JPS6371931A - 光情報記録再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は光ディスクに情報を記録再生する光情報記録再
生装置に係り、特に光ディスクの？゛９れを検出出来る
ようにした光情報記録再生装置に関するものである。

従来の技術 光ディスクに情報を記録する光情報記録再生装置は、レ
ーザ光の高収束性とトラックの狭ピッチとによって磁気
ディスクの１０倍以上の高記録密度が得られる。

特に、追記型光ディスクや磁気光学光ディスクは再生専
用のビデオディスクやコンパクトディスクと異なって情
報の記録再生、さらには書き換えが可能な点で注目され
る。　第６図は従来の光情報記録再生装置の構成図を示
すものであり、１は情報を記録する光ディスクである。

２はモータで光ディスク１を回転させる。３は光ヘッド
で、光ディスク１にレーザ光を収束して信号を記録し、
記録された情報を収束レーザ光の反射光の変化として読
み出す。４は光ヘッド３のレーザドライブ部とフォーカ
ス誤差信号１００、トラッキング誤差信号１０１と再生
信号１０２を検出するヘッドアンプ部からなるレーザド
ライブ・ヘッドアンプ回路である。５は光ヘッド３のア
クチュエータを駆動して収束レーザ光を光ディスク１の
案内トラックにフォーカスさせるフォーカス制御回路で
ある。

６は光ヘッド３のアクチュエータを駆動して収束レーザ
光を光ディスク１の案内トラックに追従させるトラッキ
ング制御回路である。７は入力データ１０３をディジタ
ル変調し、再生信号１０２を復調し、出力データ１０５
を出力するデータ変調・復調回路である。８は装置のシ
ステム制御を行なう制御用ＣＰＩＪである。

以上のように構成された従来の光情報記録再生装置にお
いては、定速で回転する光ディスク１の案内トラックに
光ヘッド３から出射されるレーザ′二′）光を集光し、
トラックを追従さす。　光ヘッド３！′− 一′で検出されたフォーカス誤差信号１００とトラッキ
ング誤差信号１０１はそれぞれフォーカス制御回路５、
トラッキング制御回路６に人力され光ヘッド３のアクチ
ュエータｔ−駆動することによってフォーカス制御とト
ラッキング制御をかけて案内トラックにフォーカスした
レーザ光を照射する。

データの記録は、人力データ１０３をデータ変調復調回
路７で変調し、記録可能な強度のレーザ光を変調データ
１０４で変調して光ディスク１に照射しておこなう。

データの再生は、記録されないレベルの微弱なレーザ光
を光ディスク１に照射し、収束レーザ光の反射光量を受
光した再生信号１０２をデータ変調復調回路７で復調し
、出力データ１０５を出力する。

通常、再生パワーは１ｍＷぐらい、記録パワーは５−１
０　ｍ〜■である。

発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような構成では、光ディスク１が１
８００　ｒ　ｐｍぐらいで高速回転している′二：蓬の
長時間連続使用したとき、電気的に絶縁物で：： ある樹脂やガラスを基材とする光ディスク１は帯電して
、その表面に空気中の塵埃を吸着する。吸着された塵埃
はレーザ光を吸収したり、散乱して数１０％もの減衰を
生じる。　このため案内トラックに蒸着された光感応性
部材の記録層で記録レーザパワーは、例えば５　１０ｍ
Ｗ必要なものが３−６ｍＷと大幅に不足してしまい、信
号記録が長釘に行なえない。

このことは、再生信号の振幅の減少とそれにｆＦうビッ
トエラー率の悪化、さらには記録ビットが飽和点まで記
録されていないため環境変化で記録ビットが劣化して寿
命が短かくなるといった問題点を有していた。

問題点を解決するための手段 本発明はレーザ光源からのレーザビームを光ディスクに
集光する光学手段と、前記集光されたレーザビームを光
ディスクの案内トラックに集光するサーボ手段と、情報
を変調して記録する記録手段と、前記集光されたレーザ
ビームの反射光を受光出力から所定周波数のテスト信号
を検出するテスト信号検出手段とを備えた光情報記録再
生装置である。

作用 本発明は前記した構成により、特定のトラックに少なく
とも２つの周波数のテスト信号を記録した光ディスクか
ら前記テスト信号検出手段によって複数のの周波数成分
の振幅差を検出し、該振幅差によって光ディスクの表面
の汚れを検出して基準値以上の振幅差の場合、光ディス
クへの信号記録を防止する。

実施例 第１図は本発明の実施例における光情報記録再生装置の
構成図を示すものである。第１図において、１から８お
よび１００から１０５は第６図の同一の番号と同じもの
である。９は光ディスクの所定のトラックに記録された
テスト信号の周波数による再生振幅の振幅値の差を検出
するテスト信二１検出回路である。

１′＋１ 再生装置について、以下その動作を説明する。

光ディスク１がモータ２に装着されると、制御用ｃｐｕ
ｓはフォーカス制御回路５に指令を出力して光ヘッド３
のレーザビームを光ディスク１の案内トラックの記録層
に集光せしめる。次に、トラッキング制御回路６を起動
し、光ヘッド３のアドレスを読みとり、リニアモータ（
図示していない）を移送してテスト信号の記録されたテ
ストトラックを検索する。テストトラックのテスト信号
再生信号１０６はテスト信号検出回路９に入力される。

テスト信号再生信号１０６はテスト信号検出回路９で２
つの周波数の信号に分解されその振幅の差が基準電圧と
比較される。テスト信号は、光ディスク１の基材表面の
汚れや装置のバラツキによる振幅の変動を受けないよう
にするため少なくとも２つの周波数の信号が用いる。

もし、光ディスク１の基材表面が汚れていれば、基材表
面に照射された光ヘッド３のレーザビームは汚れで拡散
されて集光レーザビームのビーム径ト 、−が集光レンズの回折限界より太くなる。このためＪ
う、′ テスト信号の再生振幅が周波数特性を持つため前記２周
波数の振幅差が基準値以上となって、７りれ検出信号１
０７が出力される。汚れ検出信号１０７は制御用ＣＰＬ
Ｉ８で読み泡られ、汚れが検出されるとこの光ディスク
への変調データ１０４の記録を禁止し、このことをエラ
ー信号１０８としてホスト側に通知する。

汚れ検出信号１０７がディセーブル状態ならば、制御用
ＣＰＬＩ８は以降のデータ記録を実行する。

これ等のデータ記録、データ再生は第６図で詳述したの
とおなしであるので省略する。

第２図（ａ）と（ｂ）はそれぞれ光ディスク１の基材の
汚れの有無による再生信号１０６の周波数特性である。

光ディスク１の基材表面の汚れは、タバコのヤニ、指紋
などの油膜試の汚れと綿ホコリ、チリなどのブミ状の汚
れの混合したものである。これらの汚れは、レーザビー
ムの空間的コヒーレンシイ、″１．輿乱してレーザビー
ムの集光性を悪くする。この第２図（ａ）のように高い
周波数はど大きく劣化する。

第３図（ａ）と（ｂ）はテスト信号の実施例の波形図で
、（ａ）はセクタ単位で周波数ｒ１とｆ２の信号を記録
したテスト信号の波形で、（ｂ）はセクタ内に周波数「
１と２とのバースト状信号を同じ周期Ｔで繰り返し記録
したテスト信号の波形図である。テスト信号は、凹凸の
ビットで予め記録されるか、光情報記録再生装置で記録
される。

第３図（ａ）では、セクタのエンベロープ信号をそれぞ
れ検出して、その振幅値を測定し、差をとって基準値と
比較することで基材の汚れを知る。

第４図は、テスト信号検出回路９のブロック図であって
、第３図（ｂ）に示すラス５１３号に適用される。

第５図は、第４図のテスト信号検出回路９の各部の信号
波形図で、（ａ）はフィルタ出力１０９、（ｂ）は検波
出力１１０である。

テストトラックのテスト信号再生信号１０６からバンド
パスフィルタＢＰＦＩＯで２つの周波数成分が抽出され
る。ＢＰＦＩＯのフィルタ出力１０９はエンベロープ検
波回路１１でそのエンベロープが検波される。エンベロ
ープ検波回路１１の検波出力１１０は周波数ｆ１と「２
の繰り返し時間２Ｔの逆数を周期とする正弦液収の信号
となり、ピーク値検出回路１２でＰ−Ｐ値１１１が検出
され、比較回路１３で基準値１１２と比較される。

Ｐ−Ｐ値１１１が基準値１１２より大きいとき、汚れ検
出信号１０７が出力される。

周波数ｆ１とｒ２の信号は、共に同じ光ヘッドで差動再
生されるため、装置のバラツキ、光ディスクの基材表面
の汚れの影響を受けない。

テスト信号の周波数の「１を汚れの影響を余り受けない
データ変調記録信号の最低周波数に、ｆ２を汚れに敏感
なデータ変調記録信号の最高周波数に選ぶことによって
、データの信号再生系を共用でき、しかも感度よく光デ
ィスクの基材の汚れを検出できる。

以上のように本実施例によれば、複数の周波数のテスト
信号を再生し、周波数間の振幅差を検出することによっ
て、ポリカーボネートやＰＭ〜ＩＡなどの樹脂あるいは
ガラスなどの電気的に絶縁体である、いわゆる誘電体の
基材からなる光ディスクに、回転によって空気と基材の
表面の摩擦で帯電した電荷が空気中に浮遊する塵埃を吸
着した汚れを検出し、記録レーザパワー不足によるトラ
ブルを防止することができる。

発明の詳細 な説明したように、本発明によれば、光ディスクの基材
の表面に付いた塵埃などによる汚れを検出することがで
き、その実用的効果は大きい。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の光Ｍ報記録再生装置の構成
図、第２図は同実施例の光デイスク基材表面の汚れによ
る再生信号の周波数特性図、第３図はテスト信号の信号
波形図、第４図はテスト信号検出回路のブロック図、第
５図は第４図の各部の信号波形図、第６図は従来の光情
報記録再生装置の構成図である。 １・・・光ディスク、２・・モータ、３・・・光ヘッド
、４・・・レーザドライブ・ヘッドアンプ回路、５・・
・フォーカス制御回路、６・・・トラッキング制御回路
、７・・・データ変調・復調回路、　８・・・制御用Ｃ
ＰＬＩ、９・・・テスト信号検出回路、１０・・・ＢＰ
Ｆ、１１・・・エンベロープ検出回路、１２・・・ピー
ク値検出回路、１３・・・比較回路、１０６・・・テス
ト信号再生信号。 代理人の氏名　弁理士　中尾敏男はか１名第２図 第　３　図 ＩＤ　　　　　　　ｆ　ｌ　　　　　　　　ＩＤ　　　
　　　ｆ２　　　　　　　　ＩＤＩＤ　　　ｆｌ　　ｆ
２　　ｆｌ　　ｆ２　　ｆｌ　　ｆ２　　ＩＤ　　ｆｌ
　　ｆ２　　ｆｌ　　ｆ２　　ｆｌ　　ｆ２　　ＩＱ第
４図 第５図 −ＰｇＬ 第６図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）案内トラックを形成した光ディスクに情報を記録
   再生する光情報記録再生装置において、レーザ光源から
   のレーザビームを前記光ディスクに集光する光学手段と
   、前記集光されたレーザビームを前記案内トラックに集
   光するサーボ手段と、情報を変調して記録する記録手段
   と、前記集光されたレーザビームの反射光を受光して信
   号を再生する再生手段と、前記再生手段の出力から所定
   周波数の信号を検出するテスト信号検出手段とを有し、
   特定のトラックに少なくとも２つの周波数のテスト信号
   を記録した光ディスクから前記テスト信号検出手段によ
   つて複数の周波数成分の振幅差を検出し、該振幅差によ
   つて光デスクの表面の汚れを検出することを特徴とする
   光情報記録再生装置。
2. （２）２つの周波数は、記録手段の記録信号の最高周波
   数と最低周波数とであることを特徴とする特許請求の範
   囲第１項記載の光情報記録再生装置。