JPS6393538A - Adhesion of wafer - Google Patents

Adhesion of wafer

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JPS6393538A
JPS6393538A JP61238793A JP23879386A JPS6393538A JP S6393538 A JPS6393538 A JP S6393538A JP 61238793 A JP61238793 A JP 61238793A JP 23879386 A JP23879386 A JP 23879386A JP S6393538 A JPS6393538 A JP S6393538A
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cylinder
twisting
twisting machine
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佐伯 和憲
Keiichi Ishii
敬一 石井
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Mitsubishi Metal Corp
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Abstract

PURPOSE:To remove the strain due to wax which is generated on a wafer by press-attaching a wafer onto a carrier plate and turning the wafer by a prescribed angle. CONSTITUTION:In the rotary mechanism 4 of a twisting machine, an installation plate 41 is installed in free revolution onto the upper edge of a stay 40 erected on a tilt table 2 so as to be positioned and stop at each prescribed position. The installation plate 41 is formed by cutting three parts on a disc at equal intervals, and a twisting machine 5 is installed at the cut part. The twisting machine 5 is equipped with a cylinder 51 installed onto the installation plate 41 through a bracket 50. Further, a cylinder 61 is rotatably connected between one of a plurality of holes drilled on a twisting arm 59 and a cylinder receiving tool 60 fixed onto the upper surface of a base plate 54. A pressing rotary mechanism 62 is arranged from a driving gear 58 to the lower position, penetrating through the basic plate 54.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ワックスによってウェーハをキャリアプレー
トに接着するウェーハの接着方法に関する。。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a wafer bonding method for bonding a wafer to a carrier plate using wax. .

〔従来の技術〕[Conventional technology]

一般、ウェーハの表面を鏡面仕上げする場合には、つ」
−−ハをキャリアプレートの端面にワックスによって貼
着して行なうにうにしている。例えば、つ[−ハの表面
に溶融したワックスを塗布した後、該ウェーハをキャリ
アプレー1−りに押圧して接着して、全面均一・な接着
面を得るようにしている。
Generally, when mirror finishing the surface of a wafer,
--C is done by pasting it on the end face of the carrier plate with wax. For example, after applying molten wax to the surface of the wafer, the wafer is pressed against a carrier plate and bonded to obtain a uniform bonding surface over the entire surface.

〔発明が解決しようとする問題熱〕[The passion for problems that inventions try to solve]

しかしながら、このようにして、つ1−ハを−1−ヤリ
アブレートに接着した状態のままで放置し−Cおくと、
ウェーハどキャリアプレー1〜どの間に介在するワック
スが固化収縮するが、この収縮の割合がウェーハの各部
において異なるために、つ」−八に歪が生じるという問
題がある。また、キャリアプレートとウェーハとをワッ
クスで・接ン、Jる際に、キャリアプレー1〜とウェー
ハとの間に気泡が介在し易く、この気泡のために全面均
一な接ン1面を得るのが難しいという問題がある。
However, if you leave the 1-H glued to the 1-Year plate in this way and leave it -C,
The wax interposed between the wafer carrier plates 1 and 2 solidifies and shrinks, but since the rate of this shrinkage differs in each part of the wafer, there is a problem that distortion occurs in each part. In addition, when the carrier plate and the wafer are bonded with wax, air bubbles are likely to be present between the carrier plate 1 and the wafer, and it is difficult to obtain a uniform bonding surface over the entire surface due to the air bubbles. The problem is that it is difficult.

本発明は、七記夷情に鑑みてなされたもので、その目的
とするところは、キャリアプレー1〜に接で、されたウ
ェーハに生じる歪を除くことがでさると共に、キせリア
プレートとつ1−ハどの間に気泡が生じることがなく、
か′つ全面均一な接6面を得ることができ、従って、後
工程であるつ1−ハの研摩を円滑に行なうことができる
ウェーハの接ン)方法を提供することにある。
The present invention has been made in view of the circumstances mentioned above, and its purpose is to eliminate the distortion that occurs in the wafer that is adjacent to the carrier plate 1~, and to No air bubbles are formed between 1 and 3.
It is an object of the present invention to provide a method for bonding a wafer, which can obtain a uniform contact surface over the entire surface and, therefore, can smoothly perform one-fer polishing as a subsequent process.

(問題点を解決するための手段〕 上記目的を達成するために、本発明は、ウェーハをキャ
リアプレー1〜に押圧接触さ4!た後、該つf−八を所
定角度回動させるものである。
(Means for Solving the Problems) In order to achieve the above object, the present invention is such that after the wafer is brought into pressure contact with the carrier plates 1 to 4, the corresponding plates F-8 are rotated by a predetermined angle. be.

〔作 用〕[For production]

本発明のウェーハの接着方法にあっては、つ1−ハをキ
(・リアプレートに抑圧接触した場合、つ工−ハとキャ
リアプレー1〜との間に介在したワックスが冷却し、粘
度が高くなった時点で、ウェーハを回動させて該ウェー
ハの歪を除去し、かつ気泡を外部に追い出づ。
In the wafer bonding method of the present invention, when the plate 1 is brought into pressure contact with the rear plate, the wax interposed between the plate 1 and the carrier plate 1 cools down and its viscosity decreases. Once the height is reached, the wafer is rotated to remove the strain on the wafer and expel air bubbles to the outside.

〔実施例) 以下、第1図ないし第6図に基づいて本発明の一実施例
を説明する。
[Embodiment] Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described based on FIGS. 1 to 6.

第5図と第6図はウェーハの捻り装置の一例を承りもの
で、第5図は正面図、第6図は平面図である。このウェ
ーハの捻り装置は、基台1上に、第5図において、左か
ら右へ下るように傾斜して設置された傾斜デープル2と
、この傾斜)−プル2の右端側に設置されたキャリアプ
レ−1〜胃降機構3と、上記傾斜ブープル2上に立設さ
れた捻り数回転機構4と、この捻り数回転機構/l【こ
支持された捻り機5とを主体どして構成されている。
5 and 6 show an example of a wafer twisting device, with FIG. 5 being a front view and FIG. 6 being a plan view. This wafer twisting device consists of an inclined table 2 installed on a base 1 so as to be inclined downward from left to right in FIG. 5, and a carrier installed on the right end side of the pull 2 The play-1 to stomach descent mechanism 3, the twisting number rotation mechanism 4 erected on the above-mentioned inclined boople 2, and the twisting number rotation mechanism/l [this is supported by the twisting machine 5] are mainly constituted. ing.

上記傾斜テーブル2には、その長手方向く傾斜方向)に
沿って一対の平行な搬送ローラ列20が設(プられると
共に、該両搬送[1−ラ列20の側方の適宜位置には、
案内口−ラ21が設置されている。そして、これらの搬
送ローラ列20及び案内[]−ラ21により、ウェーハ
Wを接る()たキャリアプレートCPが移送されるよう
になっている。
The tilting table 2 is provided with a pair of parallel transport roller rows 20 along its longitudinal direction (inclination direction).
A guide hole 21 is installed. The carrier plate CP that is in contact with the wafer W is transported by these transport roller rows 20 and guide rollers 21 .

また、上記傾斜テーブル2の右端部の、上記キ11リア
プレート屏降機構3の近傍には、衝撃吸収機構22及び
一対のストッパ23が;没首されている。
Further, a shock absorbing mechanism 22 and a pair of stoppers 23 are recessed at the right end of the tilting table 2 near the rear plate lowering mechanism 3 of the key 11.

」−記キャリアプレー1〜昇降機構3は、It台1に固
定されたシリンダ30と、このシリンダ30及びガイド
機構(図示せず)により1下方向に移動自在に支持され
た」−下ケーブル31と、この上下デープル31上に適
宜配置され、かつ−1工記傾斜テーブル2から出没して
キャリアプレー1〜CPを持上げる7個のクッシヨン材
32とから構成されている。
"-The carrier play 1 to the lifting mechanism 3 are supported by a cylinder 30 fixed to the It table 1, and are movable downward by this cylinder 30 and a guide mechanism (not shown)."-Lower cable 31 and seven cushion members 32 which are appropriately arranged on the upper and lower daples 31 and which extend and retract from the -1 construction tilting table 2 to lift up the carrier plays 1 to CP.

上記捻り数回転機構4は、上記傾斜ケーブル2上に立設
した支社40の」ニ端に、取付板41が回転自在に、か
つ所定角度毎に(第6図において120°rfi毎に)
位置決め停+I: 1Jるように取付りられている。そ
して、上記取イ」板41は、円板を等間隔に3箇所切欠
いて形成されたもので、これらの切欠部には、上記捻り
機5がそれぞれ取イ」けられている。
The twist number rotation mechanism 4 has a mounting plate 41 rotatably attached to the two ends of the branch 40 erected on the inclined cable 2 at predetermined angle intervals (every 120° rfi in FIG. 6).
Positioning stop +I: It is installed so that it is 1J. The cut-out plate 41 is formed by cutting out three places at equal intervals from a circular plate, and the twisting machine 5 is installed in each of these cut-out parts.

上記各捻り機5は、それぞれ、4インヂ、5インヂ、6
インヂ径のウェーハWを捻るためのもので、4インヂ径
のウェーハWは、キャリアプレートC口上に8枚ないし
7枚接名され、同様に、5インヂ、6インヂ径のウェー
ハWは、それぞれ、キャリアプレー1− CP上に6枚
ないし5枚、4枚ないし3枚接着されている。そして、
各捻り機5は、それぞれ同様の構成を右するものであり
、代表として5インヂ径のウェーハWのものについて第
1図ないし第4図を参照して説明する。
Each of the above-mentioned twisting machines 5 has a 4-inch, 5-inch, and 6-inch twisting machine, respectively.
This is for twisting wafers W with a diameter of 8 to 7 inches, and 8 to 7 wafers W with a diameter of 4 inches are attached on the opening of the carrier plate C. Similarly, wafers W with a diameter of 5 inches and 6 inches are twisted, respectively. Carrier play 1 - 6 to 5 sheets, 4 to 3 sheets glued on the CP. and,
Each of the twisting machines 5 has a similar construction, and a typical twisting machine for a wafer W having a diameter of 5 inches will be described with reference to FIGS. 1 to 4.

−1−記5インヂ径ウェーハW用の捻り機5は、上記取
付板41上にブラケッ1〜50を介して取付(プられた
シリンダ51ど、このシリンダ51のピストンロッド5
1aに連結され、かつ取付板41及びガイド軸受52を
貫通して、該ガイド軸受52によって上下に摺動自在に
支持された中心軸53と、この中心軸53の先端に取付
りられ、かつ上記取付板41に対向して接近、離反し得
るように配置された台板51!Iと、上記取イ」板41
に上端を固定し、かつ下端を、上記台板54上のガイド
軸受55に摺動自在に嵌合したスライド輔56と、上記
中心N53の中間部に軸受57を介して回転自在に装着
された駆動歯車58と、この駆動歯車58の下面に取付
けられた捻りアーム59ど、この捻りアーム5つに穿設
された複数の孔59aのうちの一つ及び上記台板54の
上面に固定されたシリンダ受具60の間に回動自在に連
結されたシリンダ61と、上記駆動歯車58から台板5
4を円通して下方に至る位置まで配設された3種類の+
I+11’l−1i−ifす1機構62.63.64と
を上体とし−C構成されている13了しで、L記押圧回
動機侶02は、1−記駆2J+歯中58に噛合されノC
従動歯申05と、この従動歯車65をスプリングピン6
Gを介して装着した支持軸67と、この支持’Tl1l
 67を1fノT1線回りに回動自在にかつ1−下に因
動自イ[に支Bj Mると共【こ、台板571に穿設し
た円弧状の2種の長孔5)4a、54bに嵌め込まねた
万イド軸受68と、上記台板54にピン69を介し−C
回動自白に連結され、かつ上記ガイド軸受08を各長孔
54a。
-1- The twisting machine 5 for the 5-inch diameter wafer W is mounted on the mounting plate 41 via the brackets 1 to 50 (the pulled cylinder 51, etc., and the piston rod 5 of this cylinder 51).
1a, passes through the mounting plate 41 and the guide bearing 52, and is supported by the guide bearing 52 so as to be slidable up and down; The base plate 51 is arranged so as to be able to approach and move away from the mounting plate 41! I and the above board 41
The upper end is fixed to the slider 56, and the lower end is slidably fitted to the guide bearing 55 on the base plate 54, and is rotatably attached to the middle part of the center N53 via a bearing 57. A drive gear 58, a torsion arm 59 attached to the lower surface of the drive gear 58, and a torsion arm 59 fixed to one of the plurality of holes 59a formed in the five torsion arms and the upper surface of the base plate 54. A cylinder 61 rotatably connected between the cylinder receivers 60 and the base plate 5 from the driving gear 58.
Three types of + placed through the circle of 4 to the bottom position.
I+11'l-1i-if 1 mechanism 62, 63, 64 is the upper body and -C is configured. At the end of 13, the L pressing rotation member 02 meshes with the 1-driver 2J+ tooth center 58. Sare no C
The driven gear 05 and the driven gear 65 are connected to the spring pin 6.
The support shaft 67 attached via G and this support 'Tl1l
67 can be freely rotated around the 1f line T1, and there are two types of long holes 5 in the shape of an arc drilled in the base plate 571. , 54b, and the base plate 54 through the pin 69 -C.
The guide bearings 08 are connected to each long hole 54a for rotation.

5)4bに沿・)て該ピン69を中心にし−c回動さ1
iる回動アーム70.71と、践各回動アーム70゜7
10中間部に回動自在に取H’、JIこピン72及び、
1上記台板54の−L面に取付けたブラクツト73の間
に回動n4に連結され、かつ上記各回動アーム70.7
1を駆動Jるシリンダ74.75と、上記売持軸67の
下端に数句【Jられたシリニ]ンゴム製で孔7 f3 
a付の吸着パッド(押紅部)76と、この吸着パッド7
6の1部に装看されたつFイ1−77どから構成されて
いる。上記スプリングビン6〔3は、従動歯車65と支
持軸67との間に過大な1ヘルクが生じた場合に、両名
の係合関係を解除するものである。まlこ、−上記各長
孔5/l)1..54bに嵌合されたガイド軸受68が
、該各1(孔54a、54bの両端に位置Jる場合にお
いて、ガイド軸受68に嵌め込まれた支持11!116
7の1一端の従動歯車65が駆動歯車558に確実に噛
合でするJ、うになっている。
5) Rotate -c around the pin 69 along 4b.
The rotation arm 70.71 and the rotation arm 70.7
10 Rotatably installed in the middle part H', JI pin 72 and
1 between the brackets 73 attached to the −L surface of the base plate 54, and connected to the rotation n4, and each of the rotation arms 70.7
The cylinders 74 and 75 that drive the shaft 1 and the cylinders 74 and 75 that drive the above-mentioned holding shaft 67 are made of rubber and have a hole 7 f3.
Suction pad (embossed part) 76 with a and this suction pad 7
It consists of F-1-77 installed in a part of 6. The spring pin 6[3 is used to release the engagement relationship between the driven gear 65 and the support shaft 67 when one excessive herk occurs between the two. -Each of the above long holes 5/l)1. .. When the guide bearing 68 fitted in the guide bearing 54b is located at both ends of the holes 54a and 54b, the support 11!116 fitted in the guide bearing 68
The driven gear 65 at one end of 7 is securely meshed with the driving gear 558.

さらに、上記押圧回動機構63は、1記支持輔67の1
−VJi;にエンドプレート78が連結され、かつこの
上ンドプレー1〜78に、上下に所定長さ遊動を許容り
る形態で、新面略逆(1字状の係11金(+!79が係
合されると共に、この係li金ロア9が、上記台板54
−トにブラケツ1−80を介して説ii’7 シたシリ
ンダ81のビス1−ン[1ツド81aの小端に)11!
結される−・方、支持軸67を支持Jるガイド軸受68
が台板54に固定された−6のであり、その他の+M成
は上記抑圧回動機構62と同様なの(・同符号を付して
説明を省略する。また、1−記押圧回動機構64も、支
持軸67を支持Jるガイド軸受68が台板!、54に固
定されたもので・あり、(の(+!!の構成は十記押F
f回動機描62と同様13 (f) ”P同筒シ−シを
4−1fノT 、Jl!明を省略づる。
Further, the pressing rotation mechanism 63 has a 1 support member 67
-VJi; is connected to the end plate 78, and the upper end plates 1 to 78 are in a form that allows vertical movement for a predetermined length. At the same time, the lower metal lower 9 is engaged with the base plate 54.
- Screw 1-1 of the cylinder 81 (on the small end of the cylinder 81a) 11!
The guide bearing 68 supporting the support shaft 67
-6 is fixed to the base plate 54, and the other +M components are the same as the above-mentioned suppression rotation mechanism 62 (the same reference numerals are given and the explanation is omitted. Also, the guide bearing 68 that supports the support shaft 67 is fixed to the base plate!, 54, and the configuration of (+!!
Same as f rotation drawing 62 13 (f) ``P same cylinder sheath is 4-1f no T, Jl!light is omitted.

上記のにうに構成されたISり装置を用い−C1本発明
の方法を実施りる場合、JなわJ5、rpクリアレー1
− CP十にワックスにより接着されたウ−[−ハWを
捻る場合には、まず、つJ−−ハWの径(4,5,6イ
ンJ)に応じ−C1キャリjノブレー1−冒降機構3の
−1一方に、捻り機回転機構4によ・)で所定の13り
機5を位置させる。ここで、捻るウェーハWの径を5イ
ンチすると、−1−述したJ、うに5インチ用の捻り機
5が上記キVリアプレーl〜昇陪機椛3の−L方に対向
配置される。イれと共に、1トすj′プレー1へCPJ
−のウェーハWの枚数(6枚、5枚)に応じて各シリン
ダ7/1.,75を作動さけ、各回動/’  lz 7
0 、71 ’に介し”t、4個のガイド軸受68を各
長孔54a、54bの両端部のうち一方の端部に位置さ
せる。すなわち、ウェーハWの枚数が6枚の場合には、
第2図において、6個の従動歯車65が駆動歯車58の
回りに笠間隔にtel置覆るように配設される。また、
つr−ハWの枚数が5枚の場合には、第2図において、
最ト部の従動歯車65を除く5枚の従動歯車65が、駆
動歯車5)8の周りに等間隔に位置するように配設され
る。この場合、上記最下部の従動歯車65を右Jる押圧
回動機構63は、第4図において、シリンダ81のビス
1〜ンロツド81aの先端の係止金具79を引き上げる
ことにより、エンドプレート78とともに支持軸67を
持ち十ばて、支持@67の1・端の吸着パッド76を、
他の抑圧回動機構62.62,62.62.64の各吸
着パッド76より高く位置させる。さらに、シリンダ6
1のビス1−ンロツドの先端を、駆動歯車58に取イζ
]けた捻りアーム59の複数の孔592〕のうりの一つ
に連結することにより、各吸着パッド76の捻り角度〈
例えば、30°へ一16°)を調°整Jる。
When carrying out the method of the present invention using the IS device configured as described above, J rope J5, rp clear array 1
- When twisting the W attached to the CP with wax, first twist the C1 carry j knobbrae 1 according to the diameter of the W (4, 5, 6 inches). A predetermined twisting machine 5 is positioned on one side of the lowering mechanism 3 by the twisting machine rotation mechanism 4. Here, assuming that the diameter of the wafer W to be twisted is 5 inches, the twisting machine 5 for 5 inches of J and sea urchins described above is disposed opposite to the -L direction of the above-mentioned rear plate I to lifter plate 3. CPJ to play 1
- Each cylinder 7/1. ,75, each rotation/' lz 7
0 and 71', four guide bearings 68 are positioned at one end of both ends of each elongated hole 54a, 54b. That is, when the number of wafers W is six,
In FIG. 2, six driven gears 65 are disposed around the drive gear 58 so as to cover each other at intervals. Also,
When the number of tsur-ha W is 5, in Fig. 2,
Five driven gears 65, excluding the most driven gear 65, are arranged at equal intervals around the drive gear 5)8. In this case, the pressing rotation mechanism 63 that rotates the lowermost driven gear 65 to the right can be moved together with the end plate 78 by pulling up the locking fitting 79 at the tip of the screw 1 to the screw 81a of the cylinder 81, as shown in FIG. Holding the support shaft 67, hold the suction pad 76 at the first end of the support @67.
It is positioned higher than each suction pad 76 of the other suppression rotation mechanisms 62.62, 62.62.64. Furthermore, cylinder 6
Attach the tip of screw 1 to the drive gear 58.
] By connecting to one of the ridges of the plurality of holes 592 of the girder twisting arm 59, the twisting angle of each suction pad 76 can be adjusted.
For example, adjust from 30° to 16°.

この状態において、第6図の左方から、所定数のつT−
ハWを所定位置にワックスによつC接り載置したキャリ
アプレートCPを、一対の搬送[」−ラ列20上に載せ
、かつ両側部の案内[−1−ラ21に案内させて、(1
11斜ラーブル2のち端51.T;移送し−Cくる。ぞ
して、衝撃吸収機構22と−・対のス1−ツバ23どに
よ1)て、キトリアプレー1−警部機構3の子方の傾斜
チー1ル2土に上記キャリアプレートCPが停止にする
と、−1トリアプレ一1〜昇降機構3のシリンダ30に
よって、上下テーブル31を上昇させ、上下デープル3
1圭のクッシ」ン材32を介してキャリアプレートCP
を持ち上げる一方、捻り機5のシリンダ51により、中
心軸53とともに台板54を下降させて、押圧回動機構
62.63.64の各吸6バツド76をキトリアプレー
トCP土の各ウェーハWに接触させる。
In this state, a predetermined number of T-
The carrier plate CP, on which the carrier plate W is placed in a predetermined position and C-jointed with wax, is placed on a pair of conveyor [''-ra rows 20, and guided by the guides [-1-ra 21] on both sides, (1
11 oblique lable 2 later end 51. T; Transfer -C. Then, when the carrier plate CP is stopped by the shock absorbing mechanism 22 and the pair of springs 23 1) on the lower sloped team 1 of the kitria play 1 and the inspector mechanism 3, the carrier plate CP is stopped. , -1 The upper and lower table 31 is raised by the cylinder 30 of the rear table 1 to the lifting mechanism 3, and the upper and lower tables 3 are raised.
1. Carrier plate CP via one piece of cushion material 32
At the same time, the cylinder 51 of the twisting machine 5 lowers the base plate 54 together with the center shaft 53, and each suction 6 butt 76 of the pressing rotation mechanism 62, 63, 64 is applied to each wafer W of the chitria plate CP soil. bring into contact.

この場合、上記各吸着パッド76は、イのト部に取付け
たつ[イ1へ77により、つ1−ハWの一上面に押し付
りられる。
In this case, each of the suction pads 76 is pressed against the upper surface of the first part W by the part 77 attached to the bottom part of the part A.

次いで、上記シリンダ61を作動さけることにり、駆動
南中58を所定角度同動させる。この結宋、該駆動歯中
58に噛合されている各従動歯車65が所要の捻り角度
回動づることによって、各従動歯車65を猛省している
支持軸67が、その−11= 下端の吸着パッド76とともに、十記捻り角度だけ回動
づる。従って、該各吸活パッド7Gによって、各ウェー
ハWが所要の角度だC)捻られる。これにより、PIノ
リj7プレー1〜CPとウー■−ハWとの間のワックス
の収縮にJ、るつ1−ハWの歪が除去されると共に、キ
トリアプレートCPどウェーハWとの間に介71シてい
る気泡が外部に追い出される。この場合、つ丁−ハWは
、シリンダ61のビス]〜ンロツドを往復移動させるこ
とににす、1回ないし複数回捻るとj先に、捻る時期は
、つ丁−ハWとキャリアプレー1〜CPとの間に介在し
たワックスが冷JJ1され、粘度が増した時点からワッ
クスが固化する直前までが望ましい。
Next, by avoiding actuation of the cylinder 61, the driving center 58 is simultaneously moved by a predetermined angle. At this time, each driven gear 65 meshed with the driving gear 58 is rotated by the required twist angle, so that the support shaft 67 that strongly supports each driven gear 65 is attracted to the -11= lower end of the driven gear 65. Together with the pad 76, it rotates by ten twisting angles. Therefore, each wafer W is twisted by the required angle by each suction pad 7G. As a result, the distortion caused by the shrinkage of the wax between the PI Nori j7 play 1~CP and the wafer W is removed, and the strain between the chitria plate CP and the wafer W is removed. Air bubbles in the air are expelled to the outside. In this case, the screws in the cylinder 61 are to be moved back and forth between the screws and the screws in the cylinder 61. It is preferable that the wax interposed between ~CP and CP is cooled and its viscosity increases until just before the wax solidifies.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明によれば、つI −ハをキ
トリアプレートに押圧接触した後に、該ウェーハを所定
角度回動させるものであるから、つ]−−ハに生じるワ
ックスによる歪を除去づることができると共に、キャリ
アプレー1〜とウェーハとの間に気泡が生じることなく
、全面均一な接る面を得ることがでさ′、従っclつ1
−ハの研摩を円滑に行なうことができるという優れた効
果を右する。
As explained above, according to the present invention, after the wafer is pressed into contact with the chitria plate, the wafer is rotated by a predetermined angle, thereby reducing the distortion caused by the wax on the wafer. In addition, it is possible to obtain a uniform contact surface over the entire surface without forming air bubbles between the carrier plate 1 and the wafer.
- It has an excellent effect of being able to perform polishing smoothly.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図ないし第6図は本発明の一実施例を承りもので、
第1図は捻り機の正面図、第2図は同平面図、第3図は
第2図の■〜■線矢祝図、第4図は第2図のIV−IV
線矢視図、第5図は全体構成を示づ正面図、第6図は同
平面図である。 W・・・・・・ウェーハ、CP・・・・・・キャリアプ
レート。
Figures 1 to 6 show an embodiment of the present invention.
Fig. 1 is a front view of the twisting machine, Fig. 2 is a plan view of the same, Fig. 3 is a cross-sectional view of Fig. 2, and Fig. 4 is a diagram showing IV-IV of Fig. 2.
5 is a front view showing the overall configuration, and FIG. 6 is a plan view thereof. W...Wafer, CP...Carrier plate.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] ワックスによってウェーハをキャリアプレートに接着す
るウェーハの接着方法において、ウェーハをキャリアプ
レートに押圧接触させた後、該ウェーハを所定角度回動
させることを特徴とするウェーハの接着方法。
A wafer bonding method for bonding a wafer to a carrier plate using wax, the method comprising: bringing the wafer into pressure contact with the carrier plate, and then rotating the wafer by a predetermined angle.
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