JPS6385334A - 分析装置用恒温装置 - Google Patents
分析装置用恒温装置Info
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- JPS6385334A JPS6385334A JP22967886A JP22967886A JPS6385334A JP S6385334 A JPS6385334 A JP S6385334A JP 22967886 A JP22967886 A JP 22967886A JP 22967886 A JP22967886 A JP 22967886A JP S6385334 A JPS6385334 A JP S6385334A
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Landscapes
- Optical Measuring Cells (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、自動化学分析装置の恒温装置、特に恒温媒体
を循環させる方式の恒温装置に関する。
を循環させる方式の恒温装置に関する。
（従来の技術）
従来、この種の恒温装置としては、恒温媒体として水を
採用したものがある。
採用したものがある。
従来の水循環式恒温装置は、第２図に示すように自動化
学分析装置の反応部ｌに対して水の循環経路１０を形成
し、この循環経路ｌＯにポンプ３と、水の温度が一定に
なる様に制御されるヒータ４とを設けて、前記反応部ｌ
へ一定温度の水を循環供給するようになっている。そし
て、反応部１には反応セルと呼ばれるガラス又はプラス
チック等から成る容器２が円環状の反応テーブル１１に
支持されて恒温水９に入れられ、恒温状態下に於る反応
セル２中の試料と試薬の化学反応の結果を、反応セル内
に光のビームを透過させその分光特性を測定することに
より試料中の各種成分を測定している。第３図はその測
定部を構成する測光系を示し、１２は光源、１３．１３
はレンズ。
学分析装置の反応部ｌに対して水の循環経路１０を形成
し、この循環経路ｌＯにポンプ３と、水の温度が一定に
なる様に制御されるヒータ４とを設けて、前記反応部ｌ
へ一定温度の水を循環供給するようになっている。そし
て、反応部１には反応セルと呼ばれるガラス又はプラス
チック等から成る容器２が円環状の反応テーブル１１に
支持されて恒温水９に入れられ、恒温状態下に於る反応
セル２中の試料と試薬の化学反応の結果を、反応セル内
に光のビームを透過させその分光特性を測定することに
より試料中の各種成分を測定している。第３図はその測
定部を構成する測光系を示し、１２は光源、１３．１３
はレンズ。
１４は分光フィルタ、１５は検出器、１６は信号処理・
表示器である。
表示器である。
（発明か解決しようとする問題点）
ところが、この様な恒温装置を長期間連続使用すると、
恒温媒体に不純物が混入することによって測定精度が劣
化するという問題がある０例えば従来の装置では、大気
中の気体（ｏｓ 、Ｃｏ。
恒温媒体に不純物が混入することによって測定精度が劣
化するという問題がある０例えば従来の装置では、大気
中の気体（ｏｓ 、Ｃｏ。
など）や塩類（Ｃａ、Ｎａなと）が恒温水９に溶けこむ
こと、あるいはゴミ・バクテリア・細菌などが恒温水９
に混入することによって恒温水中に気泡が発生したり、
反応セル外壁が汚れたりして恒温水の透過率あるいは分
光吸収特性に変化を生じ、測定精度が劣化するという問
題があった。
こと、あるいはゴミ・バクテリア・細菌などが恒温水９
に混入することによって恒温水中に気泡が発生したり、
反応セル外壁が汚れたりして恒温水の透過率あるいは分
光吸収特性に変化を生じ、測定精度が劣化するという問
題があった。
そこでこの問題を解決すべく、従来は恒温水９を定期的
（通常は毎日）に交換していたが、この場合には、恒温
水９の温度が一定になるまでに時間がかかり、測定作業
の能率が悪くなるという問題があった。また気泡の発生
を防止すべく恒温水９に各種界面活性剤を混ぜることも
行なわれて来たが、この場合には泡立ちが発生したり、
反応部や流路に錆や腐食が発生するという問題があった
。
（通常は毎日）に交換していたが、この場合には、恒温
水９の温度が一定になるまでに時間がかかり、測定作業
の能率が悪くなるという問題があった。また気泡の発生
を防止すべく恒温水９に各種界面活性剤を混ぜることも
行なわれて来たが、この場合には泡立ちが発生したり、
反応部や流路に錆や腐食が発生するという問題があった
。
本発明の目的は、以上のような従来の恒温装置に於る問
題点を解決し、恒温水の交換や界面活性剤の混入を行な
うことなく、長期間安定した高精度の測定・分析を行な
うことができるようにすることにある。
題点を解決し、恒温水の交換や界面活性剤の混入を行な
うことなく、長期間安定した高精度の測定・分析を行な
うことができるようにすることにある。
［発明の構成］
（問ｍ層を解決するための手段）
上記目的を達成するため本発明は、恒温媒体の循環経路
中に恒温媒体の不純物を除去する除去手段を設けた。
中に恒温媒体の不純物を除去する除去手段を設けた。
（作用）
本発明は上記の構成としたので、恒温媒体がその循環経
路を循環する過程に於て除去手段が、恒温媒体の不純物
を除去する。このため、恒温媒体に不純物が混在するこ
とによって生じる測光上の不具合が除去されて測定精度
が向上することとなり、又恒温媒体が水であっても従来
のように界面活性剤を混入する必要がない、そして本発
明によれば、恒温媒体の不純物を恒温媒体の循環過程に
於て除去しているので、従来のように恒温媒体を短い周
期で交換する必要がなく、従って長期間安定した高精度
の測定・分析を行なうことができる。
路を循環する過程に於て除去手段が、恒温媒体の不純物
を除去する。このため、恒温媒体に不純物が混在するこ
とによって生じる測光上の不具合が除去されて測定精度
が向上することとなり、又恒温媒体が水であっても従来
のように界面活性剤を混入する必要がない、そして本発
明によれば、恒温媒体の不純物を恒温媒体の循環過程に
於て除去しているので、従来のように恒温媒体を短い周
期で交換する必要がなく、従って長期間安定した高精度
の測定・分析を行なうことができる。
（実施例）
以下図示の実施例について説明する。
第１図は、恒温媒体として水（純水）を用いた場合の恒
温装置の実施例を示す概略図であり、先に第２図を参照
して説明した従来のものと同様な部分については同一の
符号を付しである。
温装置の実施例を示す概略図であり、先に第２図を参照
して説明した従来のものと同様な部分については同一の
符号を付しである。
第１図に於て、恒温水９はポンプ３により図示矢印方向
に循環され、その流路の一部に設けられたヒータ４によ
り一定温度に保たれている。
に循環され、その流路の一部に設けられたヒータ４によ
り一定温度に保たれている。
５はフィルターであり、ヒーター４からの水に混在して
いるゴミを除去するようになっている。
いるゴミを除去するようになっている。
６はイオン交換樹脂を収納した容器であり、フィルター
５からの水に含まれているＣａ２◆。
５からの水に含まれているＣａ２◆。
Ｎａ”などの各種イオン化物質を除去するようになって
いる。
いる。
７は殺菌灯であり、前記容器６からの水に含まれている
バクテリアや細菌を減するようになっている。
バクテリアや細菌を減するようになっている。
８は脱気装置であり、殺菌灯７からの水に溶存している
ｏｓ 、ｃｏ、などのガスを除去するようになっている
。
ｏｓ 、ｃｏ、などのガスを除去するようになっている
。
以上のような装置によれば、水がその循環経路ｌＯを循
環する過程に於て、先ずフィルタ５にてゴミが除去され
、次いで容器６内のイオン交換樹脂にて各種イオン化物
質が除去され、次いで殺菌灯７によってバクテリア等が
減ぜられ、次いで脱気装置８にてガスが除去されて清浄
な恒温水が常時反応部ｌへ循環供給させられることとな
る。このため、水にゴミ等の不純物が混在することによ
って生じる測光上の不具合が除去されて測定精度が向上
することとなり、又従来のように水に界面活性剤を混入
する必要がない、モして水袋ａにょれば、水の不純物を
循環過程に於て除去しているので、従来のように恒温媒
体を短い周期で交換する必要がなく、従って長期間安定
した高精度の測定・分析を行なうことができる。
環する過程に於て、先ずフィルタ５にてゴミが除去され
、次いで容器６内のイオン交換樹脂にて各種イオン化物
質が除去され、次いで殺菌灯７によってバクテリア等が
減ぜられ、次いで脱気装置８にてガスが除去されて清浄
な恒温水が常時反応部ｌへ循環供給させられることとな
る。このため、水にゴミ等の不純物が混在することによ
って生じる測光上の不具合が除去されて測定精度が向上
することとなり、又従来のように水に界面活性剤を混入
する必要がない、モして水袋ａにょれば、水の不純物を
循環過程に於て除去しているので、従来のように恒温媒
体を短い周期で交換する必要がなく、従って長期間安定
した高精度の測定・分析を行なうことができる。
以上本発明の一実施例について説明したが、本発明は上
記実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨の範
囲内において適宜変形実施可使であることは言うまでも
ない。
記実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨の範
囲内において適宜変形実施可使であることは言うまでも
ない。
例えば、フィルタ５．イオン交換樹脂６．殺菌灯７．鋭
気装ａｔ８は、適宜必要な物を選んで用いても良し、ま
た、その流路中の設置順序も適宜変えてもかまわない。
気装ａｔ８は、適宜必要な物を選んで用いても良し、ま
た、その流路中の設置順序も適宜変えてもかまわない。
［発明の効果］
以上詳述したように本発明によれば、長期間安定した高
精度の測定・分析を行なうことができる。
精度の測定・分析を行なうことができる。
第１図は、恒温媒体として水（純水）を用いた場合の恒
温装置の実施例を示す概略図、第２図は恒温装置の従来
例を示す概略図、第３図は、水恒温方式の一般的な分析
装置における検出系の概略図である。 １・・・反応部、２・・・反応セル、３・・・ポンプ、
４・・・ヒータ、５・・・フィルタ、６・・・イオン交
換樹脂を収納した容器、７・・・殺菌灯、８・・・脱気
’Ｊ置、９・・・恒温水、ｌＯ・・・循環経路。 代理人 弁理士 則 近 憲 協同
大 胡 典 夫第１図 第２図 第３図
温装置の実施例を示す概略図、第２図は恒温装置の従来
例を示す概略図、第３図は、水恒温方式の一般的な分析
装置における検出系の概略図である。 １・・・反応部、２・・・反応セル、３・・・ポンプ、
４・・・ヒータ、５・・・フィルタ、６・・・イオン交
換樹脂を収納した容器、７・・・殺菌灯、８・・・脱気
’Ｊ置、９・・・恒温水、ｌＯ・・・循環経路。 代理人 弁理士 則 近 憲 協同
大 胡 典 夫第１図 第２図 第３図
Claims (4)
- （１）反応部に対して恒温媒体の循環経路を形成し、反
応部に入れられた反応セル内の反応温度を一定に保つ為
に恒温媒体を恒温して循環させる分析装置の恒温装置に
於て、前記循環経路中に恒温媒体の不純物を除去する除
去手段を設けたことを特徴とする分析装置用恒温装置。 - （２）恒温媒体が水である場合に、前記除去手段をフィ
ルタ、イオン交換樹脂、殺菌灯、脱気装置の何れか一つ
で構成した特許請求の範囲第１項記載の分析装置用恒温
装置。 - （３）恒温媒体が水である場合に、前記除去手段をフィ
ルタ、イオン交換樹脂、殺菌灯、脱気装置からの任意の
組合せで構成した特許請求の範囲第１項記載の分析装置
用恒温装置。 - （４）前記除去手段は、恒温媒体の流れ方向に対してフ
ィルタを最初に配置した特許請求の範囲第３項記載の分
析装置用恒温装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22967886A JPS6385334A (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | 分析装置用恒温装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22967886A JPS6385334A (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | 分析装置用恒温装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6385334A true JPS6385334A (ja) | 1988-04-15 |
Family
ID=16895973
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22967886A Pending JPS6385334A (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | 分析装置用恒温装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6385334A (ja) |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1544601A2 (en) * | 2003-12-19 | 2005-06-22 | Hitachi High-Technologies Corporation | Air bubbles removing system in an automatic analyzer |
| JP2009168652A (ja) * | 2008-01-17 | 2009-07-30 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| JP2009204445A (ja) * | 2008-02-28 | 2009-09-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| JP2011047838A (ja) * | 2009-08-28 | 2011-03-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| JP2012103183A (ja) * | 2010-11-12 | 2012-05-31 | Hitachi High-Technologies Corp | 分析装置 |
| JP2014016208A (ja) * | 2012-07-06 | 2014-01-30 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| JP2015215248A (ja) * | 2014-05-12 | 2015-12-03 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| JPWO2022004064A1 (ja) * | 2020-07-03 | 2022-01-06 | ||
| WO2023219126A1 (ja) * | 2022-05-13 | 2023-11-16 | Dic株式会社 | 化学分析装置 |
| WO2023219125A1 (ja) * | 2022-05-13 | 2023-11-16 | Dic株式会社 | 化学分析装置 |
| WO2023219123A1 (ja) * | 2022-05-13 | 2023-11-16 | Dic株式会社 | 化学分析装置 |
| WO2023219124A1 (ja) * | 2022-05-13 | 2023-11-16 | Dic株式会社 | 化学分析装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6228668A (ja) * | 1985-07-30 | 1987-02-06 | Toshiba Corp | 自動化学分析装置 |
-
1986
- 1986-09-30 JP JP22967886A patent/JPS6385334A/ja active Pending
Patent Citations (1)
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| JPWO2022004064A1 (ja) * | 2020-07-03 | 2022-01-06 | ||
| WO2022004064A1 (ja) * | 2020-07-03 | 2022-01-06 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置 |
| WO2023219126A1 (ja) * | 2022-05-13 | 2023-11-16 | Dic株式会社 | 化学分析装置 |
| WO2023219125A1 (ja) * | 2022-05-13 | 2023-11-16 | Dic株式会社 | 化学分析装置 |
| WO2023219123A1 (ja) * | 2022-05-13 | 2023-11-16 | Dic株式会社 | 化学分析装置 |
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| JP2023168025A (ja) * | 2022-05-13 | 2023-11-24 | Dic株式会社 | 化学分析装置 |
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