JPS6369221A - エピタキシヤル成長装置 - Google Patents
エピタキシヤル成長装置Info
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- JPS6369221A JPS6369221A JP21475086A JP21475086A JPS6369221A JP S6369221 A JPS6369221 A JP S6369221A JP 21475086 A JP21475086 A JP 21475086A JP 21475086 A JP21475086 A JP 21475086A JP S6369221 A JPS6369221 A JP S6369221A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
強力な磁場を形成し得るマグネット・コイル内のプラズ
マ生成室内で、マイクロ波によって発生させた発散磁界
型のE CR(Electron Cyclotron
Resonance)プラズマによって、基板を処理す
るエピタキシャル成長装置。
マ生成室内で、マイクロ波によって発生させた発散磁界
型のE CR(Electron Cyclotron
Resonance)プラズマによって、基板を処理す
るエピタキシャル成長装置。
本発明は半導体装置の製造工程に使用するエピタキシャ
ル成長装置に関するもの七ある。
ル成長装置に関するもの七ある。
半導体装置の製造工程においてエピタキシャル成長は広
(行われているが、特に低温で且つ基板とエピタキシャ
ル成長層との接合幅が狭いエピタキシャル成長層を高速
成長させるエピタキシャル成長装置が要望されている。
(行われているが、特に低温で且つ基板とエピタキシャ
ル成長層との接合幅が狭いエピタキシャル成長層を高速
成長させるエピタキシャル成長装置が要望されている。
従来のエピタキシャル成長方法は、900℃以上で処理
を行うものでは、減圧系及び常圧系のCVD法があり、
成長速度(4,000〜5,000人/分)は要求を満
足するものであるがエピタキシャル成長層と基板との接
合面の接合幅が広く、現在市販されている装置では7,
000人に達する。
を行うものでは、減圧系及び常圧系のCVD法があり、
成長速度(4,000〜5,000人/分)は要求を満
足するものであるがエピタキシャル成長層と基板との接
合面の接合幅が広く、現在市販されている装置では7,
000人に達する。
従来使用されている代表的なエピタキシャル成長装置は
、第5図に示すような炭化珪素をコーティングしたグラ
ファイトサセプタ71にウェーハ5を搭載して、排気ロ
ア5から排気して真空にした石英ベルジャ72の中に入
れたものである。
、第5図に示すような炭化珪素をコーティングしたグラ
ファイトサセプタ71にウェーハ5を搭載して、排気ロ
ア5から排気して真空にした石英ベルジャ72の中に入
れたものである。
この石英ベルジャ72の周囲に設けた赤外線ランプ73
の輻射熱によりウェーハ5を1,150℃に加熱しなが
ら、反応ガス導入ロア4より反応ガスを導入し、ウェー
ハ5上にエピタキシャル成長層を成長させるものである
。
の輻射熱によりウェーハ5を1,150℃に加熱しなが
ら、反応ガス導入ロア4より反応ガスを導入し、ウェー
ハ5上にエピタキシャル成長層を成長させるものである
。
900℃以下で処理を行うものでは、光CVDを用いた
方法があり、低圧水銀ランプやハロゲンランプを用いて
5iJa(ジシラン)の光反応によりシリコン基板上に
エピタキシャル成長層を成長させるが、900℃以上で
処理を行う減圧系或いは常圧系のCVD法に比べると、
成長速度が遅く、マイクロクリスタル(微結晶)の成長
のみが可能で適用面積が小さいために実用になり難い。
方法があり、低圧水銀ランプやハロゲンランプを用いて
5iJa(ジシラン)の光反応によりシリコン基板上に
エピタキシャル成長層を成長させるが、900℃以上で
処理を行う減圧系或いは常圧系のCVD法に比べると、
成長速度が遅く、マイクロクリスタル(微結晶)の成長
のみが可能で適用面積が小さいために実用になり難い。
以上説明の従来のエピタキシャル成長方法で問題となる
のは、処理温度が高いにも拘わらず、成長速度が遅く、
基板中の高濃度の不純物元素がエピタキシャル成長層の
品質に影響を与えるオートドーピング現象が起きて、基
板とエピタキシャル成長層との接合幅が広< (7,0
00人)なり、デバイスの応答速度が遅くなることであ
る。
のは、処理温度が高いにも拘わらず、成長速度が遅く、
基板中の高濃度の不純物元素がエピタキシャル成長層の
品質に影響を与えるオートドーピング現象が起きて、基
板とエピタキシャル成長層との接合幅が広< (7,0
00人)なり、デバイスの応答速度が遅くなることであ
る。
本発明は以上のような状況から低温で、接合幅の狭いエ
ピタキシャル成長を、高速で行うことができるエピタキ
シャル成長装置の提供を目的としたものである。
ピタキシャル成長を、高速で行うことができるエピタキ
シャル成長装置の提供を目的としたものである。
上記問題点は、モリブデン製の輻射加熱方式のヒータを
設えたウェーハステージと、基板を載置したウェーハス
テージを設置して真空に排気された反応室と、反応室と
プラズマシャッタで仕切られて反応室に対して着脱可能
なプラズマ生成室と、プラズマ生成室にマイクロ波を導
入するマイクロ波発生手段と、プラズマ生成室に磁場を
印加する、プラズマ生成室に対して着脱及び移動可能な
磁場発生手段とからなり、プラズマ生成室内に発生させ
た発散磁界型のECRプラズマを用いて反応室内の基板
を処理するエピタキシャル成長装置により解決される。
設えたウェーハステージと、基板を載置したウェーハス
テージを設置して真空に排気された反応室と、反応室と
プラズマシャッタで仕切られて反応室に対して着脱可能
なプラズマ生成室と、プラズマ生成室にマイクロ波を導
入するマイクロ波発生手段と、プラズマ生成室に磁場を
印加する、プラズマ生成室に対して着脱及び移動可能な
磁場発生手段とからなり、プラズマ生成室内に発生させ
た発散磁界型のECRプラズマを用いて反応室内の基板
を処理するエピタキシャル成長装置により解決される。
即ち本発明においては、反応室内においてウェーハにエ
ピタキシャル層を成長させるに当たり、エピタキシャル
成長前のダメージの少ないエツチングを短時間で施し、
引き続き低温で接合幅の狭いエピタキシャル成長を高速
で行なうことが可能である。
ピタキシャル層を成長させるに当たり、エピタキシャル
成長前のダメージの少ないエツチングを短時間で施し、
引き続き低温で接合幅の狭いエピタキシャル成長を高速
で行なうことが可能である。
以下第1図〜第4図について本発明の一実施例を説明す
る。
る。
第1図において、強力なマグネット・コイル8の磁場内
に設けられた、直径200鶴で長さ197flのプラズ
マ生成室4は、反応室1とは着脱可能な構造となってお
り、最大6インチ径までのウェーハ寸法に応じてプラズ
マ生成室4は交換可能であり、反磁性体例えばモリブデ
ンからなるマイクロ波を遮断するプラズマシャッタ7で
仕切られている。マグネット・コイル8はプラズマ生成
室4に対して着脱および移動が可能で、発散磁界型のE
CRプラズマの発生状態を自由に変えることができる。
に設けられた、直径200鶴で長さ197flのプラズ
マ生成室4は、反応室1とは着脱可能な構造となってお
り、最大6インチ径までのウェーハ寸法に応じてプラズ
マ生成室4は交換可能であり、反磁性体例えばモリブデ
ンからなるマイクロ波を遮断するプラズマシャッタ7で
仕切られている。マグネット・コイル8はプラズマ生成
室4に対して着脱および移動が可能で、発散磁界型のE
CRプラズマの発生状態を自由に変えることができる。
プラズマ生成室4は第2図に示すような構造であり、マ
イクロ波導入側にはアルミニウムよりなる室壁と一体構
造の水冷部41が設けられている。
イクロ波導入側にはアルミニウムよりなる室壁と一体構
造の水冷部41が設けられている。
窒化硼素(BN)よりなる輪状の伝熱シート42が水冷
部41に密着しており、その外側には透光性アルミナ板
(AJzOz)44、伝熱シート42、アルミニウムよ
りなる電流を逃がす損失防止板43、伝熱シート42、
透光性アルミナ板44の順に取りつけ、アルミニウム製
の押さえリング45で固定している。
部41に密着しており、その外側には透光性アルミナ板
(AJzOz)44、伝熱シート42、アルミニウムよ
りなる電流を逃がす損失防止板43、伝熱シート42、
透光性アルミナ板44の順に取りつけ、アルミニウム製
の押さえリング45で固定している。
押さえリング45の外側にはJIS規格の変換アダプタ
46が設けられてマイクロ波導波管10と接続している
。
46が設けられてマイクロ波導波管10と接続している
。
ガス導入管47は下部の三個所に設けられており、ここ
からはウェーハ5表面のクリーニング及び自然酸化膜(
20〜50人)エツチング用として、水素(1(50,
0χ)十塩素((Jg)(50,0χ)の混合ガスが導
入される。
からはウェーハ5表面のクリーニング及び自然酸化膜(
20〜50人)エツチング用として、水素(1(50,
0χ)十塩素((Jg)(50,0χ)の混合ガスが導
入される。
反応室1内の空気はターボ分子複合ポンプ12と二段の
メカニカル・ブースタ・ポンプ13をシリーズに接続し
た排気系統により排出される。
メカニカル・ブースタ・ポンプ13をシリーズに接続し
た排気系統により排出される。
予備室3はウェーハ5を反応室lに持ち込む前に保管す
る室で、ロータリー・ポンプ14で排気されている。
る室で、ロータリー・ポンプ14で排気されている。
ウェーハ5は第3図に示すようなウェーハステージ6に
内蔵するモリブデンヒーターにより加熱される。
内蔵するモリブデンヒーターにより加熱される。
このモリブデンヒーターは特殊な構造を有しており、モ
リブデン類のヒーターボックス61の内面は金蒸着され
て金反射膜62となり、その表面は透明な石英カバー6
3で覆われている。このためヒーターボックス61の方
向に放射される輻射線は反射されてウェーハ5の加熱に
有効に利用できる。
リブデン類のヒーターボックス61の内面は金蒸着され
て金反射膜62となり、その表面は透明な石英カバー6
3で覆われている。このためヒーターボックス61の方
向に放射される輻射線は反射されてウェーハ5の加熱に
有効に利用できる。
モリブデンヒーターの熱源となるヒーター64は第5図
に示すような構造で、モリブデン線64aをコイル状に
成形して外径9.3鶴の石英チューブ64bの中にいれ
、不活性ガス(99χAr)とタンタルゲッタ(吸着材
)を封入し、石英チューブ64bの両端を溶融してモリ
ブデン線64aを箔状にして封入し、封止部64cを形
成する。端子部64dはモリブデン線64aをループ状
に折り返して形成し、モリブデン線64a°の先端部は
上記の封止部64cの石英の中に封入しておく。
に示すような構造で、モリブデン線64aをコイル状に
成形して外径9.3鶴の石英チューブ64bの中にいれ
、不活性ガス(99χAr)とタンタルゲッタ(吸着材
)を封入し、石英チューブ64bの両端を溶融してモリ
ブデン線64aを箔状にして封入し、封止部64cを形
成する。端子部64dはモリブデン線64aをループ状
に折り返して形成し、モリブデン線64a°の先端部は
上記の封止部64cの石英の中に封入しておく。
ヒータ一部はヒーター64を一段に12本並べたものを
二段に積んだ構造になっており、上下のヒーター64は
直交するように配設されている。
二段に積んだ構造になっており、上下のヒーター64は
直交するように配設されている。
ヒータ一部の上にはモリブデン類のヒーターカバー65
が設けられ、中央部にはウェーハ5の直径よりやや大き
な孔があけられており、ヒーターカバー65にアルミナ
製のウェーハ支え65aが設けてありウェーハ5を支持
するようになっている。
が設けられ、中央部にはウェーハ5の直径よりやや大き
な孔があけられており、ヒーターカバー65にアルミナ
製のウェーハ支え65aが設けてありウェーハ5を支持
するようになっている。
以上のモリブデンヒーターは使用時には図示の状態では
なく、ウェーハ5が垂直になるように反応室1内に設置
され、ウェーハ5のエピタキシャル成長すべき面はプラ
ズマシャッタ7と対向しており、ウェーハ5の落下防止
のために装置全体を5°傾けて設置しである。
なく、ウェーハ5が垂直になるように反応室1内に設置
され、ウェーハ5のエピタキシャル成長すべき面はプラ
ズマシャッタ7と対向しており、ウェーハ5の落下防止
のために装置全体を5°傾けて設置しである。
マイクロ波発振器9で発生させたマイクロ波はマイクロ
波導波管10内を伝わって、マイクロ波導入部11に達
し、プラズマ生成室4にマイクロ波が導入される。
波導波管10内を伝わって、マイクロ波導入部11に達
し、プラズマ生成室4にマイクロ波が導入される。
代表的な実施例としては、
先ず、ウェーハ5表面のクリーニング及び自然酸化膜(
20人〜50人)のエツチング用として、水素(Ih)
(50,0χ)十塩素CC1t) (50,0χ)の混
合ガスがプラズマ生成室4の下部のガス導入管47から
10分間導入され、ECRプラズマにより400〜70
0℃でダメージの少ないエツチングが行われる。
20人〜50人)のエツチング用として、水素(Ih)
(50,0χ)十塩素CC1t) (50,0χ)の混
合ガスがプラズマ生成室4の下部のガス導入管47から
10分間導入され、ECRプラズマにより400〜70
0℃でダメージの少ないエツチングが行われる。
その後700℃に加熱した状態のまま下記条件のもとで
反応室1の側壁に設けられたガス導入口2から下記の反
応ガスを導入して処理を行う。
反応室1の側壁に設けられたガス導入口2から下記の反
応ガスを導入して処理を行う。
チャンバ内室圧・−−−−−−−−−−−−−−−−−
−10−3〜10− ’ T o r r反応ガス−・
・・・・・−・−・−ジシラン(SiJa)十水素(H
8)マイクロ波の波長・−−−−−−−−−−−−==
−−−−−−−−−−・・・・2.45G)lzマイク
ロ波発振器の出力−・−・・−・−・−・・・−・−・
−・−・−・・・500Wプラズマ生成室の磁束密度・
・−・−・−・−一−−−−・・・875ガウス成長速
度・−・・・・・・−・−・−・−−m−−・・・−−
−−−−1,000〜1.500人/分エピタキシャル
成長層と基板との接合幅−・−・−・−・・・・−・1
、000Å以下以上の処理により形成されたエピタキ
シャル成長層の高速反射電子線回折像を観察すると、単
結晶の場合のストリーク状のスポットが見られ、つ工−
ハ5とエピタキシャル成長層の間には差異が殆ど認めら
れない。
−10−3〜10− ’ T o r r反応ガス−・
・・・・・−・−・−ジシラン(SiJa)十水素(H
8)マイクロ波の波長・−−−−−−−−−−−−==
−−−−−−−−−−・・・・2.45G)lzマイク
ロ波発振器の出力−・−・・−・−・−・・・−・−・
−・−・−・・・500Wプラズマ生成室の磁束密度・
・−・−・−・−一−−−−・・・875ガウス成長速
度・−・・・・・・−・−・−・−−m−−・・・−−
−−−−1,000〜1.500人/分エピタキシャル
成長層と基板との接合幅−・−・−・−・・・・−・1
、000Å以下以上の処理により形成されたエピタキ
シャル成長層の高速反射電子線回折像を観察すると、単
結晶の場合のストリーク状のスポットが見られ、つ工−
ハ5とエピタキシャル成長層の間には差異が殆ど認めら
れない。
又、評価をラマン・スペクトルにより行うと、ウェーハ
5もエピタキシャル成長層も共にラマン・シフト520
カイザー(cm −’ )にピークが観測され、ラマン
・インテンシテイの半値幅を比較するとウェーハ5の3
crm −’に対してエピタキシャル成長層は3cm
−’となっており、現状の実用には対しては充分使用可
能である。
5もエピタキシャル成長層も共にラマン・シフト520
カイザー(cm −’ )にピークが観測され、ラマン
・インテンシテイの半値幅を比較するとウェーハ5の3
crm −’に対してエピタキシャル成長層は3cm
−’となっており、現状の実用には対しては充分使用可
能である。
以上説明したように本発明によれば、エピタキシャル成
長に際して、700℃の低温で、基板とエピタキシャル
成長層との接合幅が従来の上置の−と狭い、ダメージの
少ない、高速度のエピタキシャル成長が可能となるので
工業的に極めて有用である。
長に際して、700℃の低温で、基板とエピタキシャル
成長層との接合幅が従来の上置の−と狭い、ダメージの
少ない、高速度のエピタキシャル成長が可能となるので
工業的に極めて有用である。
第1図は本発明よる一実施例の側断面図、第2図は本発
明による一実施例のプラズマ生成室の側断面図、 第3図は本発明によるヒーターを内蔵するつ工−ハステ
ージの側断面図、 第4図はモリブデンヒーターの構造を示す側断面図、 第5図は従来技術のエピタキシャル成長装置の側面図で
ある。 図において、 1は反応室、 2は反応ガス導入口、 3は予備室、 4はプラズマ生成室、 5はウェーハ、 6はウェーハステージ、 7はプラズマシャッタ、 8はマグネット・コイル、 9はマイクロ波発振器、 10はマイクロ波導波管、 11は°マイクロ波導入部、 12はターボ分子複合ポンプ、 13はメカニカル・ブースタ・ポンプ、14はロータリ
ー・ポンプ、 41は水冷部、 42は伝熱シート、 43は損失防止板、 44は透光性アルミナ板、 45は押さえリング、 46は変換アダプタ、 47はガス導入管、 48aは冷却水導入管、 48bは冷却水排出管、 49aは冷却用窒素導入管、 49bは冷却用窒素排出管、 61はヒーターボックス、 62は金反射膜、 63は石英カバー、 64はヒーター、 64aはモリブデン線、 64bは石英チューブ、 64cは封止部、 64dは端子部、 65はヒーターカバー、 65aはウェーハ支え、 を示す。 第1図 第2図 本発明による一実施例のヒーターを内蔵するウェーハス
テージの側断面図13図 本発明による一実施例のモリブデンヒーターの構造を示
す側断面図従来のエピタキシャル成長装置の便面図第5
図
明による一実施例のプラズマ生成室の側断面図、 第3図は本発明によるヒーターを内蔵するつ工−ハステ
ージの側断面図、 第4図はモリブデンヒーターの構造を示す側断面図、 第5図は従来技術のエピタキシャル成長装置の側面図で
ある。 図において、 1は反応室、 2は反応ガス導入口、 3は予備室、 4はプラズマ生成室、 5はウェーハ、 6はウェーハステージ、 7はプラズマシャッタ、 8はマグネット・コイル、 9はマイクロ波発振器、 10はマイクロ波導波管、 11は°マイクロ波導入部、 12はターボ分子複合ポンプ、 13はメカニカル・ブースタ・ポンプ、14はロータリ
ー・ポンプ、 41は水冷部、 42は伝熱シート、 43は損失防止板、 44は透光性アルミナ板、 45は押さえリング、 46は変換アダプタ、 47はガス導入管、 48aは冷却水導入管、 48bは冷却水排出管、 49aは冷却用窒素導入管、 49bは冷却用窒素排出管、 61はヒーターボックス、 62は金反射膜、 63は石英カバー、 64はヒーター、 64aはモリブデン線、 64bは石英チューブ、 64cは封止部、 64dは端子部、 65はヒーターカバー、 65aはウェーハ支え、 を示す。 第1図 第2図 本発明による一実施例のヒーターを内蔵するウェーハス
テージの側断面図13図 本発明による一実施例のモリブデンヒーターの構造を示
す側断面図従来のエピタキシャル成長装置の便面図第5
図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 輻射加熱方式のヒータ(64)を設えたウェーハステー
ジ(6)と、 基板(5)を載置した前記ウェーハステージ(6)を設
置し、真空に排気された反応室(1)と、前記反応室(
1)とプラズマシャッタ(7)で仕切られ、前記反応室
(1)に対して着脱可能なプラズマ生成室(4)と、 前記プラズマ生成室(4)にマイクロ波を導入するマイ
クロ波発生手段(9、10、11)と、前記プラズマ生
成室(4)に磁場を印加する、前記プラズマ生成室(4
)に対して着脱及び移動可能な磁場発生手段(8)とか
らなり、 前記プラズマ生成室(4)内に発生させた発散磁界型の
ECRプラズマを用いて該反応室(1)内の該基板(5
)を処理するエピタキシャル成長装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21475086A JPS6369221A (ja) | 1986-09-10 | 1986-09-10 | エピタキシヤル成長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21475086A JPS6369221A (ja) | 1986-09-10 | 1986-09-10 | エピタキシヤル成長装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6369221A true JPS6369221A (ja) | 1988-03-29 |
Family
ID=16660955
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21475086A Pending JPS6369221A (ja) | 1986-09-10 | 1986-09-10 | エピタキシヤル成長装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6369221A (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56155535A (en) * | 1980-05-02 | 1981-12-01 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Film forming device utilizing plasma |
-
1986
- 1986-09-10 JP JP21475086A patent/JPS6369221A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56155535A (en) * | 1980-05-02 | 1981-12-01 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Film forming device utilizing plasma |
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