反射波のデー
タを波形メモリに記憶させ、測定範囲に応じて選択する
各アドレスを演算により求め、これらアドレスのデータ
を表示するようにしたので、測定範囲を極めて容易、か
つ、正確に設定することができ、又、設定後温度変化等
により波形にずれを生じることもない。
タを波形メモリに記憶させ、測定範囲に応じて選択する
各アドレスを演算により求め、これらアドレスのデータ
を表示するようにしたので、測定範囲を極めて容易、か
つ、正確に設定することができ、又、設定後温度変化等
により波形にずれを生じることもない。
第1図は本発明の実施例に係る超音波探傷器のブロック
図、第2図は反射波の一部の波形図、第3図は第1図に
示す波形メモリのブロック図、第4図は第1図に示す超
音波探傷器の動作を説明するフローチャート、第5図は
従来の超音波探傷器のブロック図、第6図は第5図に示
す掃引回路の回路図、第7図は反射波の波形図である。 1・・・・・・・・・被検査物体、1f・・・・・・・
・・欠陥、2・・・・・・・・・超音波探触子、5・・
・・・・・・・送信部、6・・・・・・・・・受信部、
21・・・・・・・・・超音波探傷器、22・・・・・
・・・・A/D変換部、23・・・・・・・・・波形メ
モリ、24・・・・・・・・・アドレスカウンタ、25
・・・・・・・・・タイミング回路、26・・・・・・
・・・CPU、27・・・・・・・・・RAM、28・
・・・・・・・・ROM、29・・・・・・・・・測定
範囲設定部、30・・・・・・・・・音速入力部、31
・・・・・・・・・液晶表示部第2図 第3図 第4図 第6図 第7図 手続補正書(自発) 昭和62年11月770
図、第2図は反射波の一部の波形図、第3図は第1図に
示す波形メモリのブロック図、第4図は第1図に示す超
音波探傷器の動作を説明するフローチャート、第5図は
従来の超音波探傷器のブロック図、第6図は第5図に示
す掃引回路の回路図、第7図は反射波の波形図である。 1・・・・・・・・・被検査物体、1f・・・・・・・
・・欠陥、2・・・・・・・・・超音波探触子、5・・
・・・・・・・送信部、6・・・・・・・・・受信部、
21・・・・・・・・・超音波探傷器、22・・・・・
・・・・A/D変換部、23・・・・・・・・・波形メ
モリ、24・・・・・・・・・アドレスカウンタ、25
・・・・・・・・・タイミング回路、26・・・・・・
・・・CPU、27・・・・・・・・・RAM、28・
・・・・・・・・ROM、29・・・・・・・・・測定
範囲設定部、30・・・・・・・・・音速入力部、31
・・・・・・・・・液晶表示部第2図 第3図 第4図 第6図 第7図 手続補正書(自発) 昭和62年11月770
Claims (1)
- 超音波探触子に対して所定のパルスを出力する送信部と
、前記超音波探触子からの信号を受信する受信部と、こ
の受信部で受信された信号に基づいて当該信号の波形を
表示する表示部とを備えた超音波探傷器において、前記
受信部で受信された入力信号を所定のサンプリング周期
で順次アドレスに記憶するメモリと、前記入力信号の波
形の分析に必要な測定範囲を設定する測定範囲設定部と
、被探傷物体内を伝播する音速を入力する音速入力部と
、設定された前記測定範囲、入力された前記音速および
前記サンプリング周期に基づいて選択すべき前記メモリ
のアドレスを演算する演算手段と、この演算手段により
選択されたアドレスのデータを前記表示部に表示する表
示制御手段とを設けたことを特徴とする超音波探傷器の
測定範囲設定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61240191A JPH0614027B2 (ja) | 1986-10-11 | 1986-10-11 | 超音波探傷器の測定範囲設定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61240191A JPH0614027B2 (ja) | 1986-10-11 | 1986-10-11 | 超音波探傷器の測定範囲設定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6395353A true JPS6395353A (ja) | 1988-04-26 |
JPH0614027B2 JPH0614027B2 (ja) | 1994-02-23 |
Family
ID=17055814
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61240191A Expired - Lifetime JPH0614027B2 (ja) | 1986-10-11 | 1986-10-11 | 超音波探傷器の測定範囲設定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0614027B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0257969A (ja) * | 1988-08-24 | 1990-02-27 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波探傷器の波形表示装置 |
JPH0257970A (ja) * | 1988-08-24 | 1990-02-27 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波探傷器の波形表示装置 |
JPH02116746A (ja) * | 1988-10-27 | 1990-05-01 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波探傷器のゲート回路 |
JPH02236159A (ja) * | 1988-08-24 | 1990-09-19 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波探傷器の波形表示装置 |
-
1986
- 1986-10-11 JP JP61240191A patent/JPH0614027B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0257969A (ja) * | 1988-08-24 | 1990-02-27 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波探傷器の波形表示装置 |
JPH0257970A (ja) * | 1988-08-24 | 1990-02-27 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波探傷器の波形表示装置 |
JPH02236159A (ja) * | 1988-08-24 | 1990-09-19 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波探傷器の波形表示装置 |
JPH02116746A (ja) * | 1988-10-27 | 1990-05-01 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波探傷器のゲート回路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0614027B2 (ja) | 1994-02-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |